ial aera de AV Coatelyyr techniczna SAL SOWA LSE Va cwiczen i laboratoriow : ae eetSPIS TRESCI PRZEDMOWA /7 1. WPROWADZENIE/9 OGOLNE UWAGI 0 ZAKRESIE I PRZEBIEGU CWICZEN / 10 JEDNOSTKI MIAR DEUGOSCI I KATA. MIEDZYNARODOWY UKEAD JEDNOSTEK MIAR (SI) / 12 SPRAWDZANIE WYBRANEGO SPRZETU POMIAROWEGO / 15 4.1, Wprowadzenie / 15 4.2. Prayrzady suwmiarkowe / 15 4.2.1. Typy przyrzadéw suwmiarkowych / 15 4.2.2. Podstawowe wymagania metroiogiczne i technicene / 16 4.2.3. Sprawdzanie prayrzad6w suwmiarkowych / 17 4.3. Wymagania metrologiczne i sprawelzanie mikrometrw / 19 4.3.1. Typy przyrzadéw mikrometrycznych / 19 4.3.2, Podstawowe wymagania metrologiczne i technicane / 19 4.3.3, Sprawedzanie mikrometréw zewneteenych / 21 4.4, Wymagania metrologicane i sprawdzanie plytek weorcowych / 24 4.4.1. Podstawowe definicje / 24 4.4.2, Warunki odniesienia 25 4.4.3, Wiasciwosci materiatu plytek waorcowyeh / 25 4.4.4, Oznakowanie / 26 44.5, Wymagania / 26 4.4.6. Sprawdzanie plytek wzorcowych /27 4,5, Sprawdziany do walkéw i otwordw / 30 4.5.1. Definicja i podziat £30 4.5.2, Charakterystyka sprawdzianéw do walk6w i otworsw / 31 4.5.3, Sprawdzanie sprawdziandw do otwordw i watkéw / 34 4.6. Przetworniki elektroniczne / 35 4.6.1. Teoria przetwornik6w pomiarowych / 35 4.6.2. Praetwornik pomiarowy ~ definicja i opis funkeyjny / 36 4.6.2.1. W warunkach statycznych / 36 4.6.2.2. W warunkach dynamicznych [38 4.7. Rodzaje przetwornik6w, zasada dzialania i ich zastosowanie / 43 4.7.1. Podziat przetwomikéw pomiarowych / 43 4.7.2. Praetworniki rezystancyjne / 43 4.7.3. Przetwomiki pojemnosciowe / 45 4.7.4, Przetworniki indukeyjne / 47 4.7.5. Praetworniki przemieszczenia - inkrementalne / 48 4.7.6. Preetworniki polodenia — kodowe / 52 Formularz sprawozdania / 54 POMIARY WYMIAROW ZEWNETRZNYCH, WEWNETRZNYCH I MIESZANYCH / 65 5.1, Uklad toleraneji i pasowas walkéw oraz otworéw / 65, 5.1.1, Pojecia podstawowe / 65 5.1.2. Zasady obliczania tolerancji /67 5.1.3. Obliczanie odchytek / 68 5.1.4, Zasady tworzenia i obliczania pasowaa /72 5.1.5. Prayklady liczbowe / 74 5.2. Noniusz i jego budowa 76 5.3. Wymilary zewngtrzne / 78 5.3.1. Pomiar suwmiiarka /78 5.3.2. Pomiar mikrometrem /79 5.3.3, Pomiar transametrem /81 5.3.4, Pomiiar scednicy przyrzadem treypunktowym / 82 5.3.5. Pomiar optimetrem pionowym / 82 3 4 5.4, Wymiary wewnetrane / 85Spis treéci 5.4.1, Technika pomiaru / 85 5.4.2, Pomiary érednic otwor6w za pomoca suwmiarck / 86 5.4.3, Pomiary Srednic otworsw przyrzadami mikrometrycznymi / 86 5.44, Pomiar &ednicéwkami czujnikowymi / 87 5.4.5, Pomiary preyraqdami trzystykowymi / 88 5.5. Wymiary mieszane / 89 Formularz sprawozdania / 96 POMIARY KATOW, POCHYLEN I STOZKOW / 101 6.1. Uklad toleraneji katéw / 101 6.2. Wymiarowanie i tolerowanie sto?k6w / 102 6.3. Rodzaje mierzonych katsw / 108 644, Weorce kata / 109 6,5, Metody pomiarw kat6w / 110 6.5.1, Podzial / 110 6.5.2. Pomiary katomierzami / 111 6,5.3. Pomiar liniatem sinusowym / 113 6.5.4, Pomiar skosnica sinusowa / 117 6.5.5. Pomiar katéw za pomoca waleczkéw i kulek pomiarowych / 117 6.5.6, Pomiar kat6w metoda optyezng / 122 Formularz sprawozdania / 123 |. POMIARY GWINTOW WALCOWYCH METODAMI STYKOWYMI [ OPTYCZNYMI/ 131 7.1, Wiadomoéci podstawowe / 131 7.2. Tolerowanie gwintéw metrycznych / 132 7.3, Rozpoznanie gwintu / 137 7.4. Pomiar elementéw gwintu zewnetrznego metodami stykowymi / 138 7.4.1, Pomiar Srednicy zewnetrzne| gwintu / 138 7.4.2. Pomiar scednicy podziatowe} gwintu mikrometrem / 138 7.4.3. Pomiar érednicy podzialowe) z uzyciem waleczkéw pomiarowych / 139 7.4.3.1. Metoda traech waleczk6w / 139 7.4.3.2. Metoda dwéch waleczkow / 142 7.4.3.3. Metoda jednego waleczka / 142 7.5, Pomiar element6w gwintu wewnetrznego metodami stykowymi / 142 7.6, Pomiar elementow gwintu zewnetrznego metodami optycznymi / 144 7.6.1. Prayrzady pomiarowe / 144 7.6.2. Pomiar srednicy zewnetrzne| gwintu / 145 7.6.3, Pomiar &rednicy podziatowe) gwintu / 146 7.6.4, Pomiar podziatki gwintu / 146 7.6.5. Pomiar kata gwintu i katsw bok6w / 147 Formularz,sprawozdania / 150 WYBRANE POMIARY DEUGOSCI I KATA METODAMI OPTYCZNYMI / 157 8.1, Wprowadzenie / 157 8.2. Mikroskopy pomiarowe / 157 8.3. Pomiar odleglosci osi otwor6w / 162 8.4. Pomiar promienia krzywizny / 164 8,5. Pomiary zarys6w zlozonyeh / 165 Formularz sprawozdania / 167 POMIARY MIKROGEOMETRI POWIERZCHNI / 173 9.1, Wstep / 173 ‘2. Struktura geometryczna powierzchni / 173 9.3. WiadomoSci podstawowe / 175 9.4. Parametry powierzchni okreslane w kierunku prostopadiym do linii Sredniej profilu / 177 9.4.1, Podstawowe definicje / 177 9.4.2. Maksymalna wysokosé wzniesienia profilu chropowatosci Ry / 177 9.4.3. Maksymalna giebokosé wglebienia profilu chropowatosci Ry / 178Spis rei 9.4.4, Maksymalna wysoko66 chropowatosci Ry 178 9.4.5. Wysoko$é chropowatogci wedhug 10 punktsw R./ 178 9.46, Sree arymetyczne odchylenie profi chropowatodciR, 179 9.4.7. Wysokoié profil P,/ 180 9.48, Maksymalna wysokoS6 profi falstdci Wi / 180 9.4.9. Srecnia wysokoSé profil falstdci W, 181 9.4.10. Srednie arytmetyczne i Sredniokwadratowe odchylenie profil falistosci Wa, Ws [181 9.5, Parametry powierzehni okredlane w kirunku rownolegiym do lini Sredni] profil 181 9.5.1, Odstep chropowatodc / 181 9152. Seed odstep chropowatosci / 181 9.5.3. Srednia kwadratowa dhugoé fli profiu chropowatosci 4/182 9.54, Sednia dhugok fli profil chropowatosci 2,7 182 9.6. Paramey chropowatosi zviqrane z sztaltem nierswnodci profilu / 182 9.6.1, Dlugosé nodna profil chropowatosei/ 182 9.62. Wspdlezymnik dhugosei none} profilu chropowatoda / 183 9.6.3. Krzywa nofnokei profil chropowatoici 183 9.7. Oznaczanie chropowatose i falistoéci powierzchni na ysunkach / 184 98, Steeometryczne pomiary cheopowatosi powierzchni/ 185 9.9, Metody sprawdzania i pomiarychrepowatosei powierzchni 187 99.1. Uwagi ogéine/ 187 9.9.2. Zastosowanie waorobw chropowatotc / 187 9.9.3, Pomiar za pomoca mikroiterfrometra / 188 9.94, Pomiar za pomoea mikroskopu Schmaltza/ 189 9.9.5, Pomiary profilogrfometryczne / 191 99.5.1, Opis profilografometr 191 9.95.2. Pomiary parameir6w powierzchni proflografometrem ME-10/ 198 9.95.3. Pomiary parametr6w powierzchni profilografometrem Perthometer S&P / 195 9.10. Prayklad liczbowy / 198 Formulare sprawozdania / 200 POMIARY ELEMENTARNYCH ODCHYEEK KOLA ZEBATEGO / 208 10.1. Wprowadzenie /209 10.2, Wiadomosei padstawowe / 209 10.2.1. Klasyfikacja k61 zebatych i przektadni / 209 0.2.2. Podstawowe wielkosci w kole zebatym / 210 10.2.3. Klasyfikacja zebdw i ich wymiary wysokosciowe / 211 10.24, Zasada zazgbiania / 212 10.255. Podstawowe zaleznosci ewolwenty. Funkeja ewolwentowa, Inwoluta kata /212 10.2.6. Doktadnogé wykonania k6t zebatych / 213 10.2.7. Klasy doktadnosci i rodzaje pasowat/ 214 10.3. Czynnosci pomiarowe / 215 10.4. Pomiar grubosei zeba / 216 10.4.1. Pomiar gruboSei zeba suwmiarka modutowa / 216 104.2, Pomiar grubosci zeba obejmujacy n zebdw / 218, 10.4.3. Pomiae grubosci 2gba za pomoca walkéw wkiadanych w przeciwlegte wreby / 220 10.5. Spravidzanie podziatek kota 2gbatego / 222 10.5.1. Rodzaje podziatek /222 10.5.2. Sprawdzanie podziatek obwodawych / 223 10.5.3. Sprawdzanie podziatek pezyporu / 224 10.6, Pomiar bicia uzgbienia 226 10.7. Sprawdlzanie prawidtowosi zarysu boku zgba / 227 10.8. Pomiar cdchytek zlozonych / 228 amie Slad6w dolegania / 229 10.10. Sprawdzanie cichabieznosei /230 Formulas, sprawozdania /231Spistresei LL, POMIARY ODCHYEEK KSZTAETU I POLOZENIA / 238 11.1, Pojgeia podstawowe / 238 11.2, Odchyiki i tolerangje ksztattu £239 11.2.1. Detfinigje 239 11.22. Szczeg6ine pezypadki edchyiki prostoliniowoSci i odchytki plaskosci / 240 11.23, Szezegéine przypadki adchytki okragtosci/ 241 11.24. Szceegoine przypadki oichyiki walcowosci i odchyiki zarysu preckroju wedluémego / 241 11.3, Odchytki i toleraneje polodenia 242 11.3.1, Odchytki réwnoleglosci 242 11.3.2. Odchytki prostopadiosci / 243 11.3.3. Odchyiki nachylenia / 244 11.34. Odehylki wapdtosiowosei / 244 11.3.5, Odehylki symetri /245 11.36. Odchylka pozyeji 245, 11,37. Odchyika praecinania sig si / 245 11.4, Odchytki zlozone / 245 11.5. Metody pomiarowe /247 11.5.1. Pomiary odchytki okraglosci / 287 11.5.2, Metoxy bezodniesieniowe / 248, 11.5.3, Metody odniesieniowe / 250 11.5.4, Pomiar odehytki walcowosei / 252 | 11.5.5, Pomiar odchytki zarysu przekroju wadluinego / 252 { 11.5.6. Wybrane prayklady pomiarowe / 253 11.5.7, Praykladowe pomiary / 255 } Formularz sprawozdania / 257 12, WYBRANE ZAGADNIENIA ANALIZY DANYCH POMIAROWYCH / 259 12.1. Analiza niepewnosei pomiaréw / 259 12.2, Rodeaje pomiaréw / 259 123. Ogéina definicja bled / 260 12.4, Rosizaje bigdéw i ich oszacowanie / 260 12.5. Miary bled statyeznego / 261 126, Analiza bled6w przypadkowych / 261 12:7. Analiza niepewnosci pomiarOw statycznyeh / 265, 12.7.1. Metoda pomtiar6w bezposrednich / 265 12.72, Metoda pomiaréw postednich / 266 12.7.3. Metoda pomiaréw ztozonych (uwiklanych) /267 12.8. Zasady wyznaczania niepewnosei pomiar6w / 267 128.1. Formutowanie wzoru na wynik pomiara / 267 12.8.2. Reguly wyznaczania niepewnosci pomiaréw / 269 12.9, Zalecenia praktyczne w statycznych pomiarach warsztatowych / 270 12.10. Prayklady licebowe /270 13, TABELE POMOCNICZE / 308 DODATEK ~ SPECYFIKACJE GEOMETRII WYROBOW / 313 Dil. Wprowadzenie / 313 'D.2. Oxslna koncepeja wymiaru zewngtrznego i wewngtrznego / 314 D.2.1. Podstawowe pojecia /314 D.2.2, Zasada maksimum materiahu / 316 'D.23, Warunek minimum materialu /318 D.2.4. Wymaganie weajemnosci [318 1.3, Tolerowanie geometryczne / 319 LITERATURA / 321i 3. JEDNOSTKI MIAR DLUGOSCII KATA. MIEDZYNARODOWY UKLAD JEDNOSTEK MIAR (SI) Wielowiekowa dzialalnosé wytwéreza i handlowa czlowieka wymagala od spoleczetistw stosowania pordw- nai i ilosciowej oceny pewnych mierzalnych cech zjawisk i cial. Celowi temu shuzyly praede wszystkim waor- ce miar, ktére w dlugim procesie ewolucyjnym stopniowo byly udoskonalane. Pierwotne wzorce jednostek iar mialy charakter antropometryezny i byly okreslane za pomoca czesci ciata ludzkiego. Miedzy innymi byly udywane takie wzorce, jak szerokosé duzego palca reki (tzw. cal), dlugosé stopy (tzw. stopa), najwieksza odle- ‘eloSé migdzy napigtymi koficami keiuka i malego palca reki (taw. pied), dkugoSé ezesci reki mierzonej od sta- wu tokciowego do koiica palea srodkowego (tzw. lokie€), odleglosé koneéw paloow rozciagnigtych ramion (taw. sqzef) i wiele innych. [Nastepnym etapem bylo tworzenie wzoredw miar 2 wykorzystaniem okolicznosei pracy ludzkie}.. Warunki ‘cia zmuszaly spoteczetistwa do prayjecia takich jecnostek miar, jak noSnosé Iuku, zasieg, weroku, rzut kamie- niiem i wiele innych, 7, biegiem ezasu przechodzono od worcéw konkretnych do abstrakeyjnych przez tworze- nic materialnych wzoreéw odpowiadajacych srednim wymiarom okreslonej czesci ciala ludzkiego pewnej licz- by os6b. Jest rzecza godna podkreslenia, 2e niektére z tych systemow miar byly wewnetrenie koherentne, np. ww dawne} Polsce tokieg by! jedna trzecia, stopa zas jedna szésta saznia, Pojawiajace sie na przestrzeni wiekow tendencje do ujednolicenia miar zostaly uwieficzone sukcesem dopie- ro podezas rewolugji francuskiej, kiedy Zgromadzenie Narodowe — na posiedzeniu odbytym 26 marea 1791 ro- ku — prayielo zasade, 2¢ podstavva do stworzenia nowego systemu miar, opartego na naturalne} wielkosei, be- dzie dlugosé odcinka poludnika pomigdzy Dunkierka a Barcelona. Okreslono jednostke diugosci — metr — jako dlugosé jedne} dzicsigciomilionowej ezesei éwiartki poludnika przechodzacego przez Pary2. Pomiary diugosci codcinka poludnika pomigdzy Dunkierka a Barcelona, odpowiadajace tukowi opartemu na kacie 9,5°, przepro- ‘wadzila (w Intach 1792-1798) specjalnie do tego celu powotana komisja. Rys. 3.1. Migdzynarodowy’ protoryp weorea Po zakoficzeniu tych prac wykonano w 1799 roku wzorzee dlugosei w postaci preta platynowego, © prze- kroju prostokatnym 25%4 mm, ktérego koficowe powierzchnie ezolowe wyznaczaly w temperaturze 0°C odle- ¢gloSé odpowiadajaca jednemu metrowi, Wzorzec ten otrzymal nazwe metra archiwalnego. W roku 1875 wy- Konano wigce) wzore6w kreskowych ze stopu platyny i irydu (90% platyny i 10% irydu) i po ich pordwnaniu z metrem archiwalnym wybrano jeden — wykazujacy najmniejszq réiicg (rys. 3.1). Wzorzee ten, krétszy od metra archiwalnego 0 13,3 jum, wznano 26 wrzesnia 1889 roku na | Generalnej Konfereneji Miar za migdzy rodowy prototyp metra. Powstala wowezas nowa definicja metra, zrywajqca zupelnie z jego pierwotnym powia- zanicm 2 rozmiarami Ziemi. Niewystarezajqea dokladnosé powy2szego wzorca kreskowego oraz dostrzezenie ‘czasowych zmian strukturalnych jego materialu sprawily, 2 postanowiono zmienié definieje metra i oprzeé ja na wielokrotnosci dlugosei fali Swietlne}. Badania, zapoczatkowane jeszeze w. 1887 roku przez Michelsona, potwierdzity duza przydatnosé interferencji Swiatla do celow metrologii dlugosci, Ostatecznie na XI Generalng) Konferengji Miar w 1960 roku przyjeto nastepujaca definicje jednostki dhigosci: metr jest dlugoseiq rawna 1650763,73 dlugosci fali w prézni promieniowania odpowiadajacego przejseiu pomigdzy poziom 2pji5d, atomu kryptonu 86, Tak zdefiniowany metr moze byé odtwarzany z granicznym bledem dokladno- Sei wskazaii 4 0,003 jm. Na XVII Generalne} Konfereneji miar w 1983 roku zostala uchwalona nowa (piata) definieja metra: metr Jest to diugosé drogi przebytej w prozni przez éwiatlo w czasie 1/299792438 s (sekundy). Metr na podstawie definieji z 1983 roku mozna wyznaczyé w dwojaki sposdb: — mierzae ezas t przebiegu plaskiej fali elektromagnetyeznej przez odlegtosé I i obliezajae 1 = ct, gdzie ¢ jest predkoscia Swiatla (c= 299792458 m/s);3. Jednostki miar dtugosei i kata, Migdzynarodowy Uklad Jednostek