TC GAZ NVERSTES GAZ ETM FAKLTES ORTA RETM FEN VE MATEMATK ALANLARI ETM BLM FZK ETM ANABLM

DALI

X-IINLARI VE KULLANIM ALANLARI

HAZIRLAYAN TUE ARSLAN 070557004 TEZ DANIMANI Do. Dr. MUSTAFA KARADA

ANKARA - 2010

NDEKLER : 1. BLM : X-IINLARI 1.1. X-Inlarnn Bulunuu ve Tarihesi 1.2. X-Inlar ve zellikleri 1.2.1. X-Inlarnn Optik zellikleri 1.3. X-Inlarnn Oluumu 1.3.1. Doal X-Inlar 1.3.2. Yapay X-Inlar 1.4. X-Inlar Difraksiyonu(Krnm) (XRD) 1.5. X-Inlar Krnm le Kristal Yaplarn Tayini 1.6. X-Inlar Floresans (XRF) 1.7. X-Inlarnn Fizyolojik Etkisi

2. BLM : X-IINLARININ KULLANIM ALANLARI 2.1. X-Inlarnn Tpta Kullanlmas 2.1.1. Rntgen 2.1.2. Bilgisayarl Tomografi 2.2. X-Ray Cihazlar 2.3. X-Inlarnn Sanayide Kullanlmas 2.4. Bilimsel Aratrmalarda X-Inlar 2.5. X-In Astronomisi

1.1. X-Inlarnn Bulunuu ve Tarihesi

Gnmz grntleme yntemlerinin temelini oluturan ve tp biliminde yeni bir a aan X-nlar 1895 ylnda Alman Fizik Profesr Wilhelm Conrad Rntgen tarafndan kefedilmitir. W. C. Rntgen 1845 ylnda Almanya'nn Kln ehri yaknlarndaki Remscheid'te domutur. Yirmi yanda Zrih'teki Eldgensische Teknik Yksek Okulu'na kabul edilmi, burada termodinamiin babas saylan Clausius ve Prof. Kundt'un fizik derslerine katlmtr. 1868 ylnda bu okuldan Makine Mhendislii diplomas alan Rntgen, 1874'te Strasbourg Kalser Wllhelm niversitesi'ne geerek Doent, 1879'da ise Glessen Hessian niversitesi'ne

atanarak Fizik Profesr olmutur. 1888 ylnda Wrzburg niversitesi'ne geen Rntgen, X-nlarn 8 Kasm 1895'te bu niversitede alrken bulmutur. O tarihte Rntgen; bir Crooks tpn indksiyon bobinine balayarak, tpten yksek gerilimli elektrik akm geirdiinde, tpten olduka uzakta durmakta olan cam bir kavanoz iindeki baryumlu platinsiyanr kristallerinde bir takm prltlarn olutuunu gzlemi; bu tr prltlara neden olan nlara, o ana kadar bilinmemesinden dolay ekranda parldamalar oluturan nlarn deiik cisimleri, "Xnlar" adn vermitir. Tpten yksek gerilimli akm geirildiinde karsndaki farkl derecelerde geebildii, kurun plaklar tarafndan ise tutulduunu gzleyen Rntgen, eliyle tuttuu kurun levhalarn ekrandaki glgesini incelerken kendi parmak kemiklerinin glgelerini de fark etti. Bu olay zerine, iinde fotoraf pla bulunan bir kasetin zerine karsnn elini yerletirerek parmak kemiklerinin ve yznn grntsn elde etmitir. Rntgen, tespitlerini ve bu yntemle elde ettii grntleri ilk olarak 28 Aralk 1895'te Wrtzburg Fiziksel Tp Demei'nde sunmu, bu bulula birlikte ayn yl iinde gnmzdekilerle kyaslanamayacak lde basit ilk rntgen cihazlar imal edilmeye balanmtr. Hago ile Wind 1899da bir X-n demetini dar bir yarktan geirmiler, bylece bir krnm deseni elde etmeyi baarmlardr fakat gzlenen desen olduka kk olduu iin kabul grmemitir. X-nlarnn dalgal yapda olduklar 1912de Lauenin kristallerdeki krnm deneyleri ile ortaya konulmutur. Barkla deneyi ile Xnlarnn polarize edilebilmesi, bunlarn k nlar gibi enine dalgalar olduunu ortaya koymutur. Barkla yapt bu deneylerde, kat cisimlerden byk a altnda salan X-nlarnn iki farkl dalga boyu tadn gzlemlemitir. Bu dalga

boylarndan ilki, gelen elektromanyetik dalgann frekans ile ayn dieri farkldr. Klasik elektromanyetik dalgalar teorisi ile bu ilk dalga boyu aklanabilmektedir: Gelen elektromanyetik dalgann elektrik alan, atomlara bal elektronlar kendi frekans ile srer. Salnm hareketi yapan bu elektronlar, her dorultu boyunca ayn frekansta elektromanyetik dalgalar yaymlarlar. Bu yaymlanan elektromanyetik dalgalar gelen elektromanyetik dalgalar ile ayn frekansldr. Bu srete elektronlar atomlardan sklmez, atomun durumu geici olarak bozulur. Byle bir salmay atomlara skca bal elektronlar gerekletirir. Barklann deneyinde gzlenen dier dalga boylu salan elektromanyetik dalgalar ise ancak Compton un hipotezi ile aklanabilmitir. 1901 ylnda ilk kez verilmeye balanan Nobel Fizik dlne de layk grlen W. C. Rntgen 1923 ylnda 78 yandayken lmtr. Rntgen'in X-nlarn kefi, bilim evresinde ok byk yanklar uyandrrken yeni gelimelere de nderlik etmitir. Bu bulutan ok ksa bir zaman sonra H. Antonie Becquerel X-nlar zerinde alrken uranyumun radyoaktifliini; Curieler ise radyum elementini kefederek "Radyoloji" adnda yeni bir bilimin douunu gerekletirmilerdir.

