Iec 60079-18-2017

I E C 60079-1 8
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Edition 4.1 201 7-08
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E xpl o si ve atm osph eres –
Part 1 8: E q u i pm en t pro tecti on b y en capsu l ati on “ m ”
Atm osph ères expl osi ves –
Parti e 1 8: Protecti on d u m atéri el par en capsu l ag e " m "

IEC 60079-1 8:201 4-1 2+AMD1 :201 7-08 CSV(en-fr)
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Atm o sph ères expl osi ves –
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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
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CONTENTS
FOREWORD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2 N orm ati ve references . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
3 Term s and defi n i ti ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
4 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 1 Level of protecti on (equ i pm ent protecti on level (EPL) ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 2 Addition al requ irem ents for l evels of protecti on “m a” and “m b” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 3 Addition al requ irem ents for l evel of protecti on “m a” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 4 Rated vol tag e an d prospecti ve sh ort circu it curren t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5 Requ irem en ts for com poun ds . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 2 Specificati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 3 Properties of th e com pou nd . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 3. 1 Water absorption . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 3. 2 Di el ectric stren g th . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
6 Tem peratu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 2 Determ i nation of th e l im iting tem peratures . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 2. 1 Maxim um surface tem peratu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 2. 2 Tem perature of th e com pou n d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 3 Tem peratu re lim itati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
7 Constru ction al requ irem ents . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
7. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
7. 2 Determ i nation of fau lts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
7. 2. 1 Faul t exam in ati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
7. 2. 2 Com pon en ts considered as n ot su bj ect to fail . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
7. 2. 3 I sol ati ng com pon ents . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
7. 2. 4 I nfal li bl e separation distances . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
7. 3 Free space in th e encapsu lation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
7. 3. 1 Group I I I “m ” equ i pm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
7. 3. 2 Group I an d G rou p I I “m ” equ i pm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
7. 4 Thickness of th e com pou nd . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
7. 4. 1 “m ” equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
7. 4. 2 Windings for el ectrical m ach i n es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
7. 4. 3 Ri g i d, m ulti-l ayer prin ted wiri n g boards wi th throu g h conn ecti ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
7. 5 Switch in g contacts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
7. 5. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
7. 5. 2 Level of protecti on “m a” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 5. 3 Level of protecti on “m b” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 5. 4 Level of protecti on “m c” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 6 Extern al con n ecti ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 6. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 6. 2 Addi ti on al requ irem ents for “m a” equ i pm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 7 Protecti on of bare li ve parts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 8 Cel ls and batteries . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 8. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV –3–
 I EC 201 7
7. 8. 2 Preven ti on of gassi ng . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
7. 8. 3 Protecti on ag ainst i n adm i ssible tem peratures an d dam ag e to th e cel ls
or batteri es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
7. 8. 4 Reverse curren t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
7. 8. 5 Cu rrent lim itation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
7. 8. 6 Protecti on ag ainst the pol ari ty i n version and deep disch arge of the cel ls . . . . . . . 23
7. 8. 7 Ch argi n g of cells or batteri es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
7. 8. 8 Requirem en ts for con trol safety devices for cel ls or batteries . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
7. 9 Protecti ve devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
7. 9. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
7. 9. 2 Electrical protecti ve devi ces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
7. 9. 3 Therm al protective devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
7. 9. 4 Bui lt-in protecti ve devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8 Type tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 1 Tests on th e com poun d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 1 . 1 Water absorption test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 1 . 2 Di el ectric stren g th test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 2 Tests on th e apparatus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 2. 1 Test sequ ence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 2. 2 Maxim um tem perature . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
8. 2. 3 Therm al en durance test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
8. 2. 4 Di el ectric stren g th test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
8. 2. 5 Cable pu l l test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
8. 2. 6 Pressure test for Grou p I an d Grou p I I el ectrical equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
8. 2. 7 Test for resettable therm al protective device. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
8. 2. 8 Seal i ng test for bu ilt-i n protective devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
9 Routin e verifications an d tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
9. 1 Visu al i nspections . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
9. 2 Dielectric stren g th test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
1 0 Markin g . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
Ann ex A (inform ati ve) Basic requ irem ents for com poun ds for “m ” equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Ann ex B (inform ati ve) All ocation of test sam pl es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
Ann ex C (n orm ative) Diel ectric stren g th test between circu its an d en viron m ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
C. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
C. 2 Batch test procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
Bibl i ograph y . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
Fig u re 1 – Dim ensional key for th ickness throu g h the com pou n d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
Fig u re 2 – M in im um distances for m ulti-l ayer prin ted wiri n g boards . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
Fig u re 3 – Fi tti ng of blocking diodes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Fig u re A. 1 − Basic requ irem ents for com pou nds for “m ” equ ipm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Tabl e 1 – Distances throug h the com pou n d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5

Tabl e 2 – M in im um th ickness of com pou nd adj acen t to free space for Group I I I “m ”
equ i pm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
Tabl e 3 – M in im um th ickness of com pou nd adj acen t to free space for Group I an d
Grou p I I “m ” equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
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 I EC 201 7
Tabl e 4 – Th ickness of th e com poun d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
Tabl e 5 – M in im um distances for m ulti-l ayer prin ted wiri n g boards . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
Tabl e 6 – Test pressu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
Tabl e B. 1 − All ocation of test sam pl es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV –5–
 I EC 201 7
I NTERNATI ON AL ELECTROTECH NI CAL COMMI SSI ON
____________
EXPLOSIVE ATMOSPHERES –
Part 1 8: Equipment protection by encapsulation “m”
FOREWORD
1 ) Th e I n ternati on al El ectrotechn i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org ani zati on for stan dardi zati on com pri si n g
al l n ati on al el ectrotech ni cal com m i ttees (I EC N ati onal Com m i ttees) . The obj ect of I EC i s to prom ote
i n ternati on al co-operati on on al l q uesti on s concern i n g stand ardi zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el ds. To
thi s en d and i n addi ti on to other acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n ternati on al Stan dards, Tech n i cal Speci fi cati ons,
Tech ni cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati ons (PAS) an d Gu i des (h ereafter referred to as “I EC
Publ i cati on (s) ”) . Th ei r preparati on i s entru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I EC N ati on al Com m i ttee i nterested
i n th e su bj ect deal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work. I nternati on al , g overn m ental an d n on -
g overn m ental org an i zati ons l i ai si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on . I EC col l aborates cl osel y
wi th th e I n tern ati onal Org an i zati on for Stan d ardi zati on (I SO) i n accordan ce wi th con di ti on s determ i ned by
ag reem en t between th e two org an i zati on s.
2) Th e form al deci si on s or ag reem en ts of I EC on tech ni cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i nternati on al
con sen su s of opi ni on on th e rel evant su bj ects si n ce each tech ni cal com m i ttee h as representati on from al l
i n terested I EC N ati on al Com m ittees.
3) I EC Pu bl i cati ons h ave th e form of recom m endati ons for i n tern ati onal use an d are accepted by I EC N ati onal
Com m i ttees i n th at sense. Whi l e al l reasonabl e efforts are m ade to ensure th at th e tech n i cal content of I EC
Publ i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are used or for an y
m i si nterpretati on by an y en d u ser.
4) I n order to prom ote i n tern ati onal u ni form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees un d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s
transparentl y to the m axi m um extent possi bl e i n th ei r nati on al an d reg i on al publ i cati ons. An y d i verg ence
between an y I EC Pu bl i cati on an d the correspon di ng nati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n di cated i n
the l atter.
5) I EC i tsel f d oes n ot provi de an y attestati on of con form i ty. I n depen den t certi fi cati on bodi es provi de conform i ty
assessm ent servi ces and, i n som e areas, access to I EC m arks of con form i ty. I EC i s not respon si bl e for an y
servi ces carri ed out by i nd ependen t certi fi cati on bodi es.
6) Al l users shou l d ensu re that th ey h ave th e l atest edi ti on of thi s pu bl i cati on .
7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I EC or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag ents i ncl u di n g i n di vi du al experts an d
m em bers of i ts tech ni cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or
oth er dam ag e of an y n ature wh atsoever, wh eth er di rect or i ndi rect, or for costs (i ncl u d i n g l eg al fees) and
expen ses ari si n g ou t of the publ i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , thi s I EC P u bl i cati on or any other I EC
Publ i cati on s.
8) Atten ti on i s drawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on. U se of the referenced pu bl i cati on s i s
i n di spen sabl e for the correct appl i cati on of thi s pu bl i cati on .
9) Atten ti on i s drawn to th e possi bi l i ty that som e of th e el em en ts of th i s I EC Publ i cati on m ay be the su bj ect of
patent ri g h ts. I EC shal l n ot be hel d respon si bl e for i denti fyi ng an y or al l such patent ri g hts.
DISCLAIMER
This Consolidated version is not an official IEC Standard and has been prepared for
user convenience. Only th e current versions of the standard and its amendment(s)
are to be considered th e official docu ments.
This Consolidated version of IEC 60079-1 8 bears th e edition number 4.1 . It consists of
the fourth edition (201 4-1 2) [documents 31 /1 1 52/FDIS and 31 /1 1 68/RVD] and its
amendment 1 (201 7-08) [documents 31 /1 323/FDIS and 31 /1 336/RVD]. The technical
content is identical to the base edition and its amendment.
In this Redline version, a vertical line in the margin shows where the technical content
is modified by amendment 1 . Additions are in green text, deletions are in striketh rough
red text. A separate Final version with all ch ang es accepted is available in this
publication.
–6– I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Standard I EC 60079-1 8 has been prepared by I EC tech nical com m ittee 31 : Equ ipm ent for
explosi ve atm osph eres.
This fou rth edi ti on constitutes a tech n ical revision.
This I n tern ati onal Stan dard is to be u sed i n conj u ncti on with I EC 60079-0, Explosive
atmospheres – Part 0: Equipment-General requirements.
This edi ti on incl u des the fol lowi ng si g n ifican t techn ical chan g es wi th respect to the previou s
edi tion:
Type
Explanation of th e signifi can ce of the ch anges Clause Minor and Extension Major
editorial techni cal
changes changes
Defi ni ti ons d el eted an d m oved to I EC 60079-0 3 X
H eadi n g m odi fi ed /add ed to cl ari fy whi ch req u i rem en ts are 4 X
addi ti on al requ i rem ents for “m a” l evel of protecti on on l y
Th erm al con du cti vi ty add ed 5. 2 X
N ote add ed th at i t i s n ot a requ i rem ent of thi s stan d ard that 5. 3. 2 X
conform i ty to th e m anu facturer` s speci fi cati on of th e
com poun d n eeds to be veri fi ed
Cl ari fi cati on ad ded 6. 2. 2 X
Cl ari fi cati on ad ded 7. 1 X
For th e determ i n ati on of fau l ts opti ons added and 7. 2 X
cl ari fi cati on g i ven
Addi ti onal i nform ati on i n cl u ded i n Fi gu re 1 7. 4. 1 X
“Varni sh and si m i l ar coati ng s are n ot con si dered to be sol i d 7. 4. 2 X
i nsul ati on . ” was added i n th i s secti on an d d el eted i n th e
defi n i ti on on 3. 8
For ri g i d, m u l ti -l ayer pri nted wi ri n g boards wi th th rou g h 7. 4. 3. 1 X
conn ecti on s ad di ti onal stan dards added
Protecti on ag ai n st i n adm i ssi bl e tem peratu res an d dam ag e 7. 8. 3 C1
to the cel l s
El ectri cal protecti ve d evi ces cl ari fi ed an d addi ti on al 7. 9. 2 X
possi bi l i ti es added
Th erm al protecti ve d evi ces cl ari fi ed an d ad di ti onal 7. 9. 3 X
2/3 vol tag e l i m i tati on d el eted 7. 9. 3 X
Determ i nati on of th e m axi m u m tem peratu re for “Da” fi xed 8. 2. 2 C2
Stabi l i zati on of th e tem perature 8. 2. 2 C3
Th erm al endu ran ce to h eat 8. 2. 3. 1 X
Tem peratu re fi xed as referen ce servi ce tem peratu res an d 8. 2. 3. 1 . 1 X
tests g i ven as al tern ati ves
For th e di el ectri c streng th test procedu re al ternati ve 8. 2. 4. 1 X
Al tern ati ve test m ethods for th e requi red pressu re test for 8. 2. 6 X
Group I an d Grou p I I el ectri cal equ i pm ent add ed
Seal i n g test for bui l d -i n protecti ve d evi ces 8. 2. 8 X
For th e di el ectri c streng th test procedu re al ternati ve 9. 2 X
Marki n g 10 X X
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV –7–
 I EC 201 7
Explanation of th e Types of Significant Chang es:
A) Defini tions
1. Minor and editorial chan ges: • Cl ari fi cati on
• Decrease of tech ni cal req u i rem en ts
• Mi n or techn i cal ch an g e
• Edi tori al correcti ons
Th ese are chan g es whi ch m odi fy requi rem en ts i n an edi tori al or a m i n or techn i cal way. They i ncl u de ch an g es of
th e wordi n g to cl ari fy tech ni cal requ i rem en ts wi th ou t an y tech ni cal ch an g e, or a red u cti on i n l evel of exi sti n g
req u i rem en t.
2. Exten sion: • Addi ti on of tech n i cal opti ons
Th ese are chan g es wh i ch add new or m odi fy exi sti ng tech n i cal req ui rem en ts, i n a way th at n ew opti ons are
g i ven , bu t wi th ou t i ncreasi ng requi rem en ts for equ i pm en t th at was fu l l y com pl i ant wi th th e previ ous stan dard.
Th erefore, these wi l l n ot h ave to be consi dered for produ cts i n conform i ty wi th the precedi n g edi ti on.
3. Major technical chang es: • addi ti on of tech ni cal requ i rem en ts
• i n crease of tech n i cal requ i rem en ts
Th ese are chan g es to tech ni cal requ i rem ents (addi ti on , i n crease of th e l evel or rem oval ) m ade i n a way th at a
product i n con form i ty wi th th e precedi ng edi ti on wi l l n ot al ways be abl e to fu l fi l th e req u i rem ents g i ven i n th e
l ater ed i ti on. Th ese ch ang es h ave to be consi dered for produ cts i n conform i ty wi th th e preced i n g edi ti on . For
th ese ch ang es addi ti onal i nform ati on i s provi d ed i n i tem B) bel ow.
N ote Th ese chan g es represen t cu rren t tech nol og i cal kn owl edg e. H owever, th ese chang es shoul d n ot n orm al l y
have an i n fl u ence on equi pm en t al read y pl aced on th e m arket.
B) Information about the background of ‘ Major technical changes’

C1 Cl au se 7. 8. 3 m odi fi ed an d addi ti on al requ i rem ents ad ded for cel l s or batteri es
C2 Th e fl exi bi l i ty g i ven i n I EC 60079-0 i s repl aced by a m i n. requ i rem ent. For l evel of protecti on “m a”
equi pm en t, desi g n ed for EPL “Da” the m axi m um su rface tem peratu re shal l be d eterm i n ed wi th th e eq u i pm ent
m oun ted i n accord ance wi th th e m an ufactu rer` s i nstru cti on s, and su rrou n ded on al l avai l abl e su rfaces by dust
wi th a l ayer thi ckn ess of at l east 200 m m
C3 The i ncrease of th e tem perature du ri n g th e test can be a very sl ow process. The fi nal tem peratu re shal l be
consi dered to h ave been reach ed when the rate of ri se of tem peratu re d oes not exceed 1 K/24 h
This publicati on has been drafted i n accordance wi th th e I SO/I EC Directives, Part 2.
A list of all th e parts i n th e I EC 60079 series, pu bl ish ed u n der th e gen eral title Explosive
atmospheres, can be fou nd on th e I EC website.
The com m ittee h as deci ded th at th e con ten ts of th e base pu blicati on an d its am en dm ent wi l l
rem ain unch an g ed u nti l th e stabi lity date i ndicated on the I EC web si te u n der
"http://webstore. iec. ch " in th e data rel ated to the specific pu bl ication. At this date, the
pu blication wi ll be
• reconfi rm ed,
• wi thdrawn ,
• replaced by a revised edi ti on, or
• am ended.
IMPORTANT – The 'colour inside' logo on the cover page of this publication indicates
that it contains colours which are considered to be useful for the correct
understanding of its contents. Users shou ld therefore print this docu ment u sing a
colour printer.
–8– I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
1 Scope
This part of I EC 60079 g ives th e specific requ irem en ts for th e constructi on , testi ng an d
m arking of electrical equ ipm en t, parts of el ectri cal equ i pm ent and Ex com pon ents with the
type of protecti on encapsu lati on “m ” inten ded for use i n explosi ve g as atm osph eres or
expl osi ve dust atm osph eres.
This part appli es on l y for encapsu lated el ectrical equ ipm ent, encapsu lated parts of electrical
equ i pm ent and encapsu lated Ex com pon ents (herei nafter al ways referred to as “m ”
equ i pm ent) wh ere th e rated voltag e does not exceed 1 1 kV.
The appl ication of electri cal equ ipm ent i n atm ospheres, wh ich m ay con tain explosi ve g as as
wel l as com bustibl e dust sim ul tan eousl y, m ay requ ire additi on al protecti ve m easures.
This stan dard does not appl y to dusts of explosives, wh ich do not requi re atm osph eric oxyg en
for com busti on , or to pyroph oric su bstances
This stan dard does not take accou nt of an y risk du e to an em ission of flam m able or toxic g as
from the du st.
This stan dard su pplem ents an d m odifies th e general requi rem en ts of I EC 60079-0. Where a
requ irem ent of th is stan dard confl icts with a requ irem en t of I EC 60079-0, th e requ irem en t of
th is stan dard takes precedence.
2 Normative references
The foll owi ng docum en ts, i n wh ole or i n part, are norm ati vel y referenced i n th is docum en t and
are in dispensabl e for i ts appl ication . For dated references, on l y the editi on cited appli es. For
un dated references, th e l atest editi on of th e referenced docum en t (i nclu ding an y
am endm ents) appli es.
I EC 60079-0, Explosive atmospheres – Part 0: Equipment – General requirements

IEC 60079-7, Explosive atmospheres – Part 7: Equipment protection by increased safety “e”
IEC 60079-1 1 , Explosive atmospheres – Part 11: Equipment protection by intrinsic safety “i”
IEC 60079-1 5, Explosive atmospheres – Part 15: Equipment protection by type of protection
"n"
IEC 60079-26, Explosive atmospheres – Part 26: Equipment with equipment protection level
(EPL) Ga
IEC 60079-31 , Explosive atmospheres – Part 31: Equipment dust ignition protection by
enclosure “t”
IEC 601 27 (al l parts) , Miniature fuses
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV –9–
 I EC 201 7
IEC 60243-1 ,Electrical strength of insulating materials – Test methods – Part 1: Tests at
power frequencies
IEC 60691 , Thermal-links – Requirements and application guide
IEC 60730-2-9, Automatic electrical controls for household and similar use – Part 2-9:
Particular requirements for temperature sensing controls
IEC 60738-1 , Thermistors – Directly heated positive temperature coefficient – Part 1: Generic
specification
IEC 61 1 40, Protection against electric shock – Common aspects for installation and
equipment
Safety of power transformers, power supplies, reactors and similar products –
I EC 61 558-1 ,
Part 1: General requirements and tests
I EC 61 558-2-6,Safety of transformers, reactors, power supply units and similar products for
supply voltages up to 1 100 V − Part 2-6: Particular requirements and tests for safety isolating
transformers and power supply units incorporating safety isolating transformers
I EC 62326-4-1 , Printed boards – Part 4: Rigid multilayer printed boards with interlayer
connections – Sectional specification – Section 1: Capability detail specification – Perform-
ance levels A, B and C
AN SI /U L 248 (all parts) , Standard for low-voltage fuses
AN SI /U L 746B, Standard for polymeric materials – Long term property evaluations
AN SI /U L 796, Printed-Wiring Boards
I PC-A-600, Acceptability of Printed Boards
I PC-601 2, Qualification and Performance Specification for Rigid Printed Boards
3 Terms and definitions
For th e pu rposes of th is docu m en t, th e term s an d defi n iti ons g i ven in I EC 60079-0 and the
fol lowi ng defin itions appl y.
NOTE Addi ti on al defi n i ti ons appl i cabl e to expl osi ve atm osph eres can be foun d i n I EC 60050-426.
3.1
encapsu l ation “m”
type of protection wh ereby parts th at are capable of ig n i tin g an expl osi ve atm osph ere by
either sparking or heati n g are fu l l y encl osed i n a com poun d or oth er n on -m etall ic enclosure
wi th adh esion in such a way as to avoi d i g nition of a dust layer or explosi ve atm osph ere u nder
operati n g or i nstal lation con ditions
3.2
temperatu re rang e of th e compoun d
ran g e of tem peratures wi thi n wh ich th e properti es of th e com poun d, i n eith er operati on or
storage, perm it com pl ian ce wi th th e requ irem en ts of I EC 60079-1 8
– 10 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
3.3
free surface
com pou n d surface exposed to the expl osive atm osph eres and/or dust l ayers
3.4
switch ing contact
m echan ical contact, wh ich m akes an d breaks an el ectrical circui t
3.5
adhesion
m oistu re, g as an d dust ti gh t perm an en t bon di ng of a com poun d to a su rface
3.6
countable fault
fau lt wh ich occurs in parts of el ectrical equ i pm ent conform in g to the constructi on al
requ irem ents
3.7
infallible separation
separation between electrical l y conducti ve parts that is consi dered as n ot su bj ect to sh ort
circui ts
3.8
solid insulation
insu l ati on m ateri al wh ich is extru ded or m ou l ded, bu t n ot poured
Note 1 to en try: I nsul ators fabri cated from two or m ore pi eces of el ectri cal i n su l ati n g m ateri al , wh i ch are sol i dl y
bon ded tog ether m ay be con si dered as sol i d.
4 General
4.1 Level of protection (equipment protection level (EPL))
Electrical equ ipm ent with encapsu lation “m ” shall be ei ther:
a) l evel of protection “m a” (EPL “M a, Ga, Da”) ,
b) l evel of protection “m b” (EPL “M b, Gb, Db”) , or
c) l evel of protecti on “m c” (EPL “Gc, Dc”) .
The requirem en ts of th is stan dard appl y to al l levels of protection for encapsu lation “m ” un less
oth erwise stated.
4.2 Additional requ irements for levels of protection “ma” and “mb”
Com pon en ts wi thout additi on al protection sh all be used on l y if they can n ot dam ag e the
encapsu lati on m echan icall y or th erm all y in th e case of an y fau lt condi tions specified in th is
stan dard.
Alternati vel y, wh ere a fau lt of an i nternal com pon en t m ay lead to fai l ure of encapsu lation “m ”
du e to increasi ng tem perature, the requ irem ents of 7. 9 sh all appl y.
4.3 Additional requ irements for level of protection “ma”

The worki n g voltag e at an y poin t in th e circu it shal l n ot exceed 1 kV.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 11 –
 I EC 201 7
4.4 Rated voltag e and prospective short circuit current
The rated vol tag e and the prospecti ve short circu it cu rrent sh all be specifi ed such that th e
lim itin g tem perature is n ot exceeded for th e rel evant level of protecti on “m a”, “m b” or “m c”.
5 Requirements for compounds

5.1 General
The docum entati on sh all specify the com poun d(s) u sed an d th e processin g m ethod(s) ,
inclu din g m easu res to preven t th e form ati on of voids.
As a m in im um , those properti es of th e com poun d(s) on wh ich encapsul ation “m ” depen ds

shal l be provided.
NOTE Proper sel ecti on of th e com pou n d al l ows for the expan si on of com pon ents du ri n g operati on and i n the
event of al l owabl e faul ts.
5.2 Specification
The specification for th e com pou n d sh all incl u de the fol lowin g :
a) th e n am e an d address of the m an ufacturer of th e com pou n d,
b) th e exact and com pl ete reference of th e com pou nd and if relevant, percentage of fil lers
an d an y oth er addi ti ves, the m ixture ratios and th e type desig n ation,
c) if applicable, an y treatm ent of th e surface of the com pou n d(s) , for exam pl e varn ish i n g ,
d) if applicabl e, to obtai n correct adh esi on of the com pou n d to a com pon ent, an y requ irem en t
for pre-treatin g of th e com ponen t for exam ple clean in g, etch i n g,
e) th e di electric stren g th in accordance wi th I EC 60243-1 at th e m axim um service
tem peratu re of th e com poun d determ i ned accordi n g to 8. 2. 2 a) if avai l abl e; if not
avail able, th e requ irem en ts of 5. 3. 2 sh all be appl i ed,
f) tem perature rang e of th e com pou n d(s) (i nclu din g m axim u m con tin u ous operatin g
tem peratu re (COT) an d m inim um con tin u ou s operating tem perature (COT) ) ,
g) in th e case of “m ” equ ipm ent wh ere th e com pou nd is part of th e extern al enclosure, th e
tem perature i ndex TI val ue as defi n ed by I EC 60079-0. As an alternati ve to th e TI , th e
relative th erm al i ndex (RTI -m echan ical ) m ay be determ in ed i n accordance with AN SI /UL
746B,
h) th e col ou r of th e com pou nd u sed for th e test sam ples, where th e com pou nd specification
wi l l be infl u enced by ch ang i n g th e col ou r,
i) Therm al con du cti vi ty if uti l izin g th e al tern ati ve test m eth od in 6. 2. 2.
NOTE I t i s not a req u i rem en t of th i s stand ard th at con form i ty to th e m anu factu rer’s speci fi cati on of the com pou n d
needs to be veri fi ed.
5.3 Properties of the compound

5.3.1 Water absorption
Eith er the com poun d sh al l be tested in accordance with 8. 1 . 1 or, if th is test is not perform ed,
th e certificate n um ber for th e equ i pm ent sh al l i n cl ude th e “X” suffix i n accordance with th e
m arking requi rem en ts of I EC 60079-0 an d the specific con diti ons of use l isted on th e
certificate sh al l detai l th e precau tions n ecessary.
5.3.2 Dielectric strength

Where th e dielectric streng th accordi n g to I EC 60243-1 at the m axim um service tem perature
accordi ng to 8. 2. 2 a) , of th e com pou n d is n ot avail abl e from th e m ateri al m an ufacturer, a test
shal l be perform ed in accordance wi th 8. 1 . 2.
– 12 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
NOTE I t i s n ot a requi rem en t of th i s standard that con form i ty to the m anu factu rer` s speci fi cati on of the com pou n d
6 Temperatures
6.1 General
The service tem peratu re of th e com pou n d, determ ined i n accordance wi th I EC 60079-0, sh al l
not exceed the m axim um val u e of th e COT of the com pou n d. The m axim um surface
tem perature sh all be determ in ed in accordance with I EC 60079-0 u n der n orm al operati on an d
un der fau lt conditions as defin ed in 7. 2. 1 . Th e “m ” equ ipm ent sh all be protected i n su ch a way
th at encapsu l ati on “m ” is not adversel y affected u n der th ese fau lt con ditions.
6.2 Determin ation of th e limiting temperatu res

6.2.1 Maximu m su rface temperatu re
The m axim u m surface tem perature sh all be determ ined usi ng th e test m ethod g i ven in 8. 2. 2 i n
accordance wi th th e su ppl y con diti ons specified i n 4. 4.
NOTE Th i s tem perature i s used to determ i ne ei th er the tem peratu re cl ass for expl osi ve g as atm ospheres or th e
m axi m u m surface tem peratu re i n deg ree Cel si us for expl osi ve du st atm ospheres of th e eq u i pm ent, or both .
6.2.2 Temperatu re of th e compound

The h ottest com pon ent shall be determ in ed . Th e m axim um tem peratu re in th e com pou n d,
adj acen t to the h ottest com pon ent, shal l be determ ined usi n g th e test m ethod g i ven i n 8. 2. 2
for n orm al operati on .
As an al tern ati ve th e determ in ati on of th e tem perature of th e hottest com ponen t in n orm al
operati on m ay be don e by calcu lation, m anu facturer’s specification or by testi ng the
com pon ent u n der i ntended appl ication con ditions prior to encapsu latin g the com pon ent if th e
th erm al con ducti vity of th e com poun d is greater th an th at of air.
NOTE Th erm al conducti vi ty of ai r i s m ost often defi ned as 0. 25 W/m *K (standard con di ti ons) .
6.3 Temperatu re limitation

