GBT PTX–1

–1

Giải Bài tập

Các Phương pháp
Phân tích Tia X
 GBT PTX–2
–2
1. Cường độ I của một chùm bức xạ theo bản chất hạt
được xác định bằng số lượng photon của chùm bức xạ.
Cường độ I của một chùm bức xạ theo bản chất sóng
được xác định bằng thông số nào?

Bức xạ điện từ được biểu thị đặc trưng bằng

phương trình sóng điều hòa hình sin:

y = A sin ωt = A sin 2πνt

Cường độ I của chùm bức xạ theo bản chất sóng

được xác định bằng thông số A theo hàm sin phi tuyến.
 GBT PTX–3
–3
2. Tại sao người ta thường sử dụng đơn vị đo là bước sóng λ
đối với quang phổ nhiễu xạ tia X, tử ngoại UV và khả kiến VIS
nhưng lại sử dụng số sóng ν đối với quang phổ hồng ngoại IR?

c ν
ε = hν = h = hc ν với ν =
λ c
a. 2 yêu cầu đối với đại lượng đo:
• Đồng biến với tính chất un tâm
• Giá trị đo gần đơn vị
b. IR khảo sát Elk nên sử dụng
• Đại lượng ν đồng biến với ε.
• ν = ν c với c = 3×1010 cm/s →

ν IR ≈ 400 − 4000 cm−1 ⇒ Gần đơn vị

c. XRD khảo sát khoảng cách d
nên sử dụng đại lượng λ (Å).
 GBT PTX–4
–4
3. Mô tả sự khác biệt của tương tác giữa ánh sáng mặt trời
với kính thủy tinh thông thường và thủy tinh cách nhiệt.

• Bức xạ mặt trời truyền đến trái đất có:

Bức xạ % năng lượng Tác dụng

Tử ngoại 3 Kích thích
Khả kiến 40 Thấy được
Hồng ngoại 57 Nhiệt

• Vật phía sau kính bị làm nóng chủ yếu do

hấp thu bức xạ IR nên dao động nhiệt.
• Kính thủy tinh thông thường có độ truyền qua cao đối với
cả ba loại bức xạ trên nên làm nóng vật phía sau kính.
• Kính thủy tinh cách nhiệt có:
– Độ truyền qua cao đối với bức xạ VIS
– Độ phản xạ–tán xạ cao đối với bức xạ IR
nên không làm nóng vật phía sau kính.
 GBT PTX–5
–5
4. Giải thích tại sao mỗi loại bức xạ kích thích khi tác động lên chất
lại chỉ làm xảy ra một quá trình chính mà thôi?

Nguyên lý tương ứng ≡ Trao đổi tương ứng

Loại bức xạ Quá trình chính xảy ra Năng lượng kJ/mol

Vi sóng Quay phân tử hay dao động nút mạng Eqy 10–3–1

IR Dao động liên kết Edđ 1–102

VIS–UV Kích thích điện tử bên ngoài Eđt 102–104

Tia X Kích thích điện tử bên trong Enx 104–106

a. Mỗi bức xạ có năng lượng ε ứng với bước sóng λ

b. Mỗi quá trình có năng lượng A ứng với biến đổi đó
c. Biến đổi chỉ xảy ra khi năng lượng bức xạ ε ≡ năng lượng quá trình A
 GBT PTX–6
–6
5. Nhiễu xạ tia X là gì?

• Nhiễu xạ tia X bao gồm:

– Hiện tượng tán xạ ban đầu

– Hiện tượng giao thoa tiếp theo

• Điều kiện để có hiện tượng tán xạ

tia X ban đầu là tia X tới gặp một vật
chứa các vi hạt có kích thước hạt
tương đương bước sóng của tia X.

• Điều kiện để có hiện tượng giao thoa tiếp theo là tia X tán xạ
trên vật chứa các vi hạt được sắp xếp một cách đều đặn với
khoảng cách giữa các vi hạt tương đương bước sóng của tia X.

• Vì vậy, điều kiện để có nhiễu xạ tia X là tia X tới gặp một vật
chứa các vi hạt được sắp xếp một cách đều đặn với kích thước vi hạt
và khoảng cách giữa các vi hạt tương đương bước sóng của tia X.