1.2. X-Inlar ve zellikleri

X-nlar yksek enerjili elektronlarn yavalatlmas veya atomlarn i yrngelerindeki elektron geileri ile meydana gelen dalga boylar 0.1-100 arasnda deien elektromanyetik dalgalardr. Dalga boylar kk, girginlik dereceleri fazla olan X-nna sert X-n, dalga boylar byk, girginlik dereceleri az olan X-nna yumuak X-n denir. Kristalografide 0.5-2.5 (yumuak), radyolojide 0.5-1 (sert) dalga boylarndaki X-nlar kullanlr. X-nlarnn frekans grnr n frekansndan ortalama 1000 defa daha byktr ve X-n fotonu (parac) grlen n fotonundan daha yksek enerjiye sahiptir. u halde bu nlar belirleyen iki zellik ksa dalga boyu ve yksek enerjiye sahip olmalardr. X-nlar hem dalga hem tanecik zellii gsterirler. Dolaysyla ift karakterlidirler. Fotoelektrik sourulma, Compton salmas (inkoherent salma), gaz iyonizasyonu ve sintilasyon tanecik zellikleri; hz, polarizasyon ve Rayleigh salmas (koherent salma) dalga zellikleridir. Tanecik karakteri gsteren elektromagnetik radyasyona foton denir. izelge: X-nlarnn Genel zellikleri ve Madde Etkilemesi Genel zellikler Srekli spektrum verir. izgi spektrum verir. Ik hz ile yaylr. Dorular halinde yaylr. Elektrik ve magnetik alandan etkilenmezler. Yapabilecei fiziksel olaylar Transmisyon Krlma Yansma Polarizasyon Koherent salma nkoherent salma Fotoelektrik olay Etkileme sonucu maddeden kan tanecik yon Fotoelektron Auger elektronu Geri tepme elektronu Elektron pozitron ifti X-n sourmasnn kalc sonular Radyasyon tahribat Scaklk artmas Fotoelektrik iyonizasyon Genetik deime Hcrenin lm

Elektromanyetik spektrumda gama nlar ile mor tesi nlar arasnda yer alrlar.

1.2.1. X-Inlarnn Optik zellikleri

X-nlar iin optik geometri olduka basit bir durum gsterir, nk bu nlar homojen veya homojen olmayan ortamlarda daima n boluktaki hzna ok yakn bir hzla yaylrlar. Bu nlarn maruz kald krlma ihmal edilebilecek kadar azdr. Bu durumda X-nlarn mercekler vastasyla odaklatrmann imkn yoktur. Buna ramen X-nlarn tam yansmaya uratma imknlarndan yararlanlarak bir Xnlar mikroskobu yaplabilmitir. Ancak, bu cihazn kullanl olduka zahmetlidir. Tam yansma, X-nlarnn olduka yatay bir ayla parlak yzeyler zerine dmesiyle gerekleir. Bu amala kullanlan aynalarn meridyen kesitleri elips seklindedir. Normal nlar gibi X-nlar da polarizasyona urarlar. Birbirine dik iki polarizrden geen bir X-n demeti tam olarak sndrlebilir. X-nlarnn maddeyi geii polarize n titreim dzlemi zerine etki etmez.

1.3. X-Inlarnn Oluumu

X-nlar, doal X-nlar ve yapay X-nlar olmak zere iki ekilde meydana gelir;

1.3.1. Doal X-Inlar: Atom ekirdei tarafndan K enerji kabuundan

elektron yakalanmas, alfa bozunumu, i dnm ve beta bozunumu olaylaryla meydana gelir. Bir atoma dardan gelen veya gnderilen yksek enerjili elektronlar o atomun ilk halkalarndan elektronlar koparrlar. Atomdan kopan bu elektronun yerine daha yksek seviyelerden (st halkalardan) elektronlar atlayarak kopan elektronun yerindeki boluu doldururlar. Bu srada ortaya kan enerji fazlal X-n eklinde dar salnr. ekirdek ierisinde bulunan protonlardan bir tanesi hareketi esnasnda atomun ilk halkalarndaki elektronu yakalar ve ntrleir. Yakalanan bu elektronun halkasndaki boalan yere dier bir halkadan bir elektron atlamasyla X-n meydana gelebilir.

1.3.2. Yapay X-Inlar: Maddenin; elektron, proton, paracklar veya

iyonlar gibi hzlandrlm paracklarla etkilemesinden ya da X-n tpnden veya baka bir uygun radyoaktif kaynandan kan fotonlarla etkilemesinden meydana gelir. Maddenin, fotonlarla etkilemesinden karakteristik (izgi) X-nlar, ykl paracklarla etkilemesinden hem karakteristik hem de srekli X-nlar elde edilir.

