KTU

INŽINERINĖS MECHANIKOS KATEDRA

JĖGOS MATAVIMAS TENZOREZISTORIAIS

1 laboratorinis darbas

Kaunas
2021
 2

1 laboratorinis darbas

JĖGOS MATAVIMAS TENZOREZISTORIAIS

1.Tenzorezistorių tipai ir charakteristikos

Mašinų ir įrengimų detalių deformacijos matuojamos mechaniniais, optiniais, pneumatiniais,

styginiais ir elektriniais tenzometrais. Elektriniai tenzometrai savo ruožtu pagal veikimo principą
skirstomi į induktyviuosius, talpinius, elektrolitinius, indukcinius tenzometrus, tenzorezistorius ir
mechanotronus. Dažniausiai naudojami tenzorezistoriai, kurie yra paprasti, pigūs, universalūs, užima
mažai vietos, todėl tuo pačiu prietaisu deformacijas galima matuoti keliuose taškuose vienu metu.
Tenzorezistorių veikimas remiasi tenzoefektu - laidininkų ir puslaidininkių gebėjimu keisti
elektrinę varžą, kintant jų tūriui arba įtempių būviui. Tenzorezistoriaus, kaip pirminio keitiklio, įėjimo
dydis yra santykinė išilginė jo bazės deformacija   l/l. Kadangi šis dydis tamprumo ribose labai
mažas, jis paprastai išreiškiamas milijonosiomis dalimis - santykinės deformacijos vienetais (10-6 
1 s. d. v., angl. ppm, microstrain).
Iš fizikos žinome, kad jeigu elemento ilgis l, skerspjūvio plotas A ir specifinė varža , tai jo
varža
l
R . (1)
A
Remiantis (1) formule santykinis varžos pokytis išreiškiamas taip:
R  
  L  2   L    1  2   L  ; (2)
R  
čia L – santykinė tenzorezistoriaus bazės (plotelio, kuriame matuojama deformacija, ilgis)
deformacija;  - medžiagos Poissono koeficientas. Kiekybiškai tenzoefektas išreiškiamas
tenzojautriu, kuris išreiškiamas santykinio varžos pokyčio santykiu su santykine deformacija:
R R
Sm  m m  1  2   . (3)

Daugumos metalų   0,3, o trečiasis formulės narys =(/L), atspindintis varžos pokytį
dėl medžiagos savybių pasikeitimo nuo deformacijos (pjezovaržinis efektas), metalams yra mažas
(apie 0,4); tuomet metalinio tenzorezistoriaus jautris artimas 2. Tenzorezistoriai dažnai gaminami iš
vario ir nikelio lydinių: advanso, konstantano, nichromo arba kitokio metalo; ypač populiarus yra
advanso lydinys (44% nikelio, 54% vario ir apie 1% mangano). Šis lydinys turi mažą varžos
temperatūrinį koeficientą (apie 2,0.10-5 K-1) ir mažą šiluminio plėtimosi koeficientą.
Puslaidininkių savybės kitokios, todėl jų narys  labai didelis, iš esmės lemiantis tenzojautrio
dydį, kuris būna nuo +100 iki +175 p siliciui ir
–100…–140 n siliciui. Šie tenzorezistoriai
žymiai jautresni už metalinius, bet jie taip pat
jautresni ir temperatūros pokyčiams.
Tipinė metalinio tenzorezistoriaus
konstrukcija parodyta 1 pav. Pagrindas 1
gaminamas iš popieriaus arba plastmasės
plėvelės, kartais iš skardos (kai reikia matuoti
aukštesnėje temperatūroje). Prie pagrindo
priklijuojama vielos gardelė 2, prie kurios
1 pav. privirinami storesnės vielos išvadai 3. Prie
išvadų lituojami laidininkai, jungiantys
tenzorezistorių su elektrine matavimo grandine. Visas tenzorezistorius priklijuojamas prie detalės,
kurios deformaciją reikia išmatuoti. Apytiksliai laikoma, kad detalės paviršiaus deformacija lygi
tenzorezistoriaus gardelės deformacijai baziniame ilgyje lb.
 3

a) b) c)

2 pav.
Be vielinių, naudojami folijos tenzorezistoriai, kurių gardelė išėsdinta iš metalo folijos ant
plastmasinės plėvelės pagrindo. 2 pav. pavaizduota: a - paprastas vienaašis tenzorezistorius,
matuojantis tempimo deformaciją, b - specialus tenzorezistorius sukamo veleno deformacijai matuoti,
c - specialus tenzorezistorius, klijuojamas ant apskritos membranos slėgiui matuoti.
Puslaidininkinių tenzorezistorių jautrusis elementas yra puslaidininkio strypelis, priklijuotas
prie pagrindo.
Tenzorezistoriaus jautris ST visuomet šiek tiek skiriasi nuo jo jautriojo elemento medžiagos
tenzojautrio Sm, nes jautriui ST turi įtakos tenzorezistoriaus konstrukcija, aplinkos sąlygos, klijavimo
technologija ir kiti veiksniai. Tiksliau tenzorezistoriaus jautris nustatomas eksperimentiškai bandant
kelis tenzorezistorius. Laboratoriniame stende naudojamų folijos tenzorezistorių jautris ST  2,4. Be
jautrio, svarbios tenzorezistorių charakteristikos yra bazės ilgis lb, nominalioji varža RT0, varžos
temperatūrinis koeficientas, izoliacijos varža, valkšnumas ir histerezė, skersinis jautris.

