Statistical Process Control

การควบคุมกระบวนการดวยวิธีการทางสถิติ
หลักสูตรเนื้อหา

z ตอนที่ 1 ความเปนมาและวัตถุประสงคการทํา SPC

z ตอนที่ 2 SPC คืออะไร
z ตอนที่ 3 แผนภูมิควบคุม
z ตอนที่ 4 แผนภูมิ X-R
z ตอนที่ 5 การตีความหมายของแผนภูมิควบคุม
z ตอนที่ 6 CPK,PPK คืออะไร
ตอนที่1

ความเปนมาและวัตถุประสงคการทํา SPC
ความเปนมา

z สมัยกอนการผลิตกําหนดหนาที่การตรวจสอบและการผลิตใหฝาย
ผลิตและฝาย QC,QA เทานั้น เพราะสาเหตุนี้จึงมีการรวมมือกัน
เพื่อลดการเกิดของเสียเทานั้น แตในความเปนจริงไมเพียงแตพบวา
ของเสียไมลดลงและพบวาตนทุนของสินคากลับเพิ่มมากขึ้น ดังนั้น
จึงเกิดคําถามวา“ทําอยางไรใหจํานวนของเสียและตนทุนต่ําลง” ในป
ค.ศ. 1924 Showhart ไดคนพบแผนภูมิควบคุมและไดคนพบ
วิธีการควบคุมคุณภาพสินคาตนทุนต่ําแตมีประสิทธิภาพสูง นั่นคือ
SPC
วัตถุประสงคการทํา SPC

z เพื่อเพิ่มความรูความเขาใจในการปรับปรุงคุณภาพและลดตนทุนของ
สินคาดวยการทํา SPC ใหแกพนักงาน
z เพื่อปองกันปญหา กอนที่ปญหาจะเกิดขึ้น
z เพื่อปฏิบัติใหเปนไปตามขอกําหนดของระบบบริหารคุณภาพ TS
16949
ตอนที่ 2

SPC คืออะไร
SPC คืออะไร

z SPC (Statistical Process Control) เปนวิธีการ

ควบคุมการผลิตวิธีหนึ่งที่อาศัยสถิติที่รวบรวมจากการวัดคุณลักษณะ
พิเศษของสินคานําเสนอออกมาในรูปแบบแผนภูมิควบคุม และนํามา
วิเคราะหความสามารถของกระบวนการเพื่อคนพบความผิดปกติใน
ระหวางการผลิต และรีบดําเนินการปรับปรุงแกไขจนทําใหการผลิต
กลับสูสภาพปกติ
z หลักเกณฑสําคัญในการทํา SPC คือ กระบวนการตองมีการ
ควบคุมความผันแปรใหมีความปกติอยางสม่ําเสมอ
ตอนที่ 3

แผนภูมิควบคุม (Control chart)

แผนภูมิควบคุม

z แผนภูมิควบคุมเปนเครื่องมือทางสถิติอยางหนึ่ง สวนใหญนํามาใช
ควบคุมกระบวนการผลิตซ้ํา ๆ กัน
แผนภูมิควบคุมจะมีลักษณะเปนกราฟเสนซึ่งชวยควบคุมและขจัด
ความผันแปรจากปจจัยตาง ๆ ออกจากความผันแปรตามธรรมชาติ
ประกอบดวย 3 เสน
- เสนกลาง (Control Limit)
- เสนควบคุมบน (Upper Control Limit)
- เสนควบคุมลาง (Lower Control Limit)
แผนภูมิควบคุม

70

60 UCL
50

40 CL

30

20 LCL

10

0
ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10
ประเภทของแผนควบคุม

1. ขอมูลวัด (Variable Data) : แผนภูมิควบคุมเชิงผันแปร

(Variable Control Chart) เชน แผนภูมิ X-R,X-
S,X-MR เปนตน
2. ขอมูลนับ (Attribute Data) : แผนภูมิควบคุมเชิง
คุณลักษณะ (Attribute Control Chart) เชน
แผนภูมิ p, แผนภูมิ np, แผนภูมิ c และแผนภูมิ u เปนตน
ตอนที่ 4

