Prof. dr hab. in.

Jerzy Kisilowski

Materiay pomocnicze
z przedmiotu Metrologia
dla studentw kierunku
Transport

Wszelkie prawa autorskie zastrzeone.

1. WSTP

Materiay pomocnicze stanowi uzupenienie wykadu. podane zostan

podstawowe pojcia, definicje oraz objanienia do tematw. Materiay s
przygotowane w oparciu o wykad z tego przedmiotu.
Ujcie przedmiotu dla kierunku Transport zawiera w podstawowej czci
przedstawienie metod pomiarw wielkoci staych i zmiennych w czasie oraz
przedstawienie przyrzdu jako zoonej struktury zawierajcej elementarne stopnie
przetwarzania. Dla wielkoci staych i zmiennych w czasie przedstawione s
elementy teorii bdu oraz metody wyznaczania funkcji opisujcych cechy
probabilistyczne pomiarw. Rozszerzenie materiau mona znale w czterech
pracach [1,2,3,4], w ktrych s przedstawione szczegowe omwienia tej
problematyki.
W Materiaach jest rwnie przedstawiona ta cz wykadu, ktr trudno
znale w podanych podrcznikach. Jest to materia zawierajcy rwnie
dowiadczenie z wasnych prac badawczych. W Materiaach cytowane bd
niektre definicje i okrelenia podane w tych czterech pracach, bez odnonikw,
skd zaczerpnito. Jest to materia bdcy przedstawieniem podstawowych
zagadnie omawianych na wykadzie.
Prezentowane omwienia s obarczone pewnymi uproszczeniami i dlatego
mog w czciach zawiera braki w precyzji sformuowa. Tak naleaoby
traktowa wiele wyprowadze, w ktrych pominito peny tok wyprowadze
matematycznych.
Przedstawione Materiay posiadaj ukad zgodny z organizacj toku studiw
zaocznych.. Przedmiot ten zawiera osiem dwugodzinnych wykadw i w takim
ukadzie starano si przedstawi Materiay .
Wykady tworz rwnie podstaw do wicze laboratoryjnych; wszystkie
wiczenia s wykonane w oparciu o

programy informatyczne, istnieje wic

potrzeba posiadania wiedzy, co w trakcie oblicze jest realizowane.

Jest to pierwsze wydanie Materiaw pomocniczych i co roku bdzie ich korekta.
Materiay s drukowane jednostronnie, tak, aby wolne (niezadrukowane) strony
umoliwiy robienie notatek na wykadach.

Literatura:
[1] J. Piotrowski Podstawy metrologii , PWN, Warszawa 1978 i wydania nastpne.
[2] Praca zbiorowa pod red. J Kisilowskiego, Dynamika ukadu mechanicznego
pojazd szynowy - tor (rozdzia 14), PWN 1992.
[3] J. Kisilowski, Pomiary wielkoci staych i zmiennych w czasie, wyd. PW,
Warszawa 1997.
[4] W. Styburski Przetworniki tensometryczne, konstrukcje, projektowanie,
uytkowanie. WNT, Warszawa, 1976.

2. PODSTAWOWE

POJCIA Z

PODSTAW

TECHNIKI POMIAROWEJ.

NARZDZIA

POMIAROWE. WZORCE

W pomiarach wystpuj wielkoci mierzone i pomierzone. Wielkoci

mierzone potraktujmy jako zbir. Dla zbioru, jako wielkoci mierzonej mona
podporzdkowa nastpujce wasnoci: zbir moe by ograniczony bd
nieograniczony; kady z tych dwch moe by nieprzeliczalny bd przeliczalny.
Odpowiada to traktowanym funkcjom o zmiennoci od - do + ; tak traktowany
zakres zmiennoci jest waciwy dla rozwaa teoretycznych. W praktyce
pomiarowej bdziemy wielko mierzon traktowa jako zbir ograniczony, co dla
funkcji oznacza zakres zmiennoci od xmin do xmax.
Zbiory nieprzeliczalne mona podporzdkowa funkcjom cigym, bdcymi
wielkociami mierzonymi. Zbiory przeliczalne to funkcje dyskretne, w ktrych
mamy dyskretyzacj i kwantyfikacj, tj. podzielonym wartociom zmiennych
niemierzonych odpowiada warto zmiennej zalenej; w praktyce jest to jak na
rys. 1.

rys.1. Tych poj bdziemy uywa definiujc nastpne okrelenia.

W pomiarach przyjmiemy szereg zaoe, ktre dotycz zarwno

wielkoci

mierzonych, pomiarw oraz przyrzdw pomiarowych.

Zaoenie 1
Pomiar wykonywany jest z niedokadnoci rn od 0.
Zaoenie 2
Wielko mierzona jest zbiorem zdarze losowych; czyli wielko mierzona jest
losow. Moemy przyj zaoenie, e mona traktowa wielko mierzon jako
zdeterminowan. Z definicji zmiennych losowych przyjmiemy, e zdarzenie pewne
tj. prawdopodobiestwo rwne 1 wystpuje, gdy zmienna przyjmie wartoci od -
do + . Jak ograniczy ten zakres dla praktycznych zastosowa powiemy w dalszej
czci wykadu.
Zaoenie 3
Przyjmuje si, e przyrzdy maj charakterystyki liniowe. Wiemy, e w
rzeczywistoci wszelkie charakterystyki bd miay mechaniczny charakter.
Zaoenie 4
Sygna pomiarowy posiada trzy dziedziny, dla ktrych wyznacza si funkcje bdce
wynikiem pomiaru. Te dziedziny to dziedzina czasu, amplitudy i czstotliwoci.

Zaoenie 5
Losowy sygna pomiarowy bdzie traktowany jako proces stochastyczny i
stacjonarny w szerszym sensie i globalnie ergodyczny. Te wasnoci pozwol
prowadzi pomiar i analiz sygnau na podstawie jednej realizacji (rys. 2.b.).
Warunki, jakie winna spenia ta realizacja zostan omwione w dalszej czci.

xi

ti

x - wielko mierzona, t - zmienna niezalena (moe by to czas)

Rys. 1.
a.)
x
xi(t)

x1(t)

xn(t)

x - wielko mierzona - proces stochastyczny, t - zbir okresowoci procesu stochastycznego

(najczciej jest to czas, ale moe to by inna wielko).

b.)
x
xi(t)

Rys. 2. a.) Zbir realizacji, b.) Jedna realizacja

Zgodnie z Polsk Norm przyjmuje si nazw narzdzi pomiarowych, ktre s

traktowane jako rodki techniczne przeznaczone do wykonywania pomiarw.
Narzdzia pomiarowe bdziemy dzieli na wzorce i narzdzia pomiarowe.
Omwmy niektre wymagania i wasnoci wzorcw. Wzorce jednostek miar
powinny posiada nastpujce cechy:

Niezmienno w czasie; warunek ten jest niezgodny z zaoeniem 1. i dlatego

zapiszemy to w postaci rwnania X = W0 + f(t), gdzie W0 - jest stae, a f(t) jest

losow funkcj czasu. Mona wykaza, e fmax(t) 0 dla okrelonych
warunkw (w ktrych wzorce si znajduj) i dla okrelonego czasu. Wtedy
X W = W0 0 gdzie 0 jest zmienna. Tak wic parametrami wzorw s W0 nominalna miara wzorca, - niedokadno miary wzorca oraz okres zachowania
niedokadnoci miary wzorca. Parametry te s podawane na wzorcach lub w
metryce wzorca.

atwo odtworzenia

atwo stosowania

Najwiksza dokadno odczytu.

Wzorce dziel si na podstawowe, I rzdu, II rzdu. Wzorce podstawowe s

zdefiniowane zgodnie z ukadem SI. Jednostkami podstawowymi bdcymi
wzorami podstawowymi zgodnie z ukadem SI s:

1 metr, niedokadno 2 10-8

1 kilogram masy, niedokadno 2 10-9

1 sekunda, niedokadno 10-15

1 Amper, niedokadno 10-5

Kelwin, w zalenoci od metody niedokadno od 0,1K do 0,0001K

Kandela, niedokadno (12) 10-3

Mol - liczba atomw wgla zawarta w 0,012 kg czystego nuklidu wgla 12C

Definicje tych wzorw s podawane we wszelkich rdach omawiajcych ukad SI.

Poniej w tabeli podane zostan jednostki podstawowe i pochodne zgodnie z
ukadem SI.

Tabela 1. Jednostki miar w ukadzie SI.

Lp.

Nazwa wielkoci

Nazwa jednostki miary

Skrt nazwy
jednostki

II

III

IV

Jednostki podstawowe
1.

dugo

metr

2.

masa

kilogram

Kg

3.

czas

sekunda

4.

natenie prdu elektrycznego amper

5.

temperatura termodynamiczna kelwin

6.

wiato

kandela

Cd

7.

ilo materii

mol

Mol

Jednostki uzupeniajce
1.

kt paski

radian

Rad

2.

kt bryowy

steradian

Sr

Jednostki pochodne
1.

pole powierzchni

metr kwadratowy

M2

2.

objto

metr szecienny

M3

3.

czsto

herc

Hz

4.

gsto

kilogram na metr szecienny

Kg/m3

5.

prdko

metr na sekund

M/s

6.

prdko ktowa

radian na sekund

Rad/s

7.

przyspieszenie

metr na sekund do kwadratu M/s2

8.

przyspieszenie ktowe

radian na sekund do kwadratu Rad/s2

9.

sia

niuton

10.

cinienie

niuton na metr kwadratowy

N/m2 (Pa)

(naprenie mechaniczne)

(paskal)

dynamiczny wspczynnik

niutonosekunda na metr

lepkoci

kwadratowy

11.

Ns/m2

I
12.

II
kinematyczny wspczynnik

III

IV

metr kwadratowy na sekund m2/s

lepkoci
13.

praca, energia, ilo ciepa

Dul

14.

moc

wat

W = AV

15.

ilo elektrycznoci (adunek)

kulomb

C = As

16.

napicie elektryczne,

wolt

V=

kg m2
A s3

rnica potencjaw,
sia elektromotoryczna
17.

natenie pola elektrycznego

wolt na metr

V / m = kg m3
As

18.

rezystancja

om

kg m2

A 2 s4
kg m2

A 2 s3

19.

pojemno elektryczna

farad

F=

20.

strumie indukcji magnetycznej

weber

Wb =

21.

indukcyjno

henr

H=

kg m2

A 2 s2
kg m2

A 3s3
kg m2

A 2 s2

22.

indukcja magnetyczna

tesla

T=

23.

natenie pola magnetycznego

amper na metr

A/m

24.

sia magnetoelektryczna

amper

25.

strumie wietlny

lumen

lm = cd sr

26.

luminacja (gsto wiatoci)

kandela na metr kwadratowy cd/m2

27.

natenie owietlenia

luks

lx =

cd sr
m2

3. DEFINICJE POMIARU. MODEL ZMIANY WIELKOCI MIERZONEJ NA POMIERZON.

W pomiarze bior udzia dwa zbiory:

x - zbir wielkoci mierzonych; jest to zbir, ktry prcz innych cech (podane w
poprzednim rozdziale) jest nieuporzdkowany,

y - zbir wielkoci pomierzonych; zbir uporzdkowany wedug wartoci bd

wedug innych elementw, na przykad wedug czasu.

Pomiar jest to czynno pobrania ze zbioru x wielkoci xi i podporzdkowania do

rys. 3.

uporzdkowanego zbioru y (rys. 3.). W zbiorze y istniej elementy tego zbioru

uoone na przykad wedug rosncych indeksw, czyli podporzdkowanie
wielkoci xi do zbioru y, tj. znalezienie wielkoci yi i yi + 1, ktre to wartoci bd
speniay nierwno:
y i xi y i +1
Z nierwnoci tej wynika tej wynika rwnanie
y i +1 y i = 2 i > 0
Przyjmuje si, e 2 jest to niedokadno pomiaru, ktrego warto jest
symetrycznie

rozoona

po

dwch

stronach

osi

symetrii

rozkadu

prawdopodobiestwa wystpienia bdu. Zaoenia o tematycznoci rozkadzie

bdu w pomiarach przyjmuje si powszechnie w teorii bdw wielkoci
mierzonych.
rys. 4.