2. Laboratorinis stendas

Laboratorinis stendas skiriamas prie plokščios plieninės spyruoklės priklijuotų tenzorezistorių

jautriui nustatyti, bet juo taip pat galima pamatuoti ant lėkštelės dedamų krūvių svorio jėgą.
Svarbiausia stendo detalė yra plokščia stačiakampė plieninė spyruoklė, apkraunama galuose jėgomis
F pagal dviatramės lenkiamos sijos schemą (3 pav., a). Iš medžiagų atsparumo žinome, kad tokiu
atveju sijos dalis tarp atramų veikiama pastovaus dydžio lenkimo momento Fa. Šioje dalyje prie
apatinės ir viršutinės spyruoklės plokštumos priklijuota po du folijos tenzorezistorius (3 pav., b).
Krūviai Q, dedami ant specialios lėkštelės, per svirtinį mechanizmą sudaro lenkimo jėgas F.
Apkrautos spyruoklės paviršiuje atsiranda lenkimo deformacija, lygi
 6Fa
  2 ; (3)
E bh E
čia  - normaliniai lenkimo įtempiai, Pa; E = 2,11·1011 Pa – plieno tamprumo modulis; a ir h –
spyruoklinės sijos matmenys pagal 3 pav.; b = 18,0 mm – spyruoklės plotis.
Laikant, kad tenzorezistoriaus gardelės deformacija yra tokia pati, kaip ir spyruoklės
paviršinio sluoksnio deformacija, galima parašyti:
RT
 ST  . (4)
RT 0
Spyruoklės viršuje ir apačioje priklijuotų tenzorezistorių pora jungiama į tiltelinę grandinę (4
pav.). Specialus maitinimo šaltinis B5 - 43 teikia stabilizuotą maitinimo įtampą Um = 1,45 V. Jautrus
galvanometras, kurio skalės padalos vertė c = 2,4·10-8 A, o vidaus varža Rg = 260 , jungiamas į
tiltelio matavimo įstrižainę. Galvanometro šviesos rodyklės lemputė maitinama iš kito šaltinio B5 –
43. Du tiltelio pečius sudaro tenzorezistoriai, o kitus du – pastovieji rezistoriai R3 = R4 = R = 1800 .
Tenzorezistorių nominalioji varža RT0 lygi 80  (RT1 = RT2 = 80 ).
 4

F F

a = 34 l = 80 a = 34

Fa Fa

a)

F RT1 RT2 h = 2,0 F

q = 75 q= 75
Q

s = 90

v = 270

b)

3 pav.

Iš elektrotechnikos kurso žinome, kad tokio tiltelio srovė, tekanti matavimo įstrižaine ir
galvanometru, apskaičiuojama pagal formulę
R1R4  R2 R3
I g  Um . (5)
Rg  R1  R2  R3  R4    R1  R2  R3 R4   R3  R4  R1R2
Laboratoriniame stende RT1 ir RT2 yra tenzorezistorių varžos. Kai spyruoklė apkraunama, viršutinis
tenzorezistorius tempiamas, jo varža padidėja RT1 = RT10 + RT, o apatinis tenzorezistorius
gniuždomas ir jo varža tokiu pat dydžiu sumažėja: RT2 = RT20 - RT. Įrašę šias varžų išraiškas į (5)
formulę ir suprastinę, gauname:
R
Ig  Um . (6)
RT 0  2 Rg  R  RT 0 
Šioje formulėje santykinį tenzorezistoriaus varžos pokytį išreiškę deformacija pagal (4)
formulę, galutinai gauname:
 ST
I g  Um . (7)
2 Rg  R  RT 0
Ši formulė susieja galvanometro srovę su sijos deformacija, kurią išreiškę jėga pagal (3)
formulę, galime rasti jėgos F ir srovės Ig sąryšį. Reikia turėti galvoje, kad jėga F nelygi krūvio svorio
jėgai Q. Šių jėgų tarpusavio sąryšį nustatyti paliekame darbo atlikėjui.
 5

3.Darbo tikslas

Susipažinkite su tenzorezistorių
RT1 veikimo principu ir konstrukcijomis,
RT2 Ig
laboratorinio stendo veikimu,
apskaičiuokite vieno krūvio masę,
Im Um sudarykite galvanometro srovės
priklausomybės nuo veikiančios jėgos
grafiką.
Rg 4.Darbo eiga

