PL 量測

光譜儀
單光儀
filter
Xe lamp
標準光源
PMT UV-VIS detertor
InGaAs IR detector
 單光儀-粗調Slit(出口、入口)

粗調Slit(高*寬)，微調最大(2.25刻度)

鐵片狀態

1.0mm*2.0mm

17mm*2.0mm

slit關閉
粗調Slit

標出長寬
 微調Slit

全開2mm 全關
粗調與微調組合在一起
粗調與微調組合在一起
單光儀-微調Slit(出口)
 光譜儀-粗調Slit(出&入口)

手動Slit(高*寬)
調整狀態

桿子長度最長(拉到最底) 17mm*7mm

桿子推到中間(有卡卡的感覺)
1mm*10mm
桿子長度最短
slit關閉
spectrophotometer
(光譜儀)

我們應該把焦點聚
焦到入口slit上
 參考用之螢光粉發光強度
(reference)08/02/27

條件：
單光儀入口 單光儀出口 光譜儀入口 光譜儀出口
slit大小 slit大小 slit大小 slit大小

粗調 三個洞(全開) 三個洞(全開) 推到底(全開) 推到底(全開)

Slit
微調 開最大 1 0.1 mm 0.1 mm
Slit

單光儀手動slit 1
註一：PMT sensitivity開最大
註三：積分時間 (1 S)
註四：step width (1 nm)
 單一凸透鏡(未按照比例)
71mm 70mm

sample
光譜儀

2” / F = 5

Reference: 450 nm 激發，光譜儀前置 2” / F = 5，

550nm強度 = 2865~2945 mv
 兩個凸透鏡(未按照比例)
51mm 33mm 57mm

sample
光譜儀

2” / F = 5 1” / F = 10

Reference: 450 nm 激發， 光譜儀前置 2” / F = 5、1” / F = 10透鏡

550nm強度 = 5032~5101 mv
• 目前手中有的透鏡

F 1” 1.5” 2”

5 cm 2個 1個

10 cm 2個 1個

25 cm 1個
Monochromators (單光儀)

接 Xe 燈

出光
本實驗室1吋濾鏡共計有
Long wavelength pass 345 nm x2
Chroma HQ345LP
Long wavelength pass 1000 nm x1
Thorlabs FEL1000 form 捷葆
Short wavelength pass 400 nm x1
Lambda SWP-2502U-400 from 宏惠
 100
FEL 1000

80

60
實驗室現有3種filter的穿透光譜圖

T (%)
40

20

0
200 400 600 800 1000
wave length (nm)

100
LP 345 100
SWP-2502U-400
90
80
80

70
60
T (%)

60

T (%)
50
40
40

30
20
20

10
0
0
200 300 400 500 600 700 800 900 1000 1100
200 300 400 500 600 700 800 900 1000 1100
wave length (nm) wave length (nm)
濾鏡使用說明：
1. 選定要使用的filter，並小心取出，注意手不要碰到鏡面。
2. 將一吋黑色內holder的內圈用針或其他尖嘴物把內圈鬆開(注意看內圈有兩個小洞是給
你用尖嘴物來旋開的)。
內圈

3. 再將選取的filter放入並用內圈旋緊固定

Filter放入 內圈旋緊
固定
4. 最後在將黑色內holder放入透明壓克力1吋架或其他相容架子，
固定後架上POST即可使用。
基本單光儀、光譜儀分光原理
簡介
歐亞書局 學銘圖書 Hecht / Optics 4E / P480 fig10.32
Prism
 a (sinθ1 - sinθi) = mλ
m=1 & fixed θ1
→ λ depends on θi

θ1
θi
Spectrometer (光譜儀) a (sinθm - sinθi) = mλ

λ=300 nm m=0 m=1

slit
θ1 300
m=2
θi300

θ2 300
Spectrometer (光譜儀) a (sinθm - sinθi) = mλ
m’=0 m’=1
m’=2
λ=300 nm

θ (光柵旋轉角度)
slit
θ’i300 θ’2
Spectrometer (光譜儀) a (sinθm - sinθi) = mλ
m=0
λ=600 nm
m=1

slit
θi600 θ1 600 m=2

証: θi600 = θ’i300
Monochromators (單光儀)
λ=400 nm
λ=200 nm m=1
m=0
m=2

slit
m=2

θi

a (sinθm - sinθi) = mλ
a (sinθ1 - sinθi) = 1×400 = a (sinθ2 - sinθi) = 2×200
由於單光儀給單光與光譜儀偵測單光都是利用 grating 繞射原理，所以常會發生光譜儀偵
測到單光儀出來的光的order問題，因此常需要利用濾鏡(Filter)來過濾不必要的order光或一
些單光儀出來的雜光。
紅色=單光儀發生的order 問題 藍色=光譜儀發生的order 問題

