WERSJA POLSKA

KOMPENDIUM METROLOGII
w zakresie precyzyjnych przyrzdw pomiarowych
 Spis treci

Strona
Kontrola jakoci 2 1

Mikrometry 4

Gowice mikrometryczne 11

rednicwki 14

Suwmiarki 15

Wysokociomierze 18

Pytki wzorcowe 20

Czujniki zegarowe 21

Gowice pomiarowe Linear Gage 24

Laserowe Mikrometry Skaningowe LSM 26

Liniay pomiarowe 28

Projektory profilu 31

Mikroskopy 32

Wizyjne Maszyny Pomiarowe 34

Surftest (Chropowatociomierze) 36

Contracer (Przyrzdy do pomiaru konturu) 38

Roundtest (Przyrzdy do pomiaru ksztatu) 40

Twardociomierze 42

Wsprzdnociowe Maszyny Pomiarowe 44

Quick
Kompendium
Guide to Measurement
metrologii
 Kompendium metrologii Kontrola jakoci

Kontrola jakoci (QC) Histogram

System ekonomicznego wytwarzania produktw i usug w jakoci speniajcej Wykres dzielcy zakres pomidzy minimaln a maksymaln wartoci zmierzon
wymagania klienta. na kilka przedziaw i pokazujcy liczb wartoci (czsto wystpie) w kadym
przedziale w postaci paska. Uatwia on zrozumienie redniej zgrubnej lub
Kontrola jakoci procesu przyblionego zasigu rozrzutu. Symetryczny rozkad dzwonowy nazywany jest
Strona rozkadem normalnym i jest czsto wykorzystywany w teoretycznych przykadach
2 Dziaania majce na celu zredukowanie zmiennoci chararakterystyk produktu ze wzgldu na atwe do obliczenia parametry. Jednake naley zachowa
wynikajcej z procesu i utrzymanie tej zmiennoci na niskim poziomie. Dziaania te ostrono przyjmujc takie zaoenie, poniewa wiele rzeczywistych procesw
promuj standaryzacj i popraw procesu jak rwnie akumulacj technologii. nie jest zgodnych z rozkadem normalnym i takie zaoenie moe prowadzi do
bdw.
Statystyczna kontrola procesu (SPC)
Kontrola jakoci procesu przy wykorzystaniu metod statystycznych. Zdolno procesu
Charakterystyczna dla danego procesu wydajno wykazywana, gdy
Populacja jest on dostatecznie ustandaryzowany, wyeliminowano z niego wszelkie
przyczyny nieprawidowoci i jest on w stanie statystycznego uregulowania.
Grupa wszystkich elementw posiadajcych charakterystyki brane pod uwag przy Zdolno procesu jest reprezentowana za pomoc 3 lub 6 , gdy
poprawie i kontroli procesu oraz jakoci produktu. Grupa analizowana w oparciu wartoci kontrolowanych charakterystyk procesu opisuje rozkad normalny.
o prby jest zwykle populacj reprezentowan przez prby. (sigma) oznacza odchylenie standardowe.

Partia Wskanik zdolnoci procesu (PCI lub Cp)

Zbir produktw wytwarzanych w tych samych warunkach. Miara tego jak dobrze proces jest usytuowany w granicach tolerancji
danej charakterystyki. Warto tego wskanika powinna by zawsze
Prba znaczco wiksza od 1. Obliczana jest ona przez podzielenie tolerancji
Egzemplarz (lub egzemplarze) produktu pobrany z populacji do oceny jego danej charakterystyki przez zdolno procesu (6 ). Warto uzyskana przez
charakterystyk. podzielenie rnicy pomidzy wartoci redni (X) a nominaln przez
3 moe by wykorzystana do reprezentacji tego wskanika w przypadkach
tolerancji jednostronnej. Wskanik zdolnoci procesu ma prawidow warto
Liczno prby tylko, wtedy gdy rozkad wartoci badanej charakterystyki jest normalny.
Liczba egzemplarzy produktu w prbie.

Odchylenie Uwaga: Jeli charakterystyka podlega rozkadowi normalnemu, 99.74%

danych ley w zakresie 3 od redniej.
Warto obliczona jako rnica wartoci rzeczywistej i redniej mierzonych
wartoci z wielu pomiarw. Tolerancja obustronna

Rozrzut Cp =GGS-DGS GGS: Grna granica specyfikacji

6 DGS: Dolna granica specyfikacji
Zmienno wartoci badanej charakterystyki w odniesieniu do wartoci redniej.
Zwykle rozrzut wartoci wok wartoci redniej jest reprezentowany przez Tolerancja jednostronna ... Dla ustalonej tylko grnej granicy
odchylenie standardowe. specyfikacji

GGS-X
Cp =
3
Grna granica specyfikacji(GGS)
Docelowa rednia procesu
Dolna granica specyfikacji (DGS)

rednia

Czsto

Tolerancja jednostronna ... Dla ustalonej tylko dolnej granicy

specyfikacji
X-DGS
Cp =
3

Niezgodno

Wartoci zmierzone
Odchylenie
Rozrzut/nieprecyzyjno

Tolerancja (GGS - DGS)

Przykady graficznej reprezentacji wskanika zdolnoci procesu (Cp) Jak odczytywa karty kontroli
(tolerancja obustronna)
Poniej przedstawiono typowe konfiguracje pooe kolejnych punktw
DGS GGS uwaane za niepodane. Przyjmuje si, e wystpowanie takich trendw
Zdolno procesu jest
z trudem osignita, spowodowane jest wpywem 'Przyczyn specjalnych' na proces, ktre
Cp = 1 granice 6 sigma procesu wymagaj interwencji operatora procesu w celu ich wyeliminowania. Te reguy
stykaj si z granicami podejmowania dziaa stanowi jedynie wskazwki. Podczas tworzenia regu
tolerancji. podejmowania dziaa naley bra pod uwag zmienno badanego procesu.
Przy zaoeniu, e grne i dolne granice kontroli znajduj si w odlegoci
6 3 od linii centralnej, w celu zastosowania poniszych regu naley podzieli
DGS GGS Z d o l n o p ro c e s u m a kart kontroli na sze stref o szerokoci 1 . Reguy te maj zastosowanie
najmniejsz akceptowaln do kart kontroli X oraz X. Naley podkreli, e 'reguy podejmowania dziaa'
oglnie warto, poniewa zostay sformuowane przy zaoeniu normalnoci rozkadu. Istnieje moliwo Strona
Cp = 1.33 jest oddalona o 1 sigma sformuowania regu odpowiednich dla rozkadw innych typw 3
od granic tolerancji.
GGK X3 GGK X3
6 X2 X2
8
X1 X1
DGS GGS Zdolno procesu jest X X
wystarczajca, poniewa X1 X1
jest oddalona o wicej X2 X2
Cp = 1.67 ni 2 sigma od granic DGK X3 DGK X3
tolerancji. (1) Punkt poza jedn z linii granic (2) Dziewi kolejnych punktw po
kontroli ( 3 ). jednej stronie linii centralnej.

6 GGK X3 GGK X3
10 X2 X2
X1 X1
X X
Naley zauway, e Cp reprezentuje jedynie zaleno pomidzy granicami
X1 X1
tolerancji a rozrzutem procesu i nie uwzgldnia pooenia redniej procesu.
X2 X2
DGK X3 DGK X3
Uwagi: Wskanik zdolnoci procesu, ktry bierze pod uwag rnic pomidzy
(3) Sze punktw w trendzie rosncym (4) 14 punktw po kolei naprzemiennie
redni procesu a docelow wartoci redni nazywany jest Cpk, stanowi lub malejcym. rosncych i malejcych.
on iloraz grnej tolerancji (GGS minus rednia) i 3 (poowa zdolnoci
procesu) lub dolnej tolerancji (warto rednia minus DGS) i 3 , zalenie GGK X3 GGK X3
od tego, ktra warto jest mniejsza. X2 X2
X1 X1
X X
Karta kontroli X1 X1
Wykorzystywana do kontroli procesu przez oddzielenie zmiennoci procesu X2 X2
wywoanej przyczynami losowymi od wywoanej nieprawidowociami. Karta DGK X3 DGK X3
kontroli skada si z linii centralnej (LC) i linii granic kontroli racjonalnie pooonymi (5) Dwa z trzech kolejnych punktw poza (6) Cztery z piciu kolejnych punktw
granicami 2 od linii centralnej. poza granicami 1 .
ponad i pod lini centraln (GGK i DGK). Mona powiedzie, e proces znajduje
si w stanie statystycznego uregulowania jeli wszystkie punkty wartoci GGK X3 GGK X3
charakterystyki reprezentujcej proces zawarte s pomidzy liniami grnej i dolnej X2 X2
granicy kontroli bez zauwaalnych trendw. Karta kontroli stanowi uyteczne X1 X1
narzdzie kontroli procesu, a std take jakoci. X X
X1 X1
Grna granica kontroli (GGK)
X2 X2
DGK X3 DGK X3
(7) 15 kolejnych punktw w granicach (8) 8 kolejnych punktw poza granicami
Linia centralna (LC)
1 od linii centralnej. 1 od linii centralnej.

Dolna granica kontroli (DGK)

1 2 3 4 5 6 7
Numer podgrupy

Przyczyny losowe
Te p r z y c z y n y z m i e n n o c i m a j re l a t y w n i e n i e w i e l k i e z n a c z e n i e .
Przyczyny losowe s technicznie i ekonomicznie niemoliwe do wyeliminowania
nawet jeli mona je zidentyfikowa.

Karta kontroli X-R

Karta kontroli wykorzystywana do kontroli procesu dostarczajca najwaniejszych
informacji na temat procesu. Karta X-R skada si z karty X, ktra rejestruje rednie
z podgrup, aby monitorowa niepodane odchylenie od redniej procesu oraz z
karty R, ktra rejestruje rozstp, by monitorowa niepodan zmienno. Zwykle
obie karty uywane s razem.
 Kompendium metrologii Mikrometry

Nazewnictwo
Standardowy Analogowy Mikrometr Zewntrzny

Strona
4 Powierzchnie pomiarowe Wrzeciono Tuleja Nakrtka regulacyjna
Kowadeko

Kabk

Bben
Skala bbna Pokrto szybkiego posuwu

Skala tulei

Kreska wskanikowa wzduna

Osona termoizolacyjna
Blokada wrzeciona

Mikrometr zewntrzny Digimatic

Powierzchnie pomiarowe Wrzeciono Kreska wskanikowa wzduna Bben Pokrto szybkiego posuwu
Tuleja
Kowadeko

Kabk

Blokada wrzeciona Skala bbna

Skala tulei
Wyjcie danych (nie wystpuje w zwykych modelach cyfrowych)
Przycisk HOLD podtrzymujcy odczyt

Przycisk zmiany trybu

ZERO (Tryb inkrementalny) / ABS (Tryb Absolute)
Osona termoizolacyjna
Przycisk zerowania
 Przykady zastosowa mikrometrw specjalnych

Mikrometr ostrzowy Mikrometr szczkowy Mikrometr do wieloklinw

Strona
5

Do pomiarw rednic w wskich rowkach Do pomiarw maych rednic Do pomiarw rednic wakw
wewntrznych i szerokoci rowkw wieloklinowych

Mikrometr do rur Mikrometr punktowy Mikrometr do gwintw

Do pomiarw gruboci cianek rur Do pomiarw rednic podstaw Do pomiarw efektywnych rednic
gwintw

Mikrometr do pomiaru gruboci

Mikrometr talerzykowy zewntrzny zbw przez kulki Mikrometr z kowadekiem pryzmowym

Do pomiarw dugoci pomiarowych Pomiary rednic k zbatych metod Do pomiarw 3 i 5 ostrzowych narzdzi
k zbatych o zbach prostych i przez kulki/waeczki skrawajcych
skonych.
 Jak odczytywa wynik Urzdzenie ograniczajce nacisk pomiarowy
Mikrometr ze skal standardow (podziaka: 0,01mm)
Typ Syszalne Operowanie Uwagi
(1) (1) Odczyt ze skali tulei 7 mm dziaanie jedn rk
45
0 5 (2) Odczyt ze skali bbna + 0,37 mm Grzechotka
40 Nie- Syszalne dziaanie grzechotki
(2) Odczyt z mikrometru 7,37mm Tak
35 odpowiedni powoduje mikro wstrzsy
Uwaga) 0,37 mm (2) odczytano w pozycji, w ktrej kreska
30
wskanikowa pokrywa si odpowiedni dziak skali
bbna. Bben cierny
Skala bbna moe by odczytywana bezporednio z dokadnoci 0,01mm, (Typ F) Mikkie dziaanie bez
Nie Odpowiedni
wstrzsw i dzikw
jak wyej, ale moe mie te szacowan dokadno 0,001mm, gdy kreski si
Strona prawie pokrywaj, poniewa grubo kresek stanowi 1/5 odstpu midzy nimi.
6 Okoo +1m Okoo +2m Bben z grzechotk
(1) (Typ T) Syszalne dziaanie informuje
Tak Odpowiedni
30 0 o staym nacisku pomiarowym
8
Kreska noniusza Kreska bbna 64 Kreska
25 noniusza Kreska bbna
2
20 (2) Bben z grzechotk
0 5 Syszalne dziaanie informuje
Tak Odpowiedni
Mikrometr ze skal noniuszow 15 (podziaka: 0,001mm) o staym nacisku pomiarowym
10
Skala noniuszowa umieszczona powyej kreski wskanikowej tulei umoliwia
bezporedni odczyt z dokadnoci 0,001mm.
Szczegowy wygld powierzchni pomiarowych
0 30 (1) Odczyt ze skali tulei 6,000mm 30
8
6
25 (2) Odczyt ze skali bbna 0,210mm

wrzeciono
(3) 4
2

6.35
(3) Odczyt ze skali noniusza i bbna, gdzie kreska

6.3
20 (2)
noniusza pokrywa si kreska bbna + 0,003mm
0 5 15 Odczyt z mikrometru 6,213mm
10
(1) Kocwka z wglika spiekanego

Uwaga) 0,21 mm (2) odczytano w pozycji, gdzie kreska wskanikowa znajduje 30

si pomidzy dwiema dziakami (w tym
30 przypadku 21 i 22). 0,003 mm (3)
0

wrzeciono
8
odczytano w pozycji, gdzie
6
jedna z dziaek
25 noniusza pokrywa sie z jedn z
7.95
(3) 24

8
dziaek skali bbna. (2) 20
0 5
Mikrometr licznikiem mechanicznym 15
(krok licznika: 0,001mm)
10
Trzecie (1)
miejsce dziesitne na skali noniusza (jednostka 0,001 mm) Kocwka z wglika spiekanego

5
6
4 Rysunki powyej maj jedynie znaczenie informacyjne i nie s wykonane w skali.
2
0

(1)
0
45

0 2 9 9
mm Odczyt z noniusza 0,004mm (2)
Kreska wskanikowa wzduna
3 miejsca dziesitne 0,004mm (2)
2 miejsce dziesitne 0,090mm
1 miejsce dziesitne 0,900mm (1)
Milimetry 2,000mm
+ Dziesitki mm 00,000mm *Pokazuje cztery cyfry.
Odczyt z licznika 2,994mm

Uwaga) 0,004 mm (2) jest odczytana w pozycji, gdzie kreska podziaki noniusza
pokrywa si z jedn z kresek podziaki bbna.
 Rozszerzalno temperaturowa mikrometru Efekt zmiany sposobu zamocowania i orientacji
(Jednostka: m)
wynikajca z trzymania go go doni
Zmiana metody mocowania i/lub orientacji mikrometru po zerowaniu wpywa
14
na wyniki pniejszych pomiarw. Tabele poniej pokazuj spodziewane bdy
13
300
pomiaru w trzech rnych przypadkach po wyzerowaniu mikrometrw przy
12
podparciu od spodu i na rodku. Rzeczywiste wyniki pokazuj, e najlepiej jest zerowa i
11
10
mierzy w tym samym pooeniu i w tym samym mocowaniu.
Rozszerzalno (m)

9 Sposb mocow- Podparcie od spodu i na rodku Podparcie tylko na rodku

200 ania
8
7 Ustawienie
6
5 100 Strona
4 7
3 Maks.
50 mierzona
2
dugo (mm)
1
0 325 0 5.5
2 4 6 8 10 15 20 30 425 0 2.5
Czas (minuty) 525 0 5.5
Powyszy wykres przedstawia rozszerzalno temperaturow wywoan 625 0 11.0
przenoszeniem ciepa z doni na kabk, gdy jest on trzymany go doni. 725 0 9.5
825 0 18.0
Jak mona si przekona, trzymanie goa doni powoduje znaczny bd
925 0 22.5
pomiaru wywoany rozszerzalnocia ciepln. Jeli mikrometr musi by trzymany 1025 0 26.0
go doni, naley minimalizowa czas kontaktu. Zaoenie okadki izolacyjnej
na mikrometr lub rkawiczki na do moe znaczco ograniczy ten efekt. Sposb mocowania Podparcie na rodku w orientacji Trzymanie w doni skierowanego
(Prosimy zauway, e powyszy wykres jest jedynie przykadowy). poziomej. do dou.

Rozszerzalno wzorca dugoci na skutek Ustawienie

zmiany temperatury (dla sztabki 200mm przy temp. pocz. 20C)

Maks.
Rozszerzalno termiczna (m)

mierzona
20 dugo (mm)
31C
15 325 +1.5 4.5
425 +2.0 10.5
10 525 4.5 10.0
27C
5 625 0 5.5
21C 725 9.5 19.0
0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 825 5.0 35.0
Upyw czasu (minuty) 925 14.0 27.0
1025 5.0 40.0
Powyszy, uzyskany dowiadczalnie, wykres pokazuje jak w miar upywu
czasu rozszerza si wybrany wzorzec dugoci mikrometru trzymany w doni Postulat Abbego
w temperaturze otoczenia 20C za jeden koniec przez rne osoby o rnej Postulat Abbego mwi, e maksymalna dokadno jest
temperaturze doni. Pokazuje on jak wane jest, aby nie trzyma w doni wzorca
uzyskiwana, gdy o przyrzdu i o pomiaru s wsplne.
L
mikrometru podczas wzorcowania lub, e naley go trzyma w rkawiczkach lub Jakakolwiek zmiana kta ( ) ruchomej szczki przyrzdu,
woonego w izolacj ciepln. Podczas wykonywania pomiarw naley rwnie takiego jak na przykad mikrometr szczkowy, wywouje

pamita, e powrt wzorca do pocztkowej dugoci trwa. (Prosimy zauway,
przemieszczenie, ktre nie jest mierzone na skali
R

e wartoci na wykresie s eksperymentalne i nie s gwarantowane.)

przyrzdu i stanowi bd Abbego ( = L na rysunku).
Rnica rozszerzalnoci cieplnej mikrometru i Prostoliniowo wrzeciona, luz prowadnicy wrzeciona
lub zmiany siy nacisku mog powodowa zmian kta ( ) powikszajc ten bd
wzorca dugoci
wraz ze wzrostem R.
Rnica rozszerzalnoci (m)

+3
+2
0C Prawo Hooke'a
+1 Prawo Hooke'a mwi, e odksztacenie materiau elastycznego jest proporcjonalne
20C
0 do naprenia wywoujcego to odksztacenie, przy zaoeniu e pozostaje ono w
-1 zakresie odksztace sprystych.
-2
-3 10C
Wzory Hertza
Wzory Hertza podaj widoczn redukcj rednicy kul i walcw spowodowan
125 225 325 425 525 sprystym ciskaniem powierzchniami paskimi przy pomiarze. Wzory te przydatne
Dugo nominalna (mm) s do wyznaczania deformacji mierzonych przedmiotw spowodowanych
naciskiem pomiarowym w punkcie i na linii kontaktu.
Powyszy eksperyment wykonano pozostawiajc mikrometr i jego wzorzec w
temperaturze 20C na ok. 24 godziny dla ustabilizowania si ich temperatur i P P
ustawiajc punkt pocztkowy na wzorcu. Nastpnie mikrometr wraz ze wzorcem Przy zaoeniu okrelonych jednostek i stali jako materiau:
pozostawiono w temperaturach 0C i 10C na taki sam czas, po upywie ktrego L Modu sprystoci: E =205 GPa
sprawdzono przesunicie punktu pocztkowego. Powyszy wykres pokazuje wyniki 2
Wielko deformacji: (m)
2 rednica kuli lub walca: D (mm)
dla rnych wzorcw o wymiarach 125-525 mm w kadej z temperatur. Wykres SD D
Dugo walca: L (mm)
pokazuje, e zarwno mikrometr jak i jego wzorzec musz by pozostawione 2 2 Nacisk pomiarowy: P (N)
w tym samym miejscu co najmniej na kilka godzin przed ustawieniem punktu a) Widoczne zmniniejszenie rednicy kuli
3
pocztkowego. (Wartoci na wykresie s eksperymentalne i nie s gwarantowane.) 1=0,82 P2/D
(a) (b) b) Widoczne zmniejszenie rednicy walca
3
Kula pomidzy Cylinder pomidzy 2 =0,094P/L 1/D
paszczyznami paszczyznami
2
 Pomiar rednicy podziaowej gwintu Dugo pomiarowa koa zbatego
Metoda trjwaeczkowa
rednic podziaow gwintu mona mierzy metod trzech waeczkw
zgodnie z rysunkiem poniej.
Oblicz rednic podziaow (E) przy wykorzystaniu rwna (1) i (2).