R3
R4 4.1.Nustatykite 1 – ojo maitinimo
šaltinio (lemputės) įtampą 5,5 V; 0,5 A;
2 – ojo maitinimo šaltinio (tiltelio) įtampą
1,45 V; 0,02 A.
4.2.Įjunkite abu maitinimo šaltinius į
4 pav.
tinklą, įjunkite tinklo jungiklius.
4.3.Nuleiskite stendo aretyro
rankenėlę ir užrašykite pradinį galvanometro rodmenį.
4.4.Pakelkite aretyro rankenėlę, uždėkite ant krovinio lėkštelės vieną krūvį ir nuleiskite
aretyro rankenėlę. Užrašykite galvanometro rodmenį.
4.5.Pakartokite 4.4 punkto veiksmus, dėdami du, tris ir t. t. krūvius, kol galvanometro rodyklė
priartės prie prietaiso skalės ribos.
4.6.Nubraižykite galvanometro srovės, kaip krūvių skaičiaus funkcijos, grafiką.
4.7.Išveskite formulę, susiejančią galvanometro srovę su krūvių sunkio jėga Q. Nustatykite
vieno krūvio sunkio jėgą ir masę (skaičiuojant galima imti bet kurį krūvių skaičių, bet galvanometro
srovė turi atitikti pasirinktą krūvių skaičių).
4.8.Nubraižykite galvanometro srovės, kaip lėkštelę veikiančios jėgos, funkcijos grafiką
(matavimo sistemos keitimo funkciją).
4.9.Nustatykite matavimo sistemos jautrį (A/N) ir apskaičiuokite jos keitimo funkcijos
netiesiškumą nuošimčiais.
4.10.Apiforminkite laboratorinio darbo ataskaitą.

Literatūra

1. V. Vekteris, A. Kasparaitis, S. Kaušinis, R. Kanapėnas. Matavimų teorija ir praktika. –

V.: Žiburys, 2000.-P. 310, 311.
2. J. P. Bentley. Principles of Measurement Systems. – Longman Scientific & technical, 1995.
- P. 139 - 142.
3. J. W. Dally, W. F. Riley, K. G. McConnell. Instrumentation for Engineering Measurements.
– John Wiley & Sons, inc. N. – Y., 1993. P. 129 - 135.
4. Tenzometrija v mašinostrojenii / Red. R. A. Makarov. – M.: Mašinostrojenije, 1975. - S.
75 - 93.
5. E. S. Levšina, P. V. Novickij. Električeskije izmerenija fizičeskich veličin. – L.:
Energoatomizdat, 1983. - S. 92- 107.
Kontroliniai klausimai

1.Koks tenzorezistoriaus veikimo principas? Kas yra tenzojautris?

2.Kokios būna tenzorezistorių konstrukcjos?
3.Kodėl vidurinėje spyruoklės dalyje lenkimo momentas pastovus? Kaip dar gali būti sukurti
įtempiai, pastovūs per visą bazės ilgį?
4. Į kokią elektros grandinę dažniausiai jungiami tenzorezistoriai?
5. Kaip apibrėžiamas matavimo sistemos jautris ir keitimo funkcijos netiesiškumas?
 6

Ataskaitos forma

1 laboratorinis darbas

JĖGOS MATAVIMAS TENZOREZISTORIAIS

1.Naudojama įranga ir prietaisai.

2. Matavimų rezultatai.

Krūvių
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
skaičius i
Galvanometro
rodmenys
Galvanometro
srovė, A

3. Galvanometro srovės ir krūvių skaičiaus grafikas: Ig = f(i).

 7

4.Jėgos Q ir krūvio masės mQ apskaičiavimas:

5. Galvanometro sovės ir veikiančios sunkio jėgos (sistemos keitimo) funkcija: Ig = f(Q).

6.Matavimo sistemos savybės:

jautris S = …….

keitimo funkcijos netiesiškumas N = …..

7.Išvados:
 KTU
INŽINERINĖS MECHANIKOS KATEDRA

TALPINIS SKYSČIO LYGIO MATUOKLIS

3 laboratorinis darbas

Kaunas
2021
 2

3 laboratorinis darbas

TALPINIS SKYSČIO LYGIO MATUOKLIS

1. Talpinių jutiklių darbo principai

Talpiniai jutikliai plačiai naudojami kietų kūnų poslinkių, skysčio lygio matuokliuose,
manometruose ir kituose mechaninių dydžių matuokliuose.
Talpinis jutiklis – tai elektrinis kondensatorius,
kurio talpa gali kisti, kintant atstumui tarp elektrodų,
elektrodų sanklotos plotui arba terpės tarp elektrodų
dielektrinei skvarbai. Iš fizikos žinome, kad plokščiojo
kondensatoriaus talpa apskaičiuojama pagal formulę
 A
C 0 , (1)
d
čia 0 – vakuumo dielektrinė konstanta (8,85·10-12 F/m);
 - terpės tarp elektrodų santykinė dielektrinė skvarba;
L A – elektrodų perdengimo plotas, m2;
d – atstumas tarp elektrodų, m.
Pagal konstrukciją talpiniai jutikliai skirstomi į
plokščiuosius, bendraašius (cilindrinius), strypinius ir pan.
x Šiame darbe naudojamas bendraašis jutiklis, kurio talpa
apskaičiuojama taip:
2 0  al x   L  x   or 
Ck  ; (2)
D
ln  
d
čia D, d, L - jutiklio matmenys (1 pav.); x – alyvos lygis
jutiklyje; al, or – atitinkamai alyvos ir oro dielektrinė
d skvarba.
Talpiniai jutikliai dažniausiai dirba silpnuose
D elektromagnetiniuose laukuose. Tokių laukų aplinka
apibūdinama dviem parametrais: dielektrine skvarba  ir
1 pav. dielektrinių nuostolių kampu  (elektriniu laidumu G).
Visi dielektrikai skirstomi į polinius, silpnus
polinius ir nepolinius. Poliniai (vanduo, metilo, etilo
spiritas, acetonas ir kt.) turi didelį specifinį laidumą, jų dideli elektriniai nuostoliai, dielektrinė
skvarba  > 12. Silpnų polinių dielektrikų 3    6. Nepoliniams dielektrikams (augalinei ir
mineralinei alyvai, žibalui ir pan.) būdingos geros elektros izoliacinės savybes ir nedidelė dielektrinė
skvarba (   3).

