T.C.

MANİSA CELAL BAYAR ÜNİVERSİTESİ

METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ
Ad Soyadı:
İmza:
Öğrenci Numarası:

Dersin Adı: Malzeme Karakterizasyonu I

Tarih 8/11/2016
Faaliyet Yıl Sonu Sınavı
Sınav Süresi 60dk
Öğretim Üyesi Yrd. Doç. Dr. Garip ERDOĞAN Karşıladığı
Ders
Öğrenme
Çıktısı
Soru 1. Optik Mikroskopta ışık kaynağı çeşitli filtrelerden geçirilerek numunelerin incelenmesinde çeşitli
kolaylıklar sağlamaktadır. Örneğin polarize ışık kullanılarak ne gibi özellikler tayin edilebilir yada bu
teknik niçin kullanılmaktadır.

Malzemelerde tane adı verilen kısımlar yönelimleri farklı kristallerdir. Dolayısıyla yöne bağlı ışık kırma
özelliği değişen yada değiştiren kimi malzemeler vardır. Tane sınırının dağlama ile zor gözlendiği kimi
malzemelerde polarize ışık tekniği kullanıldığında ışık kırma farkından dolayı tanelerin belirgin hale
getirilir. Aluminyum, zirkonyum gibi metaller polarize ışık ile en çok kullanılan malzemeler arasındadır.

Soru 2: Özellikle kalıntı, porozite ve ince çökelti fazı içeren numunelerde görülen ve yönlenmiş
parlatmadan kaynaklanan metalografik kusura ne isim verilir? Nasıl engellenir.

Kuyruklu yıldız adı verilen bu kusurun engellenmesi için Numune diskin dönme yönüne ters yönde
hareket ettirilmeli, ayrıca diskin merkezinden dışa doğru ileri-geri gezdirilmelidir

Soru 3: Modern bir X ışını tüpünü çizerek X ışınları oluşumunu anlatınız. Sürekli ışınım tayfını bir grafik
üzerinde göstererek karakteristik X ışınlarını gösteriniz.

Katot veya X ışınları tüpünde bir flamandan çıkan elektronlar uyarma gerilimi altında anot malzemeye
çarptırılırlar. Çarpan elektronların bir kısmı enerjilerini yitirirken çeşitli ışımalar yaparken. Bazıları ise
anot malzemeden elektron koparabilirler. Kopan elektronların yerine bir üst seviyeden gelen elektron
kendi fazla enerjisini x ışınları şeklinde yayarak x ışınları oluştururlar. Bu oluşan x ışınları daha beyaz
ışınımlar şeklinde olduğu için bir filtre yardımı ile monokromatik hale dönüştürülerek kullanılışlı hale
getirilirler.

Soru 4: 6000V altında çalışan bir x-ışınları tüpünde Cr hedef metal olarak kullanılacaktır. Bu katot
tüpünden elde edilen ışınımları ve dalga boyu verilerini hesaplayınız.
1 3
𝐾𝛼 𝑖ç𝑖𝑛 𝜆 = 𝜈 = 4 𝑅(𝑍 − 1)2 𝜆 = 2.29683x 10−10 m
12400
𝜆𝑆𝑊𝐿 = 6000
= 2.06𝑥 10−10 𝑚 elde edilecek en kısa dalga boyu
Soru 5 : Elektron Mikroskobu ile Optik Mikroskobu kabiliyetleri yönünden karşılaştırınız.

Elektron mikroskobunda derinlik algısı çok yüksektir. Optik mikroskopta düşüktür. Optik mikroskop için
numune hazırlamak kolaydır ancak elektron mikroskobunda hem elektron bombardımanına dayanıklı
olmalı hem de elektrik iletken numune kullanılmalıdır. Elektron mikroskobunda kimyasal analiz
yapılabilir. Optik mikroskoplarda böyle bir yetenek yoktur.