Gwint metryczny lub zunifikowany (60)

E=M3d+0,866025P .......(1) Wrzeciono d (3)
Sm
Gwint Whitwortha (55) P

Strona E=M3,16568d+0,960491P .......(2) Wzr do obliczenia dugoci pomiarowej koa zbatego (Sm):
8 ruba E M Sm = m cos 0 { (Zm 0,5) + Z inv 0 } + 2 X m sin 0
d = rednica waeczka
Wzr do obliczenia liczby zbw na dugoci pomiarowej (Zm):
E = rednica podziaowa gwintu
M = Odczyt z mikrometru z uwzgldnieniem Zm' = ZK (f) + 0,5 (Zm jest liczb cakowit najblisz Zm'),
1
trzech waeczkw Kowadeko
gdzie K (f) = { sec 0 (1 + 2f) 2 cos 2 0 inv 0 2f tan }
0
P = Podziaka gwintu
(W przypadku gwintw zunifikowanych naley przeliczy cale na mm.) oraz f = X m : Modu
Z
0 : Kt przyporu
Typ gwintu Optymalny rozmiar waeczka
Z : Liczba zbw
Gwint metryczny lub zunifikowany (60) 0.577P inv 20 0.014904 X : Wspczynnik przesunicia zarysu
inv 14.5 0.0055448 Sm : Dugo pomiarowa koa
Gwint Whitwortha (55) 0.564P
Zm : Liczba zbw na dugoci pomiarowej
Pomiary k zbatych
Gwne rda bdw metody trjwaeczkowej
Metoda pomiaru przez waeczki
Bd, ktrego dp dp
Przyczyna bdu Dziaania eliminujce bdy Moliwy bd nie mona
wyeliminowa

1. Korekcja bdu podziaki ( p = E) 18m przy

Bd podziaki 2. Pomiar w kilku punktach i

dm
zaoeniu, e bd
(przedmiot zastosowanie redniej. 3m
podziaki wynosi

dm
mierzony) 3. Redukcja bdw pojedynczych 0,02 mm. 90
podziaek.
Bd pkta 1. Uycie waeczka o optymalnej rednicy. Z
(przedmiot 0.3m 0.3m
2. adna korekcja nie jest wymagana.
mierzony)
1. Uycie waeczka o optymalnej rednicy.
Rnica kowadeek 2. do
Uycie waeczka o rednicy zblionej (a) (b)
8m 1m
redniej po stronie jednego
waeczka. Dla k o parzystej liczbie zbw:
1. Pomiar z predefiniowanym,
dg
Bd od rednicy odpowiednim dla podziaki naciskiem.
2. Uycie predefiniowanej szerokoci 3m 1m dm = dp + cos = dp + zmcos cos
0

waeczka krawdzi pomiarowej.

3. Pomiar ze stabilnym naciskiem pom.
Dla k o nieparzystej liczbie zbw:
W najgorszym Przy starannym
Bd sumaryczny
przypadku
+20m
35m
pomiarze
+3m
5m
dg
( )
90
dm = dp + cos cos z = dp + cos
zmcos 0
cos ( 90z )
jednake
Metoda jednowaeczkowa
rednica podziaowa frezu o nieparzystej liczbie ostrzy moe by inv =
dp X
dg 2
=
dp
zmcos 0 2z
( inv 0 ) + 2tanz 0
X
mierzona metod jednego waeczka przy uyciu mikrometru z
(inv) naley odczyta z tabeli funkcji ewolwenty. z : Liczba zbw
kowadekiem pryzmowym. Naley zmierzy warto M1 i obliczy M ze 0 : Kt przyporu zbw
wzoru (3) lub (4). m : Modu
X : Wspczynnik przesunicia zarysu
M1 = Odczyt z mikrometru przy pomiarze metoda jednowaeczkow
D = rednica frezu o nieparzystej liczbie ostrzy

Frez z trzema ostrzami : M = 3M12D (3)

Frez z picioma ostrzami : M = 2,2360M11,23606D (4)

Nastpnie naley obliczy warto rednicy podziaowej wprowadzajc

warto M do rwnania (1) lub (2).
Kowadeko

Wrzeciono

Frez o nieparzystej Waeczek

liczbie ostrzy
 Sprawdzanie rwnolegoci powierzchni Oglne uwagi do uytkowania mikrometru
pomiarowych mikrometru 1. Podczas doboru modelu do danego zadania pomiarowego naley dokadnie
Kierunek obserwacji prkw po stronie wrzeciona
sprawdzi typ, zakres pomiarowy, dokadno i inne parametry.
2. Naley pozostawi mikrometr i mierzony przedmiot w tym samym miejscu na
czas potrzebny do wyrwnania si ich temperatur przed pomiarem.
3. Naley patrze prostopadle na kresk wskanikow podczas odczytu ze
skali wrzeciona. Jeli na kreski podziaki bdzie si patrze pod ktem,
nie bdzie mona zaobserwowa poprawnie zrwnania si kresek ze wzgldu
na bd paralaksy.
Pytka pasko-rwnolega
(b)
Prki po stronie wrzeciona Strona
(a) 9
(c)

Rwnolego powierzchni pomiarowych mikrometru mona oceni przy

uyciu pasko-rwnolegej pytki interferencyjnej umieszczonej pomidzy nimi. Bben
Najpierw naley przyoy pytk pasko-rwnoleg do powierzchni kowadeka, a (a) Powyej linii wzdunej
nastpnie dosun do niej wrzeciono ze standardowym naciskiem pomiarowym. Tuleja
Teraz naley policzy czerwone prki interferencyjne widoczne w wietle biaym
na powierzchni pomiarowej wrzeciona. Kady prek reprezentuje rnic
wysokoci
rwn poowie dugoci fali (0,32m dla czerwonych prkw).
Na rysunku powyej odchyka rwnolegoci wynoszca w przyblieniu 1m
zostaa uzyskana przez pomnoenie 0,32m x 3=0,96m.
(b) Prostopadle do linii wzdunej

Sprawdzanie paskoci powierzchni

pomiarowych mikrometru
Pasko powierzchni pomiarowej mona oszacowa przy uyciu pytki
interferencyjnej paskiej (lub pasko-rwnolegej) przyoonej do badanej
powierzchni. Naley policzy czerwone prki interferencyjne widoczne w
wietle biaym na badanej powierzchni pomiarowej. Kady prek reprezentuje (c) Poniej linii wzdunej
rnic wysokoci rwn poowie dugoci fali (0,32m w przypadku czerwonych
prkw). 4. Przed pomiarem naley wytrze powierzchnie pomiarowe kowadeka i
wrzeciona papierem bezkaczkowym zacinitym w pozycji zerowania.
Kierunek obserwacji
prkw interferencyjnych

Pytka interferencyjna Pytka interferencyjna

Kowadeko Kowadeko

Powierzchnia pomiarowa jest wygita. Powierzchnia pomiarowa jest wklsa (lub wypuka).
Pasko okoo 1,3m. Pasko okoo 0,6m. (0,32m x 2 cige prki)
(0,32m x 4 pary czerwonych prkw.)
 5. W ramach codziennego utrzymania naley czyci powierzchni boczn i
pomiarow wrzeciona z pyu, okruchw materiau i innych pozostaoci.
Dodatkowo, za pomoc suchej ciereczki naley usun ze wszystkich
pozostaych czci przyrzdu wszelkie plamy, lady rdzy i odciski palcw.
6. Naley poprawnie uywa sprzga w celu zapewnienia waciwego nacisku
pomiarowego podczas pomiarw.
7. Mocujc mikrometr na statywie, statyw powinien by zacinity na rodku
kabka mikrometru. Nie naley zaciska szczk statywu zbyt mocno.

Strona
10

8. Naley uwaa, aby nie upuci ani niczym nie uderzy mikrometru.
Nie naley uywa zbyt duej siy przy obracaniu bbna wrzeciona.
Jeli istnieje podejrzenie, e mikrometr mg zosta uszkodzony na skutek
niewaciwego uytkowania, przed uyciem naley upewni si, e zosta on
sprawdzony pod wzgldem dokadnoci.
9. Po dugim okresie przechowywania lub jeli nie wida na nim warstwy
ochronnego oleju, naley pokry mikrometr niewielk iloci oleju
przeciwdziaajcego korozji poprzez przetarcie go ciereczk nasczon tym
olejem.
10. Uwagi do przechowywania:
Unika przechowywania mikrometru w miejscu, gdzie jest on wystawiony na
bezporednie dziaanie wiata sonecznego.
Przechowywa mikrometr w dobrze wentylowanym pomieszczeniu o niskiej
wilgotnoci.
Przechowywa mikrometr w miejscu o niskim zapyleniu.
Przechowywa mikrometr w etui lub innym opakowaniu, ktre nie bdzie
leao na pododze.
Przechowujc mikrometr naley zawsze zostawia przerw od 0,1 do 1 mm
pomidzy powierzchniami pomiarowymi.
Nie przechowywa mikrometru z stanie zacinitym.
Kompendium metrologii
Kryteria wyboru
Kluczowe czynniki przy wyborze gowicy mikrometrycznej stanowi: zakres pomiarowy, powierzchnia pomiarowa wrzeciona, wrzeciono, skala, rednica bbna itd.
Tuleja
Tuleja gadka Tuleja z nakrtk
Tuleje montaowe gowic mikrometrycznych dziel si na "gadkie" i "z
nakrtk", jak na ilustracji powyej. rednice tulei wytwarzane s w pasowaniu
h6 dla rednic metrycznych i calowych.
Tuleja z nakrtk umoliwia szybkie i bezpieczne mocowanie gowicy.
Zalet tulei gadkiej jest szerszy zakres zastosowa oraz moliwo niewielkiej
zmiany pozycji w kierunku osi w ostatniej fazie instalacji, mimo i takie
mocowanie wymaga zastosowania uchwytu ze szczelin lub kleju.
Uchwyty montaowe oglnego stosowania dostpne s jako wyposaenie
opcjonalne.
Powierzchnia pomiarowa
Paska Sferyczna Z kocwk anty obrotow
Paska powierzchnia pomiarowa jest czsto wybierana jeli gowica ma by
wykorzystana do celw pomiarowych.
Gdy gowica wykorzystywana jest jako przyrzd ustalajcy pozycj, kulista
kocwka minimalizuje bdy zwizane z niedokadnym ustawieniem
(Rysunek A). Mona to osign rwnie wykorzystujc gowic z pask
powierzchni pomiarow jeli wrzeciono ma popycha element sferyczny, taki
jak na przykad kulka z wglika spiekanego (Rysunek B).
W przypadku, gdy oddziaywanie na mierzony przedmiot obracajc si
powierzchni jest niedozwolone mona wykorzysta gowic o nieobrotowym
wrzecionie lub z nieobrotow kocwk (Rysunek C).
Rysunek A Rysunek C
Rysunek B
Wrzeciono nieobrotowe
Gowica z nieobrotowym wrzecionem nie wywiera nacisku skrtnego na
przedmiot, co moe mie istotne znaczenie w niektrych zastosowaniach.
Skok gwintu wrzeciona
Gowica standardowa ma gwint o skoku 0,5mm.
Typ o skoku 1mm: szybszy do ustawiania ni standardowy i nie daje moliwoci
popenienia bdu pominicia 0,5mm przy odczycie. Wysoka obcialno
dziki wikszym zwojom gwintu.
Typ o skoku 0,25mm lub 0,1mm
Gowica tego typu jest najlepsza do zastosowa, gdzie wymagany jest
dokadny posuw lub dokadne pozycjonowanie.
Gowice mikrometryczne
Sprzgo
Strona
Do zastosowa pomiarowych zalecana jest gowica wyposaona w 11
zapewniajce stay nacisk sprzgo (grzechotka lub sprzgo cierne).
Jeli gowica ma by uywana do blokowania pooenia lub priorytetem jest
oszczdno miejsca, najlepszy wybr stanowi moe gowica bez sprzga.
Gowica mikrometryczna Gowica mikrometryczna bez sprzga
ze sprzgem (brak pokrta grzechotki)
Blokada wrzeciona
Jeli gowica ma by wykorzystywana do ustalania pooenia, korzystne jest
stosowanie gowicy wyposaonej w blokad wrzeciona, przeciwdziaajc
zmianie pozycji nawet pod wpywem duych obcie.
Zakres pomiarowy (Posuw)
Przy wyborze zakresu pomiarowego dla gowicy mikrometrycznej, naley wzi
pod uwag odpowiedni margines zakresu pomiarowego. Standardowe gowice
mikrometryczne dostpne s w 6 zakresach pomiarowych od 5 do 50mm.
Nawet jeli wymagany zakres pomiarowy jest niewielki, jak 2mm do 3mm,
opacalnym ekonomicznie wyborem bdzie model o posuwie 25mm, jeli tylko
dysponuje si wystarczajc przestrzenia dla instalacji.
Jeli wymagany jest posuw wikszy ni 50mm, zastosowanie pytek
wzorcowych moe zwikszy efektywny zakres pomiarowy. (Rysunek D)
Rysunek D
Pytka wzorcowa
Zakres posuwu wrzeciona
Powikszony zakres posuwu
Na rysunku powyej, koniec zakresu (element oporowy) wrzeciona oznaczony
jest kreskowaniem. Przy planowaniu pooenia elementu oporowego naley
zaoy, e wrzeciono przemieszcza si bdzie do pooenia oznaczonego lini
kreskowan.
Aplikacje z ultra dokadnym posuwem
Dla zastosowa, jako element pozycjonujcy dostpne s dedykowane gowice
mikrometryczne o ultra dokadnym posuwie wrzeciona.
 rednica bbna
rednica bbna ma znaczcy wpyw na waciwoci uytkowe i "dokadno"
pozycjonowania. Maa rednica bbna pozwala na szybkie pozycjonowanie,
podczas gdy dua rednica umoliwia dokadne pozycjonowanie i atwy odczyt
ze skali. Niektre modele cz zalety obu cech poprzez doposaenie gowicy z
duym bbnem w pokrto szybkiego posuwu.
Strona
12
Rodzaje podziaek
Naley zachowa ostrono przy odczycie z analogowej gowicy
mikrometrycznej, zwaszcza jeli uytkownik nie zna danego modelu.
Standardowy rodzaj podziaki to "podziaka normalna", taki sam jak w
przypadku mikrometrw zewntrznych. Przy tego rodzaju skali warto odczytu
wzrasta w miar jak kocwka wrzeciona zblia si do korpusu.
Odwrotnie jest w przypadku "podziaki odwrconej", odczyty rosn w miar
jak kocwka wrzeciona wysuwa si z korpusu.
"Podziaka dwukierunkowa" ma na celu uatwienie pomiaru w dowolnym z
obu kierunkw poprzez wykorzystanie czarnych cyfr do odczytu w kierunku
normalnym i czerwonych do odczytu w kierunku odwrotnym.
Dostpne s rwnie gowice mikrometryczne z mechanicznym lub
elektronicznym odczytem cyfrowym. Gowice tego typu s wolne od bdw
odczytu. Kolejn zalet elektronicznych gowic cyfrowych jest moliwo
rejestrowania i obrbki statystycznej wynikw na komputerze.

20 80

10 90
5 45
0 5 25 20 0 5

0 0 0 0
25 20

45 5
90 10

Podziaka normalna Podziaka 80 20

odwrcona Podziaka
dwukierunkowa

Zalecenia dla uchwytw wasnej produkcji

Gowica mikrometryczna powinna by mocowana tulej chwytow w dokadnie obrobionym otworze w taki sposb, aby nie wywiera zbyt duego nacisku na tulej.
Typowe sposoby mocowania przedstawiono na rysunku poniej. Sposb nr 3 nie jest zalecany. Jeli to tylko moliwe naley stosowa mocowanie (1) lub (2).
(Jednostka: mm)
(1) Z nakrtk zaciskow (2) Zacisk ze szczelin (3) Zacisk ze rub dociskow
Sposb mocowania

O czym naley A
pamita

rednica tulei chwytowej 9.5 10 12 18 9.5 10 12 18 9.5 10 12 18

Pasowanie otworu G7 G7 G7 G7 H5 H5
montaowego +0,005 do +0,020 +0,006 do +0,024 +0,005 do +0,020 +0,006 do +0,024 0 do +0,006 0 do +0008
Waciwy rozmiar ruby dociskowej to
Zadba o to, by powierzchnia A bya prostopada
M3x0,5 lub M4x0,7.
do osi otworu montaowego. Usun wszelkie wiry z krawdzi otworu
Zalecenia Stosowa mosin podkadk pod rub
Odchyka prostopadoci powinna by mniniejsza montaowego poprzez fazowanie.
(jeli grubo uchwytu na to pozwala),
ni 0,16/6,5.
aby unikn uszkodzenia tulei.
 Maksymalna obcialno gowic mikrometrycznych
Maksymalna obcialno gowic mikrometrycznych zaley gwnie od sposobu ich mocowania oraz czy obcienie ma charakter statyczny czy dynamiczny
(stosowanie do blokowania pooenia). Z tego wzgldu nie mona ostatecznie okreli maksymalnego dopuszczalnego obcienia kadego modelu.
Maksymalne obcienia zalecane przez Mitutoyo (dla mniej ni 100 000 obrotw przy wykorzystaniu do pomiarw w zakresie dokadnoci) oraz wyniki testw
obcie statycznych maych gowic mikrometrycznych zamieszczono w poniszej tabeli.

1. Zalecane obcienie maksymalne

Maksymalne obcienie
Typ standardowy Skok gwintu wrzeciona: 0,5mm Do okoo 39,227N / 4kgf *
Skok gwintu wrzeciona: 0,1mm/0,25mm Do okoo 19,613N / 2kgf
Strona
Skok gwintu wrzeciona: 0,5mm Do okoo 39,227N / 4kgf
Typ o wysokiej 13
Skok gwintu wrzeciona: 1,0mm Do okoo 58,840N / 6kgf
funkcjonalnoci
Wrzeciono nieobrotowe Do okoo 19,613N / 2kgf
Seria 110 typ z mikro posuwem (z mechanizmem rnicowym) Do okoo 19,613N / 2kgf
* Do okoo 19,613N / 2kgf tylko dla ultra maych modeli

2. Badanie obcienia statycznego gowic mikrometrycznych (do testu uyto 148-104 / 148-103)
(1) Nakrtka zaciskowa (2) Zacisk ze szczelin (3) Uchwyt ze rub dociskow
P
P

ruba
Metoda badania
Nakrtka
Przy zamocowaniu gowic jak na rysunkach
obok mierzona bya sia w kierunku P,
P przy ktrej gowica ulegaa zniszczeniu lub
wypadaa z zamocowania.
(Zakres dokadnoci nie by brany pod uwag
Zacisk ze szczelin podczas badania)

Sposb mocowania Obcienie niszczce / zrywajce*

(1) Nakrtka Uszkodzenie gowicy nastpowao przy 8,63 do 9,8kN (880-1000kgf).
(2) Zacisk ze szczelin Gowica bya wypychana z uchwytu przy 0,69 do 0,98kN (70-100kgf).
(3) Zacisk ze rub Uszkodzenie ruby wystpowao przy 0,69 do 1,08kN (70-110kgf).
* Podane wartoci obcie powinny by traktowane jako przyblione.
 Kompendium metrologii Kontrola jakoci

Nazewnictwo Kocwka pomiarowa Stoek

Strona
14

Wrzeciono Tuleja Bben Grzechotka

Jak odczytywa wynik Bdy pozycjonowania

X
Podziaka 0,005mm Rysunek 1 Rysunek 2
X

(1) Tuleja 35 mm Bben (2)

45

10

(2) Bben 0,015 mm

0

Odczyt 35,015 mm (1) 35

7
6

L
8

L
9
40

Tuleja

: rednica wewntrzna do zmierzenia : rednica wewntrzna do zmierzenia

L: Dugo mierzona z offsetem osiowym X L: Dugo mierzona z offsetem promieniowym X
Zmiany wartoci mierzonych w rnych X: Niedokadno ustawienia w osi X: Niedokadno ustawienia na promieniu
: Bd pomiaru : Bd pomiaru
puntach pomiarowych
45

45 4

1DIV. 0.005mm
: L = 2+X2 : L = 2X2

Przy pomiarach rednicwk typu Holtest, ze

wzgldu na konstrukcj mechanizmu, wartoci Jeli rednicwka mikrometryczna jest podczas pomiaru ustawiona niedokadnie
mierzone kocem kocwki pomiarowej rni o odlego X na promieniu i na osi, jak na rysunku 1 i 2, to pomiar bdzie
45

obciony bdem w sposb przedstawiony na wykresie poniej (krzywe opisuje

4
45

si od tych mierzonych na pozostaej dugoci

1DIV. 0.005mm

kocwki. rwnanie umieszczone powyej). Bd ma warto dodatni przy niedokadnym

Przed pomiarem naley przeprowadzi regulacj ustawieniu w osi, a ujemn przy niedokadnym ustawieniu na promieniu.
punktu pocztkowego pomiaru w tych samych
warunkach.
=200mm
Przy pomiarze kocami kocwek 0.10
(dodatni dla ustawienia osiowego,

pomiarowych naley, wyregulowa punkt

ujemny dla promieniowego) (mm)

Ustawienie 0.09 =500mm

pocztkowy dla pomiaru kocami. Przedmiot pocztku 0.08
0.07
0.06
a
Punkty Airy'ego i Bessela
Bd ustawienia