Miar (St) B — mierzac ezestotliwosé v—z wykorzystaniem wzorea sekundy — ptaskiej fali elektromagnetyeznej; oblicza sig dlugosé fali 2 promieniowania w préini wedlug zale%nosei: 2 = c/v, a nastepnie wykorzystuje sig promie- niowanie, ktérego dlugosé fali zostala wyznaczona eksperymentalnie. W praktyce laboratoryjnej i przemystowej znajduje zastosowanie gléwnie drugi spos6b korzystania z defini- ji metra, Obecnie metr mozna odtworzyé za pomoca lasera He-Ne (helowo-neonowego) 7 niepewnoscia =13-10°? mm (¢1,3nm). Wszystkie wielkosci wystepujace w nauce i technice mozna podzielié na podstawowe i pochodne. Za wicl- Kosei podstawowe przyjmuje sig te, kt6re sq od siebie wzajemnie niezalezne, nie wymagaja definiowania ~ maja charakter naturalny ~ oraz moga byé stosunkowo latwo mierzone. Liezba wielkosci podstawowych powinna byé sak najmniejsza, jednake wystarczajaca do wyrazenia ~ na podstawie wzordw definicyjnych — wielkosci po- chodnyeh. Jednostki pochodne Uporzadkowany zbiér wiel- Wielkoser podstawowe sosci podstawowych i pochod- nych tworzy uklad wielkosci, sory moze obejmowaé wszy: ie dziedziny nauki i techniki badé tylko jedna z tych dzic~ azin. Na przyklad, w uktadzie wielkoSei_ mechaniki przyjeto Rua ry wielkoscipodstawowe dlugosé, mase i czas), wielko- asa sci pochodne za utworzono za pomoca, na podstawie wz0- row definicyjnych mechaniki W ten spos6b powstaly m.in. takie wielkosei pochodne, j — predkosé (iloraz dlugosei i eza- su), preyspieszenie (iloraz d= be vpenarural gosci i kwadratu czasu) oraz sila —_[irmecynamezna ‘loczyn masy i ilorazu dlugosei kwadratu ezasu). uicznose W celu zmierzenia wartosci eae) pewne} wielkosei nalezy przy- ame Jac jednostke miary. Przez po- JELEKTRYCZNY| ecie jednostki miary rozumie a sig wartosé dane} wielkosci swiattose | C0 umownie przyjete| wartosei liczbowej rownej —jednosci. Dzigki takiemu ustaleniu moz- Fr liwe jest ilosciowe pordwnanie KAT PLASKI dwdch tych samych wielkosci: roars snierzonej i jednostki miary —: Wielkosei podstawowe i po- RATBRYLOWY chodne maja swoje jednostki miar, zwane —podstawowymi Rys, 3.2. Hierarchiczny uklad podstawowyeh jednostek miar SI i jednostek pochodaych pochodnymi jednostkami miar. W obowigzujacym w Polsce Migdzynarodowym Ukladzie Jednostek Miar (SI) przyieto siedem jednostek podstawowych, odpowiadajacych siedmiu wielkosciom podstawowym. Jednostki podstawowe sq scisle zdefi- niowane i moga byé odtwarzane ze stosunkowo malymi bledami. Wielkosei pochodne, utworzone na podstawie wzor6w definicyjnych za pomoca wielkosci podstawowych bad innych wielkosci pochodnych, maja swoje odpowiedniki w jednostkach pochodnych (rys. 3.2). Wiele spo-4 3 Jednostki miar dhugosc i kata. Migdzynarodowy Uktad Jednostek Miar (SI) grdd jednostek pochodnych ma swoje odrebne ozmaczenia, jak niuton ~N (kgm/s?), daul — J (kg-m’/s?), wat — W (kg-m’/s') j inne, Do ukladu ST opréez jednostek podstawowyeh i pochodnych nale2a jeszcze dwie inne jednostki, zwane jed- nostkami uzupelniajgeymi, Sq nimi radian (rad) jako jednostka kata plaskiego oraz steradian (sr) jako jjed- hostka kata brytowego. W metrologii techniczne} dlugosci i kata postugiwanie sig radianem jako jednostka kate plaskiego nie jest jeszeze powszechnie stosowane. Diatego znacznie ezescie} jako jednostek kata plaskiego uzywa sig stopni, minut i sekund, Tak te2 przyjal autor w tej ksiazce, z tym 2e jednoezesnie w nawiasach podat rownowartose kata wyrazong w radianach, Tubela 3.1. Preedrosth do tworee nazw i symbol jednostek krotayeh joa | a veta_| Zz e | w sa | OE ma [| 0 pela P n_[10 tera T 10" gea_| p | | mega_| ¢ | [kilo x a | wr ekg | h zp | 2 | 10" da | ee | joka | y | 10% | Wiclokrotnose | podwielokrotnosei driesigine jednostek SI wsrazone za pomoca preedrostkw SI to np mit, un, AN, hPa, MO. Poniewad.w wielu przypadkach jednostki miar podstawowe, uzupelniajgce lub pochodne sq 2a duge lub za male do wygodaego postusiwania sig nimi, jedna z ghownych zasad ukladu SI jest mozliwosé tworzenia jednostek miary ‘wielokromnych i podwielokromych przez umieszezanie przed jednostkami odpowiednich praedrostk6w (tab. 3.1), Praykladowo, w odniesieniu do dhugosei poshugujemy sig: metrem (jednostka podstawowa), centymetrem — cm (10m), mifimetrem—_mm (10° m), mikrometrem — jm (10°* m), nanometre —nm (107 m) itd.+ SPRAWDZANIE WYBRANEGO SPRZETU POMIAROWEGO. +1. Wprowadzenie Do marca 2000 roku podstawa opracowywania procedur sprawdzania/wzorcowania wigkszosci prayrzadéw pomiaréw dlugosei i kata byly przepisy metrolo; oublikowane w Dziennikach Urzedowych Miar i Probiernictwa, Zarzadzenie nr 3 Prezesa Glwnego Urzedu er 2 7 marca 2000 roku (Dz,U. nr | z 14 marca 2000 roku) uchylito wszystkie dotychezasowe przepisy i in- skcje sprawdzania przyrzad6w do pomiaréw wielkosci geometrycznych. W zwiazku 2 tym uzytkownicy srzad6w moga opracowywaé wlasne procedury ich sprawdzania/wzorcowania na podstawie obowiazujacych ma krajowych lub zagranicznych oraz innych uznawanych dokumentow. Mozna zlecié sprawdze- = wzoreowanie przyrzqdu innemu laboratorium pomiarowemu, ktore jest odpowiednio przygotowane pod cledem technicznym i jest akredytowane jako laboratorium pomiarowe. 2. Prayraqdy suwmiarkowe Typy przyrzadéw suwmiarkowyeh czyrzady suwmiarkowe tworza grupe najbardziej rozpowszechnionych przyrzadéw pomiarowych — stoso- oych bezposrednio w wymiarowej kontroli drobnych czesci maszyn. Prayrzadem suwmiarkowym nazywa przyrzad, w kt6rym po prowadnicy zaopatrzone| w podziatke kreskowa przesuwa sie suwak, popularnie = noniuszem, stuzqey do zwigkszenia dokladnosei odczytywania wyniku pomiaru (opis noniusza znajduje wze}). Podstawowe typy przyrzqdéw suwmiarkowych przedstawiono na tys. 4.1. 2s Wk 4 b) Mel Lo °) tot Spialoadintale aad Typy suwmiarek: a) dvstronna z glebokosciomierzem, b) dwustronna, c)jednostronna, d) glebokosciomierz suwmiarkowy, ~muarka zegarowa, f) eyfrowa; | ~ prowadnica, 2 — suwak, 3 — szczeka plasko-walcowa, 4 — szoreka plasko-krawedziowa, «s krawedziowa zewnetrana, 6 ~ szezeka krawedziowa wewngtrzna, 7 ~ podzialka tarczowa, 8 — zacisk, 9 plaska powierzhe arowa, 10 waleowa powierzchnia pomiarowa, 11 ~podzialka provadnicy, 12 ~ podziatka suwaka, 13 — suwak pomocniczy16 4. Sprawdzanie wybranego spreglu pomiarowego 4.2.2. Podstawowe wymagania metrologiczne i techniczne Przedstawione nide) wymagania metrologiczno-techniczne dotyezace przyraadéw suwmiarkowych z noniu- szem 0 wartosci dzialki elementarnej 0,1 mm i 0,05 mm oraz z przetwornikiem cyfrowym, stosowanych do po- miaru wymiaréw zewnetrznych, wewnetrzych i mieszanych, wynikaja z norm PN-79/M-53131, PN-80/M- -53130, PN-M-53130/A1:1996, PN-80/M-53130/Az2:2000 oraz normy zakladowej VIS 106:1996. ‘Wasciwosei material: — prowadnicy i suwaka ~ stal weglowa narzedziowa wedlug PN-78/H-85020 ~ twardosé =59 HRC, stal odpor- nna na korozje wediug PN-71/H-86020 — twardosé ~59 HRC, — rysika wysokosciomierza — stal stopowa narzedziowa do pracy na zimno wedtug PN-77/H-85023 — twardosé 359 HRC. Podzialka prowadnicy i suwaka — na prowadniey i suwaku powinna byé podziatka kreskowa, | — dlugosé podzialki prowadnicy powinna byé wigksza od gémej granicy zakresu pomiarowego, eo najmnie} 0 dlugos€ podziatki suwaka, — podziatka prowadnicy suwaka powinna byé oznaczona liczbami w centymetrach (0 zakresie do 100 mm | \w milimetrach) co najmniej do géme} granicy zakresu pomiarowego, — dla podziatki na suwaku zaleca sig modut 2, — szerokosé kresek prowadnicy i suwaka powinna miescié sig w przedziale (0,08+0,2) mm, — réinica szerokosei dowolnych kresek nie powinna przekraczaé 0,03 mm, w przyrzadach suwmiarkowych ‘znoniuszem 0,1 mm dopuszeza sig roznice 0,05 mm, = kresy podzialek powinny byé wyraéne, proste, prostopadte do powierzchni prowadnicy, — cyfry na podziatce powinny byé wyrazne, — uch suwaka wadlu2 prowadnicy powinien byé plynny, bez nadmiemych opordw i luzéw, zacisk powinien unieruchamiaé go w dowolnym migjscu na prowadnicy, = zaleca sig rozwigzanie konstrukeyjne prowadnicy i suwaka eliminujace blad paralaksy. | Chropowatosé powierzchni pomiarowych: ~ R,=0,32 pum dla plaskich i waleowyeh powierzchni pomiarowych, = R,=0,63 jum dla powierzchni pomiarowych plaskich szczgk krawedziowych, ‘Odehylki graniczne grubosci pomiarowe} szezek: = +0,03 mm ~ dla taczne} szerokosei szezek plasko-waleowych suwmiarki, = +0,02 mm ~ dla szerokosei szezeki plasko-krawedziowej wysokosciomierza suwmiarkowego. ‘Tolerancja plaskosei i prostoliniowosei powierzchni pomiarowyeh: = dla powierzchni pomiarowych plaskich — 0,01 mm na dhugosei 100 mm (toleraneja plaskosei), — dla powierzchni pomiarowych plaskich szezek krawedziowych ~ 0,01 mm na dlugosci 100 mm (folerancja prostoliniowosci).. Tolerancja rownoleglosei elementéw szezgk suwmiarek: = dla szezgk plasko-waleowych ~ 0,01 mm, ~ dla powierzehni szezek krawedziowych wewnetrznych — 0,01 mm, — dla pozostalych powierzchni plaskich (0,02/100) mm. Dopuszezalne bledy wskazah przyrzadéw suwmiarkowych, Dopuszczalne bledy preyrzqdéw suwmiar- kowych, zamieszczone w tabeli 4.1, zostaly wyznaczone przy niepewnosei +2:s zardwno przy zwolnionym, jak i unieruchomionym suwaku, Wartosci graniczne bledw wskazaf elektronicznych prayraqdow suwmiarkowych zawiera tabela 4.2. Wymagania dotyezace innych parametrow metrologiczno-technicznych suwmiarek elektro- hicznych sq takie same jak dla suwmiarek analogowych. Dodatkowo suwmiarki z przetwornikiem eyfrowym | nalezy chronié pred: = zabrudzeniem, — kontaktem 2 plynami i wilgocia, ~ polem magnetyeznym, | — bezposrednim dziataniem promieni stonecznych,po- te 4, Spraydzanie wybeenego spregtu pomiarowego 7 42.3. Sprawdzanie prryrzqdéw suwmiarkowych W tym rozdziale preedstawiono instrukeje sprawdzania tych parametréw metrologicznych i cech technicz- vych prayraadéw suwmiarkowych, ktére najezeScie} ulegaja zmianie w trakcie uzytkowania przyrzadéw. Pod. stawq opracowania instrukeji sq wymagania metrologiczne zawarte w normie PN-80/M-53130/A22:2000 oraz ‘ektore wytyezne w uchylonych juz instrukcjach sprawdzania opracowanych przez. Gléwny Uread Miar. Praed sprawdzeniem prayread suwmiarkowy nalezy preemyé benzyna (2. wyjatkiem suwmiarki cyfrowej) wytrzeé do sucha. Temperatura w pomieszczeniu powinna wynosi¢ (20 +5)°C. Preyrzady suwsmiarkowe i przy- zauly stuzace do ich sprawdzania powinny sig znajdowaé przed sprawdzeniem przez pewien czas w temperatu- ze (20 £5)°C. Zakres sprawdzania przyrzadu suwmiarkowego obejmuje: ~ ogledziny zewnetrzne, ~ sprawdzenie charakterystyk metrologicznych. Podezas ogledzin zewngtrznych nalezy sprawdzié: ~ poprawnosé oznaczesi, \wyrazistosé kres i eyfr na podziatkach prowadnicy i suwaka, ~ dzialanie suwaka, ~ czy ezesci prayrzadu suwmiarkowego nie wykazuja wiasciwosci magnetycznych, ~ czy powierzchnie przyrzadu suwmiarkowego nie maja wad utrudniajqcych prawidlowe uytkowanie. Sprawdzanie charakterystyk metrologicznych sklada sig 2 dwéch etapow: 1. Sprawdzanie plaskosci i prostoliniowosei powierzchni pomiarowych: Plaskos¢ powierzchni pomiarowych sprawdza sig za pomoca liniatu krawedziowego Klasy 1, obserwujac szezeling SwietIng, ~ szerokos¢ szezeliny swietlne} ocenia sig wzrokowo przez porswnanie ze szezelinami wzorcowymi, ~ szezeliny wzoreowe otrzymulje sig w wyniku przywierania do plaskiej plytki interferencyjne} klasy 1 plytek szorcowych, z ktérych dwie kraficowe maja jednakowa dlugoSé L, a plytki srodkowe Ly, Ly iy majq dhi- g08¢ mniejsza od L stopniowo o dtugosé S, jak pokazano na rys. 4.2, prostoliniowosé szezek krawedziowych i tworzacych walcowych powierzchni pomiarowych suwmiarki sprawdlza sie, obserwujac szezeling Swieting powstajaca miedzy krawedzia a plytka weorcowa 0 dhugosci ominalne} 12 mm, jesli dlugosé sprawdzanych powierzchni nie praekracza 30 mm, pomiary nalezy wykonaé eo najmnie) w trzech punktach rSwnomiemie rozlodonych w ealym zakresie po- niarowym, najwigksze wskazanie czujnika jest odchyleniem od réwnoleglosei Tabela 4.1, Dopuszezalne bledy prayrendéw suwmiarkowyeh Tabela 4.2. Dopuszczaine bledy wskazaa elektronicenyeh prayrzadéw VaRORTMICTON | 5 cana] suwmiarkowych on Waried? wakazana Pomiary [am] ie fut = bez zn Kierunk jana Kierunka 100 Bo Pome [do] macs pomiarowezo pamiarowego iod_| 200 60 | = 160 30,020 200 270 | Too [300] 20,050 500 0 300__| —4oo- 0,040 700 0 400 | 600 20,050, 300 100 00__| 700 0,060 = Sa 700 | —w00 20,070, ae | =s00} 900 0,080 [= 9001000 0,090 Li fet eee Wartosei bigdéw sq odniesione do stalego nacisku pomiarowe, 10 | Wartote bedi sy odniesione do stalego nacisku pomiarowexo posrednich Wave mieraanych] peeyimuje si bled Ustalone dla mniejes} ssiednig] wartosei mietzan (eo| | 18 4, Spraweizanie wy/brancgo spregtu pomiarowego 2. Wyznaezanie bledéw wskazait ‘Suwmiarka: — bledy wskazah suwmiarki nalezy wyznaczyé prey pomiarach zewnetrenych, wewnetrznych (aiana kierun- ku nacisku) i glebokosci; 1 el ee a Bem SERRE SRBHD Rys. 42. Prayklad tworzenia szezeliny weoreowe} 1 plytainterferencyjna, 2—lnial krawedziowy, Ly, La 15 plytki wrorcowe “ tmiarki a wymiarem stosu plytek wzoreowych dla potozer sprawdzenia dokonuje sig co najmniej w trzech punktach w przybli ‘i kresie pomiarowym suwmiarki; do wyznaczenia bledbw wskazaii stosuje sie plytki wzor- cowe klasy 2; przyktad doboru plytek wzorcowych poda- now tabeli 4.3; bledy wskazaf suwmiarki przy pomiarach zewngtr¢nych wyznacza sig, mierzae stos plytck wzoreowych w dwéch polozeniach ai d (rys. 4:3) przy unieruchomionym i zwol- rnionym suwaku, jezeli taka mozliwoss wystepuje; bledem wskazania suwmiarki w danym punkcie pomi rowym jest wieksza réznica migdzy wskazaniem suw- b; ~~ bledem wskazania suwmiarki jest najwigksza 2 uzyskanych réznic dla wszystkich punktow pomiarowych; = bledy wskazai suwmiarki prey pomiarach