Professional Documents
Culture Documents
chap8 (9판)
chap8 (9판)
chap8 (9판)
* 차례
8-1 JFET (접합 전계효과 트랜지스터)
8-2 JFET 특성과 파라미터
8-3 JFET 바이어스
8-4 저항영역
8-5 MOSFET(금속-산화물-반도체 FET)
8-6 MOSFET 특성과 파라미터
8-7 MOSFET 바이어스
8-8 IGBT (Insulated-Gate Bipolar Transistor)
8-9 고장진단, 응용연습
- 1 -
[2] 기본 동작
․ 그림 8-2 바이어스된 n채널 JFET
- 2 -
[3] JFET의 기호
․ 그림 8-4 JFET의 기호
VGS=0V 일 때;
i) if VDD=0 → ID=0 ; 점 A.
ii) VDD가 증가하면 → ID도 비례적으로 증가.
; 이 영역에서는 공핍영역효과가 그리 크지 않으므로
채널저항은 거의 일정 : 저항영역(Ohmic Region).
iii) 점 B : Pinch-off ; 양쪽 공핍층이 서로 맞닿아 채널이 없어짐.
→ ID는 일정 : 활성영역(일정전류영역: Constant Current Region).
iv) VDS가 더욱 증가하면 → 양쪽 공핍층이 Overlap → pinch-off 점이 이동
→ ID는 거의 일정.
v) VDS가 계속 증가 → Breakdown (항복) (점 C) → 전류가 급격히 증가
→ JFET 손상.
- 3 -
그림 8-6 VGS=0V 일 때 JFET의 동작 특성.
[2] 핀치-오프 전압
․ 핀치-오프 전압 VP :
VGS=0V 일 때 ID를 일정하게 하는 곡선의 점(그림 8-5 (b)의 점 B)에서의
VDS값(고정값).
․ IDSS : 핀치-오프 전압값 VP에서의 드레인 전류값.
(게이트 단락(short)시 D-S 전류)
- 외부 회로에 관계없이 일정.
- VGS=0V에서 JFET의 최대 드레인 전류.
- 4 -
[3] 항복 현상
․ 그림 8-5 (b)의 점 C에서 VDS가 증가함에 따라 ID가 급격히 증가
: 항복(Breakdown) → JFET 손상.
→ ∴ JFET는 항상 항복현상이 발생하는 점 C 이하의 일정 전류영역
(그래프의 점 B와 점 C 사이)에서 동작되어야 한다.
[4] VGS에 의한 ID 제어
․ 그림 8-7 VGS가 (-)값으로 증가하면, 더 낮은 VDS값에서 핀치-오프 발생.
- 5 -
[5] 차단 전압
․ 차단전압(Cutoff Voltage) VGS(off) ; ID값이 거의 0이 될 때의 VGS 값.
․ JFET는 VGS(off) ≦ VGS ≦ 0V 에서 동작.
→ 0 ≲ ID ≦ IDSS 사이에서 변화.
․ VGS가 (-)로 충분히 크면, → 공핍영역이 증가
→ 양쪽 공핍영역이 서로 맞닿아 채널이 없어짐
→ ID는 거의 0. ; 차단 (그림 8-9)
․ 그림 8-9 차단 상태 JFET
- 6 -
[예제 8-1] 그림 8-11. VGS(off) = -4V, IDSS = 12㎃. VGS=0V 인 일정 전류
영역에서 소자가 동작하기 위한 VDD의 최소값을 구하라.
[7] JFET의 전달 특성
․ 그림 8-12 JFET 전달 특성 곡선 (n 채널) ; ID-VGS 특성 곡선.
- 7 -
․ 드레인 특성곡선으로부터 전달 특성곡선을 구하는 방법 ; 그림 8-13.
- 8 -
․ 그림 8-14 JFET 규격표. (책의 규격표와 조금 다름)
- 9 -
[예제 8-3] 그림 8-14의 2N5459 JFET 규격표에서, IDSS=9㎃, VGS(off)=-8V
(최대)이다. VGS = 0, -1V, -4V에 대한 ID를 구하라.
[풀이] i) for VGS = 0, ID = IDSS = 9㎃.
ii) for VGS = -1V, by 식(8-1),
≅
= (9㎃)
= (9㎃)(1-0.125)2 = (9㎃)(0.766) = 6.89㎃.
iii) for VGS = -4V,
․ 곡선 윗부분(VGS=0 부근)에서의 gm 값
> 곡선 아랫부분(VGS(off) 부근)에서의 gm 값.