Where the equ ipm ent m ay be subj ect to fau l t i n accordance with 7. 2. 1 , or where there is th e
possi bi li ty of an i ncreased tem perature, for exam ple by an u nfavourabl e i nput vol tag e i n
accordance wi th 7. 2. 1 or an u nfavourabl e load, thi s sh al l be taken i nto accou n t in determ in i n g
th e l im iting tem peratures.
When a protecti ve device is requ ired to l im it tem peratu res for safety reasons, it sh all be an
electrical or th erm al device extern al to th e equ ipm ent or directl y i ntegrated i nto th e
equ i pm ent, as defi ned i n 7. 9.
7 Constructional requirements
7.1 General
Where th e com pou n d form s part of th e external encl osure it sh al l com pl y wi th the
requ irem ents of I EC 60079-0 for n on m etal l ic enclosures an d n on m etal lic parts of encl osures.
I f the surface of th e com pou n d is total l y or partl y surrou nded by an encl osure an d th e
enclosure is part of the protection , th e encl osure or parts of th e encl osu re sh al l com pl y wi th
th e enclosure requ irem ents of I EC 60079-0.
Addi ti on al protecti ve m easu res m ay be required to be provi ded by the u ser in th e instal lati on
in order to com pl y wi th the requ irem ents of th is stan dard. For exam pl e, additi on al m ech anical
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 13 –
 I EC 201 7
protection m ay be requ ired to protect the equ ipm en t from a direct im pact. I n such cases, th e
certificate num ber for the equ i pm ent shal l inclu de th e “X” suffix i n accordance with the
m arking requ irem ents of I EC 60079-0 and the specific con ditions of use l isted i n th e
certificate sh all detai l th e precau tions n ecessary.
Appropriate action sh all be taken to accom m odate th e expansion of com pon ents during
norm al operation and in the event of fau l ts accordi ng to 7. 2.
In 7. 2 to 7. 9 the requ irem ents differ accordin g to wh eth er th e com poun d adh eres to th e
encl osure. Where adh esion is specifi ed, the aim is to preven t the in gress of explosi ve
atm osph eres an d m oi sture at the boun dary surfaces (for exam ple enclosure-com pou n d,
com pou n d-parts th at are not com pletel y em bedded in th e com pou nd, such as prin ted wi rin g
boards, conn ection term i nals, etc. ) . Where adh esion is requ ired to m ai ntain the type of
protecti on , it shal l be m ai ntain ed after com pleti on of al l the prescribed tests. The choice of th e
com pou n d(s) to be used for a specific appl ication is depen den t on the task each com pou nd
has to perform . Testin g a com pou n d once for a g i ven applicati on wi ll not qu al ify that
com pou n d for all appl icati ons.
NOTE Tests for ad h esi on are u n der consi derati on .
7. 2 Determ in ation of fau l ts
7. 2. 1 Fau lt examin ation
When tested i n accordance with I EC 60079-0, encapsu lation “m ” shal l be m ai ntain ed in th e

case of
a) th e m ost u nfavourabl e ou tput load and
b) up to two i nternal cou ntable fau lts for level of protection “m a”, an d up to on e i ntern al
cou n table fau lt for l evel of protecti on “m b”, takin g i nto accou n t 7. 2. 2, 7. 2. 3 an d 7. 2. 4.
No faults are taken into accou n t for level of protection “m c”.
NOTE E xam pl es of fau l ts are: a sh ort ci rcu i t i n any com pon en t, th e fai l u re of an y com pon en t an d a fau l t between
tracks i n th e pri n ted wi ri n g board, bu t n ot the openi n g of a track.
The fai lu re of som e com pon en ts m ay resu lt i n an u nstable con diti on , for exam pl e, alternatin g
between hi g h and l ow resistance. I n those cases, the m ost onerous condi tion sh all be
consi dered.
I f a fau l t leads to one or m ore subsequ ent fau lts, for exam ple, due to the overl oad of a
com pon ent, th e prim ary an d su bsequ en t fau lt(s) shal l be considered to be a si ng le fau l t.
7. 2. 2 Compon ents con si d ered as not su bj ect to fai l
For levels of protection “m a” an d “m b” the followi ng com pon ents sh al l be consi dered as n ot to
fai l if they are encapsu l ated accordi ng to th e requ irem ents of th is standard, if th ey are
su itabl e for th e service tem perature an d if th ey are n ot operated at m ore th an 2/3 of th eir
rated voltag e, rated curren t and rated power rel ated to th e ratin g of th e device, th e m oun tin g
con diti ons an d the tem perature rang e specified :
– resistors,
– sing l e-layer, spiral l y wou nd coi ls,
– plastic foil capaci tors,
– paper capacitors,
– ceram ic capaci tors,
– sem iconductors,
– sem iconductor devices u sed as a protecti ve device accordin g to 7. 9,
– 14 –
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
– resistors used as a protecti ve device accordi n g to 7. 9, if th ey com pl y with the current
l im itin g resistors of I EC 60079-1 1 for level of protecti on “i a” or “ib”.
For levels of protection “m a” and “m b” wi ndi n gs that com pl y with I EC 60079-7, i nclu di ng also
th ose th at h ave wi re diam eters of l ess th an 0, 25 m m shall be consi dered as not su bj ect to
fai l ure if they are encapsu lated accordin g to th e requ irem ents of this standard.
7. 2 . 3 I so l ati n g com pon en t s
The fol l owing com pon en ts for th e seg reg ati on of different ci rcu i ts shal l be considered to
provi de isolation and are not considered to fail across th e segreg ation:
• Gal van icall y separating com pon ents (e. g. optocou plers an d relays) ,
– if th e rated insu lati on vol tag e conform s to 2 U + 1 000 V r. m . s. +50 % or 1 500 V r. m . s.
wh ichever is g reater ( U i s the sum of the rated r. m . s. voltag es of both circu its) , or
– for a rated insu lati on vol tag e across th e segreg ati on of m ore than 60 V (sum of the
rated r. m . s. voltages of both circu its) , optocou plers an d relays provi di ng a dou ble or
reinforced i nsulati on between th e circu its per I EC 61 1 40, or
– com pl yin g wi th I EC 60079-1 1 for l evel of protection “i a” or “ib”.
• Transform ers,
– com pl yi n g wi th I EC 61 558-2-6, or
– provi di ng a dou bl e or reinforced insu l ati on between th e circu it per I EC 61 558-1 , or
– com pl yi n g with I EC 60079-1 1 for l evel of protection “ia” or “ib”.
NOTE 1 I t i s not a requi rem en t of th i s stand ard that conform i ty to th e above stan dards per the m anu factu rer´s
speci fi cati on reg ardi n g seg reg ati on n eeds to be veri fi ed.
NOTE 2 G al van i cal l y separati n g com pon ents provi di ng dou bl e or rei nforced i n su l ati on accordi ng to a prod uct
standard are con si dered to m eet th e requ i rem en ts of I EC 61 1 40 e. g . I EC 60747-5-5 for optocou pl ers.
7. 2. 4 I n fal l i b l e sep arati o n d i s tan ces
7. 2. 4. 1 G en e ra l
I t is n ot necessary to consi der th e possibi lity of a fau lt occurring as described i n 7. 2. 1 i n

respect of vol tag e breakdown, if th e distances between bare current-carryi ng parts:
– of th e sam e ci rcu it, or
– of a circu i t and earth ed m etal parts, or
– of two separate circu i ts (sum of the workin g vol tag es sh al l be taken as th e vol tag e for
Tabl e 1 ; wh ere on e of the workin g voltag es is l ess th an 20 % of th e other, it sh al l be
ign ored) ,
com pl y wi th the requ irem en ts of 7. 2. 4. 2 an d if appl icabl e 7. 2. 4. 3.
7. 2. 4. 2 Di stan ces t h rou g h th e com pou n d
Distances throu gh com pou n d shal l be considered to be i nfal libl e against short circu it for l evel
of protecti on “m a” an d level of protection “m b” if th ey com pl y with th e valu es in Table 1 ,
provi ded th at the distances in th e com pou nd are fixed or secu red m ech an icall y before
encapsu lati on.
NOTE When a su i tabl y ad hered n on -m etal l i c encl osu re of a g i ven speci fi c m i n i m um th i ckn ess perm i ts a zero
th i ckn ess of com poun d per Key l etter c of Tabl e 4 and Fi g u re 1 , then the separati on di stan ces for th e associ ated
curren t carryi ng parts are sti l l con si dered i n fal l i bl e ag ai n st sh ort ci rcui t
Distances between th e m inim um distances g iven for level of protection “m c” and the infal lible
distances g iven for level of protecti on “m a” an d “m b” are n ot consi dered infallibl e an d sh all be
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 I EC 201 7
assessed as a “cou ntabl e fau lt”. Distances less than those g i ven for level of protecti on “m c”
are consi dered as sh ort-circu its if th is im pairs th e type of protecti on “m ”.
For level of protecti on “m c” th e val u es of Table 1 are the constru ctional requ irem en ts an d m ay
be ach i eved by m ech an icall y fixi ng before encapsu lation.
Tabl e 1 – Di st an ces t h rou g h th e com pou n d
Vol tag e U r. m . s . or d . c. (s ee
a
) Minimum d i stan ce
V mm
“m a” “m b ” “m c ”
≤ 32 0, 5 0, 5 0, 2
≤ 63 0, 5 0, 5 0, 3
≤ 400 1 1 0, 6
≤ 500 1 ,5 1 ,5 0, 8
≤ 630 2 2 0, 9
≤ 1 000 2, 5 2, 5 1 ,7
≤ 1 600 - 4 4
≤ 3 200 - 7 7
≤ 6 300 - 12 12
≤ 1 0 000 - 20 20
a Vol tag es sh own are d eri ved from I EC 60664-1 an d are based on the
rati onal i zati on of suppl y vol tag es g i ven i n Tabl e 3b of I EC 60664-1 . When
determ i ni n g the requ i red di stance, th e worki ng vol tag e m ay be hi g h er th an th e
vol tag e i n the tabl e by a factor of 1 , 1 .
NOTE The factor of 1 , 1 recog ni zes th at at m any pl aces i n a ci rcui t, the worki n g
vol tag e equal s the rated vol tag e an d th at th ere are a n u m ber of rated vol tag es i n
com m on u se that can be accom m odated by the 1 , 1 factor.
7. 2. 4. 3 Di stan ces t h rou g h s ol i d i n su l ati o n
The distance throug h sol i d insul ati on, on wh ich th e type of protection “m ” depends, sh al l be at
least 0, 1 m m an d shal l com pl y wi th the diel ectric stren gth test of 8. 2. 4.
7. 3 Free spac e i n th e en cap su l at i on
7. 3. 1 G ro u p I I I “ m ” eq u i pm en t
The sum of th e free spaces is not l im ited, but th e vol um e of each i n di vidu al free space is
lim ited to 1 00 cm 3 . The th ickness of th e com pou n d surroun din g su ch free spaces sh all m eet
th e requ irem en ts of Tabl e 2.
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 I EC 201 7
Table 2 – Minimum th ickn ess of compou nd ad j acent
to free space for Group III “ m” eq uipment
Level of M i nim um thi ckness of Free space Free space
protecti on com pound ad jacent to free ≤ 1 cm 3 >1 cm 3 ≤ 1 00 cm 3
space to:
Free space or free su rface 3 mm 3 mm

Non -m etal l i c or m etal encl osure 3 m m (en cl osure + 3 m m (en cl osure + com pou n d ) a
“m a” wi th adh esi on com pou nd ) a
N on -m etal l i c or m etal encl osure 3 mm 3 mm
wi thou t ad h esi on
Free space or free surface 1 mm 3 mm
N on -m etal l i c or m etal encl osure 1 m m (en cl osure + 3 m m (encl osu re + com pou nd ) a
“m b” wi th adh esi on com pou nd )

“m c” N on -m etal l i c or m etal encl osure 1 m m (encl osure + 1 m m (en cl osu re + com pou nd )
wi th adh esi on com pou nd )
a Wal l th i ckness of the encl osure ≥1 mm.
The thi ckness of the m ateri al s quoted i n thi s tabl e d oes not i m pl y com pl i an ce wi th oth er m ech an i cal tests
req ui red by I EC 60079-0.
NOTE A m etal encl osure wi th ad h esi on i s perm i tted to have n o com poun d thi ckness to a free space provi ded
there are n o l i ve parts i n th e free space.
7.3.2 Grou p I and G roup II “m” equ ipment

The su m of th e free spaces sh all n ot exceed:
• 1 00 cm 3 for level of protecti on “m b” and “m c”;
• 1 0 cm 3 for level of protecti on “m a”.
The m in im um thickn ess of the com pou nd surroun ding such free spaces shal l com pl y with
Table 3.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 17 –
 I EC 201 7
Table 3 – M ini mum th ickness of compou nd ad jacent
to free space for Group I and G roup II “m” equi pment
Level of M i n imum thi ckness of Free space Free space Free space
protecti o compound ad jacent to ≤ 1 cm 3 >1 cm 3 ≤ 1 0 cm 3 > 1 0 cm 3 ≤ 1 00 cm 3
n free space to:
Free space or free 3 mm 3 mm N ot perm i tted

su rface (pressu re test
i n accordance wi th
8. 2. 6)
N on -m etal l i c or m etal 3 m m (en cl osure + 3 m m (encl osure + N ot perm i tted
encl osu re wi th adh esi on com pou nd ) a com pou nd ) a
“m a” (pressure test
i n accordan ce wi th
8. 2. 6)
Non -m etal l i c or m etal 3 mm 3 mm N ot perm i tted
en cl osu re wi th out (pressure test
adh esi on i n accordan ce wi th
8. 2. 6)
Free space or free 1 mm 3 mm 3 mm
surface (pressure test
i n accordan ce wi th 8. 2. 6)
Non -m etal l i c or m etal 1 m m (encl osu re + 3 m m (en cl osure + 3 m m (encl osu re +
en cl osu re wi th adhesi on com poun d ) com pou nd ) a com pou nd ) a
“m b” (pressure test
N on -m etal l i c or m etal 1 mm 3 mm 3 mm
encl osu re wi thout (pressu re test
adh esi on i n accordance wi th 8. 2. 6)
su rface
“m c ” N on -m etal l i c or m etal 1 m m (en cl osure + 1 m m (encl osu re + 3 m m (en cl osure +

en cl osu re wi th adhesi on com pou nd ) com poun d ) com pou nd )
See n ote
en cl osu re wi th out
adh esi on
a Wal l thi ckness of th e en cl osure ≥1 mm.
The th i ckn ess of th e m ateri al s qu oted i n th i s tabl e does not i m pl y com pl i ance wi th other m echani cal tests
req u i red by I EC 60079-0.
NOTE A m etal encl osu re wi th adh esi on i s perm i tted to h ave no com pou n d thi ckn ess to a free space provi d ed
there are n o l i ve parts i n the free space.
7.4 Thickness of th e compound

7.4.1 “m” equ ipment
The m in im um thickn ess of com pou nd surroun din g th e electrical com pon ents and circu i t shal l
be in accordance with Table 4 an d Fi g ure 1 .
If soli d i nsu l ation accordi ng to 7. 2. 4. 3 is u sed i n an encl osu re wi th m etall ic walls as sh own i n
Fi gu re 1 , the com pou n d shal l adhere to th e wall .
NOTE 1 Fi g u re 1 d oes n ot necessari l y represen t a practi cal constructi on, but i s i n ten ded to assi st i n
und erstan di ng Tabl e 4 by showi ng an en capsul ated ci rcui t that i n cl u des a free su rface; a m etal l i c en cl osu re; a
pl asti c en cl osu re wi th di fferen t wal l thi ckn esses.
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I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
When a su itabl y adh ered n on-m etal l ic encl osu re of a g iven specific m inim u m thickn ess
perm i ts a zero th ickness of com pou n d per Key l etter c of Table 4 an d Fig ure 1 , th en the
separati on distances for th e associated curren t carryin g parts are stil l considered infal l i ble
ag ai nst sh ort circu it.
NOTE 2 Separati on di stances (creepag es and cl earan ces) associ ated wi th su ch cu rrent carryi ng parts th at are
perm i tted to h ave zero th i ckness of com pou nd an d sti l l be consi dered i nfal l i bl e ag ai n st short ci rcui t, are eval u ated
i n accord an ce wi th th e appl i cabl e safety requi rem ents of th e rel evan t i n du stri al stan dards.
t Free surface of the compound t
f a
Non current carrying part

e
Optional solid
c insulation or board
laminate with no
conductors
Plastic wall with Plastic wall with

thickness t ≥ 1 mm thickness t < 1 mm
Solid insulation
b according 7.2.4.2
Metallic wall IEC
Key
a di stan ce to free su rface
b di stan ce to m etal en cl osu re
c di stan ce to n on m etal l i c en cl osure wi th wal l th i ckn ess t≥ 1 mm
d di stance to n on m etal l i c en cl osu re wi th wal l thi ckn ess t< 1 mm
e di stance to n on cu rrent carryi n g part wi thi n th e com pou nd

f di stance from n on current carryi n g part to free surface
Fig u re 1 – Di m en sion al key for th i ckness th rou g h th e compound
I n al l cases the com pou n d sh al l be su bjected to th e dielectric streng th test of 8. 2. 4.

I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 19 –
 I EC 201 7
Table 4 – Thickness of the compou nd
Level of protecti on Level of protecti on “ mb” or “mc”
“m a”
Free su rface ≤ 2 cm 2 a ≥ 3 mm a ≥ di stan ce accordi n g to Tabl e 1 bu t n ot l ess

than 1 m m
Free su rface > 2 cm 2 a ≥ 3 mm a ≥ di stan ce accordi n g to Tabl e 1 bu t n ot l ess

than 3 m m
n on m etal l i c en cl osu re wi th
adh esi on d ≥ 3 mm d ≥ di stance accordi n g to Tabl e 1 but n ot l ess
(wal l th i ckness t < 1 m m ) than 1 m m
adh esi on c ≥ (3 m m – t) a c ≥ (di stance accordi n g to Tabl e 1 – t) a
(wal l th i ckness t ≥ 1 m m )
non m etal l i c encl osure wi th ou t
c = d ≥ 3 mm c = d ≥ di stance accordi ng to Tabl e 1 but n ot l ess
adh esi on th an 1 m m
Metal en cl osu re b ≥ 3 mm b ≥ di stance accordi ng to Tabl e 1 but n ot l ess

th an 1 m m
Non cu rren t carryi n g part e ≥ 3 mm e ≥ di stan ce accordi n g to Tabl e 1 but n ot l ess than
1 mm
Non cu rren t carryi n g part –
free su rface f+ e ≥ a f+ e ≥ a
a I n the case of n on m etal l i c en cl osu re wi th adh esi on an d wal l th i ckn ess ≥ 1 mm i f th e appl i cati on of th e form u l a
al l ows c = 0 th e com ponen t m ay be pl aced ag ai nst th e wal l .
7.4.2 Winding s for electrical mach ines

For el ectrical m ach i nes with windi ngs in slots, th e soli d sl ot i nsu l ation shal l have:
a) for l evel of protecti on “m a” on l y, a m in im um thickness of 0, 1 m m and sh al l be extended by
at least 5 m m beyon d th e en d of th e sl ot;
b) for l evels of protection “m a” an d “m b”, th e en d of th e sl ot and the en d- wi n din g shal l be
protected by the m in im um thickn ess of com poun d i n accordance with 7. 4. 1 . A di el ectric
stren gth test i n accordance with 8. 2. 4 sh al l be passed with a test vol tag e U = 2 U +
1 000 V r. m . s. +50 % with a m inim um of 1 500 V a. c. at 48 H z to 62 H z.
Varn ish and sim il ar coati ngs are n ot con si dered to be soli d insu lation .
7.4.3 Rig id, m ulti-l ayer printed wiring boards with th roug h con nection s
7.4.3.1 General
Mu l ti-layer pri nted wiri ng boards com pl yi n g with th e requi rem en ts of I EC 62326-4-1 ,
perform ance level C or I PC-A-600 an d I PC-601 2 or AN SI /U L 796, operated at working
voltag es l ess than or equal to 500 V, shall be considered to be encapsu l ated providi n g they
m eet 7. 4. 3. 2
NOTE I t i s not a requ i rem en t of thi s stand ard th at con form i ty to th e m an ufactu rer` s perform an ce speci fi cati on of
th e pri n ted wi ri n g board needs to be veri fi ed.
7.4.3.2 M inimum di stances

The insu l ation thickn ess of both, th e copper-cl ad lam inates an d th e adhesive fi lm s sh al l
com pl y wi th the requ irem en ts of 7. 2. 4. 3.
NOTE Th e i nsu l ati on th i ckn ess i s the com bi n ati on of the l am i nate an d th e adhesi ve fi l m wh en they are n ot
separated by copper.
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I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
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The m in im u m distance between th e printed circu i t con ductors and the edg e of the m ulti -layer
prin ted wirin g board or an y hole in it sh all be at l east distance b of Table 5. I f th e edg es or
holes are protected with m etal or i nsu latin g m aterial exten di ng at l east 1 m m alon g th e
surface of th e board from the edg es or hol es, th e distance between the prin ted wiri ng
con du ctors an d th e m etal or insu lati ng m aterial m ay be redu ced to di stance c of Table 5. M etal
coatin g sh al l have a m in i m um th ickness of 35 µm (see also Fig ure 2 an d Table 5) .
Table 5 – M ini mum distan ces for multi-layer printed wi ring boards
Di stance Level of protecti on “m a” Level of protecti on “ mb” Level of protecti on “m c”

a 3 mm 0, 5 m m 0, 25 m m
b 3 mm 3 mm 1 mm
c 3 mm 1 mm 0, 5 m m
d 0, 1 m m , see 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , see 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , see 7. 2. 4. 3
e I n accord an ce wi th Tabl e 1 I n accord an ce wi th Tabl e 1 I n accord an ce wi th Tabl e 1
wh ere
a i s the di stan ce between th e current carryi n g part and th e ou tsi de surface th rou g h th e cover l ayer;
b i s the di stance between th e curren t carryi n g part and th e ou tsi de surface al on g th e cover l ayer;
c i s th e l en g th of m etal or i nsul ati on exten di ng al on g th e su rface of the board from the edg e or the hol e;
d i s the thi ckness of th e ad h esi ve fi l m or th e core where seg reg ati on i s requ i red;
e i s the di stan ce between two ci rcu i ts i n si de the m u l ti l ayer wh ere seg reg ati on i s req ui red.
Key
core and cover l ayer
adh esi ve fi l m
copper
1 Throu g h con tact for term i nati on
2 Throu g h con tact to con n ect th e pri n ted con ductors to th e l ayers
Fig u re 2 – Minimu m d istances for multi-layer prin ted wiring board s
7.5 Switching contacts

7.5.1 General
Swi tch i n g contacts sh al l be provided wi th an addi ti on al encl osure.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 21 –
 I EC 201 7
NOTE Enteri ng of com pou n d i n th e encl osure of the swi tch i ng con tacts du ri ng th e encapsul ati on process can
i nterfere wi th th e fun cti on of th e devi ce
7.5.2 Level of protection “ma”

This addition al encl osu re shal l be in accordance with th e requirem en ts for herm etical l y-seal ed
devices as defi n ed in I EC 60079-1 5 before encapsu lation.
NOTE Dam ag e to the h erm eti cal l y-seal ed encl osure due to stresses duri n g potti n g can i n val i date th e type of
protecti on of th e devi ce.
The rati n g of switch in g con tacts sh al l be less th an or equ al to 60 V an d 6 A. The additi on al

encl osure sh all be m ade of i norg anic m ateri al if th e switch ed cu rrent exceeds 2/3 of th e rated
curren t specified by th e m anu factu rer of th e com pon en t.
7.5.3 Level of protection “mb”

This addi tion al encl osure shal l be m ade of i norg an ic m aterial if the swi tch ed curren t exceeds
2/3 of the rated current specifi ed by th e m anufacturer of th e com pon ent or if the curren t
exceeds 6 A.
7.5.4 Level of protection “mc”

This addi tion al encl osure shal l be m ade of inorg an ic m aterial if the swi tch ed curren t exceeds
6 A.
7.6 External connections

7.6.1 General
When com poun ds are u sed to secu re a perm an en tl y con n ected cable, the cable sh al l be
su itabl y protected ag ai nst dam age from flexin g an d the pu ll test shal l be carri ed ou t accordin g
to 8. 2. 5.
This test sh all n ot be perform ed on Ex Com pon ents or wh ere th e en cl osure of th e “m ”

protected device does not serve as an external en cl osure.
7.6.2 Additional requ irements for “ma” equipment

The Ex m a equ i pm ent shal l eith er be su ppli ed by a ci rcu it in accordance wi th level of
protection “i a” accordi n g to I EC 60079-1 1 or h ave a conn ection i n accordance wi th one of th e
fol l owi ng requ irem ents:
• for EPL G a requ irem ents of I EC 60079-26;
• for EPL Da, level of protecti on “ta” of I EC 60079-31 .
7.7 Protection of bare live parts
Depen din g on the requ ired EPL bare li ve parts th at pass throu g h th e surface of th e com pou nd
shal l be protected by an oth er type of protecti on as l isted in I EC 60079-0 for the requ ired EPL.
NOTE I n th i s case, th e equ i pm ent i s m arked wi th m ul ti pl e types of protecti on i n accordan ce wi th I EC 60079-0.
7.8 Cells and batteries

7.8.1 General
When evalu ati n g battery con trol arran gem ents with respect to the potenti al rel ease of gas, th e
ful l rang e of operatin g tem peratures, in tern al resistance and vol tag e capabili ty shal l be
consi dered. I t shal l be assu m ed th at batteri es can becom e u n bal an ced, bu t cell s wi th
neg l ig i ble resistance or voltag e capabil ity n eed not be taken in to accou nt.
– 22 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Subcl au se 7. 8 applies to all levels of protecti on , u n less specificall y exclu ded.
For level of protecti on “m a” cel ls and batteries shall additi on al l y com pl y wi th th e cel l and
battery requ irem en ts of I EC 60079-1 1 except for the relaxati on for paral lel cells, wh ich are n ot
perm itted in equ ipm ent solel y protected by encapsu lation.
7.8.2 Prevention of gassing

Electroch em ical system s th at can rel ease g as during n orm al operati on are not perm itted. I f for
levels of protecti on “m a” an d “m b” th e rel ease of gas in th e event of a fau l t can n ot be
preclu ded, th e gassi ng shal l be m in im ised by a con trol device in accordance with 7. 8. 8. With
secon dary cel ls, the control device sh al l be effecti ve n ot on l y du rin g charg i ng , bu t also durin g
disch arg in g. Th is also applies for ch arg in g ou tsi de the hazardou s area.
I n particu l ar,
a) ven ted cel ls sh all not be used,
b) sealed val ve reg u lated cells shal l n ot be u sed,
c) sealed g as-tig ht cells th at, wi th i n th e ran ge of the am bient tem perature of th e electric
equ ipm ent, do not release g as u nder an y operati ng or fau lt con ditions m ay be used
wi thout a con trol device i n accordance wi th 7. 8. 8.
Gas-ti g ht cells that do n ot fu lfi l th e requ irem ents of 7. 8. 2 c) shal l have a control device in
accordance wi th 7. 8. 8.
7.8.3 Protection ag ainst inadmissible temperatures and damag e to the cells or

batteries
The m axim um service tem perature of th e cel ls or batteri es u nder worst case load (see 7. 8. 5)
shal l n ot exceed either th e tem peratu re specifi ed by th e m anufacturer of th e cel ls or batteries,
or 80 °C if not specifi ed by the m an ufactu rer and th e m axim u m chargi ng and discharg in g
cu rren t sh al l n ot exceed th e safe val u e speci fied by th e m anufacturer by one of the fol lowin g
m eans:
a) shal l be provided wi th on e or m ore con trol devices as descri bed i n 7. 8. 8 to preven t
un acceptable overh eatin g or g assin g insi de th e com pou n d,
b) shall be provi ded with a seri es resistor to lim it curren t to the cel l rati n g and a bl ockin g
diode to precl ude reverse ch arg in g.
I n ei th er case, th e requ irem ents in 7. 8. 4 th rou gh 7. 8. 7 appl y as appl icabl e.
7.8.4 Reverse current

For l evels of protection “m a” an d “m b” wh ere th ere is an oth er voltag e source i n th e sam e
encl osure, th e encapsul ated cel l or battery an d its associated circu i ts shal l be protected
ag ai nst charg i ng by circu its oth er th an th ose specifical l y desig n ed for ch arg in g. For exam ple,
by separatin g th e cel l or battery an d its associated circu its from all oth er vol tag e sou rce(s)
inside the encl osure, u si ng th e distances specified in Tabl e 1 for th e h i g h est vol tag e capable
of causi ng th e reverse curren t. Altern ati vel y, th e cell or battery on l y m ay be separated, from
th e oth er vol tag e source(s) u si n g th e distances specified i n Table 1 , bu t with on e blockin g
diode for l evel of protecti on “m b”, or two bl ockin g d iodes for level of protecti on “m a”, fi tted as
shown in Fi gu re 3, an d so arran g ed as to reduce th e risk of a si ng le fau lt causi n g both di odes
to be sh ort-circu ited.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 23 –
 I EC 201 7
+Ve –Ve
IEC
NOTE Fi g u re sh ows arran g em en t for Level of Protecti on “m a”.
Figure 3 – Fitting of blocking diodes
7.8.5 Current limitation

The m axim um surface tem peratu re sh all be determ in ed u sin g the h ig h est disch arge cu rren t
perm itted by th e m axim um load specifi ed by the equ ipm en t m anufactu rer, or by th e protecti ve
device, see 7. 9, for exam ple 1 , 7 tim es th e rati n g of the fuse, or at sh ort circu it if nei th er a l oad
nor a protecti ve device is specified.
A resistor, a curren t l i m iting device or a fuse accordin g to I EC 601 27 or I EC 60691 or

AN SI /U L 248 series m ay be used to ensure th e m axim um disch arg e curren t specified by th e
m anufacturer of th e cells or battery is n ot exceeded. I f replaceabl e fuses are used th e
equ i pm ent sh al l be m arked to sh ow th eir rati n g an d fu nction.
NOTE I t i s n ot a req ui rem ent of thi s stand ard that con form i ty to th e m an ufactu rer` s speci fi cati on of th e resi stor,
curren t l i m i ti ng d evi ce or fuse needs to be veri fi ed.
7.8.6 Protection ag ainst the polarity inversion and deep discharg e of the cells
For level of protection “m a” and “m b” when m ore than 3 cel ls are used in series, the cel l
voltag e sh al l be m oni tored. During disch arg in g, if the vol tag e falls below th e lim it valu e for th e
cell vol tag e specified by th e m anufacturer of th e cells or battery, th e con trol device shall
discon nect the cel ls or battery. For l evel of protection “m c”, if m ore th an three cel ls are
con n ected in series, precau tions sh al l be taken to prevent reverse polarity charg i ng of the
cell .
NOTE 1 I f several cel l s are conn ected i n seri es, cel l s can ch an g e pol ari ty du ri n g di scharg e du e to the vari ou s
capaci ti es of th e cel l s i n a battery. Th ese " reversed pol e“ cel l s can en ter an i n adm i ssi bl e g assi ng ran g e.
Where a deep disch arg e protection circu i t i s u sed to preven t reverse pol arity ch argi n g of cells
duri n g disch arg e, the m i n im u m cut-off vol tag e shal l be that specified by th e cel l or battery
m anu factu rer. After discon n ecting th e l oad, the curren t sh all be no m ore than th e disch arg e
capacity at the 1 000 h rate.
NOTE 2 Such protecti on i s often u sed to preven t cel l s g oi n g i n to a state of “d eep di sch arg e”. I f an attem pt i s
m ade to m on i tor too m an y cel l s con nected i n seri es, the protecti on wi l l som eti m es n ot fun cti on rel i abl y du e to
tol erances i n i n di vi dual cel l vol tag es an d th e protecti on ci rcu i t. Gen eral l y, m on i tori ng of m ore than si x cel l s (i n
seri es) by on e protecti on u ni t i s n ot effecti ve.
7.8.7 Charg ing of cells or batteries

7.8.7.1 Level of protection “ma” and “mb”
The ch arg i n g circu its sh all be fu l l y specifi ed as part of the equ i pm ent. The charg i ng system
shall be such th at either:
a) wi th on e fau lt con diti on of the ch arg in g system , th e ch arg in g voltag e and curren t sh al l not
exceed th e lim its specifi ed by the m anufacturer;
or
b) if, durin g charg i ng , i t is possi ble for th e l im it valu es specified by th e m anufacturer of th e
cells or battery for th e cell vol tag e or the ch arg i ng cu rrent to be exceeded, a separate
protecti ve device i n accordance with 7. 9 sh al l be provi ded to m in im ize th e possibil i ty of a
release of gas an d also exceeding th e m anufacturer’s m axim um rated cell tem perature
durin g ch arg i ng .
– 24 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
7.8.7.2 Level of protection “mc”
The ch arg in g system shall be su ch that in n orm al operati on the ch arg e voltag e an d curren t do
not exceed the l im its specified by th e m an u factu rer based on th e specifi ed tem peratu re ran g e
of the equ ipm ent. I f cel ls and batteri es, wh ich are an i ntegral part of the electrical equ i pm ent
are to be ch arg ed in th e hazardou s area, th e ch arg er sh all be fu l l y speci fied as part of th e
equ i pm ent desi g n. I f cel ls or batteries, wh ich are an i ntegral part of the electrical equipm en t
or can be separated from the equi pm en t are ch arg ed ou tside of th e h azardous area, the
charg ing shall be wi th in the l im its specified by th e m anufacturer of th e equi pm ent.
7.8.8 Requirements for control safety devices for cells or batteries

Where requ ired, th e control devices sh al l form safety rel ated parts of a con trol system . I t shal l
be the responsi bi l ity of the m anufacturer to provi de the i nform ati on n ecessary to m ain tai n th e
integrity of th e system .
NOTE Safety rel ated parts m eeti ng the requ i rem en ts of PL c of I SO 1 3849-1 “Safety of m achi n ery – Safety
rel ated parts of con trol system s – Part 1 : Gen eral pri n ci pl es for d esi g n ” wi l l sati sfy thi s subcl ause.
7.9 Protective devices

7.9.1 General
I f rel yi n g on a protecti ve device to l im it m axim u m surface tem perature wh en th e “m ”
equ i pm ent is subj ected to a si n g le fau lt for level of protection “m b” or two fau l ts for level of
protection “m a”, the protecti ve device sh al l be provided eith er external to the equ ipm ent or
directl y in teg rated in to th e equ ipm en t. Protecti ve devices for level of protecti on “m a” sh all be
non resettabl e. Therm al protecti ve devices for l evel of protection “m b” m ay be resettabl e.
The protecti ve device sh all be capable of i n terru ptin g th e m axim um fault curren t of the circu i t
i n which it is i nstall ed. The rated voltag e of th e protective device sh all at least correspon d to
th e workin g voltage of th e circu it in wh ich it is i nstall ed.
Where th e “m ” equ ipm en t con tains a cel l or battery an d a control device is provided to preven t
excessi ve overheati n g (see 7. 8. 5) , th is control device can also be considered as a protecti ve
device, providi n g i t also protects al l other com ponen ts i nsi de th e sam e com pou nd from
exceedin g the m axim um su rface tem perature.
NOTE 1 Th e use of protecti ve devi ces i s to protect ag ai n st faul ts and u nforeseen overl oads, wh i ch overheat
and/or perm anentl y dam ag e or com prom i se the operati onal l i fe of the equ i pm en t. Wh ere resettabl e devi ces are
used, th e i n stru cti ons i n cl ude i n form ati on to g u i d e th e u ser i n th e d esi rabi l i ty of re-setti n g th e devi ces. Th ese
i nstructi ons are con si deri n g extern al operati onal con di ti on s un der wh i ch they m i g ht be reset an d al so an y
subsequ ent m oni tori n g that m i g ht be desi rabl e.
NOTE 2 Both, sel f-resetti n g and m an ual l y resettabl e devi ces are con si dered to be resettabl e devi ces for th e
purpose of th i s standard.
For level of protecti on “m a”, if the non resettable protective device com pli es wi th th e
I EC 601 27 series or I EC 60691 or AN SI /U L 248 series, onl y on e device is n ecessary. Th is
appl ies to 7. 9. 2 an d 7. 9. 3.
NOTE 3 I t i s n ot a req ui rem ent of th i s stan d ard th at conform i ty to th e m anu factu rer` s speci fi cati on of th e n on
resettabl e protecti ve devi ce n eeds to be veri fi ed.
NOTE 4 AN SI /U L 248-1 contai ns th e appl i cabl e g eneral safety requi rem ents for l ow-vol tag e fu ses, i ncl udi n g th e
req ui rem ents to establ i sh breaki n g capaci ty or i nterru pti n g rati n g . The oth er parts of th e AN SI /UL 248 seri es
provi de add i ti on al speci fi c safety requ i rem en ts based on th e i ntend ed appl i cati on of th e fu se, such as AN SI /U L
248-1 4 for su ppl em en tal l ow-vol tag e fuses.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 25 –
 I EC 201 7
7.9.2 Electrical protective devices
7.9.2.1 General
Protecti ve devices sh al l have a vol tag e ratin g not less than th at of th e circu it in wh ich th ey are
installed and sh al l h ave a breakin g capaci ty n ot l ess than the fau lt current of th e circui t.
Un less oth erwise specified, a fuse shal l be assum ed to be capable of passin g 1 , 7 tim es
th e rated curren t conti nu ousl y. Th e tim e-cu rrent characteristic of the fuse, as stated by th e
m anufacturer of th e fu se, sh all ensure th at the m axim um su rface tem perature is n ot
exceeded. For el ectrical protective devices two devices n orm al l y i n series are requ ired for
level of protection “m a” an d one device is required for l evel of protecti on “m b”. I f for level of
protecti on “m a”, th e two devices are n ot in seri es, the acti vati on of eith er device sh al l de-
en erg i ze th e circui try rel yin g on the protecti on . The two devices for level of protecti on “m a”
shall be the sam e type of protecti ve device (wh i le not necessaril y the sam e m anufacturer and
part n um ber) , so as to provide dupl icated protecti on .
An electrical protecti ve device is not requ ired for l evel of protecti on “m c”.
NOTE I n th e case of el ectri cal suppl y networks wh ere the rated vol tag e does n ot exceed 250 V, th e prospecti ve
short-ci rcui t fau l t cu rren t i s usu al l y 1 500 A.
7.9.2.2 Protective devices that are connected to the “m” equipment

