第 45 卷 第 3 期：959-967 高电压技术 Vol.45, No.

3: 959-967
2019 年 3 月 31 日 High Voltage Engineering March 31, 2019
DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20190226037

基于 PDC 法的绝缘老化电缆低频损耗特性分析
黄 明 1,2，周 凯 1，黄科荣 1，何 珉 1, 3，张福忠 1，陈 讴 1
（1. 四川大学电气信息学院，成都 610065；2. 国网江西省电力公司南昌供电公司，南昌 330012；
3. 国网重庆电科院，重庆 401123）

摘 要：为实现对 10 kV 交联聚乙烯(XLPE)电缆的绝缘老化问题的快速、有效诊断，基于短时极化/去极化电流法
(PDC)分析了老化电缆的低频损耗特性，提出了电缆不同类型老化问题的诊断方法。该方法通过模拟电缆实际运
行中遇到的老化情况，对实验室短、长电缆进行人工加速老化，基于介电响应理论分析了电缆老化前后极化/去极
化电流的低频损耗特性及其不对称现象。同时，为了进一步验证该诊断方法对实际运行老化电缆的评估效果，收
集了已知老化状态的退运电缆和现场运行电缆并对其进行了极化/去极化电流测试。研究结果表明：低频介质损耗
谱不仅能发现桥接绝缘较长的水树老化缺陷，而且能诊断出绝缘受潮或长度较短的水树；对于集中性缺陷，电缆
的极化电流介质损耗因数通常大于去极化电流介质损耗因数；而对于电缆的整体绝缘劣化，其极化电流介质损耗
因数却不大于去极化电流介质损耗因数。实验室老化电缆与运行老化电缆的测试结果证实了极化/去极化电流的低
频介质损耗谱及其不对称性能够较为准确地反映电缆绝缘不同类型的老化问题。
关键词：交联聚乙烯；电力电缆；绝缘劣化；水树；极化/去极化电流法；介质损耗；不对称性

Analysis of Low-frequency Dielectric Loss Characteristics of Degradation Cables

Based on Polarization and Depolarization Current Method
HUANG Ming1,2, ZHOU Kai1, HUANG Kerong1, HE Min1,3, ZHANG Fuzhong1, CHEN Ou1
(1. School of Electrical Engineering and Information, Sichuan University, Chengdu 610065, China;
2. Nanchang Power Supply Company, State Grid Jiangxi Electric Power Company, Nanchang 330012, China;
3. State Grid Chongqing Electric Power Research Institute, Chongqing 401123, China)
1

Abstract：In order to realize fast and effective diagnosis of the insulation aging problem of 10 kV cross-linked polyeth-
ylene (XLPE) cables, we analyzed the low-frequency dielectric loss characteristics of degradation cables based on the
short-time polarization and depolarization current (PDC) method, and proposed a diagnosis method of cables for different
aging types. According to the cases that the actual operation cables may occur, the short and long cables were manually
accelerated aging in the laboratory. Based on the theory of dielectric response, the low-frequency dielectric loss charac-
teristics and the asymmetry of polarization and depolarization current were analyzed for the laboratory cables before and
after aging. At the same time, to further verify the effect of this diagnostic method on assessing the actual operation aging
cables, the field-aged and in-service cables of which the aging states are known were collected, and the polarization and
depolarization current tests were also performed. The results show that the low-frequency dielectric loss spectrum not on-
ly can detect the bridging water trees in the cable insulation, but also can diagnose the humidified insulation and the
large-but-short water trees in cable insulation. It is not difficult to find that the dielectric loss factor of polarization current
is usually greater than the dielectric loss factor of depolarization current for the cables with concentrated defects. And as
for the overall insulation degradation, the dielectric loss factor of polarization current is not greater than that of depolari-
zation current. The diagnosis results based on laboratory-aged cables and field-aged cables confirm that the low-frequency
dielectric loss spectrum and its asymmetry can accurately reflect the different types of aging of cable insulationn.
Key words：XLPE; power cable; insulation degradation; water tree; polarization and depolarization current method; die-
lectric loss; asymmetry