․ 규격표에서는 보통 VGS=0V에서의 gm 값 (gmo)을 사용.
ex) 2N5457인 경우, VDS=15V에서 최소 gmo(gfs)= 1,000μS.
- 10 -
․ 임의 점에서의 근사적인 gm 값.
(8-2)
․ 입력저항 : ∈
- 11 -
[10] 교류 드레인-소스 저항
․ 드레인 특성곡선에서 핀치-오프 위의 영역(포화영역)에서, ID는 거의 일정.
→ ∴ VDS가 크게 변해도 ID의 변화는 작다 (저항이 크다).
∆
․ 교류 D-S 저항 ; ′
∆
․ 다른 이름 : 출력 컨덕턴스 gos(= ), or 출력 어드미턴스 yos.
8-3 JFET 바이어스
․ 바이어스의 목적 : DC VGS를 선택하여 원하는 ID값과 적정 Q점 결정.
․ 종류: 자기 바이어스, 전압분배 바이어스, 전류원 바이어스.
․ 이므로, 에 의해 .
1) for 그림 8-16 (a) n채널 JFET
이므로 .
∴ : (-)
한편, .
∴ .
2) for 그림 8-16 (b) P채널 JFET
.
∴ : (+)
- 12 -
[예제 8-6] 그림 8-17에서 ID=5㎃ 일 때, VDS와 VGS를 구하라.
․ JFET 의 바이어스 점은
i) 특정 VGS 값에 대한 ID의 값
or, ii) 특정 ID 값에 대한 VGS의 값
으로 결정.
․ RS 값의 결정 :
․ VGS 값에 대한 ID의 결정 방법
1) 특정 JFET 의 전달 특성곡선으로부터 결정 (예제 8-7).
or,
2) JFET 규격표에서 IDSS와 VGS(off)를 구하여 식(8-1)로 결정 (예제 8-8).
- 13 -
[풀이] from 그래프, VGS = -5V 일 때, ID = 6.25㎃.
∴
.
[예제 8-8] IDSS=25㎃, VGS(off)=15V인 p채널 JFET가 자기 바이어스되는 데
필요한 RS 값을 구하라. VGS = 5V 이다.
[풀이] by 식 (8-1),
= (25㎃)
= (25㎃)(1-0.333)2 = 11.1㎃
∴
[3] 중간점 바이어스 (Midpoint Bias)
․ JFET의 바이어스는 가 되는 전달 특성곡선의 중간점에서
바이어스시키는 것이 좋음.
∵ I D 의 스윙을 I DSS 와 0 사이에서 최대로 할 수 있다.
․ from 식 (8-1),
≅
이므로,
일 때, (즉, 중간점 바이어스)가 됨.
- 14 -
․ 한편 중간점 드레인 전압 ( )을 위해서는
원하는 전압강하가 되도록 RD값 결정.
․ 종속 증폭기(cascade amplifier) 연결 시,
구동단이 부하로 작용하는 것을 방지하기 위해 RG는 큰 값을 사용.
∴
또, VD = VDD-RDID
∴ RD = = = 12㏀.
- 15 -
[4] 자기 바이어스된 JFET의 그래프 해석
․ 전달 특성곡선과 파라미터들을 사용하여
자기 바이어스된 회로의 Q점( )을 결정.
․ 그림 8-20 자기 바이어스된 JFET와 전달 특성곡선
1) DC 부하선 결정
i) ID = 0에서, VGS = VG-VS = 0 - RSID = -(470Ω)(0) = 0V
⇒ 그래프의 원점 (VGS=0, ID=0).
ii) from 규격표, IDSS를 찾아 ID=IDSS에서의 VGS 계산.
from특성 곡선, IDSS = 10㎃.
∴ VGS = -RSID = -(470Ω)(10㎃) = -4.7V
⇒ 그래프의 두 번째 점 (VGS=-4.7V, ID=10㎃).
2) 전달 특성곡선의 그래프에 두 점을 잇는 부하선을 그린다.
3) 전달 특성곡선과 부하선의 교차점이 회로의 Q점 (그림 8-21).
-그림 8-21 자기 바이어스 직류 부하선과 전달 특성곡선의 교차점 (Q점).
- 16 -
[예제 8-10] 그림 8-22 (a)에서 JFET에 대한 Q점을 구하라.
전달 특성곡선은 그림 8-22 (b)이다.
[5] 전압 분배 바이어스
․ 그림 8-23 전압 분배 바이어스된 n채널 JFET (IS=ID)
- 17 -
․ VS = RSID ⇒ ID =
․ by 전압 분배 법칙,
․ VGS = VG-VS ⇒ VS = VG-VGS
∴
․ 또는 VD = VDD-RDID ⇒ ∴
[예제 8-11] 그림 8-24 전압 분배 바이어스된 JFET 회로에서
VD=7V가 되도록 ID와 VGS를 구하라.