2. Talpinių lygio matuoklių konstrukcijos

Talpiniai lygio jutikliai [1] būna analoginiai (2 pav., a) ir diskretiniai (2 pav., b). Svarbiausi
jų elementai yra kondensatorius- lygio jutiklis 1, sumontuotas rezervuare 3, ir elektrinė grandinė bei
antrinis matavimo prietaisas 2.
Tokie matuokliai turi trūkumų. Vienas iš jų – maža naudingoji talpa ( neviršija kelių dešimčių
pikofaradų metrui). Todėl juos jungiant prie matavimo prietaisų reikia mažinti jungiamųjų kabelių
ilgį (standartinių kabelių talpa – 50...100 pF/m). Kitas trūkumas – gana didelė temperatūrinė paklaida.
Šias paklaidas galima sumažinti automatine temperatūros kompensacija (3 pav.). Šiuo atveju jutiklį
sudaro ekranuotas dvigyslis kabelis, kurio šarvas (ekranas) padalytas į tris viena nuo kitos izoliuotas
sekcijas 1, 2 ir 3. Antroji sekcija yra darbinė, o pirmoji ir trečioji - kompensacinės. Rezervuaro 4
 3

sienelė yra kiekvieno iš šių trijų jutiklių antrasis elektrodas. Tokių matuoklių matavimo ruožas 0 ...
10 000 mm, o paklaida neviršija 0,3 %.
Talpinių matuoklių antriniai prietaisai paprastai yra specialūs nesubalansuoti kintamosios
srovės tilteliai.

1
2

a) b)
2 pav.
Į
matavimo 3. Talpos matavimas tilteliu E7 – 11
grandinę
Universaliuoju E7 – 11 tilteliu galima matuoti
5 1 įvairių elektros grandinių elementų induktyvumą,
talpą, aktyviąją varžą, nuostolių kampo tangentą,
elektros grandinės kokybę.
2 Pagal veikimo principą tai yra kintamosios
srovės tiltelis, maitinamas iš prietaise esančio šaltinio
4 100, 1000 Hz kintamąja arba nuolatine srove.
Maitinant 1 kHz srove, matuojamos talpos ruože nuo
0,5 pF iki 100 F.
3 Tokio prietaiso santykinė leidžiamoji paklaida
matuojant talpą, kai Q < 1, išreiškiama formule
 20 1 
   1    %; (3)
 C Q
čia C – matuojamoji talpa, pF; Q – grandinės kokybė.
Tiltelio valdymo įtaisai išdėstyti priekiniame
3 pav. prietaiso skyde (4 pav.). Jų paskirtis tokia:
1 - indikacijos lemputė, užsideganti įjungus prietaisą;
2 - jungiklis, kuriuo prietaisas perjungiamas matuoti reikiamam dydžiui – induktyvumui, talpai,
varžai kintamąja arba nuolatine srove;
3 - jungiklis „Ruožas“, kuriuo įjungiamas reikiamas matuojamojo dydžio ruožas;
4 - rodyklinis tiltelio balanso indikatorius;
5 - mygtukas reikiamam ruožui parinkti;
6 - maitinimo tinklo jungiklis;
 4

7 - tiltelio balansavimo pagal tg  ir kokybę Q rankenėlė;

8 - jungiklis, kuriuo prietaisas perjungiamas matuoti tg  arba kokybei Q;
9 - tiltelio maitinimo srovės dažnio jungiklis;
10 - tiltelio balansavimo pagal L, C arba R rankenėlė „Daugiklis“;
11 - balanso indikatoriaus jautrio reguliavimo rankenėlė „Jautris“;
12, 13 - ryšio su matuojamu objektu kabelio jungimo gnybtai.

4 pav.
Pradedant matuoti, pirmiausiai įjungiamas tinklo jungiklis 6 (4 pav.). Tuomet turi užsidegti
signalinė lemputė 1. Talpinio lygio jutiklio kabelis sujungiamas su prietaiso įėjimo kabeliu. Jungiklis
2 nustatomas į padėtį „C“, jungiklis 8 - į padėtį „tg “, jungiklis 9 - į padėtį „1000 Hz“, jungiklis 3 -
į padėtį „1 nF“. Rankenėlę „Jautris“ 11 reikia nustatyti į tokią padėtį, kad indikatoriaus 5 rodyklė būtų
maždaug ties dešinės skalės dalies viduriu.
Matuojant reikia kaip galimai tiksliau subalansuoti tiltelį rankenėlėmis 10 ir 7, kuriomis
keičiama talpinė tiltelio peties varža. Rankenėlės nustatomos į tokią padėtį, kad indikatoriaus 5
rodyklė būtų kuo arčiau nulinės žymės. Tai lengviau padaryti padidinus jautrį rankenėle 11. Šie
veiksmai kartojami kelis kartus kol tiltelis bus geriausiai subalansuotas.
Paskui nustatomas talpos dydis pagal rodmenų įtaisą 4. Skaitmenys abiejose skalėse
traktuojami kaip vienas skaičius. Šis skaičius padauginamas iš ruožo vertės (nagrinėjamu atveju iš 1
nF = 1000 pF).