I f the protective device is extern al to th e “m ” equ i pm en t it sh all be seen as equi pm en t
requ ired for the safety of the “m ” equ ipm ent, in accordance with 7. 9. 2. Thi s specific condition
of use sh al l appear on the certificate an d th e equ ipm en t shal l be m arked in accordance wi th
th e “specific con di tions of use” m arkin g requ irem ents of I EC 60079-0.
The use of an external protecti ve device and its conn ecti on to “m ” equ i pm ent requ ires th e
device to be com pati ble wi th “m a”, “m b”, or “m c” as appropriate.
NOTE Fai l u re to u se su ch a devi ce i n th e i nten ded m an n er wi l l l ead to l oss of l evel of protecti on . Wh ere an
extern al protecti ve d evi ce i s used to con trol the correct appl i cati on of vol tag e, cu rren t an d power to equ i pm ent wi th
l evel of protecti on “m a”, the perform ance of th e extern al protecti ve devi ce or protecti ve ci rcui t i s safe wi th on e
coun tabl e fau l t. The perm i tted l evel s of vol tag e, cu rrent an d power are determ i n ed by th e th erm al ch aracteri sti cs of
th e “m ” eq u i pm ent.
7.9.3 Thermal protective devices

Therm al protecti ve devices sh all be used to protect th e com poun d from dam ag e caused by
local heati n g, for exam ple, by fau lty com pon ents, or from exceedin g th e m axim um su rface
tem perature.
Non-resettable devices h ave n o provisi on for bein g reset an d open a circu it perm an en tl y after
bei n g exposed to a tem perature hi g her th an th eir operati n g tem perature for a g i ven m axim um
peri od. Adequ ate th erm al cou pl in g sh all be achieved between th e m on itored com pon en t an d
th e th erm al protective device. Th e swi tch in g capabil ity of th e device sh al l be defin ed an d shal l
be not l ess th an th e m axim um possi bl e load of the circu it.
I f resettabl e therm al protective devices are used, two devices norm all y i n series are requ ired
for l evel of protection “m b” an d on e device is requ ired for level of protecti on “m c”. I f for level
of protection “m b” th e two resettable therm al protecti ve devices are not i n series, th e
acti vati on of eith er device shall de-en ergi ze the circui try rel yi n g on th e protecti on. The two
devices for level of protecti on “m b” shal l be th e sam e type of therm al protecti ve device (wh il e
not necessaril y the sam e m anufacturer an d part n u m ber) , so as to provi de du pl icated
protecti on .
Resettabl e therm al protecti ve devices with switch i ng con tacts sh all not be operated at m ore
th an 2/3 of th eir rated curren t specified by th e m an ufacturer of th e device.
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I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Resettabl e th erm al protecti ve devices with swi tch ing con tacts shal l ei th er com pl y wi th
IEC 60730-2-9, or sh all be tested accordin g to 8. 2. 7. 1 .
Resettabl e therm al protecti ve devices wi thou t swi tchi n g contacts sh all either com pl y with
IEC 60738-1 , or shal l be tested accordin g to 8. 2. 7. 2.
NOTE 1 Often for fu ncti onal reason s, addi ti onal resettabl e devi ces oth er th an the th erm al protecti ve devi ces
add ressed by th i s cl ause are u sed. Th ese devi ces typi cal l y operate at tem peratu res l ower than th e operati n g
tem peratu re of th e th erm al protecti ve d evi ce.
NOTE 2 I t i s not a requi rem ent of thi s standard th at conform i ty to th e m an ufacturer` s speci fi cati on of th e
resettabl e th erm al protecti ve d evi ce needs to be veri fi ed.
7.9.4 Bui lt-i n protective devi ces

Protective devices i nteg ral wi th the “m ” equipm en t sh al l be of th e encl osed type such that no
com pou n d can enter duri ng th e encapsul ati on process.
The su itabi l ity of th e protecti ve device for encapsu lation sh all be confirm ed eith er by:
a) a docu m en tati on from th e m an ufacturer of th e device;
or
b) testin g of sam ples accordin g 8. 2. 8.
NOTE Devi ces i n g l ass, pl asti c, ceram i c or oth erwi se seal ed are reg arded as encl osed types.
8 Type tests
8.1 Tests on th e compou nd

8.1 .1 Water absorption test
When requ ired by 5. 3. 1 the test sh al l be carried ou t on sam ples of th e com pou n d(s) used in
“m ” equ ipm ent. Three dry sam pl es of th e com pou n d(s) sh all be tested. The sam pl es shal l be
circul ar wi th a diam eter of 50 m m ± 1 m m and a th ickness of 3 m m ± 0, 2 m m . The sam ples
shal l be weig h ed then im m ersed for at least 24 h in water, at a tem perature of 23 °C +02 K.
They sh al l th en be taken ou t of th e water, wiped dry an d wei gh ed ag ain with i n 1 m in u te. The
increase i n m ass shal l n ot exceed 1 %.
I t is n ot requ ired to use distil l ed water for this test.

8.1 .2 Dielectri c strength test
The sam pl e shal l be circul ar wi th a diam eter of 50 m m ± 1 m m and a th ickness of
3 m m ± 0, 2 m m . The sam ple shal l be sym m etrical l y pl aced between el ectrodes 30 m m ± 1 m m
in diam eter, wi th in a tem perature controlled oven , set to ach ieve th e m axim um service
tem perature of th e com pou n d.
A vol tag e of 4 kV r. m . s. +50 % an d with frequ ency between 48 H z an d 62 H z shall be appli ed

for n ot l ess th an 5 m in. N o flash over or breakdown sh al l occur duri n g th e test.
8.2 Tests on th e apparatu s

8.2.1 Test sequ en ce
The test sequ ence an d n um ber of sam ples are g i ven in An n ex B.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 27 –
 I EC 201 7
8.2.2 M aximu m temperatu re
A sam pl e of “m ” equ ipm ent sh all be subj ected to a type test to ensure th at:
a) th e tem peratu re lim its specifi ed in 6. 1 are not exceeded in norm al operati on;
b) for level of protecti on “ma” and “m b” th e m axim um surface tem perature i s not exceeded
un der fau lt con diti ons as defin ed i n 7. 2. 1 .
For “m ” equi pm en t with out an external l oad, th e test shal l be carried ou t in accordance with
th e tem perature m easu rem ents of I EC 60079-0 taking i nto accou nt th e su ppl y con diti ons
g i ven i n 4. 4.
For “m ” equ ipm en t wi th an extern al l oad, the test sh all be carri ed out for level of protecti on
“m a” and “m b” by adj u sti ng th e cu rrent to th e hi g hest val ue, wh ich does not cause th e
protecti ve device to operate, an d for level of protecti on “m c” at the specifi ed l oad param eters
in norm al operati on and i n th e case of reg u l ar expected occu rrences.
For level of protection “m a” equ ipm ent, desi gn ed for EPL “Da” th e m axim um surface
tem peratu re sh al l be determ in ed with the equ ipm ent m ou nted i n accordance with the
m anufacturer` s instructi ons, an d su rrou nded on all avai labl e surfaces by dust with a l ayer
th ickness of at l east 200 m m . The final tem perature sh al l be considered to have been reach ed
wh en th e rate of rise of tem perature does n ot exceed 1 K/24 h.
NOTE Testi ng , si m ul ati on an d anal ysi s i s som eti m es used i n ord er to ach i eve th e req ui red tem perature l i m i tati on s
un der m al fu ncti on con di ti ons for eq u i pm en t wi th ch aracteri sti cs such as non-l i n ear extern al l oads, i n pu t power
con trol , or d i ffi cul t to defi ne fai l u re m odes
8.2.3 Thermal endu rance test

8.2.3.1 Thermal endu ran ce to h eat
8.2.3.1 .1 Level of protecti on “ma” and “mb”
The test sh all be carried ou t i n accordance wi th I EC 60079-0. The tem perature to be used as
th e reference service tem perature for th e test sh all be ei th er:
a) th e m axim u m surface tem perature of th e test sam ple u n der n orm al operati on plu s 20 K;
or
b) th e m axim um tem peratu re at th e com pon ent surface in th e com poun d u n der n orm al
operation, see 6. 2. 2.
8.2.3.1 .2 Level of protection “ mc”
The test sh al l be carri ed ou t i n accordance with I EC 60079-0.
The tem perature to be used as th e reference service tem peratu re for the test sh al l be th e
m axim um surface tem perature un der n orm al operati on, see 6. 2. 1 .
8.2.3.2 Thermal endu rance to cold

The test sh al l be carri ed ou t i n accordance wi th I EC 60079-0.
8.2.3.3 Acceptance criteria

After each test th e sam ple sh all be su bj ected to a visu al i nspecti on. N o visi bl e dam ag e to th e
com pou n d th at cou ld im pair th e type of protecti on sh al l be eviden t, for exam ple cracks in th e
com pou n d, exposure of encapsu l ated parts, fai lu re of adh esion, in adm issibl e shrinkag e,
discol oration , swel lin g , decom posi ti on or soften i ng . A discoloration on th e surface of th e
com pou n d is perm issibl e (for exam pl e oxidation in th e case of epoxy resi n) .
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 I EC 201 7
I n additi on , an y electrical protecti ve device on wh ich safety depen ds, oth er than therm al
fuses, shal l be verifi ed as rem ain i ng fu ncti on al .
8.2.4 Dielectric strength test

8.2.4.1 Test procedure
The test sh all be carried ou t on th e foll owin g arran gem en ts of circu its as applicable:
a) between gal van icall y isolated circui ts;
b) between each circu it an d all earth ed parts;
c) between each circu it an d the surface of th e com pou n d or the non-m etal l ic enclosure th at,
if necessary, can be clad with a con ductive foi l.
For arran g em ent a) , th e voltag e U to be used shal l be th e sum of th e rated vol tag es of th e
two circu its bei n g tested an d for arran gem en ts b) an d c) , th e voltag e U to be used shal l be th e
rated voltag e of th e circu it bein g tested.
For arrang em en t b) , ci rcu its that con tai n tran si en t suppression com pon ents con nected
between th e circu it an d th e earth ed parts, a speci al test sam pl e with ou t th ese com ponents
shall be perm itted for th e type test.
Di el ectric stren g th sh all be verified by test:

• either as g i ven in a relevan t i ndustrial stan dard for th e i ndi vi du al i tem s of electrical
equ i pm ent or,
• at the test vol tag e accordin g to 1 ) or 2) bel ow, and increased steadi l y with in a peri od of
not l ess th an 1 0 s u n ti l i t reach es th e prescribed valu e, an d it sh al l th en be m ai ntained for
at least 60 s wi thou t dielectric breakdown occurring .
1 ) For equ ipm en t wh ere th e voltage U does n ot exceed 90 V peak, the test voltag e sh al l be
500 V r. m . s. ( +50 %) at 48 H z to 62 H z. Al tern ati vely, th e test vol tag e shal l be 700 V d. c.
( +50 %) .
2) For equ ipm en t wh ere th e voltag e U exceeds 90 V peak, the test vol tag e shal l be 2 U +
1 000 V r. m . s. ( +50 %) , wi th a m in im um of 1 500 V r. m . s. at 48 H z to 62 H z. Alternativel y,
th e test vol tag e shall be 2 U + 1 400 V d. c. ( +50 %) wi th a m in im u m of 2 1 00 V d. c.
The test voltage sh al l be increased steadil y wi th in a peri od of not less th an 1 0 s u nti l it

reach es th e prescri bed valu e, an d it sh al l th en be m aintai ned for at least 60 s.
NOTE 1 I n th e case of eq u i pm ent that, for el ectro-m ag n eti c com pati bi l i ty reasons, con tai n com ponents con n ected
to the encl osu re for the suppressi on of i nterferen ce pu l ses an d whi ch coul d be d am ag ed d uri ng the tests, a parti al
di scharg e test i s som etim es u sed as an al tern ati ve.
NOT 2 I f the ci rcu i t u n d er test i s not accessi bl e from the exteri or i t i s possi bl e to prepare a speci fi c test sam pl e
wi th addi ti on al con n ecti ons

The test sh all be deem ed as passed if n o breakdown or arcin g occurs durin g testin g .
NOTE Typi cal l y the cu rrent fl owi n g d u ri ng th e test wi l l n ot exceed 5 m A r. m . s. .
8.2.5 Cable pull test

The test sh all be carried ou t on one sam ple, previ ousl y u nstressed and at 21 °C ± 2 °C.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 29 –
 I EC 201 7
A furth er test sam ple sh all be su bj ected to the cable pu ll test after con diti on ing accordi ng to
8. 2. 3. 1 at the m axim u m tem perature at th e cable en try poin t.
The tensi l e force (in N ewton) appli ed sh al l ei th er be 20 tim es th e valu e i n m ill im etres of the
diam eter of th e cable or 5 tim es th e m ass (i n kil ogram s) of th e “m ” equ i pm ent, wh ichever is
th e lower valu e. Th is valu e can be reduced to 25 % of the requi red valu e in the case of
perm anent install ations. The m inim u m tensi le force sh al l be 1 N an d the m in im um durati on
shal l be 1 h . Th e force sh all be appli ed in the least favourabl e directi on .

After testi n g, th e sam pl e shal l be su bj ected to a vi sual i nspection. Visible displ acem ent of th e
cable, wh ich affects th e type of protection, sh all n ot be evident. N o dam ag e to th e com poun d
or cabl e th at cou ld im pai r th e type of protection shal l be evi den t, for exam ple, cracks i n th e
com pou n d, exposure of the encapsu l ated com pon en ts or fail ure of adh esion.
8.2.6 Pressure test for Group I and Group II electrical equipment

For level of protecti on “m a” with an y in di vidu al free spaces between 1 cm 3 and 1 0 cm 3 an d
l evel of protecti on “m b” with an y i n di vi du al free spaces between 1 0 cm 3 an d 1 00 cm 3 , two test
sam pl es sh all be prepared with a pressure con n ecti on . Where th ere is m ore th an on e free
space of a si ze requ irin g testin g, the pressu re test sh al l be carried out si m u ltan eousl y i n al l
th ose free spaces.
The pressure test shal l be carri ed out on sam ples that have alread y been su bm itted to the
th erm al en du rance tests (see 8. 2. 3) .
The test sh al l be carri ed ou t wi th a pressure as sh own in Table 6 appl ied for at least 1 0 s.
Table 6 – Test pressure

Minimum ambient temperature Test pressure
°C kPa
≥ –20 (a) 1 000
≥ –30 1 370
≥ –40 1 450
≥ –50 1 530
≥ –60 1 620
a) Thi s covers eq ui pm ent d esi g ned for the stan d ard am bi ent tem peratu re ran g e
speci fi ed i n I EC 60079-0.
As an altern ative for ‘m b’ equi pm en t if th e com pon en t with a free space u p to 1 00 cm 3 , prior to
encapsu l ati on, passes th e Leakag e test on seal ed devices specifi ed i n I EC 60079-1 5 (wi th out
th e con diti oni n g, voltag e, or diel ectric wi thstan d testi n g) it can be en capsu l ated with ou t
requ iri ng th e pressu re test.

After testi n g , the sam ples sh al l be visual l y i nspected. N o com pou n d dam age (such as cracks
i n th e com pou n d, exposu re of the encapsul ated com pon ents or fai lure of adh esi on) that cou ld
im pair th e type of protection sh al l be evi den t. For constructions th at are perm itted to have n o
th ickness of com pou n d between a free space and a n on-m etal l ic encl osure wall , th ere sh al l
also be n o dam ag e to th e n on -m etal l ic enclosure wal l(s)
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 I EC 201 7
8.2.7 Test for resettable thermal protective device
8.2.7.1 Resettable thermal protective devices with switching contacts
8.2.7.1 .1 Test procedure
The fu nction of the protective device sh al l be veri fied. This test shal l be perform ed after the
th erm al en du rance test. The device sh al l be capable switch ing its rated cu rrent ≥ 5 000 tim es.
8.2.7.1 .2 Acceptance criteria

The test sh al l be deem ed as passed if th e protecti ve device acts correctl y after th e test in th e
ran g e specifi ed in its datash eet.
8.2.7.2 Resettable thermal protective devices without switching contacts

8.2.7.2.1 Test procedure
The fu ncti on of the protecti ve device sh al l be veri fied. This test shal l be perform ed after the
th erm al en durance test. The device sh all be capabl e of acti ng (direct or i ndirect lim iti ng th e
tem perature rise) ≥ 500 ti m es.
8.2.7.2.2 Acceptance criteria

ran g e specified in its datash eet.
8.2.8 Sealing test for built-in protective devices

The test is to be perform ed on fi ve sam ples. With the test sam pl es at an in itial tem perature of
(25 ± 2) °C, th ey are su dden l y im m ersed in water at a tem peratu re of (50 ± 2) °C to a depth of
not less th an 25 m m for at least 1 m in . The devices are consi dered to be satisfactory if n o
bu bbles em erge from th e sam ples durin g th is test. Alternativel y, a test can be appl ied wh ere
five sam pl es are exam ined after th e encapsu lati on to ensure th at the com pou n d h as not
en tered the in terior.
9 Routine verifications and tests

9.1 Visual inspections
Each pi ece of “m ” equi pm ent sh al l be su bj ected to a visual inspection. N o dam ag e shal l be
evident, such as cracks i n th e com pou n d, exposure of the encapsu l ated parts, flaki n g,
inadm issi bl e sh ri nkag e, swel li ng , decom positi on, fai lure of adh esion (separation of an y
adh ered parts) or soften i ng .
9.2 Dielectric strength test

For circui ts, wh ich are accessible from the exteri or th e di electric streng th test sh all be used to
test th e isol ati on of circu its from each oth er an d from their en vironm en t. The test sh al l be
carried ou t on th ese circu its i n accordance wi th 8. 2. 4. Alternati vel y, the test m eth od g iven i n
Ann ex C m ay be used for th e test between each circu it an d th e surface of th e com pou n d or
th e n on-m etal lic encl osure.
The test voltage sh al l be appl ied for at l east 1 s.
Alternati vel y, 1 , 2 tim es th e test voltage m ay be appli ed and m aintain ed for at least 1 00 m s.
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 I EC 201 7
In som e cases, the actu al test period m ay n eed to be sig n ificantl y lon g er th an 1 00 m s as a
sam ple wi th a large distri bu ted capaci tance takes som e additi onal tim e to reach the requ ired
test voltage.
Contrary to th e above, th e di el ectric stren gth test for cells or batteri es sh al l be carri ed ou t in
accordance wi th th e rou ti ne di el ectric test requ irem ents of I EC 60079-7.
I n th e case of equ ipm en t that em pl oys circu its th at con tai n transi ent su ppression com pon en ts
con n ected between th e circui t an d th e earth ed parts, th e equ ipm ent need not be subj ected to
rou tin e di el ectric streng th tests, if i n ten ded for u se on l y with a g alvan ical l y isol ated circu it,
an d sh all be m arked “X” to in dicate th is specific condi tion of use i n accordance with th e
“specific con ditions of use” m arkin g requi rem en ts of I EC 60079-0.
For l evel of protection “m c”, where th ere is a routine dielectric streng th test in the relevan t
industri al stan dard for the in di vi du al item s of the el ectrical equ ipm en t, th is test sh al l be
perm i tted to be used to satisfy the routi ne di el ectric test requ irem ent for l evel of protecti on
“m c”.
1 0 Marking
I n addition to the requ irem ents of I EC 60079-0, th e m arkin g sh all incl u de:
a) th e rated voltag e,
b) th e rated cu rrent,
c) th e prospecti ve sh ort-circu it cu rrent of th e external el ectric su ppl y source if l ess th an
1 500 A, for exam pl e “Permitted su pply short-ci rcu i t cu rrent: 500 A”.
d) option all y, th e perm itted prospecti ve sh ort-circu i t curren t of th e extern al el ectrical su ppl y if
th e equ i pm ent is desig n ed for a sh ort-ci rcu i t cu rrent of 1 500 A or m ore, for exampl e
“Permi tted su ppl y sh ort-ci rcu i t cu rren t: 3 500 A”.
e) for l evel s of protecti on “mb” an d “mc” for EPL Db an d EPL Dc, tested wi thou t a du st l ayer, th e
maxi mu m su rface temperatu re i n d eg rees Cel si u s and th e u ni t of measu rem ent °C preceded
wi th th e l etter “T”, (e. g . T 90 °C). For l evel of protecti on “ma” for EPL Da, an d where
appropri ate for l evel of protecti on “mb” an d “mc” for EPL Db and EPL Dc tested wi th du st
l ayer, the m axi mu m su rface temperatu re TL sh al l be shown as a temperatu re val u e i n deg rees
Cel si u s and the u ni t of measu rement °C, with th e l ayer depth L i ndi cated as a su bscri pt i n m m,
(e. g . T200 320 °C). I n the case of Level s of Protecti on “mb” and “mc” for EPL Db or Dc, tested
wi th a du st l ayer, The m axi mu m su rface temperatu re wi thou t the d u st l ayer i s not requ i red to
be marked. Alternati vel y th e m arking in dicated in c) , d) and e) above can be i ncluded in
th e i nstructions an d the equ i pm en t sh al l be m arked “X” to in dicate th is specific con dition of
use in accordance wi th th e “specific con di ti ons of use” m arkin g requ irem ents of
I EC 60079-0.
– 32 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Annex A
(informative)
Basic requirements for compounds for “m” equipment
Fig u re A. 1 sh ows basic requ irem ents for com pou n ds for "m " equ ipm ent.
NOTE Th i s Ann ex onl y provi d es a g en eral overvi ew. Speci fi c atten ti on n eeds to be pai d to th e detai l ed text of th e
appl i cabl e requ i rem en ts wh en devel opi n g the test prog ram for speci fi c equ i pm en t.
No
Temperature range of the
compound known ?
Yes
Compound inside an enclosure in

Yes type of protection “p”, “d”, “e”, “t“ Select other material or
re-design
No
TI-value to IEC 60079-0 No

or equivalent value known
Yes
Electrostatic to IEC 60079-0 No

fulfilled
Yes
Mechanical tests to No
IEC 60079-0 fulfilled
Yes
For Group I only No
stability against chemical
materials to IEC 60079-0 fulfilled
No
Yes
Yes Resistance to light

Protection against light required ? test to IEC 60079-0 fulfilled
Yes
No
Are there bare parts leading Yes Protected by other No

out of the compound type of protection
Yes
No
Provide testing station with Tests

test sample as specified
IEC
Figure A.1 − Basic requirements for compounds for “m” equipment

I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 33 –
 I EC 201 7
Annex B
(informative)
Allocation of test samples
Tabl e B. 1 sh ows al locati on of test sam ples.
Table B.1 − Allocation of test samples

Standard tests Ad ditional tests
Sample 1 Sample 2 Sample 3 Sample 4
Determ i n ati on of l i m i ti n g
tem peratu re
i n accordance wi th 6. 3
Cabl e pu l l test i n Therm al endu ran ce test
accord an ce wi th 8. 2. 5 based on th e servi ce
tem peratu re d eterm i n ed
at the poi nt wh ere th e
cabl e en ters the
com poun d i n accord an ce
wi th 8. 2. 3. 1
Therm al endu ran ce to h eat Therm al en du ran ce to h eat
i n accordance wi th 8. 2. 3. 1 i n accordan ce wi th 8. 2. 3. 1
Therm al endu ran ce to col d Th erm al en du rance to col d
Resettabl e th erm al Resettabl e th erm al Cabl e pu l l test i n
protecti ve devi ce test i n protecti ve devi ce test i n accord ance wi th 8. 2. 5
accord ance wi th 8. 2. 7 accord an ce wi th 8. 2. 7
Di el ectri c stren g th test Di el ectri c stren g th test
i n accordance wi th 8. 2. 4 i n accordan ce wi th 8. 2. 4
Pressu re test Pressure test
(i f requi red) (i f requ i red)
Mech ani cal tests Mech ani cal tests
i n accordance wi th i n accordance wi th
I EC 60079-0 (i f requ i red) I EC 60079-0 (i f requi red)
The tests are carri ed out i n th e ord er th ey appear i n each col u m n .
– 34 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Annex C
(normative)
Dielectric strength test between circuits and environment

C.1 General
Su bl au se 8. 2. 4. 1 c) descri bes a di electric stren gth test between circu its (for exam pl e, extern al
con n ecti ons) an d the n on-m etal l ic surface of th e equ ipm ent (eith er a n on -m etall ic encl osure
or th e su rface of the com pou nd) .
For l arg e batches of equ ipm en t, wh ere it is im practical to perform this as a routi n e test i n
accordance with 9. 2, th is m ay be con ducted as a batch test in accordance with C. 2, provided
th at:
a) The m ateri al datasheet for the encl osure m ateri al or the com poun d specifi es a breakdown
voltag e at least 1 . 5 tim es th e test voltage specifi ed in 8. 2. 4. 1 (takin g accou n t of the
encl osure m aterial or com poun d th ickness) . Where both th e com pou nd an d the encl osure
m aterial are needed to con tribu te to th e dielectric streng th, th e l ower valu e of breakdown
voltag e sh al l be appl ied to th e total distance throu gh both com pou n d and enclosu re;
b) The di electric streng th test voltage of the type test is 1 , 5 tim es th e test voltag e specified in
8. 2. 4. 1 ;
c) The ph ysical test arrang em ent is as described in 8. 2. 4. 1 c) ;
d) The acceptance criteri a is as 8. 2. 4. 2;
e) The batch test requ irem ent is i ncl u ded in the m an ufactu rer’s docu m en tati on.
C.2 Batch test procedure

The batch test sh al l be m ade accordin g to th e fol lowi n g criteria, based on th e sam pl in g data
in I SO 2859-1 :
a) For a production batch u p to 1 00, 8 sam ples sh al l be tested at 1 , 5 tim es the test vol tag e
requ ired by 8. 2. 4. 1 , wi th no fai lures;
b) For a production batch from 1 01 to 1 000, 32 sam ples sh all be tested at 1 , 5 tim es the test
voltag e requ ired by 8. 2. 4. 1 , wi th n o fail ures;
c) For a produ ction batch from 1 001 to 1 0 000, 80 sam ples shall be tested at 1 , 5 tim es the
test voltage requ ired by 8. 2. 4. 1 , wi th n o fail ures;
d) Batches above 1 0 000 sh all be di vi ded i n to sm al ler batch es.
I f there are an y non-com pliant test resul ts, all rem ain in g sam ples i n th e batch sh all be routi ne
tested (1 00 %) at th e test vol tag e requ ired by 8. 2. 4. 1 .
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 35 –
 I EC 201 7
Bibliograph y
I EC 60050-426, International Electrotechnical Vocabulary – Part 426: Equipment for explosive
atmospheres
I EC 60079-1 , Explosive atmospheres – Part 1: Equipment protection by flameproof enclosures
"d"
I EC 60079-2, Explosive atmospheres – Part 2: Equipment protection by pressurized
enclosures "p"
I EC 60079-5, Explosive atmospheres – Part 5: Equipment protection by powder filling “q”
IEC 60079-6, Explosive atmospheres – Part 6: Equipment protection by oil immersion “o”
IEC 60079-1 0-1 , Explosive atmospheres – Part 10-1: Classification of areas – Explosive gas
atmospheres
IEC 60079-1 0-2, Explosive atmospheres – Part 10-2: Classification of areas – Combustible
dust atmospheres
IEC 60079-1 4, Explosive atmospheres – Part 14: Electrical installations design, selection and
erection
IEC 60079-28, Explosive atmospheres – Part 28: Protection of equipment and transmission
systems using optical radiation
IEC 60086-1 , Primary batteries – Part 1: General
I EC 60622, Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes –
Sealed nickel-cadmium prismatic rechargeable single cells
I EC 60664-1 , Insulation coordination for equipment within low-voltage systems – Part 1:
Principles, requirements and tests
IEC 60747-5-5 , Semiconductor devices – Discrete devices – Part 5-5: Optoelectronic devices
– Photocouplers
Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes
IEC 61 951 -1 ,
– Portable sealed rechargeable single cells – Part 1: Nickel-cadmium
IEC 61 951 -2,Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes
– Portable sealed rechargeable single cells – Part 2: Nickel-metal hydride
ISO 1 3849-1 , Safety of machinery – Safety-related parts of control systems – Part 1: General
principles for design
_____________
– 36 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
SOMMAI RE
AVAN T-PROPOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1 Dom ai n e d’appl ication . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
2 Références norm ati ves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3 Term es et défi n itions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
4 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
4. 1 N iveau de protection (EPL pour equ ipm en t protecti on level – n i veau de
protection du m atériel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
4. 2 Exig ences supplém entaires pour les n i veaux de protecti on "m a" et "m b" . . . . . . . . . . . . . . 45
4. 3 Exig ences supplém entaires pour le n iveau de protection "m a" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
4. 4 Tensi on assign ée et couran t de court-circu it présu m é . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5 Exig ences pour les com posés. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5. 2 Spécificati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5. 3 Propri étés du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5. 3. 1 Absorption d’eau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5. 3. 2 Ri g i di té diél ectriqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
6 Tem pératu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
6. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
6. 2 Déterm i nation des tem pératures l im ites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
6. 2. 1 Tem pérature m axim ale de surface . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
6. 2. 2 Tem pérature du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
6. 3 Lim itation de tem pérature . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
7 Exig ences de construction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
7. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
7. 2 Déterm i nation des défauts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
7. 2. 1 Exam en des défau ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
7. 2. 2 Com posants consi dérés com m e n e pou vant pas être défai ll an ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
7. 2. 3 Com posants d’isolation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
7. 2. 4 Distances de séparati on infailli bles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
7. 3 Espace l i bre dans l ’encapsu l age . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
7. 3. 1 Matériel "m " du G rou pe I I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
7. 3. 2 Matériel "m " du G rou pe I et du G rou pe I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
7. 4 Épaisseur du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
7. 4. 1 Matériel "m " . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
7. 4. 2 Enrou lem ents pour m ach i nes él ectriques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
7. 4. 3 Cartes de circu its im prim és rig ides m u lticouch es avec conn exions
traversan tes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
7. 5 Contacts de com m utati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 5. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 5. 2 Ni veau de protection "m a" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 5. 3 Ni veau de protection "m b" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 5. 4 Ni veau de protection "m c" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 6 Con nexions externes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 6. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 6. 2 Exig ences suppl ém entaires pou r le m atéri el "m a" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 7 Protecti on des parties acti ves n u es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 37 –
 I EC 201 7
7. 8 Pi les et accum ul ateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
7. 8. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
7. 8. 2 Préven tion des dég agem en ts g azeux . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
7. 8. 3 Protecti on con tre l es tem pératures excessives et con tre l a détériorati on
des pil es et accum u lateu rs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
7. 8. 4 Couran t in verse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
7. 8. 5 Lim itation de cou ran t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
7. 8. 6 Protecti on con tre l ’in versi on de pol arité et les déch arg es sévères des
piles et accum ul ateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
7. 8. 7 Ch arg e des pi l es et accu m u lateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
7. 8. 8 Exig ences pour l es dispositifs de con trôl e de sécu rité des pi l es ou
accum u lateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
7. 9 Dispositifs de protection . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
7. 9. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
7. 9. 2 Dispositifs de protection électriqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
7. 9. 3 Dispositifs de protection therm iqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
7. 9. 4 Dispositifs de protection i ncorporés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8 Essais de type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 1 Essais sur le com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 1 . 1 Essai d’absorption d’eau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 1 . 2 Essai de rig i dité di électri qu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
8. 2 Essais du m atériel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
8. 2. 1 Séqu ence d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
8. 2. 2 Tem pérature m axim ale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
8. 2. 3 Essai d’en durance th erm iqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
8. 2. 4 Essai de rig i dité di électriqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
8. 2. 5 Essai de tracti on de câbl e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
8. 2. 6 Essai de pressi on pou r l e m atéri el électriqu e du Grou pe I et du G rou pe
I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
8. 2. 7 Essais des dispositifs de protection th erm ique réarm abl es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
8. 2. 8 Essai d’étanchéité pour l es dispositifs de protecti on incorporés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
9 Vérifications et essais i n divi duels de séri e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
9. 1 I nspecti ons visu elles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
9. 2 Essai de rig idité di électri qu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
1 0 Marqu ag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
Ann exe A (i nform ati ve) Exig ences de base pou r les com posés pour m atéri el "m " . . . . . . . . . . . . . . . 69
Ann exe B (i nform ati ve) Al locati on des éch antil lons d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
Ann exe C (n orm ati ve) Essai de rig i dité di électriqu e en tre les circui ts et
l'en vironn em en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
C. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
C. 2 Procédure d'essai par lots . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
Bibl i ographi e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
Fig u re 1 – Règ les dim en sion n el l es pou r les épaisseurs dans l e com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
Fig u re 2 – Distances m i n im al es pour les cartes de circu its im prim és m ulticou ch es . . . . . . . . . . . . . . . 56
Fig u re 3 – M ise en pl ace de diodes de blocag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
Fig u re A. 1 − Exig ences de base pour l es com posés pour m atériel "m " . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
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Tabl eau 1 – Distances dans le com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
Tabl eau 2 – Épaisseur m i nim ale du com posé adj acen t à u n espace l ibre pou r l e
m atériel "m " du G rou pe I I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
m atériel "m " du G rou pe I et du Grou pe I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
Tabl eau 4 – Épaisseur du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Tabl eau 5 – Distances m inim al es pour cartes de circu its im prim és m u lticou ch es . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
Tabl eau 6 – Essai de pressi on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
Tabl eau B. 1 − Allocati on des éch anti llons d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
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 I EC 201 7
COMMI SSI ON ÉLECTROTECHNI QUE I N TERNATI ONALE
______________
ATMOSPHÈRES EXPLOSIVES –
Partie 1 8: Protection du matériel par encapsulage "m"
AVANT-PROPOS
1 ) La Com m i ssi on El ectrotech n i q ue I nternati on al e (I EC) est un e org an i sati on m on di al e de n orm al i sati on com po-
sée de l 'en sem bl e d es com i tés él ectrotech ni q u es n ati onau x (Com i tés n ati on au x d e l ’I EC) . L’ I EC a pour obj et d e
favori ser l a coopérati on i ntern ati on al e pou r tou tes l es q u esti ons de n orm al i sati on dan s l es dom ai nes de l ' él ec-
tri ci té et de l 'él ectroni q u e. À cet effet, l ’I EC – entre au tres acti vi tés – pu bl i e d es N orm es i ntern ati onal es, des
Spéci fi cati ons techn i qu es, des Rapports techn i q ues, des Spéci fi cati on s accessi bl es au publ i c (PAS) et des
G ui d es (ci -après dén om m és "Publ i cati on (s) de l ’I EC") . Leur él aborati on est confi ée à des com i tés d'étu des, au x
travau x desq u el s tou t Com i té n ati onal i ntéressé par l e su j et trai té peu t parti ci per. Les org ani sati on s i ntern ati o-
n al es, g ou vern em en tal es et n on g ou vern em en tal es, en l i ai son avec l ’I EC, parti ci pen t ég al em ent au x travau x.
L’I EC col l abore étroi tem ent avec l 'Org an i sati on I n tern ati on al e de N orm al i sati on (I SO) , sel on des condi ti on s
fi xées par accord entre l es d eu x org an i sati ons.
2) Les d éci si ons ou accords offi ci el s d e l ’I EC concern an t l es q u esti ons techn i qu es représenten t, d ans l a m esure
du possi bl e, u n accord i ntern ati on al su r l es su j ets étu d i és, étant don n é que l es Com i tés nati on au x d e l ’I EC i n té-
ressés son t représen tés d ans chaqu e com i té d’étud es.
3) Les Pu bl i cati on s de l ’I EC se présentent sous l a form e de recom m an dati on s i n ternati on al es et sont ag réées
com m e tel l es par l es Com i tés n ati on au x de l ’I EC. Tou s l es efforts rai son n abl es sont en trepri s afi n qu e l ’I EC
s'assure de l 'exacti tu de d u con tenu tech n i qu e de ses pu bl i cati ons; l ’I EC n e peu t pas être tenu e respon sabl e de
l 'éven tu el l e m au vai se uti l i sati on ou i n terprétati on qu i en est fai te par u n qu el con qu e u ti l i sateur fi n al .
4) Dan s l e but d' en courag er l ' un i form i té i n ternati on al e, l es Com i tés n ati on au x de l ’I EC s'eng ag en t, dan s toute l a
m esure possi bl e, à appl i quer d e façon tran sparen te l es Pu bl i cati on s d e l ’I EC dans l eu rs pu bl i cati ons n ati on al es
et rég i on al es. Tou tes di verg en ces en tre toutes Pu bl i cati ons de l ’I EC et tou tes pu bl i cati on s nati on al es ou rég i o-
nal es correspon dan tes doi ven t être i n di q u ées en term es cl ai rs dans ces dern i ères.
5) L’I EC el l e-m êm e ne fou rni t aucun e attestati on de conform i té. Des org an i sm es de certi fi cati on i n dépen d an ts
fourn i ssen t d es servi ces d'éval u ati on d e conform i té et, dans certai n s secteurs, accèden t au x m arqu es d e con -
form i té de l ’I EC. L’I EC n ' est respon sabl e d'aucun des servi ces effectués par l es org ani sm es de certi fi cati on i n -
dépen d an ts.
6) Tou s l es uti l i sateu rs d oi vent s' assu rer qu 'i l s sont en possessi on d e l a d ern i ère édi ti on de cette publ i cati on .
7) Au cu ne respon sabi l i té ne doi t être i m pu tée à l ’I EC, à ses adm i n i strateu rs, em pl oyés, au xi l i ai res ou m anda-
tai res, y com pri s ses experts parti cu l i ers et l es m em bres de ses com i tés d'étu des et d es Com i tés nati onau x d e
l ’I EC, pou r tout préj udi ce cau sé en cas de dom m ag es corporel s et m atéri el s, ou de tout au tre dom m ag e de
qu el qu e n atu re que ce soi t, di recte ou i n di recte, ou pou r su pporter l es coûts (y com pri s l es frai s de j usti ce) et
l es dépen ses d écoul ant de l a pu bl i cati on ou d e l ' uti l i sati on d e cette P ubl i cati on de l ’I EC ou de tou te au tre Pu -
bl i cati on de l ’I E C, ou au crédi t qu i l u i est accord é.
8) L'atten ti on est atti rée su r l es références norm ati ves ci tées d an s cette pu bl i cati on. L'u ti l i sati on de publ i cati on s
référencées est obl i g atoi re pou r un e appl i cati on correcte de l a présente publ i cati on .
9) L’attenti on est atti rée su r l e fai t q u e certai n s d es él ém ents de l a présen te Pu bl i cati on de l ’I EC peu vent fai re
l ’obj et de d roi ts de brevet. L’I E C n e sau rai t être ten u e pou r responsabl e d e n e pas avoi r i denti fi é d e tel s droi ts
de brevets et de ne pas avoi r si g nal é l eu r exi sten ce.
DÉG AGEMENT DE RESPONSABILITÉ

