Statystyczne sterowanie procesami SPC

Statystyczne sterowanie procesami SPC

(fragment prezentacji)

dr in. Tomasz Greber tomasz.greber@proqual.pl

Oznaczenia
Tg, USL, UT, GGT tolerancja grna Td, LSL, LT, DGT tolerancja dolna s, odchylenie standardowe Xr, x - warto rednia R rozstp A2, d2, D3 itp stae statystyczne UCL, GGK, GGI grna granica kontrolna na karcie kontrolnej LCL, DGK, DGI dolna granica kontrolna na karcie kontrolnej Cp, Cpk wskaniki zdolnoci dugoterminowej Pp, Ppk wskaniki zdolnoci krtkoterminowej Cm, Cmk wskaniki zdolnoci maszyn PPM liczba czci wadliwych na milion

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Podzia metod statystycznych w zarzdzaniu jakoci

Statystyczna kontrola jakoci Sterowanie procesami Statystyka w projektowaniu wyrobw (DOE)

Zastosowanie statystyki

Badanie zdolnoci maszyn

Badanie zdolnoci procesw

Analiza danych za pomoc podstawowych statystyk

Zakres SPC

SPC
SPC, statystyczne sterowanie procesami, to zbir narzdzi sucych do oceny stabilnoci procesu. Narzdzia te dostarczaj informacji czy proces przebiega w sposb uporzdkowany, bez nietypowych zachowa.

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Proste narzdzia SPC

Diagram rozproszenia
Jest to wykres o osiach poziomej i pionowej, na ktrych opisane s wartoci dwch badanych zmiennych - zmiennej niezalenej A i zalenej B (zalenej od wartoci parametru A). Nastpnie punktami zaznacza si zalenoci pomidzy zmiennymi otrzymujc chmur punktw
[%]
Procent produk. wyrobw wadliwych

2
Wsprzdne punktu: Temperatura 31,5 C Procent brakw 2,3 %

0 15 20 25 30 35 40
Temperatura na hali produkcyjnej

[C]

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Wspczynnik korelacji - istota

Korelacja: r = 0,97369 6,5 6,0 5,5 5,0 4,5 Zmienna 2 4,0 3,5

Wspczynnik korelacji liniowej r wskazuje na zwizek pomidzy dwoma zmiennymi

Zmienna 1

Zmienna 2

3,0 2,5 2,0 1,5

3,9 5,5 1,2 1,1 3,5 3,9 5,6 3,4 5,7 3,8 5,1 4,8 2,9 1,6 1,7 5,7 5,5 1,2 2,7 3,9 5,4 4,4

4,8 5,9 1,9 2,0 3,5 3,9 6,0 4,3 5,0 4,4 5,2 5,0 3,8 2,3 2,2 6,0 6,0 2,0 3,5 4,6 5,1 5,3

?
Zmienna 2

3 Zmienna 1

Korelacja: r = -0,6598 7

0 0 1 2 3 Zmienna 1 4 5 6

Analiza Pareto
Suy do okrelenia najpowaniejszych przyczyn analizowanego problemu. Opiera si na zasadzie 20/80, wg ktrej stosunkowo niewiele przyczyn powoduje wikszo skutkw.
100 90 Ilo produkowanych brakw 80 80 100

80% brakw
70 60 50 40
31

20% maszyn
49

60

40

30 20 10 0 Maszyna 4 Maszyna 1 Maszyna 2 Maszyna 9 Maszyna 8 Maszyna 7 Maszyna 3 Maszyna 5 Maszyna 6 Maszyna 10 Warto Skumul.
8 3 2 2 2 1 1 1

20

Udzia procentowy

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Histogram
10

Liczba wyrobw o danej rednicy Liczba kulek o danej rednicy

9 Tolerancja dolna 8 7 6 5 4 3 2 1 0 <= 2,6 (2,6;2,7] (2,7;2,8] (2,8;2,9] (2,9;3] (3;3,1] (3,1;3,2] (3,2;3,3] (3,3;3,4] > 3,4 Tolerancja grna rednica kulki [mm] rednica wyrobu [mm]
Warto cechy 33,26 33,28 33,30 33,36 33,54 33,56 33,75 33,78 33,79 33,79 33,79 33,82 33,82 Warto cechy 33,86 33,95 34,21 34,22 34,65 34,69 34,69 34,72 34,72 34,81 34,81 34,81 34,86 Warto cechy 34,87 34,87 34,88 34,90 34,92 34,96 35,09 35,12 35,16 35,28 35,29 35,53 35,62 Warto cechy 35,78 35,79 35,86 36,12 36,25 36,56 36,56 36,59 36,75 36,68 36,78 36,85 38,52