0.05
0.04 =1000mm
Gdy wzorzec dugoci lub rednicwka dwupunktowa ley poziomo, podparta
0.03
w dwch punktach wygina si pod wasnym ciarem do ksztatu zalenego od
0.02
rozstawu tych punktw. Istniej takie dwie, pokazane poniej odlegoci, ktre
0.01
kontroluj to odksztacenie w uyteczny sposb.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Niedokadne ustawienie (offset) jednej kocwki rednicwki (mm)
Punkty Airy'ego (a 0.577 ) Punkty Bessela (a 0.559 )
rednicwki czujnikowe
a
a rednicwki czujnikowe Mitutoyo do pomiaru maych otworw posiadaj
kocwki o duej krzywinie, umoliwiajcej atwe pozycjonowanie podczas
Kocwki wzorca dugoci (lub rednicwki) mog by dokadnie prostopade do pomiaru rednicy rzeczywistej (w kierunku a-a) otworu. Rzeczywista rednica
osi, jeli podpory s rozstawione symetrycznie jak na rysunku po lewej. Te punkty stanowi minimalne wskazanie zaobserwowane na czujniku zegarowym
podparcia znane s jako Punkty Airry'ego i s powszechnie wykorzystywane podczas koysania rednicwk w sposb pokazany strzak. Kowadeko
Kowadeko
dla zapewnienia rwnolegoci obu kocw
aa Mierzony
Mierzony
Minimalizacj zmiany dugoci pytki (lub rednicwki ) na skutek wygicia przedmiot
przedmiot
uzyskuje si poprzez wykorzystanie rozstawionych symetrycznie punktw
podparcia, jak na rysunku po prawej. Te punkty nazywane s 'Punktami Bessela'
i stosowane s dla dugich rednicwek mikrometrycznych.
a
Bd pomiaru zwizany ze zmianami a'a'
temperatury mikrometru Pytka
Pytkaprowadzca
prowadzca
Kocwka
Kocwkapomiarowa
Aby wyeliminowa jakiekolwiek bdy zwizane z rnic temperatur pomiarowa

mikrometru i mierzonego przedmiotu naley ograniczy przenoszenie ciepa

Zawieszona na sprynie pytka prowadzca dwupunktowej rednicwki
ciaa operatora na mikrometr. Jeli podczas pomiaru mikrometr ma by
czujnikowej Mitutoyo zapewnia automatyczne ustawienie na promieniu,
trzymany w doni, naley uywa rkawiczek lub okadki termoizolacyjnej.
dziki czemu wymagane jest jedynie znalezienie odczytu minimalnego
(rednicy rzeczywistej) poprzez wykonywanie ruchw koyszcych w osi.
Kompendium metrologii Suwmiarki

Nazewnictwo
Suwmiarka noniuszowa
Powierzchnie do pomiarw wewntrznych ruba, ustawianie klina suwaka
Powierzchnie do pomiaru Klin suwaka, suwak
rnicy dugoci ruba blokujca Gbokociomierz
ruba, docisk klina suwaka Strona
Blokada przesuwna
Prowadnica 15

Szczki wewntrzne

Szczki zewntrzne Skala gwna Powierzchnie do pomiaru

Zacisk kciukowy
Powierzchnia robocza gbokoci

Noniusz
Zewntrzne powierzchnie pomiarowe Suwak

Suwmiarka Absolute Digimatic

Powierzchnie do pomiarw wewntrznych
Powierzchnie do pomiarw Suwak ruba blokujca
rnicy dugoci
Zcze wyjciowe
Prowadnica Gbokociomierz

Szczki wewntrzne

Szczki zewntrzne Skala gwna Powierzchnia robocza Powierzchnie do

Rolka dojazdowa pomiaru gbokoci
Przycisk ZERO Set/ABSOLUTE

Zewntrzne powierzchnie
pomiarowe
Jak odczytywa wyniki Przykady pomiarw
Suwmiarki noniuszowe Suwmiarki czujnikowe 1. Pomiar zewntrzny 2. Pomiar wewntrzny

0
Skala gwna 90 10

(1)
80 20
0
(2)
0 10 20 30 40
90 10
0.01mm
80 20 70 505-666
30
70
MADE IN JAPAN

0.01mm 60 40
70 30 50
0 10

60
505-666
MADE IN JAPAN

40
(2) 70 80

50

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Skala gwna
Skala tarczy czujnika 3. Pomiar rnicy dugoci 4. Pomiar gbokoci
Skala noniusza

Podziaka 0,05mm Podziaka 0,01mm

(1) Odczyt ze skali gwnej 4,00 mm (1) Odczyt ze skali gwnej 16 mm
(2) Odczyt ze skali noniusza 0,75 mm (2) Odczyt z tarczy czujnika 0,13 mm
Odczyt z suwmiarki 4,75 mm Odczyt z suwmiarki czujnikowej 16,13 mm

Uwaga) Pozostae 0,75 mm (2) jest odczytywane w pozycji, gdzie kreska podziaki gwnej pokrywa si z kresk noniusza.

Przykady stosowania suwmiarek specjalnych

Szczki
Howpunktowe
to Read the Szczka
Scale przesuwna Gbokociomierz Szczki ostrzowe Szczki do podci Szczki do rur
Vernier Calipers Dial Calipers
0
(1) 90 10
0 10 20 30 40 50 60 70 80 20
(1) (1) 90
0
10
0.01mm
(2)
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 80 20 70 505-666
30
70
MADE IN JAPAN
0 10 20 30 40 50 60 70 0.01mm 60 40
70 30 50
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
(2) 0 10

60
505-666
MADE IN JAPAN

40
(2) 70 80

50

(2) Main scale

Po pomiarw nierwnych Do pomiarw odlegoci Main scale
Do pomiarw gbokoci Do pomiarw rednic w Do pomiarw rednic Do pomiarw gruboci
powierzchni powierzchni przesunitych
Vernier scale wskich rowkach
Dial face zewntrznych powierzchni cianek rur
odsadzonych

Graduation 0.05mm Graduation 0.01mm

(1) Main scale 16 mm (1) Main scale 16 mm
(2) Vernier 0.15 mm (2) Dial face 0.13 mm
Reading 16.15 mm Reading 16.13 mm
 Typy noniuszy Pomiar maych otworw standardow suwmiark
Skala noniusza umieszczona jest na suwaku suwmiarki, a kada dziaka tej Podczas pomiarw rednic maych otworw powstaje bd strukturalny d.
skali jest o 0,05mm krtsza od dziaek skali gwnej 1mm. Oznacza to, e w
miar rozsuwania szczk suwmiarki kade kolejne przemieszczenie o 0,05mm D : Prawdziwa rednica wewntrzna
powoduje pokrywanie si kolejnych kresek podziaki noniusza i podziaki gwnej, d : Odczytana rednica wewntrzna
wskazujce liczb jednostek 0,05mm do dodania do odczytu skali gwnej (mimo, d: Bd pomiaru (D d)
i podziaka dla wygody jest wyskalowana w uamkach mm). Skala noniusza moe
by rwnie wykonana w taki sposb, e jego poszczeglne dziaki bd krtsze o
0,05mm od dwch dziaek skali gwnej, co powoduje podwojenie jego dugoci. Prawdziwa rednica wewntrzna (D:5mm)
Taki noniusz jest atwiejszy do odczytu, ale zasada dziaania i podziaka pozostaj
H 0.3 0.5 0.7
bez zmian.
Strona Noniusz standardowy Noniusz dugi d 0.009 0.026 0.047
16 (podziaka 0,05mm) (podziaka 0,05mm)

0 10 20 30 40 30 40 50 60 70

0.05mm

H
0 2 4 6 8 10 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

19 39

Odczyt 1,45mm Odczyt 30,35mm d

D

Suwmiarki dugie Pomiar wewntrzny suwmiark o szczkach

Do mniej dokadnych pomiarw duych przedmiotw stosuje si zwykle linijki pwakowych
stalowe, ale jeli wymagana jest wiksza dokadno, bardziej odpowiednie s
W zwizku z tym, e powierzchnie pomiarowe szczk do pomiarw wewntrznych
dugie suwmiarki. Dugie suwmiarki s bardzo wygodne w uyciu, ale wymagaj
znajduj si na kocach szczk, ich rwnolego silnie zaley od nacisku
pewnej ostronoci przy uytkowaniu. Po pierwsze trzeba sobie zda spraw,
pomiarowego, a to z kolei stanowi istotny czynnik wpywajcy na uzyskiwan
e nie istnieje zaleno pomidzy rozdzielczoci a dokadnoci. Szczegw
dokadno pomiaru.
naley szuka przy odpowiednich produktach w katalogu. Rozdzielczo jest
staa, podczas gdy uzyskiwana dokadno zmienia si w sposb dramatyczny w W przeciwiestwie do suwmiarek standardowych, suwmiarki o szczkach
pwakowych nie mog mierzy rednic maych otworw ze wzgldu

t2
zalenoci od sposobu uywania suwmiarki.
Metoda pomiaru za pomoc tego przyrzdu ma due znaczenie w zwizku ze na ograniczenie rozmiarem kocwek szczk. Nie jest to jednak wielka

t1
znacznym bdem pomiaru jaki generuj odksztacenia prowadnicy. Tak wic niedogodno, jako e ten typ suwmiarek nie suy do pomiaru maych otworw.
Promie krzywizny powierzchni pomiarowych umoliwia poprawny pomiar rednic

dokadno pomiaru w znacznym stopniu zaley od sposobu podparcia suwmiarki
podczas pomiaru. Naley rwnie stara si nie wywiera zbyt duego nacisku
przy pomiarze szczkami zewntrznymi, jako e stanowi one najbardziej
oddalon od prowadnicy cz suwmiarki i jako takie powoduj najwiksze bdy
pomiaru.
C
wewntrznych a do dolnej granicy zakresu pomiarowego (rednica kocwek
zamknitych szczk).
Suwmiarki pwakowe Mitutoyo wyposaone s w dodatkowy noniusz d do
pomiarw wewntrznych, umoliwiajcy bezporedni odczyt wartociD pomiaru
bez potrzeby przeliczania wyniku. Ta uyteczna cecha eliminuje moliwo
popenienia bdu wystpujcego przy dodawaniu poprawki dla pomiaru
szczkami wewntrznymi suwmiarki o pojedynczym noniuszu.
Tylko pomiary wewntrzne

Tylko pomiary zewntrzne

 Oglne uwagi do stosowania suwmiarek
1. Potencjalne przyczyny wystpowania bdw
Podczas pomiarw suwmiark rnorodne czynniki mog powodowa
wystpowanie bdw pomiaru. Do gwnych czynnikw nale: efekt paralaksy,
nadmierny nacisk pomiarowy zwizany z niespenianiem przez suwmiark zasady
Abbego, rnicowa rozszerzalno termiczna zwizana z rnic temperatur
suwmiarki i mierzonego przedmiotu oraz efekt gruboci szczk noowych i luz
pomidzy tymi szczkami podczas pomiaru rednic maych otworw. Chocia
wystpuj rwnie inne czynniki, takie jak dokadno wykonania podziaki,
prostoliniowo krawdzi odniesienia, pasko skali gwnej oraz prostopado
szczk do prowadnicy, czynniki te s ju uwzgldnione w bdzie granicznym
przyrzdu. Dlatego te nie powoduj one problemw tak dugo, jak suwmiarka
mieci w si w tolerancji bdu przyrzdu. Bardzo wane s wskazwki dla
uytkowania, gdy umoliwiaj uytkownikowi uwzgldnienie czynnikw bdw
zwizanych z budow przyrzdu przed jego uyciem. Wskazwki te odnosz si do
nacisku pomiarowego i informuj, e w zwizku z tym, e suwmiarka nie posiada
urzdzenia do wytwarzania staego nacisku pomiarowego, przedmiot naley
mierzy z odpowiednim i rwnomiernym naciskiem pomiarowym. Szczeglnie
ostronie naley mierzy podstawami lub kocwkami szczk poniewa pomiar w
taki sposb moe by obciony duym bdem.
L Skala gwna suwmiarki jest wygrawerowana na (lub przymocowana do)
D
L < D
2. Pomiar wewntrzny
Przed pomiarem naley woy szczki tak gboko, jak to moliwe.
Przy pomiarze wewntrznym naley odczyta maksymalne wskazanie.
Przy pomiarze szerokoci rowka naley odczyta minimalne wskazanie.
3. Pomiar gbokoci
Przy pomiarze gbokoci naley odczytywa wskazanie minimalne.
4. Bd paralaksy podczas odczytw ze skal
Podczas sprawdzania pokrywania si kresek podziaki gwnej i noniusza naley
patrze prostopadle na podziak noniusza.
A podziaki noniusza pod ktem (A), zaobserwowana pozycja
Jeli patrzy si na kreski
A
pokrycia si kresek jest, jak pokazano na rysunku poniej, zafaszowana o warto
X ze wzgldu na efekt paralaksy spowodowany rnic wysokoci (H) pomidzy
paszczyznami podziaki noniusza i skali gwnej, powodujcy bd odczytu wartoci
B
mierzonej.
H
H
f
f
A Po uyciu suwmiarki, naley zetrze z niej wszelkie pozostaoci wody i oleju.
X
5. Bd przechyu ruchomej szczki
Jeli ruchoma szczka ulegnie przechyleniu od pooenia rwnolegego w
stosunku do szczki staej, albo na skutek nadmiernego nacisku wywieranego
na suwak, albo braku prostoliniowoci krawdzi roboczej prowadnicy, to wystpi
bd pomiaru, co pokazano na rysunku poniej. Bd ten moe by znaczcy ze
wzgldu na fakt, e suwmiarka nie spenia zasady Abbego.
f=h =ha/
a
h
Strona
17
h
f
Przykad: Zamy, e niepodane nachylenie szczk z powodu przechylenia suwaka wynosi 0,01mm na
50mm a szczki do pomiarw zewntrznych maj dugo 40mm, std bd (na kocwkach
szczk) wynosi: (40/50)x0,01mm = 0,008mm.
Jeli powierzchnie robocze s zuyte, to bd moe wystpowa nawet przy wywieraniu
poprawnego nacisku pomiarowego.
6. Zaleno pomidzy pomiarem a temperatur
prowadnicy ze stali nierdzewnej i pomimo, i wspczynnik liniowej rozszerzalnoci
termicznej jest zbliony do wspczynnika najczciej stosowanych materiaw
mierzonych przedmiotw jak stal, itp. (10,2 1) 10-6 / K, naley pamita o
tym, e temperatura otoczenia i temperatura mierzonego przedmiotu z innego
materiau mog wpywa na dokadno.
7. Uytkowanie
Szczki suwmiarek s ostre, i dlatego przyrzd musi by uytkowany z
zachowaniem naleytej ostronoci, aby unikn zranienia.
Naley unika uszkodzenia skali suwmiarki cyfrowej i nie grawerowa na niej
numerw identyfikacyjnych ani adnych innych informacji.
Naley unika uszkodzenia suwmiarki przez wystawianie jej na uderzenia
twardymi obiektami lub upuszczanie na st czy podog.
8. Utrzymanie powierzchni lizgowych i pomiarowych
Przed uyciem suwmiarki naley zetrze wszelki py i brd z powierzchni lizgowych i
pomiarowych za pomoc suchej ciereczki.
9. Sprawdzanie i ustawianie zera przed uyciem
Naley oczyci powierzchnie pomiarowe poprzez powolne wyciganie z
zacinitych szczk czystego arkusza papieru. Przed uyciem suwmiarki naley
zsun szczki suwmiarki i upewni si ze odczyt z noniusza (lub z wywietlacza)
wynosi zero. W przypadku suwmiarki cyfrowej po wymianie baterii naley j
wyzerowa (przycisk ORIGIN).
Przycisk ORIGIN zeruje odczyt
ORIGIN
Szczki zsunite Bateria
do koca
10. Postpowanie po uyciu
Nastpnie, naley j lekko natrze olejem antykorozyjnym i pozostawi do
wyschnicia przed umieszczeniem jej w miejscu przechowywania.
ciera wod z suwmiarek wodoodpornych, gdy rwnie one mog rdzewie.
11. Uwagi do przechowywania
Podczas przechowywania unika wystawiania na bezporednie dziaanie wiata
sonecznego, wysokich temperatur, niskich temperatur oraz wysokiej wilgotnoci.
Jeli suwmiarka cyfrowa nie ma by uywana przez okres duszy ni trzy miesice,
naley usun z niej baterie. Nie zostawia szczk zupeenie zamknitych.
 Kompendium metrologii Wysokociomierze

Nazewnictwo
Wysokociomierz suwmiarkowy Wysokociomierz z licznikiem mechanicznym
Strona Rozpora
18 Pokrto zerowania skali gwnej
Prt gwny
Prowadnica
Prt pomocniczy
Kolumna
Powierzchnia robocza prowadnicy
Skala gwna
Dwignia blokady

Pokrto posuwu Przycisk Reset

Pokrto dojazdu precyzyjnego
Suwak Licznik, w gr
Suwak Zacisk
Kocwka pomiarowa i
traserska Licznik, w d
Skala noniusza Blokada
Zacisk kocwki Wskazwka
Zacisk kocwki
Kocwka pomiarowa Tarcza czujnika
i traserska Przeduacz kocwki Kocwka
Kocwka traserska traserska
Powierzchnia pomiarowa
Powierzchnia pomiarowa kocwki
kocwki
Uchwyt Uchwyt

Powierzchnia robocza prowadnicy Powierzchnia bazowa podstawy Podstawa

Powierzchnia bazowa podstawy Podstawa

Wysokociomierze Digimatic
Rozpora

Prt gwny
Kolumna
Prt pomocniczy

Przycisk trybu ustawie, rednicy kulki

trybu kompensacji
Pokrto posuwu
Suwak Wcznik zasilania
Przycisk Zero set/ ABS (Absolute)
Zcze sondy stykowej
Kocwka pomiarowa i Wyjcie danych
traserska Przycisk Hold / data
Pokrywa baterii
Zacisk kocwki Liczba w gr / w d, ustawienia

Zmiana kierunku / przesunicie cyfr,

Kocwka traserska ustawienia

Powierzchnia pomiarowa kocwki

Uchwyt

Podstawa
Powierzchnia bazowa
podstawy

Pokrto posuwu Dwignia blokady suwaka Ergonomiczna podstawa

 Jak odczytywa wskazania
Wysokociomierz suwmiarkowy 6
Wysokociomierz z licznikiem mechanicznym
Pomiar w gr od powierzchni odniesienia
11
5

Kocwka traserska
7
10
6 3
11

Licznik 122 mm
5
2 9
4 0
10 0
1 90 10

Tarcza 0.11 mm
10 90
3

0
1 2 2 mm
80 20 0.01mm 80 20
2 9

Odczyt 122.11 mm
1
122.11 70 30 70
30
0
(1) 7

60
40
50
60
40 8 7 8 mm
50
7

Skala gwna Powierzchnia odniesienia Strona

Skala noniusza
19
Pomiar w d od powierzchni odniesienia
Podziaka 0,02mm
Powierzchnia odniesienia
(1) Skala gwna 79 mm Licznik 124 mm
(2) Noniusz 0,36 mm
0
90 0 10
10 90

8 7 5 mm
Tarcza 0.11 mm
80 20 0.01mm 80 20

Odczyt 79,36 mm 124.11

Odczyt 124.11 mm
70 30 70
30

40 60
60 40 1 2 4 mm

Kocwka
50
50

Oglne uwagi do uytkowania wysokociomierzy traserska

1. Potencjalne przyczyny bdw 4. Zaleno pomidzy dokadnoci a temperatur

Tak jak w przypadku suwmiarek, czynniki wpywajce na powstawanie bdw
to efekt paralaksy, nadmierny nacisk pomiarowy zwizany z niespenianiem przez
przyrzd zasady Abbego, rnicowa rozszerzalno termiczna zwizana z rnic otoczenia i temperatury przedmiotu mog wpywa na dokadno pomiaru.
temperatur wysokociomierza i mierzonego przedmiotu.
Istniej rwnie inne czynniki powodujce powstawanie bdw wynikajce z
budowy wysokociomierza. W szczeglnoci s to, opisane poniej, czynniki
zwizane ze skrceniem krawdzi odniesienia i mocowaniem kocwki.
2. Skrcenie kolumny i mocowanie kocwki pomiarowej
Tak jak w przypadku suwmiarki, jak to pokazano na rysunku poniej, bdy
powstaj przy uywaniu wysokociomierza, ktrego kolumna prowadzca suwak
jest skrcona. Bd ten opisuje ten sam wzr, ktry jest stosowany do obliczania
bdw wynikajcych z niespenienia zasady Abbego.
f =h =ha
Wysokociomierze wykonuje si z rnego rodzaju materiaw. Naley mie na
uwadze, e niektre kombinacje materiau mierzonego przedmiotu, temperatury
Ten niekorzystny wpyw eliminuje si poprzez wprowadzanie poprawek.
5. Krawd kocwki traserskiej jest ostra, i dlatego przyrzd musi by
uytkowany z zachowaniem naleytej ostronoci, aby unikn zranienia.
6. Aby nie uszkodzi skali wysokociomierza cyfrowego nie naley grawerowa na
niej numerw identyfikacyjnych ani innych informacji.
7. Naley uwaa, aby nie upuci wysokociomierza ani niczym w niego lub nim
nie uderzy.

h Wskazwki dla uytkowania wysokociomierzy

1. Kolumna, po ktrej przesuwa si suwak powinna by utrzymywana w czystoci.
f

h Jeli py i brd bd si na niej gromadzi, mog utrudni posuw suwaka,

l

prowadzc do bdw ustawie i pomiarw.