Cette version consolidée n’est pas une Norme IEC officielle, elle a été préparée par
commodité pou r l’utilisateu r. Seules les versions courantes de cette norme et de
son(ses) amendement(s) doivent être considérées comme les documents officiels.
Cette version consolidée de l’IEC 60079-1 8 porte le numéro d'édition 4.1 . Elle comprend
la quatrième édition (201 4-1 2) [documents 31 /1 1 52/FDIS et 31 /1 1 68/RVD] et son
amendement 1 (201 7-08) [documents 31 /1 323/FDIS et 31 /1 336/RVD] . Le contenu tech-
niqu e est identique à celui de l'édition de base et à son amendement.
Dans cette version Redline, une lig ne verticale dans la marg e indique où le contenu
techniqu e est modifié par l’ amendement 1 . Les ajouts sont en vert, les suppressions
sont en roug e, barrées. Une version Finale avec toutes les modifications acceptées est
disponible dans cette publication.
– 40 –
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
La N orm e in tern ati on al e I EC 60079-1 8 a été établ i e par le com ité d'étu des 31 de l'I EC: M até-
riel pou r atm osphères explosives.
Cette qu atrièm e éditi on constitu e u n e révisi on techn ique.
Cette N orm e I nternation ale doit être uti l isée conj oin tem ent avec l’I EC 60079-0, Atmosphères
explosives – Partie 0: Matériel – Exigences générales.
Cette édi ti on i ncl ut l es m odificati ons tech n iqu es m aj eures su ivan tes par rapport à l’édition
précéden te:
Type
Explication de l'importance des modifications Arti cle Modifications Exten sion Modifications
mineures et techniqu es
rédactionn elles majeu res
Défi n i ti on s suppri m ées et d épl acées vers l ’I EC 60079-0 3 X
Ti tre m odi fi é/aj ou té pour cl ari fi er l es exi g ences q ui sont 4 X
suppl ém en tai res pou r "m a" n i veau de protecti on un i -
quem en t
Aj ou t de l a cond u cti vi té therm i que 5. 2 X
Aj ou t d'u n e n ote spéci fi an t q ue l a véri fi cati on d e l a con - 5. 3. 2 X
form i té du com posé à l a spéci fi cati on d u constructeu r
n ’est pas u n e exi g en ce de l a présen te N orm e
Aj ou t d'u n e cl ari fi cati on 6. 2. 2 X
Aj ou t d'u n e cl ari fi cati on 7. 1 X
Aj ou t d'opti on s et d'u ne cl ari fi cati on pou r l a déterm i n a- 7. 2 X
ti on d es défauts
Aj ou t d'i n form ati on s suppl ém en tai res à l a Fi g u re 1 7. 4. 1 X
La phrase "Les vern i s et revêtem en ts sim i l ai res ne sont 7. 4. 2 X
pas consi dérés com m e des i sol ati ons sol i des. " a été
aj ou tée à cette parti e et su ppri m ée de l a défi ni ti on 3. 8
Aj ou t de norm es suppl ém entai res pou r l es cartes de 7. 4. 3. 1 X
ci rcui ts i m pri m és ri g i des m ul ti couches avec con n exi ons
traversantes
Protecti on contre l es tem pératu res excessi ves et con tre 7. 8. 3 C1
l a détéri orati on des pi l es et accu m u l ateu rs
Aj ou t de possi bi l i tés suppl ém entai res et cl ari fi ées pou r 7. 9. 2 X
l es di sposi ti fs de protecti on él ectri qu e
l es di sposi ti fs de protecti on th erm i que
Suppressi on de l a l i m i tati on à 2/3 de l a ten si on 7. 9. 3 X
Déterm i nati on de l a tem pératu re m axi m al e pou r "Da" 8. 2. 2 C2
Stabi l i sati on d e l a tem pératu re 8. 2. 2 C3
Endu rance therm i que à l a ch al eu r 8. 2. 3. 1 X
Déterm i nati on de l a tem pératu re com m e tem pératu re de 8. 2. 3. 1 . 1 X
servi ce de référence et i n di cati on d’ au tres possi bi l i tés
d’essai s
Aj ou t d'au tres possi bi l i tés pou r l a procéd ure d'essai d e 8. 2. 4. 1 X
ri g i di té di él ectri qu e
Aj ou t d'au tres m éth odes d'essai pour l ’ essai de pressi on 8. 2. 6 X
exi g é d u m atéri el él ectri qu e des g rou pes I et I I
Essai d’étanch éi té pou r l es di sposi ti fs de protecti on 8. 2. 8 X
i n corporés
Aj ou t d'au tres possi bi l i tés pou r l a procéd ure d'essai d e 9. 2 X
Marq u ag e 10 X
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 41 –
 I EC 201 7
Explication d es types de modifications majeu res:
A) Défini tions
1. Modifications mineures et rédactionnelles: • Cl ari fi cati on
• Di m i nu ti on des exi g en ces tech ni qu es
• Modi fi cati on tech n i qu e m i neure
• Correcti ons rédacti on nel l es
Ces m odi fi cati ons porten t su r l es exi g ences et sont d e n ature rédacti onn el l e ou techn i qu e m i n eu re. El l es com -
prenn ent des m odi fi cati on s d e form ul ati on d esti nées à cl ari fi er l es exi g en ces tech n i qu es san s apporter de m odi -
fi cati on tech n i qu e n i rédui re l e ni veau actu el d e l 'exi g ence.
2. Exten sion: • Aj out d'opti ons tech ni q u es
Ces m odi fi cati on s aj ou ten t d e nou vel l es exi g en ces tech ni qu es ou m odi fi ent l es exi g ences exi stan tes d e façon à
fou rn i r de n ou vel l es opti on s, m ai s san s aug m enter l es exi g ences rel ati ves au m atéri el qu i étai t total em en t con-
form e à l a précéd ente n orm e. Ces m odi fi cati on s n e son t don c pas à prend re en com pte dan s l e cas d e produ i ts
con form es à l a précéden te éd i ti on .
3. Modifications techniqu es majeu res: • aj ou t d'exi g en ces tech n i qu es
• aug m entati on d es exi g en ces tech ni qu es
Ces m odi fi cati on s son t apportées au x exi g en ces techn i qu es (aj out, aug m entati on d u ni veau ou su ppressi on) de
tel l e façon q u'u n produ i t conform e à l a précéd en te édi ti on n 'a pas tou j ou rs l a capaci té d e sati sfai re au x exi -
g en ces i n di qu ées dan s l a dern i ère édi ti on . Ces m odi fi cati on s sont à pren dre en com pte dan s l e cas de produ i ts
con form es à l a précéden te édi ti on. L'él ém en t B) ci -dessous fourn i t des i nform ati ons suppl ém en tai res sur ces
m odi fi cati on s.
N ote Ces m odi fi cati on s refl èten t l es conn ai ssan ces tech n ol og i qu es actu el l es. Cependan t, i l con vi ent qu e ces
m odi fi cati on s n'ai ent pas d'i n fl uence su r l e m atéri el d éj à su r l e m arch é.
B) Informations sur l'origine des "Modification s techniques majeures"

C1 Arti cl e 7. 8. 3 Modi fi cati on des exi g en ces et aj out d' exi g en ces su ppl ém entai res pou r l es pi l es et accum ul a-
teu rs
C2 La fl exi bi l i té i n di q uée d ans l ’I EC 60079-0 est rem pl acée par u n e exi g ence m i n. Pou r l e ni veau d e protecti on
du m atéri el "m a", conçu pour l ' EPL (eq ui pm ent protecti on l evel – n i veau d e protecti on du m atéri el ) " Da", l a tem -
pératu re m axi m al e de su rface doi t être déterm i n ée avec l e m atéri el m on té con form ém en t au x i n stru cti on s du
con stru cteu r et entou ré sur tou te l a surface di spon i bl e par u n e cou ch e d e poussi ère d 'u n e épai sseu r d'au m oi ns
200 m m
C3 L’éch au ffem en t q u i se prod ui t au cou rs de l ’ essai peu t être un processu s très l ent. I l doi t être consi d éré q u e
l a tem pérature fi n al e a été attei n te q u an d l a vi tesse d’ éch auffem en t ne dépasse pas 1 K/24 h.
Cette pu bl ication a été rédig ée selon l es Directives I SO/I EC, Parti e 2.
Un e l iste de toutes l es parties de la série I EC 60079, pu bl i ées sous l e ti tre g énéral Atmos-
phères explosives, peut être consu l tée sur le site web de l'I EC.
– 42 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Le com ité a déci dé qu e le con ten u de l a pu blicati on de base et de son am endem ent n e sera
pas m odifi é avant la date de stabi l ité in diqu ée sur l e site web d e l’I EC sous
"http://webstore. i ec. ch " dans les don nées rel atives à l a pu blication recherchée. A cette date,
la pu blication sera
• recon dui te,
• supprim ée,
• rem pl acée par u n e édition révisée, ou
• am endée.
IMPORTANT – Le logo "colour inside" qui se trouve sur la page de couverture de cette
publication indique qu'elle contient des couleurs qui sont considérées comme utiles à
une bonne compréhension de son contenu. Les utilisateurs devraient, par conséquent,
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I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 43 –
 I EC 201 7
1 Domaine d’application
La présen te partie de l ’I EC 60079 défi n it les exi g ences spécifiqu es à la constructi on , aux es-
sais et au m arqu age des m atériels él ectri ques, des parties de m atériels él ectri ques et des
com posan ts Ex protégés par encapsul age de type "m " et destin és à u ne util isation dans les
atm osph ères expl osives gazeu ses ou les atm osph ères expl osi ves poussiéreuses.
La présente parti e n e s’appl iqu e qu ’aux m atéri el s él ectriques protég és par encapsu lag e, au x
parties de m atéri el électri qu e protég ées par encapsu lage et au x com posants Ex protégés par
encapsu l age (ci-après touj ou rs dén om m és m atériel "m ") pour lesqu els l a tensi on assi g née
n ’excède pas 1 1 kV.
L’u til isati on du m atéri el électriqu e en atm osphère pou van t con ten ir sim u ltaném ent du gaz
explosif et des poussi ères com bu stibles peu t n écessiter des m esures de protecti on suppl é-
m entaires.
La présente Norm e n e s’appliqu e pas au x poussi ères d’explosifs qu i n ’exi gen t pas d’oxyg èn e
de l’air pour l eu r com bu stion n i aux su bstances pyroph oriqu es.
La présen te N orm e n e ti en t pas com pte des risqu es, quels qu'ils soi en t, résu ltan t d’u ne ém i s-
si on de g az i nflam m able ou toxiqu e proven ant de l a poussière.
La présente N orm e com plète et m odifie les exi g ences g én érales de l ’ I EC 60079-0. Si u ne
exig ence de l a présen te N orm e est en confl i t avec u ne exi g en ce de l ’ I EC 60079-0, l'exig ence
de la présente N orm e a préséance.
2 Références normatives
Les docum ents su ivan ts sont ci tés en référence de m an ière n orm ati ve, en i n tégralité ou en
partie, dans le présen t docu m en t et son t in dispensabl es pour son appl icati on . Pour l es réfé-
rences datées, seu l e l’édition citée s’appl iqu e. Pou r les références n on datées, la dern i ère
édi tion du docum en t de référence s’appl iqu e (y com pris les éventu els am endem en ts) .
I EC 60079-0, Atmosphères explosives – Partie 0: Matériel – Exigences générales

I EC 60079-7, Atmosphères explosives – Partie 7: Protection de l’équipement par sécurité
augmentée "e"
I EC 60079-1 1 , Atmosphères explosives – Partie 11: Protection de l’équipement par sécurité
intrinsèque "i"
I EC 60079-1 5, Atmosphères explosives – Partie 15: Protection du matériel par mode de pro-
tection "n"
I EC 60079-26, Atmosphères explosives – Partie 26: Matériel d’un niveau de protection du
matériel (EPL) Ga
I EC 60079-31 ,Atmosphères explosives – Partie 31: Protection contre l’inflammation de pous-
sières par enveloppe "t" relative au matériel
– 44 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
IEC 601 27 (tou tes les parties) , Coupe-circuit miniatures
IEC 60243-1 , Rigidité diélectrique des matériaux isolants – Méthodes d’essai – Partie 1: Es-
sais aux fréquences industrielles
I EC 60691 , Protecteurs thermiques – Prescriptions et guide d’application
IEC 60730-2-9, Dispositifs de commande électrique automatiques à usage domestique et
analogue – Partie 2-9: Règles particulières pour les dispositifs de commande thermosensibles
IEC 60738-1 , Thermistances – Coefficient de température positif à chauffage direct – Partie 1:
Spécification générique
IEC 61 1 40,Protection contre les chocs électriques – Aspects communs aux installations et
aux matériels
Sécurité des transformateurs, alimentations, bobines d’inductance et produits
IEC 61 558-1 ,
analogues – Partie 1: Exigences générales et essais
I EC 61 558-2-6, Sécurité des transformateurs, bobines d'inductance, blocs d'alimentation et
produits analogues pour des tensions d'alimentation jusqu'à 1 100 V − Partie 2-6: Règles par-
ticulières et essais pour les transformateurs de sécurité et les blocs d'alimentation incorporant
des transformateurs de sécurité
I EC 62326-4-1 ,Cartes imprimées – Partie 4: Cartes imprimées multicouches rigides avec
connexions intercouches – Spécification intermédiaire – Section 1: Spécification particulière
d’agrément: Niveaux de performances A, B et C
AN SI /U L 248 (toutes parties) , Standard for low-voltage fuses
AN SI /U L 746B, Standard for polymeric materials – Long-term property evaluations
3 Termes et définitions
Pour les besoi ns du présen t docum en t, l es term es et défi n iti ons donn és dans l ’ I EC 60079-0 et
les défin i tions su ivan tes s’appl iqu en t.
NOTE Des d éfi ni ti ons su ppl ém entai res appl i cabl es au x atm osph ères expl osi ves sont d on nées d an s l ’I EC 60050-
426.
3.1
encapsu l ag e "m"
m ode de protecti on dan s lequ el l es parti es d e m atériel qu i sont capables d’enfl am m er une
atm osph ère expl osi ve par étincel le ou éch auffem ent sont com pl ètem ent enferm ées dans un
com posé ou dans u n e au tre en veloppe n on m étal l iqu e autorisée avec adh érence, de tel le
sorte que l’i nflam m ati on d’u n e couch e de poussière ou d’ u ne atm osphère expl osive dans des
con ditions de foncti on n em ent ou d’instal lati on n e peu t se produ ire
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 45 –
 I EC 201 7
3.2
plage de températu res du composé
plag e de tem pératures dans l aqu el le l es propriétés du com posé, l ors du foncti on n em ent ou du
stockage, sont conform es au x exig ences de l ’I EC 60079-1 8
3.3
surface libre
surface du com posé exposée aux atm osph ères explosi ves et/ou couches de poussières
3.4
contact de commutation
con tact m écan ique desti né à établ ir ou à cou per un circu i t él ectri qu e
3.5
adhérence
ag rég at perm an ent d'un com posé à la surface d’un e paroi et qu i est étan che à l ’h um idité, au
gaz et à la poussière
3.6
défaut pris en compte
défau t qu i survi en t dans les parti es de m atéri el él ectriqu e conform es aux exig ences de cons-
truction
3.7
séparation infaillible
séparati on en tre l es parti es électriqu em ent con ductrices qui est considérée com m e non su-
jette aux courts-circu i ts
3.8
isolement solide
m atériau d’isol em en t qu i est extrudé ou m ou l é, m ais n on cou lé
Note 1 à l ' arti cl e: Les i sol ateurs fabri qu és à parti r de d eu x ou de pl usi eurs pi èces en m atéri au i sol ant qui son t
sol i dem en t fi xés en sem bl e, peu vent être con si d érés com m e sol i d es.
4 Généralités
4.1 Niveau de protection (EPL pour equipment protection level – niveau de protection
du matériel)
Le m atéri el él ectri qu e avec encapsul age "m " doit être soit de:
a) n i veau de protection "m a" (EPL "M a, G a, Da") ,
b) n i veau de protection "m b" (EPL "M b, G b, Db") , ou
c) n i veau de protection "m c" (EPL "Gc, Dc") .
Les exi g ences de l a présen te N orm e s’appl iqu en t à tou s les n iveau x de protection pour
l’encapsu l ag e "m ", sauf spécification contraire.
4.2 Exig ences supplémentaires pou r les niveaux de protection "ma" et "mb"
Les com posants sans protecti on su pplém en taire doivent être uti lisés à con diti on qu ’ils n e
pu issent pas en dom m ager m écan i qu em en t ou th erm iquem ent l ’encapsu lag e en cas de tou te
con diti on de défau t spéci fiée dans la présente N orm e.
En varian te, l orsqu ’u n défau t d’u n com posant intern e peu t entraîn er un e défai l lance de
l’encapsu l ag e "m " par su i te d’u n éch auffem ent, l es exi gences de 7. 9 doi ven t s’appl iqu er.
– 46 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
4.3 Exig ences supplémentaires pou r le niveau de protection "ma"
La tension de service en tout point du circu it ne doit pas dépasser 1 kV.
4.4 Tension assignée et courant de court-circuit présu mé

La tension assi g née et l e couran t de court-circu it présum é doiven t être spécifiés de façon à
ce qu e la tem pérature l i m ite ne soi t pas dépassée pou r l e n i veau de protecti on approprié
"m a", "m b" ou "m c".
5 Exigences pour les composés

5.1 Généralités
La docum en tation doi t spécifi er l e ou l es com posés uti l i sés et l a ou les m éthodes de m esure,
y com pris l es m esures vi san t à em pêch er l a form ati on de vides.
Au m inim um , les propri étés du ou des com posés don t dépend l’encapsu lage "m " doivent être
effectives.
NOTE La sél ecti on correcte des com posés perm et l ’expan si on des com posants l ors du foncti on n em en t et d an s
l ’éventu al i té de d éfau ts au tori sés.
5.2 Spécification
La spécificati on pou r le com posé doit com prendre ce qui sui t:
a) l e nom et l ’adresse du constructeur du com posé,
b) l a référence exacte et com plète du com posé et le cas échéant l e pou rcentag e des ch arg es
et au tres additifs, l es rapports de m élan g e et l a désig n ati on du type,
c) l e cas échéant, tout traitem ent de su rface du ou des com posés, par exem pl e vern issag e,
d) l e cas éch éan t, tou te exi gence de prétrai tem en t du com posant dans le bu t d’obten ir u ne
m eill eure adhérence du com posé sur l e com posan t, par exem pl e n ettoyag e, gravure,
e) l a ri g i dité di électri qu e conform ém ent à l ’ I EC 60243-1 , à l a tem pérature m axim al e de ser-
vice du com posé déterm i née selon 8. 2. 2 a) , si la valeur de cette tem pérature est dispo-
n ible; si ell e n 'est pas dispon i ble, les exig ences de 5. 3. 2 doivent être appl iqu ées,
f) plag e de tem pératu res du ou des com posés (y com pris l a COT (con tin u ou s operati n g tem -
perature – tem pératu re de fonctionn em en t conti nu ) m axim al e et l a COT m in im ale) ,
g) dans le cas d’u n m atéri el "m " pour l equ el le com posé constitue u ne parti e de l ’en vel oppe
externe, l a val eur de l ’i n dice de tem pératu re I T tel que défi ni par l ’ I EC 60079-0. Com m e
variante à l’in dice de tem pérature I T, l’in dice relatif th erm ique (I RT – m écan iqu e) peu t être
déterm in é conform ém ent à AN SI /UL 746B,
h) la cou leur du com posé u til isé pou r les éch an til lon s d’essai , si l a spécificati on du com posé
est influ encée par u n ch ang em en t de cou l eur,
i) la con ducti vité therm iqu e si la m éth ode d’essai de rem placem en t de 6. 2. 2 est u ti lisée.
NOTE La véri fi cati on de l a conform i té du com posé à l a spéci fi cati on d u constructeur n ’est pas u n e exi g ence de l a
présen te N orm e.
5.3 Propriétés du composé

5.3.1 Absorption d’ eau
Le com posé doi t être soit soum is à essai sel on 8. 1 . 1 soi t, si cet essai n 'est pas réal isé, le
num éro de certificat du m atériel doit com prendre le suffixe "X" conform ém ent aux exig ences
de m arquag e de l ’I EC 60079-0 et les con diti ons spécifiqu es d'u tilisati on én um érées su r l e
certificat doi vent détai l ler l es précau tions n écessai res.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 47 –
 I EC 201 7
5.3.2 Rig idité di électri que
Si l a valeur de l a ri g idi té diél ectri que conform ém ent à l ’I EC 60243-1 à l a tem pératu re m axi-
m ale de service conform e à 8. 2. 2 a) du com posé n ’est pas dispon ibl e auprès du constructeu r
du m atéri el, u n essai doit être réal isé selon 8. 1 . 2.
présen te N orm e.
6 Températures
6.1 Généralités
La tem pérature de servi ce du com posé, déterm i née conform ém ent à l’ I EC 60079-0, n e doit
pas dépasser la val eur m axim ale de la COT du com posé. La tem pérature m axim ale de su r-
face doi t être déterm in ée conform ém ent à l ’I EC 60079-0 dans des con ditions de foncti onn e-
m ent n orm al et dans des con diti ons de défau t telles qu e défi n i es en 7. 2. 1 . Le m atériel "m "
doit être protég é de tell e façon qu e l ’encapsu l ag e "m " ne soit pas altéré dans ces condi tions
de défau t.
6.2 Déterm ination d es températu res lim ites

6.2.1 Températu re m axi mal e de su rface
La tem pérature m axim al e de su rface doit être déterm in ée en uti l isan t la m éth ode d’essai do n-
née en 8. 2. 2 conform ém en t aux conditions d’al im en tati on spécifi ées en 4. 4.
NOTE Cette tem pératu re est u ti l i sée pou r déterm i ner l a cl asse de tem pératu re pour l es atm osph ères expl osi ves
g azeu ses ou l a tem pératu re m axi m al e de su rface, expri m ée en deg rés Cel si us, du m atéri el desti n é au x atm os-
ph ères expl osi ves poussi éreuses, ou l es deu x.
6.2.2 Températu re du com posé

Le com posant le plus ch au d doit être déterm iné. La tem pérature m axim al e dans l e com posé,
à proxim ité du com posant l e plu s chau d, doit être déterm i née en u ti l isant l a m éth ode d’essai
don née en 8. 2. 2 pour le fonction nem ent n orm al .
En varian te, la tem pérature du com posan t l e plu s chau d en fonction n em en t n orm al peu t être
déterm in ée soi t par calcu l, soi t à partir de l a spéci ficati on du constructeu r, soit en sou m ettant
à l'essai le com posant dans l es con diti ons d'appl icati on prévu es, avant en capsu l ag e du com -
posant si la con du ctivité therm i qu e du com posé est supéri eure à cell e de l'air.
NOTE La con ducti vi té th erm i que d e l ’ai r est l e pl us souven t défi n i e com m e étant de 0, 25 W/m *K (con di ti on s n or-
m al es) .
6.3 Limitation d e températu re

Lorsqu e l e m atériel peut être défectu eux selon 7. 2. 1 , ou en cas de possi ble éch au ffem en t, par
exem ple à l a su ite de l ’application d’u n e tension dom m ag eable selon 7. 2. 1 ou su ite à u ne
charg e dom m ageable, ces param ètres doi ven t être pris en com pte pour déterm iner les tem pé-
ratu res l im ites.
Lorsqu e pour des raison s de sécurité, i l faut qu'u n disposi tif de protecti on l im ite l es tem péra-
tures, ce doit être u n disposi tif él ectriqu e ou th erm iqu e extern e au m atéri el ou directem en t
intégré au m atéri el, tel que défin i en 7. 9.
– 48 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
7 Exigences de construction
7.1 Généralités
Lorsqu e l e com posé fai t parti e de l'en veloppe extern e, il doit satisfaire au x exig ences de
l’I EC 60079-0 appl icables aux en vel oppes n on m étal l iques et aux parti es d'en vel oppes n on
m étal l i ques.
Si l a surface du com posé est totalem ent ou partiell em en t entourée par u n e en veloppe et qu e
l'en veloppe fait partie de la protection, l'en veloppe ou l es parties de l 'en vel oppe doi ven t satis-
faire aux exig ences de l’ I EC 60079-0 appl icables aux en veloppes.
Il peu t être exig é qu e l 'u ti lisateur appli qu e des m esu res de protection su pplém en taires dans
l'i nstallation afi n de satisfaire au x exig ences de la présente N orm e. Par exem pl e, u ne protec-
ti on m écan i qu e supplém en taire peu t être exi g ée pour protég er le m atéri el con tre un ch oc d i-
rect. Dans de tels cas, l e n um éro de certificat du m atériel doit com pren dre l e su ffixe "X" co n-
form ém ent aux exi gences de m arqu ag e de l ’ I EC 60079-0 et l es condi ti on s spécifi qu es d'u ti l i-
sati on én um érées sur l e certificat doi vent détai ller l es précau tions n écessaires.
Des m esures appropriées doi ven t être prises pour ten ir com pte de l’expansi on des com po-
san ts pen dan t u n foncti onn em en t n orm al et en cas d’appariti on de défau t selon 7. 2.
Les exi gences de 7. 2 à 7. 9 son t différen tes sel on qu e le com posé adhère ou non à l 'en ve-
loppe. La spécification d'un e adh érence vise à em pêcher l'in troducti on d’atm osph ères expl o-
sives et d'h um idi té aux i nterfaces des su rfaces de séparation (par exem pl e en veloppe-
com posé, com posé-parties n on enti èrem ent recou vertes par le com posé, tel l es que cartes de
circui ts im prim és, bornes de con nexion, etc. ) . Lorsqu e l’adh érence est n écessaire pou r assu-
rer l e m ode de protecti on , el l e doit être in tacte après l a fi n de tous les essais requ is. Le choix
du ou des com posés à u til iser pou r un e appl icati on spécifi que dépen d du rôl e attribu é à
chaque com posé. Si u n com posé est soum is à l’essai u n e fois pour u n e application donn ée,
cela n e l e qu al ifie pas pour tou tes les appl ications.
NOTE Des essai s d’adh érence son t à l ’étu de.
7.2 Détermination des défauts