———————
基金资助项目：国家自然科学基金(51477106)。
Project supported by National Natural Science Foundation of China (51477106).
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0 引言
交联聚乙烯电缆由于具有优越的电气、机械性
能，在我国城市电网建设中得到了广泛的应用。然
而，随着早期投运电缆运行年限的逐渐增加，同时
由于受到过载导致的发热、环境中水分的渗透以及
自身绝缘氧化等因素的作用，电缆水树老化、绝缘
受潮等一系列问题日益突出[1-3]。水树在雷电冲击或
操作过电压的作用下，可形成永久性绝缘破坏形式
—电树枝，从而导致电缆绝缘本体的击穿并造成电
网停电事故[4]。因此，快速、准确地判别电缆绝缘
的老化类型，并给出相应的维护措施，对保障电缆
安全运行有着重大的意义。
针对电缆绝缘状态的检测，常用的方法有 50
Hz 介质损耗、绝缘电阻、泄漏电流、震荡波等。这
些方法在实际电缆检测中取得了广泛的认可，但依
旧存在不足之处。例如：50 Hz 介质损耗对老化的
表征不十分灵敏，且抗干扰能力较差；绝缘电阻和
泄漏电流获取的信息较为有限，不足以全面地评估
电缆的绝缘状态；震荡波测试在电缆局部缺陷检测
上取得了显著的成果，但无法判断电缆整体的老化
程度。近年来，基于介电响应原理的极化/去极化电
流法凭借其设备轻便、测试时间短、反映信息量大
等优点，已被国内外学者们逐渐认可并应用于变压
器、电缆等高压设备的绝缘诊断。Walter S. Zaengl
学者推导出了以极化/去极化时域电流获取介电响
应函数的表达式，并研究了将时域电流信号转换到
频域从而获得频域介质损耗的可行性[5]，证实该方
法可代替频域法的直接测量，从而大大减少测试时
间。此外，有一些国外的学者们提出了一些自拟的
电缆绝缘老化特征参数，通过分析不同极化电压及
老化状况下电缆的测试数据，研究电缆中有无水分、
新老电缆及不同老化程度下的参数差异[6-9]。国内有
林福昌、尹毅和刘刚等学者们也利用 PDC 方法研究
了不同水树老化程度的电缆，从电导率、等温松弛
电流、Debye 模型、介质损耗 tan等多角度评估了
电缆的绝缘状态[10-13]。但是，目前的研究大多关注
极化/去极化电流法对电缆绝缘老化程度的评估，而
鲜有利用该方法诊断及判别电缆不同类型绝缘老化
问题的报道。
本文在前期工作的基础上，提出了电缆不同类
型老化问题的 PDC 诊断方法。模拟电缆实际运行中
遇到的老化情况对实验室短、长电缆进行人工加速
高电压技术 2019, 45(3)
老化，着重分析了老化前后极化/去极化电流的低频
介质损耗因数及其不对称现象。同时，结合现场在
运和退运电缆检测数据，讨论了电缆不同类型老化
的检测判据，以求为中压电缆老化检测评估提供一
定的参考依据。
1 试样与测试设置
1.1 加速老化电缆试样
本文采用 100 m 长的 YJV22−3×95 型 8.7/10 kV
交联聚乙烯电力电缆制作实验试样，将其截成 95 m
和 5 m，将 95 m 的电缆制作成终端头作为加速水树
老化长电缆试样，将 5 m 的电缆制作成单芯每根 500
mm 的短电缆试样。将制作好终端头的 95 m 长电缆
试样中部 250 mm 范围内的三相电缆剥出，将 A 相
做好相应防水密封措施且不作任何其他处理及老
化，并以此作为长电缆的新电缆试样。B 相不扎针
孔并浸入到质量分数为 20%的 NaCl 溶液中，以在
一定程度上模拟实际电缆运行时存在污水浸泡的情
况。C 相电缆中部用钢针（曲率半径为 2.5±0.5 μm）
制造人工针孔缺陷，孔深约 3 mm，孔间距为 5 mm，
针尖到内半导电层的距离为 1.8 mm，再浸入到质量
分数为 20%的 NaCl 溶液中，以充分模拟电缆集中
性水树老化而桥接绝缘层的情况。
将 500 mm 的短电缆试样两端约 100 mm 处的
外半导电层去除，剥除一端 50 mm 的绝缘层用于后
续引入高压，并作相关密封处理。将短实验电缆试
样分成 3 组，一组样本不另作任何处理且不施加电
压，作为空白对照的新电缆试样。一组制作了容器
并在容器内注入质量分数为 20%的 NaCl 溶液，同
时施加高频高压，作为运行受潮电缆试样。另一组
使用钢针在 250 mm 留有外半导电层的区域等间距
制作深度约为 3 mm 的人工针孔缺陷，在容器内注
入相同质量分数的 NaCl 溶液并施加高频高压，作
为水树老化电缆试样。
加速水树老化实验能够在短时间内使电缆绝
缘层内生成可观的水树缺陷，从而为电缆的极化/
去极化电流测试提供老化电缆试样。依据 IEC/TS
61956 试验标准，并结合已有研究成果和条件[14-15]，
采用水针电极老化法，并施加幅值为 7.5 kV，频率
为 400 Hz 的高频高压，以快速获取水树老化的电缆
试样。实验室老化短、长电缆试样设置如表 1 所示。
1.2 运行老化电缆试样
为了进一步丰富极化/去极化电流测试的电缆
黄 明，周 凯，黄科荣，等：基于 PDC 法的绝缘老化电缆低频损耗特性分析 961

