Jarosław FILIPIAK

BADANIA STANU ODKSZTAŁCENIA ZA POMOCĄ METODY TENSOMETRII

REZYSTANCYJNEJ

Metoda tensometrii rezystancyjnej jest stosowana do pomiaru odkształceń zarówno

obiektów badanych w warunkach laboratoryjnych jak i urządzeń czy też maszyn pracujących
w naturalnym dla nich środowisku i poddanych obciążeniom eksploatacyjnym. Technika
tensometrii rezystancyjnej jest wykorzystywana również do wytwarzania różnego typu
przetworników do pomiaru: siły, momentu zginającego, momentu skręcającego, kąta ugięcia,
kąta obrotu, ciśnienia, przemieszczenia, przyśpieszenia, temperatury, itp.
Pomiar odkształceń w metodzie tensometrii rezystancyjnej oparty jest na wykorzystaniu
zjawiska zmiany rezystancji przewodnika, wskutek jego wydłużenia lub skrócenia.
Odpowiednio ukształtowany przewodnik elektryczny w postaci siatki tensometru
rezystancyjnego łączy się trwale poprzez przyklejenie z wybranym miejscem badanego
obiektu. Pod wpływem obciążeń badany obiekt odkształca się wraz z tensometrem, co
wywołuje zmianę wymiarów tensometru i ściśle z tym związaną zmianę jego rezystancji.
Między rezystancją R, jej zmianą R i odkształceniem  (wydłużeniem lub skróceniem)
cienkiego drutu zachodzi następująca zależność:
R
 k , (1)
R
gdzie k jest współczynnikiem czułości odkształceniowej tensometru lub też krótko - stałą
tensometru.
Zależność pomiędzy zmianą rezystancji R przewodnika i jego odkształceniem wyrażona
w postaci (1) jest podstawowym równaniem tensometrii rezystancyjnej. Wielkość R/R,
nazywana także sygnałem elektrycznym, jest przetwarzana w aparaturze pomiarowej na
sygnał napięciowy. Sygnał ten jest proporcjonalny do wartości odkształcenia jakiego
doznaje tensometr. Wartość współczynnika proporcjonalności k dla stopów metali używanych
do wytwarzania tensometrów można uważać z bardzo małym błędem za stałą w granicach
sprężystości [4]. Wartości stałej k dla różnych materiałów, z których wykonywane są siatki
pomiarowe współczesnych tensometrów przedstawiono w tabeli 1.

BUDOWA TENSOMETRU REZYSTANCYJNEGO

Obecnie w praktyce pomiarowej największe zastosowanie mają tensometry foliowe.
Foliowy tensometr rezystancyjny składa się z następujących elementów (rys. 1):
 siatki pomiarowej (1), która w celu zwiększenia długości czynnej przewodnika
ukształtowana jest w postaci wężykowatej. Siatka pomiarowa wykonana jest z
odpowiedniego stopu (tabela 1). Grubość siatki pomiarowej wynosi ok. 5m i jest
nanoszona metodą fotochemiczną na podkładkę nośną.
 podkładki nośnej (2) wykonanej z tworzywa sztucznego. Jej grubość wynosi 30-40m.
Obecnie najczęściej stosowane materiały na podkładki to: żywica epoksydowo-fenolowa,
żywica epoksydowo-fenolowa zbrojona włóknem szklanym i poliamid. Tensometry na
podkładce z żywicy epoksydowo-fenolowej stosowane są w pomiarach odkształceń nie
przekraczających 5 % i w temperaturze do 200 oC. Tensometry na podkładce z żywicy
epoksydowo-fenolowej zbrojonej włóknem szklanym stosowane są w pomiarach
odkształceń do 2% i w zakresie temperatur od –270 oC do 290 oC a krótkotrwale nawet do
400 oC. Tensometry na podkładce poliamidowej stosowane są do pomiarów dużych
odkształceń rzędu 20% w przedziale temperatur od –197 oC do 175 oC [6],
 1 4 2 1 3

Rys. 1. Budowa tensometru rezystancyjnego (opis w tekście)

 nakładka ochronna (3) przykrywa siatkę pomiarową i chroni ją przed uszkodzeniem.

Wykonana jest z tego samego materiału co podkładka nośna,
 wyprowadzenia zakończeń siatki pomiarowej (4).