Definiujc wielko mierzon i pomierzon przyjmijmy model zamiany wielkoci

mierzonej na wielko pomierzon. Mona to przedstawi na rys. 4.

zbir x
xi

yi

Rys. 3.

yi+1

zbiory

P()

- + = 2

Rys. 4.

EF

x - wielko mierzona, y - wielko przeliczona,

EF - element funkcjonalny, nazywany rwnie elementarnym stopniem przetwarzania.

Rys. 5.

10

4.

CECHY

METROLOGICZNE

PRZYRZDW

POMIAROWYCH.

PARAMETRY

CHARAKTERYZUJCE PRZYRZDY POMIAROWE.

a.

Wskaniki ograniczajce miar

b.

Skala - podziaki

c.

Dziaka elementarna

d.

Warto dziaki elementarnej

e.

Obszar mierniczy podziaki

f.

Obszar mierniczy narzdzia

g.

Czuo przyrzdu

h.

Dokadno przyrzdu

i.

Przeoenie wskaza

j.

Bd wskaza przyrzdu

Kady przyrzd charakteryzuj parametry, ktre mwi o cechach tych przyrzdw.

Nazwa przyrzdu moe zawiera rodzaj wielkoci mierzonej, zasad lub metod
pomiaru.
Klasa niedokadnoci np. dla przyrzdw do pomiarw parametrw elektrycznych
cig klas niedokadnoci jest znormalizowany 0,1; 0,16; 0,25; 0,4; 0,6; 1; 1,6; 2,5;;
4; 6; 10. Niedokadno ta jest podana w procentach.
Bdy dodatkowe przyrzdu - gdy stosujemy przyrzd w warunkach odmiennych od
warunkw odniesienia.
Wasno dynamiczna przyrzdu; zdolno przyrzdu do pomiaru wielkoci
zmieniajcej si w czasie. Zakres okrelony oddzielnie w trzech dziedzinach.
Niezawodno
okrelonego

przyrzdu;
pomiaru.

(t ) = ( n1 )( dn
) , gdzie
dt

prawdopodobiestwo

Miara

niezawodnoci

to

bezbdnego

wykonania

intensywno

uszkodze

n - liczba sprawnych elementw w przyrzdzie lub

przyrzdw w ukadzie pozornym, t - czas.

Jeeli = constans to

prawdopodobiestwo sprawnej pracy przyrzdu opisuje rozkad: p =

n
ne

= e t ,

gdzie ne - liczba wszystkich przyrzdw lub elementw. Jeeli constans , to

prawdopodobiestwo sprawnej pracy przyrzdu opisuje rozkad Weibulla.

11

5. PRZETWARZANIE WIELKOCI MIERZONEJ NA POMIERZON.

Bdziemy rozrnia dwa rodzaje przetwarza: przetwarzanie statyczne i

przetwarzanie dynamiczne.
Przetwarzanie statyczne to takie, gdy zbir wielkoci mierzonej zamieniony zostaje
na jedn warto. Tych wartoci moe by tyle, ile razy zosta wykonany proces
zamiany.
Przetwarzanie dynamiczne

to takie, gdy zbir wielkoci mierzonych zosta

przetworzony w caoci na zbir wielkoci pomierzonych. Zbir wielkoci

pomierzonych zosta uporzdkowany wedug zmiennej niezalenej, jak jest czas.
Przetwarzanie

statyczne

jest

szczeglnym

dynamicznego.

12

przypadkiem

przetwarzania

6. PRZETWORNIKI POMIAROWE
Przetwornik pomiarowy jest to element przyrzdu pomiarowego bd przyrzd
pomiarowy, ktry przetwarza wielko mierzon na wielko pomierzon. Przetworniki
pomiarowe mog posiada szereg cech; mog by nieliniowe lub liniowe; przyjmijmy,
e w metrologii przetworniki bd miay charakterystyki liniowe.
Przetworniki mog by czynne lub bierne. Czynne to takie, gdy na wyjciu
wielko pomierzona ma cechy energetyczne, bierne to takie, gdy wielko na wyjciu
mamy sygna nie majcy cech energetycznych. Czsto te przetworniki nazywamy
parametrycznymi; na wyjciu obserwujemy zmian parametrw, ktra to zmiana moe
wywoa zmiany sygnaw posiadajcych cechy energetyczne. Na przykad zmiana
opornoci wywouje w ukadzie mostkowym zmian napicia lub prdu.
W przetwornikach do ich opisu uywamy parametrw skupionych i ich opis to
w przetwornikach dynamicznych rwnania rniczkowe zwyczajne. Jeli byyby to
parametry rozoone, to do opisu zjawisk dynamicznych naleaoby stosowa rwnania
rniczkowe czstkowe.
Przetworniki posiadaj szereg cech metrologicznych. Cechy te dotycz
przetwornikw dynamicznych. S to nastpujce cechy:
warto sygnau y zaley wycznie od zmiany wielkoci x. Powszechnie mwi si o
selektywnoci i dokadnoci przetwornikw.

Funkcja przetworzenia powinna by jednoznaczna w caym zakresie pomiarowym

i by niezalena od czasu. Przez t cech rozumie si zakres pomiarowy i
stabilnoci.

pochodna

dy
dx

(nazywana czstoczuoci) powinna mie okrelon warto i by

niezalena od x.

przetwornik na wyjciu powinien zapewnia dogodn posta energii, najlepiej

elektryczn bd atw moliwo zamiany wielkoci y na sygna energetyczny.

w przetworniku poziom szumw powinien w stosunku do sygnau mierzonego nie

ma warto (co najmniej o rzd mniejsz ni minimalny zakres pomiarowy).

przetwornik powinien posiada mae oddziaywanie na wielko mierzon.

przetwornik powinien posiada znane przesunicie fazowe lub powinien

charakteryzowa si brakiem przesunicia fazowego.

13

7. PRZYRZDY POMIAROWE; ZASADY DZIAANIA

Rys. 6.

Przyrzd pomiarowy mona przedstawi w postaci schematu rys. 6.

energia

wielko mierzona

wielko pomierzona

przyrzd

Rys. 6.
Przyrzd mona rozoy na elementy, ktre nazwiemy elementarnym stopniem
przetwarzania. Elementarny stopie przetwarzania daje opisa si jednym prawem
fizycznym.
Elementarne stopnie przetwarzania mona czy w ukady otwarte bd zamknite.
Rozwamy nastpujce ukady; otwarte to poczenie elementarnych stopni
przetwarzania w obwd szeregowy bd rwnolegy. Ukad zamknity to obwd ze
sprzeniem zwrotnym. Rozwaanie nasze przeprowadzimy dla rwnania y = kx;
rwnanie to opisuje

elementarny stopie przetwarzania statycznego. Jest to

rwnanie dla przetwarzania statycznego. Wyznaczmy rwnania dla rnych

obwodw i nazwijmy to schematami strukturalnymi przyrzdw. Rwnanie
Rys. 7.

przetwarzania dla struktury szeregowej ma przedstawia rys. 7.

k1

y1 x2

.........

k2

y2

xi

ki

Rys. 7. Poczenie szeregowe elementarnych stopni przetwarzania

y = k1 k2 ....... ki x
Rys. 8.

Rwnanie przetwarzania dla struktury rwnolegej ma przedstawia rys. 8.

k1

ki
Rys. 8. Przetwarzanie rwnolege elementarnego stopnia przetwarzania
y = (k1 + k2 + ........ + ki) x

14

Przed wyznaczeniem obwodu zamknitego w postaci schematu strukturalnego ze

Rys. 9.

sprzeniem zwrotnym zdefiniujemy wze rozgany i sumacyjny (rys. 9.).

Nastpnie wyznaczmy rwnanie obwodu zamknitego ze sprzeniem zwrotnym.
a.)
x
wze rozgany

b.)
x1

x2

wze sumacyjny

x3

c.)
x
+

x1

k1

ukad zamknity

x2

k2

Rys. 9.

y=

k1
x
1 m k1k 2

W kadym schemacie k1 moe by zoone z dowolnej struktury w postaci

pocze szeregowych, rwnolegych czy ze sprzeniem zwrotnym. Przedstawione
tu rne rodzaje struktur przyrzdu pomiarowego zostan wykorzystane rwnie do
przetworzenia dynamicznego. Trzeba tylko znale rwnanie przetworzenia
elementarnego stopnia dla przetworzenia dynamicznego. Mona stwierdzi, e w
przetworzeniu dynamicznym zmiany wielkoci wejciowych (wielkoci mierzonych)
powoduj zmian stanu energetycznego przyrzdu. Dlatego zmiany stopni
energetycznych opisuj rwnania rniczkowe. Przy zaoeniach przedstawionych w
rozdziale 2., s to rwnania rniczkowe zwyczajne o staych wspczynnikach. Dla
przyrzdu zoonego z n elementarnych stopni przetworzenia otrzymuje si n rnych
rwnaniach

rniczkowych,

struktura

caego

przyrzdu

daje

f y = f ( f x1 , f x2 ,... f xn ) ,
gdzie f to funkcjona, jego posta moe wynika ze struktury przyrzdu.

15

rwnanie:

Dla przyrzdu i przetwarzania dynamicznego bdziemy rozwaa nastpujce

przypadki (dla trzech dziedzin).
na wejciu wielkoci mierzon jest sygna zdeterminowany. Wtedy stosuje si
transformat Laplacea i uzyskujemy rwnanie:

y ( s) = k ( s) x ( s)
gdzie s =

d
dt

- operator Laplacea, k(s) - transmitancja operatorowa elementarnego

stopnia przetwarzania. Majc struktur przyrzdu mona korzystajc z podanych

powyej zalenoci znale zaleno midzy wejciem i wyjciem z przyrzdu.
Naley da odpowied, jakie bd zalenoci w dziedzinie czstotliwoci;
wprowadmy operator Fouriera s j . Otrzymamy wtedy zaleno nastpujc:

y ( j ) = k ( j ) x ( j )
W tym rwnaniu k ( j ) jest to widmowa transmitancja elementarnego stopnia
przetwarzania. To rwnanie mona rwnie wykorzysta dla wyznaczenia opisu dla
caego przyrzdu (posiadajc jego struktur). Oddzielnym zagadnieniem jest
szukanie zalenoci midzy wejciem a wyjciem, gdy na wejciu do przyrzdu
pojawia si sygna losowy. Omwimy to w nastpnym punkcie.

16

8. WYZNACZENIE

FUNKCJI CHARAKTERYZUJCYCH SYGNA LOSOWY W DWCH

DZIEDZINACH

Rozwaa bdziemy dwie dziedziny - czasu i czstotliwoci. Dla dziedziny

amplitudy analiz przeprowadzimy w dalszej czci pracy. Wyznaczenie funkcji w
dziedzinie czstotliwoci jest konieczne ze wzgldu na zdefiniowanie zalenoci
midzy wejciem a wyjciem w elementarnym stopniu przetworzenia, gdy na
wejciu jest sygna losowy.
Jedn z funkcji charakteryzujcych sygna losowy w dziedzinie czstotliwoci jest
gsto widmowa mocy. Pokaemy metod analogow wyznaczenie tej funkcji.
rys. 10.

Metoda ta czsto nazywa si metod filtracji. Zasad tej metody przedstawia rys. 10.
y1

y2

y3

y1

y2

UC

y3

Rys. 10
gdzie: F - filtr pasmowy, K kwadrator, UC - ukad caujcy,
T - czas trwania analizy

rys. 11.

Charakterystyk filtru pasmowego przedstawia rys. 11.

A [dB]
3dB

f0

Rys. 11
gdzie: f - szeroko pasma przetwarzania (90120) dB wielko tumienia filtru
na zewntrz pasma przenoszenia, 3 db - zakres dopuszczalnych waha
sygnau wewntrz pasma przenoszenia.