a 2. Podczas trasowania, naley zabezpieczy pozycj suwaka przy uyciu rnego
f

h rodzaju blokad, w ktre wyposaony jest wysokociomierz. Zaleca si, aby

l

sprawdza ustawienie po zablokowaniu pozycji, poniewa w przypadku

Przy instalacji kocwki pomiarowej (lub czujnika dwigniowo-zbatego) a
wymagana jest szczeglna ostrono,
h
poniewa ma ona wpyw na warto bdu
spowodowanego skrceniem kolumny wysokociomierza poprzez zwikszanie
wymiaru h w powyszym rwnaniu. Innymi sowy, im dusza jest niestandardowa
kocwka pomiarowa lub czujnik dwigniowo-zbaty, tym wikszy jest bd
pomiaru.
Przykad: Efekt pozycji pomiaru punktu
Gdy h rwna si 150 mm, bd jest 1,5 raza
wikszy ni, gdy h rwna si 100h mm.
h
3. Odrywanie si podstawy od powierzchni odniesienia
Jeli podczas ustawiania kocwki pomiarowej na stosie
pytek wzorcowych lub elemencie mierzonego przedmiotu
na suwak wywierana jest zbyt dua sia, podstawa
moe si unie ponad pyt pomiarow, co powoduje
powstawanie bdw pomiaru. W celu przeprowadzenia
poprawnego ustawienia naley przesuwa suwak
powoli w d, dosuwajc i odsuwajc kocwk od
powierzchni pytki wzorcowej (lub przedmiotu). Poprawne
ustawienia ma miejsce, gdy poczuje si lekkie zetknicie
kocwki podczas jej przemieszczania nad krawdzi
mierzonej powierzchni. Koniecznie naley si te
upewni, e powierzchnia pyty oraz bazowa podstawy
wysokociomierza wolne s od pyu czy wirw.
niektrych wysokociomierzy czynno blokowania moe lekko zmienia
ustawion pozycj. Jeli ma to miejsce, naley ustali dopuszczalno takich
zmian.
3. Rwnolego pomidzy powierzchni pomiarow kocwki traserskiej a
powierzchni bazow podstawy powinna by 0,01 mm lub lepsza.
Przed instalacj kocwki traserskiej lub czujnika dwigniowo-zbatego naley
usun wszelkie zanieczyszczenia z powierzchni montaowych. Kocwka i
inne czci powinny by w sposb pewny zamocowane podczas pomiaru.
4. Jeli skala gwna wysokociomierza moe by przesuwana, po wykonaniu
przesunicia w celu zerowania, naley pewnie dokrci nakrtki mocujce.
5. Bdy paralaksy nie s nieznaczce, dlatego podczas odczytu wartoci naley
patrze prostopadle na podziak.
6. Po uyciu zetrze z przyrzdu wszelkie pozostaoci wody i oleju. Nastpnie
lekko natrze olejem antykorozyjnym i pozostawi do wyschnicia przed
umieszczeniem w miejscu przechowywania.
7. Uwagi na temat przechowywania:
Podczas przechowywania wysokociomierza naley unika wystawiania go
na bezporednie dziaanie wiata sonecznego, wysokich temperatur, niskich
temperatur oraz wysokiej wilgotnoci.
Jeli wysokociomierz cyfrowy nie ma by uywany przez okres duszy ni trzy
miesice, naley usun z niego baterie.
Jeli wysokociomierz wyposaony jest w ochronny pokrowiec, naley go
zaoy, aby unikn przylegania kurzu do kolumny.
 Kompendium metrologii Pytki wzorcowe

Definicja metra
Na 17 Oglnej Konferencji Miar i Wag w roku 1983 postanowiono o
nowej definicji metra jako jednostce miary. Postanowiono, e metr jest
to droga jak przebywa wiato w prni w przedziale czasu 1/299 792
458 sekundy. Pytka wzorcowa stanowi praktyczn realizacj tej jednostki
Strona
20 i jako taka jest szeroko stosowana w przemyle.
a. Skadanie grubych b. Skadanie grubej i c. Skadanie kilku cienkich
Doskonae skadanie pytek wzorcowych pytek wzorcowych cienkiej pytki wzorcowej pytek wzorcowych

Skadanie powinno by zawsze wykonywane w czystym miejscu na

mikkiej podkadce - w przypadku wypadnicia z doni pytka nie
ulegnie uszkodzeniu.

Naley zetrze warstw oleju z pytek wzorcowych przy uyciu mikkiej Uoy jeden koniec cienkiej Aby zapobiec wyginaniu si
Ustawi pytki wzorcowe pod pytki wzorcowej na kocu cienkich pytek, naley najpierw
ciereczki i eteru. katem 90, czc je na ich grubej pytki. zewrze pierwsz cienk pytk
rodkach. z grub
Po tym "zgrubnym" czyszczeniu powierzchnie oczyci za pomoc
pdzelka kosmetycznego nasczonego eterem, a nastpnie oczyci

23
mm
podmuchem powietrza.

23701534
14
mm

237015
Nigdy nie naley uywa do czyszczenia alkoholu ani zwykej benzyny.
Zwyka benzyna zawiera zbyt wiele zanieczyszcze, a alkochol zawsze Obraca pytki wzgldem Przesuwa cienk pytk
siebie pod niewielkim wzorcow, naciskajc cay
zawiera troch wody, ktra powoduje korozj. naciskiem. Zwieranie si pytek pokrywajcy si obszar tak,
Nastpnie zewrze kolejn
cienk pytk z pozostaymi,
powinno by wyczuwalne. aby na kocu ustawione byy zoonymi.
rwnolegle.
Najodpowiedniejsze do czyszczenia s ciereczki z mikrofibry.

Sprawdzi czy na czyszczonej pytce nie ma rdzy ani zadrapa. 23

mm
14
mm

1237690
12376

Jeli na powierzchni pomiarowej wystpuj jakiekolwiek zadziory,

naley je ostronie usun za pomoc Cerastone, specjalnego bloku Ustawi pytki rwnolegle do Na koniec usun grub
siebie. pytk wzorcow ze stosu.
ciernego dla pytek wzorcowych. Pytk wzorcow naley przesuwa
po powierzchni bloku ciernego wywierajc bardzo niewielki nacisk.
Przyoy pytk interferencyjn pask do
W przypadku, gdy pomimo dobrego stanu powierzchni pomiarowych powierzchni cienkiej pytki, by sprawdzi
poprawno zoenia pytek.
pytki nie przywieraj do siebie, mona je potrze wat medyczn
- jej oleiste skadniki zapewni cienk warstw oleju poprawiajca
przywieralno powierzchni pomiarowych.

Nieregularne
Czas stabilizacji temperaturowej prki interferencyjne

Poniszy rysunek demonstruje stopie zmiany dugoci pytki wzorcowej o

dugoci 100 mm przy trzymaniu jej go doni.
Czas kiedy pytka przestaje by trzymana pacami
9
m 3
2
m

8
0
9
6
7

Pytka wzorcowa jest trzymana picioma palcami.

3
2
1

7
Wyduenie (m)

6
5 Pytka wzorcowa jest trzymana trzema palcami.
4
3
2
Przetrze odkryte powierzchnie pomiarowe i kontynuowa skadanie
stosu pytek wzorcowych, w taki sam sposb jak dotychczas, a do
1 ukoczenia procesu skadania.
5 10 20 30 40 50 60 70
Upyw czasu (minuty)
Kompendium metrologii Czujniki zegarowe

Nazewnictwo
Nakrtka
Zacisk piercienia

Strona
Wskanik zakresu 21

Wskazwka
Piercie

Licznik obrotw

Tuleja chwytowa

Trzpie pomiarowy

Kocwka pomiarowa

Tarcze czujnikw

0,01mm 0,001mm

Skala jednokierunkowa Skala dwukierunkowa Skala jednokierunkowa Skala dwukierunkowa

(Podwjna, dla obu kierunkw) (Wieloobrotowa) (Standardowa szeroko dziaek) (Wieloobrotowa)

Skala jednokierunkowa Skala dwukierunkowa Skala jednokierunkowa Dwukierunkowa (Jednoobrotowa)

(Odczyt odwrotny) (Jednoobrotowa) (Podwjna szeroko dziaek)

Skala ciga: Do odczytu bezporedniego

Skala dwukierunkowa: Do odczytu rnicy pooenia od powierzchni odniesienia
Skala odwrcona: Do pomiaru gbokoci i do stosowania w rednicwkach
Skala jednoobrotowa: Do bezbdnego odczytu maych rnic wymiarw
 Mocowanie czujnika zegarowego

Zaciskanie bezporednio na Zaciskanie na tulei

tulei za pomoc ruby uchwytu ze szczelin
Metoda cej
b wi
m lu
8m
Mocowanie
na tulei
Tolerancja otworu montaowego: 8G7(+0,005 do 0,02)
ruba dociskowa: M4 do M6
Strona Pozycja zaciskowa: 8mm lub dalej od dolnej krawdzi tulei chwytowej
Uwaga Tolerancja otworu montaowego: 8G7(+0,005 do 0,02)
Maksymalny moment dokrcajcy: 150Ncm przy zaciskaniu rub M5
22 Nadmierny moment dokrcajcy moe negatywnie wpywa na ruch
trzpienia w tulei.
ruba M6

Podkadka paska

Metoda
Mocowanie
na uchu

Pooenie ktowe uch moe by zmieniane o 90 stopni zalenie od zastosowania. (Czujnik jest dostarczany z uchem ustawionym poziomo.)
Uwaga W przypadku niektrych modeli serii 1 (Nr1911,1913-10 i 1003) nie mona zmienia pozycji ucha na poziom.
Aby unikn bdu kosinusa upewni si, e dowolnego typu czujnik zamontowany jest tak, e jego trzpie jest w osi planowanego kierunku pomiaru.

Kocwka pomiarowa 5
Trzpie pomiarowy

ruba kocwki ma standardowy gwint M2.5x0.45 (Dugo: 5mm).

Przy wytwarzaniu kocwki pomiarowej dugo sekcji bez gwintu u podstawy
M2.5 0.45 M2.5 0.45, gboko 7mm
ruby powinna by mniejsza ni 0,7 mm. Cz bez gwintu powinna 3 otwr montaowy, gboko 1mm
by krtsza ni 0,7mm

Wpyw orientacji na nacisk pomiarowy

Pozycja Uwagi

1 0 9
2 8
3 7
4 5 6

Kocwka pomiarowa do dou

(pozycja normalna)

Podoe
7
8
1 0 9

4 5 6
3
2

Trzpie poziomo
(pozycja boczna)
Podoe
Jeli pomiar jest wykonywany przy poziomej orientacji wrzeciona lub kocwce
pomiarowej zwrconej ku grze, nacisk pomiarowy jest mniejszy ni kiedy
kocwka jest zwrcona do dou. W takim przypadku naley sprawdzi
poprawno dziaania i powtarzalno pomiarw takim czujnikiem.
7
8
4 5 6
3
2
Informacji dotyczcych uytkowania czujnikw w okrelonych orientacjach naley
szuka opisach produktw katalogu gwnego Mitutoyo.
1 0 9

Kocwka pomiarowa do gry

(pozycja odwrcona)

Podoe

Zerowanie czujnika cyfrowego Konserwacja trzpienia pomiarowego

Parametry czujnika cyfrowego nie s gwarantowane w
zakresie 0,2 mm od koca zakresu posuwu. Podczas
zerowania lub ustawiania wartoci pocztkowej naley
upewni si, e trzpie pomiarowy jest uniesiony o co
najmniej 0,2 mm od koca zakresu posuwu.
0.2mm
Nie smarowa trzpienia. Takie dziaanie moe powodowa gromadzenie si na
nim pyu, powodujc nieprawidowe dziaanie przyrzdu.
Jeli posuw trzpienia jest niezadowalajcy naley przetrze grn i doln cz
jego powierzchni za pomoc suchej lub nasczonej alkoholem ciereczki.
Jeli przemieszczenie trzpienia pomiarowego bdzie nadal niezadowalajce,
naley si skontaktowa z biurem Mitutoyo w celu naprawy.
Przed przystpieniem do pomiaru czy kalibracji naley upewni si, e trzpie

przemieszcza si gadko w gr i w d oraz, e punkt zerowy jest stabilny.

0.2mm
 Czujniki dwigniowo-zbate i efekt kosinusa
Zawsze naley minimalizowa kt pomidzy kierunkami ruchu podczas pomiaru.
Odczyt z dowolnego czujnika dwigniowo-zbatego nie reprezentuje dokadnego
Kierunek ruchu przedmiotu Kierunek ruchu przedmiotu pomiaru, jeli kierunek pomiaru jest niezgodny z planowanym kierunkiem pomiaru
Kierunek ruchu
kocwki
Kierunek ruchu
kocw L1 : Wynik
(efekt kosinusa). Poniewa kierunek pomiaru czujnika dwigniowo-zbatego jest
prostopady do linii poprowadzonej od kocwki pomiarowej do rodka obrotu

L1
pomiaru

L2
L2 : Odczyt
L1=L2Cos kocwki, efekt ten mona zminimalizowa ustawiajc kocwk tak, aby kt
(pokazany na rysunkach) by jak najmniejszy. Jeli to konieczne odczyt z czujnika
moe by kompensowany dla aktualnej wartoci przy uyciu poniszej tabeli.
Wynik pomiaru = wskazywana warto x wspczynnik kompensacji Strona
Kompensacja dla kta niezerowego 23
Kt
Wspczynnik Przykady
kompensacji
Jeli czujnik pokazuje warto 0,200mm dla rnych
10 0.98 wartoci , uzyskuje si rne wartoci zmierzone:
20 0.94 Dla = 10, 0,200mm.98 = 0,196mm
30 0.86 Dla = 20, 0,200mm.94 = 0,188mm
40 0.76 Dla = 30, 0,200mm.86 = 0,172mm
50 0.64
60 0.50
Uwaga: Przy stosowaniu specjalnej kocwki o ksztacie ewolwenty kompensacja przebiega automatycznie, bez
potrzeby rcznej kompensacji dla od 0 do 30. (Ten typ kocwki jest wykonywany na zamwienie.)
 Kompendium metrologii Gowice pomiarowe Linear Gage

Gowica Wywietlacz
Tuleje gadkie i z nakrtk Zerowanie
Tuleje wykorzystywane do mocowania gowic Linear Gage dziel si na "tuleje Warto wywietlacza mona ustawi na zero w kadej pozycji wrzeciona.
gadkie" i "tuleje z nakrtk", patrz ilustracja poniej. Tuleja z nakrtk umoliwia
Strona szybkie i bezpieczne mocowanie gowicy. Zalet tulei gadkiej jest szerszy zakres
24 zastosowa oraz moliwo niewielkiej zmiany pozycji w kierunku osi w ostatniej
fazie instalacji, mimo i takie mocowanie wymaga zastosowania uchwytu ze
szczelin lub kleju. Nie naley wywiera zbyt duego nacisku na tulej przy 0.000
zaciskaniu. 0.000 0.000

Ustawianie wartoci wstpnej Preset

Istnieje moliwo przypisania pooeniu wrzeciona okrelonej wartoci, co
daje moliwo poszerzenia zakresu pomiaru.

Tuleja z nakrtk
Tuleja gadka
Nacisk pomiarowy 1.234 123.456

Jest to, wyraona w newtonach, sia wywierana przez kocwk pomiarow na

przedmiot podczas jego pomiaru na kocu zakresu posuwu. Zamiana kierunku pomiaru
Kierunek zliczania dla przemieszczenia wrzeciona przy pomiarze mona
Pomiar komparatorowy ustawia na dodatni (+) lub ujemny (-).
Metoda pomiaru, gdzie wymiar przedmiotu znajdowany jest jako rnica
wymiarw mierzonego przedmiotu i wzorca dugoci reprezentujcego wymiar /
nominalny. Paszczyzna bazowa

Oznaczenie klasy ochronnoci IP

Klasa ochronnoci IP54
Typ
Ochrona ludzkiego ciaa i przed
wnikaniem cia obcych
Ochrona przed dziaaniem
wody
Poziom Opis Ustawianie MAX, MIN i TIR
5 : Ochrona przed Zabezpieczenie przez szkodliwym
pyem dziaaniem pyu
Podczas pomiaru modu wywietlacza moe utrzymywa warto maksymaln
(MAX) i minimaln (MIN) oraz warto maksymalnej rnicy wskaza MAX-MIN.
4 : Odporno na
Spryskanie obudowy wod z kadego kierunku nie
zachlapanie
powinno mie negatynego wpywu.

Klasa ochronnoci IP66 Warto bicia (TIR) = MAX - MIN

=
Typ Poziom Opis
MAX
Ochrona ludzkiego ciaa i przed Zabezpieczenie przed wnikaniem pyu
6 : Pyoszczelno
wnikaniem cia obcych Pena ochrona przed kontaktem
MIN

Ochrona przed dziaaniem Strumie wody na obudow z kadej strony nie

6 : Wodoodporno
wody powinien mie negatynego wpywu.
Ustawianie tolerancji
Wywietlacze umoliwiaj ustawienie wartoci tolerancji dla automatycznej
Zalecenia dla montau Linear Gage oceny czy zmierzony wymiar mieci si tych granicach czy nie.
Woy tulej gowicy do uchwytu montaowego przyrzdu pomiarowego lub
statywu i dokrci rub mocujc.
Wyjcie typu otwarty kolektor
Naley pamita, e zbyt mocne dociskanie tulei moe spowodowa problemy Kolektor wewntrznego tranzystora, ktry sam wysterowany jest na przykad
przy posuwie wrzeciona. wynikiem oceny tolerancji, moe wysterowa zewntrzne obcienie, takie jak
Nigdy nie uywa sposobu mocowania, gdzie tuleja jest zaciskana przez przekanik lub ukad logiczny.
bezporedni kontakt ze rub.
Nigdy nie mocowa Linear Gage za inn cz tuleja. Wyjcie przekanikowe
Montowa gowic w kierunku planowanego pomiaru. Mocowanie pod innym Wyjcie sygnau o stanach zwarty lub rozwarty.
ktem bdzie powodowa bdy pomiaru.
Zadba o to, aby nie wywiera siy na gowic poprzez kabel. Sygna Digimatic
Zalecenia dla montau Laser Hologage Protok komunikacyjny sucy do czenia przyrzdw pomiarowych z rnego
typu urzdzeniami Mitutoyo do przetwarzania danych pomiarowych.
W celu zamocowania gowicy Laser Hologage, naley woy jej tulej do Umoliwia on podczenie do Mini Procesora Digimatic DP-1VR, sucego do
dedykowanego statywu lub uchwytu. wykonywania rnego rodzaju oblicze statystycznych i tworzenia histogramw. itp.
Tuleja ruba zaciskajca Tuleja ruba dociskowa
Wyjcie BCD
System do przesyania i rejestracji danych w binarnej notacji cyfr dziesitnych.
Wyjcie RS-232C
Zacisk Zacisk Interfejs do komunikacji szeregowej, ktry umoliwia dwukierunkow
Zalecane rednice otworw po stronie mocowania: 15mm +0,034/-0,014
transmisj danych zgodnie ze standardami EIA.
Wykona otwr montaowy w taki sposb, aby jego o bya rwnolega do Procedura transmisji opisana jest w specyfikacji kadego przyrzdu
kierunku pomiaru. Mocowanie pod ktem powoduje bdy pomiaru.
pomiarowego.
Nie wywiera zbyt duego nacisku na tulej Laser Hologage przy montau.
Zbyt mocny nacisk moe pogorszy moliwoci przesuwu wrzeciona.
Jeli pomiar jest wykonywany podczas przemieszczania gowicy Laser Hologage,
naley zamontowa j w taki sposb, aby kabel nie by napity i adna zbdna
sia nie dziaaa na przyrzd.
Funkcja RS Link Przez poczenie kilku licznikw EH lub EV za pomoc kabli RS Link mona zbudowa system pomiaru wielopunktowego.
RS Link z licznikami EH
Istnieje moliwo poczenia do 10 licznikw i jednoczesnego wykorzystania do 20 kanaw w pomiarze wielopunktowym.
Do tego poczenia stosuje si dedykowane kable RS Link: Nr 02ADD950 (0,5m), Nr 936937 (1m) lub Nr 965014 (2m).
(Cakowita, dopuszczalna dugo kabli RS Link zastosowanych w caym systemie wynosi do 10m.)

Pierwszy licznik Ostatni licznik

IN OUT IN OUT IN OUT Strona

Zcze RS-232C Zcze RS-232C Zcze RS-232C
25
Kabel RS-232C *

Komputer osobisty

*Kable USB mona stosowa tylko

z oferowanym przez Mitutoyo
programem SENSORPAK.

Numer przyrzdu 01 02 03 04

RS Link z licznikami EV
Istnieje moliwo poczenia do 10* licznikw i jednoczesnego wykorzystania do 60 kanaw w pomiarze wielopunktowym.
Do tego poczenia stosuje si dedykowane kable RS Link: Nr 02ADD950 (0,5m), Nr 936937 (1m) lub Nr 965014 (2m).
(Cakowita, dopuszczalna dugo kabli RS Link zastosowanych w caym systemie wynosi do 10m.)
* Jeli w acuchu pocze jest licznik EH, maksymalna liczba licznikw w systemie jest ograniczona do 6.

