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유럽 ct주기
유럽 ct주기
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부록
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표 8. 품질 관리 테스트 요약
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
2.1.1 X선-광선 얼라인먼트 테스트 대상, 정렬: SID의 ±2% 중심 3~6개월 [4, 5]
정렬 및 센터링 감쇠기 맞춤: SID의 ±1%
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
2.2.1 X선-광선 얼라인먼트 테스트 대상, 정렬: SID의 ±2% 중심 3~6개월 [4, 5]
정렬 및 센터링 감쇠기 맞춤: SID의 ±1%
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표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
2.2.7 KAP 미터 정확도 고체 검출기 또는 이온 독립형 KAP 미터: ±25% 그렇지 연간 [9‒11]
화 챔버, 않은 경우: ±35%
판 또는 필름, 자 또는
측정 테이프, Pb
그릇
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
2.2.13 낮은 콘트라스트 감지 가능성 저대비 테스트 방사선 전문의와 방사선사가 6 개월 [13, 16]
물체, 감쇠기 결정
(예: Cu 플레이트, PMMA)
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표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
2.2.21 이미지 균일성 및 Cu 판(두께 1mm) 또 MPV: 평균 mAs 값의 연간(계산 [4, 12, 16]
컴퓨터 방사선 촬영 는 PMMA(20cm) ±20%: 평균의 ±5% 인 방사선 촬영: 6개월)
플레이트 감도 매칭 공물 없음
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
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표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
4.1.1 이미지 수용체 균일성 PMMA 슬래브(두께 전체 이미지에서 MPV의 ±15% 주간 [18]
- 주간 테스트(컴퓨터 방사 45mm) 또는
선 촬영 및 디지털 방사선 제조업 자
촬영) 환상
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표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
4.2.2 검출기 정렬, 컴퓨터 방사선 촬영 흉벽 쪽 조직 누락: ±5 mm 연간 및 애프터 서비스/ [18, 19]
검출기 영역에 대한 X선 필 접시 또는 대사
드 정렬 자체 개발 필름, 그렇지 않은 경우: 섹션 4.2.2.5 참조
방사선 불 투과성 도구,
인광 스트립,
금속박, PMMA
석판
4.2.5 AEC 재현성 PMMA 슬래브(두께 컴퓨터 방사선 촬영 및 디지털 방 6 개월 [18, 20, 21]
45mm), Al 플레이트(두 사선 촬영: SDNR의 ±5% COV
께 0.2cm), 이온화
챔버(필름용‒ 필름-스크린 시스템: 입사 공기
화면 시스템) 커마의 ±5%
표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
4.2.10 이미지 수용체 균일성 PMMA 슬래브(두께 국소 균일성: ±5% 연간 [20, 21]
— 연간 테스트(컴퓨터 방 45mm) 전체 균일성: ±10%(디지
사선 촬영 디지털 털 방사선 촬영에만 해당)
방사선 촬영)
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표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
4.2.12 고스팅(계산됨 PMMA 슬래브(두께 고스트 이미지 SDNR ≤2.0 연간 및 애프터 디텍터 [18]
방사선 촬영 및 디지털 방 45mm) 대사
사선 촬영)
4.2.13 컴퓨터 방사선 촬영 PMMA 슬래브(두께 MPV, SNR, 노출 지수: 평균의 연간 및 새 카세트용 [18, 20]
플레이트 민감도 매칭(컴퓨 45mm) ±15% 및 참조 이미지 해당 값의
터 방사선 촬영 ±20%
오직)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
5.1.1 일일 시작 절차 일일 [23]
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표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
6.1.1 이미지 표시의 일상적인 AAPM TG18-QC 테스트 인접한 단계는 월간 간행물 [23]
점검 무늬 구별할 수 있는
대비가 낮은 모든 삽입 패치가
보입니다.
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표 8. 품질 관리 테스트 요약(계속)
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
6.2.1 이미지 디스플레이 시스템 AAPM TG18-QC 테스트 표 7 참조 연간 [23, 24, 31]
무늬
부분 제목 장비 용인 빈도 참조
7.1.8 내광성 및 필름, 골판지 상자, 눈에 보이는 그림자 없음 6개월 및 필요에 따라 [4, 33]
암실의 safelight 조명 동전, 시계
메모: QC: 품질 관리; SID: 소스-이미지 거리; PMMA: 폴리메틸 메타크릴레이트; AEC: 자동 노출 제어; IEC: 국제전기기술위원회; COV: 변동 계수;
KAP: 커마 면적 곱; MPV: 평균 픽셀 값; AERC: 자동 노출 속도 제어; SDNR: 신호 차이 대 잡음비; CT: 컴퓨터 단층촬영; CTDI: CT 선량 지수;
와이: 방사선 출력;티: 노출 시간;씨권: 체적 CTDI;씨공기: 공기 중에서 측정한 CTDI.
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참조
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