17

Objanijmy kolejne elementy tego ukadu. Nachylenie charakterystyk dla filtrw

profesjonalnych

wynosi od 90120 dB. Pierwsze filtry pasmowe byy filtrami

tercjowo-oktawowymi. W filtrach tercjowo-oktawowych szeroko pasmowa jest

sta funkcj czstotliwoci rodkowej filtru. Tak wic w miar wzrostu
czstotliwoci ronie szeroko pasma przetwarzania.
Obecnie stosuje si filtry pasmowe o staej szerokoci. W typowych przyrzdach do
wyznaczania funkcji gstoci mocy, zakres czstotliwoci dzieli si na 400 rwnych
pasm przenoszenia. Korzystajc z ukadu rys. 10. wzr na gsto widmow jest
nastpujcy:

S y ( ) =

y
T

dt

Wyjcie y3 jest w postaci napicia rejestrowanego na woltomierzu cyfrowym.

rys. 12.

Otrzymujemy wykres w postaci jak na rys. 12. Na tym wykresie przyjto, e

wykorzystujemy filtry o staej szerokoci.
S()

Rys. 12.
Przedstawiona procedura jest przykadem i prezentowana jest dla wyjanienia istoty
funkcji gstoci widmowej.
Przeprowadmy analiz w gstoci widma, aby odpowiedzie, co moe ona
obrazowa dla rnych sygnaw.
I tak jeli y jest przemieszczeniem to kwadrat amplitudy dla danej czstotliwoci,
jeli jest lokalnie maksymalny, to mona przyj, e dla tej czstotliwoci moe
wystpi zjawisko rezonansu, gdy bdzie to drgajcy ukad mechaniczny czy
elektryczny. Zgodnie z rys. 12 mona przypuszcza, e w ukadzie, ktrego gsto
widmow

przemieszczenia

wyznaczono,

rezonansowe.

18

bdzie

mia

trzy

czstotliwoci

Jeeli y jest prdkoci (w ukadzie mechanicznym), to gsto widmowa prdkoci

obrazuje jaki w danej czstoci jest poziom energii kinetycznej; kwadrat prdkoci
dla danego ukadu mechanicznego obrazuje poziom energii kinetycznej ukadu.
Jeeli y jest przyspieszeniem, to mona oceni, dla ktrych czstoci bd
wystpoway maksymalne siy.
Jak wida, mona na podstawie gstoci widmowej mocy mona przeprowadzi
rne rodzaje analiz. Mona rwnie, posiadajc gsto widmow przemieszcze,
wyznaczy gsto widmow prdkoci i przyspiesze. Przedstawione poniej
zalenoci pokazuj, e gsto widmowa prdkoci i przyspiesze jest jawn
funkcj czstoci.
Jeeli

y2 = A sin( i t + i )
jest to sygna po wyjciu z filtra, to

y& 2 = A i cos( i t + i )
oraz

&y&2 = Ai2 sin( i t + i ) .

Dla danej czstotliwoci:

S y ( i ) = f [ Ai ; sin 2 (i t + i )]
S y& ( i ) = f [ A2 ; i2 ; cos2 (i t + i )]
S &y& ( i ) = f [ A2 ; i4 ; sin 2 (i t + i )] .
Z tych zalenoci mona wyznacza wszystkie trzy funkcje w dowolnej kolejnoci.
Kolejn funkcj charakteryzujc sygna losowy w dziedzinie czstotliwoci, jest
funkcja koherencji. Korzystajc z oznacze jak na rys. 5., mona wyznaczy funkcj
koherencji. Oznaczmy funkcj koherencji xy

( k ) =
2
xy

S xy ( k )

S x ( k ) S y ( k )

to funkcja ta przybiera wartoci z przedziau [0,1]. W zalenoci od wartoci z

przedziau [0,1], jakie moe przybiera funkcja koherencji (warto mniejsza od 1),
moemy mie do czynienia z jednym z trzech moliwych przypadkw:

19

wyniki pomiaru s obarczone bdem wynikajcym z obecnoci szumw

zewntrznych,

ukad wicy sygnay x(t) i y(t) jest nieliniowy,

sygna y(t) jest wynikiem nie tylko oddziaywania na wejciu x(t), ale rwnie
innych sygnaw pojawiajcych si na wejciu. Czsto nazywamy te sygnay
sygnaami dodatkowymi, bdcymi tego samego rodzaju, co wielko mierzona.

W praktyce analizy w dziedzinie czstotliwoci mona znale wiele innych funkcji,

jednak wymienione s podstawowymi, pokazujcymi podstawowe wasnoci
sygnaw losowych w dziedzinie czstotliwoci.
Przedstawmy pozostae funkcje charakteryzujce sygna losowy w dziedzinie czasu.
Realizacja, tj. sygna bdcy funkcj czasu jest podstawowym charakteryzujcym
sygna losowy. Trzeba pamita, e sygna przedstawiony przez jedn realizacj
musi posiada wasnoci stacjonarnoci w szerszym sensie i by globalnie
ergodyczny.
Drug funkcj charakteryzujc sygna losowy w dziedzinie czasu jest funkcja
autokorelacji. Funkcj t wyznaczamy zakadajc, e moment zwyky rzdu I, tj.
warto rednia jest rwna zero. Dla sygnaw, ktre s np. w polu potencjalnym
grawitacji ziemskiej te wasnoci zawsze mona przyj. Funkcj autokorelacji
wyznacza si zgodnie z zalenoci:
k y ( ) =
Rys. 13.

1T
y (t ) y (t + )dt .
T0

Obraz graficzny przedstawia rys.13.

ti
y(ti)

y(tI + )
T

t zmienia si od 0 do T czas analizy

Rys. 13.
Dla = 0 , k y ( ) =

1
y 2 (t )dt - jest to funkcja redniokwadratowa. Jeeli warto
T 0

rednia jest rna od zera, to wyznaczona funkcja nosi nazw funkcji

20

autokowariancji, a dla = 0 warto funkcji autokowariancji jest rwna wariancji.

W dziedzinie amplitudy funkcj charakteryzujc sygna losowy jest gsto
prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy. To zadanie zostanie omwione w
nastpnych rozdziaach.

21

9. ZALENOCI

MIDZY TRZEMA DZIEDZINAMI SYGNAU BDCEGO PROCESEM

STOCHASTYCZNYM

y(t)
k()
cov()
t czas
- czstotliwo
A - amplituda
=0

F
FFT

F-1
gen.

y, y2 , y
P(A)

S y()

Rys. 14.
gdzie: P(A) gsto prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy,
k() funkcja autokorelacji
y(t) realizacja sygnau bdcego procesem stochastycznym
cov() funkcja autokowariancji
Sy() gsto widma mocy
y - warto rednia moment zwyky I rzdu

2 - wariancja
y2 warto redniokwadratowa
Rys. 14.

Na rys. 14. pokazano relacj midzy trzema dziedzinami charakteryzujcymi sygna

losowy. Przeksztacenie funkcji z dziedziny czasu do dziedziny czstotliwoci
odbywa si wykorzystujc transformat Fouriera. Opracowanie algorytmu i
implementacja dla wyznaczenia bezporednio z realizacji S y ( ) , wykorzystano do
tego celu szybk transformat Fouriera. Czsto uywa si angielskiego skrtu FFT.
Mona rwnie, wykorzystujce odwrotn transformat Fouriera F

wyznaczy z

gstoci widmowej funkcj autokorelacji lub autokowariancji. Dla wyznaczenia

funkcji charakteryzujcych gsto prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy
naley wyznaczy zazwyczaj momenty zwyke I i II rzdu, tj. wartoci rednie i

22

wartoci redniokwadratowe lub wariancj. Z gstoci widmowej mona moment II

rzdu wyznaczy (nie bdzie to dokadne wyznaczenie), wyznaczajc pole pod
krzyw S y ( j ) , a nastpnie uredniajc po zbiorze czstotliwoci. Bezporednie
wyznaczenie z P ( A) gstoci widmowej mocy jest trudne. Naley wygenerowa

y (t ) na podstawie P ( A) i generatora liczb losowych. Takie aplikacje

informatyczne istniej.

23

10. ZALENOCI

MIDZY WEJCIEM A WYJCIEM ELEMENTARNEGO STOPNIA

PRZETWARZANIA

Przedstawimy dla rnych sposobw przetwarzania i dla rnych sygnaw

wejciowych zalenoci midzy wejciem a wyjciem dla elementarnego stopnia
przetwarzania.
Przetwarzanie statyczne
y = kx

Wielkoci wyznaczone tworz cig losowych zdarze.

Przetwarzanie dynamiczne
na wejciu sygna zdeterminowany
w dziedzinie amplitudy mocy
y ( s) = k ( s) x( s )
w dziedzinie czstotliwoci
y ( j ) = k ( j ) x ( j )
na wejciu sygna losowy

S y ( j ) = k ( j ) S x ( j )
2

Otrzymalimy zalenoci dla elementarnego stopnia przetwarzania. Dla przyrzdu

lub systemu pomiarowego otrzymamy zalenoci wynikajce ze struktury przyrzdu
czy systemu pomiarowego. Struktura moe by kompilacj struktur szeregowych,
rwnolegych bd ze sprzeniem zwrotnym.
Naley doda, e w praktyce pomiarowej najczciej stosowan struktur jest
poczenie szeregowe przyrzdu i w zalenoci od rodzaju przetwarzania i rodzaju
sygnau bdzie odpowiednia posta wyraenia analitycznego.

24

11. WYZNACZENIE

CECH PROBABILISTYCZNYCH W DZIEDZINIE AMPLITUDY DLA

SYGNAU LOSOWEGO

Zgodnie z zaoeniami przyjtymi w rozdziale 1 Materiaw sygna pomiarowy

traktujemy jako zmienn losow. Ze wzgldu, e w tym sygnale zmienn
niezalen jest czas, to zmienn losow traktujemy jako proces stochastyczny. Dla
procesw stochastycznych przyjto, e posiadaj one wasnoci stacjonarnoci w
szerszym sensie i s globalnie ergodyczne, co stwarza moliwo przeprowadzenia
analizy jednej realizacji. Kilka uwag o procesach stochastycznych.
W zastosowaniach bardzo czsto napotykamy procesy stochastyczne przebiegajce
w czasie, w przyblieniu w sposb jednorodny, i majce posta drga losowych
wok pewnej wartoci redniej, przy czym ani rednia amplituda, ani charakter tych
fluktuacji nie wykazuj istotnych zalenoci od konkretnej chwili czasu. Takie
procesy nazywaj si stacjonarnymi. Mona poda wiele przykadw realnych
procesw fizycznych, ktrych charakterystyki probabilistyczne nie zmieniaj si
przy translacji osi czasu (lub zmieniaj si bardzo wolno) i ktre wobec tego mog
by opisywane przez stacjonarne procesy stochastyczne. Tutaj przyjmiemy
stacjonarno w szerszym sensie. Takimi procesami s np.: napicie w elektrycznej
sieci owietleniowej, szumy losowe w radiotechnice, proces koysania si statku na
falujcej powierzchni morza, proces drga dowolnego punktu pojazdu szynowego
poruszajcego si ze sta prdkoci po torze prostym i in. Klasyfikacj sygnaw
Rys. 15

losowych przedstawiono na rys. 15.

sygnay
stochastyczne

sygnay
stacjonarne w szerszym sensie

sygnay
ergodyczne

sygnay
niestacjonarne

sygnay
nieergodyczne

specjalne odmiany
niestacjonarnoci

Rys. 15. Klasyfikacja sygnaw losowych

25

Sygnay stochastyczne mog by zbiorem nieprzeliczalnym lub przeliczalnym i

bdziemy mieli do czynienia z sygnaem cigym lub dyskretnym. Sygna cigy
mona zawsze zamieni na dyskretny, natomiast odwrotny proces posiada szereg
ogranicze.
Dla porzdku podajmy definicj procesu stacjonarnoci w wszym i szerszym
sensie (definicje te s podawane dla przedstawienia rnicy tych dwch rodzajw
procesw stacjonarnych).
Powiemy, e proces stochastyczny x(t) jest stacjonarny w wszym sensie, jeeli dla
dowolnego n, dowolnego ukadu wartoci t1,..., tn parametru tT i dowolnego h
takiego, e (ti + h)T (i = 1,....,n) jest speniona nierwno:
Ft1 ,...,tn ( x1 ,..., x n ) = Ft1 + h,...,tn + h ( x1 ,..., x n )
gdzie: Ft1 ,...,tn ( x1 ,..., x n ) - dystrybuanta rozkadu wielowymiarowego
Ft ( x) = Ft t ( x) = F0 ( x)
Ft1 ,t2 ( x1 , x2 ) = F0,t2 t1 ( x1 , x2 )
Oznacza to, e rozkad jednowymiarowy procesu stacjonarnego w wszym sensie
jest jednakowy dla kadej chwili, natomiast rozkad dwuwymiarowy zaley tylko od
rnicy chwil, dla ktrych przyjto wartoci procesu.
Proces stochastyczny X(t), dla ktrego istnieje warto przecitna Ex(t) i funkcja
korelacyjna Kx(t1, t2) jest stacjonarny w szerszym sensie, jeeli:
E x (t ) = const ,

= t1 t 2

K x (t1 , t 2 ) = K x (t1 t 2 ) = K x ( ) ;

tzn. wartoci funkcji autokorelacji zale tylko od rnicy = t1 t 2 .