收集了额定电压为 8.7/10 kV 的运行老化退

被试品， 10−2~104 s[17]。为保证电缆绝缘电介质的充分极化，
运电缆及现场在运电缆。4 根退运电缆均为电缆沟 极化时间应足够大，这样才能有效地对电缆绝缘层
内敷设的电缆，其服务运行年限有 5 a，13 a 和 20 a。 老化前后的绝缘状态进行评估和诊断。
但另一方面，
现场在运电缆 2 根，其中 1 根为直埋电缆，服务运 考虑到现场的实际情况，如计划停电时间较短、电
行年限为 12 a，另 1 根为电缆沟内敷设的变电站出 缆数量较多等，要求在能评估及诊断电缆老化问题
线电缆，其服务运行年限为 18 a。收集的运行老化 的基础上尽可能地缩短测试时间，因此在综合考虑
电缆试样的具体信息、参数及情况见表 2。 下我们将极化电流 ip 和去极化电流 idep 时间均设置
1.3 PDC 测试 为 90 s，电流总采样时间为 180 s。
电缆极化/去极化电流测试系统如图 1 所示，图 在测试过程中，Keithley 6485 皮安表所使用的
1 中 S、S1、S2 为真空继电器的 3 个触点。将待测电 采样频率为 15 Hz，测试采用 RS232 串行传输数据。
缆被试品的缆芯和屏蔽接地线分别与限流电阻端、 为消除开关抖动对测试结果的影响，将真空高压继
皮安表电流信号输入端相连。当测试开始时，工控 电器动作后 1 s 的电流数据剔除，以用于后期的数
机将高压继电器切换至 S1，高压直流电源、限流电 据分析和处理。所有电缆试样的测试均在室温条件
阻、皮安表、电缆试样构成完整回路，此时被测电 下进行。
缆处于极化状态。经过一定的极化时间之后，继电 表 1 实验室老化电缆试样设置
器切换至 S2，电缆试样、限流电阻和皮安表构成去 Table 1 Settings of laboratory-aged cable samples
极化回路，此时被测电缆处于去极化状态。在电缆 处理措施及老化情况

的极化和去极化过程中，皮安表负责测量和记录电 编号 试样 制作 制造 浸入 施加 老化
流数据，并将数据存储在皮安表的缓冲区内，然后 终端 针孔 溶液 电压 时间

通过 RS232 串口将记录的数据传送给工控机。 LAS1 500 mm 短电缆新试样 × × × × 无

为使该测试方法不对老化电缆试样的绝缘造
500 mm 短电缆运行受潮
成二次损伤，所施加的直流极化电压往往不超过电 LAS2 × × √ √ 36 d
试样
缆相额定电压的 40%，且文献[16]指出极化电压为
500 mm 短电缆实验老化
LAS3 × √ √ √ 36 d
相额定电压的 10%时也可检测出电缆内部绝缘的老 试样
化问题，因此本文采用 1 kV 电压对电缆进行极化/ LAL1 95 m A 相新电缆试样 √ × × × 无
去极化电流检测。此外，对于 XLPE 绝缘电缆，极 95 m B 相运行受潮电缆
LAL2 √ × √ √ 36 d
化过程中的能量损耗主要考虑的是取向极化损耗和 试样

界面极化损耗。取向极化建立时间为 10−5~10−2 s， LAL3

95 m C 相水树老化电缆
√ √ √ √ 36 d
试样
而 界面 极化建 立所 需时间 相对 比较长 ，通 常 为
注：√表示样本进行处理，×表示未处理。

表 2 退运及现场运行电缆试样详细信息
Table 2 Detail information of field-aged and in-service cable samples
编号 长度/m 型号 服务年限/a 情况说明
退运，三相均无明显水树，B 相绝缘中微孔尺寸较大且数量较多，电缆沟敷设，
FA1 1.90 YJV22−3×150 13
无中间接头，制作 2 个新热缩终端。
退运，三相均无明显水树，电缆沟敷设，无中间接头，保留一个老化终端，制
FA2 2.63 YJLV22−3×95 13
作一个新热缩终端。
退运，三相均无水树，B 相绝缘中微孔较其他两相多，电缆沟敷设，无中间接
FA3 2.45 YJV22−3×120 5
头，制作 2 个新热缩终端。
退运，三相均无明显水树，A 相绝缘中微孔较多，电缆沟敷设，无中间接头，
FA4 7.50 YJLV22−3×35 20
两端剥除 0.5 m 长的外半导电层。
FAS1 510 YJV22−3×240 18 在运，经震荡波测试无集中性缺陷，电缆沟敷设，无中间接头。
在运，因水树桥接导致绝缘击穿后截断，直埋电缆，无中间接头，截断一端剥
FAS2 280 YJLV22−3×50 12
除 0.5 m 长的外半导电层。
962 高电压技术 2019, 45(3)