7.2.1 Examen des défauts
Lorsqu'il est soum is à l'essai conform ém ent à l’I EC 60079-0, l'encapsu lag e "m " doi t être m ai n-
ten u dans le cas de
a) l a charg e l a plu s défavorabl e et
b) j usqu'à deux défauts i nternes pris en com pte pour le n i veau de protection "m a", et jus-
qu 'à u n défaut in tern e pris en com pte pour le n i veau de protecti on "m b", en ten ant
com pte de 7. 2. 2, 7. 2. 3 et 7. 2. 4.
Au cu n défaut n ’est pris en com pte pour l e n i veau de protection "m c".
NOTE Des défauts sont, par exem pl e, un cou rt-ci rcu i t d ans un com posant, l a défai l l an ce d’un com posant ou u n
défaut entre l es pi stes su r u n e carte d e ci rcu i ts i m pri m és, m ai s pas au débu t d’ un e pi ste.
La défai ll ance de certai n s com posants peut provoqu er des condi ti ons instabl es, par exem ple
la variation d’un e résistance de faible à élevée. Dans ces cas, l a condi tion l a pl us défavorabl e
doi t être reten u e.
Si u n défau t entraîn e u l térieurem en t u n ou pl usi eu rs au tres défauts, par exem pl e à la su ite de

la su rch arg e d'u n com posan t, le défau t in itial et le ou les défau ts ul térieurs doiven t être co n-
si dérés com m e constituant u n seu l défau t.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 49 –
 I EC 201 7
7. 2. 2 Composants consi d érés comm e n e pou vant pas être d éfai ll ants
Pou r les n i veaux de protection "m a" et "m b", l es com posan ts su i vants d oi ven t être considérés
com m e ne pou van t pas être défai l lan ts s'i ls sont encapsu lés conform ém ent aux exi g ences de
la présen te N orm e, s’ils son t appropriés pour l a tem pérature de service et s’i ls ne sont pas
charg és à pl us de 2/3 de leur tensi on assi gn ée, courant assi gn é et pu issance assig n ée cor-
respon dant au x caractéristi ques assi g n ées du disposi tif, aux con ditions de m on tag e et à l a
plag e de tem pératu res spécifiées:
– résistances,
– bobi nes spiral ées à un e seu le couch e,
– con densateurs pl asti qu es m u lticouch es,
– con densateu rs au papi er,
– con densateurs céram iqu es,
– sem i-conducteurs,
– dispositifs à sem i-con ducteurs u til isés com m e dispositif de protection sel on 7. 9,
– résistances uti l isées com m e dispositif de protection selon 7. 9, si ell es son t conform es aux
résistances de lim itation de courant de l’ I EC 60079-1 1 pour l e n iveau de protecti on « i a»
ou « i b» .
Pour les niveaux de protecti on "m a" et "m b", les enrou lem en ts conform es à l’ I EC 60079-7, y
com pris ceux dont le diam ètre de fi l est inférieur à 0, 25 m m , doi vent être considérés com m e
ne pou van t pas être défai l lants s’ils sont encapsu l és conform ém ent aux exi gences de l a pré-
sen te N orm e.
7. 2. 3 Composants d ’ i sol ati on
Pour l a séparation de différents circu its, l es com posan ts su i vants doi ven t être consi dérés
fou rni r l'isol ation et n e son t pas consi dérés com m e pou van t être défai llants pour ce qu i co n-
cern e l'isol ation :
• Com posants à isol ati on g alvan iqu e (par exem ple cou pleu rs optoélectroni qu es et relais) ,
– si la tension d'isol em ent assig n ée est conform e à 2 U + 1 000 V eff. +50 % ou
1 500 V eff. l a val eur la plus élevée étant retenu e ( U est la som m e des tensi ons effi-
caces assi g nées des deu x circu its) , ou
– pou r u ne tensi on d'isol em ent assi g née pour ce qu i concerne l' isolati on de plus de 60 V
(som m e des tensions efficaces assi gn ées des deux circu its) , cou pleurs optoél ectro-
n iqu es et rel ais assurant un e dou ble isolation ou un e isolati on renforcée entre les ci r-
cu its conform ém ent à l ’I EC 61 1 40 ou
– conform es à l’I EC 60079-1 1 pou r l e n i veau de protecti on « ia» ou « ib» .
• Transform ateurs,
– conform es à l’I EC 61 558-2-6, ou
– assurant un e dou bl e isol ati on ou u ne isol ation renforcée en tre les circu its conform é-
m ent à l ’I EC 61 558-1 , ou
– conform es à l’I EC 60079-1 1 pour l e n i veau de protection « ia» ou « ib» .
NOTE 1 La véri fi cati on d e l a con form i té au x norm es ci tées ci -dessu s sel on l a spéci fi cati on du con structeu r, en ce
qu i concern e l a séparati on, n ’est pas un e exi g en ce de l a présen te N orm e.
NOTE 2 Les com posants à i sol ati on g al vani qu e assu rant u n e dou bl e i sol ati on ou u ne i sol ati on ren forcée confor-
m ém ent à u ne n orm e de produi t son t consi d érés com m e sati sfai sant au x exi g en ces de l ’I EC 61 1 40 ou de
l’I EC 60747-5-5 dans l e cas d es cou pl eu rs optoél ectron i qu es.
– 50 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
7. 2. 4 Di stances d e séparati on i n fail l ibl es
7. 2. 4.1 G én éral ités
Il n'est pas nécessaire de considérer la possi bi li té d'u n défaut, tel qu e cela est décrit en 7. 2. 1
dans le cas d’u n claqu ag e de tension , si l a distan ce entre l es parti es n ues sous tension:
– du m êm e circu it, ou
– d'un circu i t et de parties m étal li ques à la terre, ou
– de deux circu its séparés (l a som m e des tensi on s de service doi t être prise en tant qu e
tension pou r le Tableau 1 ; si u n e des tensi ons de service est i nféri eu re de 20 % par rap-
port à l'au tre, el le ne doit pas être prise en com pte) ,
satisfait au x exig ences de 7. 2. 4. 2 et, s'i l y a l ieu , de 7. 2. 4. 3.
7. 2. 4.2 Di stances d an s l e composé
Les distances dans l e com posé doiven t être considérées i nfai lli bl es par rapport au cou rt-
circui t pour l e n i veau de protection "m a" et l e n i veau de protection "m b" si ell es son t con-
form es aux val eu rs du Tableau 1 , à con dition qu e les distances dans l e com posé soient fixées
ou m aintenu es m écan i qu em ent avant l’encapsu lage.
NOTE Quan d un e envel oppe n on m étal l i qu e d ’u n e adh érence appropri ée et d’ un e épai sseu r m i ni m al e spéci fi qu e
don n ée adm et u ne épai sseu r n ul l e du com posé sel on l a l ettre c de l a Lég en de d u Tabl eau 4 et de l a Fi g ure 1 , l es
di stan ces de séparati on d es parti es sous ten si on correspon d an tes son t touj ou rs consi d érées i nfai l l i bl es par rapport
au cou rt-ci rcui t.
Les distances qu i son t com prises en tre les distances m i n im ales donn ées pour l e ni veau de
protecti on "m c" et les di stances i nfai l libl es don n ées pou r l es n i veaux de protection "m a" et
"m b" ne son t pas considérées com m e infailli bles et elles doi vent être évalu ées en tant qu e
"défau t pris en com pte". Les distances i nféri eures à cel l es donn ées pou r l e n i veau de protec-
ti on "m c" son t considérées com m e des courts-circu its si el les dégradent le m ode de protec-
ti on "m ".
Pour l e ni veau de protection "m c", les valeurs du Tabl eau 1 consti tu en t des exi g ences de
constructi on et elles peu ven t être obten ues par im m obil isation m écan i qu e avant
l’encapsu lag e.
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 I EC 201 7
Tableau 1 – Distances dans le composé
a Distance minimale
Tension U eff. ou en courant continu (voir ) mm
V
"m a" "m b" "m c"
≤ 32 0, 5 0, 5 0, 2
≤ 63 0, 5 0, 5 0, 3
≤ 400 1 1 0, 6
≤ 500 1 ,5 1 ,5 0, 8
≤ 630 2 2 0, 9
≤ 1 000 2, 5 2, 5 1 ,7
≤ 1 600 - 4 4
≤ 3 200 - 7 7
≤ 6 300 - 12 12
≤ 1 0 000 - 20 20
a Les tensi on s i n di q uées provi enn ent de l ’ I EC 60664-1 et son t basées sur l a rati on al i sati on
des tensi on s d'al i m entati on i n d i quées au Tabl eau 3b de l ’I EC 60664-1 . Lors d e l a déterm i na-
ti on de l a d i stan ce exi g ée, l a tensi on d e servi ce peut être 1 , 1 foi s su péri eu re à l a ten si on du
tabl eau .
NOTE Le facteu r d e 1 , 1 adm et qu e, à de n om breu x end roi ts d’u n ci rcu i t, l a tensi on de servi ce
est ég al e à l a ten si on assi g n ée et q u’i l y a u n certai n n om bre de ten si ons assi g nées d’ u sag e
courant dont peut ten i r com pte l e facteur de 1 , 1 .
7.2.4.3 Distances d’isolement dans le matériau

La distance d’isolem ent dans le m atériau , dont l e m ode de protection "m " dépen d, doit être au
m inim um de 0, 1 m m et doit satisfaire à l ’essai de rig idité diélectri qu e de 8. 2. 4.
7.3 Espace libre dans l’encapsulag e

7.3.1 Matériel "m" du Groupe III
La som m e des espaces li bres n ’est pas lim itée, m ais l e vol um e des espaces l ibres in di vi duels
est lim ité à 1 00 cm 3 . L'épaisseur du com posé en touran t de tels espaces l ibres doit être con-
form e aux exig ences du Tabl eau 2.
– 52 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Tableau 2 – Épaisseur minimale du composé adjacent
à un espace libre pour le matériel "m" du Groupe III
Niveau de Épaisseu r minimale du com- Espace libre
3 Espace
3 libre 3
protection posé entre l’espace libre et: ≤ 1 cm > 1 cm ≤ 1 00 cm
Espace l i bre ou surface l i bre 3 mm 3 mm
a
En vel oppe n on m étal l i q u e ou 3 m m (en vel oppe + 3 m m (en vel oppe + com posé)
"m a" m étal l i que avec adh éren ce com posé) a
En vel oppe n on m étal l i q u e ou 3 mm 3 mm
m étal l i que sans adh éren ce
a
En vel oppe n on m étal l i q u e ou 1 m m (en vel oppe + 3 m m (envel oppe + com posé)
"m b" m étal l i que avec adh éren ce com posé)
“m c” En vel oppe n on m étal l i q u e ou 1 m m (en vel oppe + 1 m m (en vel oppe + com posé)
m étal l i que avec adh éren ce com posé)
Envel oppe n on m étal l i q u e ou 1 mm 1 mm
m étal l i que san s adh éren ce
a Épai sseu r de paroi de l ' en vel oppe ≥1 mm.
L’épai sseu r des m atéri au x i n di qu ée dans ce tabl eau n ’i m pl i q u e pas l a conform i té au x au tres essai s m éca-
ni qu es exi g és par l ’I EC 60079-0.
NOTE I l est adm i s qu ’u ne en vel oppe m étal l i qu e avec adh érence n ’ai t pas d’ épai sseur d e com posé par
rapport à u n espace l i bre à con di ti on qu’i l n ’ y ai t pas de parti es sou s tensi on d an s cet espace l i bre.
7.3.2 Matériel "m" du Groupe I et du Groupe II

La som m e des espaces l ibres ne doit pas dépasser:
• 1 00 cm 3 pour les ni veaux de protecti on "m b" et "m c";
• 1 0 cm 3 pour le n iveau de protecti on "m a".
L’épaisseur m in im ale du com posé entouran t de tels espaces l ibres doit être conform e
au Tableau 3.
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 I EC 201 7
Tableau 3 – Épaisseur minimale du composé adjacent à un espace libre pour le
matériel "m" du Groupe I et du Groupe II
Niveau de Épaisseu r minimale du Espace libre Espace libre Espace libre
protection composé en tre l'espace ≤ 1 cm 3 > 1 cm 3 ≤ 1 0 cm 3 > 1 0 cm 3 ≤ 1 00 cm 3
libre et:
Espace l i bre ou su rface 3 mm 3 mm N on adm i ssi bl e
l i bre (essai d e pressi on
sel on 8. 2. 6)
a
Envel oppe n on m étal l i q u e 3 m m (envel
a oppe + 3 m m (en vel oppe + com posé) N on adm i ssi bl e
"m a" ou m étal l i qu e avec adhé- com posé)
ren ce (essai d e pressi on
sel on 8. 2. 6)
En vel oppe n on m étal l i q ue 3 mm 3 mm N on adm i ssi bl e
ou m étal l i qu e sans adh é- (essai de pressi on
ren ce sel on 8. 2. 66)
Espace l i bre ou su rface 1 mm 3 mm 3 mm
sel on 8. 2. 6)
a
En vel oppe n on m étal l i q ue 1 m m (envel oppe + 3 m m (en vel oppe + com posé) 3 m m (envel a oppe +
ou m étal l i qu e avec adh é- com posé) com posé)
"m b" ren ce (essai d e pressi on
sel on 8. 2. 6)
Envel oppe n on m étal l i q u e 1 mm 3 mm 3 mm
ou m étal l i qu e sans adh é- (essai d e pressi on
l i bre
"m c" Envel oppe n on m étal l i q ue 1 m m (en vel oppe + 1 m m (en vel oppe + com posé) 3 m m (envel oppe +
ren ce Voi r n ote

ou m étal l i qu e sans adh é-
ren ce
a Épai sseu r d e paroi de l 'en vel oppe ≥1 mm.
L’épai sseu r des m atéri au x i n d i qu ée dan s ce tabl eau n ’i m pl i qu e pas l a con form i té au x au tres essai s m écani ques exi g és
par l ’I EC 60079-0.
NOTE I l est adm i s qu ’un e en vel oppe m étal l i qu e avec adhéren ce n’ai t pas d’épai sseu r de com posé par rapport à u n
espace l i bre à con di ti on qu’i l n ’ y ai t pas de parti es sou s ten si on dans cet espace l i bre.
7.4 Épaisseur du composé

7.4.1 Matériel "m"
L’épaisseu r m in im ale du com posé entourant l es com posan ts électriques et le circu it doi t être
conform e au Tabl eau 4 et à l a Fig ure 1 .
Si u n isol ant sol i de conform e à 7. 2. 4. 3 est uti lisé dans un e en veloppe ayant des parois m étal-
liqu es com m e l e décrit la Fig ure 1 , le com posé doi t adh érer à l a paroi .
NOTE 1 La Fi g u re 1 n e représente pas n écessai rem ent u n e constru cti on réel l e m ai s el l e est desti n ée à ai d er à
com pren d re l e Tabl eau 4 en m on trant u n ci rcu i t encapsu l é com prenan t u n e su rface l i bre, un e en vel oppe m étal -
l i qu e, un e en vel oppe pl asti qu e avec d i fféren tes épai sseu rs de paroi .
Qu an d u n e en veloppe n on m étall i que d’u n e adh érence appropri ée et d’u ne épaisseur m in i-

m ale spécifiqu e don née adm et u ne épaisseu r de com posé n u l le conform ém ent à l a lettre c de
la Lég ende du Tabl eau 4 et de la Fi g ure 1 , l es di stances de séparation des parti es sous ten-
sion correspon dan tes sont qu an d m êm e consi dérées infai l li bl es par rapport au court-circu i t.
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 I EC 201 7
NOTE 2 Les di stances de séparati on (l i g n es de fu i te et di stances d’i sol em en t) associ ées au x parti es sou s ten si on
don t i l est tol éré q u ’el l es ai en t u ne épai sseu r d e com posé n ul l e et qu i sont qu and m êm e consi dérées être i nfai l -
li bl es par rapport au cou rt-ci rcu i t son t éval u ées sel on l es exi g ences de sécuri té appl i cabl es des n orm es i ndus-
tri el l es correspondantes.
f a

e
Optional solid
laminate with no
conductors

Solid insulation
b according 7.2.4.2
Metallic wall IEC
Lég ende
An g l ai s Fran çai s
Free su rface of the com pou n d Su rface l i bre du com posé
Non cu rrent carryi n g part Parti e n on sous ten si on
Opti on al sol i d i n sul ati on or board l am i n ate wi th I sol ant sol i d e facul tati f ou carte à i sol ati on strati -
no con ductors fi ée sans con du cteu r
Pl asti c wal l wi th thi ckn ess t <1 mm Paroi en m ati ère pl asti q u e d ’épai sseur t <1 mm
Sol i d i n su l ati on accordi n g 7. 2. 4. 2 I sol ant sol i d e con form e à 7. 2. 4. 2
Metal l i c wal l Paroi m étal l i qu e
Pl asti c wal l wi th thi ckness t ≥1 mm Paroi en m ati ère pl asti q u e d ’épai sseur t ≥1 mm
Lég ende
a di stance par rapport à u ne surface l i bre
b di stance par rapport à u ne en vel oppe m étal l i q ue
c di stan ce par rapport à u n e envel oppe n on m étal l i qu e ayan t u ne épai sseu r de paroi t≥ 1 mm
d di stance par rapport à u ne en vel oppe n on m étal l i que ayant u n e épai sseu r de paroi t< 1 mm
e di stance par rapport à u ne parti e n on sou s tensi on dan s l e com posé

f di stance entre un e parti e n on sous ten si on et un e su rface l i bre
Fig u re 1 – Règ l es dimensionn elles pou r les épai sseu rs dans l e composé
Dans tous les cas, l e com posé doit être sou m is à l ’essai de rig idité di él ectri qu e de 8. 2. 4.
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Tableau 4 – Épaisseur du composé
Niveau de pro- Niveau de protection "mb" ou "mc"
tection "ma"
2
Su rface l i bre ≤ 2 cm a ≥ 3 mm a ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 1 m m
2
Surface l i bre > 2 cm a ≥ 3 mm a ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 3 m m
Envel oppe n on m étal li q u e
avec adh éren ce d ≥ 3 mm d ≥ di stan ce sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 1 m m
(épai sseu r de paroi t < 1 m m )
Envel oppe n on m étal li q u e a a
avec adh éren ce c ≥ (3 m m – t) c ≥ (di stan ce sel on l e Tabl eau 1 – t)
(épai sseu r de paroi t ≥ 1 m m )
En vel oppe n on m étal l i q ue
c = d ≥ 3 mm c = d ≥ di stan ce sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à
san s adh érence 1 mm
En vel oppe m étal l i q u e b ≥ 3 mm b ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i nféri eu re à 1 m m
Parti e n on sous ten si on e ≥ 3 mm e ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 1 m m
Parti e n on sous ten si on –
Surface l i bre f+ e ≥ a f+ e ≥ a
a Dans l e cas d’ un e en vel oppe n on m étal l i qu e avec ad héren ce et d’épai sseu r de paroi ≥ 1 m m , si l ’appl i cati on d e
l a form u l e perm et c = 0, l e com posan t peu t être pl acé con tre l a paroi .
7.4.2 Enroulements pour machines électriqu es

Dans l e cas des m ach in es électri qu es avec enrou lem en ts dans des gorg es, le m atériau is o-
lan t dans la g org e doit avoir:
a) pour le n i veau de protecti on "m a" un i qu em en t, un e épaisseur m i nim ale de 0, 1 m m et il
doit être éten du sur au m oins 5 m m au-delà de l a g org e;
b) pou r l es n i veaux de protecti on "m a" et "m b", l ’extrém ité de l a g org e et l a tête de bobi ne
doi vent être protégées par l ’épaisseu r m in im ale du com posé selon 7. 4. 1 . U n essai de ri g i-
dité diélectrique selon 8. 2. 4 doit être effectué avec succès avec u ne tensi on d'essai U =
2 U + 1 000 V eff. +50 % avec u n m in im um de 1 500 V en cou rant altern atif. de 48 H z
à 62 H z.
Les vern is et revêtem en ts sim i laires n e sont pas consi dérés com m e des isol an ts solides.
7.4.3 Cartes de circuits imprimés rigides multicou ches avec connexions traversantes
7.4.3.1 Généralités
Les cartes de circu its im prim és m ulticouch es qu i satisfont au x exi g ences de l ’I EC 62326-4-1 ,
n i veau de perform ance C, ou aux n orm es I PC-A-600 et I PC-601 2 ou AN SI /U L 796, foncti on-
nan t à des tensions de service inféri eu res ou ég ales à 500 V, doi vent être considérées en-
capsu l ées si ell es satisfont à 7. 4. 3. 2.
NOTE La véri fi cati on de l a conform i té de l a carte de ci rcui ts i m pri m és à l a spéci fi cati on d e perform an ce du cons-
tructeu r n ’ est pas u ne exi g ence de l a présente N orm e.
7.4.3.2 Distances minimales

L'épaisseur d’isolem en t constitu ée par l es stratifiés cu i vrés et l es film s adh ésifs doi t satisfaire
aux exig ences de 7. 2. 4. 3.
NOTE L'épai sseur d’ i sol em en t correspond à l a com bi nai son du strati fi é et du fi l m adhési f en l 'absence de sépara-
ti on par d u cu i vre.
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 I EC 201 7
La distance m in im al e entre les con ducteurs de circu its im prim és et le bord de la carte de ci r-
cu its im prim és m ulticou ches ou de tou t trou traversan t de la carte doit être au m oi ns égale à
la distance b du Tableau 5. Si les bords ou trous traversants sont protég és par u n m atériau
m étal l i que ou isol an t s'éten dan t sur l a surface de l a carte à au m oins 1 m m desdits bords ou
trous traversants, la distance entre l es con ducteu rs de l a carte de circu its im prim és et le m a-
téri au isolant ou m étal li qu e peu t être rédu ite à la distance c d u Tableau 5. Le revêtem en t m é-
tal liqu e doi t avoir un e épaisseu r d'au m oins 35 µ m (se reporter égal em en t à la Figu re 2 et au
Tableau 5) .
Tableau 5 – Distances minim ales pou r cartes de circu its imprimés m ulti cou ch es
Di stan ce Ni veau de protecti on "m a" Ni veau d e protecti on "mb" Ni veau de protecti on "m c"
a 3 mm 0, 5 m m 0, 25 m m
b 3 mm 3 mm 1 mm
c 3 mm 1 mm 0, 5 m m
d 0, 1 m m , voi r 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , voi r 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , voi r 7. 2. 4. 3
e Sel on l e Tabl eau 1 Sel on l e Tabl eau 1 Sel on l e Tabl eau 1
où
a est l a di stan ce entre l a parti e sou s tensi on et l a su rface extern e par l a couche de ferm etu re;
b est l a di stan ce en tre l a parti e sous ten si on et l a surface extern e l e l on g de l a couche de ferm etu re;
c est l a l on g ueu r d e l a parti e m étal l i que ou d e l 'i sol em ent sur l a su rface de l a carte à parti r d u bord ou du trou;
d est l 'épai sseu r du fi l m adh ési f ou du cœu r où l a séparati on est nécessai re;
e est l a di stan ce en tre deu x ci rcu i ts à l 'i ntéri eu r d u m ul ti couche où l a séparati on est n écessai re.
Lég ende
cœu r et cou ch e d e ferm etu re
fi l m adhési f
cui vre
1 Contact traversan t de term i nai son
2 Contact traversan t pou r con n ecter l es con d ucteu rs i m pri m és su r des cou ch es di fféren tes
Fig u re 2 – Distances minimal es pou r les cartes de ci rcuits imprimés m ulti cou ch es
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7.5 Contacts de commutation
7.5.1 Généralités
Les con tacts de com m u tation doi ven t être m un is d’u n e en veloppe su pplém entaire.
NOTE I n trodu i re l e com posé dan s l ' en vel oppe des con tacts de com m u tati on au cou rs du processu s
d’encapsu l ag e peut pertu rber l e foncti on nem en t d u di sposi ti f.
7.5.2 Niveau de protection "ma"

Cette en vel oppe supplém entaire doit satisfaire aux exi gences appl icables au x dispositifs he r-
m étiqu em ent scel l és tell es qu e défin ies dans l’I EC 60079-1 5, avan t encapsu lag e.
NOTE Les détéri orati ons occasi onn ées à l 'en vel oppe h erm éti qu em en t scel l ée en rai son des contrai ntes, l ors du
rem pl i ssag e, peu ven t dég rader l e m ode de protecti on d u di sposi ti f.
Les caractéristiqu es assign ées des con tacts de com m u tation doi ven t être i nférieu res ou
ég al es à 60 V et 6 A. L’en vel oppe su ppl ém en taire doit être constituée d 'u n m atéri au i norg a-
n iqu e si l e couran t com m uté dépasse 2/3 du couran t assig n é spécifié par le constructeur du
com posan t.
7.5.3 Niveau de protection "mb"

L'en veloppe su ppl ém en taire doi t être consti tu ée d’un m atéri au i norg an iqu e si le cou ran t
com m uté dépasse 2/3 du cou rant assi g né spécifi é par le constru cteu r du com posan t ou si l e
cou rant dépasse 6 A.
7.5.4 Niveau de protection "mc"

Cette en vel oppe supplém entaire doit être consti tu ée d’u n m atéri au i n org an ique si l e courant
com m u té dépasse 6 A.
7.6 Connexions externes

Dans le cas où les com posés son t u til isés pour fi xer u n câbl e de façon perm anente, le câbl e
doi t être protégé con ven ablem en t contre les dégradati ons provoqu ées par la flexi on et l'essai
de tracti on doit être réali sé selon 8. 2. 5.
Cet essai ne doi t pas être réalisé su r des com posan ts Ex ou l orsqu e l ’ en veloppe du dispositif
protég é « m » ne sert pas d’en vel oppe extern e.
7.6.2 Exig ences supplémentaires pour le matériel "ma"

Le m atéri el « m a» Ex doit soi t être al im enté par u n circui t sel on l e n i veau de protection « ia»
conform e à l ’I EC 60079-1 1 soi t avoir u n e conn exion qu i satisfai t à l ’un e des exig ences su i-
van tes:
• pour l 'EPL G a, l es exi gen ces de l ’I EC 60079-26;
• pour l 'EPL Da, le ni veau de protection "ta" de l ’I EC 60079-31 .
7.7 Protection des parties actives nues
En foncti on de l’EPL requ is, les parties acti ves n ues q u i dépassent de l a su rface du com posé
doi vent être protégées par un au tre m ode de protection com m e cela est i n diqu é dans
l ’I EC 60079-0 pour l'EPL requ is.
NOTE Dan s ce cas, l e m atéri el est m arqu é avec pl usi eurs m odes d e protecti on conform ém ent à l ’ I EC 60079-0.
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 I EC 201 7
7.8 Piles et accumulateurs
Lors de l’évalu ati on des dispositifs de con trôle des accu m u lateurs par rapport au dég agem en t
poten tiel de g az, la total i té de l a pl ag e de tem pératures de foncti onn em en t, la résistance i n-
tern e et l a tension m axim ale pou van t être dél ivrée doivent être prises en com pte. I l doit être
supposé qu e les accum u lateurs peu ven t se déséqu i l ibrer, m ais i l n ’est pas nécessaire de
pren dre en com pte leurs élém en ts de résistance ou de tension n égl i g eabl e.
Le Paragraph e 7. 8 s’appl i qu e à tou s les ni veaux de protection , sauf excl usion spécifi qu e.
Pour l e n i veau de protection "m a", les pi les et accum ul ateurs doi ven t de plu s satisfaire au x
exig ences pour pi les et accum u lateurs de l’ I EC 60079-1 1 , l'assou plissem ent adm is dans
l’I EC 60079-1 1 perm ettant la con n exion de pi les m ontées en paral lèl e n ’étant tou tefois pas
au torisé dans l e m atériel protég é u n iqu em ent par encapsu l age.
7.8.2 Prévention des dégagements g azeux

Les systèm es él ectrochi m iqu es pou van t dég ag er du g az pen d an t le fonctionn em en t norm al n e
son t pas autorisés. Si pour l es n i veaux de protection "m a" et "m b", i l n'est pas possi ble d'em -
pêch er l e dég ag em en t du gaz en cas de défau t, i l doit être rédu it au m axi m um au m oyen d'u n
dispositif de contrôle sel on 7. 8. 8. Dans l e cas d'élém en ts d'accu m u lateurs, l e disposi tif de
con trôl e doi t être efficace n on seu lem ent pen dan t l a charg e, m ais ég alem en t pen dant l a dé-
charg e. Cel a s'appl iqu e égalem en t à la ch arg e à l'extérieur de l a zon e dan g ereuse.
En particul i er,
a) des batteries ou vertes n e doiven t pas être u ti lisées,
b) des batteries étanch es à "sou pape de régu l ation " ne doi ven t pas être u ti lisées,
c) des batteries étan ch es au g az qu i n e dégag en t pas de gaz en con ditions de fonction n e-
m ent ou de défaut dans l a pl ag e des tem pératures am bi an tes du m atéri el électriqu e peu-
ven t être u ti lisées sans disposi tif de contrôle, sel on 7. 8. 8.
Les batteri es étanches au g az n e satisfaisan t pas aux exig ences de 7. 8. 2 c) doiven t avoir u n
dispositif de con trôl e selon 7. 8. 8.
7.8.3 Protection contre les températures excessives et contre la détérioration des

piles et accumulateurs
La tem pératu re m axim ale de service des pil es et accum u lateu rs dans l e cas de ch arg e l e plu s
défavorable (voir 7. 8. 5) n e doit pas dépasser la tem pérature spécifi ée par l e constructeu r des
piles ou des accum ul ateurs, n i 80 °C si n on spécifiée par le constructeu r, et le couran t de
charg e et de déch arge n e doi t pas dépasser la val eu r de sécuri té spécifi ée par l e constructeu r
grâce à l'un des m oyens su i vants:
a) les piles ou accum u lateu rs doi ven t être pourvus d'un ou de plu si eu rs disposi tifs de con-
trôl e décrits en 7. 8. 8 afi n de préven ir tou t éch au ffem ent ou dég ag em ent de g az in accep-
table dans l e com posé,
b) les pi l es ou accu m u lateu rs doivent être pourvus d'u n e résistance en séri e pour l im iter l e
courant aux caractéristi ques assig n ées des pi les et d'un e di ode de blocag e pou r exclu re
un e ch arg e in versée.
Dans les deux cas, l es exig ences de 7. 8. 4 à 7. 8. 7 s'appli qu en t selon le cas.
7.8.4 Courant inverse

Pour l es ni veaux de protecti on "m a" et "m b" et quan d il y existe u ne autre source de tension
dans la m êm e en veloppe, l a pile ou l’accum ul ateu r encapsul é(e) et ses circu its associ és doi-
ven t être protég és contre l a ch arg e par des circu its autres qu e ceux spécifi quem en t con çus
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pour l a charg e. Par exem ple, en séparant la pile ou l ’accum ul ateur et ses circui ts associ és de
toute au tre source de ten si on à l ’i ntérieur de l ’en veloppe, en u ti lisant l es di stances spécifi ées
au Tableau 1 pour l a ten sion l a pl us élevée capable de provoqu er un couran t in verse. En va-
ri an te, la pil e ou l ’accum u lateur peu t être séparé(e) d’u ne autre source de tension en u ti l isant
seu lem en t les distances spécifiées dans le Tabl eau 1 , m ais avec u n e di ode de blocag e pour
le n iveau de protection "m b", ou deux di odes de blocag e pou r l e n i veau de protection "m a",
placées com m e le m on tre l a Fig ure 3, et disposées de sorte à rédui re le risqu e d'u n défaut
en traînan t seu l le court-circui t des deux diodes.
+Ve –Ve
IEC
NOTE La fi g u re d écri t u ne con fi g u rati on pou r l e n i veau de protecti on "m a".
Figure 3 – Mise en place de diodes de blocage
7.8.5 Limitation de courant

