Download as pdf or txt
Download as pdf or txt
You are on page 1of 1

IEEE.

org | IEEE Xplore Digital Library  | IEEE Standards  | IEEE Spectrum | More Sites   Cart (0) | Create Account | Personal Sign In


   
Access provided by:
Annasaheb Dange College of Eng
and Tech
Sign Out
 

BROWSE MY SETTINGS GET HELP WHAT CAN I ACCESS?

Browse Conference Publications > Mechatronics and Automation, ...  |  Back to Results  |

A Method for Lunar Obstacle Full Text
Detection Based on Multi­scale Sign­In or Purchase

Morphology Transformation

4
Author(s)
Fu Liu ; Jilin Univ., Changchun ; Jian Deng ; Pingyuan Cui ; Hejing Wu

Abstract Authors References Cited By Keywords Metrics Similar

Lunar obstacle detection is the key technique for Lunar lander landing, the main step to detect
obstacles is to separate and extract the obstacle regions. This paper puts forward a watershed method
based on multi­scale mathematical morphology operation to separate the obstacles of the lunar. The
method put up multi­scale open and close operator to morphological gradient image, and wipe off the
local valley produced by noise and quantification error of the gradient image. The experiment proves
that using watershed transformation adopting the method to process the image can wipe off the local
valley produced by over­segmentation and separate the dark edge efficiently, in other words, detect the
obstacles of the lunar. The effect is much better than the process of the traditional watershed
transformation.

Published in:
Mechatronics and Automation, 2007. ICMA 2007. International Conference on

Date of Conference:
5­8 Aug. 2007

Page(s): Conference Location :
2736 ­ 2740 Harbin

E­ISBN : DOI:
978­1­4244­0828­3 10.1109/ICMA.2007.4303991

Print ISBN: Publisher:
978­1­4244­0828­3 IEEE

INSPEC Accession Number:
9804961

Personal Sign In | Create Account

IEEE Account P
  urchase Details P
  rofile Information N
  eed Help?

» Change Username/Password » Payment Options » Communications Preferences » US & Canada: +1 800 678 4333

» Update Address » Order History » Profession and Education » Worldwide: +1 732 981 0060

» Access Purchased Documents » Technical Interests » Contact & Support

About IEEE Xplore | Contact Us | Help | Terms of Use | Nondiscrimination Policy | Sitemap | Privacy & Opting Out of Cookies

A not­for­profit organization, IEEE is the world's largest professional association for the advancement of technology.
© Copyright 2015 IEEE ­ All rights reserved. Use of this web site signifies your agreement to the terms and conditions.

You might also like