Professional Documents
Culture Documents
02 XRDVeKirinim
02 XRDVeKirinim
(XRD) ve
KIRINIM YASASI
SNEM ZMEN
HAKTAN TMON
2012
ERK
c)
d)
e)
f)
g)
h)
i)
X-n tp
Otomatik
kapatc
apraz n optik
sistemi
Sollar slit
Numune tutucu
Sollar slit
G azaltc
Dedektr
Dzlem-ii nite
RNEK HAZIRLANMASI VE
LM
Fiziksel ve kimyasal zelliklerine gre rnek hazrlandktan sonra
analiz artlar belirlenir.
En basit olarak, kaya ve mineral numuneleri elik havanda
krldktan sonra agat havanda iyice tlp toz haline getirilir.
Toz haline getirilen numuneler analiz edilmek zere plastik
kaplarda saklanr.
Analiz edilecek rnekler cam lamlara konularak XRD cihaznn
rnek tutucularna yerletirilir ve analiz edilir.
Element aral
Bozunum
znrlk
Derinlik profili
Genellikle hayr.
Uygulama alanlar
X-IINLARI VE BRAGG
DENKLEM
TARHSEL SRE
X-In radyografisi
X-In kristalografisi
X-In spektroskopisi
X-IINI
X-IINI ZELLKLER
X-IINI KIRINIMI
LAUE;
Elde ettii krnm
desenleri ile
maddenin kristal
yaps hakknda
nemli bilgiler elde
etmitir.
X-IINI KIRINIMI
Max von
Laue
BRAGG DENKLEM
BRAGG ETL
= Gelme as
= Yansma as
= X-n dalgaboyu
2
Toplam krnm as = 2
BRAGG DENKLEM
DE = d sin
BRAGG DENKLEM
DE + EF = 2d sin
n = 2d sin
BRAGG DENKLEM
2d sin = n
Burada, d dzlemler aras mesafe ve n krnmn mertebesidir.
n 2 d
dalgaboyu artnda meydana gelir.
TEEKKR
EDERZ