Soru 6: Bilinmeyen bir malzemeyi nasıl karakterize edersiniz. ?

Bilinmeyen bir malzemeyi analiz etmenin en ekonomik yolu XRD ve SEM ile EDS kullanmaktır. XRD
analizi sonucunda yapılacak değerlendirme için malzemenin elementel durumu hakkında bilgi sahibi
olunmalıdır. Bu nedenle EDS yapılarak elementel bileşimleri değerlendirilir. Ardından XRD sonuçlarına
bağlı olarak malzemenin bileşimi hakkında bilgi sahibi olunabilir. Ancak bu yaklaşım ancak kristalin
malzemeler için geçerlidir. Eğer XRD analizi sonucunda amorf fazı işaret eden bilgiler varsa başka analiz
yöntemlerine ihtiyaç olabilir.

Soru 7: Aşağıda verilen Elektron Difraksiyon Görüntülerinden malzemelerin kristalin durumlarını

değerlendiriniz.

Amorf bir malzemenin elektron Polikristalin bir malzemeden

Tek Taneden oluşmuş bir difraksiyonudur. elde edilen difraksiyon
örneğin elektron difraksiyonu görünümüdür.
görüntüsüdür.

Soru 8 : Aşağıdaki Taramalı elektron mikroskobu görüntülerin hangi teknik ile alınmış olduklarını
nedenleri ile birlikte belirtiniz. 15 Puan

a) Derinlik algısı yüksek görüntü b) Derinlik algısı c) Derinlik algısı yüksek

Sekonder Elektron Detektörü gözlenmemktedir ancak güçlü görüntü Sekonder Elektron
kullanılarak alınmıştır. bir kontrast vardır. BSE Detektörü kullanılarak
detektörü ile alınmıştır. alınmıştır
Soru 9: Krom metaline XRD deneyi uygulanmış ve Cu Ka ışınları kullanılarak difraksiyon paterni elde
edilmiştir. Hacim merkezli kübik yapıda ve latis parametresinin 0,2884nm olduğu bilindiğine göre elde
edilecek 6 adet pikin 2 theta değerlerini hesaplayınız.

hkl ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2 √ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2 𝑠𝑖𝑛𝜃 2𝜃

110 2 1.4142 0.3781 44.44
200 3 2 0.5347 64.64
211 6 2.4495 0.6548 81.80
220 8 2.8284 0.7561 98.24
310 10 3.1623 0.8454 115.42
222 12 3.4641 0.9254 135.46

Soru 10 : Bir malzemeye Elektron mikroskobu altında EDS analizi gerçekleştirilmiştir. Bu analiz sırasında
Sadece K alfa ışımaları detekte edilmiştir. Bu deneyin sonucunda elde edilen grafik sonraki sayfada
verilmektedir. Bu malzemenin bileşenlerini tabloyu kullanarak değerlendiriniz.

Malzeme Silisyum, Kalsiyum, Titanyum ve Demir elementlerinden oluşmaktadır.

 T.C. MANİSA CELAL BAYAR ÜNİVERSİTESİ
METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ
Sabitler
Rydberg Sabiti: 1, 097𝑥107 𝑚−1
Planck sabiti: 6,62607004 × 10-34 m2 kg / s
Işığın Vakumda Hızı: 299792458 m / s
Cu Kα: 1.542 A°
1J = 6.24150913 × 1018 electron volts
1 3 ℎ.𝑐
𝜆
= 𝜈 = (4)𝑅(𝑍 − 𝜎)2 𝜆𝑆𝑊𝐿 = 𝑒.𝑉

Soru 10

Enerji Dağılım Spektroskobisi

Fe
Ca
Si
Şiddet

Ti

4.8
1

1.2

1.4

1.6

1.8

2.2

2.4

2.6

2.8

3.2

3.4

3.6

3.8

4.2

4.4

4.6

5.2

5.4

5.6

5.8

6.2

6.4

6.6

6.8