X-In Tp: X-n tp yksek voltajl bir katot n tpdr. Tp yksek

vakumda havas boaltlm cam bir klftan olumutur. Bir ucunda anot (pozitif elektrot), dier ucunda katot (negatif elektrot) bulunur ve bunlarn her ikisi de lehimle skca mhrlenmitir. Katot, stldnda elektron salan tungsten materyalinden yaplm bir flamandr. Anot, kaln bir ubuk ve bu ubuun sonundaki metal hedeften oluur. Anot ve katot arasna yksek voltaj uygulandnda katot flamanda elektron yaynlanr. Bu elektronlar yksek gerilim altnda anoda doru hzlandrlr ve hedefe arpmadan nce yksek hzlara ular. Yksek hzl elektronlar metal hedefe arptklarnda enerjilerini aktararak bir foton yaynlanr. Oluan X-n demeti cam

zarfn iindeki ince cam pencereden geer. Baz tplerde tek dalga boylu X-n elde etmek iin filtre kullanlr.

Hareketli bir elektronun kinetik enerjisi vardr. Yksek hza sahip bir elektron tungstene arpnca bir tungsten atomu ile arpr. Elektron durdurulana kadar birok atomla arpmak zorunda kalabilir. Elektronun durdurulmas srasnda kaybedilen kinetik enerjinin yzde biri veya daha az ksm X-n masna, geri kalan ksm ise s enerjisine dnr. Vakum lambasndaki (X-n tpndeki) hedefin elektronlarla bombardman edilmesi sonucu elde edilen X-nlarnn maddenin iine ileyebilme gcne "sertlik" denir. Bu nlarn sertlii balca iki eye baldr. Bunlardan birincisi, lambadaki havann ya da gazn ne derece boaltlm olduudur. Lambada kalan gaz molekllerinin says ne kadar azsa, bu molekllerle arparak hedeften sapan elektronlarn says da o kadar az olur. kinci etken tpe uygulanan gerilimin iddeti, yani elektrik basncdr. Gerilim ne kadar yksekse, hedefe arpan elektron akmnn darbe etkisi de o lde byk olur. Bugn kullanlmakta olan X-n lambalarnn ou Coolidge lambasdr. Bu lamba trn ABD'li bilim adam William David Coolidge (1873-1975) gelitirmitir. Son derece yksek bir vakum dzeyine sahip olan bu lambalarda elektronlar, radyo

lambalarnda olduu gibi scak bir filamandan (ince bir telden) yaylr. Katottan kan ve 1 milyon volta kadar ulaabilen yksek bir gerilimle hzlandrlan elektronlar tungstenden yaplm ar bir ubua arptrlr. Tungsten, elektron bombardmannn neden olduu yksek scaklklara erimeden dayanabilir. Tungsten ubuun filamana yakn olan ucu belirli bir eimle kesilmitir; bu uca hedef denir. Hedeften X nlar yaylr, ama lamba belirli bir aklk dnda kaln bir kurun katmanyla svanm olduundan X-nlar yalnzca bu aklktan dar kar, bu yzden de bir demet halinde yol alr. Etkileme ekline gre 2 tr X-n elde edilir.

a) Srekli (Frenleme) X-Inlar: Elektron demeti, hedef atomun

ekirdeine yaklatnda, ekirdein pozitif yknden kaynaklanan elektrik alandan etkilenir ve ivmeli hareket yapmaya zorlanarak darya fotonlar yayar. Srekli bir enerji spektrumuna sahip bu fotonlara srekli x-nlar, bu olaya da bremsstrahlung veya frenleme radyasyonu ad verilir.

b) Karakteristik X-Inlar: Hedef atom zerine gnderilen elektronlarn,

hedef atomun yrngesindeki elektronlarla etkileimi sonrasnda, aldklar enerjiyle st enerji seviyelerine karlar. Kararsz durumdaki bu enerji seviyeleri geri bozunduunda darya foton yaynlanr. Enerjileri, seviyeleri arasndaki farka eit olan bu fotonlara karakteristik x-nlar ad verilir.

1.4. X-Inlar Difraksiyonu(Krnm) (XRD)

Kristal yap, boyutlu uzayda dzgn tekrarlanan bir deseni temel alan bir atomik yapya sahiptir. Bu nedenle, katlarn kristal yaps, yapda bulunan atom gruplarnn ya da molekllerin katya zg olacak ekilde geometrik dzende bir araya gelmesi ile oluur. lk kez Max van Laue tarafndan kristal yap ve yap ierisindeki atomlarn dizilileri X-n krnm desenleri kullanlarak incelenmitir. Bir malzemenin atomik yapsn grntlemek, yksek znrle sahip eitli elektron mikroskoplar kullanlarak mmkndr. Fakat bilinmeyen yaplar belirtmek veya yapsal parametreleri tayin etmek iin krnm tekniklerini kullanmak gerekir. Katlarn kristal yaplarn incelemek iin en ok kullanlan krnm teknii Xn krnmdr. Bu tekniin ince film analizi iin uygun olmas, temelde iki nedenden dolaydr; 1. X-nlarnn dalga boylar, younlatrlrm maddedeki (condensed matter) atomik mesafeler lsndedir ve bu zellik, yapsal aratrmalarda kullanlmalarn salar. 2. X-n salm teknikleri, ykc deildir ve incelenen numuneyi deitirmez. Kat malzemelerin incelenmesinde kullanlan X-nlarnn dalga boylar, atomlar aras mesafelerle kyaslanabilir byklkte olup yaklak olarak 0.5 ile 2.5 arasnda deiir.

