Sveuulite J.

J Strossmayer
Elektrotehniki fakultet Osijek
Razlikovna godina

FRAUNHOFEROV OGIB SVJETLOSTI

NA PUKOTINI I HEISENBERGOVE
RELACIJE NEODREENOSTI

bacc. ing. Antonio Pu

bacc. ing. Nemanja Niki
bacc. ing. Tomislav Renduli
bacc. ing. Zvonimir Mor
bacc. ing. Mario Juri
bacc. ing. Matija Babi
bacc. ing. Tvrtko Cvetani
bacc. ing. Davor Gregani
bacc. ing. Vedran Tukera
bacc. ing. Antonio Horvat
bacc. ing. Filip Mikuli
bacc. ing. Ivan Ljusavec

Osijek, 2014

1. Uvod
Difrakcija ili ogib svjetlosti predstavlja prividno skretanje svjetlosti sa pravca u kojem se
svjetlost prostire prilikom nailaenja na otvor ili prepreku.
Ogib se zbiva prema Hygens-ovom principu odnosno da svaka toka obasjane pukotine
postaje izvor novog elementarnog vala i iri se u smjeru napredovanja vala. Kada je irina
pukotine vea od valne duljine, interferencijom elementarnih kuglastih valova u odreenim
dijelovima prostora iza pukotine nastaje valno gibanje, a u drugim se valno gibanje ponitava.
Ako je irina pukotine manja od valne duljine, tada je rezultat interferencije tih valova
kuglasti val u cijelom prostoru iza pukotine.
Interferencija svjetlosti je preklapanje dvaju ili vie valova svjetlosti. Interferenciju je
mogue uoiti ako su ispunjena dva uvjeta: izvori moraju biti koherentni (razlika u fazi
izmeu valova iz dva izvora svjetla je konstantna u vremenu (stalna razlika u fazi)) i drugi
uvjet da izvori moraju biti monokromatski, odnosno iste frekvencije.
Koherentni izvor svjetla moemo dobiti pomou lasera, dok nekoherentno pomou arulje sa
arnom niti ili fluorescentne arulje.
Trenutno postoje dvije teorije prirode svijetlosti. Prva je postavio Isaac Newton, te ona kae
da je svijetlost snop estica koje se gibaju velikom brzinom. Drugu teoriju je postavio
Christiaan Huygens, koji je smatrao da je svijetlost impuls koji se kree kroz neko elastino
sredstvo. Potvrdu svoje teorije dobio je eksperimentima Thomasa Younga demonstrirajui
interferenciju valova na dva bliska otvora. Ovaj pokus mu je pomogao doi do zakljuka da
se svjetlost prostire kao val, nasuprot tvrdnjama mnogih znanstvenika da svjetlost ima
estinu prirodu.
Meutim tek je Albert Einstein pretpostavio dualnu prirodu svjetlosti. On je smatrao da se
svjetlsot sastoji od kvanata svjetlosti koji mogu imati valna i estina svojstva.
U ovom radu razmatrat emo Fraunhoferov ogib, tj. difrakciju kod koje se promatraju
paralelni snopovi svjetlosti te se smatra da je izvor svjetlosti u beskonanosti i da su valne
fronte ravnine.
Budui da u praksi ne moemo imati izvor beskonano udaljen od zaslona, moemo
aproksimirati fraunhoferov ogib ako vrijedi izraz (1).
W2
<< 1
L
gdje je:
W - irina pukotine
L - udaljenost od pukotine do zaslona
- valna duljina

(1)

U naem sluaju promatrat emo sustav koji se sastoji od lasera valne duljine 632,8nm, pukotine
0,1mm, udaljene do zaslona 1140mm. Kad to uvrstimo u izraz (1) dobijemo da ovako zadan sustav
moemo promatrati kao da imamo Fraunhoferov ogib.
Kad valna fronta doe na pukotinu koju podijelimo u tanke pruge irine dx, one e se ponaati kao
izvori novog elementarnog cilindrinog vala koji se iri u svim smjerovima. Svaki element pruge
pukotine pridonosi ukupnom intenzitetu u toki P, ali budui da udaljenost koju mora proi val A
(slika 2) nije jednaka udaljenosti vala B javit e se pomak u fazi izmeu tih valova.

Slika 1. Fraunhoferova difrakcija

Slika 2. Difrakcija na jednoj pukotini

Interferencijom tih valova (A i B) na pojedinima mjestima na zaslona doi e do konstruktivne ili
destruktivne interferencije, tj. pojaanja ili priguenja intenziteta svijetlosti u toki P na osi x zaslona.
Rezultat toga je vidljiv na slici 3.