• Điều kiện này được thỏa đối với các tinh thể do
kích thước hạt, khoảng cách giữa các vi hạt trong tinh thể và
bước sóng của tia X đều nằm vào khoảng .
 GBT PTX–7
–7
6. Tại sao chúng ta chỉ có phổ phát xạ đặc trưng của
một đối âm cực bằng kim loại khi tăng năng lượng của
dòng điện tử bắn phá đối âm cực lên đến một giá trị tối thiểu?

Khi tăng năng lượng của dòng điện tử bắn phá đối âm cực
lên mức đủ để tác kích điện tử lớp K (lớp 1 - 1s) thì mới xuất hiện
các vạch phổ phát xạ đặc trưng K (Kα1, Kα2 và Kβ) của đối âm cực.
 GBT PTX–8
–8
7. Trình bày các tương tác có thể xảy ra khi bức xạ tia X đến một chất.

• Khi bức xạ tia X đến một chất thì có thể xảy ra các hiện tượng
Truyền qua–Khúc xạ Hấp thu–Huỳnh quang Phản xạ Tán xạ – Nhiễu xạ
tương tự như các bức xạ Tử ngoại – Khả kiến – Hồng ngoại – Vi sóng.
 GBT PTX–9
–9
8. Trình bày bản chất và ứng dụng của các hiện tượng
truyền qua, nhiễu xạ và huỳnh quang tia X.

• Truyền qua tia X xảy ra do bức xạ tia X sơ cấp xuyên qua mẫu
chứa các cấu tử có hệ số hấp thu khối μ khác nhau
đến màn hình phía sau mẫu tạo thành ảnh bên trong của mẫu.

• Hiện tượng truyền qua tia X được sử dụng để:

– Kiểm tra tình trạng sức khỏe trong y khoa,…

– Kiểm tra bên trong các sản phẩm kỹ thuật, xây dựng,…
 GBT PTX–10
–10
• Nhiễu xạ tia X xảy ra do bức xạ tia X sơ cấp
bị tán xạ và giao thoa trên tinh thể.

• Hiện tượng nhiễu xạ tia X được sử dụng để:

– Xác định cấu trúc pha của tinh thể dhkl – I, sự có mặt, vị trí, vết tắt
– Định tính và định lượng pha trong tinh thể dhkl – I
– Định tính và định lượng kích thước hạt vi tinh thể Chân mũi phổ
– Định tính và bán định lượng độ ổn định tinh thể Đường nền

20000
Cr2O3
19000

18000

17000

16000

15000

14000

13000

12000
Lin (Counts)

11000

10000

9000

8000

7000

6000

5000

4000

3000

2000

1000

10 20 30 40 50 60 70

2-Theta - Scale
Cr2O3 - File: Cr2O3.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 79.987 ° - Step: 0.033 ° - Ste Cr2O3 1200C 6h - File: Cr2O3 1200C 6h.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 79.987 °
Operations: Im port Operations: Y Scale Add 4000 | Import
Cr2O3 600C 4h - File: Cr2O3 600C 4h.raw - Type: 2Th/Th lock ed - Start: 10.000 ° - End: 79.987 °
Operations: Y Sc ale Add 1000 | Import
Cr2O3 800C 4h - File: Cr2O3 800C 4h.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 79.987 ° -
Operations: Y Sc ale Add 2000 | Import
Cr2O3 1000°C 4h - File: Cr2O3 1000°C 4h.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 79.98
Operations: Y Sc ale Add 3000 | Import
 GBT PTX–11
–11
• Huỳnh quang tia X xảy ra do bức xạ tia X sơ cấp tới mẫu
kích thích các nguyên tố có trong mẫu làm
phát xạ tia X thứ cấp đặc trưng của các nguyên tố đó.

• Hiện tượng huỳnh quang tia X được sử dụng để:

– Định tính nguyên tố λ–θ đặc trưng bức xạ huỳnh quang của nguyên tố
– Định lượng nguyên tố I của bức xạ huỳnh quang
 GBT PTX–12
–12
9. Trong quang phổ phát xạ tia X, dãy K là gì,
gồm các vạch nào và có cường độ khoảng bao nhiêu?
Có thể tách các vạch này bằng cách nào và đến mức nào?

