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市 場 觀 察

NI舉辦半導體測試論壇
強調PXI的低成本測試優勢

著 半 導 體 技 術 的 演 進, 要一個開放的標準平台,而非各
半導體晶片的設計愈趨 供應商的封閉架構,來縮短測試
複 雜, 不 論 是 對 於 IC 設 計 公 時間,提升測試產能;而且工程
司 或 IC 封 測 廠, 甚 至 是 對 於 師希望能消除 IC 驗證與量產測試
自 動 測 試 設 備(ATE) 供 應 商 之間的間隙,進而簡化由實驗到 NI 公司半導體測試行銷經理 Scott Savage(右)
與 NI 台灣分公司總經理孫基康表示,PXI 在半
而 言, 面 臨 了 比 以 往 更 大 的 挑 量產的測試問題。
導體測試環境下將扮演開放且整合的平台。
戰。 有 鑑 於 此, 美 商 國 家 儀 器 Scott Savage 說,PXI 的 模 組 化
(National Instruments, NI) 日 前 儀器的概念,提供更大的彈性與 凌陽創新科技研發認證部經理
與 美 商 泰 瑞 達(Teradyne)
、太 整合性,亦節省空間與耗電量; 陳建誠亦指出,凌陽的團隊長期
克 科 技(Tektronix)
、致茂電子 而且 PXI 運用現成的科技發展技 使用 LabVIEW 建立了許多套測試
(Chroma) 等 10 多 家 國 內 外 公 術,利用 PC 的多核心處理器,提 系統。硬體上使用 PXI 模組化儀
司共同舉辦「半導體測試高峰論 升系統效能,而且應用 FPGA 可 器搭配傳統儀器做儀器控制,透
壇(Semiconducotr Test Summit 編程的硬體架構,可縮短 IC 驗證 過這樣的測試組合已大幅減少產
2010)」,分析 PXI 在日漸複雜的 與評估時間;同時利用 PC 的傳輸 品驗證時間與降低人力成本。
半導體測試環境下將扮演開放且 介 面 PCI/PCI-E, 能 提 升 數 據 傳 此外,宏相科技也運用 PXI 搭
整合的平台,而且以 PXI 模組化 輸 速 率。 最 重 要 的 是,PXI 是 公 配 FPGA 模組架構完成數位麥克
裝置所建構的測試系統,能為半 開的平台,目前以有 70 多家廠商 風 自 動 化 測 試 系 統; 宗 臣 科 技
導體產業提供更開放、高彈性與 共同制定與開發產品,市面上已 提 出 的 低 成 本 現 場 測 試(Field
降低成本的解決方案,將成為下 有超過 10 萬個 PXI 系統被開發出 Testing)架構,提供設計公司一
一波半導體測試與驗證的主流。 來; 預 估 至 2014 年 將 有 30 萬 個 個高彈性且低成本的場測方案。
PXI 系統在全世界被採用,顯見 NI 台灣分公司總經理孫基康表
開放式平台 PXI 平台的應用將大幅成長。 示,NI 提供半導體測試產業多樣
NI 公 司 半 導 體 測 試 行 銷 經 理 化的 PXI 模組化儀器,包含專為
Scott Savage 表示,由於晶片的功 客戶實例 半導體設計的 PXI Semiconductor
能愈來愈複雜,IC 驗證與測試的 安 森 美 半 導 體(ON Semicon- Suite;NI 也與太克共同開發 PXI
難度與複雜度也大幅提高;另一 ductor)產品經理 Ray Morgan 也表 模組化高速示波器,再加上 NI 台
方面,半導體設計、製造的成本 示,該公司使用 PXI 所建立的電 灣團隊的豐富半導體測試經驗,
逐漸降低,但測試成本卻未跟著 源 IC 測試系統,不但能維持原本 能協助半導體產業因應驗證測試
降,反而占半導體產品成本的一 的量測品質,更降低了 3 倍成本, 的挑戰。■
大部份。現今半導體測試迫切需 並提升了 10 倍的測試速度。 作者 林雅萍

66 NIKKEI ELECTRONICS TAIWAN EDITION | April 2010

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