Przyjo si nazywa procesy stacjonarne w szerszym sensie procesami
stacjonarnymi.
Waciwoci procesw losowych mona kreli dwiema metodami:

metod uredniania w czasie poszczeglnych funkcji losowych zbioru,

metod uredniania w zbiorze poszczeglnych chwilach czasu.

Rozpatrzmy na przykad i-t realizacj xi(t) procesu stochastycznego.

Jeeli proces stochastyczny x(t) jest stacjonarny i wartoci Ex(i) i Kx(,i) okrelone
s zalenociami:

26

1
E x (i ) = lim xi (t )dt ,
T T
0
T

1
K x ( , i ) = lim xi (t ) xi (t + )dt ,
T T
0
s jednakowe dla rnych realizacji, to taki proces losowy nazywa si ergodyczny.
Ta definicja jest skrtowym opisem i rozrnia si j jako ergodyczno globalna
(szersze rozwaania na ten temat mona znale np. w pracy J. Szabatin).
Powszechnie przyjmuje si, e proces stochastyczny jest ergodyczny, rozumiejc, e
mwimy o ergodycznoci globalnej.
Dla ergodycznego procesu losowego, warto rednia i funkcja korelacji (jak
i inne momenty uzyskane przy wyznaczaniu w czasie) rwnaj si odpowiednim
rednim w zbiorze, a wic Ex(i)=Ex i Kx(,i)=Kx(). Naley zauway, e tylko
procesy stacjonarne mog wykazywa cech ergodycznoci. Ergodyczne procesy
losowe stanowi wan klas procesw losowych, poniewa wszystkie waciwoci
procesw ergodycznych mog by wyznaczone z jednej realizacji. Na szczcie w
praktyce procesy stochastyczne odpowiadajce stacjonarnym zjawiskom fizycznym
s na og ergodyczne. Dlatego w wikszoci przypadkw mona prawidowo
wyznaczy charakterystyki stacjonarnego procesu losowego na podstawie jednej
realizacji, ktra posiada dostatecznie dugi czas trwania (pomiaru). Czas trwania
pomiaru zazwyczaj oznaczamy jako T i wyznaczenie jego wartoci jest zwizane z
analiz w dziedzinie czstotliwoci. Jeli ustalimy charakter badanego zjawiska,
ktrego parametry i funkcje mierzymy, to wanym zadaniem jest okrelenie zakresu
pomiaru w trzech dziedzinach. Zakres pomiaru w dziedzinie czstotliwoci ustalimy
wyznaczajc dolny zakres czstotliwoci (bdziemy posugiwa si czstotliwoci
f) oraz grny zakres czstotliwoci. Na jakie wielkoci w innych dziedzinach ma
zakres czstotliwoci wpyw? Dolna czstotliwo wpywa na czas pomiaru T.
Rys. 16.

Zobaczmy to na rys. 16.

f maleje
T ronie
0

Rys. 16.

27

Jeeli f maleje do 0, to T ronie do . Przy czstotliwoci 0 mamy pomiar statyczny,

dla f rnego od 0 pomiar dynamiczny. Mona przyj, e czas trwania pomiaru
musi by wikszy lub rwny okresowi najmniejszej czstotliwoci.
Grny zakres czstotliwoci ma wpyw na czstotliwo prbkowan w procesie
zamiany sygnau cigego w dyskretny. Czsto prbkowania najczciej nazywana
t, aby mona byo mwi o grnym zakresie czstotliwoci w analizie sygnau
dyskretnego, to t musi spenia warunek Nyugvista, tj. t musi by tak mae, aby
mona byo zrobi co najmniej dwa odczyty w okresie najwyszej czstotliwoci
Te dwa elementy s niezwykle wane w praktycznej analizie sygnaw bdcych
realizacj procesu stochastycznego. Trzeba pamita, e wszelkie obliczenia analizy
s wykonywane z wykorzystaniem komputera, czyli s to zbiory przeliczalne
ograniczone.
Rozwamy teraz realizacj procesu stochastycznego i wyznaczmy czstoci
Rys. 17.

wystpowania amplitudy o okrelonej wartoci (rys. 17).

Txi = t i

x(t )

t 1

t 2

t 3

t 4

t 5 t 6 t 7 t 8

x i + x
xi

Rys. 17.
Zadanie to bdziemy rozwizywa na trzy sposoby. Pierwszy sposb to
wyznaczenie czstoci w postaci czasu przebywania realizacji w wielkoci xi+x,
gdzie xi to warto sygnau, x warto przedziau, w ktrym znajduje si

28

realizacja. Oznaczmy czas przebywania wielkoci xi w przedziale xi+x jako Txi .

W xit =

T xi
T

Jeeli T dy do nieskoczonoci a x dy do zera, to czsto dy do

prawdopodobiestwa.
Drugi sposb wyznaczania czstoci zdarze wie si z liczb przekrocze
realizacji przez poziom xi. Zakres od minimalnego do maksymalnego wartoci realizacji
podzielmy przez x; otrzymamy k przedziaw. Wszystkie przekroczenia wszystkich k
przedziaw zsumujemy i otrzymamy liczno N, traktujemy to jako sum wszystkich
zdarze, przekroczenia k poziomw. Czsto zdarze wynosi w i-tym przedziale:
W xi =

n xi
N

Wyznaczamy czstotliwo dla wszystkich przedziaw.

Trzeci sposb to jako zdarzenie w i-tym przedziale potraktujemy takie, w
ktrym nastpi zmiana znaku pochodnej (mona nazwa to jako lokalne maksimum).
Liczb tych zdarze w i-tym przedziale oznaczmy n x' i , a liczb wszystkich takich
punktw realizacji oznaczmy N, wtedy czsto zdarzenia wyniesie:
W xi =
'

n 'xi
N'

Oczywicie wszystkie te czstoci wyznaczamy dla wszystkich k przedziaw. Ostatnia

metoda ma due znaczenie np. w badaniach wytrzymaociowych; istotnym jest
maksymalne naprenie a nie wielko uredniona.
Otrzymane w ten sposb czstoci moemy odoy w ukadzie wsprzdnych W(x).
Otrzymamy histogram (rys. 18) lub krzyw schodkow (rys. 19). Odpowiadaj te
krzywe supkowe krzywym cigym tj. gstoci prawdopodobiestwa i dystrybuancie.

29

W(x) P(x)

x x1 + x x2 + x

...

W(x)- czsto zdarze danej amplitudy histogram

P(x) funkcja gstoci prawdopodobiestwa
Rys. 18.

W(x) F(x)

x x1 + x x2 + x

...

W(x) krzywa schodkowa, F(x) dystrybuanta ciga

Rys. 19

30

11.1. WYZNACZENIE

ZAKRESU

MINIMALNEJ

MAKSYMALNEJ

AMPLITUDY

REALIZACJI PROCESU STOCHASTYCZNEGO.

Wiadomo z zasad rachunku prawdopodobiestwa, e zdarzenie pewne

(prawdopodobiestwo rwne 1) wystpi, jeli wielko zmiany x bdzie w zakresie
od - do +. Takie zdarzenie w praktyce jest nierealizowalne Naley wyznaczy
warto, ktra bdzie w zakresie realnie wystpujcych dla danego sygnau, czyli
wyznaczy wielkoci minimaln i maksymaln sygnau, ktre bdziemy traktowali
jako poprawne pozostae wielkoci odrzucimy (mniejsze od minimalnej i wiksze
od maksymalnej). Zgodnie z zasadami dotyczcymi bdw wielkoci odrzucone
traktujemy jako obarczone bdem grubym. Zgodnie z definicj gruby to taki,
ktrego wartoci przekraczaj pewn warto zwan graniczn.
Mona przyj, e jeli przyrzd ma dokadno a, to jeli bd jest wikszy o rzd
od a, to traktujemy, e bd jest gruby i odczyt pomiaru odrzucamy. Przedstawiona
definicja moe by sformuowana inaczej i dotyczy ona pomiarw, w ktrych
wyniki traktujemy jako zdarzenia losowe, np. w przetwarzaniu statycznym. Naley
pamita, e powodw powstania bdw grubych nie jestemy w stanie ustali.
Bdy, ze wzgldu na charakter bdziemy dzielili na: grube, systematyczne i
przypadkowe. Bdy systematyczne to takie, w ktrych znamy rda ich
powstawania. S one co do znaku i wartoci stae. Mona w wyniku pomiaru je
uwzgldni. Bdy przypadkowe omwimy w dalszej czci wykadu.
Przejdmy do wyznaczenia maksymalnej i minimalnej wartoci realizacji
procesu stochastycznego. Zadanie mona przedstawi dwojako; po pierwsze, mamy
histogram a nastpnie funkcj gstoci prawdopodobiestwa, wielkoci maksymalne
i minimalne i znajdujemy odpowied, jakie jest prawdopodobiestwo wystpienia
tych maksymalnych i minimalnych. Po drugie, mamy histogram a nastpnie funkcj
gstoci prawdopodobiestw; przyjmujemy, e interesuje nas, aby wartoci
maksymalne i minimalne wystpiy z prawdopodobiestwa 1 , zakadamy
wielko , jeli te wielkoci s poza t granic, to obliczamy je i powtarzamy
Rys. 20

procedur. Przedstawiamy to na rys. 20.

Dla tego rozkadu wyznaczylimy pierwsze dwa momenty E ( x) x oraz 2 i
na podstawie wynikw pomiarw i procedur, o ktrych powiemy w dalszej czci
pracy.

31

1-(1+2)

P(x)

xmax xmax

1-(1+2)

xmin xmin

Rys. 20.
xmin i xmax z pomiarw
1 pole pod krzyw na lewo od xmin do -
2 pole pod krzyw na prawo od xmax do +
Prawdopodobiestwo wystpienia xmin i xmax wynosi 1 ( 1 + 2 ) , jest to
postpowanie pierwsze.
Postpowanie drugie przyjmujemy = 1' + 2' oraz 1' = 2' - rozkad symetryczny.
'
'
Jak wida, po przyjciu , wyznaczymy x max
i x min
mniejsze i wiksze od xmin i

xmax, dla naszego zaoenia odrzucimy x max i x min , poniewa prawdopodobiestwo

ich wystpienia jest wiksze od danego, dlatego odrzucimy wyniki x max i x min ,
czyli postpujemy tak, jak z bdem grubym. Nastpnie wyznaczmy nowe x oraz

2 i i powtarzamy cae rozumowanie. Powtarzamy postpowanie tyle razy, a

dane warunki zostan spenione.
Omwimy tok postpowania stosujc test Romanowskiego (inny tok postpowania
moe wynika z testu Grubtsa). Tok postpowania w tym przypadku jest
nastpujcy:

z danych eksperymentalnych wyznaczamy xi (t ) (i-tej realizacji procesu xi)

warto redni x i oraz ximin , ximax ,

przyjmujemy poziom istnienia oraz dla danej N (liczby zdarze) odczytujemy

z tablic t (tablica jest wprowadzona do pamici komputera),

32

jeli s spenione nierwnoci:

xi ximin

> t oraz

ximin xi

> t , to naley

odrzuci wyniki ximin i ximax jako obarczone bdem grubym na poziomie

istotnoci . Po odrzuceniu wynikw ximin i ximax powtarzamy obliczenie x i oraz

2 i i powtarzamy procedur tak dugo, a ilorazy bd mniejsze od t . W

ten sposb uzyskalimy wyniki, ktre mog by dalej podmiotem analizy.
Naley doda jeszcze jeden element , a mianowicie, ile ma wynosi K, tj. ile
przedziaw dla danej realizacji powinnimy przyj. Zaley to od liczby zdarze N
lub N. Orientacyjne zalenoci midzy iloci K przedziaw a iloci N zdarze
podaje poniej zamieszczona tablica.