Dãy K trong quang phổ phát xạ tia X là bức xạ phát xạ khi điện tử
từ các lớp L (1), M (2),… bên trên rơi xuống lỗ trống ở lớp K (3).

Bức xạ Kβ được loại bỏ đến 99% bằng kính lọc.

Kính lọc thường được làm bằng một tấm kim loại có
nguyên tử số nhỏ hơn kim loại đối âm cực 1–2 đơn vị.

Hiện nay, bộ đơn sắc Cgraphit hay Si(311)

cho kết quả tốt hơn kính lọc kim loại nhiều.
 GBT PTX–13
–13
10. Chứng minh định luật Bragg.

Điều kiện để các bức xạ tia X tán xạ thứ cấp

cùng pha với nhau đối với một tinh thể là

Hiệu đường đi của các tia

là bội số của bước sóng λ.

GY + YH = 2d sin θ

Sự nhiễu xạ xảy ra khi thỏa

các điều kiện theo phương trình Bragg:

2d sin θ = nλ
 GBT PTX–14
–14
11. Trình bày sự khác biệt khi sử dụng các giá trị dhkl và I trong
phép phân tích định tính và định lượng bằng nhiễu xạ tia X.

NaCl NaBr NaCl–NaBr

• Mỗi chất tinh thể có một phổ nhiễu xạ tia X

đặc trưng bởi các giá trị dhkl và phần nào là cường độ I.

• Chỉ trừ bạc và vàng có phổ nhiễu xạ tia X rất giống nhau.
Tất cả các mẫu còn lại có chứa cùng một chất thì phải có
các mũi phổ đặc trưng bởi các giá trị dhkl và I của chất đó.
 GBT PTX–15
–15
• Tuy nhiên:

– Giá trị dhkl hầu như không biến đổi đáng kể đối với các mẫu
được điều chế hay xử lý bằng các phương pháp khác nhau.
– Giá trị I có thể biến đổi đáng kể đối với các mẫu được
điều chế hay xử lý bằng các phương pháp khác nhau.

• Vì vậy, giá trị dhkl là yếu tố quyết định, còn giá trị I có tính tham khảo.

20000
Cr2O3
19000

18000

17000

16000

15000

14000

13000

12000
Lin (Counts)

11000

10000

9000

8000

7000

6000

5000

4000

3000

2000

1000

10 20 30 40 50 60 70

2-Theta - Scale
Cr2O3 - File: Cr2O3.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 79.987 ° - Step: 0.033 ° - Ste Cr2O3 1200C 6h - File: Cr2O3 1200C 6h.raw - Type: 2Th/Th loc ked - Start: 10.000 ° - End: 79.987 °
Operations: Import Operations: Y Scale Add 4000 | Import
Cr2O3 600C 4h - File: Cr2O3 600C 4h.raw - Type: 2Th/Th lock ed - Start: 10.000 ° - End: 79.987 °
Operations: Y Sc ale Add 1000 | Import
Cr2O3 800C 4h - File: Cr2O3 800C 4h.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 79.987 ° -
Operations: Y Sc ale Add 2000 | Import
Cr2O3 1000°C 4h - File: Cr2O3 1000°C 4h.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 79.98
Operations: Y Sc ale Add 3000 | Import
 GBT PTX–16
–16
12. Ô mạng cơ sở của NaCl với các nút mạng
được đánh số ngay bên dưới.
Hãy xác định chỉ số hkl của các mặt
đi qua các nút mạng và ngược lại.

• A1 – C3 – V1 • 111

• B1 – B3 – U3 • 200

• B1 – C2 – V2 • 220

• B1 – C2 – M1 • 222
 GBT PTX–17
–17
13. Xác định a và dhkl của tinh thể Cu.
Cho biết MCu = 63,546
Cu có cấu trúc lập phương diện tâm
cho phổ nhiễu xạ tia X như sau:

dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl

2,0851 111 1,8060 200 1,2762 220 1,0887 311

• Xác định thông số mạng a của đồng từ các giá trị dhkl.