Tabela 1. Wybrane parametry stopów na siatki pomiarowe tensometrów [6]

Materiał siatki Skład chemiczny Wartość stałej k Rezystywność 
(nazwa handlowa) [m 10-ó]
Konstantan nikiel – 45% 2,1 49
miedź – 55%
Nichrom V nikiel – 80% 2,1 108
chrom – 20%
Isoelastic żelazo – 55,5% 3,5 112
nikiel – 36%
chrom – 8%
molibden – 0,5%
Karma nikiel – 74% 2,4 130
chrom – 20%
aluminium – 3%
żelazo – 3%
Manganin miedź – 84% 0,47 48
magnez – 12%
nikiel – 4%
Monel nikiel – 67% 1,9 42
miedź – 33%
stop platyny platyna – 95% 5,1 24
i irydu iryd – 5%

Obok wspomnianych już parametrów opisujących każdy tensometr, tj.: rezystancji R

i stałej k należy wymienić długość bazy pomiarowej a (rys.2.). Oferowane przez producentów
tensometry mogą posiadać bazę pomiarową o wielkości od dziesiątych części milimetra do
kilkudziesięciu milimetrów. Przykładowo firma Hottinger Baldwin Messtechnik oferuje
tensometry foliowe o bazie pomiarowej od 0,6 mm do 150 mm, a ich rezystancja może
wynosić 120 lub 1000.
Wykorzystując metodę tensometrii rezystancyjnej do pomiaru odkształceń musimy
pamiętać o tym, że mierzone wartości dotyczą nie jednego punktu a pewnego pola
pokrywającego się z powierzchnią siatki pomiarowej tensometru. Ze względu na skończone
rozmiary tensometru pomiar odkształcenia w punkcie jest niemożliwy. Mówiąc o
zmierzonym odkształceniu w punkcie rozumie się, że pomiar objął pole otaczające dany
 a

Rys. 2. Przykład tensometru liniowego o bazie pomiarowej a

punkt. Dlatego też właściwy dobór długości bazy pomiarowej ma wpływ na dokładność
prowadzonych pomiarów. Dotyczy to szczególnie pomiarów w miejscach o dużym gradiencie
zmian odkształceń oraz pomiarów odkształceń szybkozmiennych. Zagadnienia te ilustruje
rys.3. W takich przypadkach zastosowanie tensometrów o małych bazach pomiarowych,
często poniżej 2mm pozwala na zmniejszenie błędu pomiaru. Wstępna, przybliżona ocena
przebiegu naprężeń i stopnia ich zmienności znacznie ułatwia dokonanie wyboru
odpowiedniej długości bazy pomiarowej tensometrów.

 [%] maksymalne
odkształcenie

odkształcenie mierzone
przez tensometr

przebieg zmian odkształcenia w

miejscu naklejenia tensometru

x
Rys. 3. Ilustracja wpływu wielkości bazy pomiarowej tensometru na wyniki pomiaru
w miejscu koncentracji odkształceń

W tensometrii rezystancyjnej niezwykle istotną kwestią jest precyzyjne zorientowanie osi

naklejanego tensometru względem obranego kierunku pomiaru odkształcenia. Wynika to z
faktu, że wszelkie odchylenia osi tensometru od tego kierunku generują błąd oszacowania
rzeczywistej wartości odkształcenia w danym elemencie [5]. W przypadku pojedynczego
tensometru naklejonego na powierzchni elementu, w którym panuje jednoosiowy stan
odkształcenia (rys.4) błąd oszacowania zależy od trzech parametrów (pomijając czułość
poprzeczną tensometru):
 stosunku wartości maksymalnej do minimalnej odkształceń głównych (1/2),
 kąta  pomiędzy kierunkiem maksymalnego odkształcenia głównego 1 i obranego
kierunku pomiaru,
 kąta pomiędzy kierunkiem osi tensometru po jego naklejeniu i obranym kierunkiem
pomiaru.
 +


-

2(-)
1(+)

Rys.4. Rozkład pola odkształceń odpowiadającego jednoosiowemu stanowi naprężenia

Na rys.5 przedstawiono diagram ilustrujący wpływ wartości kątów i na wielkość błędu
oszacowania zmierzonego odkształcenia. Przypadek ten dotyczy jednoosiowego stanu
odkształcenia (osiowe rozciąganie) stalowej próbki, dla której 1 = 1000i
2 285Warto zauważyć, że największa wartość błędu pomiaru występuje wówczas, gdy
kąt  osiąga wartość 450 [5].
błąd zmierzonego odkształcenia []

Rys. 4. Ilustracja zależności pomiędzy

 kąt naklejenia tensometru
wzgledem kierunku odkształceń
głównych
wartością błędu oszacowania odkształcenia i
kątami oraz ; przypadek jednoosiowego
rozciągania, dla którego 1 = 1000i 2
285
 Zagadnienia dotyczące analizy niepewności oszacowania mierzonych odkształceń w
przypadku rozet tensometrycznych zostały szeroko omówione w pracach [3], [4], [5].