=
[풀이] ․ = = 1.52㎃.
․ VS = RSID = (2.2㏀)(1.52㎃) = 3.34V.
․ = (12V) = 1.54V.
․ VGS = VG-VS = 1.54V - 3.34V = -1.8V.
- 18 -
⋅전압분배 DC 부하선의 결정.
ⅰ) ID=0에서, VS = RSID = RS(0) = 0V
VGS = VG - VS = VG - 0V = VG
⇒ ∴ 한 점 (VGS=VG, ID=0).
ⅱ) VGS=0에서, VGS = VG - VS = VG - RSID
∴ =
⇒ ∴ 두번째 점 (VGS=0, = ).
- 19 -
[풀이] ⋅ID=0에서,
.
∴ 첫번째 점 (VGS=4V, ID=0).
⋅VGS=0에서, = = = 1.2㎃.
∴ 두번째 점 (VGS=0, ID=1.2㎃).
⋅두 점을 잇는 부하선을 긋고, 교차점에서 VGS와 ID를 구한다.
∴ Q점 (VGS≅-1.8V, ID≅1.8mA)
[7] Q점의 안정도
⋅그림 8-27. 2N5459 JFET의 전달특성곡선 변화와 Q점에 미치는 영향.
- 20 -
⋅동일한 JFET (ex 2N5459)라 하더라도 교체시에는 전달특성곡선이 크게
달라질 수 있다. → ∴ 최소 바이어스 점 Q1과 최대 바이어스 점 Q2 사이
의 부하선 상에 Q점을 갖게 된다.
8-4 저항영역
⋅옴의 법칙이 성립되는 FET 특성곡선의 한 부분. : 그림 8-30.
- 이 영역의 특성곡선은 작은 값에서 비교적 일정한 기울기를 가짐.
기울기(D-S 컨덕턴스) = ≅ → ∴ ≅ .
⋅저항영역에서 동작하도록 바이어스되었을 때, JFET는 가변저항 특성.
→ 저항값은 에 따라 달라진다(전압제어 가변저항). : 그림 8-31.
⋅ 가 를 제어.
-직류 부하선이 저항영역에서 특성곡선의 대부분과 교차하기 위해,
직류포화전류 은 보다 매우 작은 값으로 설정.
- 21 -
.
- 그림 8-31의 저항영역에서,
부하선을 따라 이동하면서, Q점이 서로 다른 기울기의 특성곡선에 위치.
→ ∴ 에 따라 의 값이 변함.
즉, 기울기 ↓ → ↓, ↑ → ∴ ↑
*원점에서의 Q점. : 생략.
- 22 -
⋅그림 8-39 일반적인 E-MOSFET 구조 단면도.
- 23 -
⋅그림 8-40 LDMOSFET 구조 단면도.
- 24 -
8-6 MOSFET 특성과 파라미터
[1] E-MOSFET의 전달특성
⋅ VGS : (+) for NMOS
(-) for PMOS
⋅ 전달 특성곡선 : 그림 8-44.
VGS ≦ VT (VGS(th))에서는 ID = 0.
⋅ 전달 특성곡선 식 : (8-4)
where K는 MOSFET의 종류에 따라 다름.
VGS 값이 주어졌을 때, 규격표(참고그림 1)에서 ID(on) 이라는
ID 값을 가져와 식(8-4)에 대입하여 구함.
⋅ 참고그림 1 2N7008 n 채널 E-MOSFET(T-MOSFET 구조)의 규격표.
- 25 -
[예제 8-16] 2N7008 E-MOSFET 규격표에서 VGS = 10V일 때
ID(on) = 500㎃(최소값)이고, VGS(th) = 1V임을 알 수 있다.
VGS = 5V일 때 ID를 구하라.
[풀이] ⋅by 식 (8-4),
K =
=
= 6.17㎃/V2.
⋅ .
; 식 (8-4)
- 26 -
⋅그림 8-46 (b) 드레인 귀환 바이어스
IG = 0 ⇒ ∴ VRG = 0 ⇒ ∴ VGS = VDS - VRG = VDS.
- 27 -
[풀이] ⋅전압계가 VGS=8.5V를 가리킴.
⋅드레인 귀환 회로이므로, VDS = VGS = 8.5V
∴ = 1.38㎷
8-8 IGBT : 생략
8-9 고장진단, 응용연습 : 생략
- 28 -