200

400

600

800

1000

10

20

24

27

30

Jak wida z przedstawionej tablicy w miar wzrostu K maleje x (dla tej samej
realizacji) i ronie ilo zdarze N, prawdziwa jest zaleno , e jeli x0, to
N i histogram mona zastpi krzyw cig przedstawiajc gsto
prawdopodobiestwa. Dla sygnaw pomiarowych i ich dalszej analizy w dziedzinie
amplitud te wasnoci maj zasadnicze znaczenie.

33

11.2. WYZNACZANIE

GSTOCI PRAWDOPODOBIESTWA WYSTPIENIA AMPLITUDY

DLA SYGNAW BDCYCH REALIZACJ PROCESU STOCHASTYCZNEGO

Proces wyznaczania gstoci prawdopodobiestwa wystpowania amplitudy jest

wieloelementowy. W trakcie wicze laboratoryjnych to zadanie jest w peni
skomputeryzowane . Podane poniej zostan poszczeglne elementy tych dziaa
bez ich szczegowego omwienia. Zakres tych dziaa jest nastpujcy:

wyznaczenie funkcji najwikszej wiarygodnoci a nastpnie wyznaczenie

parametrw, ktre wystpuj w zalenociach analitycznych, opisujcych
gsto prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy. S to nastpujce
rozkady: normalny, logarytmo-normalny, Rayleigna, gamma,

wybr tekstu zgodnoci; wyboru dokonano z dwch testw 2 i . Wybrano

test - Smirnowa-Komogorowa jako dogodniejszy dla badania sygnau
bdcego realizacj procesu stochastycznego, gdy sygna ma znaczenie
inynierskie (sia, prdko, przyspieszenie, naprenie, itp.),

przyjcie poziomu istotnoci , dla ktrego jest prowadzony test zgodnoci.

Powszechnie rozumie si rozkad empiryczny jako krzyw schodkow a rozkad
teoretyczny jako funkcj cig opisujc gsto prawdopodobiestwa
wystpienia amplitudy. Mona obrazowo wielko przedstawi na wykresie

Rys. 21.

rys. 21.

F(x) W(x)

x1 x1+x
x2 x2+x
x3

Rys. 21.

34

Nastpnie dokonuje si weryfikacji hipotezy H 0 , ktra mwi, e dwa rozkady

teoretyczny i praktyczny nie mog by opisane t sam zalenoci
matematyczn. W naszym przypadku

zgodno tych dwch krzywych to

odrzucenie hipotezy H 0 . Otrzymujemy rezultaty hipotezy H 0 dla kadego

przedziau xi + x . Moe okaza si, e dla rnych przedziaw mog by
rne rezultaty, raz odrzucimy hipotez H 0 , raz t hipotez przyjmiemy. Mona
wic dokona testowania hipotezy H 0 w kadym przedziale.
Nastpnym elementem w procesie stochastycznej oceny wyniku procesw jest
znajdowanie ocen (wartoci przyblionych) dla momentw otrzymanych z pomiaru.
Takie wartoci bdziemy nazywa estymatorami i bdziemy je oznacza daszkiem
2
x czy , ..... Tutaj trzeba pamita, e przy wzrocie liczebnoci N, warto
x

estymatora dy do ocenianego parametru.

Mona przypomnie podstawowe wzory na poszczeglne parametry,
momenty; i tak:
warto rednia z N dowiadcze
1 N
x = xi
N i =1
ten estymator jest nieobciony (nieobcienie oznacza, e nie popeniono bdu,
rwnie statystycznego)
Nieobcionym estymatorem wariancji jest zaleno:

2 =

1 N
( xi x ) 2
N 1 n =1

Jeli badana zmienna losowa (proces stochastyczny) jest normalna (rozumiemy, e

gsto

prawdopodobiestwa

wystpienia

amplitudy

realizacji

procesu

stochastycznego jest opisana funkcj Gaussa), to ocen nieobcion estymatora

odchylenia standardowego jest zaleno:

= K N
gdzie: K N

1 n
a
( xi ) 2 ,
N 1 i =1
x

N 1 [ 12 ( N 1)]
,
2
( 12 N )

gdzie ( x) = t x 1 e t dt - to funkcja Gamma-Eulera

0

35

Dla dowolnego rozkadu opisujcego prawdopodobiestwo wystpienia amplitudy

realizacji x(t)_ przy znanej wartoci x ocen nieobcion wariancji jest:

x2 =

1 N
( xi x ) 2 .
N 1 i =1

Wprowadmy pojcie ms - moment zwyky rzdu s,

s - moment centralny

rzdu s. Przykadem momentu zwykego rzdu 1 jest m1 x , a momentu

centralnego rzdu 2: 2 2 .
Badamy hipotez H, ktra mwi o tym, e m 1 = m1 i dlatego przyjmiemy hipotez
albo j odrzucimy. Jest to relacja bezporednia (nie taka, jak hipoteza H 0 ).
Testowanie tej hipotezy wykonuje si w oparciu o program matematyczny bdcy
implementacj matematyczn tego postpowania.
Przedstawiony tok postpowania jest wystarczajcy dla zakresu studiw zaocznych.

36

12. ELEMENTY TEORII BDW

Zgodnie z przyjtymi w rozdziale 11 zasadami ze wzgldu na sposb
powstawania bdu bdziemy mwili o bdach grubych, systematycznych i
przypadkowych. W poprzednim rozdziale omwiono bdy grube i systematyczne.
Obecnie omwimy zasady wyznaczania bdw przypadkowych. Ze wzgldu na
sposb wyznaczania bdw bdziemy rozrnia bdy bezwzgldne i wzgldne.

12.1. BDY PRZYPADKOWE

P(x)

P ()

x
Rys. 22.
Rys. 22.

Jeli zgodnie z rys. 22. wyniki pomiaru mona przedstawi jako rozkad gstoci
prawdopodobiestwa

wystpienia

amplitudy,

zgodnie

definicj

bdu

bezwzgldnego otrzymamy:

= x xp ,
gdzie: x - wielko pomierzona,

x p - wielko poprawna.
Przyjto traktowa, e wielko poprawna to moment zwyky I rzdu, a estymator
wyznaczany z dowiadcze to warto rednia x p = x .
Jeeli przesuniemy o P(x) o warto x , to nastpi zamiana znanych; x bdzie
rwnowane

x , a zamiast

P (x) otrzymamy

37

P (x) . Tak wic na skutek

przeksztacenia liniowego nie zmieni si charakter krzywej obrazujcej gsto

prawdopodobiestwa. Obydwie krzywe P (x) i P () s co do ksztatu identyczne.
Przy wyznaczaniu bdu bdziemy rozwaa dwa przypadki; pierwszy, gdy
ilo zdarze N > 30 i drugi, gdy N < 15 . Drugi przypadek wynika z faktu
moliwoci podziau 30 pomiarw na dwie serie lub moliwoci wykonania
mniejszej liczby pomiarw.
Z przedstawionego na rys. 22. wykresu P (x) naley odpowiedzie na pytanie, jakie
jest prawdopodobiestwo wystpienia bdu o zakresie 1 , 1 . W pomiarach np.
wielkoci elementw maszyn przyjto traktowa za pewien standardowy bd
wielkoci 3 . Naley pamita, e krzywa na rys. 22. jest opisana zalenoci
(jest to rozkad normalny).

2
P() =
exp
2
2
2
1

Jak wida w wyej podanym wzorze parametrem okrelajcym ksztat krzywej jest
wielko . Z rys. 22. wynika, i > 1 . Naley doda, e dla malejcej wartoci

max P() ronie, gdy dy do 0, to rzdna P() maksymalnie dy do . Jak

wic wida s spenione warunki, aby mona byo zdefiniowa - Direca,
wykorzystujc gsto prawdopodobiestwa.
Dla bdu 3 prawdopodobiestwo jego wystpienia wynosi 0,9973. Bd
trzysigmy traktuje si jako bd standardowy i najczciej si go wyznacza.
Jak wida ze wzoru na P( ) wielko prawdopodobiestwa wystpienia bdu nie
zaley od iloci pomiarw. Przyjto traktowa, e liczba pomiarw przy
wyznaczaniu bdu z wykorzystaniem krzywej Gaussa powinna by dostatecznie
dua i przyjto jako granic liczb 30 pomiarw. Korzystajc z przedstawionych
rozwaa mona wyznaczy bd trzysigmowy wedug nastpujcej procedury:

wyznaczy warto redni x ,

obliczy odchylenie redniokwadratowe,

jeli mamy kilka serii pomiarw, wyznaczy ' ,

wynik pomiaru wyniesie x 3 .

Mona, korzystajc z zalenoci na P( ) wyznaczy bd dla dowolnego

prawdopodobiestwa jego wystpienia, np. 1 = 0,95 , gdzie = 0,05 poziomu

38

istotnoci.
Przygotowane wiczenia laboratoryjne pozwalaj wyznaczy tego typu bdy
bezwzgldne.
Rozwamy teraz przypadek drugi, gdy liczba pomiarw jest mniejsza ni 15.
Dla tak maej iloci pomiarw posta krzywej gstoci prawdopodobiestwa
powinna zalee od liczby pomiarw, a waciwie uywa si pojcia liczby stopni
swobody K = N 1 , czyli mona otrzyma bd ju dla dwch pomiarw. Dla tego
rys. 23.

celu uywa si rozkadu t studenta (rys. 23.).

T (t , K )

t1

t2

x
Rys. 23.
Przy zaoeniach, e wyniki pomiarw maj ukad normalny, mona dowie, e
zmienna losowa unormowana.

t=

( x x) n 1

podlega rozkadowi t studenta, T (t , K ) , gdzie K = N 1 - liczba stopni swobody.

Ze wzgldu na do skomplikowan posta funkcji T (t , K ) bdziemy posugiwa
si tylko jej symbolem. Pominiemy szczegowe rozwaania, przyjmiemy
prawdopodobiestwo 1 i moemy korzystajc z tablic znale t1 (rozkad jest
symetryczny) t1 = t 2 , wtedy mierzona warto bdzie zawarta w granicach:
x t1
przy czym:

n 1

x x + t1

n 1

1 - poziom ufnoci

- poziom istotnoci.

39

Mona dowie, e obliczenie wartoci bdu, korzystajc z rozkadu normalnego

dla maej iloci pomiarw bdzie rnio si od wyznaczonego bdu metod
wykorzystujc rozkadu t studenta, zwaszcza dla N < 15 . W miar wzrostu N
wicej ni 30 obydwie metody s zbiene.
Wyznaczanie bdu na poziomie istotnoci

odbywa si wedug

nastpujcej procedury:
wyznaczamy x ,
obliczamy ,
przyjmujemy ,
majc , K = N 1 z tablic odczytujemy t1 ,
podajemy wyniki pomiaru x t1

n 1

Otrzymane wyniki pomiarw odpowiadaj na pytanie, jaka jest warto bdu dla
danej serii pomiarw w zalenoci czy N > 30 , czy N < 15 .

12.2.