4. Darbo tikslas

Susipažinti su talpinių jutiklių darbo principu ir konstrukcijomis, nustatyti talpinio skysčio

lygio jutiklio keitimo funkciją, apskaičiuoti vidinio jutiklio elektrodo skersmenį.

5. Darbo eiga

5.1. Įjunkite prietaisą E7 –11 į tinklą ir įjunkite tinklo jungiklį. Prietaiso įšilimo trukmė 15
min.

5.2. Sukdami rantytą jutiklio pakėlimo įtaiso veržlę, nustatykite jutiklį į padėtį, kai jutiklis
apsemtas iki pirmojo brūkšnio. Išmatuokite pradinę talpą Cpr.
 5

5.3. Nuleiskite jutiklį, kol skysčio lygis pasieks antrąjį brūkšnį, ir išmatuokite talpą C1. Šiuos
veiksmus kartokite, kol pasieksite aukščiausią brūkšnį. Atstumas tarp gretimų brūkšnių -10 mm.

5.4. Iškelkite jutiklį iš skysčio, palaukite minutę, kol skystis ištekės iš jutiklio vamzdelio, ir,
nuosekliai jį leisdami, vėl pakartokite bandymą, t. y. gaukite antrąją Ci verčių seriją. Išveskite abiejų
serijų atitinkamų Ci verčių vidurkius.

5.5. Nubraižykite eksperimentinę priklausomybę tarp skysčio lygio x ir talpos C(x). Čia reikia
pažymėti, kad tilteliu išmatuojama ne tik jutiklio talpa Ck (pagal (2) formulę), bet ir visa talpa,
įskaitant jungiamųjų kabelių ir gnybtų talpą C0. Ši talpa

2 0  al x   L  x   or 
C  x   C0  Ck  C0  . (4)
D
ln  
d
Matematiškai x atžvilgiu - tai tiesės lygtis
C  x   ax  b ; (5)
čia
2 0   al   or 
a , (6)
D
ln  
d
o
2 0 or L
C pr  b  C0  . (7)
D
ln  
d
Kadangi eksperimento rezultatai yra su paklaidomis, apibendrintą grafiką nubraižykite,
apdoroję matavimo rezultatus mažiausių kvadratų metodu, kaip nurodyta mokymo priemonėje [2].
Koeficientas a apskaičiuojamas pagal formulę

n xi Ci   xi  Ci
a i i i
2
, (8)
 
n x    xi  2
i
i  i 
o koeficientas b - pagal formulę

 x C   x  x C
2
i i i i i
b i i
2
. i i
(9)
 
n xi2    xi 
i  i 
Žinant koeficientus a ir b pagal (5) formulę galima apskaičiuoti teorines (skaičiuojamąsias)
talpų vertes Cti, esant žinomiems xi. Jos šiek tiek skiriasi nuo išmatuotų Ci. Dėl matavimo duomenų
sklaidos taškai Ci, skirtingai nuo Cti, nėra tiksliai vienoje tiesėje, todėl skirtumai Ci = Ci - Cti nusako
matavimo duomenų apdorojimo tikslumą. Tikslumo rodiklis yra vidutinis kvadratinis nuokrypis
 C i
2

sC  i
. (10)
n 1

Laikant , kad sklaidos dėsnis yra normalusis, eksperimentiniai taškai nubrėžtos tiesės atžvilgiu
su 95% tikimybe išsisklaidę 2sC juostoje.
5.6. Apskaičiuokite vidinio jutiklio elektrodo skersmenį d. Laboratorinio stendo jutiklio išorinio
elektrodo skersmuo D = 12,5 mm, ilgis L = 120 mm, alyvos dielektrinė skvarba al = 2,3, oro
 6

dielektrinė skvarba or  1. Žinodami a, iš (6) formulės raskite d. Žinodami Cpr, iš (7) formulės raskite
C0. Visi dydžiai įrašomi SI vienetais.

5.7. Padarykite išvadas ir apiforminkite laboratorinį darbą.

Literatūra

1. S. Dailidė. Technologiniai matavimai. – V.:Mokslas, 1993. – P. 162-163.

2. A. Palionis. Matavimo rezultatų apdorojimas. – Kaunas: „Technologija“, 1991.
3. E7 – 11. Izmeritelj L, R, C universalnyj. Techničeskoje opisanije i instrukcija po
ekspluatacii.
4. J. P. Bentley. Principles of Measurement Systems. - Longman Scientific & Technical,
1995. - P. 142-145.

Kontroliniai klausimai

1.Koks yra talpinio jutiklio veikimo principas?

2.Kokias žinote talpinių jutiklių konstrukcijas?
3.Į kokias grandines jungiami talpiniai jutikliai?
4.Kokios svarbiausios talpinių jutiklių paklaidos?
5.Kaip apdorojami eksperimento rezultatai?
6.Ką reiškia dydis sC ?
 7

Ataskaitos forma

3 laboratorinis darbas

TALPINIS SKYSČIO LYGIO MATUOKLIS

1. Naudota įranga ir prietaisai:

2. Matavimų rezultatai
Alyvos lygis, mm 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
Talpa, pF (1 ser.)
Talpa, pF (2 ser.)
Talpa, pF (vid.)