10

Kristal ve molekllerdeki atomlar aras mesafeler 0.15-0.4 nm arasndadr. Bu mesafe 3 keV ve 8 keV arasnda foton enerjilerine sahip X-nlarnn elektromagnetik spektrum dalga boyuna karlk gelir. Bundan dolay, kristal ve molekl yaplar X-nlarna maruz kaldnda, yapc ve ykc giriim gibi olgular gzlemlenebilmektedir. nce film fiziinde elektron salmas, X-n salmasndan daha sk kullanlr, fakat X-n salmas kafes parametrelerinin kesin lmlerinin gerekli olduu yerlerde kullanlr. ki metot arasndaki farklardan birisi, X-nn daha derin nfuz derinliine sahip olmas ve X-nlarnn salma noktalarnn elektronunkinden 103 kat daha zayf olmasdr. X-n salmasnn daha kaln rnekler iin uygun olmasnn nedeni, daha byk nfuz derinliine sahip olmasdr. Fakat ok ince rnekler (5nm) iin bile salma modelleri elde edilebilmektedir. ok keskin odaa sahip X-n tp kullanlarak, younluk artrlabilir ve bylece maruz kalma suresi drtte bir orannda azaltlabilir. Dier taraftan, salma alar, X-nlarnda daha byktr ve bu kafes parametrelerinin elektronlara nazaran daha kesin olarak belirlenmesini salar. Salma modelleri, filmin toplam kalnl veya belki de altlk tarafndan elde edilir, baz durumlarda altlkla elde edilmesi, kafes sabitlerinin belirlenmesi iin avantaj salar. X-n salmas, filmlerdeki mekanik stres incelemesi iin de

kullanlabilmektedir. Salma izgilerinin geniliinden, ok kristalli (polikristal) filmlerdeki kristallerin bykl ay karmak u ifadeye gre mmkndr: a = / Dcos Burada D, maksimum younluun yarsndaki salm izgisinin acsal genilii, kullanlan n dalga boyu, ise Bragg asdr. Bu yolla, 5 ile 120 nm arasndaki kristal boyutlar belirlenebilmektedir. Benzer lmler, elektron salmasnda da gerekletirilmesine ramen, bu metot sadece yaklak 10 nmden kk kristallere uygulanabilir. Bunun nedeni de elektronlarn ok daha kk dalga boylarna sahip olmasdr. X-snlar kristal yap zerine drldnde, snlar kat yzeyinden kk geli alaryla tam yansmaya urarlar ve snlar kristaldeki atomlarn paralel dzlemleri tarafndan salrlar. Kristal yapdaki bu salmlar krnm olarak 11

adlandrlr ve krnm ok sayda atomu ieren salmalardan meydana gelir. Xsnlarnn kristal yapda krnm Bragg Kanunu ile aklanr ve Bragg kanunun en basit sekli aadaki forml ile verilir. n=2dSin

ekil: Bir kristalde X-sn krnm Modern X-n cihazlarnda, krnma urayan snn krnm asn ve iddetini lecek snm sayclar bulunur. Bylece krnm as (2q)nn, krnma urayan snn iddetine gre deiimini veren krnm deseni elde edilir. Desen zerindeki pik geniliklerine ve zemin iddetine baklarak malzemenin kristallemesi hakknda bilgi edinilebilir.

1.5. X-Inlar Krnm le Kristal Yaplarn Tayini

Kristallerde x-n krnm ve dier krnm (elektron ve ntron krnm) teknikleri ile salanan bilgiler unlardr:

Kristalin yapsn belirleme Kristalin mkemmellii veya fazn safln belirleme Kristalin dorultularn belirleme Kristalin rg sabitlerini belirleme Gnmzde kristallerde krnm, kristal yaplarn hemen hemen hepsinin

yapsnn biliniyor olmas sebebiyle, kristalin mkemmellii ve dorultularnn belirlenmesinde kullanlmaktadr. Ayrca, yeni modeller gelitirmeye ynelik

12

almalarda veya endstriyel deere sahip polimerler, biomolekller, zeolitler gibi yaplarn ve rg sabitlerinin belirlenmesi almalar nemli bir yere sahiptir. Kristal yaplarn ortaya karlmas denince a,b,c ve alfa, beta, gama birim hcre parametrelerini, birim hcrede ka tane atom veya molekl olduunun karlmas anlalr. Bunlarn dnda atomlarn konumlar ba uzunluklar, kristal yzlerinin indislenmesi, kristalin mkemmellii de tespit edilebilir. Kristal yapy tespit ederken atomlarn veya molekllerinin yerlerinin belirlenmesi spektroskopik yntemlerle gerekletirilir. Bu yntemlerden ilki x-nlardr bunun dnda ntron krnm ve elektron krnm da kullanlr.