Jednostka 2
Jednostka 1

IN OUT IN OUT IN OUT IN OUT

Zcze RS-232C Zcze RS-232C
Kabel RS-232C
Zewntrzny wywietlacz 1 Zewntrzny wywietlacz 2

Komputer osobisty

Numer przyrzdu 01 06 07 12
 Kompendium metrologii Laserowe Mikrometry Skaningowe LSM

Kompatybilno Ponowny monta po zdjciu z podstawy

Wszelkie ustawienia i regulacje Laserowych Mikrometrw Skaningowych Podczas ponownego montau moduu nadawczego i odbiorczego, w
wykonywane s przy podczonym module identyfikacyjnym, dostarczanym razem celu minimalizacji bdw pomiaru, naley sprawdzi ponisze parametry
z przyrzdem pomiarowym. Modu ID, ktry posiada ten sam numer seryjny musi zwizane z nieprawidowym ustawieniem osi optycznej lasera i moduu
by zainstalowany w module wywietlacza. Oznacza to, e jeli modu ID zostanie odbiorczego.
Strona wyjty z moduu pomiarowego, nie mona go bdzie uy w innym module
26 wywietlajcym. Ustawienie w paszczynie poziomej
a. Odchyka rwnolegoci linii bazowych C i D:
Przedmiot mierzony i warunki pomiaru X (w kierunku prostopadym)
W zalenoci od tego czy wizka lasera jest widoczna czy niewidoczna oraz w Linia bazowa D
zalenoci od ksztatu przedmiotu i chropowatoci powierzchni mog powstawa Linia bazowa C
bdy pomiaru. Jeli ma to miejsce, naley przeprowadzi kalibracj wzorcem
o wymiarach, ksztacie i chropowatoci powierzchni zblionych do mierzonego
przedmiotu.
Jeli wartoci pomiarw charakteryzuje duy rozrzut spowodowany warunkami X
pomiaru, to w celu poprawy dokadnoci naley zwikszy liczb skanw,
z ktrych obliczana jest rednia.
b. Kt pomidzy liniami bazowymi C i D: x
Zakcenia elektryczne Linia bazowa D
Linia bazowa C
W celu uniknicia bdw operacyjnych, nie naley ukada kabli sygnaowych
i sterujcych LSM wzdu linii wysokiego napicia lub innych kabli, ktre mog
indukowa w ssiednich przewodnikach prdy zakcajce. Naley uziemia
wszystkie waciwe moduy i oploty ekranujce kabli. x

Podczenie do komputera
Jeli mikrometr LSM ma by podczony do komputera osobistego poprzez Ustawienie w paszczynie pionowej
interfejs RS-232C, naley upewni si, e poczenia kablowe speniaj wymagania
specyfikacji. c. Odchyka rwnolegoci paszczyzn bazowych A i B: Y (na wysokoci)
Paszczyzna bazowa B
Bezpieczestwo lasera Paszczyzna bazowa A

Skaningowe Mikrometry Laserowe Mitutoyo wykorzystuj do pomiarw Y

niskiej mocy lasery wiata widzialnego. Zastosowany Laser jest urzdzeniem
CLASS 2 EN/IEC60825-1 (2007). W odpowiednich miejscach na obudowach
LSM umieszczone s wymagane etykiety z ostrzeeniami i wyjanieniami.

d. Kt pomidzy paszczyznami bazowymi A i B: y

Paszczyzna bazowa B
Paszczyzna bazowa A

Dopuszczalne granice bdw ustawienia osi optycznych

Odlego pomidzy
Model moduem nadawczym a XiY x i y
odbiorczym
68mm ( 2.68") lub mniej na 0,5mm (.02") na 0,4 (7mrad)
LSM-501S
100mm ( 3.94") lub mniej na 0,5mm (.02") na 0,3 (5.2mrad)
130mm ( 5.12") lub mniej na 1mm (.04") na 0,4 (7mrad)
LSM-503S
350mm (13.78") lub mniej na 1mm (.04") na 0,16 (2.8mrad)
273mm (10.75") lub mniej na 1mm (.04") na 0,2 (3.5mrad)
LSM-506S
700mm (27.56") lub mniej na 1mm (.04") na 0,08 (1.4mrad)
321mm (12.64") lub mniej na 1mm (.04") na 0,18 (3.6mrad)
LSM-512S
700mm (27.56") lub mniej na 1mm (.04") na 0,08 (1.4mrad)
LSM-516S 800mm (31.50") lub mniej na 1mm (.04") na 0,09 (1.6mrad)
 Przykady pomiarw
Pomiar "online" rednicy wkna Pomiar zewntrznej rednicy cylindra Pomiar zewntrznej rednicy i
szklanego lub cienkiego drutu okrgoci cylindra

rednica

rd.
Krawd Strona
odniesienia
Odchyka 27
okrgoci

Pomiar rozstawu wyprowadze ukadu

scalonego

Pomiar kabli elektrycznych lub Pomiary gruboci folii i arkuszy

wiatowodowych w osiach X i Y

Krawd Pomiar odstpu pomidzy rolkami

odniesienia

Pomiar gruboci arkusza folii Pomiary przemieszcze dyskw

optycznych i magnetycznych
Przerwa

Krawd
odniesienia Pomiar ksztatu

Krawd odniesienia

Pomiar gruboci tamy Pomiar zewntrznej rednicy

zcza optycznego
System podwjny do pomiaru duych
rednic zewntrznych
 Kompendium metrologii Kontrola jakoci

Testy liniaw pomiarowych

1. Test temperatury pracy
Test ma na celu potwierdzenie braku nieprawidowoci w funkcjonowaniu
liniau w zakresie jego temperatur pracy oraz zgodno ze standardem
Strona sygnau wyjciowego.
28
2. Test cyklu temperaturowego
(charakterystyka dynamiczna)
Test ma na celu potwierdzenie braku nieprawidowoci w funkcjonowaniu
liniau przy cyklicznej zmianie temperatury pracy oraz potwierdzenie
zgodno ze standardem sygnau wyjciowego.
3. Test na wibracje (Test zakresu czstotliwoci)
Test ma na celu potwierdzenie braku nieprawidowoci w funkcjonowaniu
liniau przy poddaniu go wibracjom o czstotliwoci od 30Hz do 300Hz i
maksymalnym przyspieszeniu 3g n .
4. Test na wibracje (Test przyspieszenia)
Test ma na celu potwierdzenie braku nieprawidowoci w funkcjonowaniu
liniau przy poddaniu go wibracjom o specyficznej i czstotliwoci
nierezonansowej.
5. Test zakce
Test zakce przeprowadzany jest wedug dyrektywy
EMC EN61326-1+A1:1998.
6. Test na upuszczenie
Test zakce przeprowadzany jest wedug JISZ0200
(Test na upuszczanie materiau o wysokiej trwaoci)

Sownictwo
BCD
System Absolute Notacja wyraajca cyfry od 0 do 9 liczby w systemie dziesitnym jako
Tryb pomiaru, w ktrym kady pomiar punktu jest wykonywany w sekwencj czterech bitw. Jednokierunkowe wyjcie danych jest typu TTL
odniesieniu do staego punktu pocztkowego. lub otwarty kolektor.
System Inkrementalny RS-422
Tryb pomiaru, w ktrym kady pomiar punktu jest wykonywany w Standard interfejsu danych wykorzystujcy szeregow transmisj bitw
odniesieniu do okrelonego punktu zapisanego jako punkt odniesienia. w postaci rnicowej poprzez zrwnowaon lini transmisyjn. RS-422
Przesunicie pocztku charakteryzuj najwysze szybkoci transmisji i moliwo dziaania przy
Funkcja umoliwiajca przesuwanie rodka ukadu wsprzdnych niesymetrycznym napiciu zasilania +5V.
do innego punktu przesunitego wzgldem punktu pocztkowego. Dokadno
Aby ta funkcja moga dziaa, system musi mie na stae zapisany punkt Specyfikacja dokadnoci liniau podana jest jako oczekiwany bd
pocztkowy. maksymalny pomidzy pozycj rzeczywist a wskazywan w dowolnym
Przywracanie punktu pocztkowego punkcie zakresu pomiarowego i w temperaturze 20C. Jako e nie istniej
Funkcja zatrzymujca maszyn w kadej z osi cile okrelonej specyficznej adne midzynarodowe normy dotyczce liniaw, kady producent ma
dla maszyny pozycji. Zatrzymanie nastpuje przy jednoczesnym swj wasny sposb definiowania dokadnoci. Dokadnoci podane w
spowolnieniu jej za pomoc zintegrowanych przecznikw kracowych. naszym katalogu zostay wyznaczone przy zastosowaniu interferometrii
laserowej.
Sterowanie sekwencyjne
Typ sterowania, ktry wykonuje kroki sterowania wedug ustalonej Dokadno w wskim zakresie
kolejnoci. Dziaki skali liniau zwykle rozmieszczone s w odstpach 20m, chocia
ta warto, w zalenoci od typu liniau, moe by inna. Dokadno w
Sterowanie numeryczne wskim zakresie dotyczy dokadnoci wyznaczonej poprzez pomiar jednej
Sposb sterowania ruchami maszyny za porednictwem polece dziaki kadej skali na granicy rozdzielczoci (np. 1m).
kodowych utworzonych i zaimplementowanych przy pomocy komputera
(CNC). Sekwencja polece tworzcych zwykle program czci,
ktry nakazuje maszynie wykonywanie penego zestawu operacji na
przedmiocie pomiaru lub obrbki.
Wyjcie binarne
Wyjcie danych w postaci dwjkowej (zera i jedynki) reprezentujce liczby,
ktrych kolejne cyfry s cakowitymi potgami liczby 2.
RS-232C
Standard interfejsu wykorzystujcego asynchroniczn metod szeregowej
transmisji danych poprzez niezrwnowaon lini wymiany danych
pomidzy znajdujcymi si stosunkowo niedaleko od siebie nadajnikami.
Jest to sposb komunikacji wykorzystywany gwnie do czenia
komputera osobistego z jego peryferiami.
Wyjcie nadajnika linii
To wyjcie oferuje wysokie, bo trwajce od kilkudziesieciu do kilkuset
nanosekund, szybkoci przesyu danych oraz relatywnie dug, bo do
kilkuset metrw odlego transmisji danych. Jako interfejs do czenia
za sterownikiem NC w systemie z liniaami pomiarowymi zastosowano w
nim rnicowo-napiciowy nadajnik linii (kompatybilny z RS422A) .
 Zasada dziaania liniau typu Absolute (Przykad: AT300, 500-S/H)

AT500
MADE IN JAPAN

Cykl sygnau (interpolacja) Rozdzielczo

3768mm (512) 7.36mm

Strona
Typ pojemnociowy

29
58.88mm (512) 0.115mm

Po podczeniu zasilania do liniau, pobierane s odczyty pozycji z

trzech pod-liniaw pojemnociowych (COArse, MEDium oraz FINe)
i jednego fotoelektrycznego (OPTical). Te pod-liniay wykorzystuj
0.92mm (512) okoo 1.8m tak kombinacj przebiegw wyjciowych i s wzajemnie ustawione
w taki sposb, e odczyty w dowolnej pozycji stanowi unikaln
kombinacj, na podstawie ktrej mikroprocesor oblicza pozycj
gowicy odczytowej wzgldem liniau z rozdzielczoci 0,05m
Typ fotoelektryczny

(0,005m).
20m (400) 0.05m
(4096) 0.005m

Wyznaczanie dokadnoci liniaw (1) Wyznaczanie dokadnoci niezrwnowaonej -

Dokadno wskazywania pozycji bd maksimum minus minimum
Dokadno liniau wyznaczana jest poprzez porwnywanie wartoci W tej metodzie z diagramu dokadnoci wyznaczana jest po postu rnica
pozycji odczytywanych w regularnych odstpach z liniau z odpowiednimi maksymalnego i minimalnego odczytu, jak pokazano poniej. Zgodnie z
wartociami uzyskiwanymi z laserowego systemu pomiaru dugoci przy wzorem: E = (a+b L)m. L jest efektywnym zakresem pomiarowym (mm),
uyciu systemu kontroli, takiego jak na rysunku poniej. W zwizku z a i b s wspczynnikami okrelonymi dla kadego modelu.
tym, e temperatura otoczenia podczas inspekcji wynosi 20C, okrelona Na przykad, jeli okrelony typ liniau ma dokadno (3 + 3L
)m i
dokadno charakteryzuje linia tylko w tej temperaturze. Dla zachowania 1000
zgodnoci z innymi normami pomiary mona wykonywa w innych efektywny zakres pomiarowy L=1000mm, E wynosi 6m.
temperaturach. Bd liniau w kadym punkcie zakresu w odniesieniu do jego pocztku

Licznik laserowego systemu Bd Maksymalna rnica

pomiaru dugoci Komputer Licznik cyfrowy bdu liniau: E(m)
0
Efektywny zakres pozycjonowania X Mierzony punkt

Interferometr O optyczna Reflektor - rg szecianu

Laser - rdo wizki lasera Uchwyt (2) Dokadno zrwnowaona -
plus minus wzgldem wartoci redniej
Linia
St przesuwny
Ta metoda okrela bd maksymalny w odniesieniu do wartoci redniej
bdu wyznaczanego z diagramu dokadnoci. Zgodnie ze wzorem:
e = E (m). Jest ona wykorzystywana przy specyfikacji dokadnoci
2
Schemat systemu liniaw specjalnego typu (retrofit).
pomiaru dokadnoci
Bd Bd maksymalny odniesiony
0
Bd redni
E (m)
bdu: redniego:
Dokadno liniau w kadym punkcie jest okrelona wartoci bdu 2
obliczan zgodnie z poniszym wzorem: Efektywny zakres pozycjonowania X Mierzony punkt

Bd = Warto wskazywana przez linia Linia wykrywa przemieszczenie w oparciu skal o staych odstpach.
- odpowiednia warto z laserowego systemu pomiarowego W procesie detekcji skali uzyskiwane s dwa przesunite w fazie sygnay
sinusoidalne o okresie takim samym, jak odstpy skali. Interpolacja tych
Wykres przedstawiajcy bd w kadym punkcie efektywnego zakresu sygnaw w ukadzie elektrycznym umoliwia odczyt wartoci mniejszych
pozycjonowania nazywany jest diagramem dokadnoci. ni dziaka skali poprzez generowanie impulsw odpowiadajcych
Istniej dwie, opisane poniej, metody okrelania dokadnoci liniau, wymaganej rozdzielczoci. Na przykad, jeli dziaka skali wynosi 20m,
niezrwnowaona i zrwnowaona. interpolacja wartoci generuje rozdzielczo 1m.
Dokadno tego procesu nie jest pozbawiona bdw i nazywana jest
dokadnoci interpolacji. Cakowita dokadno pozycjonowania liniaw
zaley zarwno od bdu skali jak i dokadnoci interpolacji.
 Korelacja obrazu i dwuwymiarowy enkoder MICSYS
Zasada pomiaru
Przy owietlaniu obiektu o powierzchni chropowatej wizk lasera, odbite koherentne wiato emitowane z powierzchni w rnych
kierunkach tworzy widoczn interferencj w postaci macierzy plamek. W odpowiedzi na przemieszczanie obiektu w paszczynie xy,
macierz plamek rwnie si przemieszcza. Przemieszczenie obiektu mona obliczy na podstawie porwnania obrazw plamek przed
i po przemieszczeniu metod korelacji obrazw. Ta zasada jest wykorzystywana w wysokiej precyzji systemie pomiarowym MICSYS.

Detektor obrazu
Strona wiato odbite Wizka lasera
30

Powierzchnia chropowata,
ale odbijajca wiato Macierz plamek

Kierunek przemieszczania (paszczyzna XY)

Zastosowanie

Pomiary przemieszcze
1. Ocena stow uywanych przy produkcji urzdze pomiarowych i systemw kontroli.
powodowanych przez fluktuacje
temperatury, napicia wilgotnoci
lub inne czynniki
Napd

Stoy osi X i Y St

a) Ocena powtarzalnoci pozycjonowania b) Ocena stabilnoci ustalonej pozycji i dryftu

2. Wysokiej precyzji pozycjonowanie detali

Ustawianie i usuwanie

Napd

Stoy osi X i Y

3. Pomiar drobnych przemieszcze

Obcienie
Pomiary przemieszcze spowodowanych
fluktuacjami temperatury, wilgotnoci lub
Konstrukcja (belka) innymi czynnikami oraz przemieszcze
spowodowanych procesem mocowania
materiau itp.

a) Pomiar niewielkiego przemieszczenia konstrukcji b) Pomiar niewielkiego przemieszczenia przedmiotu

Kompendium metrologii Projektory profilu

Obraz prosty i odwrcony

Obraz obiektu rzutowanego na ekran jest prosty, jeli jest on zorientowany
w taki sam sposb, jak obiekt na stole. Jeli obraz jest odwrcony gr
na d i lew strona na praw oraz przemieszcza si on w kierunkach
przeciwnych w do ruchu obiektu na stole (jak pokazuje rysunek poniej)
nazywany jest obrazem odwrconym.
F kondensorowej, co powoduje, e obiekt owietlany jest promieniami
F Ekran projekcyjny
Telecentryczny system optyczny
System optyczny wykorzystujcy fakt rwnolegego przebiegu promienia
gwnego do osi optycznej dziki zastosowaniu przysony w ognisku
po stronie obrazu. Waciwoci tego systemu jest to, e w wyniku
przesuwania obiektu w osi optycznej jego obraz, chocia traci ostro, nie Strona
zmienia wymiarw. 31
W przypadku projektorw i mikroskopw pomiarowych, identyczny efekt
uzyskuje si poprzez umieszczenie arnika lampy w ognisku soczewki
rwnolegymi. (Patrz rysunek poniej.)

Promie gwny Ognisko po stronie obrazu

Obraz prosty Obraz odwrcony

O optyczna

F Powierzchnia stou
F rdo wiata
(lampa)
Powierzchnia
obiektu
Soczewka Przedmiot Soczewka projekcyjna Powierzchnia ekranu
kondensorowa projekcyjnego
Telecentryczne owietlenie konturowe
F Mierzony przedmiot
Ruch w osi X
Ruch w osi Y
Odlego robocza
Jest to odlego od powierzchni soczewki obiektywu do powierzchni
Dokadno powikszenia przedmiotu przy zogniskowaniu. Na poniszym rysunku oznaczona
Dokadno powikszenia projektora przy stosowaniu okrelonego jest liter L.
obiektywu wyznacza si poprzez rzutowanie obrazu obiektu
referencyjnego i porwnywanie rozmiaru obrazu tego obiektu mierzonego Obiektyw projektora

na ekranie z rozmiarem oczekiwanym (obliczonym na podstawie

deklarowanego powikszenia) w celu obliczenia procentowej wartoci L
dokadnoci powikszenia, wedug wzoru zamieszczonego poniej.
Obiekt referencyjny ma czsto posta maego liniau szklanego zwanego
`mikrometrem szklanym lub `liniaem wzorcowym, a jego powikszony
obraz mierzony jest za pomoc wikszego liniau szklanego, znanego jako
`linia odczytowy.
(Note that magnification accuracy is not the same as measuring accuracy.)
Stolik przedmiotowy Przedmiot
L M
M(%) = X 100
M
Bd paralaksy
M(%): Dokadno powikszenia wyraona jako procen-
towa warto nominalnego powikszenia obiektywu Jest to przemieszczenie obiektu wzgldem staego ta spowodowane
L : Dugo rzutowanego obrazu obiektu referencyjnego zmian pozycji obserwatora i skoczon odlegoci powierzchni
mierzona na ekranie obiektu od powierzchni ta.
: Dugo obiektu referencyjnego
M : Powikszenie obiektywu projekcyjnego

Typ owietlenia
Owietlenie konturowe: Sposb owietlania sucy do obserwacji
przedmiotu w wietle przechodzcym, wykorzystywany gwnie do Bd paralaksy
pomiaru obrazu konturowego mierzonego przedmiotu.
Wsposiowe owietlenie powierzchni: Sposb owietlania, przy ktrym
przedmiot mierzony jest owietlany wiatem przechodzcym przez
Ekran projektora
obiektyw, suy do obserwacji/pomiaru powierzchni. (Wymagane jest
lustro pprzepuszczalne lub obiektyw z lustrem pprzepuszczalnym.)
Owietlenie powierzchni wiatem padajcym: Sposb owietlenia rednica pola widzenia
powierzchni przedmiotu wiatem z padajcym boku osi optycznej.
Maksymalna rednica mierzonego przedmiotu obserwowana przy
Zapewnia on obraz o zwikszonym kontracie, pozwalajcy na uyciu okrelonego obiektywu.
obserwacje trjwymiarowych cech powierzchni. Naley jednak rednica ekranu projektora
pamita, e przy tej metodzie owietlania mog wystpowa rednica pola widzenia (mm) =
Powikszenie stosowanego obiektywu
bdy pomiarw. (Wymagane jest lustro owietlenia bocznego.
Modele serii PJ-H30 s wyposaone w takie lustro.) Przykad: Przy stosowaniu obiektywu o powikszeniu 5X
w projektorze o ekranie 500mm:
rednica pola widzenia wynosi: 500mm = 100mm
5
 Kompendium metrologii Mikroskopy

Apertura numeryczna (NA) Ukad skorygowany na skoczon dugo tubusu

Liczba NA jest wana poniewa okrela moc rozdzielcz obiektywu. Ukad optyczny wykorzystujcy obiektyw do tworzenia obrazu
Im wiksza jest warto NA, tym drobniejsze szczegy staj si widoczne. poredniego w skoczonej pozycji. wiato od obiektu przechodzce
Obiektywy o wikszej NA gromadz rwnie wicej wiata i zwykle
przez obiektyw jest kierowane ku paszczynie obrazu poredniego
Strona zapewniaj janiejszy obraz o wszej gbi ostroci ni te o mniejszej (znajdujcej si w przedniej paszczynie ogniskowej okularu), gdzie
32 wartoci NA.
ulega skupieniu.
wiato od rda punktowego
NA = nSin rdo punktowe Soczewka obiektywu jest ogniskowane w paszczynie
na obiekcie obrazu poredniego
Powyszy wzr pokazuje, e NA zaley od n, wspczynnika zaamania
orodka wystpujcego pomidzy zewntrzn czci obiektywu a
badan prbka (dla powietrza n=1,0) oraz od kta , ktry stanowi L1 L2 Powikszenie obiektywu = L2/L1
poow kta maksymalnego stoka wiata docierajcego do obiektywu.
Ogniskowa (f) jednostka: mm

Zdolno rozdzielcza (R) Odlego od punktu gwnego do ogniska soczewki: jeli f1

reprezentuje ogniskow obiektywu a f2 reprezentuje ogniskow
Najmniejsza wykrywalna odlego pomidzy dwoma punktami obrazu, soczewki tworzcej obraz (tubusu), to powikszenie jest okrelone
reprezentujca granic rozdzielczoci. Zdolno rozdzielcza (R) jest przez ich iloraz. (W przypadku ukadu z korekcj do nieskoczonoci.)
okrelona przez apertur numeryczn (NA) i dugo fali () wiata.
Ogniskowa soczewki obrazowej (tubusu)
l Powikszenie obiektywu =
R = (m) Ogniskowa obiektywu
2NA
l = 0,55m jest czsto wykorzystywana jako dugo fali odniesienia 200
Przykad: 1X = Przykad: 10X =
200
200 20

Odlego robocza (W.D.)