Mạng lập phương

d
1
2
a
1
( ) (
= 2 h2 + k 2 + l2 → a = d h2 + k 2 + l2 )

hkl 111 200 220 311

Giá trị dhkl Å 2,0851 1,8060 1,2762 1,0887
Thông số mạng a Å 3,6115 3,6120 3,6096 3,6108

3,6115 + 3,6120 + 3,6096 + 3,6108

a= = 3,6110 Å
4
 GBT PTX–18
–18
• Tính tỉ trọng d của đồng:

m M× n M× n
d= = =
V A × V A × a3

với a = 3,6110 Å

63,546 × 4
d= = 8,9645
6,022.1023 × 3,61103.10− 24

Giá trị tỉ trọng d đo được từ thực nghiệm là 8,920Å < 8,9645Å

dthực nghiệm < dlý thuyết là do tinh thể Cu thật có các khuyết tật.

Công thức trường hợp tổng quát với nhiều cấu tử:

d=
∑ (M × n ) = (M × n ) + (M
i i 1 1 2× n2 ) + ...
A × (abc) A × (abc)
 GBT PTX–19
–19
14. Từ aCu = 3,6106, tính dhkl của các mặt mạng 111, 200, 220, 311 và 222.

Đây là bài toán ngược của Câu 13:

1 1
( )
= 2 h2 + k 2 + l2 → d =
a
d 2
a (h
2
+ k 2 + l2 )
hkl 111 200 220 311
Giá trị dhkl tính toán Å 2,0846 1,8053 1,2765 1,0886
Giá trị dhkl thực nghiệm Å 2,0851 1,8060 1,2762 1,0887
 GBT PTX–20
–20
15. Phổ nhiễu xạ tia X thực nghiệm của đồng: a = 3,6106 ± 0,0006Å

Stt hkl I dhkl, Å dhkl tính, Å Stt hkl I dhkl, Å dhkl tính, Å
1 111 90 2,0851 2,0846 4 311 90 1,0887 1,0886
2 200 80 1,8060 1,8053 5 222 50 1,0419 1,0423
3 220 100 1,2762 1,2765

So sánh giá trị dhkl tính được trong câu 14 với kết quả thực nghiệm trên.
Trình bày nhận xét của Anh–Chị.

• Đa số các giá trị dthực nghiệm > dtính toán cho thấy
tinh thể Cu thật có khuyết tật làm tăng thông số mạng.

• Một số giá trị dhkl thực nghiệm lại nhỏ hơn gía trị dhkl tính toán
cho thấy có thể có sự biến dạng góc của ô mạng cơ sở.

• Kết quả phân tích nhiễu xạ tia X đối với Cu có Sai số < 0,04%
 GBT TX–21
–21
16. Biết kim cương có mạng tinh thể gồm hai mạng con
lập phương diện tâm lồng vào nhau với
bước tịnh tiến là (¼a, ¼a, ¼a) với a = 3,560Å

a. Tính dhkl của các mặt mạng 111, 220, 311, 400, 444
của tinh thể kim cương.
b. So sánh dhkl tính được trong câu a với
kết quả thực nghiệm của phổ nhiễu xạ tia X.
Trình bày nhận xét của Anh–Chị.

dhkl tính, dhkl tính,

Stt hkl I dhkl, Å Stt hkl I dhkl, Å
Å Å
1 111 100 2,050 2,055 4 400 40 0,885 0,890
2 220 80 1,260 1,259 5 444 20 0,507 0,514
3 311 70 1,072 1,073

a. Tính dhkl của các mặt mạng của tinh thể lập phương với a = 3,560Å
1 1
( )
= 2 h2 + k 2 + l2 → d =
a
d 2
a (
h2 + k 2 + l2 )
b. dhkl của các mặt mạng của tinh thể kim cương với a = 3,560Å cho thấy
kết quả phân tích nhiễu xạ tia X đối với kim cương có Sai số < 1,4%
 GBT PTX–22
–22
17. Biết rằng sphalerit ZnS có mạng tinh thể gồm
hai mạng con lập phương diện tâm lồng vào nhau với bước
tịnh tiến là (¼a, ¼a, ¼a) với a = 5,410Å
tương tự cấu trúc của kim cương nhưng với
mạng con thứ 1 của Zn và mạng con thứ 2 của S.

a. Tính dhkl của các mặt mạng 111, 220, 311, 400
của tinh thể sphalerit.