REZYSTANCYJNY MOSTEK TENSOMETRYCZNY

Sprężyste odkształcenia badanych obiektów, w szczególności wykonanych z tworzyw
metalicznych, są z reguły bardzo małe, tak więc zmiany długości i z nimi związane zmiany
rezystancji tensometrów są również bardzo małe i mogą być mierzone z nieznacznym błędem
tylko odpowiednio czułymi i dokładnymi układami. Najczęściej stosuje się układ pomiarowy
mostka Wheatstone’a, którego schemat wraz z systemem pomiarowo - rejestrującym pokazuje
rys. 6.
Przy stałym napięciu U źródła zasilania i przy dużej rezystancji wewnętrznej przyrządu
pomiarowego napięcie wyjściowe U wyraża się zależnością [4]:
 R1 R3 
U  U   , (2)
 R1  R2 R3  R4 
którą można przedstawić w postaci:
U R1 R4  R2 R3
 . (3)
U R1  R2 R3  R4 

R1 R2
PC U

U
R4 R3

wzmacniacz
pomiarowy

Rys. 6. Schemat połączenia mostka Wheatstone’a z elementami układu pomiarowego

Gdy rezystancje we wszystkich czterech gałęziach są jednakowe R1 = R2 = R3 = R4,

przyrząd pomiarowy wykaże wartość U = 0. Podczas pomiarów tensometrycznych w
poszczególnych gałęziach (tensometrach) mostka mogą następować zmiany rezystancji
różniące się wartością i znakiem. Rozważmy kilka charakterystycznych przypadków zmian
rezystancji tensometrów w poszczególnych gałęziach mostka Wheatstone’a.
1. Załóżmy, że wartości początkowe rezystancji tensometrów są jednakowe i równe R,
a tensometr R1 uległ odkształceniu zmieniając rezystancję o wartość R (rys.7). Wówczas z
zależności (3) wynika, że przy RR wartość ilorazu napięcia wyjściowego do napięcia
zasilania wynosi
U 1 R
 ,
U 4 R
1
co oznacza, że jest równa względnej zmiany rezystancji jednego tensometru czynnego.
4
 R +R R R +R R+R

 U 0 U=0

R R R R

U U

Rys.7. Schemat mostka Wheatstone’a z Rys.8. Schemat mostka Wheatstone’a

jednym tensometrem czynnym z dwoma tensometrami czynnymi

2. Jeśli dwa tensometry zlokalizowane w sąsiednich gałęziach (R1 i R2) doznają zmian
rezystancji jednakowych co do wartości jak i znaku (rys.8), to względna zmiana napięcia w
układzie pomiarowym wyniesie
U
 0.
U

3. W przypadku, gdy wszystkie cztery tensometry ulegną odkształceniom jednakowym, co

do wartości, lecz różnym znaku w parach przeciwległych (rys.9), to sygnał
U R
 ,
U R
to znaczy jest równy względnej zmianie rezystancji jednego z czynnych tensometrów.

R +R R - R R +R R - R

 U 0  U 0

R - R R +R R R

U U

Rys.9. Schemat mostka Wheatstone’a Rys.10. Schemat mostka Wheatstone’a

z czterema tensometrami czynnymi z dwoma tensometrami czynnymi

4. Jeśli w dwóch sąsiednich gałęziach tensometry doznają zmiany rezystancji identycznej

pod względem wartości, lecz o przeciwnych znakach (rys.10) wówczas, wartość względna
sygnału będzie równa
 U 1 R
 .
U 2 R

