Mitsubishi Electric Corporation Nagoya Works

May 17th, 2021

B.Ref.: BCN-A21171-931A
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Technical Information

Lakshmi Machine Works Ltd. Coimbatore.

Regarding FR-E800 Solutions for Failures of FR-E700-EC Inverters Delivered to Your

Company

Dear Sirs,
Thank you for your patronage of Mitsubishi Electric products.
The following contains technical information, which you have requested.

-1. Contents of Inquiry

Details of FR-E800 solutions for reported failures of FR-E700-EC inverters

-2. Answer

Conditions:
The following contains information on the E800 solutions for following four failures
reported for FR-E700-EC inverters used in your company.

[Table 1. FR-E700-EC failure reports and FR-E800 solutions]

No. Ref.No. Faulty part FR-E700-E6 solution* FR-E800 solution
BQN-S32870- (Refer to the report for (Refer to the
details.) following section
for details.)
1 71-179905A MOS-FET for resetting sub-CPU Improvement of the Circuit change
withstand voltage of
MOS-FET
2 72-151028B ･ Capacitor in the U-phase output The capacitor was changed to the one already
transistor drive circuit used in other models.
･ Capacitor in the control circuit
3 Capacitor in the control power Test conditions were Specifications of
generation circuit changed at the part the capacitor were
manufacturer. changed.
4 72-16Z008 Corrosion of a resistor in the inrush Adoption of the inverter with a printed circuit
current limit circuit of the main board with coating was considered.
circuit
*: In the FR-E700-E6 series, printed circuit boards in the FR-E700-EC series are replaced with
those with coating.
Mitsubishi Electric Corporation Nagoya Works

No. 1: Ref. No.: BQN-S32870-71-177905A

The MOS-FET for resetting the sub-CPU was faulty in the FR-E700-EC used in your
company.
The MOS-FET turns on when voltage is applied between the gate and the source.
In general, electrostatic discharge at the gate damages the gate oxide film of the
MOS-FET.
For the FR-E700-EC, the withstand voltage of MOS-FET was improved.
In the FR-E800, the circuit was changed and a bipolar transistor is used instead of the
MOS-FET.
Although voltage is applied between the base and the emitter of the bipolar transistor,
electrostatic damage will not occur as frequently as in the MOS-FET as the bipolar
transistor is a current amplifier.

No. 2 and No. 3: Ref. No.: BQN-S32870-72-151028 B

1) Faulty part: capacitor in the U-phase output transistor drive circuit and capacitor in the
control circuit (for P5 power supply)
The failure might be caused by adhesion of foreign matter in the manufacturing process
or an excessive external electrical stress.
The capacitor was changed to the one already used in other models since 2014, for which
no similar failure had occurred. The capacitor after change is used in the FR-E800.

2) Faulty part: capacitor in the control power generation circuit

A film capacitor used in the FR-E700-EC became faulty due to swelling and delamination
caused by application of larger current than expected.
In the FR-E800, the capacitor was changed to a ceramic capacitor in which the failure due
to film swelling would not occur structurally.

No. 4: Ref. No.: BQN-S32870-72-16Z008

In the corrosive gas environment, a resistor in the inrush current limit circuit of the
FR-E700-EC main circuit was corroded, resulting in the increase of the resistance value.
The printed circuit board of the inverter was not coated.
Please check the inverter installation environment and consider adoption of the
FR-E800-60 inverters with printed circuit boards with coating.

Remarks
Regarding FR-E800-60 series specification, conformity standard and warranty, please refer
to technical document Z-E8-08.