BDY

POMIARACH

DYNAMICZNYCH

(REALIZACJI

PROCESU

STOCHASTYCZNEGO)

Wyznaczymy bd powstajcy w pomiarach bdcych realizacj procesu

stochastycznego. Poprzednio wyznaczylimy bdy bdce wielkoci, o jak rni
si warto poprawna, a waciwie w jakim zakresie warto poprawn mona uzna
za pomiar obarczony bdem przypadkowym. Obecnie wyznaczymy moliwoci
wyznaczenia bdu bdcego funkcj czasu.
Bd dynamiczny jest to rnica midzy wielkoci y (t ) - warto wyjciowa z
przetwornika dynamicznego a wielkoci poprawn , tj. y 0 (t ) . Jeeli przyjmiemy,

e wielko poprawna y 0 (t ) to estymator wartoci redniej y (t ) a wiadomo, e

warto rednia dla pomiaru stochastycznego stacjonarnego w szerszym sensie i
globalnie ergodycznego jest staa w funkcji czasu i mona napisa, e

y (t ) y 0 (t ) ,
wtedy bd dynamiczny bezwzgldny bdzie wynosi:
dyn (t ) = y (t ) y 0 (t ) .
Miar bdu dynamicznego przyjto przyjmowa redni bd kwadratowy, ktry

40

' 2dyn (t ) = 2dyn (t )dt

0

mona policzy bd redni u uredniony jako:

'2

dyn (t ) =
Rys. 24.

1T 2
dyn (t )dt
T0

Interpretacj bdu dynamicznego redniokwadratowego przyjmuje si jak na rys. 24.

a.
y (t )

y 0 (t )

t
T

b.
[ y (t ) y 0 (t )] 2

t
T

Rys. 24
gdzie: T - czas pomiaru, bd redniokwadratowy to pole pod krzyw na rys. 24.b.

Bd ten zosta zdefiniowany w dziedzinie czasu. Zdefiniujmy go w dziedzinie

czstotliwoci. Skorzystamy tu z twierdzenia Porsevala, ktre podaje zaleno
midzy kwadratem funkcji w dziedzinie czasu a kwadratem funkcji w dziedzinie
czstotliwoci, tj.:

f (t ) dt =
0

1 +
2
f ( j ) dt

Oczywicie dla pomiarw bdcych funkcjami ograniczonymi w czasie do czasu

trwania reakcji 0; T mona wyprowadzi inne granice czstkowe.

41

Wykorzystujc

to

twierdzenie

do

naszych

zalenoci

na

bd

redniokwadratowy otrzymamy:

dyn (t ) dt =
0

2
1 +
1 +
2

(
j

)
dw
=
y ( j ) y 0 ( j ) dw

dyn
2
2

Tak wic istnieje rwno midzy bdem redniokwadratowym w dziedzinie czasu

i czstotliwoci. Jeli zgodnie z zalenoci midzy wejciem a wyjciem z
przetwornika w dziedzinie czstotliwoci zapiszemy:
y ( j ) = k ( j ) x ( j )
to otrzymamy:

1 +
[k ( j ) k 0 ( j )]2 S x ( j )dw

' 2dyn ( j ) =

Bd wzgldny wynosi:

dyn (t )dt

t =0

S dyn =

y (t )dt
2
0

2
[k ( j ) k 0 ( j )] S x ( j )dw

k S x ( j )dw
2
0

42

12.3. KLASYFIKACJA RDE BDW

Bdy powstaj na skutek wielu przyczyn. Postaramy si te przyczyny wymieni i
scharakteryzowa. Mona wc mwi o rdach bdw. Rozrnimy trzy grupy
rde bdw; tj. od metody pomiarowej, od przetworzenia oraz od czynnoci
metrologicznych. Na rys. 25.a. pokazano rda pochodzce od dla metody
pomiarowej, na rys. 25.b. rda pochodzce od przetwarzania i na rys. 25.c.
pokazano rda pochodzce od czynnoci metrologicznych. Klasyfikacj rde
bdw podaje si za prac J. Piotrowskiego [1].

pobrani e
wi el kosci

reprezent at ywnosc
po mi aru
zakl ceni a w kanal e
wej sci owy m

oddzi al ywani a
przyrzadu

zrdl a pochodzeni a
bl edw od met ody
po mi arowej

przyrzad

ni esel ekt ywnosc

przyrzadu
prbkowani e,
k want owani e

odczyt

paral aksa dl a
przyrzadw
wskazwkowych

opracowani e
wy ni kw

przyblizeni a,
uproszczeni a

Rys. 25.a

43

zjawiska
molekularne

niestao
niestao waciwoci
waciwoci
przyrzdu
przyrzdu

tarcie (przyrzdy
wychyowe) histereza

starzenie i zuycie
niezauwaalna zmiana
warunkw pomiaru

temperatura
rda pochodzenia
bdw od
przetworze
zmiana warunkw
pomiaru

zasilanie

pooenie
inne wielkoci
wpywajce do
przyrzdu

cechy dynamiczne
przyrzdu

transport energii
(czas martwy)
magazynowanie
energii

Rys. 25.b.

44

ni edokl adnosc mi ary

wz orca

wz orcowani e

ni edokl adnosc
wyznaczeni a
charakt eryst yki
ni edokl adnosc
ut r wal eni a
charakt eryst yki

ni eczul osc
obser wat ora
odczyt
zrdl a bl edw
pochodzacych
od czynnosci
met rol ogi cznej

subi ekt ywnosc

wrazen
paral aksa

opracowani e
wyni ku

przyblizeni a
i pomyl ki
i nt erpret acj a

ukl adw
po mi arowych

myl ne
pol aczeni a
ni e wl asci wa
ekspl oat acj a

Rys. 25.c.

45

Krtko scharakteryzujemy poszczeglne rda bdw. Rozpocznijmy od rde

Rys. 26.

pochodzcych od metody (rys. 26.).

rdo

doprowadzenie
do przyrzdu

bd
pobrania

przyrzd

obserwator

bd
przyrzdu

bd
odczytu

opracowanie
wyniku

wynik

bd
opracowania

Rys. 26.
Przedstawiony schemat pokazuje, jakie wystpuj relacje w metodzie pomiarowej i
jakie powstaj bdy. Jak wida z przedstawionego schematu przyjmuje si
szeregowe poczenie poszczeglnych elementw w metodzie pomiarowej. Z niej
te wynika bd bdy sumaryczne.
Przedstawione rda bdw oraz pozostae bdy pochodzce od metody
pomiarowej wynikaj z charakteru pomiaru i przyrzdw pomiarowych. Charakter
pomiaru wpywa zarwno na bdy pomiaru, jak i sposb opracowania wynikw.
Grupa rde bdw pochodzi od przyrzdu, jego konstrukcji, sposobu prezentacji
wynikw. Te dwie grupy rde naley uwzgldnia dobierajc metod pomiarow
do pomiaru okrelonych wielkoci w pomiarze statycznym czy funkcji w pomiarze
dynamicznym. Przy tej okazji chciabym doda, e w procesie stochastycznym
zmienn niezalen (dla pojedynczej realizacji) moe by nie tylko czas. Mog by
to inne wielkoci. Jest to istotne przy doborze metody pomiarowej; i tak np. przy
pomiarze nierwnoci drogi zmienn niezalen jest droga, a dziedziny bd
rwnie inaczej zdefiniowane. Bd to: dziedzina drogi, dugo fali nierwnoci,
amplituda nierwnoci. Tak wic dobr metody pomiarowej zaley od tego, jakiego
rodzaju s wielkoci mierzone. Metoda okrelania rde bdw bdzie taka sama..
Druga grupa rde bdw wynika z przetwarzania wielkoci mierzonej na
pomierzon. W procesie przetwarzania s trzy elementy przyrzdu a waciwie jego
wasnoci i ich zmiana w funkcji czasu. W prezentowanych rdach bdw
zaprezentowano wielkoci, o ktrych mona powiedzie, e te rda gwnie
dotycz przyrzdw pomiarowych wychyowych. Naley dla kadego przyrzdu
tak analiz ze wzgldw konstrukcyjnych przeprowadzi, co umoliwi okrelenie
rnych rde bdw.

46

Druga grupa to rda, ktre pochodz od warunkw pomiarw, w ktrych

si dokonuje pomiaru i stosunku do warunkw, ktre s zapisane dla danego rodzaju
przyrzdu. W rdach przedstawionych na rys. 24.b. podane s przykadowe rda
bdw dla warunkw pomiarw typowych przyrzdw. Jeli chcemy uy
przyrzdu, ktry nie ma typowych warunkw pracy, musimy je zdefiniowa,
okreli rodzaj i jednorazowo okreli rda i wielkoci bdu. Wyjanienia mog
wymaga warunki okrelone jako pooenie. Dla przyrzdw wychyowych klasy
01 okrela si pooenie osi obrotu elementu ruchomego w przyrzdzie
pomiarowym do paszczyzny, na ktrej przyrzd jest posadowiony; przyjmuje si,
e o obrotu powinna by rwnolega do paszczyzny, na ktrej przyrzd stoi, unika
si wtedy dodatkowych reakcji w punktach podparcia elementu ruchomego.
W procesie poszukiwania rde bdw pochodzcych od czynnoci
metrologicznych wanym elementem jest proces wzorcowania (traktowany jako
proces nadajcy urzdzeniu waciwoci przyrzdu pomiarowego ze wszystkimi
jego cechami) oraz proces legalizacji przyrzdu. Legalizacj przyrzdu traktuje si
jako proces, umoliwiajcy odpowied na pytanie, czy przyrzd spenia cechy
umoliwiajce wykonywanie pomiarw z zaoon dokadnoci. Przy tej okazji
naley doda, e w procesie legalizacji przyrzdu mamy przyrzd legalizowany i
wzorzec; wzorzec powinien mie dokadno co najmniej

o 1 rzd (10 razy)

mniejsz ni przyrzd legalizowany. W procesach legalizacyjnych wzorcem moe

by przyrzd, speniajcy wyej podany warunek.
Podany zbir rde bdw moliwych do wystpienia nie jest ani peny, ani
wyczerpujcy moliwoci ich powstania. Zaprezentowane rda stanowi kryteria,
ktre wskazuj na metodologi postpowania przy poszukiwaniu rde bdw w
nowych przyrzdach pomiarowych.

47

13. METODY POMIAROWE

Metody pomiarowe mona sklasyfikowa ze wzgldu na rodzaj wyniku otrzymanego z
pomiaru; bdziemy mieli pomiar bezporedni i pomiar poredni.
Pomiar bezporedni to taki, w ktrym odczyt z przyrzdu pomiarowego jest wynikiem
pomiaru. Metody bezporednie mona podzieli na dwie grupy; grup pierwsz, gdy
wskazania przyrzdu s wynikiem oddziaywa wielkoci mierzonej na przyrzd, czyli
zmiana wskaza przyrzdu jest wynikiem oddziaywania na przyrzd wielkoci
mierzonej. S to zarwno mierniki wychyowe jak i cyfrowe. Druga grupa metody
bezporedniej s to metody zerowe; metoda zerowa to taka, w ktrej wskazania
przyrzdu wynikaj z wielkoci wzorca zainstalowanego w przyrzdzie pomiarowym,
ktry ma znak przeciwny do wielkoci mierzonej i wystpuje proces rwnowaenia
(doprowadzanie do zera rnicy midzy wielkoci wzorcow a wielkoci mierzon).
W metodach zerowych bdziemy wyrnia metod kompensacyjn. komperacyjn i
metod przez podstawienie.
Pomiar poredni to taki, w ktrym wynik pomiaru powstaje przez wstawienie do
rwnania definicyjnego wynikw pomiarw. Rwnania definicyjne to takie, w ktrych
w postaci zalenoci matematycznej podaje si wyniki pomiaru, np. rwnanie
definicyjne moe by typu y = y1 + y 2 czy y = y1 y 2 .
Wyznaczymy wynik pomiaru np. dla rwnania definicyjnego:

y = y1 + y 2 ,

gdzie y1 odczyt z przyrzdu pomiarowego,

y2 odczyt z przyrzdu pomiarowego

Naley znale, jakim bdem bdzie obarczony wynik pomiaru.