Slika 3. Intenzitet svjetlosti difrakcije u odnosu na poloaj od osi reetke

Razlika u fazi izmeu vala iz toke A i onog iz toke s koordinatom x je:

j=

x sin = kx sin

(2)

Valovi u krajnjim toaka najvie se razlikuju u fazi i to za

jm = ka sin

(3)

Elektrino polje, koje u toki P dolazi valom iz djelia pukotine dx koje je poloaj odreen
koordinatom x, moe se prikazati funkcijom:

dE = E0

dx
cos(t + j )
a

(4)

gdje je faktor 1/a dodan da bi relacija bila dimenzionalno ispravna i da bi ukupna amplituda bila E0
kada je = 0. Relaciju moemo prikazati i pomou realnoga dijela eksponencijalne funkcije s
imaginarnim eksponentom:

E = E0 ei (t + )

dx
a

(5)

Rezultantno titranje u toki P dobiva se zbrajanjem svih elementarnih titranja, uzevi u obzir njihovu
razliku u fazi.
a

E = E0 e (

i t + )

E
dx
= 0 eit eikx sin dx
a 0 a

(6)

rjeavanjem dobijemo:

E = E0

eikx sin 1 it
e
ika sin

(7)

Intenzitet svjetlosti razmjeran je prosjenoj vrijednosti kvadrata amplitude elektrinog polja:

I=

1
EE *
2

(8)

Raspodjela intenziteta po kutu :

ka sin
sin 2

2
I = I0
2
ka sin

(9)

gdje je I0 intenzitet sredinjeg maksimuma, tj. intenzitet za = 0. Zamjenom sa:

y=
formula poprima jednostavniji oblik:

ka
a sin
sin =
2

(10)

I = I0

sin 2 y
y2

(11)

Za = 0 dobivamo sredinji maksimum: tada je y = 0 i siny = 0, pa je i I = I0. Minimumi nastaju

uvijek kada je siny = 0 (za y 0). Uvjet za minimum glasi:

sin =

n
n=1,2,3,
a

(12)

2. Eksperimentalni dio
Mjerenje raspodjele intenziteta svjetlosti
pri Fraunhoferovom ogibu svjetlosti na pukotinama
Na sl. 4. prikazan je eksperimentalni postav za mjerenje raspodjele intenziteta svjetlosti pri
Fraunhoferovom ogibu svjetlosti na pukotinama. Eksperimentalni postav sastoji se od:
a) lasera He-Ne
b) kliznog okvira
c) fotoelmenta
d) voltmetra
e) univerzalnog mjernog pojaala
f) optike profilne-klupe
g) spojnog kabla

Slika 4. Eksperimentalni postav

Vano: Radi osiguranja konstantne jakosti svjetla lasera, laser treba ukljuiti pola sata prije
poetka eksperimenta, mjerenje treba obavljati u tamnoj sobi ili u sobi sa konstantnim

svjetlom, ako to nije mogue, ispred fotoelije se moe staviti to dua cijev (promjera oko
4cm) pocrnjena sa unutranje strane.
Postupak pri mjerenju sastoji se od nekoliko koraka:
1. korak: Pukotine irine d = 0,1mm postavite na udaljenost b =1140 mm od fotoelementa.
2. korak: Najprije traite poloaj glavnog maksimuma i oitavate pripadnu vrijednost napona
na voltmetru. Vrijednost koja je postavljena na kotaiu za pomicanje fotoelementa uzimamo
kao nau referentnu vrijednost, tj. nulu.
3. korak: Okretanjem kotaia za pomicanje fotoelementa u jednu stranu promatrate kako se
vrijednosti napona na voltmetru mijenjaju.
4. korak: Kada se fotoelement nalazi na mjestu prvog minimuma ( poloaj u kojem voltmetar
pokazuje najmanji napon na U) oitajte udaljenost fotoelementa od poetnog poloaja i
njemu pripadajui napon. Jedan okret kotaia za 360 pomakne fotoelement za 0,5mm.
5. korak: Taj postupak nastavite sve dok ne oitate vrijednosti i za 2. minimum te 1. i 2.
Maksimum
6. korak: Isti postupak ponovite za pukotinu irine d = 0,2mm na udaljenosti b = 1031mm od
fotoelementa.
a) Valni pristup:
Kada paralelna, monokromatska i koherentna zraka svjetlosti valne duljine prolazi kroz otvor
irine d na zaslonu se pojavljuje uzorak loma za glavni maksimum i nekoliko sekundarnih
(sporednih) maksimuma.