S. Watanabe K. Ikeda Mgr.

Inverter Technical Center Inverter Technical Center
Nagoya Works Nagoya Works
 2021 年 5 月 17 日
Lakshmi Machine Works Ltd. Coimbatore. 御中
三菱電機株式会社名古屋製作所
インバータシステム部
インバータテクニカルセンター長
池田 克司

貴社納め FR-E700-EC シリーズの故障に対する FR-E800 シリーズの対応について

拝啓 貴社ますますご隆昌のこととお喜び申し上げます。
平素は弊社製品に対し、格別のご愛顧を賜り厚く御礼申し上げます。
さて、貴社よりご質問のありました事項に関して下記のとおりご報告させていただきますので、ご査収の程、よろしくお
願い申し上げます。
敬具

１．お問い合わせ内容
FR-E700-EC シリーズ故障時の報告内容に対する FR-E800 シリーズでの対応状況を確認したい。

２．回答
貴社ご使用頂きました、FR-E700-EC シリーズにて報告致しました以下 4 点につきまして、FR-E800 シリーズの対応
についてご報告させていただきます。

【表 1．FR-E700-EC シリーズの報告書と FR-E800 の対策】

No 報告書番号 故障個所 FR-E700-E6 の対策* FR-E800 の対策
BQN-S32870- (詳細は報告書参照) (詳細は以下参照)
1 71-179905A サブ CPU のリセット用 MOS-FET MOS-FET の耐圧向上 回路変更
2 72-151028B ・U 相出力トランジスタ駆動回路内 他機種で実績の有るコンデンサに変更
コンデンサ
・制御回路内コンデンサ
3 制御電源生成回路内のコンデンサ 部品メーカ試験条件変更 コンデンサ仕様変更
4 72-16Z008 主回路突入電流抑制回路内の抵抗器腐食 プリント基板コーティング品の採用ご検討
*：FR-E700-E6 シリーズは FR-E700-EC シリーズのプリント基板コーティング品です。

No1．報告書番号：BQN-S32870-71-179905A
貴社ご使用頂いております FR-E700-EC の故障個所はサブ CPU のリセット用 MOS-FET です。
MOS-FET はゲートーソース間に電圧を印加することで ON 動作します。
一般的に MOS-FET はゲートに静電気が印加された場合、ゲート酸化膜を破壊することがあります。
FR-E700-EC は MOS-FET の耐圧向上により対策を実施しました。
FR-E800 は回路変更により MOS-FET の代わりにバイポーラトランジスタを採用しました。
バイポーラトランジスタはベースーエミッタ間に電圧を印加しますが、電流増幅型であるため、MOS-FET である
ような静電破壊が発生する可能性は低いと考えます。

No2、No3．報告書番号：BQN-S32870-72-151028 B
①故障個所： U 相出力トランジスタ駆動回路内コンデンサ及び、制御回路内コンデンサ（P5 電源用）
本コンデンサの故障原因は、製造工程における異物付着もしくは外部からの過大な電気的ストレスによる故障
が考えられます。
この対策として弊社としましては、他機種で同様の故障が無い実績のあるコンデンサに変更しており、FR-E800
でも採用しております。（他機種にて 2014 年から使用実績有）

②故障個所：制御電源生成回路内のコンデンサ
FR-E700-EC ではフィルムコンデンサを採用しており、想定以上の大電流印加時に膨張し層間剥離による故障
が発生しておりました。
FR-E800 はセラミックコンデンサに変更したため、構造上フィルム膨張による故障はありません。
弊社使用欄
写） 弊所：営業部 インバータ課 担当： 報告書番号： ページ：
渡邉 BCN-A21171-931A 1／2
No4．報告書番号：BQN-S32870-72-16Z008
腐食性ガス環境下において、FR-E700-EC の主回路突入電流抑制回路内の抵抗器が腐食し抵抗値が増大し
ました。
ご指摘のインバータはプリント基板のコーティングが実施されておりませんでした。
貴社におかれましては設置環境のご確認を頂くとともに、FR-E800 ではプリント基板コーティング品として
FR-E800-60 がありますので、こちらのご採用もご検討頂ければ幸いです。

備考：E800-60（基板コーティング品）の仕様、適合規格及び保証についてはインバータテクニカルシート Z-E8-08 を
ご参照願います。

以上

報告書番号： ページ：
BCN-A21171-931A 2／2