R +R R R +R R +R

 U 0 U=0

R R +R R +R R +R

U U

Rys.11. Schemat mostka Wheatstone’a Rys.12. Schemat mostka Wheatstone’a

z czterema tensometrami czynnymi z czterema tensometrami czynnymi

5. Taka sama wartość sygnału zostanie zarejestrowana wówczas, gdy w tensometrach

zlokalizowanych w dwóch przeciwległych gałęziach mostka nastąpi zmiana rezystancji równa
co do wartości jak i znaku (rys.11).
6. Jeżeli wszystkie cztery tensometry doznają równocześnie jednakowych zmian R
(rys.12), to wartość sygnału pomiarowego wynosi:
U
 0.
U

Przedstawione wyżej własności mostka Wheatstone’a są wykorzystywane w praktyce

pomiarowej. Dobierając odpowiednio konfigurację mostka można uzyskać wzmocnienie lub
osłabienie sygnału pomiarowego. I tak np. czterokrotne wzmocnienie uzyskujemy w sytuacji
przedstawionej w przypadku 3, a dwukrotne wówczas, gdy mamy do czynienia z
przypadkami 4 i 5. Najsłabszy sygnał pomiarowy uzyskujemy w przypadku 1.
Fakt występowania zerowego sygnału pomiarowego w układach przedstawionych w
przypadkach 2 i 6 wykorzystuje się do zabezpieczenia układu pomiarowego przed wpływem
czynników niepożądanych, np. zmian temperatury badanego obiektu w trakcie pomiaru, na
wartość mierzonych wielkości. Przykładem takiego zastosowania może być pomiar
odkształceń elementu wspornikowego wynikających z obciążenia siłą skupioną P (rys.13).
W celu wyeliminowania wpływu zmian temperatury zewnętrznej o T zastosowano układ z
dwoma tensometrami czynnymi zlokalizowanymi w sąsiednich gałęziach. Na skutek
oddziaływania siły P tensometry R1 i R2 doznają przyrostu wartości rezystancji o R ale o
przeciwnych znakach. Wówczas w mostku Wheatstone’a zachodzi sytuacja przedstawiona na
rys. 10. Sygnał pomiarowy będzie różny od zera. Gdy nastąpi wzrost temperatury badanego
obiektu o T wówczas oba tensometry doznają identycznych, co do wartości jak i znaku
przyrostów rezystancji o RT (sytuacja przedstawiona na rys. 8). W efekcie zmiana
rezystancji wynikająca ze zmiany temperatury wywoła zerową zmianę sygnału pomiarowego
U=0 w układzie mostka Wheatstone’a. Zastosowany układ pomiarowy pozwala więc na
wyznaczenie odkształceń badanego elementu wynikających wyłącznie z działania siły P.
 P
R1 T  0

R2

Rys.13. Ilustracja kompensacji wpływu zmiany temperatury podczas pomiaru odkształceń

belki wspornikowej obciążonej siłą skupioną

Własności mostka Wheatstone’a wykorzystywane są w budowie różnego typu

przetworników tensometrycznych przeznaczonych do pomiaru: siły, ciśnienia, momentu
zginającego, momentu skręcającego, kąta ugięcia, kąta obrotu, przemieszczenia,
odkształcenia, temperatury, itp. Pojedynczy tensometr, np. foliowy z siatką pomiarową
wykonaną z konstantanu, naklejony bezpośrednio na powierzchni badanego obiektu pozwala
na pomiar w temperaturze pokojowej odkształceń rzędu 3%-5%. W przypadku tensometrów o
bazie pomiarowej mniejszej od 3mm wydłużenie względne nie powinno przekraczać dolnej
granicy podanego zakresu, tj. 3%. Do pomiaru odkształceń rzędu 20% stosowane są specjalne
tensometry, których siatka pomiarowa wykonana jest z wyżarzanego konstantanu, a
podkładka nośna z poliamidu o dużej podatności. W celu zmierzenia odkształceń na poziomie
40%-50% konieczne jest zastosowanie przetworników tensometrycznych. Na rys.14
przedstawiono przykład przetwornika przeznaczonego do pomiaru dużych odkształceń, w tym
przypadku nawet dziesięciokrotnie wyższych od tych mierzonych tensometrem naklejonym
bezpośrednio na powierzchni badanego obiektu. W omawianym przykładzie tensometry
tworzące mostek Wheatstone’a naklejone są na ukształtowany w formie litery „U” element
pośredniczący wykonany ze stali o podwyższonej wytrzymałości. Układ pełnego mostka, tak
jak na rys. 9, tworzą cztery tensometry, przy czym dwa naklejone są na górnej powierzchni
elementu i dwa od dołu, dokładnie po przeciwnej stronie. Przetwornik montowany jest na

