Difrakcija

Difrakcija
Svako odstupanje svjetlosnih zraka od

pravocrtnog puta koje se ne moe tumaiti

kao refleksija ili lom je difrakcija
Sommerfeld, ~ 1894

 Valna priroda svjetlosti (nastavak):

Pojava difrakcije takoer je uobiajena za
valove: zvuk ujemo iza ugla, zbog valnog
ponaanja na rubovima objekata.
Difrakcija je vidljiva i na rubovima otrih
predmeta (na primjer, vidi fotografiju britvice)
Fizikalna optika prouava neke svjetlosne pojave
uzimajui u obzir valnu prirodu elektromagnetskih
valova.
Ideju je iznio nizozemski znanstvenik
Christian Huygens 1678 koji je predloio valnu
teoriju svjetlosti, nasuprot Newtonu, koji je
vjerovao da se svjetlost sastoji od korpuskula
(estica). Sada znamo da su oba bila u pravu!

Huygensov princip
Huygensov princip:
Svaka toka valne fronte moe se
smatrati kao izvor sekundarnih valova
koji se ire u svim smjerovima s
brzinom jednakom brzini rasprostiranja
vala.
ili
Svaka toka valne fronte djeluje kao
tokasti izvor sekundarnog sfernog vala.
Poslije vremena t, nova pozicija valne
fronte biti e povrina tangencijalna na
sekundarne valove.

Na slici, nova valna fronta BB je

tangenta na povrinu sekundarnih
valova (envelopa), na udaljenosti
r = vt od poetne valne fronte AA'.

Uspjeh Huygensovog principa:

objanjava refleksiju i lom
svjetlosti.

Difrakcija
Huygensov princip
zahtijeva da se valovi
ire nakon to prou
kroz proreze
Promjena smjera irenja
svjetlosti naziva se
difrakcija
Openito, difrakcija
nastaje kada val prolazi
kroz male otvore, oko
prepreke ili otrih rubova

Difrakcija
Svjetlost koja prolazi kroz pukotinu smjetenu izmeu udaljenog
izvora svjetla i zaslona generira difrakcioni uzorak koji:
e imati iroku, intenzivnu centralnu vrpcu (nulti maksimum)
centralna vrpca biti e okruena nizom uih, manje intenzivnih
sekundarnih vrpci (maksimumi)
centralna vrpca biti e okruena nizom tamnih vrpci (minimumi)
Dobivena slika s jednom pukotinom ne moe se objasniti
geometrijskom optikom
Geometrijska optika kae da zrake svjetlosti putuju pravocrtno i
baca otru sliku pikotine na zaslonu

Fraunhoferova difrakcija

Fraunhoferova difrakcija nastaje kada

su sve zrake koje prolaze kroz usku
pukotinu priblino meusobno
paralelne.
To se postie eksperimentalno
postavljanjem zaslona daleko od
pukotine koju koristimo za stvaranje
difrakcije ili pomou lee koja
fokusira konvergentan snop nakon to
proe kroz otvor, kao to je prikazano
na slici.
Svijetla pruga se vidi uz os ( = 0) s
naizmjeninim svijetlim i tamnim
prugama sa svake strane

lea

pukotina
Ulazni val
zaslon

Difrakcija na jednoj pukotini

Prema Huygensovom
principu, svaki dio
pukotine djeluje kao
izvor valova
Svjetlost iz jednog
dijela pukotine moe
interferirati sa svjetlom
iz drugog dijela
Rezultantni intenzitet na
ekranu ovisi o smjeru

Difrakcija na jednoj pukotini

Svi valovi koji nastaju u pukotini su u fazi
Val 1 putuje dalje od vala 3 za iznos koji je
jednak razlici puta a
sin
2

Ako je razlika ovog puta tono polovica valne

duljine, dva vala ponititi e jedan drugoga i
rezultirati destruktivnom interferencijom
Openito, do destruktivne interferencije dolazi
za jednu pukotinu irine a, kada je

sin tamno m

m 1, 2, 3,...

Difrakcija na jednoj pukotini

Intenzitet raspodijele svjetlosti
iroka sredinja svijetla pruga je
okruena puno slabijim svijetlim
prugama koje se izmjenjuju s
tamnim prugama
Toke konstruktivne
interferencije lee otprilike na
pola puta izmeu tamnih pruga

Jednadba vala i ogib

Intenzitet jedna pukotina

Izraz za intenzitet svjetlosti dobiven
Fraunhoferovom difrakcijom (jedna
pukotina)

sin( a sin / )
I I max

a
sin

Ovaj izraz se moe koristiti za odreivanje

minimuma (lako) i sekundarnih
maksimumom (hard) odreivanjem derivacije
i izjednaavanjem = 0
http://micro.magnet.fsu.edu/primer/java/diffraction/basicdiffraction/index.html

Realni intenzitet dvostruke pukotine

Jednadba intenziteta za dvije pukotine je kombinacija jednadbi
interferencije i difrakcije

I I max

d sin sin( a sin / )

cos

a sin /

interferencija

difrakcija

Kombinirani uinci difrakcije i interferencije. Ovo je uzorak nastaje kad svjetlost valne duljine 650-nm
prolazi kroz dva proreza irine 3,0-m koji su meusobno udaljeni 18 m. Obratite panju kako difrakcioni
uzorak djeluje kao anvelopa" i kontrolira intenzitet jednako razmaknutih interferentnih maksimuma

Pitanje?