b. So sánh giá trị dhkl tính được trong câu a với

kết quả thực nghiệm của phổ nhiễu xạ tia X.
Trình bày nhận xét của Anh–Chị.
Phổ nhiễu xạ tia X của sphalerit như sau:

Stt hkl I dhkl, Å Stt hkl I dhkl, Å

1 111 100 3,116 3 311 80 1,630
2 220 90 1,908 4 400 20 1,350
 GBT PTX–23
–23
a. Tính dhkl của các mặt mạng của
tinh thể lập phương sphalerit với a = 5,410

1 1
( )
= 2 h2 + k 2 + l2 → d =
a
d 2
a (h
2
+ k 2 + l2 )
Stt hkl I dhkl, Å dhkl tính, Å Stt hkl I dhkl, Å dhkl tính, Å
1 111 100 3,116 2,968 3 311 80 1,630 1,550
2 220 90 1,908 1,817 4 400 20 1,350 1,285

b. Giá trị dhkl của các mặt mạng của mạng lập phương
của tinh thể sphalerit với a = 5,410 cho thấy
kết quả phân tích nhiễu xạ tia X của sphalerit có Sai số < 4,9%

Kết quả thực nghiệm cho thấy khi tiểu phân càng dễ biến dạng
thì sai số khi tính toán thông số cấu trúc càng nhiều.
 GBT PTX–24
–24
18. Hãy trình bày các kết quả có thể
thu được từ giá trị dhkl của XRD

Từ giá trị dhkl của XRD:

a. Định tính được mẫu tinh thể
(mẫu chứa các loại tinh thể nào).
b. Xác định độ ổn định của tinh thể khi
so sánh với dhkl của mẫu tham chiếu.
c. Xác định thông số mạng khi biết
các chỉ số hkl và kiểu cấu trúc tinh thể.
 GBT PTX–25
–25
19. Tại sao trong kết quả phân tích nhiễu xạ tia X,
giá trị dhkl lại quan trọng hơn giá trị I?

• Mỗi chất tinh thể có một phổ nhiễu xạ tia X đặc trưng
bởi các giá trị dhkl và phần nào là cường độ I.
• Trừ trường hợp như bạc và vàng có cấu trúc và thông số mạng
hoàn toàn giống nhau nên có phổ nhiễu xạ tia X rất giống nhau.
Tuyệt đại đa số trường hợp là các mẫu có chứa cùng một chất thì
phải có các mũi phổ đặc trưng bởi các giá trị dhkl và I của chất đó.
• Tuy nhiên:
– Giá trị dhkl không biến đổi đáng kể đối với các mẫu được
điều chế hay xử lý bằng các phương pháp khác nhau.
– Giá trị I có thể biến đổi đáng kể đối với các mẫu được
điều chế hay xử lý bằng các phương pháp khác nhau.
• Vì vậy, giá trị dhkl là yếu tố quyết định, còn giá trị I có tính tham khảo.
 GBT PTX–26
–26
20. Có thể so sánh đường nền của 2 phổ nhiễu xạ tia X
có độ phóng đại khác nhau không?
Không thể so sánh đường nền của 2 phổ nhiễu xạ tia X
có độ phóng đại khác nhau vì chúng có thể
hiện hình đường nền với sự phóng đại không tuyến tính.

21. Trình bày các đặc điểm của phép phân tích
định tính pha bằng phương pháp nhiễu xạ tia X.
• Nhiễu xạ tia X là phương pháp phân tích định tính pha
hầu như là phương pháp ưu thế tuyệt đối hiện nay.
• Kết quả phân tích định tính pha thu được dựa trên
các giá trị dhkl và phần nào là cường độ I của các mũi phổ
khi so với phổ tham chiếu với ngưỡng phát hiện ~ 1%
• Do phải định tính toàn bộ các pha tinh thể có trong mẫu
nên cần phải quét một góc rộng với 2θ ≈ 10–800
nhưng quét nhanh ~ 5–10 0/phút do không cần chính xác.
 GBT PTX–27
–27
22. Trình bày các đặc điểm của phép phân tích
định lượng pha bằng phương pháp nhiễu xạ tia X.
• Nhiễu xạ tia X là phương pháp phân tích định lượng pha
hầu như là phương pháp ưu thế tuyệt đối hiện nay.
• Kết quả phân tích định lượng pha thu được dựa trên
cường độ I của các mũi phổ khi so sánh với đường chuẩn.
• Giá trị I có thể biến đổi lớn đối với các mẫu được
điều chế hay xử lý bằng các phương pháp khác nhau.
• Vì vậy, phải xây dựng đường chuẩn bằng chính các tinh thể
có hình dạng và kích thước tương tự như mẫu nghiên cứu.
• Do phải định lượng chính xác hàm lượng (% khối lượng)
Chỉ quét góc hẹp khoảng 2θ ≈ 5–100
vùng chứa cả 2 mũi phân tích và mũi so sánh
Nhưng quét chậm ~ 0,5–2 0/phút do cần chính xác.
 GBT PTX–28
–28
23. Phân biệt hiệu ứng tắt tia và hiệu ứng tắt tia sơ cấp.