Wynik pomiaru y1 = y y ; y bd wyznaczony ktr z omwionych
poprzednio metod,
y - warto rednia traktowana jako warto

poprawna,
y1 = y1 y1 - w rwnaniach tych odpowiednio y 1 i y 2 to

wartoci rednie wyznaczone na podstawie wynikw

pomiarw oraz odpowiednie y1 i y2 s to bdy
wyznaczone jedn ze znanych metod wyznaczania
bdw
y 2 = y 2 y 2

48

Zapiszmy rne definicje uwzgldniajce rwnania pochodzce z pomiarw x:

y y = y 1 y1 + y 2 y 2

Rwnanie zapiszmy w postaci dwch:

y = y1 + y 2

y = y1 y 2

Jak wida bd bezwzgldny jest rwny sumie bdw. Wyznaczmy bd wzgldny:

y
y

= y1

y1
y1 + y 2
y1

y1 + y 2

y 2
y1 + y 2

+ y 2

y1
y1

y1
y1 + y 2

y 2
y2

y2
y1 + y 2

y2
y1 + y 2

gdzie y1 , y 2 - bdny wzgldne pomierzonych wielkoci y1 i y 2 .

Mona wyznaczy bdy bezwzgldne i wzgldne dla innych rwna definicyjnych.
Wyznaczmy dla pomiarw porednich bdy wykorzystujc metod
rniczki zupenej i metod pochodnej logarytmicznej. Przyjmijmy, e rwnanie
definicyjne ma posta:
y = f ( y1 , y 2 ,...., y i )
gdzie y i - wielko odczytana z przyrzdu pomiarowego. Np. przy wyznaczaniu
moduu Younga metod tensometryczn wielkociami mierzonymi s: sia
obciajca prbk y1 , wzgldne wyduenie prbki y 2 oraz jej wymiary y 3 , y 4 ;
wyznaczony ostatecznie modu jest funkcj kilku zmiennych.
Metod rniczki zupenej przedstawiamy poniej. Zakadajc, e bdy
wielkoci mierzonych y1 , y 2 ,....y n s mae w porwnaniu z y1 ,.... y n i rozwijajc
rwnanie definicyjne w szereg i = 2,3,.... otrzymamy:
f

f
f
y 2 + ... +
y n .
y =
y1 +
y 2
y n
y1

13.1

Przyjto take: y i = dy i jako graniczne bdy pomiaru. Bd wzgldny okrela si:

f

y
1
f
f
=
y1 +
y 2 + ... +
y n .

y
f ( y1 , y 2 ... y n ) y1
y 2
y n

13.2

W dwch powyszych wzorach zaoono najmniej korzystny przypadek, tzn.

sumowanie

si

wszystkich

bdw

czstkowych,

prawdopodobiestwo

wystpienia takiego bdu jest znacznie mniejsze ni bdw y i .

49

Jeli bdy y i mona traktowa jako przypadkowe, wwczas bdy

czstkowe mona skada wedug zasad sumowania bdw przypadkowych
2

f
f

y =
y1 +
y 2 + .... +
y n
y1
y 2

y n

13.3

Obliczone z powyszego wzoru y ma takie samo prawdopodobiestwo,

co bdy czstkowe y i , i = (1, 2, ..., n).
Jednak obliczenie y z powyszego wzoru jest bardziej pracochonne ni
ze wzoru 13.1. Std dla maej liczby pomiarw (np. n 5 ) stosujemy wzr 13.2,
a dla duej liczby pomiarw wzr 13.3.
Pochodne

f
, (i = (1, 2, ..., n)., oblicza si dla wartoci rednich y i .
y i

Metod wyznaczania bdu pomiaru poredniego za pomoc pochodnej

logarytmicznej przedstawimy poniej.
W przypadku, gdy wyznaczona wielko jest iloczynem dowolnych
potg mierzonych wielkoci

y = Dy1a1 y 2a2 ... y nan ;

13.4

przy wyznaczaniu bdu y wygodnie posuy si tzw. rniczkowaniem

logarytmicznym na podstawie rwnania 13.4.:
ln y = ln D + a1 ln y1 + a 2 ln y 2 + ... + a n ln y n ;

D = const.

a po zrniczkowaniu bdzie: (y i = dy i , D = dD, y = dy )

a y
a y
a y
y
= 1 1 + 2 2 + ... + n n
y
y2
yn
y1

13.5

Bd bezwzgldny otrzymuje si mnoc obie strony przez y :

a y
a y
a y
y = y 1 1 + 2 2 + ... + n n
y2
yn
y1
gdzie:

13.6

y i (i = 1,...n) - bdy graniczne;

n

y i - obliczony dla wartoci rednich: y i =

y1
i +1

Rwnanie 13.6. daje maksymalne wartoci bdu bezwzgldnego.

Byy to najczciej stosowane metody wyznaczania bdw dla pomiarw
porednich.

50

14.

PRZYKADOWY

POMIAROWY;

PRZETWORNIK

ZASADY

DZIAANIA,

MOLIWOCI WYKORZYSTANIA

W poprzedniej czci wykadu omwione zostay przyrzdy pomiarowe, sygnay,

elementy teorii bdw. Obecnie omwimy przykadowy przetwornik pomiarowy.
Dlatego uywamy pojcie przykadowy, gdy zasada jego funkcjonowania moe i
jest zastosowana w innych przetwornikach.
Przetworniki, ze wzgldu na posta wielko na wyjciu, dzielimy na czynne i
bierne. Czynne to takie, w ktrych na wyjciu pojawia si sygna majcy cechy
energetyczne, np. sygna elektryczny. Przetworniki bierne to takie, w ktrych na
wyjciu pojawia si sygna bdcy zmian parametrw; sygna ten nie posiada cech
energetycznych. Przykadem takich przetwornikw s takie urzdzenia, gdzie na
wyjciu pojawiaj wielkoci typu zmiana opornoci, indukcyjnoci czy pojemnoci.
Zajmiemy si tylko przetwornikami z wykorzystaniem zmiany opornoci.

14.1. ZASADY DZIAANIA TRANSOMETRU OPOROWEGO.

Podstawa zalenoci, na podstawie ktrej wyprowadza si rwnanie
tensometru jest nastpujca:
R=

l
S

14.1

gdzie: R - oporno drutu o opornoci waciwej , dugoci l i przekroju S .

Jeli drut zostanie poddany sile rozcigajcej, to przyrost dugoci i przyrost siy
Rys. 27.

reguluje prawo Hookea zgodnie z wykresem na rys. 27.

2
3

0'

Rys. 27.

51

Przyrost dugoci to skutek przyrostu siy w pierwszej czci, wykres do punktu 1

jest odksztaceniem sprystym. Od punktu 1 do punktu 2 mamy odksztacenie
plastyczne, punkt 3 to zerwanie prbki. Jeli midzy punktem 0 a punktem 1
przestaniemy dokada si P, to nastpuje powrt do stanu zerowego po prostej 01.
Przy przyrocie l pojawia si przewenie, czyli nastpuje zmniejszenie przekroju
S , czyli l ronie a S maleje. Jeli odejmiemy si midzy punktem 1 a 2, to

powstae odksztacenie plastyczne pozostaje i przy odczeniu siy P drut wrci do

poziomu 0. Jest to opis, ktry obrazowo przedstawia procesy zachodzce w trybie
dziaania siy na drut, ktrego oporno opisuje zaleno 14.1. Ten opis bdzie
wykorzystany w dalszej czci opisujcej zalenoci tensometru oporowego.
Pomijajc wyprowadzenie, mona rwnanie tensometru zapisa nastpujco:
R l
(1 + 2 ) + S 1
=

R
l
S

14.2.

gdzie: R - przyrost opornoci, wywoany wydueniem drutu oporowego

nazywanego tensometrem oporowym,
l - przyrost dugoci na skutek dziaania siy,

- liczba Poissonea.
Jak wida, dla penej znajomoci zasad dziaania transometru

opornego trzeba

rozumie trzy prawa fizyki, tj. opornoci przewodu, prawo Hookea, liczba
Poissonea (relacja midzy przyrostem przekroju, moe by ujemny a przyrostem
wyduenia wzgldnego). Rwnanie tensometru 14.2. mona zapisa:
R
= K
R

14.3

gdzie: - wyduenie wzgldne

l
,
l

K staa tensometru zalena od liczby Poissonea

Dla rnych metali K przyjmuje warto od 2 do 6. Aby zwikszy K naleao

szuka

materiaw

charakteryzujcych

si

du

wielkoci

K.

Gwne

poszukiwania poszy w kierunku zmiany rezystancji waciwej w funkcji

odksztace czyli
materiay

S 1
. Okazao si, e korzystne waciwoci posiadaj
S

pprzewodnikowe

nazwano

waciwo

efektem

piezorezystancyjnym. Mona t waciwo sformuowa jako zmian rezystancji

52

wzgldnej materiaw pprzewodnikowych pod wpywem odksztace. Mona

przyj, e dla materiaw pprzewodnikowych mamy:
K = (1 + 2 + PE ) ,
gdzie P wspczynnik piezorezystywnoci,

E modu Younga
Dla materiaw pprzewodnikowych (krzem, german) K przyjmie wartoci od 40
do 200. Tensometry pprzewodnikowe w stosunku do tensometrw drutowych
maj szereg wad; gwnie to

R
jest nieliniowo zalene od odksztace, s czue na
R

zmian temperatury. Tensometr posiadaj szereg parametrw wanych ze wzgldu

na uytkownikw, i tak:

rezystancja i jej tolerancja,

wymiary gabarytowe,

maksymalne dopuszczalne odksztacenie,

staa tensometru K ,

wytrzymao zmczeniowa,

zakres temperatury uytkowania

maksymalne dopuszczalne natenie prdu pomiarowego,

pezanie,

rezystancja izolacji.
Te parametry charakteryzuj cechy tensometrw.
Tensometry

mona

wykorzystywa

do

pomiaru

wielu

wielkoci

mechanicznych. Zasad pokazuje poniej zamieszczony schemat (rys. 28.):

wielko
mierzona

odksztacenie
elementu
sprystego

odksztacenie
tensometru

zmiana
opornoci
tensometru

urzdzenie
pomiarowe

Rys. 27.
Podstawowy element to zamiana wielkoci mierzonej na odksztacenie spryste
Rys. 28.

elementu na stae poczonego z tensometrem zasad pokazan na rys. 28.

53

1-drucik oporowy, 2-papierowa podkadka nona, 3-warstwy kleju,

4-druty odprowadzajce, 5-nakadka papierowa, 6-przedmiot badany

Rys. 28. Tensometr wykowy SR-4

Rys. 29.
30. 31.

Zasad pomiaru rnie dziaajcych si pokazano na rys 29., 30. i 31.

Rys. 29. Schemat przetwornika do pomiaru siy w ukadzie ciskanym

Rys. 30. Schemat przetwornika do pomiaru siy w ukadzie zginanym

Rys. 31. Schemat przetwornika do pomiaru siy w ukadzie piercienia

54

Rys. 32.,
33., 34.

Zasad pomiaru cinienia w rnych warunkach pokazano na rys. 32., 33. i 34.

Rys. 32. Schemat przetwornika do pomiaru cinienia

z elementami sprystymi o ksztacie membrany

Rys. 33. Schemat przetwornika do pomiaru cinienia

z elementem porednim

Rys. 34. Schemat przetwornika do pomiaru cinienia

z elementem sprystym o ksztacie naczynia cienkociennego
Rys. 35.

Przemieszczenie mona pomierzy jak na rys. 35.

Rys. 35. Schemat przetwornika do pomiaru przemieszcze

Rys. 36. 37.

Pomiary parametrw ruchw drgajcych pokazano na rys. 36. i 37.

Rys. 36. Schemat przetwornika do pomiaru drga i przemieszcze

55

Rys. 37. Schemat ukadu sejsmicznego

Rys. 38. 39.

Przykady pomiaru momentu obrotowego pokazano na rys. 38. i 39.