U eksperimentu difrakcije na jednoj pukotini kako se irina

pukotine smanjuje, irina sredinjeg maksimuma difrakcijskog
uzorka postaje (a) manja, (b) vea ili (c) ostaje ista.

Odgovor:
(b) sin = /a.
Kako irina pukotine postaje manja irina sredinjeg
maksimuma e se poveati.

Rezolucija s jednom pukotinom

Sposobnost optikih sustava da
razlikuju blisko pozicionirane
objekte je ograniena zbog
valne prirode svjetlosti.
Izvori se mogu smatrati kao
dva nekoherentna tokasta
izvora S1 i S2 (npr. dvije
daleke zvijezde). Ako nije
dolo do difrakcije, na ekranu
emo vidjeti dvije razliite
svijetle toke (ili slike).
Meutim, zbog difrakcije,
svaki izvor se preslikava kao
svijetli sredinji maksimum
okruen slabijim svijetlim i
tamnim prugama. Ono to se
promatra na ekranu je zbroj
dviju ogibnih slika: jedna od
S1, a druga od S2.

Rezolucija s jednom pukotinom

Za pukotinu je minimalna rezolucija odreena u trenutku kada se
sredinji maksimum jednog uzorka preklapa s prvim minimum
drugog

sin min

min

Za krunu pukotinu" (na primjer vae zjenice) dobije se

min 1.22

Rayleighov kriterij
maksimum
razlueno

Rayleighov
kriterij

minimum

nerazlueno

Dvije valne duljine su razluene samo kada se maksimum jedne nalazi na prvom minimum
druge

Rezolucija R (difrakciona reetka)

Rezolucija R spektralnog instrumenta odreuje minimalnu razlika izmeu
valnih duljina na kojoj dvije pripadajue linije mogu biti razluene.

max min
d sin max k
k (
k

d sin min (

k 1
)
N

k 1
)
N

kN

R = mN

Difrakciona (optika) reetka

Difraciona reetka sastoji se od mnogo
jednoliko meusobno udaljenih paralelnih
pukotina
karakteristina reetka sadri nekoliko tisua linija
po centimetru

intenzitet uzorka na ekranu je rezultat

kombiniranog djelovanja interferencije i ogiba

Difrakciona reetka
Uvjet za maksimum je
maksimum
prvog reda
(k=1)

d sin svjetlo k

centralni
maksimum
(k=0)

k 0, 1, 2, 3...
Cijeli broj k je redni broj
difrakcionog uzoraka
Ako ulazno zraenje sadri
nekoliko valnih duljina, svaka
valna duljina odstupa za odreeni
kut

difrakciona
reetka

maksimum
prvog reda
(k=-1)

Difrakciona reetka

Sve valne duljine su fokusirane na

m=0
maksimum nultoga reda

Maksimum prvog reda odgovara

m=1

Uoite otrinu osnovnog maksimuma

i iroko tamno podruje

To je u kontrastu sa irokim, svijetlim

prugama karakteristinim za uzorak
interferencije s dvije pukotine

Intenzitet versus sin za ogibnu reetku.

Prikazani su maksimumi nultog, prvog i
drugog reda.

Realne difrakcione reetke

m = -1

m=0

m =1

m=2
Difrakcione reetke

Bijelo svjetlo difraktirano realnom reetkom.

pravokutna apertura (otvor)

kvadratna apertura

Ne zaboravite: Manji otvor generira vie difrakcije. to su rubovi otvora meusobno

blie vei je ogib svjetlosti.

Kruni otvor (apertura)

Airy disk
Budui da je kruni otvor je rotaciono
simetrian, takav je i difrakcioni uzorak. U
aritu lee s krunim otvorom, ne dobije se
toka, ve uzorak Airyevog diska.

http://micro.magnet.fsu.edu/primer/java/imageformation/rayleighdisks/index.html

Disperzija D*
Disperzija odreuje kutnu ili linearnu udaljenost izmeu dviju
spektralnih linija razliitih valnih duljina.

l
D
, Dlin

d sin k
d cos d k d
Dlin= f D
d
k
k

d d cos d
k
d d
* - nema veze s disperzijom u optikim sredstvima
d

Interferencija i difrakcija materije

G.P. Thompson je pokazao pojavu elektronske difrakcije kada elektroni prolaze kroz
kristal.
Slike prikazuju difrakcijske uzorke kad razliiti snopovi prolaze kroz aluminijsku
foliju (sastavljena od nasumino orijentiranih mikro-kristala)

difrakcija X-zraka

difrakcija electrona

difrakcija neutrona

Interferencija i difrakcija materije

Zapravo, nije potrebno koristiti kristale da bi pokazali interferenciju valova estica,
ako imamo estice dovoljno dugih valnih duljina (koristimo vrlo spore estice). Slike
ispod prikazuju interferencijski uzorak s dvije pukotine.
interferencija elektrona

Intenzitet

interferencija neutrona

poloaj detektora

Elektronska interferencija
Ove slike pokazuju nastajanje elektronskog interferentnog uzorka za dvije pukotine
kako elektroni dolaze na detektor.