แผนภูมิ X-R
แผนภูมิควบคุม

z การรวบรวมขอมูลนํามาเปนสถิติตองอยางนอย 100 ขอมูล จาก 25

กลุมยอยขึ้นไปในแตละกลุมควรจะมีขอมูลประมาณ 4-5 คา ที่เปน
ขอมูลตอเนื่อง ดังตารางที่ 1
การคํานวณในแผนภูมิควบคุม
1. คา X-bar ในแตละวัน คือ
ผลรวมของคาที่วัดไดในแตละวัน ÷ ดวยจํานวนครั้งที่ทําการวัด
ใน 1 วัน
สูตรคํานวณ
X-bar = (x1+x2+x3+….+x n)÷N
เมือ่ Xn คือ ผลการวัดครั้งสุดทายในวันนัน้ ๆ
N คือ จํานวนครั้งที่วัดทั้งหมดใน 1 วัน
การคํานวณในแผนภูมิควบคุม
ตัวอยางจากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21 ทําการวัดทั้งหมด
10 ครั้ง ดังนี้ 1.5,1.5,1.5,1.5,1.6,1.0,1.0,1.5,1.5 และ 1.0
ซึ่งสามารถหาคา X-bar ไดดงั นี้
สูตรคํานวณ
X-bar = (x1+x2+x3+….+x n)÷N
แทนคา
X-bar = (1.5+1.5+1.5+1.5+1.6+1.0+1.0+1.5+1.5+1.0)÷10
= 1.36
ดังนัน้ คา X-bar ของวันที่ 21 เทากับ 1.36
การคํานวณในแผนภูมิควบคุม
2. คา R ในแตละวัน คือ
คาวัดที่มากที่สุดในวันนัน้ ๆ – คาวัดที่นอยที่สุดในวันนัน้ ๆ

สูตรคํานวณ
R=X max- X min
การคํานวณในแผนภูมิควบคุม
ตัวอยาง จากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21 ทําการวัดมีคาดังตอไปนี้
1.5,1.5,1.5,1.5,1.6,1.0,1.0,1.5,1.5 และ 1.0 ซึ่งมีตัวเลขเพียง 3 ชุด
คือ 1.0,1.5 และ 1.6 จึงสามารถหาคา R ไดดังนี้
สูตรคํานวณ
R=X max- X min
แทนคา
R = 1.6-1.0
= 0.6

ดังนั้นคา R ของวันที่ 21 เทากับ 0.6

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

3. คา X bar-bar คือ

ผลรวมคา X bar ในแตละวัน ÷ ดวยจํานวนวัน ที่ตองการหาคา X
bar-bar
สูตรคํานวณ
X bar-bar = (x bar1+x bar2+x bar3+…x bark)/k
เมื่อ
X bark = คา X-bar สุดทาย
k = จํานวนวัน ที่ตองการหาคา X bar-bar
การคํานวณในแผนภูมิควบคุม
ตัวอยางจากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21 -25 นับเปนเวลา
5 วันมีคา X-bar ดังนี้ 1.36,1.25,1.33,1.53 และ 1.05
ซึ่งสามารถหาคา X bar-bar ไดดังนี้
สูตรคํานวณ
X bar-bar = (x bar1+x bar2+x bar3+…x bark)/k
แทนคา
X bar-bar = (1.36+1.25+1.33+1.53+1.05)÷5
= 1.30
ดังนั้นคา X bar-bar ของวันที่ 21-25 เทากับ 1.30
การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

4. คา R-bar คือ

ผลรวมคา R ในแตละวัน ÷ ดวยจํานวนวัน ที่ตองการหาคา
R-bar
สูตรคํานวณ
R-bar = (R1+R2+R3+…Rk)/k
เมื่อ
R bark = คา R สุดทาย
k = จํานวนวัน ที่ตองการหาคา R-bar
การคํานวณในแผนภูมิควบคุม
ตัวอยางจากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21 -25 นับเปนเวลา
5 วันมีคา R ดังนี้ 0.6,0.5,0.6,0.1 และ 0.5 ซึ่งสามารถหา
คา R-bar ไดดังนี้
สูตรคํานวณ
R-bar = (R1+R2+R3+…Rk)/k
แทนคา
R-bar = (0.6+0.5+0.6+0.1+0.5)÷5
= 0.46
ดังนั้นคา X bar-bar ของวันที่ 21-25 เทากับ 0.46
ตอนที่ 5

การตีความหมายของแผนภูมิควบคุม
การตีความหมายของแผนภูมิควบคุม

z สิ่งที่สําคัญที่สุดของการควบคุม
70
คุณภาพโดยใชแผนภูมิควบคุม คือ
60
การตีความหมายของแผนภูมิ
50
ควบคุม เพื่อโยงเหตุผลไปที่สภาวะ
40
ของกระบวนการผลิตซึ่งเปน
30
แหลงขอมูลที่นาํ มาเขียนเปน
แผนภูมิควบคุม เมื่อมีความผิดปกติ 20