ściskanie

po dwa tensometry
naklejone od góry
i od dołu rozciąganie

Rys. 14. Przykład przetwornika tensometrycznego do pomiaru dużych odkształceń

powierzchni badanego obiektu. Tego typu przetworniki mogą być wykorzystywane do
pomiaru odkształceń obiektów wykonanych z materiałów o charakterystyce zbliżonej do
gumy, a także badań biomechanicznych tkanek miękkich, tj. mięśni, więzadeł, skóry, naczyń
krwionośnych, itp.

POMIAR DWUOSIOWEGO STAN ODKSZTAŁCENIA

W praktyce laboratoryjnych pomiarów odkształceń i w badaniach eksploatacyjnych
różnych obiektów zazwyczaj ogranicza się do pomiaru wydłużeń i zmian kątów ma
powierzchni obiektu. Dwuosiowy stan odkształcenia jest określony przez trzy wydłużenia
względne, w trzech różnych kierunkach, ale zawsze w jednej płaszczyźnie. Jak wynika z koła
odkształceń istnieją związki matematyczne pomiędzy składowymi odkształceń głównych 1 i
2 wzdłuż kierunków głównych 1 i 2 a składowymi odkształceń liniowych x i y oraz
odkształceniem postaciowym określonym katem xy [2]. Zależności te mają następującą
postać:
 1   max   x   y    x   y 2   xy2 ,
1 1
(4)
2 2
 2   min   x   y    x   y 2   xy2 ,
1 1
2 2
przy czym kąt 0 (rys.15) pomiędzy kierunkami odkształceń 1 i x spełnia zależność:
 xy
tg 2 0  . (5)
x y
Związki te wykorzystywane są w tensometrii do wyznaczania wartości odkształceń
w kierunkach głównych i ich kierunków, gdy znane są składowe x, y, xy.

y
2

y
1
2
1 0

x x
0

Rys.15. Orientacja kierunków głównych 1 i 2 względem przyjętego układu

współrzędnych x i y
Jeżeli w badanym obszarze występują jednocześnie odkształcenia x, y, xy, to całkowite
odkształcenie  w tym obszarze wyrazi się jako algebraiczna suma składowych wydłużeń, co
można przedstawić za pomocą wzoru [4]:
    x   y    x   y cos 2   xy sin 2 .
1 1 1
(6)
2 2 2
Równanie (6) wyraża związek pomiędzy odkształceniem  w kierunku wyznaczonym przez
kąt , a składowymi x, y, xy dwuosiowego stanu odkształcenia. W przypadku, gdy w
analizowanym punkcie pomiarowym te składowe są nieznane, a znane są odkształcenia 1,
2, 3 (np. zmierzone przez poszczególne tensometry) w kierunkach określonych kątami 1,
2, 3 względem wspólnej osi x, związki pomiędzy odkształceniami otrzymane ze wzoru dla
tych trzech kierunków przedstawiają się następująco:
 1   x   y    x   y cos 2   xy sin 21 ,
1 1 1
2 2 2
  2   x   y    x   y cos 2   xy sin 2 2 ,
1 1 1
(7)
2 2 2
 3   x   y    x   y cos 2   xy sin 2 3 .
1 1 1
2 2 2
Równania (7) tworzą układ trzech równań z trzema niewiadomymi pozwalający na
wyznaczenie nieznanych składowych x, y, xy. Podstawiając wartości tych składowych do
równań (4) i (5) można wyznaczyć wartości odkształceń wzdłuż kierunków głównych 1 i 2
oraz kąt 0 pomiędzy kierunkami odkształceń 1 i x.