La tem pérature m axim al e de surface doit être déterm i née au m oyen du courant de déch arg e
le pl us él evé autorisé sous la charg e m axim al e spécifiée par le constructeu r du m atéri el ou
par l e dispositif de protecti on, voir 7. 9, par exem ple 1 , 7 fois les caractéristiques assi g n ées du
fusi ble ou en court-circu it si ne son t spécifiés n i ch arg e n i disposi tif de protecti on.
Le courant m axim al de déch arg e spécifi é par l e constructeu r des pi les ou de l’accum u lateu r
peu t être l im ité par u n e résistance, par u n dispositif de lim itation de cou ran t ou par u n fusi bl e,
conform ém ent à l ’I EC 601 27, à l’I EC 60691 ou à l a séri e AN SI /U L 248. Si des fusibl es rem -
plaçables sont u ti l isés, l e m atériel doit être m arqu é afi n d'in di qu er l eu rs caractéristiques ass i-
g n ées, ai nsi que leur fon cti on.
NOTE La véri fi cati on de l a conform i té de l a rési stan ce, d u di sposi ti f de l i m i tati on d e cou ran t ou d'u n fu si bl e à l a
spéci fi cati on d u constructeu r n’ est pas u n e exi g en ce de l a présen te N orm e.
7.8.6 Protection contre l’inversion de polarité et les décharges sévères des piles et
accumulateurs
Pou r les n iveaux de protection "m a" et "m b", en cas d'u til isati on de pl us de 3 él ém ents en
série, l a tension de l'élém ent doi t être su rveil l ée. Lors de la décharg e, si l a tension descen d
en dessou s de l a valeur lim ite de la tension de l’él ém en t spécifi ée par l e constructeur des
pil es ou de l’accum ul ateur, le dispositif de con trôl e doit décon necter la pile ou l ’accum u lateur.
Pou r le niveau de protection "m c", si plus de trois élém en ts son t con nectés en série, des pré-
cau tions doiven t être prises pour préveni r un e ch arge par in version de pol arité de l ’élém en t.
NOTE 1 Si pl u si eu rs él ém ents sont rel i és en séri e, i l est possi bl e que l es él ém en ts chang ent de pol ari té pen dan t
l a déch arg e par su i te d es di fférentes capaci tés des él ém en ts d'u n accum u l ateu r. Ces él ém ents "à pôl e i n versé"
peu ven t provoq uer u n dég ag em en t g azeu x i nacceptabl e.
Lorsqu'un circu i t de protecti on con tre les décharges sévères est u ti l isé pour em pêch er u n e
charg e par i n versi on de polarité d es élém ents, la tensi on d'arrêt m i nim ale doit être cel l e qu i
est spécifi ée par le con structeur de la pi l e ou de l’accu m ul ateur. Après déconn exi on de la
charg e, l e courant ne doi t pas être su périeur à la capacité de déch arg e do nn ée pour 1 000 h
de fonction n em ent.
NOTE 2 Cette protecti on est souven t uti l i sée pou r em pêch er l es pi l es et accu m ul ateurs de passer à u n état de
"déch arg e sévère". Si l ' on ten te de su rvei l l er trop d’él ém en ts rel i és en séri e, l e foncti on n em ent de l a protecti on
n'est pl u s en ti èrem ent fi abl e d u fai t des tol érances des ten si on s des él ém en ts i ndi vi du el s et du ci rcu i t d e protec-
ti on. G énéral em en t, l a su rvei l l ance d e pl u s d e si x él ém en ts (rel i és en séri e) par u ne seul e un i té de protecti on n' est
pas effi cace.
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7.8.7 Charg e des piles et accumulateurs
7.8.7.1 Niveaux de protection "ma" et "mb"
Les circu its de ch arg e doi vent être enti èrem ent spécifiés en tan t qu e parti e du m atériel. Le
systèm e de charg e doi t avoir l es caractéristi qu es su i vantes:
a) dans le cas d'u ne con dition de défau t du systèm e de ch arge, l a tensi on et le cou rant de
charg e n e doi vent pas dépasser les lim ites spécifiées par le constructeur;
ou
b) si, l ors de l a charg e, l es valeu rs l im ites spécifi ées par le constructeu r de l a pi le ou de
l ’accum u lateu r pou r la tensi on d'él ém en t ou le courant de ch arg e risqu ent d’être dépas-
sées, u n dispositif de protection séparé selon 7. 9 doit être prévu afi n de rédu ire au m axi-
m um l’éventu al ité d’u n dég ag em ent gazeu x et éviter ég al em ent de dépasser au cours de
l a charg e l a tem pérature m axim ale assig née de l ’él ém ent spécifiée par le constructeu r.
7.8.7.2 Niveau de protection "mc"
Le systèm e de ch arg e doit être tel qu ’en foncti onn em en t n orm al , l a tensi on et le cou rant de
charg e ne dépassent pas les l im ites spécifiées par le constructeu r sur la base de l a plage de
tem pératures spécifi ée du m atéri el. Si les pi les et accum u lateurs qui fon t partie intég ran te du
m atériel électri qu e son t à charg er dans l a zon e dan g ereuse, le ch arg eur doit être spécifié en
total i té com m e faisan t parti e de l a concepti on du m atériel . Si l es pi les et accum u lateurs qu i
font partie i ntégrante du m atériel él ectri qu e ou qu i peu ven t être séparés du m atériel sont
charg és en deh ors de l a zon e dan g ereu se, l a ch arge doit être dans l es lim ites spécifiées par
le constructeu r du m atériel.
7.8.8 Exig ences pour les dispositifs de contrôle de sécu rité des piles ou
accumulateu rs
Qu an d i ls son t requ is, les dispositifs de contrôle doivent constitu er l es parti es rel ati ves à l a
sécurité d’u n systèm e de contrôle. Le constructeu r doit fourn ir tou tes l es inform ations n éces-
saires pou r m ain ten ir l’i ntégri té du systèm e.
NOTE Les parti es rel ati ves à l a sécu ri té respectan t l es exi g en ces du PL c d e l ’I SO 1 3849-1 "Sécu ri té des m a-
ch i nes – Parti es des systèm es de com m an de rel ati ves à l a sécuri té – Parti e 1 : Pri n ci pes g én érau x d e concepti on",
son t conform es au présen t parag raphe.
7.9 Dispositifs de protection

S’il est fait appel à un disposi tif de protection pou r l im iter la tem pérature m axim al e de surface
lorsqu e l e m atéri el "m " est soum is à u n seul défaut pou r l e n iveau de protecti on "m b" ou à
deux défauts pour le n i veau de protecti on "m a", l e dispositif de protecti on doit être prévu soit
à l'extéri eu r du m atériel, soit in tég ré à cel u i -ci . Les dispositifs de protection pou r le ni veau de
protecti on "m a" doi ven t être n on réarm abl es. Les dispositifs de protecti on therm i qu e pou r le
n i veau de protecti on "m b" peu vent être réarm ables.
Le dispositif de protecti on doit être capabl e d’in terrom pre le cou rant m axim al de défau t du
circu it dans l equel i l est i nstal lé. La tension assi g née du dispositif de protecti on doit au m oins
correspondre à la tension de service du circu i t dans lequ el il est instal l é.
Qu an d le m atériel "m " contien t u n e pi le ou u n accum ul ateur et qu ’u n dispositif de con trôl e est
présent afin d’éviter u ne su rch auffe excessi ve (voir 7. 8. 5) , ce dispositif de con trôl e peu t aussi
être consi déré com m e u n dispositif de protection, pour autan t qu ’i l protèg e aussi tou s les
au tres com posan ts à l’i n téri eu r du m êm e com posé con tre le dépassem en t de la tem pérature
m axim ale de surface.
NOTE 1 Le but d es di sposi ti fs de protecti on est l a protecti on con tre l es défau ts et l es su rcharg es i m prévu es qu i
provoqu en t u n e su rch au ffe et/ou des dég radati on s perm anen tes ou com prom ettent l a durée de vi e opérati on n el l e
du m atéri el . Qu and des di sposi ti fs réarm abl es son t u ti l i sés, l es i nstructi ons com pren n en t des i n form ati ons desti -
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nées à g ui d er l ’u ti l i sateu r dan s son souh ai t de réarm er l es di sposi ti fs. Ces i n structi on s pren n en t en com pte l es
con di ti ons extern es de foncti on nem en t d ans l esqu el l es ces di sposi ti fs peuven t être réarm és et aussi toute su rvei l -
l an ce ul téri eu re q u i est sou hai tabl e.
NOTE 2 Qu ’i l s soi en t réarm abl es autom ati quem ent ou m an u el l em ent, l es di sposi ti fs son t con si dérés dan s l e
cadre de l a présente N orm e, com m e étant des di sposi ti fs réarm abl es.
Pour l e n i veau de protection "m a", si l e dispositif de protecti on n on réarm able est conform e à
la série I EC 601 27 ou à l ’I EC 60691 ou à l a séri e AN SI /U L 248-1 , u n seu l dispositif est né-
cessaire. Cela s'appli qu e aux spécificati ons de 7. 9. 2 et 7. 9. 3.
NOTE 3 La véri fi cati on de l a conform i té du di sposi ti f de protecti on non réarm abl e à l a spéci fi cati on du constru c-
teu r n ’est pas u ne exi g en ce de l a présente N orm e.
NOTE 4 L’AN SI /U L 248-1 com prend l es exi g en ces g én éral es de sécu ri té appl i cabl es au x fu si bl es basse tensi on,
y com pri s l es exi g ences pou r établ i r l es val eu rs assi g nées de pou voi r d e ru ptu re ou de cou pu re. Les autres parti es
de l a séri e AN SI /UL 248 fourn i ssen t d’ au tres exi g en ces d e sécuri té spéci fi qu es basées su r l ’appl i cati on prévue du
fusi bl e, com m e l ’ANSI /U L 248-1 4 pour l es fusi bl es basse tensi on suppl ém en tai res.
7. 9. 2 Di sposi tifs d e protection él ectriq u e
7. 9. 2.1 G én éralités
La tension assi g née des dispositifs de protecti on ne doi t pas être inférieure à cel l e du circu i t
dans lequel ils sont i nstallés et leur pou voir de coupure n e doit pas être in féri eu r au cou ran t
de défau t du circui t.
Sau f spécification contraire, u n fusibl e doit être supposé pou voir su pporter en perm an ence
1 , 7 fois le courant assig né. La caractéristiqu e couran t-tem ps du fusi ble in diqu ée par l e con s-
tructeur du fusible doit assurer qu e la tem pérature m axim ale de surface n 'est pas dépassée.
Pou r les dispositifs de protecti on électri qu e, deux dispositifs n orm al em ent reliés en série sont
exig és pou r le ni veau de protecti on "m a" et u n seu l dispositif est exi g é pour le n iveau de pro-
tection "m b". Pou r le n iveau de protection "m a", si les deux dispositifs ne son t pas reliés en
série, l'acti vation d'un des deux disposi tifs doit m ettre hors tensi on l'en sem ble des circu its
cou verts par l a protecti on. Les deux dispositifs pour l e n i veau de pro tection "m a" doi vent être
du m êm e type (m ais pas n écessairem ent fabri qu és par le m êm e constructeur n i porteurs du
m êm e n um éro de pièce) , afin de fou rn ir u n e dou bl e protecti on .
Aucu n dispositif de protecti on électri qu e n ’est n écessaire pour l e n i veau de protecti on "m c".
NOTE Dan s l e cas d e réseau x d'al i m entati on él ectri qu e où l a ten si on assi g n ée ne dépasse pas 250 V, l e courant
de cou rt-ci rcui t présum é est g énéral em ent d e 1 500 A.
7. 9. 2.2 Di sposi tifs d e protection q u i sont conn ectés à u n m atéri el "m "
Si le dispositif de protecti on est extern e au m atéri el "m ", i l doi t être consi déré com m e un m a-
téri el n écessaire à l a sécuri té du m atériel "m " sel on 7. 9. 2. Cette condi tion particu l ière
d’u til isati on doit fig urer sur le certificat et l e m atéri el doit être m arqu é con form ém ent aux exi-
gences de m arqu ag e de l ’I EC 60079-0, pou r i ndi quer cette con diti on particu lière d’util isation.
L’u tilisati on d’u n dispositif de protecti on extern e et sa con n exion à u n m atériel "m " requ i ert
qu e le dispositif soi t com patibl e avec "m a", "m b" ou "m c", sel on le cas appli cabl e.
NOTE Ne pas uti l i ser un tel d i sposi ti f com m e i l convi ent peu t condui re à l a perte d u n i veau de protecti on. Quan d
un di sposi ti f de protecti on externe est uti l i sé pou r m ai n teni r l ’ appl i cati on correcte d e l a tensi on, du cou ran t ou d e l a
pu i ssance au m atéri el d u n i veau d e protecti on "m a", l ’apti tu de à l a foncti on du d i sposi ti f d e protecti on extern e ou
du ci rcui t de protecti on reste d e sécuri té avec u n d éfaut pri s en com pte. Les ni veau x perm i s de ten si on, d e couran t
et de pu i ssan ce sont d éterm i n és par l es caractéri sti qu es therm i ques du m atéri el "m ".
7. 9. 3 Di sposi ti fs d e protecti on th ermi q u e
Les dispositifs de protecti on th erm iqu e doivent être uti l isés pour protég er l e com posé con tre
toute détéri orati on provenan t d’un éch auffem ent l ocal , par exem ple de com posan ts défec-
tu eux ou con tre tout dépassem en t de la tem pérature m axim ale de su rface.
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Les dispositifs de protecti on th erm ique n on réarm abl es n e peu ven t pas être réarm és et ils
provoqu ent l’ou verture perm an en te d’u n circu it lorsqu 'ils on t été exposés à un e tem pératu re
supéri eure à l eur tem pérature de fonction nem en t pen dan t u ne du rée m axim al e don n ée. U n
con tact therm ique approprié doi t être réal isé entre l e com posant su rvei l lé et l e dispositif de
protection therm i qu e. La capacité de com m u tation du disposi tif doi t être défin i e et el le ne doit
pas être i nféri eure à la charg e m axim ale possible du circu it.
Si des dispositifs de protection th erm iqu e réarm ables son t u ti lisés, deux dispositifs n orm al e-
m ent rel iés en série son t exi gés pour le n i veau de protecti on "m b" et un dispositif est exi g é
pour le n iveau de protecti on "m c". Pour le ni veau de protection "m b", si l es deux disposi tifs de
protection therm iqu e réarm abl es ne sont pas reliés en séri e, l'acti vati on d'un des deu x d ispo-
sitifs doit m ettre hors ten si on l'ensem ble des circu its cou verts par la protecti on. Les deux di s-
posi tifs pour le n iveau de protecti on "m b" doi ven t être du m êm e type (m ais pas n écessaire-
m ent fabriqu és par le m êm e constructeur n i porteurs du m êm e n um éro de pi èce) , afin de
fournir un e double protection.
Les dispositifs de protecti on therm i qu e réarm abl es ayan t des contacts de com m utati on n e
doivent pas fonction ner à pl us de 2/3 de leur couran t assi g né spécifi é par le constructeur du
dispositif.
Les dispositifs de protection therm iqu e réarm ables ayan t des contacts de com m utati on doi-
ven t être conform es à l ’ I EC 60730-2-9, ou bien i l s doi ven t être soum is à essai selon 8. 2. 7. 1 .
Les disposi tifs de protection th erm iqu e réarm abl es sans contact de com m utati on doi ven t être
conform es à l’I EC 60738-1 , ou bien i ls doi vent être soum is à essai sel on 8. 2. 7. 2.
NOTE 1 Sou ven t pour des rai sons fon cti on nel l es, des di sposi ti fs réarm abl es su ppl ém entai res autres que l es
di sposi ti fs de protecti on therm i qu e don t trai te cet arti cl e son t u ti l i sés. Ces di sposi ti fs fon cti on n en t g én éral em en t à
des tem pératures i n féri eu res à l a tem pératu re de foncti on n em en t du di sposi ti f d e protecti on therm i qu e.
NOTE 2 La véri fi cati on de l a con form i té du di sposi ti f de protecti on th erm i qu e réarm abl e à l a spéci fi cati on d u
constru cteu r n’ est pas un e exi g en ce de l a présen te N orm e.
7.9.4 Dispositifs de protection incorporés

Les dispositifs de protecti on i ncorporés dans l e m atériel "m " doi ven t être de type enrobé, afi n
d'em pêch er l'in trodu ction de com posé pen dan t l e processus d'encapsu lag e.
L'adéqu ati on du dispositi f de protection pour encapsu lage doit être confirm ée par:
a) un e docu m entation du constructeu r du dispositif;
ou
b) des essais d'éch an till ons selon 8. 2. 8.
NOTE Les di sposi ti fs en verre, en pl asti q u e, en céram i q ue ou scel l és d’u n e au tre m an i ère sont con si dérés
com m e en robés.
8 Essais de type
8.1 Essais sur le composé
8.1 .1 Essai d’absorption d’eau
Si cela est exi g é par 5. 3. 1 , l'essai doit être effectu é sur des éch an til lons du ou des com posés
uti l isés avec le m atériel "m ". Trois éch an ti ll ons secs du ou des com posés doi vent être soum is
à l’essai . Les éch anti l lon s doi ven t être des disqu es d’u n di am ètre de 50 m m ± 1 m m et d’u n e
épaisseu r de 3 m m ± 0, 2 m m . Les éch an til l ons doi vent être pesés, pu is pl on g és pendant au
+2
m oins 24 h dans de l'eau à u ne tem pérature de 23 °C 0 K. Ensu ite, ils doiven t être sortis de
l'eau , essu yés, pu is repesés en l'espace de 1 m i nu te. L'au gm en tati on de m asse n e doi t pas
dépasser 1 %.
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I l n’est pas nécessai re d’util iser de l ’eau disti llée pou r cet essai.
8.1 .2 Essai de rigidité diélectrique

L'éch anti l lon doit être u n disqu e d ’u n diam ètre de 50 m m ± 1 m m et d’un e épaisseur de
3 m m ± 0, 2 m m . L’éch an ti ll on doit être pl acé sym étri qu em en t en tre des électrodes de di a-
m ètre 30 m m ± 1 m m , dans u ne ch am bre à atm osph ère contrôl ée rég lée pour attei n dre la
tem pératu re m axim al e de service du com posé.
Un e tensi on de 4 kV eff. +50 %et de fréqu ence entre 48 H z et 62 H z doit être appli qu ée pen-
dan t au m oi ns 5 m in. Aucun arc ou claqu ag e n e doit surven ir pen dan t l’essai.
8.2 Essais du matériel

8.2.1 Séquence d’essai
La séqu ence d’essai et l e n om bre d’éch an til lons son t don n és dans l’ An nexe B.
8.2.2 Température maximale

Un éch an ti ll on du m atéri el "m " doi t être sou m is à u n essai de type pour s’assurer qu e:
a) l es l im ites de tem pératu re spécifiées en 6. 1 n e son t pas dépassées en foncti onn em en t
norm al;
b) pour l es niveau x de protecti on "m a" et "m b", la tem pérature m axim ale de surface n ’est pas
dépassée dans des con di ti ons de défau t com m e défi n i en 7. 2. 1 .
Dans l e cas du m atéri el "m " sans ch arge extern e, l'essai doit être effectu é sel on les m esu-
rag es de tem pérature de l’ I EC 60079-0 en tenant com pte des con ditions d'al im en tati on in d i-
qu ées en 4. 4.
Pour l e m atéri el "m " avec un e ch arge extern e, l’essai doi t être réal isé pou r les n i veaux de
protecti on "m a" et "m b" en aj u stan t le couran t à l a val eu r l a plus élevée qu i n e provoqu e pas
l e fonction n em ent du dispositif de protection , et pour le n iveau de protection "m c" aux para-
m ètres de ch arg e spécifiés en foncti on nem en t norm al et dans le cas des occurrences rég u l i è-
rem ent prévisibles.
Pour l e m atéri el de n i veau de protection "m a", conçu pou r l 'EPL "Da", l a tem pératu re m axi-
m ale de surface doit être déterm in ée avec l e m atériel m onté conform ém en t aux i nstructions
du constructeur et en touré sur tou te la surface dispon i ble par u ne cou ch e de poussi ère d'u n e
épaisseur d'au m oins 200 m m . La tem pérature fi nale doi t être consi dérée avoir été attei nte
qu and la vitesse d’éch au ffem ent n e dépasse pas 1 K/24 h .
NOTE Des essai s, des si m ul ati on s ou des an al yses son t parfoi s uti l i sés afi n d’obteni r l es l i m i tes exi g ées de tem -
pératu re dans l es con di ti on s de dysfoncti onn em ent pou r l e m atéri el ayant des caractéri sti qu es tel l es qu e d es
charg es externes n on l i n éai res, un e com m ande d e pu i ssan ce d’en trée ou d es m odes de défai l l an ce di ffi ci l es à
défi n i r.
8.2.3 Essai d’endu rance th ermiqu e

8.2.3.1 Endurance thermique à la chaleur
8.2.3.1 .1 Niveaux de protection "ma" et "mb"
L’essai doit être effectu é conform ém ent à l’ I EC 60079-0. La tem pérature à uti l iser com m e
tem pérature de service de référence pour l'essai doit être:
a) la tem pératu re m axim ale de surface de l'éch an til l on d'essai en foncti onn em en t n orm al
plu s 20 K;
ou
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 I EC 201 7
b) l a tem pérature m axim ale à la surface du com posan t dans l e com posé en foncti onn em en t
norm al, voir 6. 2. 2.
8.2.3.1 .2 Niveau de protection "mc"
L’essai doi t être effectu é conform ém ent à l ’ I EC 60079-0.
La tem pératu re à uti l iser com m e tem pérature de service de référence pou r l 'essai doi t être l a
tem pérature m axim al e de surface en fonction nem ent n orm al, voir 6. 2. 1 .
8.2.3.2 Endurance thermique au froid

L’essai doit être effectu é conform ém ent à l’ I EC 60079-0.
8.2.3.3 Critères d’acceptation

Après chaqu e essai , l'échan til l on doit être soum is à un e i nspection visu el le. Aucu n e détériora-
tion du com posé susceptible de dégrader l e m ode de protecti on , tel le que fissures dans l e
com posé, expositi on de com posan ts encapsu lés, défau t d'adh érence, rétrein t in acceptable,
décoloration , bou rsouflure, décom position ou ram oll issem ent, n e doit être visibl e. U ne décol o-
rati on de la surface du com posé est tolérée (par exem ple, oxydation dans l e cas de l a rési n e
époxy) .
De plus, l e m ai nti en de l a fonction nal i té de tou t disposi tif de protection électri que don t la s é-
curité dépend, autre que l es fusibles th erm iques, doi t être vérifié.
8.2.4 Essai de rigidité diélectrique

8.2.4.1 Procédure d’ essai
L'essai doit être effectué su r u ne des disposi tions su i vantes des circu its selon le cas:
a) en tre l es circu its isol és g al van iqu em ent;
b) en tre chaqu e circui t et toutes les parties m ises à l a terre;
c) en tre ch aque circu it et la surface du com posé ou de l’en vel oppe non m étall iqu e, pou vant
si n écessaire être revêtu e d’u n e feu i lle con ductrice.
Dans l e cas de la disposition a) , la tension U à u ti l iser doi t être l a som m e des tensions assi-
gn ées des deu x circu i ts en essai , et, pour les disposi tions b) et c) , il doit s’ag ir de l a tensi on
assig n ée du ci rcu i t en essai.
Dans le cas de l a dispositi on b) , les circu its qui con tien nen t des com posants supprim ant les
transitoires con n ectés entre l e circu it et les parti es m ises à la terre, un éch anti l lon d'essai
spéci al sans ces com posan ts doit être au torisé pour l ’essai de type.
La rig i dité diélectriqu e doit être vérifiée par un essai:

• soit com m e in diqu é dans un e n orm e i n dustriel le applicabl e pour les articles in dividu els de
m atériel él ectri qu e, ou
• à la tensi on d'essai sel on le poi nt 1 ) ou 2) ci -dessous, et augm en tée prog ressi vem ent
dans u n tem ps non i nféri eur à 1 0 s ju squ 'à ce qu 'ell e atteig n e la valeu r requ ise à l aqu el l e
ell e doit être m ain ten ue pen dan t au m oins 60 s sans claqu ag e diélectriqu e.
1 ) Pou r l e m atériel don t la tension U n e dépasse pas 90 V crête, la tension d'essai doi t être
de 500 V eff. ( +50 %) de 48 H z à 62 H z. En vari ante, la tensi on d’essai doit être de 700 V
en courant contin u ( +50 %) .
2) Pour l e m atéri el dont l a tension U dépasse 90 V crête, la tensi on d’essai doit être
2 U + 1 000 V eff. ( +50 %) , avec un m in im um de 1 500 V eff. de 48 H z à 62 H z. En vari ante,
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 65 –
 I EC 201 7
la tension d’essai doit être 2 U + 1 400 V en couran t con tinu ( +50 %) avec u n m inim um de
2 1 00 V en cou rant con ti nu .
La tension d'essai doi t être au gm en tée progressi vem ent d ans un tem ps n on i nféri eur à 1 0 s
jusqu 'à ce qu'elle attei g ne l a val eur requ ise à l aqu elle elle doi t être m ai nten u e pendant au
m oins 60 s.
NOTE 1 Dans l e cas d’u n m atéri el q ui , pou r des rai son s de com pati bi l i té él ectrom ag n éti qu e, conti ent des com po-
san ts rel i és à l 'en vel oppe pou r l a su ppressi on d’i n terféren ces et qu i ri squ e d'être en d om m ag é pen d an t l es essai s,
un essai d e déch arg e parti el l e est parfoi s effectu é en rem pl acem en t.
NOTE 2 Si l e ci rcu i t en essai n ’est pas accessi bl e de l ' extéri eu r, i l est possi bl e de préparer u n éch anti l l on d’ essai
spéci fi qu e avec des con nexi on s su ppl ém en tai res.
8.2.4.2 Critères d’ acceptation

L'essai doit être répu té avoir réussi s'i l ne se produ it n i cl aqu age n i arc électriqu e pen dant
son exécuti on.
NOTE Général em ent, l e cou ran t qu i ci rcu l e au cou rs de l ' essai n e d épasse pas 5 m A eff.
8.2.5 Essai de traction de câble

L’essai doit être réalisé sur u n éch anti ll on n on préalablem ent sol l icité et à 21 °C ± 2 °C.
Un au tre éch antil lon d’essai doi t être soum is à l ’essai de traction de câble après u n cond i-
ti onn em en t selon 8. 2. 3. 1 et à la tem pérature m axi m ale au poin t d’en trée du câble.
La force de traction appl iqu ée (exprim ée en N ewton) doi t être soit 20 fois l a val eur (exprim ée
en m il l im ètres) du di am ètre du câble, soit 5 fois la m asse (exprim ée en kg) du m atéri el "m ", la
valeur l a plus basse prévalant. Cette valeu r peut être rédu i te à 25 % de l a valeur exig ée dans
le cas d’u ne i nstallati on perm an en te. La force de tracti on m in im ale doi t être de 1 N et la durée
m inim al e doit être de 1 h. La force doit être appl iquée dans l a direction l a pl us défavorable.

Après l 'essai, l'éch anti llon doit être sou m is à u ne i nspection visu el le. Aucun déplacem ent vi-
si ble du câbl e affectant le m ode de protection n e doit être visi bl e. Aucu ne dég radation du
com posé ou du câbl e su sceptibl e de rédu ire le m ode de protecti on, tel le que fissures du com -
posé, exposition des com posants encapsu l és ou défau t d'adh érence, n e doit être visi ble.
8.2.6 Essai de pression pour le matériel électrique du Groupe I et du Groupe II

Pou r l e n i veau de protecti on "m a" ayan t des espaces l ibres in di vidu els com pris entre 1 cm 3 et
1 0 cm 3 et pou r l e ni veau de protection "m b" ayan t des espaces l i bres indi vi du els entre 1 0 cm 3
et 1 00 cm 3 , deu x éch an ti ll ons d’essai doi ven t être préparés avec u n orifice de m ise sous
pressi on. Lorsqu 'il y a pl us d'u n espace libre d ’u ne tai lle exi geant l’essai, l 'essai de pressi on
doi t être effectu é sim u ltaném en t dans tous ces espaces l i bres.
L’essai de pression doi t être réal isé su r des éch antil lons qu i ont déj à été sou m is à des essais
d’en durance th erm iqu e (voir 8. 2. 3) .
L’essai doit être effectu é avec u n e pressi on tell e qu e don n ée au Tabl eau 6 et appl iqu ée pen-
dan t au m oins 1 0 s.
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 I EC 201 7
Tableau 6 – Essai de pression
Température ambiante minimale Pression d’essai
°C kPa
≥ –20 (a) 1 000
≥ -30 1 370
≥ -40 1 450
≥ -50 1 530
≥ -60 1 620
a) Ceci couvre l e m atéri el con çu pou r l a pl ag e de tem pératures am bi an tes n orm al i sées spéci fi ée dan s
l ’I EC 60079-0.
En variante, pour l e m atériel "m b", si le com posan t avec un espace l ibre j usqu ’à 1 00 cm 3 ,
avan t encapsu lag e, satisfait à l'essai d'étanchéi té sur les disposi tifs scell és, com m e cel a est
spécifié dans l ’I EC 60079-1 5 (sans essai de con diti onn em en t, de tensi on ou de rig idité di él ec-
tri que) , l e com posant peut être encapsu l é sans exi ger u n essai de pression.

Après les essais, les éch an ti llons doi vent être sou m is à un e i nspection visu ell e. Aucu n e dété-
rioration du com posé (tel l e que fissures dans le com posé, expositi on de com posan ts encap-
su lés ou défaut d’adhérence) suscepti bl e de dégrader le m ode de protection ne doi t être vi-
si bl e. Dans le cas de con stru ctions pou r lesqu el les i l est adm is qu ’il n’ y ai t pas d’épaisseu r de
com posé en tre u n espace l ibre et u n e paroi d’en veloppe non m étall iqu e, i l n e doit pas n on
plus y avoir de détéri oration de la ou des parois de l ’en vel oppe n on m étal l ique.
8.2.7 Essais des dispositifs de protection th ermique réarmables

8.2.7.1 Dispositifs de protection thermique réarmables avec contacts de
commutation
8.2.7.1 .1 Procédu re d’essai
La fonction des dispositi fs de protecti on doit être vérifi ée. Cet essai doi t être réal isé après
l’essai d’en durance therm iqu e. Le disposi tif doit être capabl e de com m uter son cou ran t ass i-
gn é ≥ 5 000 fois.
8.2.7.1 .2 Critères d’ acceptation

L’essai doi t être consi déré com m e réussi dans l e cas où l e dispositif de protection ag it correc-
tem en t après l ’essai dan s l a pl ag e spécifi ée dans sa fich e tech n iqu e.
8.2.7.2 Dispositifs de protection thermiqu e réarmables sans contacts de

commutation
8.2.7.2.1 Procédure d’ essai
La foncti on des dispositifs de protection doi t être vérifiée. Cet essai doit être réalisé après
l ’essai d’en du rance th erm iqu e. Le dispositif doit être capabl e d’ag ir (en l im itan t directem en t
ou in directem ent la m on tée en tem pérature) ≥ 500 fois.
8.2.7.2.2 Critères d’acceptation
L’essai doit être consi déré com m e réussi dans le cas où l e dispositif de protection ag it correc-
tem en t après l’essai dan s l a plag e spécifi ée dans sa fich e tech n iqu e.
8.2.8 Essai d’étanchéité pour les dispositifs de protection incorporés

L'essai est à effectuer sur ci nq éch an ti l lons. Les échan ti l lons d’essai étant à l a tem pérature
i ni tial e de (25 ± 2) °C, i ls sont bru squ em en t im m ergés dans de l’eau à (50 ± 2) °C à u n e pro-
fon deur d'au m oi ns 25 m m pen dan t au m oins 1 m in . Si aucu n e bu ll e n ’est ém ise par les
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 67 –
 I EC 201 7
éch anti l lons pen dan t cet essai, i ls son t consi dérés com m e satisfaisants. En vari ante, u n essai
peu t être effectu é en exam inant ci n q éch antil l ons après l'encapsu l ag e afi n de s'assurer qu e l e
com posé n'est pas entré à l'i ntéri eur.
9 Vérifications et essais individuels de série

9.1 Inspections visuelles
Ch aqu e m atéri el "m " doit être soum is à un e i nspecti on visuell e. Au cu n e dégradation telle qu e
fissures dans le com posé, exposition des parti es encapsu l ées, écai ll age, rétrei nt i n acce p-
table, bou rsouflure, décom positi on, défau t d'adhérence (détach em en t de parties adh érentes)
ou ram ol lissem en t, ne doit être visi bl e.
9.2 Essai de rigidité diélectrique

