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Lote Lote Tamaño Muestra Total de Defectos Promedio Defectos
Lote Lote Tamaño Muestra Total de Defectos Promedio Defectos
Lote Lote Tamaño Muestra Total de Defectos Promedio Defectos
U= 0.12
N= 0.01
LC LIC Promedio defectos GRAFICO U
0.12 0 0.10
0.4
0.12 0 0.15
0.12 0 0.14 0.35
0.12 0 0.14 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18
0.12 0 0.17
0.12 0 0.17 Column H Column I Column J Column K
0.12 0 0.13
0.12 0 0.14
0.12 0 0.09 El proceso dr circuitos electronicos se encuentran bajo control ya q
0.12 0 0.10 ningun punto sobre pasa de los limites.
0.12 0 0.05
0.12 0 0.05
0.12 0 0.10
FICO U
10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
I Column J Column K
0.35
0.3
0.25
0.2
0.15
0.1
0.05
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
LSC LC
LIC Promedio defectos
El proceso estadisco se encuentra bajo ya que ningun punto sobre pasa los
limites centrales.