Slika. 5. Difrakcija (Franhofer) na velikoj udaljenosti

Intenzitet svjetlosti I, kao funkcija kuta otklona , u skladu sa Kirchoffovom formulom

otklona:

sin
I ( ) = I (0)

(14 )

Gdje je

d
sin

(15)

Poloaj minimuma je:

n = arcsin n

, gdje je n= 1, 2, 3, ....

(16)

Kut za pojavljivanje maksimuma je:

0 = 0o

1 = arcsin 1.430
d

2 = arcsin 2.459
d

(17)

Relativne visine sekundarnih maksimuma:

I (1 ) = 0.0472 I (0)

(18)

I ( 2 ) = 0.0165 I (0)
Intenzitet svjetlosti (I) je proporcionalan oitanom naponu (U) na voltmetru pa relacije (18)
moemo provjeriti preko napona:

U (1 ) = 0.0472 U (0)
U ( 2 ) = 0,0165 U (0)

(19 )

Pozicije maksimuma i minimuma se raunaju preko pravokutnog trokuta:

Slika 6.
tg =

a
b

(20)

gdje vrijedi:
za minimume:
kut pojavljivanja minimuma
b = 1140 mm (udaljenost pukotine od fotoelementa)
a = udaljenost promatranog minimuma od glavnog maksimuma
za maksimume:
kut pojavljivanja maksimuma
b = 1140 mm (udaljenost pukotine od fotoelementa)
a = udaljenost promatranog maksimuma od glavnog maksimuma

b) Kvantno-mehaniki pristup:
Heisenbergov princip neodreenosti kae da dvije kanoniki konjugirane veliine kao poloaj
i koliina gibanja ne mogu biti tono odreene u istom trenutku. Ako uzmemo, za primjer,
ukupan broj fotona ija je gustoa vjerojatnosti opisana funkcijom fy i ija je koliina gibanja
(impuls) opisana funkcijom fp. Neodreenost poloaja y i koliine gibanja p je definirana
standardnim devijacijama kao:
y p

h
4

(21)

gdje je h = 6.6262 10 34 Js , Planckova konstanta (konstanta akcije). Za niz fotona koji

prolaze kroz pukotinu irine d, izraz je:
y=d

(22)

Meutim, fotoni ispred pukotine se gibaju samo u smjeru okomito na ravninu pukotine (xsmjer), no nakon prolaska kroz pukotinu imaju i komponentu u y-smjeru.
Koristimo prvi minimum da bi definirali neodreenost brzine (sl. 7. a i b).

Slika 7. Geometrija difrakcije na jednoj pukotini:

a) poloaj prvog minimuma, b) komponenta brzine fotona
v y = c sin 1

(23)

gdje je 1 kut prvog minimuma.

Neodreenost koliine gibanja je dakle:
p y = m c sin 1

(24)

gdje je m masa fotona i c brzina svjetlosti.

Koliina gibanja i valna duljina estice su povezani de Broglie-vom relacijom:
h

= p = mc

(25)

Prema tome,
p y =

Iz (16) kut prvog minimuma je:

sin 1

(26)

sin 1 =

(27)

Ako uvrstimo (27) u (26) i (22) dobijemo jednadbu neodreenosti:

y = p y = h

(28)

Ako je irina stranice y manja, prvi min. difrakcijske slike se dogaa pod veim kutovima
1. U naem eksperimentu kut 1 je odreen poloajem prvog minimuma (Slika 7. a):
tg 1 =

a
b

(29)

Ako uvrstimo (29) u (26) dobivamo:

p y =

sin arctg

b
h

(30)

Uvrtavanje (22) i (30) u (28), nakon dijeljenja s h, daje:

a

sin arctg = 1

b
d

Rezultati mjerenja potvruju (31) unutar granica pogreaka.

(31)

3. Rad u laboratoriju
Zadatak 1:
Izmjerene vrijednosti napona i poloaja klizaa s fotoelementom glavnog i sporednih
minimuma i maksimuma unesite u tablice. Za mjerenja s pukotinom irine d = 0.1 mm na
udaljenosti b =1140 mm od pukotine.
Tablica 1.
D=0,1 mm

a (mm)

U (mV)

a (mm)

U (mV)

Glavni max.