Odlego pomidzy przednim kocem obiektywu mikroskopu Ognisko
a powierzchni przedmiotu mierzonego, na ktrej uzyskuje si
najostrzejszy obraz. Promienie wiata rwnolege do osi optycznej soczewki skupiajcej,
przechodzc przez ni zostaj skupione (lub zogniskowane) w punkcie na
Odlego parafokalna tej osi znanym jako ognisko tylne, lub ognisko obrazowe.
Odlego pomidzy pozycj montaow obiektywu mikroskopu a
powierzchni przedmiotu, przy ktrej uzyskuje si najostrzejszy obraz. Gbia ostroci (DOF) jednostka: mm
Obiektywy montowane razem na tej samej gowicy rewolwerowej
powinny mie t sama odlego parafokaln, aby po zmianie obiektywu Gbia ostroci jest to odlego (mierzona w kierunku osi optycznej)
ponowne ogniskowanie wymagane byo w jak najmniejszym stopniu. pomidzy dwoma paszczyznami okrelajcymi granice dopuszczalnej
ostroci obrazu przy zogniskowaniu na obiekcie. Im wiksza jest
apertura numeryczna (NA) tym gbia ostroci staje si pytsza, jak
pokazuje poniszy wzr:
Odlego robocza
DOF = l 2 l = 0,55m - czsto stosowana dugo fali odniesienia
2(NA)
Przykad: Dla obiektywu M Plan Apo 100X (NA = 0.7)
Odlego parafokalna Gbia ostroci tego obiektywu wynosi
0,55m = 0.6m
2 x 0,72
Ukad skorygowany na nieskoczono
Ukad optyczny, gdzie obiektyw tworzy obraz w nieskoczonoci a soczew- Jasne pole widzenia i ciemne pole widzenia
ka tubusu tworzca obraz poredni jest umieszczona w tubusie pomidzy Przy obserwacji w jasnym polu widzenia peny stoek wiata jest
obiektywem a okularem. Po przejciu przez obiektyw wiato przechodzi ogniskowany przez obiektyw na powierzchni badanego obiektu. Jest to
rwnolegle do osi optycznej do soczewki tubusu poprzez obszar nazy- zwyky tryb obserwacji na mikroskopie optycznym. Przy obserwacji w
wany 'przestrzeni nieskoczonoci', wewntrz ktrej mona umieszcza polu ciemnym, wewntrzna cz stoka wiata jest blokowana, w taki
dodatkowe komponenty, takie jak pryzmaty kontrastu rnicowo- sposb e powierzchnia jest owietlana wiatem pod ktem. Ciemne
interferencyjnego (DIC), polaryzatory, itp. przy minimalnym wpywie na pole widzenia jest przydatne przy wykrywaniu zarysowa powierzchni i
ogniskowanie i korekcje aberracji. zanieczyszcze.
Soczewka obiektywu
Soczewka obrazowa (tubusa)
rdo punktowe
na obiekcie wiato ze rda punktowego ogniskowane Obiektyw apochromatyczny i achromatyczny
jest na poredniej paszczynie obrazowej
Obiektyw apochromatyczny jest soczewk z wprowadzonymi korekcjami
aberracji chromatycznej (rozszczepienia barw) dla trzech barw (czerwonej,
f1 f2 Powikszenie obiektywu = f2/f1
niebieskiej, tej).
Przestrze nieskoczonoci Obiektyw achromatyczny jest soczewk z korekcjami aberracji
chromatycznej dla dwch barw (czerwonej, niebieskiej).
 Powikszenie Numer pola (FN), tylne pole widzenia i
Stosunek rozmiaru obrazu powikszonego, utworzonego w ukadzie powikszenie na ekranie monitora unit: mm

optycznym do rozmiaru samego obiektu. Termin powikszenie zwykle
odnosi si do powikszenia poprzecznego, chocia moe rwnie
oznacza powikszenie podune i ktowe.
Promie gwny
Promie emitowany od obiektu w miejscu przechodzenia osi optycznej i
przechodzcy przez rodek przesony aperturowej ukadu optycznego.
Przesona aperturowa
Regulowana okrga przesona, ktra ogranicza ilo wiata
przechodzcego przez system optyczny. rednica otworu przesony
wpywa na jasno obrazu i gbi ostroci.
Zakres obserwacji powierzchni prbki jest ograniczony rednic przesony
polowej okularu. Warto tej rednicy w milimetrach nazywana jest
numerem pola (FN). W przeciwiestwie do FN, rzeczywiste pole widzenia
jest to zakres powierzchni obserwowanego przedmiotu po powikszeniu i
obserwacji przez obiektyw.
Rzeczywiste pole widzenia wyraa poniszy wzr:
Strona
(1) Obszar obiektu jaki moe by obserwowany za pomoc
mikroskopu (rednica) 33
Rzeczywiste pole widzenia = FN okularu
Powikszenie obiektywu
Przykad: Rzeczywiste pole widzenia obiektywu 1X wynosi 24 = 24
1
Rzeczywiste pole widzenia obiektywu 10X wynosi 2,4 = 24
10

Przesona polowa (2) Zakres obserwacji na monitorze

Przesona, ktra ogranicza pole widzenia przyrzdu optycznego. Rozmiar matrycy kamery (przektna)
Zakres obserwacji na monitorze =
Powikszenie obiektywu
Rozmiar detektora obrazu
Ukad telecentryczny Format Przektna Dugo Wysoko
Ukad optyczny, w ktrym promienie wiata s rwnolege do osi 0,847 cm /1/ 3 6.0 4.8 3.6
optycznej w przestrzeni obiektu i obrazu. Oznacza to, e powikszenie
pozostaje stae w pewnym zakresie odlegoci roboczych, co prawie 1,270 cm / 1/2 8.0 6.4 4.8

eliminuje znieksztacenia perspektywy. 1,693 cm / 2/3 11.0 8.8 6.6

(3) Powikszenie na ekranie monitora

Obraz prosty Powikszenie na monitorze =
Obraz, przy ktrym strona lewa, prawa, gra i d oraz kierunki Powikszenie obiektywu x Przektna monitora
Przektna kamery
przemieszczania s takie same jak obiektu na stoliku przedmiotowym.
 Kompendium metrologii Wizyjne Maszyny Pomiarowe

Pomiar wizyjny Rnice w jakoci obrazu

Wizyjne maszyny pomiarowe posiadaj jako najwaniejsze Rnica pomidzy obrazem 2-poziomowym a obrazem w 256-poziomowej
nastpujce funkcje przetwarzania danych. skali szaroci
Wykrywanie krawdzi
Strona Wykrywanie/pomiar krawdzi w paszczynie XY
34

Przykadowy obraz w skali dwupoziomowej. Przykadowy obraz w 256-poziomowej skali szaroci

Zmiany obrazu w zalenoci od progu jasnoci

Auto ogniskowanie
Ogniskowanie i pomiar w osi Z

Te trzy ilustracje przedstawiaj ten sam obraz wywietlany w skali

2-poziomowej o rnych poziomach cicia (progach jasnoci).
Przy dwupoziomowej skali jasnoci w zalenoci od progu jasnoci
powstaj rne obrazy. Ze wzgldu siln zaleno wartoci liczbowych
Rozpoznawanie wzoru od poziomu progu jasnoci dwupoziomowa skala jasnoci nie jest
Budowa ukadu wsprzdnych, pozycjonowanie i kontrola cechy. wykorzystywana w pomiarach precyzyjnych.

Zapis obrazu Pomiary wymiarw

Ekran
monitora Obraz skada si z pikseli. Jeli policzy si liczb pikseli mierzonego
wycinka i pomnoy si przez rozmiar piksela, to dugo wycinka mona
Obiektyw Sygna wideo PC przedstawi w postaci liczbowej. Zamy na przykad, e cakowita liczba
kamery Szybki
CCD przetwornik A/C
Frame grabber pikseli odpowiadajca dugoci boku prostokta wynosi 300 pikseli, jak na
Wzmacniacz rysunku poniej.
Jeli rozmiar piksela przy okrelonym powikszeniu obrazu to 10m, to
640 pikseli
cakowita dugo przedmiotu wynosi 10m x 300 pikseli = 3000m =
3mm. 300 pikseli
10m
480 pikseli

Obraz skada si z regularnej macierzy pikseli. Jak obraz na precyzyjnie

drukowanym papierze, gdzie kady kwadrat jest wypeniany w caoci.
Wykrywanie krawdzi
Sposb wykrywania krawdzi przedmiotu na obrazie opisano przy
Skala szaroci uyciu poniszego przykadowego obrazu monochromatycznego.
Komputer PC zapisuje obraz po wewntrznej konwersji na wartoci Wykrywanie krawdzi odbywa si w okrelonym obszarze. Symbol,
liczbowe. Warto liczbowa przypisywana jest kademu pikselowi obrazu. ktry graficznie okrela ten obszar nazywany jest narzdziem.
Jako obrazu zaley od tego ile poziomw szaroci reprezentuje skala Dla rnej geometrii mierzonych przedmiotw czy danych pomiarowych
szaroci. Komputery oferuj dwa typy skali szaroci: dwupoziomow i przewidziane s rne narzdzia
wielopoziomow. Zwykle piksele obrazu wywietlane s 256-poziomowej System wykrywania krawdzi skanuje obszar narzdzia
skali szaroci. Narzdzie jak pokazano na rysunku po lewej i wykrywa granic
pomidzy obszarami wiata i cienia.
Dwupoziomowa Wielopoziomowa
skala szaroci skala szaroci 255 244 241 220 193 97 76 67 52 53 53
Biel Biel 243 242 220 195 94 73 66 54 53 55
1
244 246 220 195 94 75 64 56 51 50
Szaro Szaro 127 255 Przykady wartoci liczbowych przypisanych do pikseli narzdzia
Skala szaroci

0 127
Czer Czer 0
0
Pozycja narzdzia (1) Pozycja pocztkowa skanu
Piksele obrazu o jasnoci powyej danego Kady z pikseli jest wywietlany z jasnoci na jednym (1) (2) (3) (2) Pozycja wykrytej krawdzi
poziomu wywietlane sa jako biae, a pozostae z 256 poziomw pomidzy czerni a biel. Zapewnia (3) Pozycja kocowa skanu
jako czarne. to wywietlanie obrazw w wysokiej jakoci.
 Pomiar wysokiej rozdzielczoci Zoone wsprzdne punktu
Ukad wsprzdnych maszyny Ukad wsprzednych wideo
Po powikszeniu...
M

Mz Vx
My V
Skala szaroci

Skala szaroci
Vy

Pozycja narzdzia Pozycja narzdzia

Mx
Strona
Pozycja, w ktrej system rozpoznaje krawd
Pozycja Wykryta pozycja krawdzi 35
moe by przy normalnym przetwarzaniu obrazu obarczona
bdem do szerokoci jednego piksela. Uniemoliwia to M = (Mx, My, Mz) (odniesiona do rodka ukadu wideo)
wykonanie pomiaru w wysokiej rozdzielczoci.
V = (Vx, Vy)

Aktualne wsprzdne wynosz: X = (Mx + Vx), Y = (My + Vy) i

Aby zwikszy precyzj wykrywania krawdzi stosuje si przetwarzanie Z = Mz.
podpikselowe.
Krawd jest wykrywana na podstawie krzywej interpolacji utworzonej z W zwizku z tym, e w trakcie pomiaru poszczeglne zmierzone pozycje
kolejnych ssiadujcych ze sob pikseli jak pokazuje rysunek poniej. s zapisywane, system moe bez problemu mierzy wymiary, ktrych nie
W wyniku czego moliwy jest pomiar z rozdzielczoci wiksz ni wida na ekranie.
wynikajca z rozmiaru pojedynczego piksela.
Skala szaroci

Pozycja narzdzia
Zasada automatycznego ogniskowania
Wykorzystujc obraz z samej kamery CCD, bez dodatkowego
Sygna obrazu bez Przebieg sygnau obrazu przyjmuje wyposaenia, system moe wykonywa pomiary w paszczynie XY, ale
przetwarzania
podpikselowego
ksztat sygnau analogowego. nie moe wykonywa pomiarw wysokoci. Dla pomiaru wysokoci
Skala szaroci

system jest zwykle wyposaony w mechanizm automatycznego

Pozycja narzdzia ogniskowania (AF-Auto Focus). Poniej wyjaniono zasad dziaania
mechanizmu AF wykorzystujcego obraz, chocia niektre systemy do
Sygna obrazu z przetwarzaniem podpikselowym ogniskowania mog wykorzystywa AF laserowy.
System AF analizuje obraz przesuwajc Wsprzdna Z
jednoczenie kamer CCD w gr i w
d w osi Z. Jeli podczas tej analizy CCD
obraz bdzie ostry, to zarejestrowany
zostanie wysoki kontrast, a jeli obraz Wysoko
bdzie nieostry kontrast bdzie niski. ogniska
Pomiar fragmentw cechy na wielu obrazach Wysoko, na ktrej rejestrowany jest
najwyszy kontrast jest wysokoci
Due cechy, ktre nie mieszcz si na ekranie musz by mierzone ogniska.
Kontrast
z wykorzystaniem precyzyjnego sterowania pozycj kamery CCD i
systemu stou w taki sposb, e kady punkt pomiarowy mierzony
jest na innym obrazie. Tym sposobem, poprzez wykrywanie krawdzi
w trakcie przesuwania systemu stou nad mierzon krawdzi, Zmiana kontrastu w zalenoci od zogniskowania
system jest w stanie mierzy nawet bardzo due cechy rnego typu Kontrast krawdzi jest niski, Kontrast krawdzi jest wysoki,
przedmiotw. poniewa krawdzie nie le poniewa s one ostre i le
w ognisku. w ognisku.

Wysoki Wysoki

Niski Niski
Kontrast w kierunku skanowania Kontrast w kierunku skanowania
 Kompendium metrologii Surftest (Chropowatociomierz)

ISO 1302: 2004 Specyfikacje geometrii wyrobu (GPS) - Oznaczanie struktury geometrycznej powierzchni w dokumentacji technicznej wyrobu
ISO 4287: 1997 Specyfikacje geometrii wyrobu (GPS) Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa - Terminy, definicje i parametry struktury geometrycznej powierzchni
ISO 4288: 1996 Wymagania geometryczne wyrobw (GPS) Struktura geometryczna powierzchni: -Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metod profilow
ISO 3274: 1996 Specyfikacje geometrii wyrobu (GPS) Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa Charakterystyki nominalne przyrzdw stykowych (z ostrzem odwzorowujcym)
Strona
36 Schemat funkcjonalny przyrzdu stykowego (kocwka ostrzowa) Denicja parametrw ISO 4287 : 1997

Sonda Wejcie/Wyjcie danych Wejcie/Wyjcie danych

ISO 3274: 1996 Parametry amplitudowe (wzniesienie i wgbienie)
Kocwka
ostrza Prol
Przesyanie sygnau osi Z Maksymalna wysoko wzniesienia prolu pierwotnego Pp
Powierz-
chnia odwzoro-
wujcego
odwzoro-
wany
Maksymalna wysoko wzniesienia prolu chropowatoci Rp
Quantized
Prol
Maksymalna wysoko wzniesienia prolu falistoci Wp
Eliminowanie
Przetwornik Wzmaczniacz
Przetwornik
A/C
mierzony
measure-po krzywizny Filtr Prol Obliczanie Najwiksza wysoko wzniesienia prolu Zp wewntrz odcinka
kwantyzacji
ment nominalnej prolu pierwotny parametrw
prole elementarnego
Obwd Prowadnica Prol
pomiarowy odniesienia odniesienia

Zp
Kolumna
Zakcenia Urzdzenie Zesp przesuwu
zewntrzne realizujce
przesw
Obwd pomiarowy
Zesp przesuwu
Czujnik pomiarowy (sonda)
Kocwka pomiarowa - ostrze odwzorowujce

Ksztat kocwki Przedmiot

Odcinek elementarny

Typowy ksztat kocwki to zakoczony sferycznie stoek

Maksymalna gboko wgbienia prolu pierwotnego Pv
Promie kocwki: rtip = 2 m, 5 m lub 10 m
Kt stoka: 60, 90 Pyta pomiarowa
Maksymalna gboko wgbienia prolu chropowatoci Rv
Najczciej chropowatociomierze wykorzystuj kocwki o kcie 60,
Stolik Maksymalna gboko wgbienia prolu falistoci Wv
chyba e okrelono inaczej. Najwiksza gboko wgbienia Zv wewntrz odcinka elementarnego
60 60 60
Zaleno pomidzy wartoci Cutoff
a promieniem kocwki
Ponisza tabela przedstawia zaleno pomidzy wartoci cutoff prolu
R1

chropowatoci c, promieniem kocwki rtip a wspczynnikiem c/s.

R5
R2

0
m
m

90 90 90
c s c/s Maksymalny rtip Maksymalny odcinek
mm m m elementarny mm
0.08 2.5 30 2 0.5

Zv
0.25 2.5 100 2 0.5
R1
R5
R2

0
m
m

0.8 2.5 300 2 Uwaga 1 0.5 Odcinek elementarny

m

2.5 8 300 5 Uwaga 2 1.5

Statyczny nacisk pomiarowy 8 25 300 10 Uwaga 2 5 Maksymalna wysoko prolu pierwotnego Pz

Uwaga 1: Dla powierzchni o Ra>0,5m lub Rz>3m, zwykle nie wystpi znaczcy bd Maksymalna wysoko prolu chropowatoci Rz
Nominalny promie Statyczny nacisk pomiarowy Tolerancja zmiennoci
pomiaru nawet jeli rtip= 5m.
Uwaga 2: Jeli warto cutoff s jest rwna 2,5m lub 8m, tumienie sygnau zwizane z efektem ltrowania Maksymalna wysoko prolu falistoci Wz
krzywizny kocwki: w rednim pooeniu statycznego nacisku mechanicznego kocwki o zalecanym promieniu wypada poza pasmem przepustowym prolu
Suma wysokoci najwyszego wzniesienia prolu Zp i gbokoci
m kocwki: mN pomiarowego: mN/m chropowatoci. Dlatego te niewielka odchyka wartoci czy ksztatu promienia nie wpywana na
wartoci parametrw obliczone z pomiarw. Jeli wymagana jest okrelona warto wspczynnika
cutoff, musi by ona podana. najgebszej wgbienia Zv wewntrz odcinka elementarnego
2 0,75 0,035
5
0,75 (4,0) Uwaga 1 0,2
10
Prole powierzchni

Zp
ISO 4287: 1997
Uwaga 1: Maksymalna warto statycznego nacisku pomiarowego w rednim pooeniu kocwki
ma wynosi 4,0mN dla sond o budowie specjalnej z uwzgldnieniem wymiennych kocwek.
Prol pierwotny
Zz

100
Przenoszenie amplitudy %

Charakterystyka metrologiczna Prol chropowatoci Prol falistoci

Zv

ltrw z korekcj fazy ISO 11562: 1996 50

Odcinek elementarny
Filtr prolu jest ltrem z korekcj fazy bez opnienia fazowego (przyczyny
znieksztace prolu zalenych od dugoci fali). W starej normie JIS oraz ISO 4287-1: 1984, poprzez Rz oznaczano
Funkcj wagi ltra z korekcj fazy charakteryzuje rozkad normalny (Gaussa), ls lc lf dziesiciopunktow wysoko nieregularnoci. Naley zachowa
Dugo fali ostrono poniewa rnice pomidzy wynikami uzyskiwanymi wedug
w ktrym przenoszenie amplitudy na granicznych dugociach fal (cutoff)
wynosi 50%. obowizujcych i starych norm nie zawsze s pomijalnie mae. (Naley upewni si,
Prol pierwotny czy zapis w rysunku technicznym zgodny jest ze starymi czy z nowymi normami.)
Prol uzyskany z prolu mierzonego po zastosowaniu ltru dolnoprzepustowego,
gdzie graniczn dugoci fali jest s. rednia wysoko elementw prolu pierwotnego Pc
Przepyw przetwarzania danych rednia wysoko elementw prolu chropowatoci Rc
Denicja: Prol wynikajcy z przecicia rednia wysoko elementw prolu falistoci Wc
Prol powierzchni
rzeczywistej powierzchni rzeczywistej paszczyzn rednia warto wysokoci elementw prolu Zt wewntrz odcinka
do niej prostopad.
Pomiar
elementarnego 1
m
Pc, Rc, Wc =
m S Zt
i=1
i

Denicja: lad pooenia rodka

Prol zmierzony kocwki przesuwanej po
powierzchni przedmiotu.
Konwersja A/C
Zt6
Zt4

Zt5

Prol Denicja: Dane uzyskane z kwantyzacji

prolu zmierzonego.
Prol chropowatoci
skwantowany Prol uzyskany z prolu pierwotnego poprzez eliminacj skadowych o
Zt3

wikszych dugociach fal przy uyciu ltra grnoprzepustowego o granicznej

Zt2
Zt1

Eliminacja zbdnej geometrii powierzchni, takiej jak

nachylenie chech paskich czy krzywizna cech cylindrycznych dugoci fali c.
przy uyciu metody najmniejszych kwadratw.
Filtr dolnoprzepustowy
o wartoci cutoff ls Odcinek elementarny