3. Skaičiavimų rezultatai

a= ; b= ;C= .

4. C = f(x) grafikas. Eksperimento duomenis (vidurkius) vaizduokite taškais, išlygintą tiesę –

ištisine linija.

5.Elektrodo skersmens ir talpos C0 apskaičiavimas

d= ; C0 = .

6.Išvados
 KTU
INŽINERINĖS MECHANIKOS KATEDRA

PJEZOELEKTRINIO JUTIKLIO JAUTRIO NUSTATYMAS

8 laboratorinis darbas

Kaunas
2021
 2

8 laboratorinis darbas

PJEZOELEKTRINIO JUTIKLIO JAUTRIO NUSTATYMAS

1.Teorinės žinios

Pjezoelektrinių jutiklių veikimas remiasi tiesioginiu ir atvirkštiniu pjezoefektu. Tiesioginis

pjezoefektas pasireiškia tuo, kad, deformuojant kai kurių medžiagų plokšteles, priešinguose jų šonuose
atsiranda elektros krūviai (1 pav.). Deformacijos priežastis gali būti jėga, slėgis, pagreitis ar kt.
Atvirkštinis pjezoefektas – tai
medžiagos deformavimasis veikiant
elektros laukui. Pjezoelektrinėmis
savybėmis pasižymi kvarcas, bario
titanatas, Segneto druska ir kitos
medžiagos. Jos gali būti vienkristalės
(kvarcas) ir polikristalinės
(pjezokeramika). Tokių medžiagų
savybės priklauso nuo krypties
(anizotropinės medžiagos), todėl
pjezoelementas turi būti orientuotas tam
tikra kryptimi. Pvz., kvarco kristalas (1
pav., a) turi tris statmenas svarbiausias
ašis: X - elektrinę, Y – mechaninę ir Z –
optinę. Išpjovus iš kristalo plokštelę,
statmeną šioms ašims ir slegiant ją jėga Fx
išilgai X ašies (1 pav, b), ant jos sienų,
statmenų X ašiai, atsiranda elektros
1 pav. krūviai (tiesioginis išilginis pjezoefektas).
Krūvio dydis
q  d1 Fx , (1)
čia d1 = 2,1·10 C/N – kvarco pjezomodulis.
-12

Veikiant tą pačią plokštelę jėga išilgai Y ašies (tiesioginis skersinis pjezoefektas), krūviai taip pat
atsiranda ant sienų, statmenų X ašiai (1 pav., c), bet jų dydis jau priklauso nuo plokštelės matmenų, o
ženklai yra priešingi negu esant išilginiam pjezoefektui:
A
q1  d1 x Fy , (2)
Ay
čia Ax ir Ay –plokštelės sienų, statmenų atitinkamai X ir Y ašims, plotai. Tinkamai parenkant santykį Ax/Ay,
galima padidinti jutiklio jautrį.
Pjezoelektriniais jutikliais galima matuoti greitai besikeičiančius slėgius, jėgas, virpesių
pagreičius, greičius ir poslinkius.
Tiesiogiai pjezoelementas gali matuoti tik slėgį arba jėgą, todėl pagreičiams matuoti dažniausiai
panaudojama inercinė masė 1, priklijuota prie pjezoelemento 2 (2 pav., a). Judant masei su pagreičiu
pagal antrąjį Niutono dėsnį atsiranda jėga, gniuždanti arba tempianti pjezoelementą, o dėl to atsiranda
krūviai. Kadangi tempimo jėgą klijais pjezoelementui sunku perduoti, dažnai šis elementas iš pradžių
įveržiamas varžtu arba specialia spyruokle, tuomet inercijos jėga tik sumažina gniuždymo įtempimus.
Sukurta daug pjezoelektrinių jutiklių konstrukcijų. Didesniu jautriu pasižymi bimorfiniai
pjezoelementai (2 pav., b) iš pjezokeramikos, kurie yra ne tempiam ir gniuždomi, o lenkiami.
Kad būtų galima išmatuoti elektrinį krūvį, prie pjezoelemento sienelių tvirtinami elektrodai.
Pjezoelektrikai yra geri dielektrikai, todėl į pjezoelementą galima žiūrėti kaip į įkrautą kondensatorių,
 3