2,43

2,43

1. min

-8,25

-0,1

7,75

1. max

-11,25

-0,19

10,75

0,1

2. min

-17,75

-0,18

14,5

-15,5

-0,26

17,5

0,04

2. max

Zadatak 2:
Izmjerene vrijednosti napona i poloaja klizaa s fotoelementom glavnog i sporednih
minimuma i maksimuma unesite u tablice za mjerenja s pukotinom irine d = 0.2 mm na
udaljenosti b =1031 mm od pukotine.
Tablica 2.
D=0,2 mm

a (mm)

U (mV)

a (mm)

U (mV)

Glavni max.

16,45

16,45

2. min

-2,5

0,2

2,25

0,28

3. max

-5

0,77

3,5

0,73

4. min

-7

0,21

5,5

0,29

-8,5

0,34

7,25

0,51

2. max

Zadatak 3:
Vrijednosti a i b za prvi minimum uvrstite u izraz (31) i utvrdite koliki je izmjereni
koeficijent za obje pukotine. Popunite tab. 3

(=632.8 nm)

Tablica 3.
Udaljenost pukotine

a
sin( arctg )

irina pukotine d/mm

Prvi minimum a/mm

0.101

7.75

1140

1.09

0.202

3.5

1031

1.084

od fotoelementa b/mm

Zadatak 4:
Za dobivenu vrijednost u zadatku 3. odredite tonost mjerenja u odnosu na oekivanu
vrijednost (za obje pukotine).
Oekivana vrijednost prema izrazu (31) iznosi 1, te iz toga slijedi:
1, 009 1
100% = 0,9%
1
1, 084 1
=
100% = 8, 4%
1

p%0,101 =
p%0,202

4. Analiza rezultata
Zadatak 1:
a) Koristei relaciju (16) izraunajte kutove pojavljivanja minimuma.

=632,8 nm n = arcsin n , n = 1, 2, 3,...

d

Tablica 4.
d (mm)

0,101

0,359

0,718

0,202

0,179

0,359

b) Koristei relaciju (17) izraunajte kutove pojavljivanja maksimuma. (Kutove izrazite

u stupnjevima.)

=632,8 nm , 1 = arcsin 1, 430 , 2 = arcsin 2, 459

Tablica 5.
d (mm)

0,101

0,513

0,883

0,202

0,266

0,441

Zadatak 2:

a) Odredite visine sekundarnih maksimuma pomou jednadbi (19) kao omjere

intenziteta svjetlosti

I ( n )
U ( n )
,(oitane kao :
) za izraunate i eksperimentalno
I ( 0)
U ( 0)

odreene kutove , gdje je n broj sekundarnog maksimuma.

U (1 ) = 0, 0472 U ( 0 )

U ( 2 ) = 0, 0165 U ( 0 )
Za sluaj d=0,101 mm

U (1 ) 0,1
=
= 0, 0412
U (0) 2, 43
U ( 2 ) 0, 04
2.max =
=
= 0, 0165
U (0) 2, 43

1.max =

Za d=0,202 mm

U (1 ) 0, 77
=
= 0, 0468
U (0) 16, 45
U ( 2 ) 0,34
2.max =
=
= 0, 0207
U (0) 16, 45

1.max =

b) Procijenite tonost mjerenja eksperimentalno dobivenih visina sekundarnih

maksimuma.(Prihvaene vrijednosti visina sekundarnih maksimuma dane su u izrazu
(19).)
0, 0412 0, 0472
100% = 12, 7%
0, 0472
0, 0165 0, 0165
=
100% = 0%
0, 0165

p%0,101( k =1) =
p%0,101( k = 2)

0, 0468 0, 0472
100% = 0,8%
0, 0472
0, 0207 0, 0165
=
100% = 25, 45%
0, 0165

p%0,202( k =1) =
p%0,202( k = 2)

Zadatak 3:
Nacrtajte graf ovisnosti intenziteta svjetlosti I (oitane preko napona U) o udaljenosti a (iz tab
l. i tab 2.) kao funkciju I =f (a) - pretpostavite da su izmjerene vrijednosti jednake
(simetrine) na obje strane grafa.