Pour les circu its qu i son t accessibl es de l’extéri eur, l’essai de ri g i di té diélectriqu e doit être
uti l isé pour vérifi er par essai l’isolati on des circu its l’u n de l’autre et de l eur en vironn em en t.
L’essai doit être réalisé sur ces circuits sel on 8. 2. 4. En vari an te, la m éth ode d'essai donn ée
en An n exe C peut être u ti lisée pour l 'essai en tre chaque circu i t et la surface du com posé ou
de l'en vel oppe non m étal liqu e.
La tension d'essai doi t être appl iqu ée pen dan t au m oins 1 s.
En varian te, 1 , 2 fois l a tensi on d’essai peu t être appli qu ée et m ai n ten u e pendant au m oins
1 00 m s.
Dans certains cas, i l peut être n écessaire qu e l a période d'essai réel le soit n ettem ent pl us
lon g ue que 1 00 m s, parce qu ’un éch anti ll on ayan t un e capacité distri bu ée élevée requ iert u n e
durée su pplém entaire pour attei n dre l a tension d'essai exig ée.
L'essai doi t être répu té avoir réussi s'i l ne se produ it n i cl aqu ag e n i arc électriqu e pen dant
son exécution.
NOTE Général em ent, l e couran t qu i ci rcul e au cou rs de l ' essai n e dépasse pas 5 m A eff. .
Contrairem ent à ce qui est m en tion n é ci -dessus, l 'essai de rig idité di él ectri que des pi les et
des accum ul ateurs doi t être effectué conform ém en t au x exi g ences de l ’essai de ri g idi té di é-
lectri qu e i n di vi duel de série de l ’I EC 60079-7.
Dans le cas où le m atéri el qu i u til ise des circui ts qu i con tien nen t des com posants supprim an t
les transitoi res conn ectés en tre le circu it et les parti es m ises à l a terre, il n ’est pas n écessaire
de sou m ettre ces m atéri els à des essais de rig i dité di él ectri qu e i n dividu el s de séri e s’i ls son t
destin és à être u til isés un i qu em en t avec u n circu it isolé g al vani qu em ent et i ls doiven t être
m arqu és "X" conform ém en t au x exi gences de m arqu age de l ’I EC 60079-0, pour i n di qu er cette
con diti on particul i ère d’u ti lisation.
Pour le n iveau de protecti on "m c" qu i com pren d u n essai de ri g idi té di électri qu e i n di viduel de
série dans l a norm e i ndu stri el le applicable pour l es articl es in dividu els du m atériel électriqu e,
l'u ti l isati on de cet essai doi t être au torisée pour satisfaire à l'exig ence d'essai de ri gi dité dié-
lectriqu e i n dividuel de séri e pour le n i veau de protecti on "m c".
1 0 Marquage
En plus des exi g ences de l ’I EC 60079-0, le m arquag e doit i nclu re:
a) la tension assig n ée,
b) l e cou rant assi g né,
– 68 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
c) l e courant de court-circu i t présum é de la source d’al im en tation électriqu e externe si i nfé-
ri eur à 1 500 A, par exem ple "Cou rant de court-circui t d’alim en tati on au torisé: 500 A".
d) de façon opti onn el le, le courant de cou rt-circu it présum é au torisé de l’al im entation él ec-
tri que extern e, si le m atéri el est conçu pour u n cou ran t de cou rt-circui t de 1 500 A ou pl us,
par exem ple "Courant de court-circu it d’al im entati on au torisé: 3 500 A".
e) pour les n iveaux de protection « m b» et « m c» pour l’EPL Db et l ’EPL Dc soum is à essai
sans couch e de poussière, la tem pérature m axim ale de su rface exprim ée en deg rés Cel-
si us et l ’u n i té de m esu re °C précédée de l a l ettre « T» (par exem pl e, T 90 °C) . Pou r l e n i-
veau de protecti on « m a» pour l ’EPL Da et le cas éch éan t, pou r les n i veau x de protecti on
« m b» et « m c» pou r l ’EPL Db et l ’EPL Dc soum is à essai avec u ne couch e de poussi ère, l a
tem pérature m axim ale de surface TL doit être i n diqu ée sous form e de val eur de tem péra-
ture en degrés Celsi us et de l ’u ni té de m esure °C, la profon deu r de cou che L étant i ndi-
qu ée sous form e d’i n dice i nférieur en m m (par exem pl e T200 320 °C) . Dan s l e cas des N i-
veau x de protecti on « m b» et « m c» pour l’EPL Db ou Dc soum is à essai avec un e couch e
de poussière, il n ’est pas exig é de m arqu er l a tem pérature m axim ale de surface sans
couch e de poussière. En vari an te, l e m arqu ag e i n diqu é en c) , d) et e) ci -dessus peu t être
incl us dans l es i nstru ctions et le m atéri el doit être m arqu é "X" pou r indi quer cette con d i-
tion particu l ière d'util isati on conform ém ent aux exi gences de m arquag e correspon dantes
de l ’I EC 60079-0.
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 I EC 201 7
Annexe A
(informati ve)
Exigences de base pour les composés pour matériel "m"
La Fig ure A. 1 dém ontre les exig ences de base pour les com posés pour m atéri el "m ".
NOTE Cette Ann exe n e fourn i t qu’u n aperçu g én éral . Lors du dével oppem ent du prog ram m e d’ essai pou r un
m atéri el spéci fi qu e, i l est nécessai re d’ accord er u n e atten ti on parti cu l i ère au texte détai l l é des exi g en ces appli -
cabl es.
No
compound known ?
Yes

re-design
No

Yes

fulfilled
Yes
Yes
For Group I only No
No
Yes

Yes
No

Yes
No

IEC
– 70 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Légende
Anglais Français
Tem peratu re ran g e of th e com pou nd known ? Pl ag e d e tem pératu res du com posé con nu e?
Yes Oui
No N on
Com pou n d i nsi d e an en cl osu re i n type of Com posé dan s un e en vel oppe du m ode de protec-
protecti on "p", " d", "e", "t" ti on "p", "d", "e", "t"
Sel ect other m ateri al or re-desi g n Choi si r un au tre m atéri el ou reconcevoi r
TI -val u e to I EC 60079-0 or equ i val en t val ue Val eu r I T sel on l ’I EC 60079-0 ou val eur équ i val ente
kn own conn u e
El ectrostati c to I EC 60079-0 fu l fi l l ed Exi g en ces él ectrostati q ues de l ’ I EC 60079-0 sati s-
fai tes
Mech ani cal tests to I EC 60079-0 fu l fi l l ed Essai s m écan i qu es sel on l ’I EC 60079-0 sati sfai -
sants
For G rou p I on l y stabi l i ty ag ai n st chem i cal Pou r G rou pe I seu l em en t, stabi l i té en vers l es m até-
m ateri al s to I EC 60079-0 ful fi l l ed ri au x ch i m i qu es sel on l ’I EC 60079-0 sati sfai san te
Protecti on ag ai n st l i g h t requi red? Protecti on contre l a l um i ère exi g ée?
Resi stance to l i g h t test to I EC 60079-0 fu l fi l l ed Essai de rési stance à l a l um i ère sel on l ’I E C 60079-0
sati sfai t
Are there bare parts l eadi n g ou t of th e com - Les parti es nu es cond u i sen t-el l es h ors d u com po-
pou nd sé?
Protected by other type of protecti on Protég é par u n au tre m ode de protecti on
Provi de testi ng stati on wi th test sam pl e as Fourni r l aboratoi re d’ essai avec échanti l l on com m e
speci fi ed spéci fi é
Tests Essai s
Figure A.1 − Exig ences de base pou r les composés pou r matériel "m"
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 71 –
 I EC 201 7
Annexe B
(informative)
Allocation des échantillons d’essai
Le Tabl eau B. 1 dém ontre l 'all ocation des échan ti ll ons d'essai.
NOTE Cette An n exe ne fou rni t qu ’u n aperçu g én éral . Lors du dével oppem ent d u prog ram m e d’ essai pour u n m até-
ri el spéci fi qu e, i l est n écessai re d’accorder u n e atten ti on parti cul i ère au texte détai l l é des exi g ences appl i cabl es.
Tableau B.1 − Allocation des échantillons d’ essai

Essais normaux Essais complémentaires
Échantillon 1 Échantillon 2 Échantillon 3 Échantillon 4
Déterm i nati on des tem péra-
tu res l i m i tes sel on 6. 3
Essai de tracti on de câbl e Essai d’en d urance th er-
sel on 8. 2. 5 m i que basé sur l a tem pé-
ratu re d e servi ce d éterm i -
née au poi n t où l e câbl e
en tre dans l e com posé
sel on 8. 2. 3. 1
En du rance th erm i qu e à l a Endu ran ce therm i que à l a
ch al eu r sel on 8. 2. 3. 1 chal eu r sel on 8. 2. 3. 1
En du rance th erm i qu e au Endu ran ce therm i que au
froi d sel on 8. 2. 3. 2 froi d sel on 8. 2. 3. 2
Essai du di sposi ti f d e pro- Essai du di sposi ti f d e pro- Essai de tracti on de câbl e
tecti on therm i que réarm abl e tecti on th erm i qu e réarm abl e sel on 8. 2. 5
sel on 8. 2. 7 sel on 8. 2. 7
Essai de ri g i di té di él ectri q u e Essai de ri g i di té di él ectri q ue
sel on 8. 2. 4 sel on 8. 2. 4
Essai de pressi on Essai de pressi on
sel on 8. 2. 6 (si req ui s) sel on 8. 2. 6(si req ui s)
Essai s m écani ques Essai s m écan i qu es
conform ém en t à con form ém ent à
l ’I EC 60079-0 (si requi s) l ’I EC 60079-0 (si requi s)
Les essai s son t effectu és d ans l ’ordre i ndi qu é dan s chaq ue col on ne.
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 I EC 201 7
Annexe C
(normative)
Essai de rigidité diélectrique entre les circuits et l'environnement
C.1 Généralités
Le Parag raphe 8. 2. 4. 1 c) décrit un essai de ri gi dité diél ectri que entre les circu its (par
exem ple, con nexi ons extern es) et l a surface non m étal l ique du m atériel (en vel oppe n on m é-
tal l iqu e ou surface du com posé) .
Pour les gran ds l ots de m atériels, l orsqu'il est i m possi ble en prati q ue de réal iser cet essai
com m e un essai i ndivi du el de série conform ém en t à 9. 2, i l peu t être effectu é com m e un essai
par lots conform ém ent à C. 2, à con diti on qu e:
a) La fiche tech n i qu e du m atériau pou r le m atéri au d'en vel oppe ou l e com posé spécifie u n e
tension de cl aqu ag e ég al e à au m oi ns 1 , 5 fois la tension d'essai spécifi ée en 8. 2. 4. 1 (en
pren an t en com pte l'épai sseur du m atéri au d'en veloppe ou du com posé) . Lorsqu'à l a fois
l e com posé et le m atéri au de l'en veloppe son t nécessaires pour contribuer à l a ri g idi té
diél ectri qu e, la valeur la plu s basse de l a tensi on de cl aqu age doit être appli quée à l a di s-
tance totale à travers le com posé et l 'en veloppe;
b) La tensi on d'essai de ri g i dité di électriqu e de l'essai de type soit égal e à 1 , 5 fois l a tensi on
d'essai spécifiée en 8. 2. 4. 1 ;
c) La config urati on d'essai ph ysi qu e soi t tel l e que décrite en 8. 2. 4. 1 c) ;
d) Les critères d'acceptation soien t tels qu'en 8. 2. 4. 2;
e) L'exi g ence d'essai par l ots soit i nclu se dans la docu m entation du fabrican t.
C.2 Procédure d'essai par lots

L'essai par lots doit être réalisé conform ém ent aux critères su ivan ts, d'après les don nées
d'éch anti l lon nag e fig uran t dans l'I SO 2859-1 :
a) Pour u n lot de produ ction com pren an t ju squ’à 1 00 élém ents, 8 éch anti ll ons doi ven t être
soum is à essai à u ne val eu r ég ale à 1 , 5 fois l a tensi on d'essai exi gée par 8. 2. 4. 1 , sans
présenter de défai llance;
b) Pour u n l ot de produ ction com pren ant en tre 1 01 et 1 000 él ém ents, 32 échan ti l lons doi-
ven t être soum is à essai à un e valeur ég ale à 1 , 5 fois l a tension d'essai exi g ée par
8. 2. 4. 1 , sans présenter de défail l ance;
c) Pour un l ot de producti on com pren an t entre 1 001 et 1 0 000 élém en ts, 80 éch anti l lons
doi vent être soum is à essai à u n e val eu r ég al e à 1 , 5 fois la tension d'essai exi gée par
8. 2. 4. 1 , sans présenter de défail lance;
d) Les lots com pren an t plus de 1 0 000 él ém en ts doiven t être di visés en l ots pl us petits.
S'il y a des résu ltats d'essais n on conform es, tous les éch anti llons restants dans l e lot doi ven t
être soum is à des essais i n di vi duels de séri e (1 00 %) à la tension d'essai exi gée par 8. 2. 4. 1 .
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 73 –
 I EC 201 7
Bibliograph ie
I EC 60050-426, Vocabulaire Electrotechnique International – Partie 426: Matériel pour at-
mosphères explosives
I EC 60079-1 , Atmosphères explosives – Partie 1: Protection du matériel par enveloppes anti-
déflagrantes "d"
I EC 60079-2, Atmosphères explosives – Partie 2: Protection du matériel par enveloppe à sur-
pression interne "p"
I EC 60079-5, Atmosphères explosives – Partie 5: Protection du matériel par remplissage pul-
vérulent "q"
I EC 60079-6, Atmosphères explosives – Partie 6: Protection du matériel par immersion dans
l’huile "o"
IEC 60079-1 0-1 , Atmosphères explosives – Partie 10-1: Classement des emplacements –
Atmosphères explosives gazeuses
IEC 60079-1 0-2, Atmosphères explosives – Partie 10-2: Classement des emplacements –
Atmosphères explosives poussiéreuses
IEC 60079-1 4, Atmosphères explosives – Partie 14: Conception, sélection et construction des
installations électriques
IEC 60079-28, Atmosphères explosives – Partie 28: Protection du matériel et des systèmes
de transmission utilisant le rayonnement optique
IEC 60086-1 , Piles électriques – Partie 1: Généralités
IEC 60622, Accumulateurs alcalins et autres accumulateurs à électrolyte non acide –
Éléments individuels parallélépipédiques rechargeables étanches au nickel-cadmium
I EC 60664-1 ,Coordination de l’isolement des matériels dans les systèmes (réseaux) à basse
tension – Partie 1: Principes, exigences et essais
I EC 60747-5-5, Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 5-5: Dispositifs
optoélectroniques – Photocoupleurs
Accumulateurs alcalins et autres accumulateurs à électrolyte non acide – Ac-
IEC 61 951 -1 ,
cumulateurs individuels portables étanches – Partie 1: Nickel-cadmium
IEC 61 951 -2, Accumulateurs alcalins et autres accumulateurs à électrolyte non acide – Ac-
cumulateurs individuels portables étanches – Partie 2: Nickel-métal hydrure
ISO 1 3849-1 , Sécurité des machines – Parties des systèmes de commande relatives à la sé-
curité – Partie 1: Principes généraux de conception
_____________
I E C 60079-1 8
®
Edition 4.1 201 7-08
FI N AL VE R SI ON
VE R SI ON FI N ALE

IEC 60079-1 8:201 4-1 2+AMD1 :201 7-08 CSV(en-fr)
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CONTENTS
FOREWORD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2 N orm ati ve references . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
3 Term s and defi n i ti ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
4 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 1 Level of protecti on (equ i pm ent protecti on level (EPL) ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 2 Addition al requ irem ents for l evels of protecti on “m a” and “m b” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 3 Addition al requ irem ents for l evel of protecti on “m a” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
4. 4 Rated vol tag e an d prospecti ve sh ort circu it curren t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5 Requ irem en ts for com poun ds . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 2 Specificati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 3 Properties of th e com pou nd . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 3. 1 Water absorption . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
5. 3. 2 Di el ectric stren g th . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
6 Tem peratu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 2 Determ i nation of th e l im iting tem peratures . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 2. 1 Maxim um surface tem peratu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 2. 2 Tem perature of th e com pou n d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
6. 3 Tem peratu re lim itati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
7 Constru ction al requ irem ents . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
7. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
7. 2 Determ i nation of fau lts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
7. 2. 1 Faul t exam in ati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
7. 2. 2 Com pon en ts considered as n ot su bj ect to fail . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
7. 2. 3 I sol ati ng com pon ents . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
7. 2. 4 I nfal li bl e separation distances . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
7. 3 Free space in th e encapsu lation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
7. 3. 1 Group I I I “m ” equ i pm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
7. 3. 2 Group I an d G rou p I I “m ” equ i pm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
7. 4 Thickness of th e com pou nd . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
7. 4. 1 “m ” equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
7. 4. 2 Windings for el ectrical m ach i n es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
7. 4. 3 Ri g i d, m ulti-l ayer prin ted wiri n g boards wi th throu g h conn ecti ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
7. 5 Switch in g contacts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
7. 5. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
7. 5. 2 Level of protecti on “m a” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 5. 3 Level of protecti on “m b” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 5. 4 Level of protecti on “m c” . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 6 Extern al con n ecti ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 6. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 6. 2 Addi ti on al requ irem ents for “m a” equ i pm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 7 Protecti on of bare li ve parts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 8 Cel ls and batteries . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
7. 8. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV –3–
 I EC 201 7
7. 8. 2 Preven ti on of gassi ng . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
7. 8. 3 Protecti on ag ainst i n adm i ssible tem peratures an d dam ag e to th e cel ls
or batteri es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
7. 8. 4 Reverse curren t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
7. 8. 5 Cu rrent lim itation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
7. 8. 6 Protecti on ag ainst the pol ari ty i n version and deep disch arge of the cel ls . . . . . . . 23
7. 8. 7 Ch argi n g of cells or batteri es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
7. 8. 8 Requirem en ts for con trol safety devices for cel ls or batteries . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
7. 9 Protecti ve devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
7. 9. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
7. 9. 2 Electrical protecti ve devi ces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
7. 9. 3 Therm al protective devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
7. 9. 4 Bui lt-in protecti ve devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8 Type tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 1 Tests on th e com poun d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 1 . 1 Water absorption test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 1 . 2 Di el ectric stren g th test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 2 Tests on th e apparatus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 2. 1 Test sequ ence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
8. 2. 2 Maxim um tem perature . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
8. 2. 3 Therm al en durance test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
8. 2. 4 Di el ectric stren g th test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
8. 2. 5 Cable pu l l test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
8. 2. 6 Pressure test for Grou p I an d Grou p I I el ectrical equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
8. 2. 7 Test for resettable therm al protective device. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
8. 2. 8 Seal i ng test for bu ilt-i n protective devices . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
9 Routin e verifications an d tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
9. 1 Visu al i nspections . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
9. 2 Dielectric stren g th test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
1 0 Markin g . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
Ann ex A (inform ati ve) Basic requ irem ents for com poun ds for “m ” equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Ann ex B (inform ati ve) All ocation of test sam pl es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
Ann ex C (n orm ative) Diel ectric stren g th test between circu its an d en viron m ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
C. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
C. 2 Batch test procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
Bibl i ograph y . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
Fig u re 1 – Dim ensional key for th ickness throu g h the com pou n d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
Fig u re 2 – M in im um distances for m ulti-l ayer prin ted wiri n g boards . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
Fig u re 3 – Fi tti ng of blocking diodes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Fig u re A. 1 − Basic requ irem ents for com pou nds for “m ” equ ipm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Tabl e 1 – Distances throug h the com pou n d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5

Tabl e 2 – M in im um th ickness of com pou nd adj acen t to free space for Group I I I “m ”
equ i pm ent . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
Tabl e 3 – M in im um th ickness of com pou nd adj acen t to free space for Group I an d
Grou p I I “m ” equ ipm en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
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Tabl e 4 – Th ickness of th e com poun d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
Tabl e 5 – M in im um distances for m ulti-l ayer prin ted wiri n g boards . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
Tabl e 6 – Test pressu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
Tabl e B. 1 − All ocation of test sam pl es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
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 I EC 201 7
I NTERNATI ON AL ELECTROTECH NI CAL COMMI SSI ON
____________
FOREWORD
1 ) Th e I n ternati on al El ectrotechn i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org ani zati on for stan dardi zati on com pri si n g
al l n ati on al el ectrotech ni cal com m i ttees (I EC N ati onal Com m i ttees) . The obj ect of I EC i s to prom ote
i n ternati on al co-operati on on al l q uesti on s concern i n g stand ardi zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el ds. To
thi s en d and i n addi ti on to other acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n ternati on al Stan dards, Tech n i cal Speci fi cati ons,
Tech ni cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati ons (PAS) an d Gu i des (h ereafter referred to as “I EC
Publ i cati on (s) ”) . Th ei r preparati on i s entru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I EC N ati on al Com m i ttee i nterested
i n th e su bj ect deal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work. I nternati on al , g overn m ental an d n on -
g overn m ental org an i zati ons l i ai si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on . I EC col l aborates cl osel y
wi th th e I n tern ati onal Org an i zati on for Stan d ardi zati on (I SO) i n accordan ce wi th con di ti on s determ i ned by
ag reem en t between th e two org an i zati on s.
2) Th e form al deci si on s or ag reem en ts of I EC on tech ni cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i nternati on al
con sen su s of opi ni on on th e rel evant su bj ects si n ce each tech ni cal com m i ttee h as representati on from al l
i n terested I EC N ati on al Com m ittees.
3) I EC Pu bl i cati ons h ave th e form of recom m endati ons for i n tern ati onal use an d are accepted by I EC N ati onal
Com m i ttees i n th at sense. Whi l e al l reasonabl e efforts are m ade to ensure th at th e tech n i cal content of I EC
Publ i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are used or for an y
m i si nterpretati on by an y en d u ser.
4) I n order to prom ote i n tern ati onal u ni form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees un d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s
transparentl y to the m axi m um extent possi bl e i n th ei r nati on al an d reg i on al publ i cati ons. An y d i verg ence
between an y I EC Pu bl i cati on an d the correspon di ng nati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n di cated i n
the l atter.
5) I EC i tsel f d oes n ot provi de an y attestati on of con form i ty. I n depen den t certi fi cati on bodi es provi de conform i ty
assessm ent servi ces and, i n som e areas, access to I EC m arks of con form i ty. I EC i s not respon si bl e for an y
servi ces carri ed out by i nd ependen t certi fi cati on bodi es.
6) Al l users shou l d ensu re that th ey h ave th e l atest edi ti on of thi s pu bl i cati on .
7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I EC or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag ents i ncl u di n g i n di vi du al experts an d
m em bers of i ts tech ni cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or
oth er dam ag e of an y n ature wh atsoever, wh eth er di rect or i ndi rect, or for costs (i ncl u d i n g l eg al fees) and
expen ses ari si n g ou t of the publ i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , thi s I EC P u bl i cati on or any other I EC
Publ i cati on s.
8) Atten ti on i s drawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on. U se of the referenced pu bl i cati on s i s
i n di spen sabl e for the correct appl i cati on of thi s pu bl i cati on .
9) Atten ti on i s drawn to th e possi bi l i ty that som e of th e el em en ts of th i s I EC Publ i cati on m ay be the su bj ect of
patent ri g h ts. I EC shal l n ot be hel d respon si bl e for i denti fyi ng an y or al l such patent ri g hts.
DISCLAIMER
This Consolidated version is not an official IEC Standard and has been prepared for
user convenience. Only th e current versions of the standard and its amendment(s)
are to be considered th e official docu ments.
This Consolidated version of IEC 60079-1 8 bears th e edition number 4.1 . It consists of
the fourth edition (201 4-1 2) [documents 31 /1 1 52/FDIS and 31 /1 1 68/RVD] and its
amendment 1 (201 7-08) [documents 31 /1 323/FDIS and 31 /1 336/RVD]. The technical
content is identical to the base edition and its amendment.
This Final version does not show where the technical content is modified by
amendment 1 . A separate Redline version with all changes hig hlighted is available in
this publication.
–6– I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Standard I EC 60079-1 8 has been prepared by I EC tech nical com m ittee 31 : Equ ipm ent for
explosi ve atm osph eres.
This fou rth edi ti on constitutes a tech n ical revision.
This I n tern ati onal Stan dard is to be used in conj u ncti on with I EC 60079-0, Explosive
atmospheres – Part 0: Equipment-General requirements.
This edi ti on incl u des the fol lowi ng si g n ifican t techn ical chan g es wi th respect to the previou s
edi tion:
Type
Explanation of th e signifi cance of the ch anges Clause Minor and Extension Major
editorial techni cal
changes changes
Defi ni ti ons d el eted an d m oved to I EC 60079-0 3 X
H eadi n g m odi fi ed /add ed to cl ari fy whi ch req u i rem en ts are 4 X
addi ti on al requ i rem ents for “m a” l evel of protecti on on l y
Th erm al con du cti vi ty add ed 5. 2 X
N ote add ed th at i t i s n ot a requ i rem ent of thi s stan d ard that 5. 3. 2 X
conform i ty to th e m anu facturer` s speci fi cati on of th e
com poun d n eeds to be veri fi ed
Cl ari fi cati on ad ded 6. 2. 2 X
Cl ari fi cati on ad ded 7. 1 X
For th e determ i n ati on of fau l ts opti ons added and 7. 2 X
cl ari fi cati on g i ven
Addi ti onal i nform ati on i n cl u ded i n Fi gu re 1 7. 4. 1 X
“Varni sh and si m i l ar coati ng s are n ot con si dered to be sol i d 7. 4. 2 X
i nsul ati on . ” was added i n th i s secti on and d el eted i n th e
defi n i ti on on 3. 8
For ri g i d, m u l ti -l ayer pri nted wi ri n g boards wi th th rou g h 7. 4. 3. 1 X
conn ecti ons ad di ti onal stan dards added
Protecti on ag ai nst i n adm i ssi bl e tem peratu res an d dam ag e 7. 8. 3 C1
to the cel l s
El ectri cal protecti ve d evi ces cl ari fi ed and addi ti onal 7. 9. 2 X
Th erm al protecti ve d evi ces cl ari fi ed an d ad di ti onal 7. 9. 3 X
2/3 vol tag e l i m i tati on d el eted 7. 9. 3 X
Determ i nati on of th e m axi m u m tem peratu re for “Da” fi xed 8. 2. 2 C2
Stabi l i zati on of th e tem perature 8. 2. 2 C3
Th erm al endu ran ce to h eat 8. 2. 3. 1 X
Tem peratu re fi xed as referen ce servi ce tem peratu res an d 8. 2. 3. 1 . 1 X
tests g i ven as al tern ati ves
For th e di el ectri c streng th test procedu re al tern ati ve 8. 2. 4. 1 X
Al tern ati ve test m ethods for th e requi red pressu re test for 8. 2. 6 X
Group I an d Grou p I I el ectri cal equ i pm ent add ed
Seal i n g test for bui l d -i n protecti ve d evi ces 8. 2. 8 X
For th e di el ectri c streng th test procedu re al ternati ve 9. 2 X
Marki n g 10 X X
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV –7–
 I EC 201 7
Explanation of th e Types of Significant Chang es:
A) Defini tions
1. Minor and editorial chan ges: • Cl ari fi cati on
• Decrease of tech ni cal req u i rem en ts
• Mi n or techn i cal ch an g e
• Edi tori al correcti ons
Th ese are chan g es whi ch m odi fy requ i rem en ts i n an edi tori al or a m i n or techn i cal way. They i ncl u de ch ang es of
th e wordi n g to cl ari fy tech ni cal requ i rem en ts wi th out an y techn i cal ch an g e, or a red ucti on i n l evel of exi sti n g
req u i rem en t.
2. Exten sion: • Addi ti on of tech n i cal opti ons
Th ese are chan g es wh i ch add new or m odi fy exi sti ng tech n i cal req ui rem en ts, i n a way th at n ew opti ons are
g i ven , bu t wi th ou t i ncreasi ng requi rem en ts for equ i pm en t th at was fu l l y com pl i ant wi th th e previ ous stan dard.
Th erefore, these wi l l n ot h ave to be consi dered for produ cts i n conform i ty wi th the precedi n g edi ti on.
3. Major technical chang es: • addi ti on of tech ni cal requ i rem en ts
• i n crease of tech n i cal requ i rem en ts
Th ese are chan g es to tech ni cal requ i rem ents (addi ti on , i n crease of th e l evel or rem oval ) m ade i n a way th at a
product i n con form i ty wi th th e precedi ng edi ti on wi l l n ot al ways be abl e to fu lfi l th e req ui rem en ts g i ven i n th e
l ater ed i ti on. Th ese ch ang es h ave to be consi dered for produ cts i n conform i ty wi th th e preced i n g edi ti on . For
th ese ch ang es addi ti on al i n form ati on i s provi d ed i n i tem B) bel ow.
N ote Th ese chan g es represen t cu rren t tech nol og i cal kn owl edg e. H owever, th ese chang es shoul d n ot n orm al l y
have an i n fl u ence on equi pm en t al read y pl aced on th e m arket.
B) Information about the background of ‘ Major technical changes’

C1 Cl au se 7. 8. 3 m odi fi ed an d addi ti on al requ i rem ents ad ded for cel l s or batteri es
C2 Th e fl exi bi l i ty g i ven i n I EC 60079-0 i s repl aced by a m i n. requ i rem ent. For l evel of protecti on “m a”
equi pm en t, desi g n ed for EPL “Da” the m axi m um su rface tem peratu re shal l be d eterm i n ed wi th th e eq u i pm en t
m oun ted i n accord ance wi th th e m an ufactu rer` s i nstru cti on s, and su rrou n ded on al l avai l abl e su rfaces by dust
wi th a l ayer thi ckn ess of at l east 200 m m
C3 The i ncrease of th e tem perature du ri n g th e test can be a very sl ow process. The fi nal tem peratu re shal l be
consi dered to h ave been reach ed when the rate of ri se of tem peratu re d oes not exceed 1 K/24 h
This publicati on has been drafted i n accordance wi th th e I SO/I EC Directi ves, Part 2.
A list of al l th e parts i n th e I EC 60079 series, pu bl ish ed u n der th e gen eral title Explosive
atmospheres, can be fou nd on th e I EC websi te.
The com m ittee h as deci ded th at th e con ten ts of th e base pu blicati on an d its am en dm ent wi l l
rem ai n unch an g ed u nti l th e stabi li ty date i ndicated on the I EC web site u n der
"http://webstore. iec. ch " in th e data rel ated to the specific pu bl ication. At this date, the
pu blication wil l be
• reconfirm ed,
• wi thdrawn ,
• repl aced by a revised edi ti on, or
• am ended.
–8– I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
1 Scope
This part of I EC 60079 g ives th e specific requ irem en ts for th e constructi on , testi ng an d
m arking of electrical equ ipm en t, parts of el ectri cal equ i pm ent and Ex com pon ents wi th the
type of protecti on encapsu lati on “m ” inten ded for use i n explosi ve g as atm osph eres or
expl osi ve dust atm osph eres.
This part appli es on l y for encapsu lated el ectrical equ ipm ent, encapsu lated parts of electrical
equ i pm ent and encapsu lated Ex com pon ents (herei nafter always referred to as “m ”
equ i pm ent) wh ere th e rated voltag e does not exceed 1 1 kV.
The appl ication of electri cal equ ipm ent i n atm ospheres, wh ich m ay con tain explosi ve g as as
wel l as com bustibl e dust sim ul tan eousl y, m ay requ ire additi on al protecti ve m easures.
This stan dard does not appl y to dusts of explosives, wh ich do not requi re atm osph eric oxyg en
for com busti on , or to pyroph oric su bstances
This stan dard does not take accou nt of an y risk du e to an em ission of flam m able or toxic g as
from the du st.
This stan dard su pplem ents an d m odifies th e general requi rem en ts of I EC 60079-0. Where a
requ irem ent of th is stan dard confl icts with a requ irem en t of I EC 60079-0, th e requirem en t of
th is stan dard takes precedence.
2 Normative references
The foll owi ng docum en ts, i n wh ole or i n part, are norm ati vel y referenced i n th is docum en t and
are in dispensabl e for i ts appl ication . For dated references, on l y the editi on cited appli es. For
un dated references, th e l atest editi on of th e referenced docum en t (i nclu ding an y
am endm ents) appli es.
I EC 60079-0, Explosive atmospheres – Part 0: Equipment – General requirements

IEC 60079-7, Explosive atmospheres – Part 7: Equipment protection by increased safety “e”
IEC 60079-1 1 , Explosive atmospheres – Part 11: Equipment protection by intrinsic safety “i”
IEC 60079-1 5, Explosive atmospheres – Part 15: Equipment protection by type of protection
"n"
IEC 60079-26, Explosive atmospheres – Part 26: Equipment with equipment protection level
(EPL) Ga
IEC 60079-31 , Explosive atmospheres – Part 31: Equipment dust ignition protection by
enclosure “t”
IEC 601 27 (all parts) , Miniature fuses
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV –9–
 I EC 201 7
IEC 60243-1 ,Electrical strength of insulating materials – Test methods – Part 1: Tests at
power frequencies
IEC 60691 , Thermal-links – Requirements and application guide
IEC 60730-2-9, Automatic electrical controls for household and similar use – Part 2-9:
Particular requirements for temperature sensing controls
IEC 60738-1 , Thermistors – Directly heated positive temperature coefficient – Part 1: Generic
specification
IEC 61 1 40, Protection against electric shock – Common aspects for installation and
equipment
I EC 61 558-1 , Safety of power transformers, power supplies, reactors and similar products –
Part 1: General requirements and tests
I EC 61 558-2-6,Safety of transformers, reactors, power supply units and similar products for
supply voltages up to 1 100 V − Part 2-6: Particular requirements and tests for safety isolating
transformers and power supply units incorporating safety isolating transformers
I EC 62326-4-1 , Printed boards – Part 4: Rigid multilayer printed boards with interlayer
connections – Sectional specification – Section 1: Capability detail specification – Perform-
ance levels A, B and C
AN SI /U L 248 (all parts) , Standard for low-voltage fuses
AN SI /U L 746B, Standard for polymeric materials – Long term property evaluations
3 Terms and definitions
For th e pu rposes of th is docu m en t, th e term s an d defi n iti ons g i ven in I EC 60079-0 and the
fol lowi ng defi n iti ons appl y.
NOTE Addi ti on al defi n i ti ons appl i cabl e to expl osi ve atm osph eres can be foun d i n I EC 60050-426.
3.1
encapsu l ation “m”
type of protection wh ereby parts th at are capable of ig n i tin g an expl osi ve atm osph ere by
either sparki ng or heati n g are fu ll y encl osed i n a com poun d or oth er n on -m etall ic enclosure
wi th adh esion in such a way as to avoi d ig ni tion of a dust layer or explosi ve atm osph ere u nder
operati n g or i nstal lation con ditions
3.2
temperatu re range of th e compound
ran g e of tem peratu res wi thi n wh ich th e properti es of th e com poun d, i n eith er operati on or
storage, perm it com pl i an ce wi th th e requ irem en ts of I EC 60079-1 8
– 10 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
3.3
free surface
com pou n d surface exposed to the expl osive atm osph eres and/or dust l ayers
3.4
switch ing contact
m echan ical contact, wh ich m akes an d breaks an el ectrical circui t
3.5
adhesion
m oistu re, g as an d dust ti gh t perm an en t bon di ng of a com poun d to a su rface
3.6
countable fault
fau lt wh ich occurs in parts of el ectrical equ i pm ent conform in g to the constructi on al
requ irem ents
3.7
infallible separation
separation between electrical l y conducti ve parts that is consi dered as n ot su bj ect to sh ort
circui ts
3.8
solid insulation
insu l ati on m ateri al wh ich is extru ded or m ou l ded, bu t n ot poured
Note 1 to en try: I nsul ators fabri cated from two or m ore pi eces of el ectri cal i n su l ati n g m ateri al , wh i ch are sol i dl y
bon ded tog ether m ay be con si dered as sol i d.
4 General
4.1 Level of protection (equipment protection level (EPL))
Electrical equ ipm ent with encapsu lati on “m ” shall be ei ther:
a) l evel of protection “m a” (EPL “M a, Ga, Da”) ,
b) l evel of protection “m b” (EPL “M b, Gb, Db”) , or
c) l evel of protecti on “m c” (EPL “Gc, Dc”) .
The requirem en ts of th is stan dard appl y to al l levels of protection for encapsu lation “m ” un less
oth erwise stated.
4.2 Additional requ irements for levels of protection “ma” and “mb”
Com pon en ts wi thout additi on al protection sh all be used on l y if they can n ot dam ag e the
encapsu lati on m echan icall y or th erm all y in th e case of an y fau lt condi tions specified in th is
stan dard.
Alternati vel y, wh ere a fau lt of an internal com pon en t m ay lead to fai l ure of encapsu lation “m ”
du e to increasing tem perature, the requ irem ents of 7. 9 sh all appl y.
4.3 Additional requ irements for level of protection “ma”