單光儀給光 光譜儀偵測到的 備註
(常用波段)

254 nm 254, (1st order), 通常光譜儀偵測到比

508 (2nd order), 單光儀出來的光多2
762 (3rd order) 3rd 以上可忽略 倍以上都是光譜儀內
的繞射order問題，反
325 nm 325, (1st order), 之，如果是偵測到一
650 (2nd order), 半的波長就是單光儀
975 (3rd order) 3rd 以上可忽略 的繞射order問題。
375 nm 375, (1st order),
750 (2nd order),
1125 (3rd order) 3rd 以上可忽略
980 nm 490 (單光儀出來的),
(可以看成是490nm的2nd 980, (1st order),
order) 1960 (2nd order), 2nd 以上可忽略
 單光儀給光 光譜儀偵測到的 濾鏡放置位置
(常用波段)

400 nm 200,
會產生200 nm (2nd order) 400 ,
800 (2nd order) 3rd 以上可忽略
500 nm 325,
會產生250 nm (2nd order) 650 (2nd order),
975 (3rd order) 3rd 以上可忽略
600 nm 375,
會產生300 nm (2nd order) 750 (2nd order),
1125 (3rd order) 3rd 以上可忽略
700 nm 490 (單光儀出來的),
會產生350 nm (2nd order) 980,
1960 (2nd order), 2nd 以上可忽略
濾鏡使用時機：
通常我們使用的單光儀光源波段為：254、325、375、980 nm，因
為 sample 並非完全吸收這些光，還是會有些許的光經反射進入光譜
儀進而造成上頁所說的一些order光被偵測到。所以使用 254、325
nm的光當光源時，必須放置 Long wavelength pass 345 nm Filter在光
譜儀入口端前方或單光儀出口端，濾掉254、325等比345 nm還小的
光。若使用375、980 nm當光源，則讓光譜儀掃描的範圍盡量避免
那些order波段。
For example 1：
Long wavelength pass 345 nm 濾掉光譜儀進去的雜光，放置在光譜儀入口端。

利用單光儀給道500 nm的光
160
同時會測到單
x1
140 光儀所造成的
order 光250 也會測到光譜
120
nm 儀所造成的
intensity (mV)

100 order光1000
nm ( peak 位
80 x 1000 置跑掉的原因
是因為切換
60 grating所可能
發生的)
40

20 x 1000

0
200 300 400 500 960 980 1000 1020 1040
wave length (nm)
 160

140 x1

120
intensity (mV)
100 在光譜儀入口端或
單光儀出口端加裝
濾鏡，讓單光儀所
80 但是由於 500 nm
造成的 order 光被
的光還是會進入光
濾掉。
60 譜儀，所以還是有
光譜儀內部 order
40 的光產生。

20 x 1000

0
結論：
200 300 400 500 1000
如果今天量測的範圍是 wave length (nm)
200~800 nm 則我們可以利用
filter 架在單光儀 or 光譜儀前
方，以濾掉那單光儀所造成
250 nm的 order光。
 For example 2：
Short wavelength pass 400 nm 濾掉單光儀出來的雜光，放置在單光儀出口端。
1200
1600
SIGNAL_1_cycle1
SIGNAL_1_cycle1
1400 1000

1200
放置SWP400 nm 濾鏡前
1000
800
放置SWP400 nm 濾鏡後

Intensity (mV)
Intensity (mV)

800 600

600
單光儀出來的雜光
400
濾掉單光儀出來的雜光
400
200
200

0 0

400 500 600 700

350 400 450 500 550 600 650 700
Wavelength (nm)
Wavelength (nm)
100

90
SWP-2502U-400 結論：
80
此實驗的濾鏡架設只能放在
70
單光儀出口端而不能放在光
60
譜儀入口端，要是架設在光
T (%)

50

40
譜儀入口端會導致連sample發
30
的光都會受到濾鏡影響。所
20 SWP400 nm 穿透光譜圖 以濾鏡的放置位置比須考慮
10 到實驗的量測範圍及雜光來
0 源。
200 300 400 500 600 700 800 900 1000 1100
wave length (nm)
激發光譜 (PLE) 濾鏡使用時機