a. Hiệu ứng tắt tia thứ cấp

– Hiệu ứng tắt tia thứ cấp xảy ra khi
các tinh thể có kích thước ≥ 25μm
– Tia X thứ cấp bị các tinh thể nằm trên đường đi hấp thu
⇒ Cường độ các vạch nhiễu xạ giảm xuống hay mất hẵn.
– ⇒ Phải nghiền mịn các tinh thể lớn đến
kích thước cở μm trước khi phân tích.

50 nm

b. Hiệu ứng tắt tia sơ cấp

– Hiệu ứng tắt tia sơ cấp xảy ra khi
các tinh thể có kích thước < 0,1μm
– Tia X sơ cấp trên đường đi của chúng bị rất nhiều tinh thể nhỏ
hấp thu khiến cho cường độ của vạch nhiễu xạ giảm xuống.
– Hiệu ứng này khiến cho cường độ của các vạch nhiễu xạ giảm.
– Các thiết bị hiện nay đã khắc phục được hiệu ứng này.
 GBT PTX–29
–29
24. Xét ô mạng cơ sở của chất như trong hình bên.
a. Vẽ và liệt kê tất cả các yếu tố đối xứng
của ô mạng cơ sở của chất này.
b. Xác định lớp đối xứng, dạng đối xứng,
hệ tinh thể và hạng đối xứng của ô mạng cơ sở.
c. Tính toán xác định công thức phân tử của chất.
d. Tính toán xác định thông số mạng của chất.
e. Tính tỉ trọng của chất.

Cho biết tinh thể chất này có phổ nhiễu xạ tia X như sau:

dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl

1,903 020 1,896 002 1,704 210 1,552 211

Nguyên tố A B X
Nguyên tử lượng 40,08 47,90 16,00
 GBT PTX–30
–30

Yếu tố đối xứng: C 9P 6L2 4L3 3L4

Lớp đối xứng: 3L4 4L3 6L2 9PC Hệ tinh thể: Lập phương
Dạng đối xứng: Trục Hạng đối xứng: Cao

c. Tính toán xác định công thức phân tử của chất.

A: 8 × 1/8 = 1
B: 1×1 = 1
X: 6 × 1/2 = 3

Công thức phân tử: ABX3

 GBT PTX–31
–31
d. Tính toán xác định thông số mạng của chất.
dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl dhkl, Å hkl
1,903 020 1,896 002 1,704 210 1,552 211

Mạng lập phương

d
1
2
a
1
( ) (
= 2 h2 + k 2 + l2 → a = d h2 + k 2 + l2 )

hkl 020 002 210 211

Giá trị dhkl 1,903 1,896 1,704 1,552
Thông số mạng a 3,806 3,792 3,810 3,802
3,806 + 3,792 + 3,810 + 3,802
a= = 3,803 Å
4
• Tính tỉ trọng d của chất ABX3:

d=
m
=
∑ (M × n ) = (M
i i A × nA ) + (MB × nB ) + (MX × nX )
V A× V A × a3

(40,08 × 1) + (47,90 × 1) + (16,00 × 3)

d= = 4,11
6,022.1023 × 3,8033.10− 24
 GBT PTX–32
–32
25. Người ta nung γ-Al(OH)3 ở 5500C tại điều kiện
(1) không có hơi nước và (2) có hơi nước.
Phổ nhiễu xạ tia X mẫu γ-Al2O3 tại
hai điều kiện nung này được trình bày trong Hình 1.
Hãy trình bày nhận xét của Anh-Chị về hai phổ nhiễu xạ tia X này.