函数 f(t)而言很小的情况下，同样地也可利用极化电
2 分析与讨论
流进行时域到频域的转换，从而获得如式(6)所示的
2.1 介电响应理论 电缆绝缘介质损耗因数与频率的关系。
假设电缆为理想平板电极，根据麦克斯韦方 2.2 介质损耗频率谱
程，当施加电压为 U(t)时，流经电缆绝缘的全电流 2.2.1 实验室老化电缆试样分析
i(t)可表示为 利用去极化电流通过式(6)求解，即可得被测试
 dU t  图 2 为实验室长电缆 LAL1
电缆的介质损耗频率谱。
i t   C0 t  
0
U C 0  
0 dt
(1) 与各短电缆试样串联的低频总介质损耗谱。由图 2
d t
可知，由于连接点靠近短电缆一侧的沿面泄露电流
C0  f  t U (t   )d 
dt 
较大，因此短电缆 LAS1 串接长电缆 LAL1 后的总
式中：C0 为电缆的几何电容；σ0 为 XLPE 绝缘层的
介质损耗因数与长电缆 LAL1 相比有一定幅度的增
直流电导率；ε0 为真空介电常数；ε∞为 XLPE 材料
大。在短电缆新试样被制作人工针孔缺陷后，由于
介电常数的高频分量；f(t)是反映绝缘电介质慢极化
电 缆绝 缘的电 导率 有所增 大 ， 因此它 与长 电 缆
行为的响应函数；τ 为积分时间常数。 LAL1 串联后的低频段介质损耗因数稍有增大。当
若电缆被试品在充电前已经完全放电，且在
短电缆经受潮或水树老化后，LAS2、LAS3 分别与
t=0 时刻外接直流电源 U0，则极化电流可表达为
长电缆 LAL1 串联后的总介质损耗因数均显著增
0 
ip  C 0U 0   f t   (2)
 0 
当 t=tc（tc 为充电时间）时，电缆被试品对地
短接，此时的去极化电流表达式为[18]
id e p   C 0U 0
f t  (3)
当测试时间足够长时，联立式(2)和式(3)即可计
算出电缆 XLPE 绝缘的直流电导率
0
 0
 i t   i t 
p dep (4)
C 0U 0

假设电缆的 XLPE 绝缘电介质的介电响应函数

f(t) 服 从 “Curie-von Schweidler” 模 型 ， 则 可 利 用 图 1 电缆极化/去极化电流测试系统
Fourier 变换进行时域到频域的简单转换[19-22]，那么 Fig.1 PDC detection system for cable samples
对式(1)做 Fourier 变换可得频域电流表达式
  0 
I    j C 0U      0  χ     j  χ       
 
   0  (5)
j C 0 ε U   
式中：ω 为角频率；χ(ω)是介电响应函数 f(t)的
Fourier 变换；χ′(ω)反映的是介质束缚电荷的能力；
χ″(ω)反映的是有损极化带来的损耗；ε 为介电常数。
因此，电缆绝缘介质总损耗因数与频率的关系为[23]
        0      
ta n    
0
   (6)
                 
式中：ε(ω)为介电函数；ε′(ω)代表总的极化强度；
ε″(ω)代表极化过程中的电导损耗和极化损耗之和。 图 2 实验室长电缆新试样与短电缆试样串联的
等式右边第一项为电导损耗，第二项为极化损耗， 低频介质损耗谱
两者之和为介质总损耗。 Fig.2 Low-frequency dielectric loss spectrums of new long
在极化电流的直流电导部分相对于介电响应 cable in series with short cables in the laboratory
黄 明，周 凯，黄科荣，等：基于 PDC 法的绝缘老化电缆低频损耗特性分析 963