wewnetrmych mozna wyznaczyé, stosujac jedna z metod pokaza- nych na rys. 4.3 i 4.4; ys. 43. Schemat pomiaru bledow wskazan suwmiarek Rys. 4.4, Schemiat pomiaréw bledow wskazaf suwmia- ‘Tek przy pomiarach wewngtrmnych bigdy wskazah suwmiarki przy pomiarach giebokoseci nalezy wy- znaczyé za pomoca plytek waorcowych (rys. 4.3) w dwéch punk- tach zakresu pomiarowego (na poczatku i w pobliau gérnej grani cy zakresu pomiarowego). Tabela 4.3. Dobor dhugose plytek wrorcowych do wyznaczenia bigd6w wskazai suwmiarek ‘Zakres pomiarowy suwmiarki | Wymiary stasow plytek weoreowych Loan} [mm Oro 13 213 Te 169 (Od 0.40315 72 151.6 231,930 1 (Od 0 do 10067 1512 3014 451,6 601,8 751,9 900 Rys, 45. Schemat pomiaru réwnoleglosci po- Wysokosciomierz: wierzchni plaske| szezpki suvaka wysoko- bledy wskazaii wysokosciomierza wyznacza sig dla wskazania ze- rowego i w calym zakresie pomiarowym; Sciomierza: 1 ~ plyta pomiarovwa, 2 ~ ezujnik 2 dalla elementama 0 wartosei I um, 3 ~ po- ‘wierzchnie sprawdzane4. Sprawdzanie wybranego spregta pomiarowego 19 ad wskazania zerowego sprawdza sie praez zetknigcie plaskie) powierzchni pomiarowe} szezeki wysoko- jomierza z plya pomiarowa, na kt6re} jest ustawiony wysokaseiomierz; ‘wskazah w calym zakresie pomiarowym wysokoéciomierza i noniusza nalezy sprawdzié 20 pomoca piytek wzorcowych Klasy 2, dobierajae odpowiednie stosy plytek weorcowych; praykladowe stosy. plytek szorcowych podano w tabeli 4.4; pomiaréw nalezy dokonywaé co najmniej w trzech punktach tub pigci iu (Ww zalemnosci od zakresu pomiaro- 20) dla dwoch polozet a i b tego samego stosu plytek (rys. 4.6), zaréwno przy unieruchomionyin jak solnionym suwaku; dem wskazania wysokosciomierza jest najwieksza z uzyska- h réanie dla wszystkich punkt6w pomiarowych. 44. Stosy plytek wzoreowyeh do wyznaezania bedéw vskazad wysokosciomietza ‘Wymiary slosow piyak wearcowych [mm] —) Pao = a 7 5 [2MOS 71.15; 13635, 25 152.9: 300 oon | 20AS: 4885 1000 [60 301.4; 451.6; 601) |. 752.95; 900 _| 751;9: 900 Af! a 4 Ra a Wymagania metrologiczne i sprawdzanie mikrometrow 4h] es Typy preyraqdéw Risener Rys. 4.6. Schemat pomians bigdéw wske- rometrycenyth Za wysokoseiomierza: 1 ~ plyta pomiaro- vrzad mikrometryczny jest to przyread pomiarowy, w kiérym wa, 2—stosy plytee wrorcowyeh em odniesienia. jest sruba_mikrometryezna wspélpracuiaca sAretka (mechaniezny) Iub wzorzec inkrementalny (przyrzady eyfrowe). Wybrane typy przyrandéw mikro= canych przedstawiono na rys, 4.7 2. Podstawowe wymagania metrologiezne i techniezne magania metrologiczo-techniczne dotyezace prayraadéw mikrometryeznych wynikaja 2 normy {53200 /A1:1998, lasciwogei materialu elementéw pomiarowych sq nastepujace wealowa narzedziowa wedlug PN-78/M-85020, twardosé =62 HRC, ‘dporna na korozje wedlug PN-71/H-86020, twardosé =52 HRC, nenty mikrometru nie powinny byé namagnesowane. Podziatka tulei i bebna musi speniaé ponizsze wymagania: vralka tulei powinna byé kreskowa o wartogci drialki elementame} réwnej skokowi gwintu éruby S mm lub 1 mm), ski dlugie podzialki tulei powinny byé opisane w milimetrach, _nominalng dolnej granicy zakresu pomiarowezo; = bigd wskazania f mikrometru nalezy wyzaczyé wkilku punktach zakresu pomiarowego, stosujac sto- sy plytek wzorcowych tak dobranych, aby punkty ys, 4.12. Praykladowy wykres bledow wskazaf mikrometnt pomiarowe byly réwnomiernie rozlozone w calym zakresie pomiarowym 7 uwzglednieniem polozen At wrzeciona co 1/4 skoku éruby mikrometrycznej; oto - cas gal. Przykladowo dobrane punkty pomiarowe = A+12,9 mm, A+15,0 mm, 4+17,6 mm, 4+20,2mm, al 4422,8 mm, 4+25,0 mm Y gdzie A — dolna granica zakresu pomiarowego; FA = wyzaczone bledy wskazati przedstawia sie graficznie na wy- kresie (rys. 4.12), na ktéry nanosi sig takze granice dopuszczal- nych bledéw (tab. 4,7) dla punktu poczatkowego i catego za- kresu pomiarowego; STB jezeli wartosci wyznaczonych bledéw w jakimkolwiek punkeie praekraczaja dopuszezalne granice i maja rozklad niesymetry- trycay, nalezy ustawié dolna granice zakresu pomiarowego Wi? sae vi76 e208 A451 sto +150 4202 +280 unkty sprawdzania (mm) Rys. 413. Uradzenie pomocnicze do wyznacza- tak, aby jej blad wskazania zawieral sig w granicach + f, nia bledbw wskazah mikrometréw 0 duzych 2 — do wyznaczenia bledow wskazai mikrometrow o duzych za- tresach pomiarowyeh: 1 = kablak, 2,3 = wsper- _resach pomiarowych nalezy wykorzystaé urzadzenia pomoc- niki, 4 ~ pryzmy oporowe, 5 ~ wzorzec nastaw- ap ee Se nize (rys. 4.13). 4.4. Wymagania metrologiczne i sprawdzanie plytek wzoreowych 4.4.1. Podstawowe definieje Przedstawione wymagania metrologiczne sa zgodne z migdzynarodowa norma PN-EN ISO 3650: 2000. ‘Wymagania metrologiczne odnosza sie do powierzchni pomiarowej plytki wzorcowej (2 wyjatkiem obrzeza ‘© maksymalne} szerokosci 0,8 mm), mierzonej od plaszczyzny powierzchni bocznych, W tej strefie powierzch- nia nie powinna przekraczaé plaszezyzny powierzchni pomiarowe). Plytki wzorcowe wystepuja w kompletach (duzy, éredni i maly). Kazdy komplet umozliwia zbudowanie do ‘wolnego stosu 0 stopniowaniu co 0,005 mm, z tym Ze czesciej stosuje sig stopniowanie co 0,01 mm. Plytka wzorcowa jest to wzorzec dhigosci w ksztalcie réwnolegloscianu prostokatnego wykonany z mate- rialu odporego na zuzycie, o dwéch powierzchniach pomiarowych plaskich i réwnolegiych wzgledem siebie, majacych wlasciwosei przywieralnosei do powierzehni pomiarowych innych plytek wzorcowych w celu two rzenia stosow (rys. 4.14). Diugosé | plytki wzorcowej jest to umownie odleglos punktu powierzchni pomiarowej od plaskie} po ‘wierzchni plytki pomoeniczej z tego samego materialu io takiej samej strukturze powierzchni, do ktérej preywiera druga powierzchnia pomiarowa. Dlugosé powierzchni pomiarowej uwzglednia efekt przywierania powierzchni.4, Sprawdzanie wybranego spraetu pomiarowego Dlugosé Srodkowa /. plytki wzoreowej jest to dlu- Powers pore plytki wzoreowej okreslona w Srodku swobodne] powierzchni pomiarowej (J, jest szczegélnym przypad- ‘sem dlugosei 0. Odchylenie dlugosei w dowolnym punkcie od dlugo- nominalne} ~ blad dlugosei w — jest to algebraiczna znica (I = hj), gdzie J jest dlugoSeia w rozpatrywanym 1, dlugoseig nominaing, nie od plaskosei f, jest to minimalna odle- 2io8é dwéch plaszezyzn réwnoleglych, miedzy ktérymi zawarte wszystkie punkty powierzchni pomiarowe). Zakres rozrautu dtugosci y jest to ré¢nica miedzy wigksza dlugoseia Inara najmniejs7q iia, Jest ona na sumie odchyleii/y if, od dlugosei srodkowej/, fut he (43) rms Te OF f= Le~ Ini. Praywieralnosé jest to wiasciwosé powierzchni po- owych plytki weorcowe} polegajgea na calkowitym przywieraniu do innych powierzchnipomiarowych do powierzchni 0 podobne} obrébce pod wplywem sit izycrasteczkowych (rys. 4.16). ls 442. Warunki odniesienia DhugoSé nominalna i zmierzone dhugosei plytki weor- “ ch plytki wzorcowej powinna odpowiadaé