Krnm = Giriim + Salma Bir krnm iin saan ve salan x-nlarnn dalga boylar eit ve sabit bir faz farkna sahip olmaldr. Salan bir x-n atomun elektron younluunun ok olduu ksmyla etkileir. Salan x-nnn enerjisi 10-50 KeVtur.

13

Ntron Krnm: Ntronlarn enerjisi yaklak olarak 0.08 eVtur. Bir

ntronun ktlesi yaklak olarak elektronun ktlesinin 2000 katdr. (mn=2000me)

Ntronlar kristal maddenin ekirdei ile etkileirler. Etkileme esnek etkilemedir ve dipol momenti olan molekllerle etkileirler.

Elektron Krnm: Enerjileri yaklak olarak 100 eVtur. Elektronlar katnn

derinliklerine giremezler. nk enerjileri dktr. Bu nedenle elektron krnmyla sadece katlarda yzey aratrmas yaplr.

X-Inlar ve Ntron Krnm Karlatrmas

1. X-nlar atom etrafndaki elektronlarla etkileir. Elektronlarn says azsa x- nlarnn etkileimi zordur. Elektron says az olan (atom numaras kk) elementlerin atomlarnn yerlerinin bulunmasnda ntronlar avantaja sahiptir. nk ntron hafif ya da ok sayda olan elektronlarla ayn derecede etkileir. X-nlaryla atomlarn yerlerinin belirlenmesi zordur. 2. Buna karlk ntron kaynan yapmak olduka pahaldr.

1.6. X-Inlar Floresans (XRF)

X-nlar floresans teknii, genel olarak foton madde etkilemesi sonucu meydana gelen karakteristik X-nlar ve salma fotonlarnn nicel ve nitel deerlendirilmesine bal olarak uygulanan bir tekniktir. Kat, sv, toz hatta gaz durumlarnda bile uygulanabilmektedir. XRF teknii ile hzl, duyarl ve gvenilir bir ekilde malzemeye zarar vermeden dk maliyetle ksa srede lm yaplmaktadr. Bu nedenle bilimsel ve teknolojik aratrmalarda yaygn olarak kullanlmaktadr.

14

XRF aralndaki

sistemleri elementlerin

ile

farkl

formlardaki numune

numunelerde matrisine bal

sodyum-uranyum olarak, ppm-%

analizleri

konsantrasyon mertebesinde, tahribatsz, hzl ve gvenilir bir ekilde yaplmaktadr. Portatif -XRF cihaz ile 70 m apl alanlarda tarama ve haritalandrma yaplabilmekte, element analizleri herhangi bir numune hazrlama ilemi gerekmeden gerekletirilebilmektedir. Cihazn tanabilir olmas, yerinde analizi de mmkn klmaktadr. XRF tekniinin uygulama alanlar

Temel fizik aratrmalar Metalrjide, alam analizleri Maden filizlerinin analizleri Radyoaktif cevher analizleri

15

Endstride, plastik, lastik, kat ve cam gibi maddelerde safszlk analizleri Petrol rnleri, boya ve ince film analizleri Kmrlerde kl, kkrt ve nem tayinleri eitli bitki rneklerinin incelenmesi evre aratrmalar Arkeoloji aratrmalar nce metal ve film kaplama kalnlklarnn tayinleri

1.7. X-Inlarnn Fizyolojik Etkisi

Yksek enerjili her n gibi X-nlar da dokular iin zararldr. ok yksek frekansa sahip olan X-nlar kimyasal balar krabilecek enerjiye sahiptir. Bu balarn krlmas sonucu iyonlama oluur. yonlaabilen elektromanyetik nmlar, hcrenin genetik materyali olan DNA'y paralayabilecek kadar enerji tamaktadr. DNA'nn zarar grmesi ise hcreleri ldrmektedir. Bunun sonucunda doku zarar grr. DNA'da ok az bir zedelenme, kansere yol aabilecek kalc deiikliklere sebep olabilir. Hcre iin en zararl nlar yumuak X-nlardr, zira bu nlar hcre tarafndan sorulur ve bu enerji kazanc hcre iinde yaralanmalara sebep olur. Radyo kristalografide kullanlan nlar ve bu nlarn neden olduu X-nlar dokular iin ok zararl olabilirler. Radyolojide kullanlan nlar, sertlikleri dolaysyla ok daha az sorulurlar ve bu nedenle de ok daha az zararldrlar. Eller ve vcudun dier ksmlar X-nlarna hedef olduundaki tehlikeli duruma yank denir. Fakat bu gne yanndan ok daha fazla zararldr. Yanklara, X-nlarndan kan s neden olmayp, snn dourduu yanklardan da farkldrlar. X-nlarna hedef olunduunda ani bir acma duygusu da duyulmaz. yilemesi dier yanklardan ok daha yava olur. X-nlar tpnden dorudan doruya gelen demetin yan sra, salm, floresans, uyumlu ve uyumlu olmayan nmlar da tehlikelidirler. Modern X-nlar cihaz, btn bu tehlikelere kar korunmak zere dikkatlice tasarlanm ve gvenlik dzenekleri ile donatlmtr.