大，且后者的增大幅度更为明显。由此可说明，电
缆的低频介质损耗因数对电缆绝缘受潮及水树老化
的表征极具灵敏性。
图 3 为长电缆 LAL2 和 LAL3 在老化前后的低
频总介质损耗谱。同样可发现，LAL3 扎针前在 0.1
Hz 下的介质损耗因数为 2×10−4，而扎针后增大至
3×10−4。这是由于在电缆上制作针孔缺陷将使得局
部的绝缘厚度减小，其电导损耗将会在一定程度上
增加，从而导致总低频介质损耗有所增加。老化前
的 LAL2 和 LAL3 绝缘性能良好，在 0.1 Hz 下的介
质损耗因数均在 2×10−4 以下；而老化后在 0.1 Hz 图 3 实验室长电缆老化前后的低频介质损耗谱
下的介质损耗因数均在 2×10−3 左右，其绝缘性能明 Fig.3 Low-frequency dielectric loss spectrums of laboratory
显下降。参考 IEEE Std 400TM-2001 国际标准，若 long cables before and after aging
2U0 下介质损耗因数在超低频 0.1 Hz 下大于 1.2×10−3，
则表明电缆存在绝缘老化现象。尽管其测试电压与
本文所施加电压的大小不同，但仍然可判断长电缆
LAL2 和 LAL3 在加速老化后其绝缘老化均较为明显。
根据短电缆老化试样切片的微观观察，水树老
化 36 d 后，绝缘中水树长度在 300 μm 左右，水针
及水树对电缆绝缘厚度的桥接占比为 40%。由于实
验室老化电缆总长度为 95 m，而水树老化区段长为
250 mm，因此可知该诊断对电缆区段的水树老化评
估及诊断的灵敏度（水树老化区段占被测试电缆总
长度的比重）可达到 2.63×10−3。与老化后的 LAL3
相比，LAL2 同样经过了 36 d 的高频高压老化，其
图 4 实验室长电缆试样串联老化前后的低频介质损耗谱
总介质损耗值却与 LAL3 相差不大，说明低频下的
Fig.4 Low-frequency dielectric loss spectrums of laboratory
介质损耗不仅能发现电缆绝缘中存在的桥接较长的
long cable sample series before and after aging
水树老化缺陷[24-25]，也能诊断出电缆绝缘表面受潮
或长度较短的水树。
图 4 为实验室长电缆串联在老化前后的低频介
质损耗谱。不难发现，由于老化前电缆各相绝缘性
能良好，因此其串联后在 0.1 Hz 下的介质损耗因数
在 3×10−4 以下，远小于 1.2×10−3。而经过老化的
LAL2 和 LAL3 与新电缆参照试样 LAL1 串联后，
在 0.1 Hz 下的介质损耗均没有达到 1.2×10−3。因此
可知，随着电缆长度的增加，0.1 Hz 低频损耗对电
缆区段水树老化诊断的灵敏度将逐步下降。
2.2.2 运行老化电缆试样分析 图 5 不同服务年限退运电缆的低频介质损耗谱
为了进一步证实低频介质损耗对电缆绝缘老 Fig.5 Low-frequency dielectric loss spectrums of field-aged
化表征的有效性及可靠性，对退运电缆及现场运行 cables with different service years
电缆的检测结果进行了对比分析。图 5 为在实验室
测试获得的不同服务年限退运电缆的低频介质损耗 存在一定差异，这有可能是不同相的带负载情况不
谱。由图 5 可知，同一电缆不同相的低频介质损耗 同造成的。同种敷设方式相同运行年限的电缆，其
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低频介质损耗因数相差不大。对同一敷设方式下不
同运行年限的电缆而言，电缆的低频介质损耗与运
行年限成正相关性。
图 6 为在现场条件下测试获得的不同服务年限
在运电缆的低频介质损耗谱。现场电缆由于带负荷
长期服务运行，故电缆绝缘处于工频电压的充分预
热状态。已有研究表明，水树老化电缆在停电一段
时间后存在绝缘性能的自恢复现象[16]，因此现场运
行电缆的低频介质损耗因数比实验室测试的退运电
缆的低频损耗大。由图 6 可知，FAS1 和 FAS2 这 2
根在运电缆，在 0.1 Hz 下的低频损耗因数均显著大
于 1×10−3 数量级，且同一电缆三相的低频介质损耗 图 6 不同服务年限现场运行电缆的低频介质损耗谱
因数大小相近，其随频率的变化趋势也基本保持一 Fig.6 Low-frequency dielectric loss spectrums of in-service
致。但是，与电缆沟内敷设的电缆相比，直埋方式 cables with different service years
敷设的电缆在相对较少的运行年限下却呈现出较大
的低频介质损耗。
2.3 不对称性分析
值得注意的是，极化电流可认为是去极化电流
与传导电流之和，若极化电流的直流电导部分相对
于介电响应函数 f(t)而言很小，则也可利用极化电流
来求解电缆的低频介质损耗因数。图 7 所示为测试
电压为 1 kV 下实验室长电缆 LAL3 试样在老化前后
的电导、极化及总介质损耗随频率的变化曲线。由
图 7(a)可知，低频下（如 0.1 Hz）式(6)中 ωε0 的数
量级为 10−11，远大于 σ0（良好 XLPE 绝缘材料的 σ0
在 10−16 S/m 数量级）
，此时新电缆绝缘介质的介质
损耗以极化损耗为主，几乎可忽略电导损耗，其总
损耗因数基本与极化损耗一致。对于新电缆而言，
由于电缆绝缘电导及电导损耗都很小，因此基于极
化电流与基于去极化电流的介质损耗计算结果保持
一致性。而由图 7(b)可知，水树老化后电缆的电导
损耗和极化损耗均明显增加，因水树桥接了较长的
局部电缆绝缘，故其电导损耗相对于极化损耗而言
异常增大，这导致基于极化电流和基于去极化电流
的介质损耗因数的计算结果在超低频段（如 0.1 Hz）
不具有一致性，即呈现了一定的不对称性。 图 7 实验室长电缆试样老化前后的电导、极化及总介质损
为了能有效而准确地分析电缆在低频下极化 耗随频率的变化曲线
与去极化电流介质损耗的不对称情况，并找出其在 Fig.7 Change curves of conductance, polarization and total
电缆不同类型老化问题下的变化趋势，必须有一个 dielectric loss of the laboratory long cable samples before and
量化的参数。因此，引入了低频损耗不对称系数， after aging
其定义如下
ta n   p o l, 1 k V ,0 .1 Hz 式中，低频损耗不对称系数 Kas 等于 1 kV 测试电压
K as  (7)
ta n   d e p o l,1 k V ,0 .1 H z  下 0.1 Hz 处极化电流介质损耗因数与去极化电流介
黄 明，周 凯，黄科荣，等：基于 PDC 法的绝缘老化电缆低频损耗特性分析 965