ery pes ae Sees bm podanym w tabeli 4.11, Praywie- | zee "pnpiintereennne | odie < powierzchnipomisrowyeh _plytek . aie doping: | Topoacen ay nlewle J owych klasy 00 odpowiada kryterium ha sne plamy lub szare odeienie nym dla plytek klasy K. Powierzehnie zrowe plytek wzorcowych powinny le zywierac, drobne rysy bez zadziorow sa dopuszezalne, jesli nie wplywaja na wlasciwosei przywierania. ‘Tabela 4.11. Warunki praywieralnase plyek weoreowych Tabela 4.12. Dopuszezalne body granicane w, dugosei oraz zakres razrzutu ¥ dlugosei Kinsa k Khasad Kissa Kina | biedy | zakses | bledy | zakres | bledy ] wakres | bledy | zakres | graniezne| rozrauta | graniczne| rezeautu | granicme| rozrautu | graniezne | romzuty * | 'alugosci | dtugosei | stugoss | dlugosei | alugosei | dtugosci| dlugosst | dlugoset Es) | sy, v | sy, v | aw, |» Tim a as sprawdzian aksymalny (nieprz 4. Spravdzanie wybranego spregtu pomiarowex0 bledy sprawdzania walkéw o wymiarach nominalnych D powyzej 180 mm. schodni do otwordw, nieprzechodni do walkéw), dni do otwordw, przechodni do walkow), G, ~ granica 2u2ycia strony przechodniej sprawdzianu, sbela.16,Polozene pl ‘oleransispravdiandw wedlug PN-T4/M53027 D | Przedmiot sprawdzany [Tolerancja Ponad | _do_|Toleranc wate ower bee Polozenie pél tolerancji ‘Smax — | 180 |e ors Sm | 116 doe 120 | 500 N Ny | ie } [Sain MW = WN! Elev) ¢| «la = ner Bh - eees pte an a (UD) —_ 5 str onto pacts Latwo zauwazyé, 2e spraw' iar i 4.19 dopuszeza przekroczenie gémego wymiaru B otworu o wartosé 0,51 (lub 0,5. olworu 0 wartosé B walka 0 wartosé y, a dolnego wymiaru A wal ie otwordw sprawdzianami obliczonymi wedh id podanych w tabela H,) oraz dolnego \ Podobnie przy sprawdzaniu watkow dopuszeza sie przekroczenie gérnego wymia wartoss 0,514, Sprawdzanie wybranego spraetu pomiarowego Tabela 4.17, Tolerangje wykonania sprawdziandw (PN-74/M-$3027) Sprawdelan Toleraneja preediowy powierzehnie | symbol | __/76 17 | 118do imo | irivdo Te | Tsao 6 pomiarowe | toleranei Tolerancia srawdzian a 7 73 TS vil Te 7, TTS, TTS Hs 7 ITs I | = Fa mm re TS, | watcowainb [| 7 7, ial fulista [7 1 7 Te TT TS, Przedmiot sprawdzany walcowa ‘Tabela 4.18, Wory do obliezania wymiaréw sprawdzianw do otworbw T -ninalny dae Wymiar nowego sprawziany | Wymiar graniey Toleraneja pracchodniego Suis ‘anycia G, preedmioty | © powierzchni pomiarowe} | sprawdzianu prae- ‘hodniego r teowe) | kul Big waleowe| list} ‘Wymiarsprawdziany niepraechodniego ‘Seae 9 powierzchai pomirovre) wary obliczei 0d 6 do ITI, Ba0sH Bs 05H, od IT do 7 +050 | At220:SH, [ 06179 do1r6 B-asost | B-asosn, Tabela 4.19. Waory do obliezania wymiardv sprawdziandw do walkow ninalny ‘Wyte gaat miots | Tolerancia | W3Imiar nowego sprawdziany | guryere predmioty przechodniego sprawzianu pros: Si chodniego Sain r Soin | Wymiar spravdzianu nieprzechodniego \Waory oblicreniowe od 76 do ITI6 By A+OSH; 0d 76 do 778 Bt ya, A+ a 05H, od 179 do 76, 2m Tabela 420. Wietkosei okreslajace poto2enie pol toleraneji sprawdziandw Tolerancje walkéw | otwordw a THs \wielkoseiokredajqce polo2enie pol toleranchi sprawdziandw34 4. Sprasedzanie wybranego speeetu pomiacowepo 4.5.3. Sprawdzanie sprawdzianéw do otwordw i walkéw Kontrolujae sprawdziany, nalezy sprawdzi¢ ich wymiary i ksztalt zaréwno strony przechodniej, jak i nie przechodnie}. Dlatego mierzy sie sprawdziany w réznych kierunkach T=IV oraz 1 ~ 4, co umotliwia wy kaycie odchylek nieokraglosei i nie walcowosci (w przypadku sprawdzia. now tloczkowych i pierscieniowych) lub nieplaskosci i nieréwnolegiosei (w preypadku sprawdziandw szoze kowych), Sprawdziany kontroluje sig optimetrem pionowym (rys. 5.19), ultraoptimetrem (trys. 4.20), dlugosciomie rzami: poziomym (rys. 4.24) i pionowym (rys. 4.25) lub innymi przyrzadami pomiarowymi gwarantujqcymi uzyskanie wymaganej doktadnogei pomiaru, a) rrmiv 1 ») Ti £e Wh ys. 4.25. Prykadowe migjsca pomiarowe prey sprawdzaniu sprawdziandw: 3} Hloezkowego, b)szczekow ‘a pomiar sprawdzian6w skiadaja sig nastepujace ezynnos wykonaé pomiary strony Saas i Snin sprawdziandw, ‘zestawié stos plytck na wymiar nominalny sprawdzianu, ultraoptimetr, dlugosciomierz poziomy lub pionowy ustawié na wskaza- nie zerowe, zmierzyé sprawdzian w wyznaczonych punktach pomiarowych, sprawdzié ponownie ustawienia zerowe zastosowanego przyrzadu, wykonaé niezbedne obliczenia, wykonaé rysunek raeezywistych (zmierzonych) pél tolerane}i Sage 1 Sein na tle pél tolerancji obliczonych teoretycznie. ange Poles ys, 4.25. Dlugosciomierz pionowy ‘Abbego POL Rys. 4.24. Dlugosciomierz poziomy Abbego: 1, 2— kofcowki do pomiarow wewneteznych 3 pokretlo przesuwu pinol, 4 ~ pokretlo pezsuwu czujnika, $— przesuw pionowy stoi, 6, 7— zacski, 8 zaciskpinoli, 9 — sruba mikrometryezna pinoli, 10 ~ pokretlo obrotusto= liks, 11 — pokreto przechylania stolika, 12 — podnosnik caujnika, 13 ~ mikrometryezny przssuw stoliks, 14 — zacisk podnossika soli, 15 —okular odezytowy mir 120, 16~zacisk precchlenia tolika, 17 ~ wskaznik elektronowy Rozrzut wskazan dlugosciomierza wynosi +0,15 um. Niepewnosé po- miaru przy zalozeniu wyréwnania temperatury przyrzadu i mierzonego praedmiotu do 20°C wynosi 1) przy pomiarach wymiaréw zewnetrznych: = kofiedwkami z wypuktymi powierzchniami pomiarowymi ys, 426, Preyklad odcaytania sks zania 2 urzadzenia projekeyjncgo dlugoSciomierza POI ~34,619(3) mm4. Sprawdzanie wybranego spragiu pomiarowego kofteéwkami z plaskimi powierzchniami pomiarowymi a L sane) tum zy pomiarach wymiaréw wewnetrenych gece | — wartos mierzonej dlugosei w milimetrach W preypadku pomiaréw réznicowych z wykorzystaniem jedne) kreski wzorea szklanego i mikroskopu spi- 0 niepewnosé pomiaru przyjmuje, odpowiednio, wartosci #0,5 um, 0,8 ym oraz +l pm, % dlugosciomierau pionowym Abbego POI przesuwny trepier pomiarowy ma whudowany wzorzec kre- » o dlugosei 100 mm. Ruch tzpienia pomiarowego jest wytwarzany za pomoca silnika elektryeznego. ‘oSé opuszezania lub podnoszenia trzpicnia wynosi 15 mm/s, natomiast predkosé opuszezania na mierzony imiot 3 mm/s. Nacisk pomiarowy, zale2nie od wyboru, moze byé réwny | Iub 2 N. Opuszczanie trzpienia arowego z napedem nie powoduje powstania nadmiemej sity dynamiczne} w chwili zetknigcia koricdwki pewierzehnia przedmiotu. “iepewnosé pomiaru dlugoSciomierzem pionowym POL 6 =4(064-L-10) [ym] (4.10) Specjalne urzadzenie projekeyjne podaje wskazania dlugosciomierza w postaci eyfrowej. W polu widzenia =sizenia wskazujacego ukazuja sig te cyfry podzialki wzorca, kt6re stanowig, wartosé mierzone} dlugosci. ee optyezny uklad sluzy do odezytywania wskazaii w setnych i tysigcznych ezesciach milimetra po uprzed- awieniu odpowiedniej kreski wzorca w Srodku wskazu ze szczeling (rys. 4.26). Interpolujac wskazanic, okreslié takze dziesigtne ezesci mikrometra, Pr2etworniki elektroniczne Teoria przetwornikow pomiarowych s pomiara w preetworiku i aparaturze