16

2. X-IINLARININ KULLANIM ALANLARI

X-nlar Rntgen tarafndan kefedilmesinden bugne, ok ksa dalga boylar ve yksek enerjileri ile gnlk hayat iinde ok nemli ve yaygn kullanm alanlar bulmutur. Bunlardan en nemli birkan yle sralayabiliriz: (i) X-nlar, tpta tehis ve tedavi arac olarak byk neme sahiptir. Radyoskopi ve radyografi iin genellikle 500 - 200 kV luk hzlandrc gerilimlerle alan X-nlar tpnden elde edilen ksa dalga boylu sert nlardan yararlanlr. Gnmzde, eitli tanecik hzlandrclar yardm ile hzlandrlan ok yksek enerjili elektronlarn frenlenmeleri sonucu, giderek ok daha ksa dalga boylu (yksek frekansl), dolaysyla sert Xnlarnn elde edilmeleri mmkn olmakta ve bunlar kanser tedavisinde ve baz operasyonlarda kullanlmaktadr. (ii) X-nlar; maddenin yaps, rnein kristal dzeni, karmak organik maddelerin molekl yaplarnn aydnlatlmasnda, gnmzde sk bavurulan bir aratrma aracdr. (iii) Teknikte malzeme kontrolnde, szgelimi ele alnan bir rnein iinde yabanc bir madde, hava boluu ya da bir yapm hatas bulunup bulunmadn anlamak iin, X-nlar radyografisinden yararlanlr. (v i) Kimyada bir rnek iinde bulunan eser miktardaki yabanc maddenin analizi, fizikte yeni elementlerin kefedilmesi ve zelliklerinin incelenmesinde, aratrma arac olarak X-nlarnn nemi byktr. Nadir toprak elementleri ve uran tesi elementlerin zellikleri bu yolla saptanabilmektedir. Gnmzde nkleer grntleme tpta ve endstride ok geni bir kullanm alanna sahiptir. Endstrideki kullanm alanlar tp alanndaki kadar geni ve eitli olmasa da zellikle reaktr almalarnda ve tahribatsz muayene olarak bilinen cisimlerin isel kesit grntlerinin oluturulmasnda kullanlmaktadr.

2.1. X-Inlarnn Tpta Kullanlmas

Tp alannda 1895te X-nlarnn kefi ile balayan radyografi, gelierek gnmze kadar gelmi ve deiik yntemlerle temelde bilgisayarl tomografi (CT) adn almtr. Klasik radyografide, X-nlarnn deiik ortamlarda, farkl sourulma zelliinden yararlanlr. X-n doku iinden geerken ortamn fiziksel younluklar, atomik yaplar, X-n enerjisi ve kat ettii yola bal olarak sourulur ve salmaya urar. 17

Vcudu geen X-nlar, X-nlarna duyarl bir film zerine drlmeleri halinde bir grnt olutururlar. Film zerine den iddet deerleri, farkl sourma katsaysna sahip blgelerden geerek geldii iin deiik tonda grnt olutururlar. Fakat klasik radyografinin en byk dezavantaj, birbirlerine ok yakn ktle sourma katsaylarna sahip iki blgenin hemen hemen ayn kontrast vermesi veya birbirinden ok farkl ktle sourma katsaylarna sahip iki blgeden byk katsayya sahip olann dierini glgelemesi sonucunda iki blgenin birbirinden ayrt edilememesinin sz konusu olmasdr. Bu yzden filme dayal radyografinin sakncalarn gidermek amacyla yaplan almalar sonucunda 1970li yllarda bilgisayarl radyografi gelitirilmitir. Daha sonraki yllarda yaplan almalar sonucunda transmisyon radyografisinin gnmzde en youn kullanlan ekillerinden bir tanesi olan fluoroskopi sistemleri ortaya kmtr. Bu sistemlerde film yerine CsI tipi dedektrler kullanlmaktadr. Bu dedektrler temelinde bir sintilasyon dedektrdr. Dedektrde, gelen radyasyonun iddetiyle orantl oluan parldama, bir kamera sistemiyle dijitalize edilerek grnt oluturulmaktadr. Gnmzdeki almalar ise bu tip dedektrler yerine yar iletken dedektrler kullanarak grnt oluturma amac tamaktadr. Bu alma, fluoroskopide, CsI dedektrleri yerine CdTe yariletken dedektrler kullanlmas zerinedir.

18

2.1.1. Rntgen
Rntgen, radyolojik tan yntemlerinin en eskisidir. X-nlarnn diyagnostik radyolojide kullanlmalarn salayan temel zellik, dokuyu geebilme yetenekleridir. Flouresans ve fotografik zellikleri ise grntnn elde edilmesini salar. nsan vcudunun deiik atom arlnda ve deiik kalnlk ve younlukta dokulardan yapldndan, x-nnn absorbsiyonu da farkl olacaktr. Farkl absorbsiyon ve girginlik sonucu, rntgen filmi (rntgenogram) zerine deiik oranlarda den xnlar getikleri vcut parasnn bir grntsn olutururlar. Bu grnt, siyahtan (film zerine den n fazla) beyaza (film zerine den n az) kadar deien gri tonlardan oluur.