kurio savoji talpa lygi C0. Pjezoelemente atsiradusi įtampa tiesiai proporcinga krūvio dydžiui ir
atvirkščiai proporcinga talpai C0:
q
U C/F. (3)
C0
Pjezoelektrinis jutiklis gali
būti apibūdinamas jautriu jėgai
pagal įtampą
dU
SU  V/N (4)
dFx
ir pagal krūvį
dq
Sq  C/N. (5)
dFx
Tais atvejais, kai
pjezojutikliu matuojami
pagreičiai, jo jautris išreiškiamas
2 pav.
dydžiu
U
S 0, Vs2/m; (6)
a0
čia U0 – amplitudinė įtampos vertė; a0 – virpesių pagreičio amplitudė. Šį dydį ir reikia nustatyti darbe.
Pjezoelektrinio jutiklio jautriui padidinti naudojami pjezostulpeliai, t. y. keli suklijuoti
pjezoelementai. Elektriškai jie paprastai jungiami lygiagrečiai. Tuomet visi teigiami krūviai sumuojami
ant vieno elektrodo, o neigiami – ant kito.
Pjezojutiklio su ekranuotu kabeliu
ekvivalentinė elektrinė schema pavaizduota
3 pav. Čia C0 – pjezoelemento savoji talpa;
R0 – jo vidaus varža, įvertinant izoliacijos
varžą žemės atžvilgiu; Cin – matavimo
grandinės įėjimo talpa; Rin – matavimo
grandinės įėjimo varža.
Kadangi pjezojutiklyje atsiradę
krūviai yra elektrostatinio pobūdžio, tai,
3 pav. jeigu juos sukūrusi jėga nekinta, jie nuteka
per ekvivalentinę varžą R = R0Rin/(R0 + Rin).
Dėl to krūvio dydis palaipsniui mažėja pagal priklausomybę
 t
q  q0 exp    ; (7)
 
čia q0 – pradinis krūvio dydis, C;  = R(C0 + Cin) – grandinės laiko pastovioji, s.
Dėl šios priežasties pjezoelektrinis jutiklis negali matuoti statinių jėgų. Siekiant praplėsti
pjezoelektrinio jutiklio praleidžiamų dažnių ruožą žemųjų dažnių srityje (viršutinė ruožo riba gana
aukšta), stengiamasi didinti laiko pastoviąją . Geriausia tai daryti didinant varžą R. Jutiklio vidaus varža
palyginti didelė (109…1010 ), tačiau padidinti iki tokios eilės grandinės įėjimo varžą gana sunku. Todėl
stiprintuvo, prie kurio jungiamas pjezoelektrinis jutiklis, įėjimo varža taip pat turi būti 109  eilės. Tai
pasiekiama specialiomis elektronikos grandinėmis.
Naudojant pjezojutiklius, matavimo neapibrėžties šaltiniai yra grandinės parametrų
nepastovumas (ypač Cin), aplinkos drėgmės, temperatūros įtaka, netinkamas jutiklio tvirtinimas (labai
svarbus pakankamas jutiklio tvirtinimo standumas).
Nepaisant šių trūkumų, pjezoelektriniai jutikliai plačiai naudojami, nes yra patogūs, pigūs, maži,
greitaveikiai, turi plačią praleidžiamų dažnių juostą.
 4

2. Darbo tikslas

Sudarykite stendo struktūrinę schemą, eksperimentiškai nustatykite pagreičių pjezojutiklio jautrį.

3. Darbo eiga

3.1. Įsukite pjezojutiklį į kalibravimo įtaisą. Specialiu kabeliu sujunkite jutiklį su matavimo
stiprintuvo įėjimu, o stiprintuvo išėjimą kitu kabeliu sujunkite su osciloskopo įėjimu „+“.
3.2. Įjunkite visus prietaisus į tinklą. Įjunkite tinklo jungiklius.
3.3. Stiprintuvo kanalų jungiklį nustatykite į padėtį, atitinkančią naudojamą kanalą. Stiprintuvo
ruožų perjungimo rankenėlę nustatykite į padėtį „320“.
3.4. Rankenėle „☼“ nustatykite tinkamo skaisčio spindulį osciloskopo ekrane. Skleistinės tipo
rankenėlė turi būti padėtyje „A“, kairioji rankenėlė „ВРЕМЯ/ДЕЛ“ – padėtyje „5 ms“.
3.5. Žiūrėdami pro mikroskopo okuliarą ir sukdami kalibravimo įtaiso mikoskopo fokusavimo
sraigtą, gaukite ryškų kokio nors mažo šviesaus taško ant pjezojutiklio korpuso vaizdą. Tokie taškai
virpant jutikliui duoda daug šviesių linijų. Parinkite tokią, kuri nesusilieja su kitomis. Sukdami
kalibravimo įtaiso rankenėlę „Амплитуда“
nustatykite patogų šio brūkšnio ilgį.
3.6. Keisdami osciloskopo
vertikaliojo kanalo stiprinimą rankenėlėmis
“mV/ДЕЛ”, pasiekite, kad signalo mojis
ekrane būtų ne mažesnis kaip 4 padalos.
Jeigu tai nepavyksta, perjunkite matavimo
stiprintuvo stiprinimo koeficientą į kitą
padėtį (pvz., iš padėties „320“ į padėtį
„100“). Vertikalia kryptimi signalo vaizdą
ekrane galima stumdyti rankenėle „↕“.
3.7. Mikroskopo okuliariniu
mikrometru išmatuokite šviesaus brūkšnio
4 pav. vaizdo ilgį (4 pav.). Iš pradžių sukdami
okuliarinio mikrometro būgnelį nustatykite
horizontalią kryžiaus žymės liniją ties viršutiniu matuojamojo brūkšnio galu (4 pav., a) ir atskaitykite
mikrometro rodmenis. Sveiki milimetrai atskaitomi pagal dvigubo brūkšnio padėtį skalėje, matomoje
okuliaro regėjimo lauke, o dešimtosios ir šimtosios milimetro dalys – mikrometrinio būgnelio limbe.
Taip atliekama pirmoji atskaita N1. Toliau sukdami mikrometrinį būgnelį, horizontalią kryžiaus liniją
sutapdinkite su apatiniu šviesaus brūkšnio galu ir atlikite antrąją atskaitą N2. Tikrasis brūkšnio ilgis (jis
lygus jutiklio korpuso virpesių mojui) apskaičiuojamas taip
1
xm  2 x0   N1  N2  ; (7)
 2
čia x0 – jutiklio svyravimų amplitudė, mm; Γ = 8,5 – optinės sistemos didinimas; daugiklis 2 atsiranda
dėl to, kad matavimo kryptis pakrypusi 45o kampu matuojamojo brūkšnio atžvilgiu.
3.8. Išmatuokite signalo osciloskopo ekrane mojį. Rankenėle „↨“ pastumkite vaizdą ekrane tiek,
kad apatinis kreivės taškas tiksliai sutaptų su viena iš ekrano linijų. Atskaitykite signalo kreivės aukštį
Ns ekrano padalomis (didžiosiomis, bet šis skaičius gali būti ir trupmeninis, įvertinant didžiosios padalos
dalis). Jeigu viršutinis kreivės taškas nesutampa su vertikalia ekrano tinklelio linija, kad būtų patogu
matuoti signalo kreivę galima perstumti horizontalia kryptimi rankenėle „↔“. Matuojamo signalo mojo
įtampa apskaičiuojama taip
U m  2U 0  CBN s ; (8)
čia U0 – signalo amplitudė, V; C – osciloskopo kairiosios rankenėlės (1000, 100, 10, 1) daugiklis;
B – osciloskopo apatinės vidurinės rankenėlės (20, 10, 5, 2, 1) daugiklis. Viršutinė vidurinė rankenėlė
matavimo metu turi būti fiksuotoje kraštinėje dešinėje padėtyje.
 5