pomiarowej ulegaja zmianie cechy jakoSciowe, ilosciowe ne sygnalu, niezbedne do otrzymania informacji o wielkosci mierzone} w pozadane] formic | od- zasie. Wytworzony w przetworniku sygnal pomiarowy y — ffx) moze micé rézne postacie, ale jak najezescie} jest to sygnal clektryczny lub pneumatyczny. Migdzy wlasciwym przetwornikiem ipmieen wyjsciowym urzadzenia pomiarowego nastepuje zazwyczaj przekszialcenie sygnatu do dogodne} ji postaci, prey czym dotychezas prawie zawsze koficowym elementem ukkadu pomiarowego jest Sciowy preeksztalcajacy sygnal do postaci dostepnej dla naszych zmyslow, ezyli nadajgcy mu for- ‘a, wykresu ezy zapisu ze przedmiotu nie ma jednolitosci ani pojeciowe), ani terminologicznej stosowanych okreslesi, mujaca norma PN-71/N-02050 nie zawiera haset dotyezacych pomiaréw. W zwiazku z powyzszym W urze fachowe} modna sig spotkaé z nazywaniem tego samego ,.wejsciowego elementu toru pomia- ‘Kiem, sensorem lub przetwornikiem. W tym opracowaniu ,.Wwejsciowy element toru pomiarowe- przetwornikiem, Nizej oméwiono wlaseiwosei przetwomikow stosowanych w pomiarach statyez- icenych. Podstawa do rozréznienia pomiaru statycznego i dynamicznego jest zmiennosé czasowa serzone), Jezeli wielkosé mierzona nie zmienia sig w czasie pomiaru lub zmienia sig w granicach niedoklednosei pomiaru, to pomiar nazywa sig statyeznym. Jezeli wielkosé mierzona zmienia s=sssie pomiaru, to pomiar jest dynamiczny, W obu przypadkach przez pojecie wielkosci mierzonej rozu- se wictkosé, ktora cheemy zmierzyé, ezyli ktdrej wartoSé chcemy okreslié. Wielkos¢ mierzona moze byé co do rodzaju, jak i wartosei niz ta wielkosé, kt6ra bezposrednio oddzialuje energetycznie na celem zobrazowania modliwosei stosowania konkretnego praetwomnika do pomiaréw wielko- dynamicznych postuzymy sie powszechnie znanym termometrem lekarskim i dwoma naczy- temperaturze 35°C i 42°C. Dokladny pomiar temperatury uzyskamy po écisle okreslonym czasie36 4, Sprawdaanie wybranego sprqtu pomiarowego trzymania termometru w danym naczyniu. Natomiast stosunkowo szybkie przeKladanie wspomnianego terme metrn z.jednego naczynia do drugiego nie spowoduje prawie Zadnego ruchu stupka rteci w omawianym termo- metrze. Majgc powy#sze na uwadze, nize} preedstawiono sposoby okreslania charakterystyk preetwarzania przetwornikow pomiarowych 4.6.2. Przetwornik pomiarowy ~ definicja i opis funkeyjny 4.6.2.1. W warunkach statyeznych Blektryeznym przetwornikiem pomiarowym (ang, sensor) nazywamy element, ktGry w sposdb jednoznaczny odwzorowuje sygnal fizyczny lub chemiczny x okreslony w zbiorze wartosci X na sygnal elektryczny y' okreslo- ny w zbiorze wartosei ¥ (rys. 4.27), Funkeja y = fx), nazywana funkeja praetwarzania Badane syenal przetwornika, musi byé funkejq ciagla i Scisle monote ieeenioe vaitelowy niczna w ealym zakresie okresionosci xe X (rys. 4.28a). —p| W sensie formalnym mozna oslabié wymagania co d a funkeji przetwarzania i powiedzie’, 2e funkeja flx) pc winna byé co najmniej przedziatami ciagia i Scisle mo notoniczna (rys. 4.28b). W praktyce jednak rzadko ak cceptuje sie taki przetwornik W wielu przypadkach przetworzenie mierzone} wie! b) kosci nieelektrycznej x bezposrednio na wielkosé elek trycmna y nie jest mozliwe. Stosuje sig wtedy wielokrotne praetwarzanie (najczesciej 2- lub 3-krotne), jak pokazanc na rys. 4.29 (praetwomik z.2-krotnym praetwarzaniem) Praykladem przetwornika 2 2-krotnym_preetwarz: niem jest pélprzewodnikowy piezorezystywny przetwor nik cignienia, w ktorym zmiana cisnienia x: jest preetws rzana na naprezenia W membranie pélprzewodnikowe} x 1 zmiany naprezenia powoduja zmiany rezystancji piezc rezystordw y znajdujacych si¢ w membranic, Rys. 4.27. Schemat dzndania prastwornikt ys 4.28. Wyre funkel: a) eigle, by przedzilami cig) ex, CHIlO86 pomiarowa preetwomika 5, jest de SEX! finiowana jako pochodna funkeji przenoszeni EY) Wagledem mierzonej wielkosci nieelektryczne) x =f) pl % ceyli jest to granica stosunku przyrostu wartose Jrilaniapreetwomika 2-romym praetwarzaniom — wielkosei wyjseiowe} do wywolujacej te zmiane wielkosei wejSciowe}, a wige AY ee 4.12 or ( Na og6t 2da sig, aby czutos preetwornika byls jak najwieksza. Wiedy blad pomiaru dy powo dowany skoriczona dokladnosciq pomiaru sy gnalu elektrycznego y powoduje relatywnie maly bad pomiaru wielkosci nieelektrycznej x. Jest t zgodne ze wzorem (4.13), a zilustrowano to n: rys. 4.30. day x ys, 4.30. Wolyw caulogeiprastwomnika na dokladnose pomiary4, Sprandzanie wybranego spragtu pomiarowexo ¢ ezulosci nazywa sie stala przetwornika: (4.14) raetwarzania wyznacza sig dla danego ka prec zadawanie znanych wartosci cu ¥ i pomiar wartoSei wielkosci wy)- sworzacych zbiér ¥. blad nieliniowosei definiuje sie mak- cichylenie reeezywistej charakterysty- Ccharaktoryetyka w= ts (naimmieseyeh preeonoceace ia od charakterystyki ideaine} free snt siaé linii prostej, wystepujace w 72- . cniarowy/m, Uzywa sig zwykle wzeled- = nieliniowosei (rys. 4.31); Zakres zmiennosed vant wyiseowego injowosei =—2—2 (4.15) eee Yon —Pak ma ‘Zavros pomiaromy Gseereza pomiarowa jest to blad odwracal- teryzujacy sig. réznicq wskazai ady te sama wartosé wielkosci za sig pray zwigkszaniu wartosci owe} i przy je}. zmniejszaniu Biad histerezy okresla sig jako 162- mierzone] wielkoSei, przy. ezym » wartosei odpowiada jednakowemu rzymanemu raz pray zwigkszaniu, zy mmnigjszaniv sygnatu znaczenia jak na rys. 4.32, mak- ledna wartosé histerezy pomiaro- ¢ 2 zaleznosci: ¥ Zetres preetwarzanio, ys. 4.3, Husa bles nil (4.16) 5 q : i dokonuje sig aproksymacji funk- nia 2a pomoca znanych funkeji ® Caly ten proces (tan. uzyskiwanie Asymacja) nazywa sig identyfika- prectwarzania Weeresce] do aproksymacji funkeji przetwarzania fix) uzywa v et Sniowe, wyKladnieze),logarytmiczne} lub wielomianu duzezo reedu, Nalezy zdawaé sobie sprawe, 2 2 funkeji preetwarzania odbywa sig zawsze ze skori- Gekindeokcia. Blad aproksymacji moze byé mniejszy, edy spamixow pomiarowych jest duza i punkty sa tozlozone semeomiernie w calym praedziale zmiennosci X. Bledy rmodna zmniejszyé przez dokonanie wielokrotnego 1ym punkeie pomiarowym ja preetwarzania moze byé tez wyzmaczona x tmatematyeeny opis zjawisk, na kté- ‘2 preetwomika. Liniowa funkejg przetwarzi- RRys. 4.32, Tustracja bleu histerezy Yeaxtb Rys. 433, Wyr6ynanie wartogei metoda naj- rmiejszych kwadratSw38 4, Spravdzanie wybranego spraqtu pomiarowega yeartb (4.17 mozna wyznaezyé metoda regresji liniowej, dazae do minimalizaeji nastepujace] sumy 4.18 (4.19 4.20 Ex, Na rysunku 4. kowej dokladnosei metoda najmniejszych kwadrat6w W zaleznosci od typu nieliniowosci trzeba poszukiwaé funke)i aproksymujgce} wéréd znanych funkeji and litycznych, Jedna z takich funkeji jest wielomian n-tego rzedu o postaci 3 przedstawiono zastosowanie aproksymacji do wyréwnania wartosci pomiarowych o jednd chetnie stosowany