Parametry prolu Cakowita wysoko prolu pierwotnego Pt

Prol pierwotny
pierwotnego Prol falistoci Cakowita wysoko prolu chropowatoci Rt
Prol uzyskany poprzez zastosowanie ltra pasmowoprzepustowego do Cakowita wysoko prolu falistoci Wt
prolu pierwotnego w celu usunicia fal o dugociach wikszych od f i Suma wysokoci najwyszego wzniesienia prolu Zp i gbokoci
Filtr grnoprzepustowy Filtr pasmowo-przepustowy dla mniejszych od c. najgbszego wgbienia Zv wewntrz odcinka elementarnego
o wartoci cutoff c fal o dugoci pomidzy c a f
Zz

Zz
Zt

Prol chropowatoci Prol falistoci

Zz

Odcinek
Parametry Parametry elementarny
prolu chropowatoci prolu falistoci Odcinek pomiarowy
 Odcinki elementarne dla parametrw
Parametry amplitudowe (rednia rzdnych) Funkcja gstoci prawdopodobiestwa, chropowatoci powierzchni ISO 4288: 1996

rednia arytmetyczna odchyek prolu pierwotnego Pa krzywe i parametry powizane Tabela 1: Odcinki elemetarne dla nieokresowych parametrw chropowatoci
rednia arytmetyczna odchyek prolu chropowatoci Ra Krzywa udziau materiau prolu (krzywa Abbotta-Firestonea) prolu (Ra, Rq, Rsk, Rku, Rq), krzywa udziau materiau,
rednia arytmetyczna odchyek prolu falistoci Wa funkcja gstoci prawdopodobiestwa i parametry powizane
Krzywa reprezentujca udzia materiau w prolu jako funkcj
rednia arytmetyczna wartoci bezwzgldnych rzdnych Z(x) poziomu cicia = c Ra Odcinek elemetarny lr Odcinek pomiarowy ln
na odcinku elemntarnym Linia rednia m mm mm
c
l (0,006)<Ra0.02 0,08 0,4
1
Pa, Ra, Wa =
l 0
Z(x) dx 0,02 <Ra0.1
0,1 <Ra2
0,25
0,8
1,25
4
2 <Ra10 2,5 12,5
przy l jako lp, lr, lub lw zalenie od parametru. 10 <Ra80 8 40

Odcinek elemntarny 0 20 40 60 80 100

rednia kwadratowa odchyek prolu pierwotnego Pq Rmr(c),% Tabela 2: Odcinki elemetarne dla nieokresowych parametrw
chropowatoci prolu (Rz, Rv, Rp, Rc, Rt)
rednia kwadratowa odchyek prolu chropowatoci Rq Wspczynnik udziau materiau prolu pierwotnego Pmr(c) Rz1)
rednia kwadratowa odchyek prolu falistoci Wq Wspczynnik udziau materiau prolu chropowatoci Rmr(c) Rz1max2) Odcinek elemetarny lr Odcinek pomiarowy ln
Strona
mm mm
rednia kwadratowa rzdnych prolu Z(x) na dugoci Wspczynnik udziau materiau prolu falistoci Wmr(c) m
odcinka elementarnego
Iloraz dugoci materiaowych elementw prolu Ml(c) na okrelonym (0,025)<Rz, Rz1max0,1 0,08 0,4
37
l poziomie cicia c i dugoci odcinka pomiarowego 0,1 <Rz, Rz1max0,5 0,25 1,25
1
Z (x)dx 0,5 <Rz, Rz1max10 0,8 4
2
Pq, Rq, Wq = Ml(c)
l Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) = 10 <Rz, Rz1max50 2,5 12,5
0 ln 50 <Rz, Rz1max200 8 40
przy l jako lp, lr, lub lw zalenie od parametru.
Rnica poziomw cicia prolu pierwotnego Pc 1) Rz jest wykorzystywany do pomiaru Rz, Rv, Rp, Rc i Rt.
2) Rz1max wykorzystywany tylko do pomiaru Rz1max, Rv1max, Rp1maz i Rc1max.
Rnica poziomw cicia prolu chropowatoci Rc
Skono prolu pierwotnego Psk Rnica poziomw cicia prolu falistoci Wc Tabela 3: Odcinki elemetarne dla pomiaru okresowych
Skono prolu chropowatoci Rsk Rnica wysokoci udziau materiaowego midzy dwoma parametrw chropowatoci prolu i okresowego
poziomami cicia lub nieokresowego parametru Rsm
Skono prolu falistoci Wsk Rc = c(Rmr1) c(Rmr2); Rmr1<Rmr2
Iloraz wartoci redniej trzeciej potgi rzdnych Z(x) i odpowiednio Rsm Odcinek elemetarny lr Odcinek pomiarowy ln
trzeciej potgi Pq, Rq lub Wq na dugoci odcinka elementarnego mm mm mm
0,013 <Rsm0.04 0,08 0,4
c0
lr 0,04 <Rsm0.13 0,25 1,25
1 1
Rsk =
Rq3 lr Z (x)dx
0
3 Rc
c1
0,13 <Rsm0.4
0,4 <Rsm1.3
0,8
2,5
4
12,5
1,3 <Rsm4 8 40
Powysze rwnanie deniuje Rsk. Denicja Psk i Wsk jest podobna.
Psk, Rsk oraz Wsk s miarami asymetrii funkcji gstoci prawdopodobiestwa
wartoci rzdnych. Procedura ustalania odcinka elementarnego,
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Rmr0 Rmr gdy nie jest on okrelony.
Kurtoza prolu pierwotnego Pku Wzgldny udzia materiaowy prolu pierwotnego Pmr Szacowanie Ra, Rz, Rz1max lub RSm na podstawie
Kurtoza prolu chropowatoci Rku Wzgldny udzia materiaowy prolu chropowatoci Rmr zarejestrowanych przebiegw, inspekcji wizualnej itp.
Kurtoza prolu falistoci Wku Wzgldny udzia materiaowy prolu falistoci Wmr
Iloraz redniej czwartego rzdu wartoci rzdnych Z(x) Wspczynnik udziau materiaowego prolu obliczony na poziomie
i odpowiednio czwartej potgi Pq, Rq lub Wq na dugoci Przyjcie odcinka elementarnego dla oszacowanych
cicia odniesienia c0 i o odstpie Rc (Pc lub Wc) parametrw na podstawie wartoci z tabel 1 do 3
odcinka elementarnego Pmr, Rmr, Wmr = Pmr(c1), Rmr(c1), Wmr(c1)
lr
1 1 gdzie c1 = c0 Rc(Rc, Wc)
Rku =
Rq4 lr
Z4(x)dx
0
c0 = c(Pm0, Rmr0, Wmr0)
Pomiar Ra, Rz, Rz1max lub RSm zgodnie z
Funkcja gstoci prawdopodobiestwa przyjt wartoci odcinka elementarnego
Powysze rwnanie deniuje Rku. Denicja Pku i Wku jest podobna.
Pku, Rku i Wku s miarami nachylenia funkcji gstoci prawdopodobiestwa (krzywa rozkadu amplitudy wysokoci prolu)
wartoci rzdnych. Funkcja gstoci prawdopodobiestwa rzdnych prolu Z(x)
na dugoci odcinka elementarnego Linia rednia
Czy kada zmierzona Nie Zmiana odcinka
Parametry odlegociowe warto ley w zakresach
z Tabel 1, 2, lub 3?
elementarnego
na krtszy lub duszy
rednia szeroko elementw prolu pierwotnego PSm
rednia szeroko elementw prolu chropowatoci RSm Tak
rednia szeroko elementw prolu falistoci WSm
rednia warto szerokoci elementu prolu Xs na dugoci Odcinek pomiarowy Gsto amplitudy
odcinka elementarnego Nie Zmiana odcinka
m
Czy mierzono ju z krtszym elementarnego
1 odcinkiem elementarnym?
PSm, RSm, WSm =
m S i=1
X Si
Parametry specyczne dla normy JIS na krtszy

Xs1 Xs2 Xs3 Xs4 Xs5 Xs6

Dziesiciopunktowa wysoko nieregularnoci, RzJIS Tak
Suma redniej wartoci bezwzgldnych piciu najwyszych wzniesie
prolu i redniej wartoci bezwzgldnych piciu najniszych wgbie Pomiar parametru z ostanio przyjt
prolu mierzonych w odniesieniu do linii redniej odcinka wartoci odcinka elementarnego
elementarnego prolu chropowatoci. Prol ten uzyskuje si z prolu
pierwotnego po odltrowaniu ltrem pasmowoprzepustowym Rys.1 Procedura okrelania dugoci odcinka elementarnego prolu nieokresowego
z korekcj fazy o wartociach cutoff lc i ls. jeli nie zosta on okrelony wczeniej.
Zp1 + Zp2 + Zp3 + Zp4 + Zp5 + Zv1 + Zv2 + Zv3 + Zv4 + Zv5
RzJIS = Szacowanie RSm na podstawie
5 zmierzonego prolu chropowatoci
Zp1
Zp3

Zp2

Zp4
Zp5

Okrelenie dugoci odcinka elementarnego na

Odcinek elementarny podstawie wyej oszacowanej wartoci i Tabeli 3
Zv5

Zv4
Zv3

Zv2
Zv1

Parametry mieszane Odcinek elementarny

redni kwadratowy wznios prolu pierwotnego Pq Pomiar RSm zgodnie z oszacowan wartoci
odcinka elementarnego
redni kwadratowy wznios prolu chropowatoci Rq Symbol Prol
redni kwadratowy wznios prolu falistoci Wq RzJIS82 Prol chropowatoci po zmierzeniu
rednia kwadratowa miejscowych wzniosw dZ/dX na RzJIS94 Prol chropowatoci uzyskany z prolu pierwotnego przy
dugoci odcinka elementarnego uyciu ltru pasmowoprzepustowego z korekcj fazy Zmiana odcinka
Czy zmierzona warto Nie elementarnego, tak
dZ (x)
dZ (x) spenia wymagania z aby spenia
dx
dx rednia arytmetyczna odchyek prolu Ra75 Tabeli 3? wymagania Tabeli 3
rednia arytmetyczna wartoci bezwzgldnych odchyek prolu liczona Tak
dZ (x) od linii redniej prolu chropowatoci (75%) na dugoci odcinka
dx elementarnego. Prol ten uzyskuje si z prolu pierwotnego po
Pomiar parametru z ostanio przyjt
dZ (x) odltrowaniu analogowym ltrem grnoprzepustowym ze wartoci odcinka elementarnego
dx wspczynnikiem tumienia 12db/oktaw i wartoci cutoff c.
ln Rys.2 Procedura okrelania dugoci odcinka elementarnego prolu okresowego,
1
dZ (x)
dx
Ra75 =
ln Z(x) dx
0
jeli nie zosta on okrelony wczeniej.
 Kompendium metrologii Contracer (Przyrzd do pomiaru konturu)

Kt ledzenia Dokadno
W zwizku z tym, e detektory osi X i Z wykorzystuj liniay, dokadno
powikszenia wywietlana jest nie jako warto procentowa, ale jako
Zbocze opadajce
dokadno liniowego przemieszczenia w kadej z osi.
Strona
38 Zbocze 77 lub mniej 87 lub mniej
rosnce
Zabezpieczenie przed przecieniem
Maksymalny kt, przy ktrym kocwka moe przemieszcza si w gr Jeli na ostrze kocwki wywierana jest zbyt dua sia (przecienie)
i w d wzdu konturu mierzonego przedmiotu w kierunku przejazdu zwizana, by moe, ze zbyt stromym zboczem cechy przedmiotu
kocwki nazywany jest ktem ledzenia. Jednostronnie cita kocwka lub te wadami powierzchni itp., to specjalny ukad zabezpieczajcy
o kcie cicia 12 (jak na rysunku powyej) moe ledzi zbocze rosnce automatycznie zatrzymuje prac przyrzdu i wcza alarm dwikowy.
pod ktem maksimum 77, a zbocze opadajce pod maksymalnym ktem Ten typ przyrzdw jest zwykle wyposaony w oddzielne ukady
87. W przypadku kocwki stokowej (stoek 30) kt ledzenia jest zabezpieczajce dla kierunku ledzenia (o X) i pionowego kierunku
mniejszy. Zbocze rosnce o kcie wznoszenia 77 lub nieco mniejszym pomiaru (o Y).
moe w rzeczywistoci mie kt wikszy ni 77 ze wzgldu na efekt jaki W modelu CV-3200/4500 ukad zabezpieczajcy dziaa rwnie po
wnosi chropowato powierzchni. Chropowato powierzchni wpywa wyjciu ramienia z uchwytu detektora.
rwnie na si nacisku pomiarowego.
W przypadku modelu CV-3200/4500 ten sam typ kocwki (SPH-71:
jednostronnie cita, ostra kocwka o kcie 12) moe ledzi zbocze
rosnce o kcie maksymalnym 77 i zbocze opadajce o kcie 83.
Proste i zoone prowadzenie ramienia
W przypadku prostego ramienia przechylnego, lad jaki kreli kocwka
podczas przemieszczania w pionie (kierunek Z) jest ukiem stwarzajcym
Kompensacja promienia kocwki niepodane przesunicie w osi X, dla ktrego trzeba wykona
Zarejestrowany profil reprezentuje lad rodka kulistego zakoczenia kompensacj. Im duszy jest ten uk tym wiksze jest niepodane,
kocwki pomiarowej przesuwanego po mierzonej powierzchni. (Typowa wymagajce kompensacji, przemieszczenie w osi X (). (Patrz rys. u
warto promienia to 0,025mm.) Oczywicie nie jest to to samo co dou po lewej.) Alternatyw dla kompensacji jest stosowanie zoonego
profil rzeczywistej powierzchni, wic aby uzyska waciwy zapis profilu mechanicznego przemieszczania wspbienego, dziki ktremu
konieczne jest skompensowanie efektu jaki wnosi promie kocwki. uzyskuje si liniowy lad przemieszczenia w osi Z i mona nie wykonywa
kompensacji w osi X.
Kocwka
RxM
Metody pomiaru w osi Z
Chocia oglnie przyjt metod pomiaru przemieszczenia w osi X jest
Zarejestrowany prol
pomiar z wykorzystaniem liniau cyfrowego, metody pomiaru w osi
RxM
Z dziel si zasadniczo na analogowe (ze stosowaniem przetwornika
Kontur przedmiotu RxM transformatorowo-rnicowego itp.) i cyfrowe.
R: Promie kocwki
Metody analogowe rni si rozdzielczoci w osi Z zalenie od
M: Powikzenie pomiaru powikszenia pomiaru i zakresu pomiarowego. Metody wykorzystujce
liniay cyfrowe charakteryzuje staa rozdzielczo.
Jeli profil jest odczytany bezporednio z rejestratora, konieczne jest Oglnie pomiar cyfrowy zapewnia wiksz dokadno pomiaru ni
uprzednie skompensowanie promienia kocwki stosownie do przyjtego analogowy.
powikszenia pomiaru.
Kompensacja obrotu ramienia
Kocwka pomiarowa prowadzona jest na przechylanym ramieniu,
wic obraca si w miar ledzenia powierzchni, co powoduje, e
punkt styku nie przemieszcza si jedynie w kierunku osi Z. Dlatego te,
dla zapewnienia waciwej dokadnoci konieczne jest zastosowanie
kompensacji w kierunku osi X. Istniej trzy metody kompensacji obrotu
ramienia.
1: Kompensacja mechaniczna
2: Kompensacja elektryczna

Kocwka
Rami mierzce

Punkt podparcia

: Niepodane przemieszczenie
w osi X do skompensowania

3: Kompensacja programowa.
Aby dokadnie mierzy kontur przedmiotu wymagajcego duych
przemieszcze w pionie, naley zastosowa jedn z tych metod
kompensacji.
 Metody analizy konturu
Po ukoczeniu operacji pomiaru kontur mona analizowa przy uyciu
jednej z dwch poniszych metod.
Sekcja przetwarzania danych i program do analizy
Zmierzony kontur wprowadzany jest w czasie rzeczywistym do sekcji
przetwarzania danych a dedykowany program umoliwia wykonanie
analizy przy uyciu myszy i/lub klawiatury. Kty, promienie, wysokoci,
krok pomiaru i inne dane wywietlane s bezporednio w postaci wartoci
liczbowych. Analiza z wykorzystaniem ukadw wsprzdnych jest
niezwykle prosta. Wykres po przejciu przez kompensacj promienia
kocwki przesyany jest do drukarki jako zarejestrowany profil.
czenie konturw
Zwykle jeli odwzorowanie penego konturu nie jest moliwe ze wzgldu
na ograniczenie maksymalnym ktem ledzenia, pomiar naley rozoy
na kilka czci mierzonych i analizowanych oddzielnie. Funkcja czenia
konturw pozwala na unikniecie tej niepodanej sytuacji. czenie
dwch konturw w jeden odbywa si poprzez naoenie na siebie
ich wsplnych elementw (proste, punkty) oraz usunicie punktw
nieprawidowych. Dziki tej funkcji uzyskuje si peny kontur do dalszych
analiz w zwykym trybie.
Kontur 1 Kontur 2 Strona
39

Tolerowanie z danymi nominalnymi

czenie konturw
Zmierzony kontur przedmiotu mona, w odrnieniu od analizy
wymiarw, podda analizie odchyek ksztatu poprzez porwnanie go z
konturem nominalnym. W tej technice obliczana i rejestrowana jest kada
odchyka konturu mierzonego w odniesieniu do nominalnego. Konturem
nominalnym moe by rwnie kontur zmierzony na innej czci. Mona
w ten sposb porwnywa produkowane czci z czci wzorcow.
Funkcja tolerowania ksztatu konturu jest szczeglnie uyteczna, gdy
ksztat pewnych fragmentw zarysu wpywa w znacznym stopniu na
jako produktu lub ma wpyw na wspprac czci po zmontowaniu.

Przykady pomiarw
Najlepsze dopasowanie
Jeli istnieje wzorzec ksztatu i pooenia profilu powierzchni, tolerowanie
konturu wykonywane jest w odniesieniu do tego wzorca. Jeli nie ma
takiego wzorca lub jeli wymagane jest tolerowanie samego ksztatu,
mona wykona najlepsze dopasowanie konturu mierzonego i
nominalnego.
<Przed operacj najlepszego dopasowania> <Po operacji najlepszego dopasowania>
Kontur zmierzony
Kontur zmierzony
Podwjna kocwka do pomiarw z ig Kontur zewntrznej/wewntrznej czci
skierowan w d i do gry piercienia oyska

Kontur nominalny Kontur nominalny

Algorytm najlepszego dopasowania wyszukuje odchyki pomidzy

oboma zestawami danych i tworzy ukad wsprzdnych, w ktrym
suma kwadratw odchyek jest minimalna, co odpowiada sytuacji, gdzie
obydwa kontury pokrywaj si. Uzbienie wewntrznego koa zbatego Ksztat gwintu wewntrznego

Ksztat gwintu zewntrznego Kontur przyrzdu

 Kompendium metrologii Roundtest (Przyrzdy do pomiaru ksztatu)

ISO 4291: 1985 Metody oceny odchyek okrgoci -- Pomiar zmian promieni
ISO 1101: 2012 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS) -- Tolerancje geometryczne --
Tolerancje ksztatu, kierunku, pooenia i bicia
Strona Okrgo Prostoliniowo Pasko Walcowo
40 Dowolny zarys musi zawiera si wewntrz strefy Dowolny zarys powierzchni powinien lee w stree Powierzchnia musi lee w stree tolerancji Badana powierzchnia musi zawiera si w stree
tolerancji tworzonej przez dwa lce w tej samej tolerancji tworzonej przez dwie rwnolege proste tworzonej przez dwie rwnolege do siebie tolerancji tworzonej przez dwa wsposiowe
paszczynie okrgi o rnicy promieni t odlege o t paszczyzny odlege o t walce oddalone o t
0.1 0.1
0.1
0.1
t

Przykad zapisu Przykad zapisu Przykad zapisu

t
t

Przykad zapisu

t
Strefa tolerancji

Strefa tolerancji Strefa tolerancji

Strefa tolerancji
Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego

Wsprodkowo Wsposiowo Prostopado

rodek elementu mierzonego musi si znajdowa O elementu mierzonego musi si zawiera w stree Zarys powierzchni lub powierzchnia musi zawiera si w stree tolerancji pomidzy dwoma walcami
w stree tolerancji utworzonej przez okrg o tolerancji tworzonej przez cylinder o rednicy t lub dwiema paszczyznami odlegymi o t i prostopadymi do bazy
rednicy t wsprodkowy z baz wposiowy z baz
A 0.08 A 0.08 A
A A
0.08 A

A Przykad Przykad zapisu Przykad zapisu

0.08 A
zapisu
t t t
Przykad zapisu

Baza A

rodek

t
bazy O bazowa
O bazowa
Strefa tolerancji Strefa tolerancji Strefa tolerancji Strefa tolerancji
Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego

Bicie Strefa tolerancji bicia promienowego ley pomidzy dwoma wsprodkowymi z baz Bicie cakowite Przy biciu promieniowym powierzchnia mierzona musi lee w
okrgami odlegymi o t. Okrgi le w jednej paszczynie prostopadej do osi bazy. Strefa tolerancji bicia stree tolerancji tworzonej przez dwa wsposiowe z osi bazy walce oddalone o rnic promieni t.
osiowego ley pomidzy dwoma rwnolegymi do siebie paszczyznami odlegymi o t i prostopadymi do Przy biciu osiowym stref tolerancji tworz dwie paszczyzny oddalone o t i prostopade do osi bazy.
osi bazy.
0.1 A 0.1 A
0.1 A 0.1 A
A A A
A
Bicie promieniowe Bicie osiowe Bicie promieniowe Bicie osiowe
Kierunek odchyki: Kierunek odchyki: Kierunek odchyki: Kierunek odchyki:
Promieniowy - Osiowy - Promieniowy - Osiowy -
prostopady osi bazy rwnolegy do osi Prostopady do osi Rwnolegy do osi
bazy Przykad zapisu bazy Przyklad bazy Przykad zapisu
Przykad zapisu
zapisu

t
t

O bazowa
t

O bazowa O bazowa
t

O bazowa
Strefa tolerancji Strefa tolerancji Strefa tolerancji Strefa tolerancji
Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego Przykad werykacji przy uyciu przyrzdu pomiarowego

Regulacje przed pomiarem

Centrowanie Poziomowanie
Przesunicie (mimorodowo) pomidzy osi stou obrotowego Roundtest a osi przedmiotu Kade przechylenie osi przedmiotu w odniesieniu do osi obrotu przyrzdu pomiarowego powoduje
powoduje zaburzenie ksztatu mierzonego przedmiotu (bd limakowy - limaon), co w konsekwencji powstawanie bdu eliptycznego. Aby obie osie byy do siebie rwnolege trzeba wykona
powiksza odchyk obliczanej wartoci okrgoci. Im wiksza mimorodowo, tym wiksza odchyka poziomowanie.
okrgoci. Z tego powodu mierzony przedmiot powinien by wycentrowany (osie zbiene) przed pomiarem.
Niektre przyrzdy do pomiaru okrgoci zapewniaj dokadny pomiar dziki funkcji korekcji bdu
limakowego. Dziaanie tej funkcji przedstawia poniszy wykres. 100
Wpyw funkcji kompensacji mimorodowoci
1mm
1000 200mm
2mm
Bd spowodowany przechyleniem osi (m)

10
q 100mm
5mm
50mm
10mm rednica
100
20mm 20mm
rednica
przedmiotu D 1 przedmiotu
Odchyka okrgoci (m)

50mm 10mm
100mm 5mm
10
200mm 2mm
0.1 1mm
1

0.01
0.1

Mimorodowo 0.001
0.01 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
1 10 100 1000 D e
Eccentricity (m) Przechylenie (stopnie)
Mimorodowo w zalenoci od odchyki okrgoci Zaleno bdu eliptycznego od przechylenia
 Wpyw ustawie ltra na mierzony prol Liczba zafalowa na obrt (UPR)
Zmierzone wartoci okrgoci (RONz) silnie zale od wartoci granicznej dugoci fali ltra - cutoff.
Konieczne jest ustawianie ltra waciwie do przeprowadzanej analizy.
na wykresach okrgoci
Wykresy wynikw pomiaru
Bez ltra RONz=22.14m 90

Amplituda
180 0 0
0 90 180 270 360

270 Kt

Filtr Stan A 1 UPR pokazuje mimorodowo pooenia przedmiotu wzgldem osi

dolnoprzepustowy obrotu przyrzdu pomiarowego. Amplituda skadowych zafalowa zaley od
RONz=12.35m RONz=16.60m RONz=20.72m RONz=22.04m wypoziomowania mierzonego przedmiotu.
90
Strona
41

Amplituda
180 0 0
0 90 180 270 360

270 Kt
15 upr 50 upr 150 upr 500 upr
Filtr Stan 2 UPR moe wskazywa: (1) niedostateczne wypoziomowanie na przyrzdzie
pasmowoprzepustowy pomiarowym; (2) bicie promieniowe spowodowane nieprawidowym zamocowaniem
RONz=17.61m RONz=18.76m RONz=14.50m przedmiotu w uchwycie maszyny obrbczej; (3) ksztat przedmiotu zosta
zaprojektowany jako eliptyczny, na przykad tok silnika spalinowego.
90

Amplituda
180 0 0
0 90 180 270 360

15-150 upr 15-500 upr 50-500 upr 270

Kt

Stan 3 do 5 UPR moe wskazywa: (1) deformacj spowodowan zbyt mocnym

zacinieciem w uchwycie przyrzdu pomiarowego; (2) deformacj spowodowan
zwolnieniem naprenia po wyjciu z uchwytu maszyny obrbczej.

90

Analiza okrgoci mierzonego prolu

Amplituda
Przyrzdy do pomiaru okrgoci (RONz) na podstawie danych pomiarowych tworz okrgi odniesienia, ktrych wymiary 180 0 0
okrelaj wartoci okrgoci. Istniej cztery, przedstawione poniej, metody tworzenia tych okrgw. Kada z nich 0 90 180 270 360
posiada wasny charakter, wic powinna by wybierana ta najlepiej odpowiadajca funkcji mierzonego przedmiotu.
270
Metoda okrgu najmniejszych Metoda okrgw strefy Kt
kwadratw (LSCI) minimalnej (MZCI) 90

Okrg wpasowany jest w mierzony prol w taki sposb, eby suma Dwa wsprodkowe okrgi pozycjonowane s w taki sposb, aby

Amplituda
kwadratw odsuni punktw prolu od tego okrgu bya najmniejsza. obejmoway punkty pomiarowe prolu przy najmniejszej rnicy ich
Okrgo deniowana jest jako rnica pomidzy maksymalnie promieni. Okrgo deniowana jest w tej metodzie jako ta rnica 180 0
0
odsunitymi punktami prolu od tego okrgu (najwyszy szczyt i promieni. 0 90 180 270 360
najgbsza dolina).

270 Kt
RO RO
N
z
N
z
Stan 5 do 15 UPR czsto wskazuje na wystepowanie czynnikw niezrwnowaenia
Rmin
Rmin
Rmax Rmax metody obrbczej lub procesu wytwrczego.
90
Amplituda

180 0 0
RONz = Rmax-Rmin RONz = Rmax-Rmin 0 90 180 270 360

270 Kt
Metoda minimalnego okrgu Metoda maksymalnego okrgu 90
opisanego (MCC) wpisanego (MICI)
Tworzony jest najmniejszy okrg obejmujcy wszystkie punkty Tworzony jest najwikszy okrg jaki moe by objty przez mierzony
Amplituda

mierzonego prolu. Okrgo deniowana jest w tej metodzie jako prol. Okrgo jest w tej metodzie deniowana jako maksymalna
maksymalna odlego punktu prolu od tego okrgu. Okrg ten jest odlego punktu prolu od tego okrgu. Okrg ten jest czasem 180 0 0
0 90 180 270 360
czasem nazywany okrgiem sprawdzianu piercieniowego. nazywany okrgiem sprawdzianu toczkowego.

270 Kt
RO RO
N N

Rmin
z

Rmin
z
Stan 15 (lub wicej) UPR zwykle spowodowany przez drgania samowzbudne, wibracje
Rmax Rmax maszyny, efekt wywoywany dostarczaniem chodziwa, niejednorodno materiau itp..
Zwykle ma wiksze znaczenie dla funkcji czci ni dla jej zamocowania w zespole.
90
Amplituda

RONz = Rmax-Rmin RONz = Rmax-Rmin

180 0 0
0 90 180 270 360

270 Kt
90
Amplituda

180 0 0
0 90 180 270 360

270 Kt
 Kompendium metrologii Twardociomierze

Metody pomiaru twardoci i wskazwki dla wyboru twardociomierza

Metoda badawcza Charak- Dla gbki, Przenone,
terystyki
Mikrotwardo Rockwell gumy i typ z
mikropo-wi- Vickers Rockwell Brinell Shore
(Micro-Vickers) Superficial tworzyw odbiciem
Materia erzchniowe sztucznych sprystym
materiau

Strona Wafel ukadw scalonych

42 Wglik, ceramika (narzdzie obrbcze)
Stal (materia po obrbce ciplnej, materia surowy)
Metal nieelazny
Tworzywo sztuczne
Kamie szlifierski
Odlew
Gbka, guma
Ksztat
Cienki arkusz metalu (yletka, folia metalowa)
Cienka folia, powoka, lakier, warstwa powierzchniowa
(warstwa azotowana)
Drobne czci, czci igowe (wskazwka, iga krawiecka)
Dua prbka (struktura)
Konfiguracja materiau metalicznego (twardo kadej
fazy stopu wielowarstwowego)
Pytka z tworzywa sztucznego
Pytka gumowa, gbka
Zastostowanie
Wytrzymao lub fizyczna wasno materiau
Proces obrbki cieplnej
Gboko warstwy nawglonej
Gboko warstwy odwglonej
Gboko warstwy hartowania pomieniowego lub
indukcyjne wysokiej czstotliwoci
Badanie hartownoci
Maksymalna twardo zgrzeiny punktowej
Twardo spawu
Twardo wysokotemperaturowa (parametryw wysoko-
temperaturowe, plastyczno przy obrbce na gorco)
Odporno na kruche pkanie (ceramika)
Klucz: Zalecany Dopuszczalny

Metody pomiaru twardoci

(1) Metoda Vickersa (2) Metoda Knoopa
Metoda Vickersa jest najszerzej stosowan metod badania twardoci, Jak pokazuje poniszy wzr, twardo Knoopa jest wartoci uzyskiwan
umoliwiajc badanie przy dowolnym nacisku pomiarowym. Badanie przez podzielenie siy nacisku pomiarowego F przez zrzutowan
to ma ogromn liczb dziedzin zastosowa, szczeglnie w zakresie powierzchni A (mm2) wgbienia, obliczan na podstawie dugoci jego
badania twardoci pod naciskiem miniejszym ni 9,807N (1kgf). Jak duszej przektnej d (mm). Wgbienie tworzone jest poprzez wciskanie
pokazuje ponisze rwnanie, warto twardoci Vickersa okrela iloraz w prbk wgbnika, bdcego ostrosupem diamentowym o podstawie
nacisku pomiarowego F (N) i powierzchni kontaktu S (mm2) prbki i rombu i o ktach przeciwlegych cian 17230' i 130, z si nacisku F.
wgbnika, obliczanej na podstawie dugoci przektnej d (mm, rednia Twardo Knoopa mona mierzy rwnie na mikrotwardociomierzu
z obu przektnych) wgbienia utworzonego w prbce przez wgbnik Vickersa po wymianie wgbnika na wgbnik Knoopa.
(czworoboczny ostrosup diamentowy o kcie wierzchokowym =136)
pod naciskiem F (N). k jest sta (1/g =1/9,80665). F F F F F:N
HK=k =0,102 =0.102 2 =1,451 2
A A cd d d:mm
c:Staa
F F 2Fsin q F F:N
HV=k =0,102 =0,102 2 2 =0,1891 2
S S d d d:mm (3) Metody Rockwella i Super Rockwella
Aby mierzy twardo metod Rockwella lub Super-Rockwella, naley
Bd obliczonej wartoci twardoci Vickersa dany jest poniszym najpierw za porednictwem wgbnika diamentowego (kt wierzchoka
rwnaniem. Tu Dd1, Dd2 oraz a reprezentuj odpowiednio bd stoka 120, promie wierzchoka 0,2mm) lub wgbnika kulistego
pomiaru wnoszony przez mikroskop, bd odczytu wgbienia i (kulka stalowa lub wglikowa) przyoy do prbki nacisk wstpny,
bd dugoci linii krawdzi utworzonej przez kocwk wgbnika. pniej waciwy nacisk pomiarowy, a na koniec powrci do nacisku
Jednostk Dq jest stopie. wstpnego. Warto twardoci oblicza si na podstawie rnicy
DHV DF Dd1 Dd2 a2
gbokoci wgbie h (m) przy nacisku wstpnym i pomiarowym.
HV -2 d -2 d - 3,5x10-3Dq W pomiarach twardoci Rockwella wykorzystuje si obcienie wstpne
F d2
98,07N, a przy twardoci Super Rockwella 29,42N. Specjalny symbol
powizany z typem wgbnika, naciskiem pomiarowym i wzorem
twardoci znany jest jako skala twardoci.
 Zaleno pomidzy twardoci Vickersa a minimaln gruboci prbki Nacisk pomiarowy
F:kgf F:N

Minimalna Dlugo przektnej 0.001 9.807x10-3

grubo prbki wgbienia
0.002 19.61x10-3
t:mm d:mm 0.003 29.42x10-3
0.001
0.001 0.005 49.03x10-3
0.002
Twardo Vickersa 0.003 0.002 0.01 98.07x10-3
d HV 0.005 0.003
0.02 0.1961
2000 0.005 0.03 0.2942

h
0.01
0.01 0.05 0.4903
1000 0.02

t
500 0.03 0.02 0.1 0.9807
0.03
F
300
200
0.05
0.05
0.2 1.961 Strona
HV=0,1891 2 0.3 2.942
t>1,5d
d 0.1
0.1 0.5 4.903
43
100
hd/7 0.2
50 0.3 0.2 1 9.807
t: Grubo prbki (mm) 0.3
30 0.5 2 19.61
d: Dugo przektnej (mm) 0.5
20 3 29.42
h: Gboko wgbienia (mm) 1
[Przykad] 1 5 49.03
2
Grubo prbki t: 0,15mm 10 98.07
3 2
Twardo prbki: 185HV1
Nacisk pomiarowy F: 9,807N (1kgf) 20 196.1
Dugo przektnej d: 0,1mm 30 294.2
50 490.3

Zaleno pomidzy twardociami Rockwella/Super Rockwella a minimaln gruboci prbki

1.8 3.3 1.4
1.7 3.15
1.6 3 1.2
1.5 2.85
Minimalna grubo prbki (mm)

Minimalna grubo prbki (mm)

Minimalna grubo prbki (mm)

1.4 1.0
1.3 2.7
1.2 2.55 0.8
1.1 2.4
1.0 2.25 0.6
0.9 2.1
0.8 1.95 0.4
0.7
0.6 1.8
0.2
0.5 1.65
0.4 1.5 0
0.3 1.35 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
0.2 1.2
0.1 1.05
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
0.9
0.75
20 30 40 50 60 70 80 90 100

Twardo Rockwella

Twardo Super Rockwella

Twardo Rockwella

Skale twardoci Rockwella Skale twardoci Super Rockwella

Ska- Wgbnik Nacisk Zastosowanie Ska- Wgbnik Nacisk Zastosowanie
la (N) la (N)
A 588,4 15N 147,1
Wglik, cienka blacha stalowa
D Diament 980,7 Stal utwardzana powierzchniowo 30N Diament 294,2 Cienka, twarda warstwa na stali, taka jak warstwa
nawglana lub azotowana
Stal (wicej ni 100HRB lub mniej ni 70HRC)
C 1471 45N 441,3
F 588,4 15T 147,1
Kulka o Metal oyskowy, wyarzana mied Kulka o
B rednicy 980,7 Mosidz 30T rednicy 294,2 Cienka blacha z mikkiej stali, mosidz, brz itp.
1,5875mm Twardy stop aluminium, mied berylowa, brz fosforowy 1,5875mm
G 1471 45T 441,3
H 588,4 15W 147,1
Kulka o Metal oyskowy, kamie szlifierski Kulka o
E rednicy 980,7 Metal oyskowy 30W rednicy 294,2 Tworzywo sztuczne, cynk, stop oyskowy
3,175mm Metal oyskowy 3,175mm
K 1471 45W 441,3
L 588,4 15X 147,1
Kulka o Kulka o
M rednicy 980,7 Tworzywo sztuczne, ow 30X rednicy 294,2 Tworzywo sztuczne, cynk, stop oyskowy
6,35mm 6,35mm
P 1471 45X 441,3
R 588,4 15Y 147,1
Kulka o Kulka o
S rednicy 980,7 Tworzywo sztuczne 30Y rednicy 294,2 Tworzywo sztuczne, cynk, stop oyskowy
12,7mm 12,7mm
V 1471 45Y 441,3

Bloki kalibracyjne: Nacisk pomiarowy Rockwella i Super Rockwella

Parametr Twardo Rockwella Twardo Super Rockwella
Nacisk wstpny N 98,07 29,42
kgf 10 3
Nacisk pomiarowy N 588,4 980,7 1471 147,1 294,2 441,3
kgf 60 100 150 15 30 45
Wgbnik diamentowy A D C 15N 30N 45N
Kulka calowa F B G 15T 30T 45T
1/16
H E K 15W 30W 45W
1/8
L M P 15X 30X 45X
1/4
R S V 15Y 30Y 45Y
1/2
 Wsprzdnociowe
Kompendium metrologii Maszyny Pomiarowe

Procedura szacowania dokadnoci WMP okrelona jest w midzynarodowej normie serii

EN ISO 10360. Mitutoyo zawsze chtnie powouje si na ostatnie ustalenia norm ISO.
Ta strona zawiera omwienie parametrw ISO, ktre Mitutoyo wymienia w tym katalogu.

Strona
44 Dopuszczalny bd graniczny (MPE) pomiaru dugoci E0,MPE [EN ISO 10360-2]
Procedura badawcza wedug normy ISO 10360-2: Za pomoc wsprzdnociowej maszyny pomiarowej (WMP) wykonywana
jest seria pomiarw piciu rnych wzorcw materialnych w kadym z siedmiu kierunkw, jak pokazano na Rysunku 1, aby
uzyska zestaw 35 pomiarw. Sekwencja ta jest pniej trzykrotnie powtarzana dla uzyskania w sumie 105 pomiarw.
Jeli te wyniki, z uwzgldnieniem niepewnoci pomiaru, s mniejsze lub rwne wartociom specyfikowanym przez
producenta, to uznaje si, e dokadno WMP jest zgodna ze specyfikacj.
Norma ta pozwala, aby maksymalnie pi z 35 pomiarw leao poza polem zgodnoci (dwa wyniki niezgodne z trzykrotnego
pomiaru w tej samej pozycji s niedopuszczalne). Pomiar wymiaru, ktrego wynik ley poza polem zgodnoci naley w
danym pooeniu i kierunku powtrzy dziesiciokrotnie. Jeli 10 wynikw, cznie z granicami niepewnoci, mieci si w
polu zgodnoci, to przyjmuje si, e WMP dziaa prawidowo. Przy wyznaczaniu dopuszczalnego bdu granicznego naley
uwzgldni niepewnoci zwizane z metodami kalibracji i budowy ukadu wsprzdnych przy wykorzystaniu do badania
okrelnych materialnych wzorcw dugoci. (Wartoci uzyskane poprzez dodanie rozszerzonej niepewnoci z uwzgldnieniem
dwch powyszych niepewnoci do wynikw wszystkich testw musz by nisze od wartoci specyfikowanej przez
producenta.) Wynik badania moe by wyraony w jednej z trzech poniszych postaci (jednostka: m).
A: Staa (m) okrelona przez producenta
E0,MPE=A+L/KB
K: Staa bezwymiarowa okrelona przez producenta Rysunek 1 Typowe kierunki pomiaru w
E0,MPE=A+L/K przestrzeni pomiarowej WMP
L: Mierzona dugo (mm) podczas badania
E0,MPE=B
B: Warto grnej granicy (m) okrelona przez producenta

Dopuszczalny bd graniczny skaningowej gowicy pomiarowej MPE THP [EN ISO 10360-4]
ISO 10360-4 jest norm weryfikujc parametry WMP wyposaonych w sond skaningow. Jej procedura badawcza
przewiduje wykonanie pomiaru kuli badawczej w 4 paszczyznach w trybie skanowania, a nastpnie obliczenie zakresu (wymiar
A na Rysunku 3), w ktrym powinny si znajdowa wszystkie punkty pomiarowe. Zakres ten odnosi si do rodka sfery
najmniejszych kwadratw obliczonej na podstawie wszystkich punktw pomiarowych. W oparciu o obliczony powyej rodek
sfery najmniejszych kwadratw, oblicza si odlego minimalnego i maksymalnego punktu pomiarowego od powierzchni sfery
promienia nominalnego wsprodkowej ze sfer najmniejszych kwadratw. Jako wynik przyjmuje si warto wiksz (wymiar
B na Rysunku 3). Do kadego z wymiarw A i B naley doda niepewno rozszerzon, czc w sobie niepewno zwizan z
ksztatem kocwki pomiarowej i niepewno zwizan ksztatem kuli badawczej. Jeli obydwie wartoci s mniejsze od wartoci
specyfikowanej przez producenta, oznacza to, e sonda skaningowa dziaa prawidowo.

22.5
22.5 a
22.5
22.5
Rysunek 3 Paszczyzny pomiarowe dla wyznaczenia maksymalnego dopuszczalnego bdu granicznego sondy
skaningowej i koncepcja ich obliczania

Dopuszczalny graniczny bd ksztatu pojedynczej sondy PFTU,MPE [EN ISO 10360-5] 22.5
Procedura badania zgodna z ww. norm: Badan sond naley zmierzy 25 okrelonych punktw na kuli badawczej (25 punktw
rozmieszczonych jak na Rysunku 2). Na podstawie zmierzonych punktw metod najmniejszych kwadratw obliczana jest
sfera. Nastpnie obliczane s promienie kadego z 25 punktw w odniesieniu do rodka tej sfery, a nastpnie wyznaczany jest
ich rozstp. Do rozstpu promieni dodawana jest niepewno rozszerzona, czc w sobie niepewno zwizan z ksztatem
kocwki pomiarowej i niepewno zwizan ksztatem kuli badawczej. Jeli ta ostatecznie obliczona warto jest mniejsza lub
rwna wartoci specyfikowanej przez producenta, oznacza to, e sonda przesza badanie.
Rysunek 2 Punkty pomiarowe na
kuli badawczej suce do
wyznaczenia Dopuszczalnego
bdu granicznego ksztatu
pojedynczej sondy