Tworzenie histogramu
Warto cechy 31,82 32,01 32,01 32,05 32,23 32,60 32,95 33,03 33,05 33,06 33,10 33,12 33,26

Wynik najmniejszy = 31,82

Wynik najwikszy = 38,52

Przedzia (rozstp) = 38,52 - 31,82 = 6,7

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Tworzenie histogramu
Liczba pomiarw zebranych w tabeli = 65 Liczba przedziaw = 65 = okoo 8 Rozstp wynikw wynosi 6,7 Szeroko przedziaw = 6,7/8 1

Tworzenie histogramu
Dzieli si obszar w jakim wystpuj wyniki na 8 przedziaw o obliczonej szerokoci wynoszcej 1 i zlicza ile w kadym z tych przedziaw znajduje si wynikw
Przedzia (31-32> (32-33> (33-34> (34-35> (35-36> (36-37> (37-38> (38-39> Pomiary I IIIII I IIIII IIIII IIIII IIIII I IIIII IIIII IIIII II IIIII IIIII IIIII IIII I Liczba wynikw w przedziale 1 6 21 17 10 9 0 1

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Tworzenie histogramu
W zalenoci od liczby wynikw w poszczeglnych przedziaach, rysuje si odpowiednio wysokie supki

Ocena procesw

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Rozkad normalny f(x)

Rozkad normalny - zasada 3 s

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Podzia kart kontrolnych

Karty kontrolne
Karty kontrolne przy ocenie liczbowej Karty kontrolne przy ocenie alternatywnej (atrybutowe)

Karty podstawowe

Karty specjalne

p np

X-R X-S IX-MR Me-R

Ruchomej redniej CUSUM Karty dla krtkich serii

c u

y=

Wykrelna metoda - przykad

Przedziay Liczno Liczno skumulowana 1 1 6 17 34 47 45 18 14 3 2 1 1 1 2 8 25 59 106 151 169 183 186 188 189 190 Dystrybuanta empiryczna 0,005 0,010 0,042 0,131 0,310 0,557 0,794 0,889 0,963 0,978 0,989 0,994 1 klasowe 1,20-1,30 1,30-1,40 1,40-1,50 1,50-1,60 1,60-1,70 1,70-1,80 1,80-1,90 1,90-2,00 2,00-2,10 2,10-2,20 2,20-2,30 2,30-2,40 2,40-2,50

0,999

0,995 0,990 2

0,950

0,900 1 0,800 0,700 0,600 0 0,500 0,400 0,300 0,200 -1 0,100

Dystrybuanta empiryczna:
0,050 -2 0,010 0,005

Sk = nsk/n gdzie: n liczno prby, nsk liczno skumulowana w danej grupie.

0,001 1,20 1,30 1,40 1,50 1,60 1,70 1,80 1,90 2,00 2,10 2,20 2,30 2,40 2,50

PROQUAL Management Institute

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Wykres prawdopodobiestwa

Karta X-R - wzory

Grna granica kontrolna
UCL = X + A 2 R Punkt X=

X
n

X
Dolna granica kontrolna Grna granica kontrolna

X CL = X =
k

LCL = X A 2 R

UCL = D 4 R

Punkt

R
Dolna granica kontrolna

R CL = R = k

R = Xmax X min
R X k - rozstp - warto mierzonej cechy - liczba prbek - liczba pomiarw w prbce