激發光譜 (PLE)：
利用光譜儀鎖定一波長，再使用單光儀給出一連續範圍的光當作光源打至 sample 上，然
後比較偵測到的強度即可知道現在這 sample 在光譜儀鎖定的波長對哪個單光儀所給的波
長激發光源較強。
 單光儀打到的光斑大小。
sample

鋁片，用來避免單
光儀的光源打到壓
克力。

holder

此作法可以完全確定不會收到因單光儀打到壓克力所發的光。
 2500
Mirco HR @ 375 nm
AT slit 0.3
2000 iron cover

單光儀加裝
Intensity (mV)

1500
濾鏡前
1000

500

0
400 500 600
Wavelength (nm)

1800 Mirco HR @ 375 nm

AT slit 0.3
1600 iron cover
SWP 400
1400

1200
單光儀加裝
Intensity (mV)

1000
濾鏡後
800

600

400

200

0
400 500 600
Wavelength (nm)
 2500 100

Mirco HR @ 375 nm SWP-2502U-400

90
AT slit 0.3
2000 iron cover 80

70

60

Intensity (mV)
1500

T (%)
50

1000 40

30

500 20

10

0 0
400 500 600 400 425 450 475 500 525 550 575 600
Wavelength () wave length (nm)

單光儀未加裝濾鏡前 濾鏡的穿透光譜圖
兩個取 400~525 nm 波段相乘(假設
sample不發光的波段)，可得到紅色的
光譜(光譜儀收到僅有單光儀的光而
2500
不包含 sample 的光)，但很明顯的黑
色的光譜是實際上光譜儀量測到的
2000
(單光儀+sample的發光)，對照黑色跟
紅色光譜，可發現 450 nm 處為
intensity (mV)

1500
sample發光機率很大。

1000
這邊的 peak 重疊表
示出那邊是單光儀
500
的光。

0
400 425 450 475 500 525 550 575 600
wave length (nm)
 1600
再次利用ZnO來做驗證 1200
SIGNAL_1_cycle1
SIGNAL_1_cycle1
1400
1000

1200
800
1000 單光儀未加裝濾鏡前 單光儀加裝濾鏡後
Intensity (mV)

Intensity (mV)
800 600

600
400

400
200
200

0 0

400 500 600 700 350 400 450 500 550 600 650 700

300 Wavelength (nm) Wavelength (nm)

放大來看
250

200
intensity (mV)

同樣上頁的方法，我利用ZnO sample
150 作測試，紅色光譜仍是將單光儀未加
裝濾鏡前乘上濾鏡的穿透光譜(400 ~
100
525 nm)，黑色是單光儀加裝濾鏡後
50 的測試光譜圖，對照發現 450 nm 處
沒有像上頁sample一樣發光。
0

400 450 500 550 600

wave length (nm)
 800 最後利用鏡子將單光儀的光導入來做驗證

100

700 3000
SIGNAL_1_cycle1 90
SWP-2502U-400

80
2500
70

2000
600
Intensity (mV)
60

T (%)
50
1500
40

1000 30

500
intensity (mV)

20
500
10

0 0
400 450 500 550 600 400 425 450 475 500 525 550 575 600
400 Wavelength (nm) wave length (nm)

單光儀未加裝濾鏡前 濾鏡的穿透光譜圖
300 最後，我僅利用鏡子將單光儀的光源導入光譜儀內，並用同樣上頁的方
法，紅色光譜仍是將單光儀未加裝濾鏡前乘上濾鏡的穿透光譜(400 ~ 525
200 nm)，黑色是單光儀加裝濾鏡後的測試光譜圖，可發現 450 nm 處一樣沒
有發光。

100

0
400 450 500 550 600

wave length (nm)

 800
300
700
Only mirror ZnO
250
600

200

intensity (mV)
500
intensity (mV)

400 150

300
100

200
50
100

0
0
400 450 500 550 600 400 450 500 550 600
2500 wave length (nm) wave length (nm)

2000 總結三個方法的圖，可以明
Y2Ti2O7：Er 5%
顯對照出，對於Y2Ti2O7：
intensity (mV)

1500 Er 5 %的sample來說，450
nm處發光的機率很大。
1000

500

0
400 425 450 475 500 525 550 575 600
wave length (nm)
 PMT
InGaAs
detector
90
80
70
60
50
40
30

20