ขึ้นในกระบวนการผลิตบนแผนภูมิ 10

ควบคุมจะปรากฏลักษณะผิดปกติ 5 0

แบบดังตอไปนี้ ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10
1. การเกิดจุดอยูนอกเสนควบคุม
(Out of Control Line Limits)

พบไดชัดเจน คือมีจุดในแผนภูมิ
70
ปรากฏอยูนอกเสนขอบเขต
60
ควบคุม เรียกวาจุดอยูนอก
50
ควบคุม ซึ่งอาจจะเปนการอยูนอก คาที่วัดได
เสนทั้งดานบนหรือดานลาง 40 CL

แสดงวา ณ จุด นั้นเกิดความผัน 30 LCL

UCL
แปรที่ผิดปกติเกิดขึ้นใน 20

กระบวนการผลิตแลวตองทําการ 10

แกไขอยางเรงดวน 0
ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10
2. การเกิดจุดเรียงตัว(Run)

เมื่อมีจุดปรากฏติดตอกันบนซีก
ใดซีกหนึ่งของเสนคากลาง เรา 70

เรียกวา เกิดการเรียงตัว (Run) 60

ความยาวของการ Run ในแต 50
คาที่วัดได
ละชุดนับจากจํานวนจุดไดตั้งแต 40 CL
7 จุดขึ้นไปหรือจํานวน 10 จุด 30 LCL
จาก 11 จุด หรือ 12 จุดจาก 14 UCL
20
จุด หรือ 16 จุดจาก 20 จุด ใน
ซีกใดซีกหนึ่ง เราตีความวา “ได 10

เกิดความผิดปกติขึ้นแลวในชวง 0

การผลิตที่เกิดการ Run นั้น” ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10
3. การเกิดจุดมีแนวโนม(Trend)

การที่มีจุดตอเนื่องไปในทิศทาง
เดียวกันโดยไมมีการสลับขึ้น-ลง 70

เลย(7จุด) เราเรียกวามีการเกิด 60

แนวโนมขึ้นในแผนควบคุม 50
คาที่วัดได
แนวโนมนี้กําลังจะบอกเราวา 40 CL

คาเฉลี่ยของการควบคุมที่ผลิตได 30 LCL
UCL
จากกระบวนการผลิตนั้นกําลังมี 20

ปญหา หรือมีแนวโนมที่จะ 10

เคลื่อนที่ไปจากที่ไดกําหนดไวแต 0
ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10
แรก
4. การเกิดจุดเขาใกลเสนควบคุม

หากเราแบงระยะ 3σ จากเสนคา 70
กลางออกเปนเสน 2σ แลวพบวา 60
มีจุด 2 ใน 3 จุดที่อยูตอเนื่องกัน 50
ในแตละชวงไดตกไปอยูในพื้นที่ 40
ระหวางเสน 2σ กับเสนขอบเขต 30
ควบคุม(3σ) ถือไดวาไดเกิดการ 20
เขาใกลเสนขอบเขตควบคุมแลว 10
และเปนการบอกวามีความ 0
ผิดปกติเกิดขึ้นในกระบวนการ ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

ผลิตแลว คาที่วัดได CL LSL USL LCL UCL

5. การเกิดวัฏจักร (Periodicity)

มีลักษณะ คือ คาในเสนกราฟจะ

70
เปลี่ยนแปลงขึ้น ๆ ลง ๆ หรือมี
60
ลักษณะเปนวงจรวงรอบหรือวัฏ
50
จักร ที่เกือบจะทํานายลักษณะ คาที่วัดได
เสนกราฟในชวงตอไปได เรียกวา 40 CL

เกิดการกระจายเปนชวง หรือวัฏ 30 LCL

UCL
จักร ซึ่งก็ถือวาเปนความผิดปกติ 20

ที่เกิดขึ้นในกระบวนการเชนกัน 10

0
ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10
ตอนที่ 6

CPK,PPK คืออะไร
CPK,PPK คือ

z คาวัดขีดความสามารถของกระบวนการ
เมื่อไดมีการควบคุม
กระบวนการแบบ SPC แลว ซึ่งคา CPK,PPK จะมีคาดี
เยี่ยมก็เมื่อ ≥ 1.33 ขึ้นไป
ขอใหโชคดี