质损耗因数的比值。
选取测试电压为 1 kV 时实验室各电缆试样在
0.1 Hz 下的极化、去极化的介质损耗因数值，用于
电缆老化前后其极化和去极化电流介质损耗因数的
不对称性分析。图 8 为实验室各电缆试样在 0.1 Hz
下的极化−去极化介质损耗因数谱。由图 8 可知：1）
新长电缆及其与新短电缆试样串接时，电缆绝缘相
对良好，其极化与去极化电流的介质损耗因数具有
较好的一致性（0.8<Kas<1.2）
，且总介质损耗因数通
常小于 1×10−3 数量级；2）对于未扎针进行加速老
化的电缆试样（模拟电缆运行过程中表面受潮情 图 8 实验室各电缆试样 0.1 Hz 的极化−去极化
况）
，其去极化电流介质损耗因数大于极化电流的介 介质损耗因数谱
质损耗因数（Kas<1），且其总介质损耗因数将会大 Fig.8 Polarization-depolarization dielectric loss spectrum at
于 1.2×10−3；3）对于扎针后进行加速水树老化的电 0.1 Hz of the laboratory cables
缆试样（模拟电缆运行过程中水树老化桥接绝缘的
情况），
其极化电流介质损耗因数大于去极化电流的
介质损耗因数（Kas>1.2），且其总介质损耗因数将
会大于 1.2×10−3；4）值得一提的是，随着串接良好
绝缘的电缆后其整体电缆长度的增加，极化−去极
化损耗不对称性对电缆老化问题的灵敏度有所下降。
从实验室老化电缆的实验结果可知，极化−去
极化电流低频介质损耗谱及其对称性能够较为准确
地反映电缆绝缘存在水树老化及受潮问题，且低频
损耗对 XPLE 材料电缆绝缘老化的检测具有更高的
灵敏性。此外，同样对退运及现场运行电缆的极化
−去极化介电损耗因数谱进行了对比分析。图 9 为 图 9 退运及现场运行电缆试样在 0.1 Hz 下的极化−去极化
退运及现场在运电缆试样在 0.1 Hz 下的极化−去极 介质损耗因数谱
化介质损耗因数谱。退运电缆 FA1、FA2 和 FA3 试 Fig.9 Polarization-depolarization dielectric loss spectrum at
样各相在 0.1 Hz 下的低频介质损耗均小于 1.2×10−3 0.1 Hz of field-aged and in-service cables
，但 FA1 与 FA3 试样的 B 相及 FA2
（绝缘相对良好）
试样的三相的低频损耗不对称系数均大于 1，呈现 因此，对于电缆的集中性缺陷（如桥接绝缘层
出了电缆终端接头老化及绝缘中存在较多微孔的问 较长的水树、接头问题、大量微孔等）
，其极化电流
题。退运电缆 FA4 试样运行年限相对较长，其各相 介质损耗因数通常大于去极化电流介质损耗因数
在 0.1 Hz 下的低频介质损耗均显著大于 1.2×10−3， （Kas>1.2）；对于电缆的整体性绝缘劣化（如受潮、
而 B 相绝缘中微孔数量较多，导致其低频损耗不对 少量微孔、微小水树等）
，其极化电流介质损耗因数
称系数大于 1。在运电缆 FAS1 试样的三相经振荡 却不大于去极化电流介质损耗因数（Kas<1）
。
波检测均并未发现集中性缺陷，因此为整体性绝缘
3 结论
氧化或未形成桥接的水树老化，在 0.1 Hz 下的低频
介质损耗均在 1×10−2 数量级，且此时低频损耗不对 1）低频介质损耗谱不仅能发现绝缘中的桥接
称系数小于 1。对在运电缆 FAS2 试样而言，其三 较长的水树老化缺陷，而且能诊断出电缆绝缘受潮
相在 0.1 Hz 下的低频介质损耗均大于 1×10−1，且 B 或长度较短的水树。随着电缆长度的增加，低频介
相与 C 相的不对称系数大于 1，这与电缆因水树老 质损耗频率谱对电缆区段的水树老化评估及诊断的
化桥接而导致绝缘本体击穿的实际情况相符。 灵敏度将逐步下降。
966 高电压技术 2019, 45(3)