3.9. Jutiklio pagreičio nustatymas. Laikome, kad kalibravimo įtaisas virpina jutiklį pagal
harmoninį dėsnį. Tuomet jo poslinkis aprašomas išraiška
x  x0 sin  t . (9)
Diferencijuodami šią išraišką du kartus, gauname pagreitį
a   x0 2 sin t  a0 sin t , (10)
čia a0  x0 2 - pagreičio amplitudė, m/s2; t – laikas, s;  = 2f ciklinis dažnis, rad/s; f – dažnis, Hz.
Pagreičio mojis, kai virpesiai yra 50 Hz dažnio, lygus
am  2a0  8 2 f 2 x0  19,74.104 x0 . (11)
Jeigu poslinkiai matuojami milimetrais, o pagreičiai – metrais per sekundę kvadratu, tai pagreičio
mojis
am  98, 7 xm ; (12)
čia xm – jutiklio virpesių mojis, mm.
3.10.Jutiklio jautrio nustatymas. Jutiklio jautris, (mV.s2)/m apskaičiuojamas pagal formulę
U
Sa  m ; (13)
Kam
čia K – matavimo stiprintuvo stiprinimo koeficientas, surandamas pagal stiprinimo ruožo jungiklio padėtį
(žr. lentelę).

Stiprinimo ruožas 320 100 32 10 3,2 1 0,32

K 0,67 2,1 6,7 21 67 200 670

3.11. Kalibravimo įtaiso rankenėle „Амплитуда“ nustatykite kitą virpesių amplitudę ir

pakartokite punktus 3.6 …3.10. Apskaičiuokite naują Sa reikšmę. Iš viso gaukite bent tris jautrio vertes
ir išveskite vidurkį.
3.12. Sudarykite struktūrinę matavimo aparatūros schemą.
3.13. Apiforminkite laboratorinio darbo ataskaitą.

Literatūra

1. V.Vekteris, A. Kasparaitis, S. Kaušinis, R. Kanapėnas. Matavimų teorija ir praktika. –V.:

Žiburys, 2000. – P. 303-306.
2. J. P. Bentley. Principles of Measurement Systems. - Longman Scientific & Technical, 1995.
– P. 163-168.
3. J. W. Dally, W. F. Riley, K. G. McConnnell. Instrumentation for engineering measurements. -
John Wiley & Sons, inc. N. - Y., 1993. – P.139-142.
4. E. S. Levšina, P. V. Novickij. Električeskije izmerenija fizičeskich veličin. - L.:
Energoatomizdat, 1983. – S. 107-121.

Kontroliniai klausimai

1.Kas yra pjezoefektas?

2.Kokios medžiagos naudojamos pjezojutikliuose?
3.Kas yra pjezoelektrinio jutiklio jautris jėgai? Pagreičiui?
4.Ką matote žiūrėdami pro mikroskopo okuliarą?
5.Kaip nustatomas jutiklio išėjimo signalo mojis?
 6

Ataskaitos forma

8 laboratorinis darbas

PJEZOELEKTRINIO JUTIKLIO JAUTRIO NUSTATYMAS

1.Naudoti prietaisai ir aparatūra:

2.Matavimų rezultatai

Matuojamasis dydis 1-asis matavimas 2-asis matavimas 3-asis matavimas

N1 , mm
N2 , mm
xm , mm
am, m/s2
B
C
Ns pad.
Um , mV
K
S, mV.s2/m

S1  S2  S3
Vidutinis jautris S  …………..mV.s2/m
3
3.Matavimo aparatūros struktūrinė schema

4.Išvados