ROZETY TENSOMETRYCZNE
Dwuosiowy stan odkształcenia jest określony przez trzy odkształcenia, w trzech
różnych, dowolnych kierunkach zawartych w jednej płaszczyźnie. Równoczesny pomiar
trzech i więcej wydłużeń umożliwiają rozety tensometryczne składające się z kilku
tensometrów odpowiednio względem siebie zorientowanych. W praktyce pomiarowej
znajduje zastosowanie kilka typów rozet. Najprostsze z nich to rozety prostokątne utworzone
z dwóch tensometrów o osiach wzajemnie prostopadłych (rys.18a). Takie rozety stosuje się w
przypadku dwuosiowego stanu odkształcenia, gdy znane są kierunki główne. Wówczas osie
tensometrów powinny pokrywać się z kierunkami głównymi. zastosowanie kilka typów rozet.
Najprostsze z nich to rozety prostokątne utworzone z dwóch tensometrów o osiach wzajemnie
prostopadłych (rys.18a). Takie rozety stosuje się w przypadku dwuosiowego stanu
odkształcenia, gdy znane są kierunki główne. Wówczas osie tensometrów powinny pokrywać
się z kierunkami głównymi.
a) b) c)

Rys. 18. Przykłady rozet tensometrycznych: a) rozeta prostokątna prosta, b) rozeta

prostokątna złożona, c) rozeta typu delta

Najczęściej jednak mamy do czynienia z sytuacją, w której nie można wcześniej

określić kierunków głównych. Wówczas konieczne jest stosowanie rozet składających się z
trzech, a czasami czterech tensometrów. Przykłady takich rozet przedstawiono na rys.18b,
18c. Kąty nachylenia poszczególnych tensometrów wchodzących w skład rozety dobierane są
tak, aby zapewnić prostą postać wzorów i łatwość obliczeń (00, 450, 600, 900, 1200). Do
najczęściej stosowanych typów złożonych rozet tensometrycznych można zaliczyć rozety
prostokątne i rozety typu delta (rys.19). Rozety te tworzą rodziny składające się z kilku
wariantów konfiguracyjnych różniących się układem poszczególnych tensometrów, ale pod
względem funkcjonalnym i obliczeniowym sprowadzają się do tych samych schematów
(rys.20).

a) y y
b)
3 = 5/4
2 2
2 = /2
2 = 2/3

3 = 4/3
x x
1 1
3 3

Rys. 19. Geometria rozet: a) prostokątnej, b) typu delta

a)
3 3 3
2 2

1 1 1
2

b)
3 2
3 2 3
2 3
1 1
1
1
2

Rys.20. Schematy konfiguracji tensometrów w rozetach: a) prostokątnych,

b) typu delta

Rozeta prostokątna
Pomiędzy odkształceniami 0, /4, /2 zmierzonymi za pomocą tensometrów a
odkształceniami nieznanymi x, y, xy zachodzą związki, które na podstawie równań (7)
sprowadzają się do postaci:
0   x ,
    x   y    xy ,
1 1
4
2 2
   x   y .
2

Zatem poszukiwane odkształcenia x, y, xy wynoszą:

 x  0 ,
 y   ,
2

1 1 
 xy       0     .
2 4
2 2 

Po wprowadzeniu tych wartości do równań (4) otrzymujemy wzory na odkształcenia główne:

2 2
1  2    
 1    0     
 2  0   
      
 
 ,

2 2   4   4 2 
2 2
1  2    
 2    0     
 2  0   
      
 
 ,

2 2   4   4 2 
oraz odkształcenie kątowe
2 2
   
 max  2   0             .

 4   4 2 

Wartość kąta zawartego między kierunkiem głównym 1 i osią x wyznacza się z równania (5)
po uprzednim uwzględnieniu zależności na max:
 
2     0    
tg 2 0  4  2 
.
0  
2

Jeżeli znane są wartości modułu Young’a i ułamka Poissona dla materiału, z którego
zbudowany jest badany obiekt wówczas wykorzystując wartości wyliczonych odkształceń
głównych można wyznaczyć również wartości naprężeń głównych:
1 
E
 1   2  ,
1  2
2 
E
 2   1  ,
1  2

a maksymalne naprężenia styczne wyrażają się zależnością:

E
 max   max .
21   

Warto w tym miejscu zwrócić uwagę na niebezpieczeństwo uzyskania mylących

wartości naprężeń w przypadku, gdy mamy do czynienia z obiektem zbudowanym z
materiału, dla którego wartości współczynników E i  nie są jednoznacznie określone.
Dotyczy to między innymi obiektów biologicznych (tkanek żywych typu: tkanka kostna,
mięśnie, itp.) w przypadku, których bardzo często, na poziomie aktualnego stanu wiedzy
trudno jest określić w sposób precyzyjny wartości tych stałych [1].
Rozeta typu delta
W przypadku rozety typu delta (rys.17b) pomiędzy odkształceniami 0, /3, /3 zmierzonymi
za pomocą tensometrów a odkształceniami nieznanymi x, y, xy zachodzą związki, które na
podstawie równań (7) sprowadzają się do postaci:
0   x ,