3
2,5
2
U (mV)

1,5
1
0,5
0

-20

-15

-10

-5

-0,5

10

15

20

a (mm)

Graf 1. Ovisnost intenziteta o udaljenosti a za pukotinu d=0,101mm

18
16
14
12
U (mV)

10
8
6
4
2
0

-10

-5

-2 0

a (mm)

Graf 2. Ovisnost intenziteta o udaljenosti a za pukotinu d=0,202mm

10

Usporedba simulacije i izmjerenih veliina

Na kraju ovog rada radili smo raunalnu simulaciju ogiba svjetlosti za pukotinu od 0,101
mm, te smo dobivene rezultate simulacije usporedili sa izmjerenim vrijednostima.
Graf 3. prikazuje intenzitete dobivene raunski i pomou simulacije

=632,8nm, L=1140mm, n=1, 0.1mm

1,2000

1,0000

I
N
T
E
N
Z
I
T
E
T

Intenzitet
ekperimentalno

0,8000

Intenzitet
simulacija

0,6000

0,4000

0,2000

0,0000
-30

-20

-10

10

20

30

-0,2000

UDALJENOST (mm)
Graf 3. Intenzitet dobiven raunski i eksperimentalno
Iz navedenog grafa moemo primijetiti da imamo znaajno odstupanje na kraju mjerenja to
moe biti kako posljedica promjene vanjskog intenziteta osvjetljenja u laboratoriju, ili
vanjskih meteorolokih uvjeta. Prilikom podeavanja fotoelementa kalibrirali smo ga samo na
poetku izvoenja mjerenja i u tom dijelu se rezultati poklapaju sa oekivanima
vrijednostima.
Ova pogreka bi se prilikom mjerenja mogla smanjiti ako tokom mjerenja na vie mjesta
provjeravamo dali fotoelement pokazuje istu vrijednost kad nije obasjan laserskom
svjetlou, te po potrebi zapisivati potrebne korekcije vanjskog intenziteta svijetla.

Budui da je graf simetrian sa ishoditem, prilikom izrauna pogreaka koristili smo samo
lijevu (toniju) polovicu grafa u tablici 6.
Tablica 6. prikazuje dobivene vrijednosti minimuma i maksimuma za simulaciju i
eksperimentalini dio, te odstupanja eksperimentalnog dijela.
Tablica 6.

Udaljenost

Intenzitet

Udaljenost

Intenzitet

Razlika

Odstupanje

Oekivani

Odstupanje

Odstupanje

intenziteti

simulacija

eksperiment

0,0472

0,00020

-0,03080

0,0165

0,00050

-0,09050

simulacija

simulacija

eksperiment

eksperiment

udaljenosti

Glavni
max

1.min

7,5

0,04

0,5

6,67%

1.max

10,5

0,047

9,3

0,078

-1,2

-11,43%

2.min

15

12

0,062

-3

-20,00%

2.max

18,5

0,016

16,75

0,107

-1,75

-9,46%

Nakon to smo napravili usporedbu za pukotinu od 0,1mm, ostala nam je usporedba i za

drugu pukotinu.
Graf 4. prikazuje usporedbu za eksperimentalno dobivene rezultate i rezultate simulacije.

=632,8nm, L=1031mm, 0.2mm

1,2

I
N
T
E
N T
Z
I
T
E-11

Intenzitet
ekperimentalno
Intenzitet simulacija

1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
-6

-1
-0,2

UDALJENOST (mm)
Mjerena u ovom sluaju se preciznije poklapaju, nego u prethodnom sluaju.
U tablici 7. su prikazane vrijednosti minimuma i maksimuma te njihova odstupanja od
izmjerenih i simuliranih vrijednosti.

Tablica 7.
Udaljenost

Intenzitet

Udaljenost

Intenzitet

Razlika

Odstupanje

Oekivani

Odstupanje

Odstupanje

simulacija

simulacija

eksperiment

eksperiment

udaljenosti

intenziteti

simulacija

eksperiment

Glavni
max

1.min

-3,5

-3,75

-0,0043

-0,25

-7,14%

1.max

-5

0,046

-5

0,029

0,00%

0,0472

0,00120

0,01820

2.min

-7

-7

0,0019

0,00%

2.max

-8,5

0,0162

-8,5

0,0111

0,00%

0,0165

0,00030

0,00540

Zakljuak
U ovom radu je bilo obraeno kako se svijetlost nailaskom na pukotinu ponaa kao i val iako
geometrijska optika kae da zrake svjetlosti putuju pravocrtno i baca otru sliku pukotine na
zaslonu.
Mjerenja su izvedena pomou dvije pukotine od 0,1 i 0,2mm, te pomou fraunhoferove
metode ogib svjetlosti. Dobivene rezultate smo obradili pomou valnog i kvantnomehanikog pristupa, te smo usporedili dobivene vrijednosti sa reultatima dobivenim
simulacijom.
Izvoenjem vjebe zakljuili smo da se nai dobiveni rezultati poklapaju sa rezultatima
dobivenim simulacijom, odnosno da se svjetlost ima valna svojstva. Odstupanja u mjerenjima
su se veim dijelom dogodila zbog vanjskih imbenika.