Professional Documents
Culture Documents
MLZ 3107 2017 2018 Güz Final Cevaplı
MLZ 3107 2017 2018 Güz Final Cevaplı
Malzemelerde tane adı verilen kısımlar yönelimleri farklı kristallerdir. Dolayısıyla yöne bağlı ışık kırma
özelliği değişen yada değiştiren kimi malzemeler vardır. Tane sınırının dağlama ile zor gözlendiği kimi
malzemelerde polarize ışık tekniği kullanıldığında ışık kırma farkından dolayı tanelerin belirgin hale
getirilir. Aluminyum, zirkonyum gibi metaller polarize ışık ile en çok kullanılan malzemeler arasındadır.
Soru 2: Özellikle kalıntı, porozite ve ince çökelti fazı içeren numunelerde görülen ve yönlenmiş
parlatmadan kaynaklanan metalografik kusura ne isim verilir? Nasıl engellenir.
Kuyruklu yıldız adı verilen bu kusurun engellenmesi için Numune diskin dönme yönüne ters yönde
hareket ettirilmeli, ayrıca diskin merkezinden dışa doğru ileri-geri gezdirilmelidir
Soru 3: Modern bir X ışını tüpünü çizerek X ışınları oluşumunu anlatınız. Sürekli ışınım tayfını bir grafik
üzerinde göstererek karakteristik X ışınlarını gösteriniz.
Katot veya X ışınları tüpünde bir flamandan çıkan elektronlar uyarma gerilimi altında anot malzemeye
çarptırılırlar. Çarpan elektronların bir kısmı enerjilerini yitirirken çeşitli ışımalar yaparken. Bazıları ise
anot malzemeden elektron koparabilirler. Kopan elektronların yerine bir üst seviyeden gelen elektron
kendi fazla enerjisini x ışınları şeklinde yayarak x ışınları oluştururlar. Bu oluşan x ışınları daha beyaz
ışınımlar şeklinde olduğu için bir filtre yardımı ile monokromatik hale dönüştürülerek kullanılışlı hale
getirilirler.
Soru 4: 6000V altında çalışan bir x-ışınları tüpünde Cr hedef metal olarak kullanılacaktır. Bu katot
tüpünden elde edilen ışınımları ve dalga boyu verilerini hesaplayınız.
1 3
𝐾𝛼 𝑖ç𝑖𝑛 𝜆 = 𝜈 = 4 𝑅(𝑍 − 1)2 𝜆 = 2.29683x 10−10 m
12400
𝜆𝑆𝑊𝐿 = 6000
= 2.06𝑥 10−10 𝑚 elde edilecek en kısa dalga boyu
Soru 5 : Elektron Mikroskobu ile Optik Mikroskobu kabiliyetleri yönünden karşılaştırınız.
Elektron mikroskobunda derinlik algısı çok yüksektir. Optik mikroskopta düşüktür. Optik mikroskop için
numune hazırlamak kolaydır ancak elektron mikroskobunda hem elektron bombardımanına dayanıklı
olmalı hem de elektrik iletken numune kullanılmalıdır. Elektron mikroskobunda kimyasal analiz
yapılabilir. Optik mikroskoplarda böyle bir yetenek yoktur.
Soru 8 : Aşağıdaki Taramalı elektron mikroskobu görüntülerin hangi teknik ile alınmış olduklarını
nedenleri ile birlikte belirtiniz. 15 Puan
Soru 10 : Bir malzemeye Elektron mikroskobu altında EDS analizi gerçekleştirilmiştir. Bu analiz sırasında
Sadece K alfa ışımaları detekte edilmiştir. Bu deneyin sonucunda elde edilen grafik sonraki sayfada
verilmektedir. Bu malzemenin bileşenlerini tabloyu kullanarak değerlendiriniz.
Soru 10
Fe
Ca
Si
Şiddet
Ti
4.8
1
1.2
1.4
1.6
1.8
2.2
2.4
2.6
2.8
3.2
3.4
3.6
3.8
4.2
4.4
4.6
5.2
5.4
5.6
5.8
6.2
6.4
6.6
6.8