 
1
 x  3 y   3  xy ,
3
4 4

 2 
1
 x  3 y   3  xy .
3
4 4
Ze związków tych wynikają następujące wartości odkształceń x, y, xy:
 x  0 ,
1  
 y     0  2   2 2  ,
3  3 3 
1 3 
 xy       2  .
2 
3  3 
3 

Po wprowadzeniu tych wartości do równań (4) otrzymujemy wzory na odkształcenia główne:

2 2 2
1  2      
 1    0      2  
 3  0   
       2
 
    2   0  ,
  
3 3 3   3   3 3   3 
2 2 2
1  2      
 2    0      2
      
 3   0           2     2   0  ,
3 3  3  3   3 3   3 
a wartość kąta zawartego między kierunkiem głównym 1 i osią x wyznacza się z równania
(5):
 
3     2 
tg 2 0   3 3 
.
 
2 0       2 
 3 3 

WADY I ZALETY METODY TENSOMETRII REZYSTANCYJNEJ

Tensometry rezystancyjne są elementami jednokrotnego użytku, co w zasadzie
stanowi ich największą wadę. Do wad można również zaliczyć wysoki koszt aparatury
pomiarowej oraz dużą pracochłonność przygotowania toru pomiarowego.
Główne zalety metody tensometrycznej to [4]:
 tensometry charakteryzują się dużą czułością i dokładnością pomiaru; współczesna
aparatura tensometryczna pozwala na pomiar odkształceń rzędu 1 m/m co w przypadku
stali odpowiada naprężeniu  = 0,2 MPa, natomiast duża dokładność wynika ze stałej
wartości k utrzymywanej dla zwykłych tensometrów w granicach do co najmniej =5,
czyli do 1000 MPa dla stali.
 mała histereza wskazań (zjawisko histerezy obecne na początku pracy świeżo naklejonego
tensometru zanika po kilku wstępnych obciążeniach),
 aparatura tensometryczna pozwala na bezpośredni odczyt wielkości mierzonej
odpowiedniej do stosowanych przetworników, a w połączeniu z oprogramowaniem
 komputerowym tworzy system umożliwiający sterowanie pomiarami, akwizycję danych i
ich dalszą obróbkę, np. statystyczną,
 tensometry mają małe wymiary i niskie masy; małe rozmiary tensometrów rzędu
dziesiątych części milimetra pozwalają na pomiar w miejscach silnych spiętrzeń
odkształceń, a także umożliwiają znaczna miniaturyzację przetworników. Niewielka
masa tensometrów rezystancyjnych, znacznie poniżej jednego grama pozwala na redukcję
do minimum wpływu sił bezwładności,
 wykorzystując tensometry rezystancyjne można budować całą gamę przetworników
służących do pomiaru różnych wielkości fizycznych,
 duża przeciążalność przetworników, nawet do kilkudziesięciu procent w stosunku do ich
nominalnego zakresu pomiarowego,
 możliwość prowadzenia pomiarów statycznych i dynamicznych w różnych warunkach,
często w trudno dostępnych miejscach, niebezpiecznych dla zdrowia i życia ludzi.

LITERATURA:
[1]. Będziński R. Biomechanika Inżynierska. Zagadnienia Wybrane. Oficyna Wydawnicza
Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 1997

[2]. Burczyński T.: Wytrzymałość materiałów z elementami ujęcia komputerowego. WNT,

2001

[3]. Dudek D., Dudek K.: Metody tensometryczne w oszacowaniach stanów statycznych
konstrukcji nośnych. Mat. IV Konferencji Naukowej „Metody doświadczalne w budowie
i eksploatacji maszyn”, Wrocław – Szklarska Poręba 1999, str. 221-241

[4]. Roliński Z.: Tensometria Oporowa. Podstawy Teoretyczne i Przykłady Zastosowań.

WNT, Warszawa 1981

[5]. VISHAY Measurements Group. Materiały techniczne, “Errors Due to Misalignment of

Strain Gages”, TN-511, 1991

[6]. VISHAY Measurements Group. Materiały techniczne, “Strain Gage Rosettes-Selection,

Application and Data Reduction, TN-515, 1990