Rys. 38. Schemat ukadu do pomiaru momentu obrotowego

Rys. 39. Schemat ukadu do pomiaru maych momentw skrcajcych

Przykady te zaczerpnito z pracy [4]. W dalszej czci rozdziau 14 rysunki
zaczerpnito z pracy [4].
Powysze przykady pokazuj, jak zmieni wielko mierzon na
odksztacenie elementu i tensometru. Oddzielnym problemem s zalenoci
analityczne, ktre wyznacza si oddzielnie dla kadego przykadu pomiarowego (nie
bd one zamieszczone w pracy).
Przedstawione przykady pokazuj jedynie zasady dziaania tensometrw dla
rnych rodzajw pomiarw. Rozwizania szczegowe i obliczenia analityczne
naley przeprowadzi oddzielnie.

56

14.2. ZASADY PRZEKSZTACENIA OPORNOCI NA SYGNAY ELEKTRYCZNE.

Zasada, ktr wykorzystano do zamiany wielkoci przyrostu opornoci na
wielko posiadajc cechy energetyczne czyli np. na zmian wielkoci napicia
bd prdu zostaa sformuowana przy definiowaniu zasady dziaania mostka
Wheatestonea. Zasad t przedstawiamy poniej.
Nie wchodzc w cay szereg zaoe i uproszcze zwizanych z warunkami
wykorzystania mostka Wheatestonea, naley jednak rozpatrzy podstawowe
zalenoci wice parametry wejciowe (tzn. zmian rezystancji tensometrw) z
Rys. 40.

napiciem wyjciowym mostka. Ukad pomiarowy mostka Wheatestonea (rys. 40.)

skada si ze rda zasilajcego, czterech gazi oporowych i przyrzdu mierzcego
napicie wyjciowe.

Rys. 40. Schemat elektryczny mostka Wheatestonea

Zakadajc, e napicie rda zasilajcego jest podczas pomiarw stae i
wynosi U oraz, e napicie wyjciowe U jest mierzone przyrzdem o duej
impedancji wejciowej (praktycznie nie obciajcym ukadu), przy spenieniu
pewnych dodatkowych warunkw, otrzymuje si nastpujc zaleno:

R1
R3
U = U

R1 + R2 R3 + R4

14.4.

atwo wykaza, e gdy R1 = R2 = R3 = R4 , przyrzd pomiarowy wykazuje U = 0 .

W przypadku pomiarw tensometryczne R 1 R 4 s tensometrami, a
pocztkowe ich wartoci s rwne i wynosz R . Zadajc z kolei pewne przyrosty
rezystancji tensometrw R1 R4 , otrzymuje si zaleno:

U 1 R1 R2 R3 R4
=

.
U
4 R
R
R
R

57

14.5.

Wzr powyszy, korzystajc ze zwizku

R
= k , mona zapisa w postaci:
R

U k
= ( 1 2 + 3 4 ) ,
U
4

14.6.

gdzie 1 4 - odksztacenia (wyduenie wzgldne) tensometrw w kadej

z czterech gazi mostka pomiarowego.
Z zalenoci

14.5. i 14.6. wynika szereg istotnych wnioskw dla

wykorzystania tensometrw w pomiarach wielkoci mechanicznych. czc

Rys. 41.

tensometry zgodnie z podanym na rys. 41. Schematem a) i c), mona otrzyma

przy takim samym odksztaceniu elementu sprystego sygna wyjciowy
dwukrotnie wikszy ni przy wykorzystaniu tensometru pojedynczego. Efekt
dodatkowego podwojenia sygnau mona osign, konstruujc element sprysty w
ten sposb, aby wystpoway w nim odksztacenia rwne co wielkoci, lecz
przeciwne co do znaku (rys. 41.d.) .

Rys. 41. Schemat elektryczny mostka Wheatestonea

a) z dwoma tensometrami czynnymi w przeciwlegych gaziach; znak
odksztace jednakowy,
b) z dwoma tensometrami czynnymi w przylegych gaziach; znak
odksztace jednakowy,
c) z dwoma tensometrami czynnymi w przylegych gaziach; znak
odksztace przeciwny,
d) z czterema tensometrami czynnymi; znaki odksztace parami
przeciwne

Waciwo niereagowania ukadu mostkowego na jednakowy co do wielkoci i

kierunku sygna przyoony w przylegych gaziach, bd do wszystkich czterech
tensometrw

rwnoczenie,

moe

by

praktyce

skompensowania wielkoci niepodanych w pomiarze.

58

wykorzystana

do

Na rys. 42. podano przykad, w ktrym wszystkie tensometry jednoczenie

poddawane s dziaaniu temperatury, co powoduje zmian ich wielkoci we
wszystkich gaziach i na wyjciu U = 0 .

Rys. 42. Zasada kompensacji wpywu temperatury

Tablica 14.1. Wzgldna czuo mostka Wheatestonea i kompensacja wpywu
wielkoci zakcajcych w przypadkach obcie zoonych.

59

Jak wida z przedstawionych na rys. 40. na wyjciu z mostka pojawia si

napicie stae lub zmienne.
Pomiary wykonywane przez ukady staoprdowe posiadaj podstawow
wad a mianowicie wpyw zmiany temperatury na wielko napicia wejciowego.
Szczegy rozwaa mona znale w pracy [1]. Mona nazwa zjawisko
generujce dodatkowe sygnay; jest to problem termoogniw dla dwch rnych
materiaw, np. konstantanu (z tego materiau wykonany jest tensometr) i
miedziowych przewodw odprowadzajce zmiany opornoci. Zjawiska te s
eliminowane w ukadach zmiennoprdowych. Ukady zmiennoprdowe pracuj z
wykorzystaniem zasady modulacji czstotliwoci nonej.

Rys. 43.Zasada modulacji czstotliwoci nonej

Jak wida, czstotliwo grna mierzonego przebiegu musi by co najmniej
od 3 do 10 razy mniejsza ni czstotliwo fali nonej, czyli np. jeli ta rnica
wynosi 5 razy, to przy grnej czstotliwoci mierzonej 1000 Hz, fala nona powinna
by w zakresie od 3500 Hz do 10000 Hz .
Typow aparatur do pomiaru sygnaw z wykorzystaniem zmiennoprdowych
elementw przedstawia rys. 44.

Rys. 44. Schemat blokowy tensometrycznej aparatury wzmacniajcej

pracujcej na fali nonej
60

Na schemacie pokazano zasad funkcjonowania aparatury tensometrycznej z fal

non. Aktualnie ukady takie s produkowane jako moduy, ktre maj tylko
charakterystyk wejciow i wyjciow.
S to podstawowe wiadomoci z zakresu aparatury wspczesnej z
tensometrii oporowej.
Ostatnim tematem, ktry zostanie omwiony w Materiaach jest pomiar
parametrw ruchu dowolnego obrotowego ukadu mechanicznego.
rodki transportu s przykadem mechanicznych ukadw drgajcych,
dlatego omwimy ten przypadek jako szczeglny element techniki pomiarowej. Nie
bd omawia caej czci dotyczcej elementw teorii drga, przedstawi tylko
niektre pojcia:

a - amplituda drga (najwiksze wychylenie)

- czstotliwo koowa drga

f - czstotliwo drga; = 2 f
Mona przyj, e dla ukadu mechanicznego bez tumienia

r =

K
m

gdzie: r - czsto rezonansowa (wasna) ukadu

K - sztywno ukadu

m - masa zwizana z sztywnoci K .

Mona w przyblieniu przyj, e czsto wasna ukadu z tumieniem, jest nieco
mniejsza ni w ukadzie bez tumienia (jest to jednak przyblienie). W ukadach z
Rys. 45.

tumieniem przebieg drga przedstawia rys. 45.

Rys. 45.
Wanym elementem jest, jak wida z rys. 45. tumienie. Wprowadzimy tumienie
krytyczne bkr ; to takie, gdy krzywa na tys. 45. Nie przetnie osi t . Uywa si czsto

61

wielkoci n =

b
. Wielko n wyznacza si z logarytmicznego dekrementu tumie,
bkr

ktry jest zdefiniowany nastpujco:

A
n
D = ln i = 2
1 n2
Ai +1
Dla wyznaczenia stosunku

Wyznaczono

b
bkr

wyznacza si dwa stosunki

Ai
Ai +1

oraz

Ai
.
Ai + 2

b
zgodnie z rys. 46.
bkr

Rys. 46. Zaleno wspczynnika tumienia b/bkr od stosunku

amplitud drga tumionych
Jeli na ukad mechaniczny dziaa wymuszenie w postaci funkcji czasu, to wykres
okrelajcy zaleno amplitud drga wasnych do wymuszonych przedstawia rys. 47.

Rys. 47. Zaleno wzgldnej amplitudy

drga wymuszonych od stosunku drga
wymuszonych do czstotliwoci drga
wasnych, dla rnych wspczynnikw
tumienia b/bkr.

62

Wykorzystano te relacje i na rys. 48. i 49. Przedstawiono schematycznie ukad

przetwornika

sejsmicznego.

Przetwornik

ten

moe

mierzy

zarwno

przemieszczenie, jak i przyspieszenie. Pokazano to na rys. 50. i 51., gdzie y oznacza

wielko pomierzon a x - wielko mierzon. Jeli czstotliwo mierzona jest
poniej czstotliwoci wasnej, to ugicie spryny pokazuje przyspieszenie obwodu
rys. 49., gdy czstotliwo mierzona jest wiksza od czstotliwoci wasnej, to
ugicie spryny wskazuje mierzone przemieszczenie.

Rys. 48. Schemat ukadu przetwornika sejsmicznego.

Rys. 49. Schemat dziaania przetwornika sejsmicznego:

1 element drgajcy, 2 obudowa, 3 masa sejsmiczna,
4 element sprysty, 5 ukad drgajcy

Rys. 50.

63

Rys. 51.

***
Przedstawione Materiay zawieraj treci niezbdne do zaliczenie czci
wykadowej z przedmiotu Podstawy Techniki Pomiarowej.
Przedstawione Materiay s objte prawem autorskim autora Prof. J.
Kisilowskiego. Materiay zawieraj 64 strony oraz spis treci.

64

SPIS TRECI
1.

Wstp...........................................................................................................................2

2.

Podstawowe pojcia z Podstaw techniki pomiarowej. Narzdzia pomiarowe.

Wzorce ........................................................................................................................ 4

3.

Definicje pomiaru. Model zmiany wielkoci mierzonej na pomierzon. ................... 9

4.

Cechy metrologiczne przyrzdw pomiarowych. Parametry charakteryzujce

przyrzdy pomiarowe ............................................................................................... 11

5.

Przetwarzanie wielkoci mierzonej na pomierzon. ................................................. 12

6.

Przetworniki pomiarowe ........................................................................................... 13

7.

Przyrzdy pomiarowe; zasady dziaania....................................................................14

8.

Wyznaczenie funkcji charakteryzujcych sygna losowy w dwch dziedzinach ..... 17

9.

Zalenoci midzy trzema dziedzinami sygnau bdcego procesem

stochastycznym ......................................................................................................... 22

10.

Zalenoci midzy wejciem a wyjciem elementarnego stopnia przetwarzania..... 24

11.

Wyznaczenie cech probabilistycznych w dziedzinie amplitudy dla sygnau

losowego ................................................................................................................... 25

11.1. Wyznaczenie zakresu minimalnej i maksymalnej amplitudy realizacji procesu

stochastycznego.........................................................................................................31
11.2. Wyznaczanie gstoci prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy dla sygnaw
bdcych realizacj procesu stochastycznego...................................................................34
12.

Elementy teorii bdw ............................................................................................. 37

12.1. Bdy przypadkowe ................................................................................................... 37

12.2. Bdy w pomiarach dynamicznych (realizacji procesu stochastycznego) ................ 40
12.3. Klasyfikacja rde bdw ....................................................................................... 43
13.

Metody pomiarowe ................................................................................................... 48

14.

Przykadowy przetwornik pomiarowy; zasady dziaania, moliwoci

wykorzystania ........................................................................................................... 51

14.1. Zasady dziaania transometru oporowego. .................................................................. 51

14.2. Zasady przeksztacenia opornoci na sygnay elektryczne........................................58
Spis treci...................................................................................................................65

65