Rntgenogramlarda Grnt Oluumu: Vcudu geen x-nlar,

zerine gm bromr (AgBr) emlsiyonu srlm plastik bir yapraktan ibaret olan rntgen filmi zerine, ya dorudan ya da Flouresans zellikteki bir levha aracyla, ultraviole eklinde drlr. Grlebilir n fotoraf planda yapt deiiklikten farksz olan etki, x-n veya ultraviole alan AgBr molekllerindeki balarn gevemesidir. Byle bir film baz kimyasal solsyonlarla karlatrlrsa, etkilenen molekllerdeki gm ve brom birbirlerinden kolayca ayrlr. Tek kalan gm oksitlenerek rntgenogramlar zerindeki siyah kesimleri oluturur. In dmemi blgelerdeki gm bromr moleklleri ise film zerinden alnr ve beyaz olan plastik baz ortaya kar. Bu ileme film processing (film banyosu) ad verilir. Yani ksaca rntgenogramlardaki grnt, okside olmu gm tarafndan oluturulmaktadr.

Gm

bromr

grntlerinin

elde

edildii

bu

ynteme konvansiyonel rntgen, vcudu geen x-nlarnn dedektrlerle llerek grntnn bilgisayar aracl ile katot tpnde oluturulduu ynteme ise dijital rntgen ad verilir.

19

2.1.2. Bilgisayarl Tomografi

Bu cihaz X-n cihazlarnn en

gelimiidir. Bu cihaz ile hekimler MR cihaznda olduu gibi vcudun belli bir blgesinin kesit grntsn karabilme yeteneine sahip olmulardr. Cihaz dier rntgen cihazlar gibi bir X-n tpne sahiptir. Ancak bu cihazn sabit bir tp yaps yerine, hareketli bir GANTRY zerine monte edilmi bir tp yaps vardr. Bu gantry srekli ve belirli bir hzda dnerek pheli vcut blgesinin zerini taram olur. Bu tarama; X-n dedektrne gelen veriler dorultusunda grnt ileme bilgisayarlaryla CT grntleri oluturur. Oluturulan bu grnt MR grntlerine olduka benzemektedir. CT cihaznn etkili olduu dokular ve vcut blgelerini incelediimizde daha ok yaps ve alma prensibi itibariyle kemikli dokularn incelenmesinde, yumuak dokularnkine oranla daha baarldr.

2.2. X-Ray Cihazlar

X-Ray cihazlar, nesnelerin sabit bir X-n kaynandan geirilerek ierii hakknda bilgi veren cihazlardr. X-Ray cihazlarnda bir X-n kayna ve bu kaynan karsnda nlar alglayan bir detektr grubu bulunmaktadr. Eyalar bu nlarn yolu zerine konulmakta ve eyalardan geen nlar detektrler (foto diyotlar) tarafndan alglanmaktadr. Foto diyot k sinyallerinin uygun ykseltme ve filtreleme ilemlerinden sonra, sinyal ileme ve grnt oluturma teknikleri kullanlarak dilim grntler oluturulmakta, sonrasndan bu dilimler birletirilmekte, sonu olarak oluturulan grnt monitr bir siluet olarak yanstlmaktadr. Aada verilen resimde standart bir X-Ray cihaznn bagaj tarama sreci adm adm izlenmektedir.

20

Bagajlar X-Ray cihaznn tnelinden geerken maruz kaldklar X-nlar bagaj bir utan br uca tarar. Taranan her kesit, ierdii maddenin atom arlyla ilgili olarak detektr grubunda bir sinyal oluturur. Tarama sonunda bu sinyallerin toplam taranan maddenin ierdii nesnelerin grntsdr. X-nl anta paket kontrol sistemleri ilk kullanlmaya baladnda siyah beyaz grnt verebilen basit cihazlar ve buradan sadece malzemenin, antann iindekilerin fiziksel ekli hakknda bilgi alnabilmekteydi. Daha sonra 90l yllarn balarnda sadece fiziksel eklin ne olduunun bilinmesi pek yeterli olmamaya balad. reticiler bir adm daha ileriye giderek anta paket iersindeki nesnelerin kimyasal yaps hakknda da bilgi verebilecek yani onlarn organik ya da inorganik maddeler olup olmadklarnn belirlenebilecei teknikler zerinde alp kullanclara bu bilgileri verebilecek multi enerjili sistemler gelitirdiler. Bu sistem, oluturulan grnt zerinde operatrlerin madde tanmlamasn kolaylatrc baz uygulamalar iermektedir. Bu tanmlamada malzemelere renk kodlamas uygulanmakta, rnein titanyum, krom, demir, elik, kalay, kurun, bakr, gm, altn gibi atom numaras 18den byk olan ar elementler (inorganik maddeler) mavi renklendirme ile alminyum gibi atom numaras 10 ile 18 arasnda

21

olan orta arlktaki elementler (kark grup) yeil renklendirme ile, atom numaralar 10un altnda olan hidrojen, karbon, nitrojen, oksijen, nitrogliserin, akril, kat, tekstil rnleri, tahta ve su gibi organik maddeler turuncu ile grnmektedir. 90l yllarn ikinci eyreinden sonra ise bu cihazlarda daha byk gelimeler yaanmaya baland ve 3. eyrekte artk operatrlere antalarn pheli olup olmad hakknda karar vermesinde yardmc olmaya alan ve grntler zerine pheli olabilecek blgelere iaretler atan sistemler gelitirilmeye baland.