do opisu nieliniowych funkeji praetwarzania. We wzorze (4.22) podano przykladowy wiele mian dla przetwornika termorezystancyjnego nek, [\vaat bar? cat? +] zie: Ry— rezystancja przetwornika w temperaturze Ty, AT =T— Ty; T mierzona temperatura. Nalezy pamietaé, ze aproks lomianu bedzie rosta dokladnosé aproksym: macja wielomianu ma szereg pulapek i nickonic mie ze wzrostem stopnia wic 4.6.2.2. W warunkach dynamieznyeh W pomiarach dynamicznych zaréwno sygnal wejsciowy x(1) (wymuszenie), jak i sygnal wyjsciowy y(2) (od powied#) sq funkejami czasu. WiaSciwosci dynamiczne preetwornikow pomiarowych przedstawia sig w dzic dzinie czasu iw dziedzinie ezgstotliwosei. W dziedzinie czasu. przedstawia sig wlasciwosci przetwornik6\ w postaci odpowiedzi na pewne znormalizowane sygnaly wejsciowe, zwane sygnalami standardowymi, Najez« Scie] stosowanymi sygnalami standardowymi sq sygnaly przedstawione na trys. 4.34, ‘ines 20 x(t) x(t) n=3 ( att) a a 0 a) ot 0 - ° te I s x= 10) HO= a4) x) =0dlar<0 tga-a x= A) Rys, 4.34, Podsiawowe sygnaly wymusuagce stosowane w badaniach dynamicenyeh preepwomnikw4. Sprandzanie wybranego sprzgtu pomiarowego 39 n: a as, at Ea tenet ty Dt ag bE 4 by Eb Ey "a a ae = wielkosé mierzona (wejsciowa), N= ¥(9 odo) 1) = wielkosé wyjéciowa, = eras, a) wymuszenis) 2, 5 ~ stale wspdlezynniki, ® spolezymniki réwnania (4.23) sa flnkejami parametréw scatow magazynujacych i rozpraszajacych energie (rezy- ~ tlumik, kondensator — sprezyna, cewka indukcyjna — sb 421), Wystepujaca w rownani (4.23) najwieks7a aye 4.5 odpowieddprecwomnika erowego rad na okresla read practvornika mn sk Joinsowy ‘Tabela 4.21. Prayklady clementow rozpraszajgeych i magazymnujqcych energie ssa elem Powodijaee steaty Magazynujace energie Magazynujace energie . ‘nee potenejang Kinetyezng, KONDESATOR CEWKA ELEKTRYCZNYCH, REZYSTOR (pojemnoss) (ndukeyjn0ss) sarakteryzowane pz: (ezysianeja) 1 ven blame) SPREZYNA. MASA {spretystoxe) (bezwadnose) . [* opor mechaniczny ssspotezyunik sprezystosel m MECHANICZNYCH, TLUMIK sears 9 charakteryzowane przez: (ume Pam td de4, Spravedzanie wybranege sprzetu pomiarowego Podezas rozpatrywania wiasciwosei dynamicznych w wielu przypadkach wyzodniej jest przedstawié rowna. nie przetwornika w postaci operatorowej przez dokonanie praeksztatcenia Li ‘a obu stron réwnania (4.23 Prey zalozeniu zerowych warunkow poczatkowych réwnanie (4.23) prayjmie postaé (cis + yay 9°) + age? + a;8 +5) Ys) = (bys + Dyas +8 + net bys? + bis Oy) (6) exizie: (4) ~ preeksztaleenie Laplace'a wielkosei wejéciowe) X(, V(s) - praeksztalcenie Laplace’a wielkoSci wyjsciowe} ¥(2), $ —zmienna przekseta aplace’a Stosunek transformaty sygnalu wyjseiowego Y(s) do tra nal wejSciowego X(s) nasi nazwe transmitaneji operatorowe), ktéra opisuje w spossb jednozmacny iwosei dynamieme prze twwornik Y(s) _ bys’ + bys? +8 +p Gs)=—* 7 Xs) ay Fob ys? + a8 +My Przetworniki zerowego rzedu sq opisane rownaniem, w ktérym stale ari (2 wyjatkiem ay i bs) sq rowne zeru. W takim przypadku réwnanie (4.24) przyjmuje postaé rownania algebraic: t)=boX(F) lub dla 4, /a5 = GHs)=8 (4.28 hys.436.¢ wow ydzie § — culos praetwornika --ezestotliwose - ‘ Odpowieds preetwornika zerowego ragdu na skok jednostko wy oraz charakterystyki czgstotliwosciowe — amplitudowa i fazowa — przedstawiono na rys. 4.36. Dla ulatwie nia wprowadzono pojecie amplitudy wzglednej, zdefiniowane) jako (429) Xe a 20lgA (430 kata fazowego @, Ktory jest zawarty pomigdzy wektorami ¥ i Xn, rg0dnie 2 rys. 4.37 ys. 4.37 Kat zawany migdey wektoram Wiasciwosei dynamicane preetwornikéw zerowego raedu wy syanalu weiciowezo iwsisciowceo —_ikajg 2, wlasciwosei obwodow zestawionych 2 element6w roz praszajgeych energie. W zale’moSci od rodzaju obwodu moze ( byé rezystancja elektryczna R, akustyezna R, i mechaniczna R, Praetworniki zerowego rzedu maja, idealne charakterystyki dy namicane, poniewa nie wprowadzaja znieksztalceh fazowych amplitudowych. Przykladem przetwornika zerowego rzgdu inode byé rezystaneyjny przetwornik drogi, pokazany na rys. 4.38 L | tar Przytoczony przyklad przetwomika spelnia jedynic w pewnyr e farunki przetwornika zerowego r2gdu Z|. Pomijajge nawet wiasciwosei dynamiczne styku suwakowegc nalezy stwierdzic, 2e sam rezystor przy duzych czestotliwosciac Rys 4.38, Rerystaneyiny pezetworik deoxijoko moze zachowywat sig jak uklad zlozony z rezystora, kondensato preyhtad preetwomika zeroweyo radu iat Sao4. Sprawdzanie wybeanego spragtu pomiarowego 4 Wiasciwosci dynamiczne przetwornikéw pierwszego rzedu opisuje réwnanie rééniczkowe (4.23), w ktd- on stale a i b (2 wyiatkiem aj, ap i bs) sq réwne zeru, . hE YER (431) a | 1) scr ot Nediect ay : 7 ro y=s.x 432) dr we ys. 4.39. Odpowied# preewornika pierwszego ru na skok ese T—stala ezasowa, jednostkowy 5 ~ ezulosé przetwornika. smitaneja operatorowa praetwomika pierwszego raedu wynika z transformacji réwnania (4.30) prey seezeniu zerowych warunkéw poczatkowych: Ys) __S = 4.33) X(s) TesT Ga ak ° sowied# practwornika pierwszego r2g- ax =a skok jednostkowy przedstawiono na ss £39. Charakterystyki amplitudowo- i fa- 4 zestotliwosciowe practwornika picrw- reedu pokazano na rys. 4.40 dla am- «dl be < pinay wagledne} CT eC) y, 1 1 (234 B40. Chaateysyampiade i nwo stinotsone Aas oe : pezeowomika perwszegor2eda Xy S Vitor? o=-areetg (oT) (435) comiki pierwszego rzedu skladaja sig z obwodu, w ktérym wystepuja elementy rozpraszajace i maga- energig w jedne) postaci. W przypadku obwodu elektrycznego clementami tymi moga byé rezystor cja elekiryczna R) i kondensator (pojemnosé elektryczna C) lub cewka (indukeyjnosé 1), w obwodzie sesctanicznym ~ thumik (rezystancja mechaniczna Ry) i sprezyna (podatnosé mechaniczna C,) lub masa (bez- wentnose My), w obwodzie akustycznym analogicznie wystepowaé bedzie rezystancja akustyczna R,, pojem- sess akustyczna C, lub masa akustycna M,, a w obwodzie ciepinym — rezystancja cieplna Re: i pojemnosé = W przypadku zastosowania do pomiaru przetwornika pierwszego raedu w miare wzrostu czgstotli- snalu mierzonego nastepuje zmniejszenie amplitudy sygnatu wyjsciowego i jego opdénienie wegledem shy wejsciowego. Wiasciwosci dynamicane practwomika pierwszego rzedu okresla sie za posrednictwem sai crasowej 7, a jego wiasciwosei statyezne = pomoca emuloéei S. to omy srakterystyki amplitudowo- i fazowo- *"95 = wosciowe moga byé okreslone za pomo- gy “454 =zestotliwosei «lub falbo osi czgstotliwosei op wane} «7. W tym ostatnim przypadku cha- 1a BOT aot a00 8p G0 oO i sq_bardziej uniwersalne, poniewa2 fet the) = krzywa w ukladzie A = A(arT) i jedna krzy- ays. 4.41. Charskterystyki djmimicone rexystanyjnego practwornika wa = okladzie 9 = g(oT) proedstawiaja zaleznosci temperatury swolne} stalej czasowej. Jezeli charakterysty- se sa okreslone dla osi czestotliwosei, to dla ka2dej stale czasu musi byé wykrestona odrebna krzywa (rys. 441)