2）对于集中性缺陷，电缆的极化电流介质损 721-729.
[11] 王雅群，尹 毅，李旭光，等. 等温松弛电流用于 10 kV XLPE 电
耗因数通常大于去极化电流介质损耗因数；而对于
缆寿命评估的方法[J]. 电工技术学报，2009，24(9)：33-37.
电缆的整体绝缘劣化，其极化电流介质损耗因数却 WANG Yaqun, YIN Yi, LI Xuguang, et al. The method of lifetime

不大于去极化电流介质损耗因数，因此可利用极化 evaluation on 10 kV XLPE cables by isothermal relaxation current[J].

−去极化电流介质损耗因数在低频下的不对称性来
诊断电缆不同类型的老化问题。
3）通过实验室老化电缆与运行老化电缆的测
试结果的对比分析，进一步证实了极化−去极化低
频介质损耗谱及其不对称性能够较为准确地反映电
缆绝缘不同类型的老化问题。
参考文献 References
[1] 陈 涛，魏娜娜，陈守娥，等. 交联聚乙烯电力电缆水树产生机理、
检测及预防[J]. 电线电缆，2009(4)：1-3.
CHEN Tao, WEI Nana, CHEN Shoue, et al. Mechanism, detection and
prevention of water treeing in XLPE power cables[J]. Electric Wire &
Cable, 2009(4): 1-3.
[2] ROSS R. Inception and propagation mechanisms of water treeing[J].
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 1998, 5(5):
660-680.
[3] 袁 野，陈 剑，贾志东，等. 10 kV XLPE 电缆受潮绝缘特性研
究[J]. 电网技术，2014，38(10)：2875-2880.
YUAN Ye, CHEN Jian, JIA Zhidong, et al. Study about insulating
properties of 10 kV XLPE damp cable[J]. Power System Technology,
2014, 38(10): 2875-2880.
[4] BOGGS S, DENSLEY J, KUANG J. Mechanism for impulse conver-
sion of water trees to electrical trees in XLPE[J]. IEEE Transactions on
Power Delivery, 1998, 13(2): 310-315.
[5] WALTER S. ZAENGL. Dielectric spectroscopy in time and frequency
domain for HV power equipment, part I: theoretical considera-
tions[J]．IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation,
2003, 19(5): 5-19.
[6] ABOU D M A, BULINSKI A, BAMJI S S. On-site diagnostics of
medium-voltage underground cross-linked polyethylene cables[J].
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 2011, 27(4):
34-44.
[7] OYEGOKE B, BIRTWHISTLE D, LYALL J. New techniques for
determining condition of XLPE cable insulation from polarization and
depolarization current measurements[C]∥IEEE International Confer-
ence on Solid Dielectrics. Winchester, UK: IEEE, 2007: 150-153.
[8] OYEGOKE B, BIRTWHISTLE D, LYALL J. Condition assessment of
XLPE cable insulation using short-time polarisation and depolarisation
current measurements[J]. IET Science Measurement & Technology,
2008, 2(1): 25-31.
[9] KUSCHEL M, KRYSZAK B, KALKNER W. Investigation of the
non-linear' dielectric response of water tree-aged XLPE cables in the
time and frequency domain[C]∥IEEE International Conference on
Conduction and Breakdown in Solid Dielectrics. Vasteras, Sweden:
IEEE, 1998: 85-88.
[10] YE G, LI H, LIN F, et al. Condition assessment of XLPE insulated
cables based on polarization/depolarization current method[J]. IEEE
Transactions on Dielectrics & Electrical Insulation, 2016, 23(2):
Transactions of China Electrotechnical Society, 2009, 24(9): 33-37.
[12] 刘 刚，金尚儿，梁子鹏，等. 基于等温松弛电流法和活化能法的
110 kV XLPE 电缆老化状态评估[J]. 高电压技术，2016，42(8)：
2372-2381.
LIU Gang, JIN Shang’er, LIANG Zipeng, et al. Aging state assessment
of 110 kV XLPE cable based on isothermal relaxation current method
and activation energy method[J]. High Voltage Engineering, 2016,
42(8): 2372-2381.
[13] 张福忠，周 凯，谢 敏，等. XLPE 水树老化电缆介电响应下非
线性研究[J]. 绝缘材料，2018，51(2)：51-56.
ZHANG Fuzhong, ZHOU Kai, XIE Min, et al. Research of nonlinear
dielectric response of water tree-aged XLPE cable[J]. Insulating Mate-
rials, 2018, 51(2): 51-56.