2.3. X-Inlarnn Sanayide Kullanlmas

Sanayide X-nlar metal paralarn, zellikle de dkmlerin ve kaynaklanm paralarn salamlnn denetlenmesinde kullanlr. ok sayda paradan oluan malzemelerin, rnein elektrikli aletlerin montajnn doru yaplp yaplmad da Xnlaryla incelenebilir. Polis ve gmrk memurlar yolcu valizlerinde yasad bir maddenin bulunup bulunmadn anlamak iin X-nlarndan yararlanrlar. X nlar bugn kullanlmakta olan pigmentlere (renk verici maddelere), eski ressamlarn kullanm olduklar pigmentlere oranla daha kolay iler. X-nlarnn bu zelliinden yararlanan sanat uzmanlar, eski bir ressama ait olduu iddia edilen bir yaptn sahte olup olmadn, zerinde herhangi bir deiikliin yaplp yaplmadn saptayabilirler. Tablolarn alt katmanlarnn X-nlaryla incelenmesiyle, nl ressamlarn yaptlarn nasl ortaya kardklarna ilikin pek ok ey renilmitir. X-nlarnn farkl maddelerde farkl renklerde florma oluturma zelliinden, gerek deerli talar yapaylarndan ayrt etmekte de yararlanlr.

2.4. Bilimsel Aratrmalarda X-Inlar

X-nlar canl hcrelerdeki genetik maddelerin deiim hzn artrmak iin kullanlabilir. Bylece bilim adamlar yeni canl trleri yaratmak ve belirli genlerin kaltm modelini incelemek iin X-nlarndan yararlanabilirler. ABD'li genetiki Hermann Joseph Muller, X-nlarnn deiim yaratc (mutajenik) zellikleri zerindeki almalaryla 1946 Nobel Tp ya da Fizyoloji dl'n almtr. X-n kristalografisi, maddelerin kristal ve molekl yapsn incelemekte kullanlan bir 22

yntemdir. Grnr ktan farkl olarak X-nlar, iinden getikleri mercek, prizma ve aynalarda nemli bir dorultu deiikliine uramaz. Ama te yandan kristallerdeki atomlar dzenli bir yerleim iindedir ve X-nlarn krlmaya uratacak kadar birbirlerine yakndr, bu yzden de belirli bir krnm deseni oluturur). zmlenecek kristal rnein zerine X-n demeti drlr ve ortaya kan krnm deseninin filmi ekilir. Bu desendeki beneklerin konumlar zmlenerek kristalin atom yaps konusunda bilgi edinilir. X-n krnmna dayal inceleme yntemleri, biyoloji asndan nemli molekllere ilikin bilgilerimizin artmasnda yaamsal bir rol oynamtr. rnein, DNA olarak anlan deoksiribonkleik asidin X-n krnmyla incelenmesi, DNA molekllerinin ikili sarmal yapsnn belirlenebilmesine yardmc olmu ve bylece bilim adamlar genetik ifreyi ve bunun kaltm srecindeki roln renebilmilerdir. X-n krnm yntemi metallerin, kay alarn, minerallerin incelenmesinde ve cevher kellerinin yerlerinin saptanmasnda da uygulanr. X-nlar tarayc elektron mikroskoplarnda da kullanlr.

2.5. X-In Astronomisi

X-n astronomisi, d uzaydaki X-n kaynaklarnn incelenmesini konu alan bir bilim daldr. X-nlar Dnya atmosferinde sourulduundan yerdeki aletlerle kolayca toplanp gzlemlenemez. Bu nedenle X-n teleskoplar ve alglayclar roketlerle, balonlarla ok ykseklere kartlr yada bir uyduyla Dnya yrngesine oturtulur. X-n astronomisiyle, aralarnda yldzlarn, spernova kalntlarnn ve kuvazarlarn da bulunduu binlerce X-n kayna ortaya kartlmtr. Kuu X-1 ad verilen gl ve nemli bir X-n kaynann, grnmeyen yoldayla birlikte ortak bir ktle ekimi merkezi evresinde dolanan, grnr bir yldz olduu sanlmaktadr. Yoldann grnr yldzdan madde eken bir kara delik olduu ileri srlmtr. Bu varsayma gre, yldzdan ekilen madde kara delikte yok olduka, kara delik Xnlar salmakta ve astronomlar da bu nlar gzlemlemektedir.

23

KAYNAKA:
AYGN, E. , ZENGN, M. (1998). Atom ve Molekl Fizii. Ankara niversitesi, Ankara CULLTY B.D. (1996). X nlarnn Difraksiyonu, (ev. A. Smer), stanbul Teknik niversitesi Yaynlar, stanbul GNDZ, EROL. (1989). Fakltesi, zmir ATAMAN, G. (1971). X-nlarnn Kristallerdeki Krnmna Giri. Ders Notlar. Hacettepe niversitesi, Jeoloji Mhendislii Blm, Ankara AHN, Y. (1999). ekirdek Fiziinin Esaslar. eviri, Atatrk niversitesi Yaynlar, Erzurum Modern Fizie Giri. Ege niversitesi Fen

http://www.taek.gov.tr http://tr.wikipedia.org http://kutuphane.ksu.edu.tr http://www.fizik.us

24