LCL = D 3 R

A 2 , D 3 , D 4 - stae

PROQUAL Management Institute

10

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Nr prbki

2 4 3 3 3 2

3 3 1 1 2 2

6 4 6 8 6 4

3 1 3 5 3 4

2 1 1 4 2 3

2 2 1 3 2 2

2 4 3 3 3 2

POMIARY

Karta X-R

X R

6
Wartoci rednie

5 4 3 2 1 6 5

UCL=4,98

CL=3,00

LCL=1,02 UCL=6,19

Rozstpy

4 3 2 1 0
LCL=0 CL=2,71

Nr prbki POMIARY

IX-MR
1 0 4 1
9 8 7
Wartoci zmierzone

MR

2
UCL=9,72

6 5 4 3 2 1
LCL=1,30 CL=5,29

5
Ruchome rozstpy

UCL=5,90

4 3 2
CL=1,50

1 0
LCL=0

PROQUAL Management Institute

11

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Karta wartoci celowej

Karta stosowana przy krtkich seriach produkcyjnych

Wartoci monitorowan jest rnica pomidzy wartoci zakadan (nominaln) a zmierzon

Monitorowane jest odchylenie parametrw wyrobu od nominau

prz. X = X w. cel.

Karta MA (ruchomej redniej)

Karta stosowana do obserwowania przesuni w procesie, ktre ciko zobaczy na kartach typu X-R

Mona regulowa czuo karty na przesunicia procesu

PROQUAL Management Institute

12

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Karta p (ocena wadliwoci)

Grna granica kontrolna
UCL = p + 3 p(1 p) n Punkt

p=

p
Dolna granica kontrolna

np CL = p = n

np n

LCL = p 3

p(1 p) n

p - frakcja wyrobw niezgodnych w prbce np - liczba wyrobw niezgodnych (wadliwych) w prbce n - liczno prbki (ilo wyrobw w prbce) p - rednia wadliwo

Karta u (analiza niezgodnoci)

Grna granica kontrolna
UCL = u + 3 u n

Punkt

u
Dolna granica kontrolna

c CL = u = n

u=

c n

LCL = u 3

u n

u - liczba niezgodnoci na jednostk w prbce c - liczba niezgodnoci n - liczno prbki (ilo wyrobw w prbce) u - rednia liczba niezgodnoci na jednostk

PROQUAL Management Institute

13

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Wskaniki zdolnoci

Wskaniki zdolnoci jakociowej

Zastosowanie: pozwalaj bada mona zdolno (jako) procesw pozwalaj bada zdolno maszyn na podstawie wskanika, okreli mona m.in. wadliwo produkcji jakiej naley si spodziewa przy danym procesie (lub maszynie)

PROQUAL Management Institute

14

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Wskanik zdolnoci Cp i Cpk

Cp = Tg Td 6 s

Tg x x Td Cpk = min ; 3s 3s
Tg (Td) - grna (dolna) granica tolerancji s - odchylenie standardowe

Wskaniki
Td Cp=Cpk< 1 Tg Td Cp=1 > Cpk Tg

Xr.=Xnomin. Td Cp=Cpk=1 Tg Td

Xnomin. Xr. Cp=1 > Cpk ' Tg

Xr.=Xnomin.

Xnomin.Xr

PROQUAL Management Institute

15

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Badanie zdolnoci jakociowej maszyn

Badanie zdolnoci
Procesu
Cp i Cpk badania systematyczne wykorzystanie wynikw z kart kontrolnych

Maszyny
Cm i Cmk badania krtkotrwae wykorzystanie duej prbki wyrobw (min. 50)

PROQUAL Management Institute

16

Statystyczne sterowanie procesami SPC

Wskaniki Cm i Cmk
Cm = Tg Td 6 s
lub

Cm =

Tg Td 8s

Tg x x Td Cmk = min ; 3s 3s

lub

...

Wskaniki - podsumowanie
Oznaczenie wskanika Cp, Cpk Nazwa wskanika Wskanik zdolnoci procesu Wyznaczanie odchylenia standardowego Uwagi - dane pochodz zwykle z kart kontrolnych, - proces jest ustabilizowany statystycznie.

R s lub = d2 c4

Pp, Ppk

Wskanik wykonania procesu

=s =

1 xi x n 1 i

( (

) )

- proces nie jest ustabilizowany lub - rozpoczynamy monitorowanie procesu.

Cm, Cmk

Wskanik zdolnoci maszyny

=s =

1 xi x n 1 i

- badania s krtkotrwae, - dua liczba pomiarw, - zapewnione s optymalne warunki pracy maszyny.

PROQUAL Management Institute

17