(1) Không có hơi nước (2) Có hơi nước

Hình 1 Phổ nhiễu xạ tia X mẫu γ–Al2O3

với điều kiện nung γ-Al(OH)3 khác nhau

Δ
2γ-Al(OH)3 ⎯⎯→ γ-Al2O3 + 3H2O↑
 GBT PTX–33
–33

(1) Không có hơi nước (2) Có hơi nước

Phản ứng dehydrat hóa γ-Al2O3:

Δ
2γ-Al(OH)3 ⎯⎯→ γ-Al2O3 + 3H2O↑

Phản ứng nhiệt phân này xảy ra với sự thoát hơi nước mạnh.

Vì vậy, khi có mặt hơi nước thì tốc độ thoát nước chậm lại
khiến cho tinh thể ổn định hơn nên
đường nền của phổ nhiễu xạ tia X cũng ổn định hơn.
 GBT PTX–34
–34
1. Huỳnh quang tia X là gì? Tại sao tia X huỳnh quang thứ cấp có
λ đặc trưng cho nguyên tử hấp thu mà không phụ thuộc vào λ của bức xạ tới?

a. Huỳnh quang tia X là hiện tượng năng lượng hấp thu từ tia X sơ cấp
được nguyên tử phát xạ trở lại bằng bức xạ tia X huỳnh quang thứ cấp.

b. Mỗi nguyên tố có các mức năng lượng đặc trưng cho nguyên tố đó.
Năng lượng của tia X huỳnh quang thứ cấp chỉ phụ thuộc vào
chênh lệch năng lượng giữa các mức của nguyên tử hấp thu
mà không phụ thuộc vào bước sóng của bức xạ kích thích.
⇒ Tia X huỳnh quang thứ cấp có λ đặc trưng cho nguyên tử hấp thu.
 GBT PTX–35
–35
2. Hãy phân tích sự khác biệt về cơ sở của phép phân tích
định tính và định lượng nguyên tố bằng phương pháp huỳnh quang tia X.

a. Phân tích định tính nguyên tố bằng cách xác định

sự có mặt của các mũi đặc trưng cho mỗi nguyên tố.

b. Phân tích định lượng nguyên tố bằng cách xác định

cường độ của các mũi đặc trưng cho mỗi nguyên tố.

Phổ huỳnh quang tia X Phổ huỳnh quang tia X

tán sắc bước sóng của một hợp kim tán sắc năng lượng của một mẫu sắt
 GBT PTX–36
–36
3. Trình bày ngắn gọn và rõ ràng các nguyên tắc của
phương pháp huỳnh quang tán sắc bước sóng.

a. Chiếu chùm tia X sơ cấp vào mẫu kích thích

các nguyên tố phát xạ tia X huỳnh quang đặc trưng.

b. Các tia X huỳnh quang thứ cấp của các nguyên tố khác nhau có λ khác nhau
nhiễu xạ trên một tinh thể phân tích tại các góc khác nhau theo công thức Bragg:

2d sin θ = nλ

c. So sánh các giá trị góc nhiễu xạ 2θ của phổ mẫu

với phổ huỳnh quang tia X chuẩn của các nguyên tố
để xác định các nguyên tố có mặt trong mẫu.
 GBT PTX–37
–37
4. Hãy trình bày ngắn gọn và rõ ràng các nguyên tắc của
phương pháp phân tích huỳnh quang tán sắc năng lượng.

a. Chiếu chùm tia X sơ cấp vào mẫu kích thích

các nguyên tố trong mẫu phát xạ tia X huỳnh quang đặc trưng.
b. Các tia X huỳnh quang thứ cấp của các nguyên tố khác nhau có
năng lượng ε khác nhau đặc trưng cho mỗi nguyên tố bị kích thích.
c. So sánh các giá trị năng lượng ε của phổ mẫu với phổ huỳnh quang
tia X chuẩn của các nguyên tố để xác định các nguyên tố trong mẫu.

Phổ huỳnh quang tia X của một mẫu sắt phân tích bằng
phổ kế tán sắc năng lượng bằng đèn Rh có ghi kèm giá trị năng lượng