[14] 周 凯，杨明亮，黄 明，等. 有机硅修复后水树电缆在电热老化
下的电气性能和微观结构变化[J]. 高电压技术，2017，42(5)：
1656-1663.
ZHOU Kai, YANG Mingliang, HUANG Ming, et al. Changes of elec-
trical properties and micro structures of water-tree cables rejuvenated
by siloxane during the process of electrical-thermal aging[J]. High
Voltage Engineering, 2017, 42(5): 1656-1663.
[15] ZHOU K, ZHAO W, TAO X. Toward understanding the relationship
between insulation recovery and micro structure in water tree degraded
XLPE cables[J]. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insu-
lation, 2013, 20(6): 2135-2142.
[16] BIRKNER P. Field experience with a condition-based maintenance
program of 20 kV XLPE distribution system using IRC-analysis[J].
IEEE Transactions on Power Delivery, 2004, 19(1): 3-8.
[17] BEIGERT M, KRANZ H G. Destruction free ageing diagnosis of
power cable insulation using the isothermal relaxation current analy-
sis[C] ∥ Conference Record of the 1994 IEEE International
Symposium on Electrical Insulation. Pittsburgh, USA: IEEE, 1994:
17-21.
[18] 吴广宁，宋臻杰，杨飞豹，等. 基于时域介电谱和去极化电量的变
压器油纸绝缘老化特征量研究[J]. 高电压技术，2017，43(1)：
195-202.
WU Guangning, SONG Zhenjie, YANG Feibao, et al. Study on aging
characteristics of transformer oil-paper insulation based onthe time
domain dielectric spectroscopy and depolarization charge quantity[J].
High Voltage Engineering, 2017, 43(1): 195-202.
[19] FARAHANI M, BORSI H, GOCKENBACH E. Dielectric response
studies on insulating system of high voltage rotating machines[J].
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 2006, 13(2):
383-393.
[20] HELGESON A, GAFVERT U. Dielectric response measurements in
time and frequency domain on high voltage insulation with different
response[C]∥IEEE International Symposium on Electrical Insulating
Materials.Toyohashi, Japan: IEEE, 1998: 393-398.
[21] MOPSIK F I. Relaxation. The quantitative application of time-domain
techniques to dielectrics[J]. IEEE Transactions on Dielectrics and
Electrical Insulation, 2002, 9(5): 829-837.
[22] FARAG N, HOLTEN S, WAGNER A, et al. Numerical transfor-
黄 明，周 凯，黄科荣，等：基于 PDC 法的绝缘老化电缆低频损耗特性分析 967

mations of wide-range time- and frequency-domain relaxational spec-
tra[J]. IEE Proceedings-Science, Measurement and Technology, 2003,
150(2): 65-74.
[23] SHAYEGANI A A, GOCKENBACH E, BORSI H, et al. Investigation
on the transformation of time domain spectroscopy data to frequency
domain data for impregnated pressboard to reduce measurement
time[J]. Electrical Engineering, 2006, 89: 11-20.
[24] WERELIUS P, THARNING P, ERIKSSON R. Dielectric spectroscopy
for diagnosis of water tree deterioration in XLPE cables[J]. IEEE
Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 2001, 8(1):
27-42.
[25] BOLARIN O, PETRI H, MARTTI A, et al. Application of dielectric
response measurement on power cable systems[J]. IEEE Transactions
on Dielectrics and Electrical Insulation, 2003, 10(5): 862-873.

黄 明 黄科荣(通信作者)
1990—，男，硕士 1993—，男，硕士生
主要从事电缆绝缘老化及状态监测方面的研究 主要从事高电压绝缘技术及应用研究
E-mail: hm_scu@163.com E-mail: 18328584005@163.com

HUANG Ming HUANG Kerong

周 凯 Corresponding author
1975—，男，博士，教授，博导
主要从事电缆状态监测及固体电介质方面的研究
E-mail: zhoukai_scu@163.com

ZHOU Kai
收稿日期 2018-08-10 修回日期 2018-10-16 编辑 何秋萍
Ph.D., Professor