The worki n g voltag e at an y poin t in th e circu it shal l n ot exceed 1 kV.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 11 –
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4.4 Rated voltag e and prospective short circuit current
The rated vol tag e and the prospecti ve short circu it cu rrent sh all be specifi ed such that th e
lim itin g tem perature is n ot exceeded for th e rel evant level of protecti on “m a”, “m b” or “m c”.
5 Requirements for compounds

5.1 General
The docum entati on sh all specify the com poun d(s) u sed an d th e processin g m ethod(s) ,
inclu din g m easu res to preven t th e form ati on of voids.
As a m in im um , those properties of th e com poun d(s) on wh ich encapsu lati on “m ” depen ds

shal l be provided.
NOTE Proper sel ecti on of th e com pou n d al l ows for the expan si on of com pon ents du ri n g operati on and i n the
event of al l owabl e faul ts.
5.2 Specification
The specification for th e com pou n d sh all incl u de the fol lowin g :
a) th e n am e an d address of the m an ufacturer of th e com pou n d,
b) th e exact and com pl ete reference of th e com pou nd and if relevant, percentage of fil lers
an d an y oth er addi ti ves, the m ixture ratios and th e type desig n ation,
c) if applicable, an y treatm ent of th e surface of the com pou n d(s) , for exam pl e varn ish i n g ,
d) if applicabl e, to obtai n correct adh esi on of the com pou n d to a com pon ent, an y requ irem en t
for pre-treatin g of th e com ponen t for exam ple clean in g, etch i n g,
e) th e di electric stren g th in accordance wi th I EC 60243-1 at th e m axim um service
tem peratu re of th e com poun d determ i ned accordi n g to 8. 2. 2 a) if avai l abl e; if not
avail able, th e requ irem en ts of 5. 3. 2 sh all be appl i ed,
f) tem perature rang e of th e com pou n d(s) (i nclu din g m axim u m con tin u ous operatin g
tem peratu re (COT) an d m inim um con tin u ou s operating tem perature (COT) ) ,
g) in th e case of “m ” equ ipm ent wh ere th e com pou nd is part of th e extern al enclosure, th e
tem perature i ndex TI val ue as defi n ed by I EC 60079-0. As an alternati ve to th e TI , th e
relative th erm al i ndex (RTI -m echan ical ) m ay be determ in ed i n accordance with AN SI /UL
746B,
h) th e col ou r of th e com pou nd u sed for th e test sam ples, where th e com pou nd specification
wi l l be infl u enced by ch ang i n g th e col ou r,
i) Therm al con du cti vi ty if uti l izin g th e al tern ati ve test m eth od in 6. 2. 2.
NOTE I t i s not a req u i rem en t of th i s stand ard th at con form i ty to th e m anu factu rer’s speci fi cati on of the com pou n d
5.3 Properties of the compound

5.3.1 Water absorption
Eith er the com poun d sh al l be tested in accordance with 8. 1 . 1 or, if th is test is not perform ed,
th e certificate n um ber for th e equ i pm ent sh al l i n cl ude th e “X” suffix i n accordance with th e
m arking requi rem en ts of I EC 60079-0 an d the specific con diti ons of use l isted on th e
certificate sh al l detai l th e precau tions n ecessary.
5.3.2 Dielectric strength

Where th e dielectric streng th accordi n g to I EC 60243-1 at the m axim um service tem perature
accordi ng to 8. 2. 2 a) , of th e com pou n d is n ot avail abl e from th e m ateri al m an ufacturer, a test
shal l be perform ed in accordance wi th 8. 1 . 2.
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 I EC 201 7
NOTE I t i s n ot a requi rem en t of th i s standard that con form i ty to the m anu factu rer` s speci fi cati on of the com pou n d
6 Temperatures
6.1 General
The service tem peratu re of th e com pou n d, determ ined i n accordance wi th I EC 60079-0, sh al l
not exceed the m axim um val u e of th e COT of the com pou n d. The m axim um surface
tem perature sh all be determ in ed in accordance with I EC 60079-0 u n der n orm al operati on an d
un der fau lt conditions as defin ed in 7. 2. 1 . Th e “m ” equ ipm ent sh all be protected i n su ch a way
th at encapsu l ati on “m ” is not adversel y affected u n der th ese fau lt con ditions.
6.2 Determin ation of th e limiting temperatu res

6.2.1 Maximu m su rface temperatu re
The m axim u m surface tem perature sh all be determ ined usi ng th e test m ethod g i ven in 8. 2. 2 i n
accordance wi th th e su ppl y con diti ons specified i n 4. 4.
NOTE Th i s tem perature i s used to determ i ne ei th er the tem peratu re cl ass for expl osi ve g as atm ospheres or th e
m axi m u m surface tem peratu re i n deg ree Cel si us for expl osi ve du st atm ospheres of th e eq u i pm ent, or both .
6.2.2 Temperatu re of th e compound

The h ottest com pon ent shall be determ in ed . Th e m axim um tem peratu re in th e com pou n d,
adj acen t to the h ottest com pon ent, shal l be determ ined usi n g th e test m ethod g i ven i n 8. 2. 2
for n orm al operati on .
As an al tern ati ve th e determ in ati on of th e tem perature of th e hottest com ponen t in n orm al
operati on m ay be don e by calcu lation, m anu facturer’s specification or by testi ng the
com pon ent u n der i ntended appl ication con ditions prior to encapsu latin g the com pon ent if th e
th erm al con ducti vity of th e com poun d is greater th an th at of air.
NOTE Th erm al conducti vi ty of ai r i s m ost often defi ned as 0. 25 W/m *K (standard con di ti ons) .
6.3 Temperatu re limitation

Where the equ ipm ent m ay be subj ect to fau l t i n accordance with 7. 2. 1 , or where there is th e
possi bi li ty of an i ncreased tem perature, for exam ple by an u nfavourabl e i nput vol tag e i n
accordance wi th 7. 2. 1 or an u nfavourabl e load, thi s sh al l be taken i nto accou n t in determ in i n g
th e l im iting tem peratures.
When a protecti ve device is requ ired to l im it tem peratu res for safety reasons, it sh all be an
electrical or th erm al device extern al to th e equ ipm ent or directl y i ntegrated i nto th e
equ i pm ent, as defi ned i n 7. 9.
7 Constructional requirements
7.1 General
Where th e com pou n d form s part of th e external encl osure it sh al l com pl y wi th the
requ irem ents of I EC 60079-0 for n on m etal l ic enclosures an d n on m etal lic parts of encl osures.
I f the surface of th e com pou n d is total l y or partl y surrou nded by an encl osure an d th e
enclosure is part of the protection , th e encl osure or parts of th e encl osu re sh al l com pl y wi th
th e enclosure requ irem ents of I EC 60079-0.
Addi ti on al protecti ve m easu res m ay be required to be provi ded by the u ser in th e instal lati on
in order to com pl y wi th the requ irem ents of th is stan dard. For exam pl e, additi on al m ech anical
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protection m ay be requ ired to protect the equ ipm en t from a direct im pact. I n such cases, th e
certificate num ber for the equ i pm ent shal l inclu de th e “X” suffix i n accordance with the
m arking requ irem ents of I EC 60079-0 and the specific con ditions of use l isted i n th e
certificate sh all detai l th e precau tions n ecessary.
Appropriate action sh all be taken to accom m odate th e expansion of com pon ents during
norm al operation and in the event of fau l ts accordi ng to 7. 2.
In 7. 2 to 7. 9 the requ irem ents differ accordin g to wh eth er th e com poun d adh eres to th e
encl osure. Where adh esion is specifi ed, the aim is to preven t the in gress of explosi ve
atm osph eres an d m oi sture at the boun dary surfaces (for exam ple enclosure-com pou n d,
com pou n d-parts th at are not com pletel y em bedded in th e com pou nd, such as prin ted wi rin g
boards, conn ection term i nals, etc. ) . Where adh esion is requ ired to m ai ntain the type of
protecti on , it shal l be m ai ntain ed after com pleti on of al l the prescribed tests. The choice of th e
com pou n d(s) to be used for a specific appl ication is depen den t on the task each com pou nd
has to perform . Testin g a com pou n d once for a g i ven applicati on wi ll not qu al ify that
com pou n d for all appl icati ons.
NOTE Tests for ad h esi on are u n der consi derati on .
7. 2 Determ in ation of fau l ts
7. 2. 1 Fau lt examin ation
When tested i n accordance with I EC 60079-0, encapsu lation “m ” shal l be m ai ntain ed in th e

case of
a) th e m ost u nfavourabl e ou tput load and
b) up to two i nternal cou ntable fau lts for level of protection “m a”, an d up to on e i ntern al
cou n table fau lt for l evel of protecti on “m b”, takin g i nto accou n t 7. 2. 2, 7. 2. 3 an d 7. 2. 4.
No faults are taken into accou n t for level of protection “m c”.
NOTE E xam pl es of fau l ts are: a sh ort ci rcu i t i n any com pon en t, th e fai l u re of an y com pon en t an d a fau l t between
tracks i n th e pri n ted wi ri n g board, bu t n ot the openi n g of a track.
The fai lu re of som e com pon en ts m ay resu lt i n an u nstable con diti on , for exam pl e, alternatin g
between hi g h and l ow resistance. I n those cases, the m ost onerous condi tion sh all be
consi dered.
I f a fau l t leads to one or m ore subsequ ent fau lts, for exam ple, due to the overl oad of a
com pon ent, th e prim ary an d su bsequ en t fau lt(s) shal l be considered to be a si ng le fau l t.
7. 2. 2 Compon ents con si d ered as not su bj ect to fai l
For levels of protection “m a” an d “m b” the followi ng com pon ents sh al l be consi dered as n ot to
fai l if they are encapsu l ated accordi ng to th e requ irem ents of th is standard, if th ey are
su itabl e for th e service tem perature an d if th ey are n ot operated at m ore th an 2/3 of th eir
rated voltag e, rated curren t and rated power rel ated to th e ratin g of th e device, th e m oun tin g
con diti ons an d the tem perature rang e specified :
– resistors,
– sing l e-layer, spiral l y wou nd coi ls,
– plastic foil capaci tors,
– paper capacitors,
– ceram ic capaci tors,
– sem iconductors,
– sem iconductor devices u sed as a protecti ve device accordin g to 7. 9,
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– resistors used as a protecti ve device accordi n g to 7. 9, if th ey com pl y with the current
l im itin g resistors of I EC 60079-1 1 for level of protecti on “i a” or “ib”.
For levels of protection “m a” and “m b” wi ndi n gs that com pl y with I EC 60079-7, i nclu di ng also
th ose th at h ave wi re diam eters of l ess th an 0, 25 m m shall be consi dered as not su bj ect to
fai l ure if they are encapsu lated accordin g to th e requ irem ents of this standard.
7. 2 . 3 I so l ati n g com pon en t s
The fol l owing com pon en ts for th e seg reg ati on of different ci rcu i ts shal l be considered to
provi de isolation and are not considered to fail across th e segreg ation:
• Gal van icall y separating com pon ents (e. g. optocou plers an d relays) ,
– if th e rated insu lati on vol tag e conform s to 2 U + 1 000 V r. m . s. +50 % or 1 500 V r. m . s.
wh ichever is g reater ( U i s the sum of the rated r. m . s. voltag es of both circu its) , or
– for a rated insu lati on vol tag e across th e segreg ati on of m ore than 60 V (sum of the
rated r. m . s. voltages of both circu its) , optocou plers an d relays provi di ng a dou ble or
reinforced i nsulati on between th e circu its per I EC 61 1 40, or
– com pl yin g wi th I EC 60079-1 1 for l evel of protection “i a” or “ib”.
• Transform ers,
– com pl yi n g wi th I EC 61 558-2-6, or
– provi di ng a dou bl e or reinforced insu l ati on between th e circu it per I EC 61 558-1 , or
– com pl yi n g with I EC 60079-1 1 for l evel of protection “ia” or “ib”.
NOTE 1 I t i s not a requi rem en t of th i s stand ard that conform i ty to th e above stan dards per the m anu factu rer´s
speci fi cati on reg ardi n g seg reg ati on n eeds to be veri fi ed.
NOTE 2 G al van i cal l y separati n g com pon ents provi di ng dou bl e or rei nforced i n su l ati on accordi ng to a prod uct
standard are con si dered to m eet th e requ i rem en ts of I EC 61 1 40 e. g . I EC 60747-5-5 for optocou pl ers.
7. 2. 4 I n fal l i b l e sep arati o n d i s tan ces
7. 2. 4. 1 G en e ra l
I t is n ot necessary to consi der th e possibi lity of a fau lt occurring as described i n 7. 2. 1 i n

respect of vol tag e breakdown, if th e distances between bare current-carryi ng parts:
– of th e sam e ci rcu it, or
– of a circu i t and earth ed m etal parts, or
– of two separate circu i ts (sum of the workin g vol tag es sh al l be taken as th e vol tag e for
Tabl e 1 ; wh ere on e of the workin g voltag es is l ess th an 20 % of th e other, it sh al l be
ign ored) ,
com pl y wi th the requ irem en ts of 7. 2. 4. 2 an d if appl icabl e 7. 2. 4. 3.
7. 2. 4. 2 Di stan ces t h rou g h th e com pou n d
Distances throu gh com pou n d shal l be considered to be i nfal libl e against short circu it for l evel
of protecti on “m a” an d level of protection “m b” if th ey com pl y with th e valu es in Table 1 ,
provi ded th at the distances in th e com pou nd are fixed or secu red m ech an icall y before
encapsu lati on.
NOTE When a su i tabl y ad hered n on -m etal l i c encl osu re of a g i ven speci fi c m i n i m um th i ckn ess perm i ts a zero
th i ckn ess of com poun d per Key l etter c of Tabl e 4 and Fi g u re 1 , then the separati on di stan ces for th e associ ated
curren t carryi ng parts are sti l l con si dered i n fal l i bl e ag ai n st sh ort ci rcui t
Distances between th e m inim um distances g iven for level of protection “m c” and the infal lible
distances g iven for level of protecti on “m a” an d “m b” are n ot consi dered infallibl e an d sh all be
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assessed as a “cou ntabl e fau lt”. Distances less than those g i ven for level of protecti on “m c”
are consi dered as sh ort-circu its if th is im pairs th e type of protecti on “m ”.
For level of protecti on “m c” th e val u es of Table 1 are the constru ctional requ irem en ts an d m ay
be ach i eved by m ech an icall y fixi ng before encapsu lation.
Tabl e 1 – Di st an ces t h rou g h th e com pou n d
Vol tag e U r. m . s . or d . c. (s ee
a
) Minimum d i stan ce
V mm
“m a” “m b ” “m c ”
≤ 32 0, 5 0, 5 0, 2
≤ 63 0, 5 0, 5 0, 3
≤ 400 1 1 0, 6
≤ 500 1 ,5 1 ,5 0, 8
≤ 630 2 2 0, 9
≤ 1 000 2, 5 2, 5 1 ,7
≤ 1 600 - 4 4
≤ 3 200 - 7 7
≤ 6 300 - 12 12
≤ 1 0 000 - 20 20
a Vol tag es sh own are d eri ved from I EC 60664-1 an d are based on the
rati onal i zati on of suppl y vol tag es g i ven i n Tabl e 3b of I EC 60664-1 . When
determ i ni n g the requ i red di stance, th e worki ng vol tag e m ay be hi g h er th an th e
vol tag e i n the tabl e by a factor of 1 , 1 .
NOTE The factor of 1 , 1 recog ni zes th at at m any pl aces i n a ci rcui t, the worki n g
vol tag e equal s the rated vol tag e an d th at th ere are a n u m ber of rated vol tag es i n
com m on u se that can be accom m odated by the 1 , 1 factor.
7. 2. 4. 3 Di stan ces t h rou g h s ol i d i n su l ati o n
The distance throug h sol i d insul ati on, on wh ich th e type of protection “m ” depends, sh al l be at
least 0, 1 m m an d shal l com pl y wi th the diel ectric stren gth test of 8. 2. 4.
7. 3 Free spac e i n th e en cap su l at i on
7. 3. 1 G ro u p I I I “ m ” eq u i pm en t
The sum of th e free spaces is not l im ited, but th e vol um e of each i n di vidu al free space is
lim ited to 1 00 cm 3 . The th ickness of th e com pou n d surroun din g su ch free spaces sh all m eet
th e requ irem en ts of Tabl e 2.
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Table 2 – Minimum th ickn ess of compou nd ad j acent
to free space for Group III “ m” eq uipment
Level of M i nim um thi ckness of Free space Free space
protecti on com pound ad jacent to free ≤ 1 cm 3 >1 cm 3 ≤ 1 00 cm 3
space to:

Non -m etal l i c or m etal encl osure 3 m m (en cl osure + 3 m m (en cl osure + com pou n d ) a
“m a” wi th adh esi on com pou nd ) a
Free space or free surface 1 mm 3 mm
N on -m etal l i c or m etal encl osure 1 m m (en cl osure + 3 m m (encl osu re + com pou nd ) a
“m b” wi th adh esi on com pou nd )

“m c” N on -m etal l i c or m etal encl osure 1 m m (encl osure + 1 m m (en cl osu re + com pou nd )
wi th adh esi on com pou nd )
a Wal l th i ckness of the encl osure ≥1 mm.
The thi ckness of the m ateri al s quoted i n thi s tabl e d oes not i m pl y com pl i an ce wi th oth er m ech an i cal tests
req ui red by I EC 60079-0.
NOTE A m etal encl osure wi th ad h esi on i s perm i tted to have n o com poun d thi ckness to a free space provi ded
there are n o l i ve parts i n th e free space.
7.3.2 Grou p I and G roup II “m” equ ipment

The su m of th e free spaces sh all n ot exceed:
• 1 00 cm 3 for level of protecti on “m b” and “m c”;
• 1 0 cm 3 for level of protecti on “m a”.
The m in im um thickn ess of the com pou nd surroun ding such free spaces shal l com pl y with
Table 3.
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Table 3 – M ini mum th ickness of compou nd ad jacent
to free space for Group I and G roup II “m” equi pment
Level of M i n imum thi ckness of Free space Free space Free space
protecti o compound ad jacent to ≤ 1 cm 3 >1 cm 3 ≤ 1 0 cm 3 > 1 0 cm 3 ≤ 1 00 cm 3
n free space to:
Free space or free 3 mm 3 mm N ot perm i tted

su rface (pressu re test
i n accordance wi th
8. 2. 6)
N on -m etal l i c or m etal 3 m m (en cl osure + 3 m m (encl osure + N ot perm i tted
encl osu re wi th adh esi on com pou nd ) a com pou nd ) a
“m a” (pressure test
i n accordan ce wi th
8. 2. 6)
Non -m etal l i c or m etal 3 mm 3 mm N ot perm i tted
en cl osu re wi th out (pressure test
adh esi on i n accordan ce wi th
8. 2. 6)
surface (pressure test
Non -m etal l i c or m etal 1 m m (encl osu re + 3 m m (en cl osure + 3 m m (encl osu re +
en cl osu re wi th adhesi on com poun d ) com pou nd ) a com pou nd ) a
“m b” (pressure test
encl osu re wi thout (pressu re test
adh esi on i n accordance wi th 8. 2. 6)
su rface
“m c ” N on -m etal l i c or m etal 1 m m (en cl osure + 1 m m (encl osu re + 3 m m (en cl osure +

en cl osu re wi th adhesi on com pou nd ) com poun d ) com pou nd )
See n ote
en cl osu re wi th out
adh esi on
a Wal l thi ckness of th e en cl osure ≥1 mm.
The th i ckn ess of th e m ateri al s qu oted i n th i s tabl e does not i m pl y com pl i ance wi th other m echani cal tests
req u i red by I EC 60079-0.
NOTE A m etal encl osu re wi th adh esi on i s perm i tted to h ave no com pou n d thi ckn ess to a free space provi d ed
there are n o l i ve parts i n the free space.
7.4 Thickness of th e compound

7.4.1 “m” equ ipment
The m in im um thickn ess of com pou nd surroun din g th e electrical com pon ents and circu i t shal l
be in accordance with Table 4 an d Fi g ure 1 .
If soli d i nsu l ation accordi ng to 7. 2. 4. 3 is u sed i n an encl osu re wi th m etall ic walls as sh own i n
Fi gu re 1 , the com pou n d shal l adhere to th e wall .
NOTE 1 Fi g u re 1 d oes n ot necessari l y represen t a practi cal constructi on, but i s i n ten ded to assi st i n
und erstan di ng Tabl e 4 by showi ng an en capsul ated ci rcui t that i n cl u des a free su rface; a m etal l i c en cl osu re; a
pl asti c en cl osu re wi th di fferen t wal l thi ckn esses.
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When a su itabl y adh ered n on-m etal l ic encl osu re of a g iven specific m inim u m thickn ess
perm i ts a zero th ickness of com pou n d per Key l etter c of Table 4 an d Fig ure 1 , th en the
separati on distances for th e associated curren t carryin g parts are stil l considered infal l i ble
ag ai nst sh ort circu it.
NOTE 2 Separati on di stances (creepag es and cl earan ces) associ ated wi th su ch cu rrent carryi ng parts th at are
perm i tted to h ave zero th i ckness of com pou nd an d sti l l be consi dered i nfal l i bl e ag ai n st short ci rcui t, are eval u ated
i n accord an ce wi th th e appl i cabl e safety requi rem ents of th e rel evan t i n du stri al stan dards.
f a

e
Optional solid
laminate with no
conductors

Solid insulation
b according 7.2.4.2
Metallic wall IEC
Key
a di stan ce to free su rface
b di stan ce to m etal en cl osu re
c di stan ce to n on m etal l i c en cl osure wi th wal l th i ckn ess t≥ 1 mm
d di stance to n on m etal l i c en cl osu re wi th wal l thi ckn ess t< 1 mm
e di stance to n on cu rrent carryi n g part wi thi n th e com pou nd

f di stance from n on current carryi n g part to free surface
Fig u re 1 – Di m en sion al key for th i ckness th rou g h th e compound
I n al l cases the com pou n d sh al l be su bjected to th e dielectric streng th test of 8. 2. 4.

I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 19 –
 I EC 201 7
Table 4 – Thickness of the compou nd
Level of protecti on Level of protecti on “ mb” or “mc”
“m a”
Free su rface ≤ 2 cm 2 a ≥ 3 mm a ≥ di stan ce accordi n g to Tabl e 1 bu t n ot l ess

than 1 m m
Free su rface > 2 cm 2 a ≥ 3 mm a ≥ di stan ce accordi n g to Tabl e 1 bu t n ot l ess

than 3 m m
adh esi on d ≥ 3 mm d ≥ di stance accordi n g to Tabl e 1 but n ot l ess
(wal l th i ckness t < 1 m m ) than 1 m m
adh esi on c ≥ (3 m m – t) a c ≥ (di stance accordi n g to Tabl e 1 – t) a
(wal l th i ckness t ≥ 1 m m )
non m etal l i c encl osure wi th ou t
c = d ≥ 3 mm c = d ≥ di stance accordi ng to Tabl e 1 but n ot l ess
adh esi on th an 1 m m
Metal en cl osu re b ≥ 3 mm b ≥ di stance accordi ng to Tabl e 1 but n ot l ess

th an 1 m m
Non cu rren t carryi n g part e ≥ 3 mm e ≥ di stan ce accordi n g to Tabl e 1 but n ot l ess than
1 mm
Non cu rren t carryi n g part –
free su rface f+ e ≥ a f+ e ≥ a
a I n the case of n on m etal l i c en cl osu re wi th adh esi on an d wal l th i ckn ess ≥ 1 mm i f th e appl i cati on of th e form u l a
al l ows c = 0 th e com ponen t m ay be pl aced ag ai nst th e wal l .
7.4.2 Winding s for electrical mach ines

For el ectrical m ach i nes with windi ngs in slots, th e soli d sl ot i nsu l ation shal l have:
a) for l evel of protecti on “m a” on l y, a m in im um thickness of 0, 1 m m and sh al l be extended by
at least 5 m m beyon d th e en d of th e sl ot;
b) for l evels of protection “m a” an d “m b”, th e en d of th e sl ot and the en d- wi n din g shal l be
protected by the m in im um thickn ess of com poun d i n accordance with 7. 4. 1 . A di el ectric
stren gth test i n accordance with 8. 2. 4 sh al l be passed with a test vol tag e U = 2 U +
1 000 V r. m . s. +50 % with a m inim um of 1 500 V a. c. at 48 H z to 62 H z.
Varn ish and sim il ar coati ngs are n ot con si dered to be soli d insu lation .
7.4.3 Rig id, m ulti-l ayer printed wiring boards with th roug h con nection s
7.4.3.1 General
Mu l ti-layer pri nted wiri ng boards com pl yi n g with th e requi rem en ts of I EC 62326-4-1 ,
perform ance level C or I PC-A-600 an d I PC-601 2 or AN SI /U L 796, operated at working
voltag es l ess than or equal to 500 V, shall be considered to be encapsu l ated providi n g they
m eet 7. 4. 3. 2
NOTE I t i s not a requ i rem en t of thi s stand ard th at con form i ty to th e m an ufactu rer` s perform an ce speci fi cati on of
th e pri n ted wi ri n g board needs to be veri fi ed.
7.4.3.2 M inimum di stances

The insu l ation thickn ess of both, th e copper-cl ad lam inates an d th e adhesive fi lm s sh al l
com pl y wi th the requ irem en ts of 7. 2. 4. 3.
NOTE Th e i nsu l ati on th i ckn ess i s the com bi n ati on of the l am i nate an d th e adhesi ve fi l m wh en they are n ot
separated by copper.
– 20 –
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
The m in im u m distance between th e printed circu i t con ductors and the edg e of the m ulti -layer
prin ted wirin g board or an y hole in it sh all be at l east distance b of Table 5. I f th e edg es or
holes are protected with m etal or i nsu latin g m aterial exten di ng at l east 1 m m alon g th e
surface of th e board from the edg es or hol es, th e distance between the prin ted wiri ng
con du ctors an d th e m etal or insu lati ng m aterial m ay be redu ced to di stance c of Table 5. M etal
coatin g sh al l have a m in i m um th ickness of 35 µm (see also Fig ure 2 an d Table 5) .
Table 5 – M ini mum distan ces for multi-layer printed wi ring boards
Di stance Level of protecti on “m a” Level of protecti on “ mb” Level of protecti on “m c”

a 3 mm 0, 5 m m 0, 25 m m
b 3 mm 3 mm 1 mm
c 3 mm 1 mm 0, 5 m m
d 0, 1 m m , see 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , see 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , see 7. 2. 4. 3
e I n accord an ce wi th Tabl e 1 I n accord an ce wi th Tabl e 1 I n accord an ce wi th Tabl e 1
wh ere
a i s the di stan ce between th e current carryi n g part and th e ou tsi de surface th rou g h th e cover l ayer;
b i s the di stance between th e curren t carryi n g part and th e ou tsi de surface al on g th e cover l ayer;
c i s th e l en g th of m etal or i nsul ati on exten di ng al on g th e su rface of the board from the edg e or the hol e;
d i s the thi ckness of th e ad h esi ve fi l m or th e core where seg reg ati on i s requ i red;
e i s the di stan ce between two ci rcu i ts i n si de the m u l ti l ayer wh ere seg reg ati on i s req ui red.
Key
core and cover l ayer
adh esi ve fi l m
copper
1 Throu g h con tact for term i nati on
2 Throu g h con tact to con n ect th e pri n ted con ductors to th e l ayers
Fig u re 2 – Minimu m d istances for multi-layer prin ted wiring board s
7.5 Switching contacts

7.5.1 General
Swi tch i n g contacts sh al l be provided wi th an addi ti on al encl osure.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 21 –
 I EC 201 7
NOTE Enteri ng of com pou n d i n th e encl osure of the swi tch i ng con tacts du ri ng th e encapsul ati on process can
i nterfere wi th th e fun cti on of th e devi ce
7.5.2 Level of protection “ma”

This addition al encl osu re shal l be in accordance with th e requirem en ts for herm etical l y-seal ed
devices as defi n ed in I EC 60079-1 5 before encapsu lation.
NOTE Dam ag e to the h erm eti cal l y-seal ed encl osure due to stresses duri n g potti n g can i n val i date th e type of
protecti on of th e devi ce.
The rati n g of switch in g con tacts sh al l be less th an or equ al to 60 V an d 6 A. The additi on al

encl osure sh all be m ade of i norg anic m ateri al if th e switch ed cu rrent exceeds 2/3 of th e rated
curren t specified by th e m anu factu rer of th e com pon en t.
7.5.3 Level of protection “mb”

This addi tion al encl osure shal l be m ade of i norg an ic m aterial if the swi tch ed curren t exceeds
2/3 of the rated current specifi ed by th e m anufacturer of th e com pon ent or if the curren t
exceeds 6 A.
7.5.4 Level of protection “mc”

This addi tion al encl osure shal l be m ade of inorg an ic m aterial if the swi tch ed curren t exceeds
6 A.
7.6 External connections

7.6.1 General
When com poun ds are u sed to secu re a perm an en tl y con n ected cable, the cable sh al l be
su itabl y protected ag ai nst dam age from flexin g an d the pu ll test shal l be carri ed ou t accordin g
to 8. 2. 5.
This test sh all n ot be perform ed on Ex Com pon ents or wh ere th e en cl osure of th e “m ”

protected device does not serve as an external en cl osure.
7.6.2 Additional requ irements for “ma” equipment

The Ex m a equ i pm ent shal l eith er be su ppli ed by a ci rcu it in accordance wi th level of
protection “i a” accordi n g to I EC 60079-1 1 or h ave a conn ection i n accordance wi th one of th e
fol l owi ng requ irem ents:
• for EPL G a requ irem ents of I EC 60079-26;
• for EPL Da, level of protecti on “ta” of I EC 60079-31 .
7.7 Protection of bare live parts
Depen din g on the requ ired EPL bare li ve parts th at pass throu g h th e surface of th e com pou nd
shal l be protected by an oth er type of protecti on as l isted in I EC 60079-0 for the requ ired EPL.
NOTE I n th i s case, th e equ i pm ent i s m arked wi th m ul ti pl e types of protecti on i n accordan ce wi th I EC 60079-0.
7.8 Cells and batteries

7.8.1 General
When evalu ati n g battery con trol arran gem ents with respect to the potenti al rel ease of gas, th e
ful l rang e of operatin g tem peratures, in tern al resistance and vol tag e capabili ty shal l be
consi dered. I t shal l be assu m ed th at batteri es can becom e u n bal an ced, bu t cell s wi th
neg l ig i ble resistance or voltag e capabil ity n eed not be taken in to accou nt.
– 22 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Subcl au se 7. 8 applies to all levels of protecti on , u n less specificall y exclu ded.
For level of protecti on “m a” cel ls and batteries shall additi on al l y com pl y wi th th e cel l and
battery requ irem en ts of I EC 60079-1 1 except for the relaxati on for paral lel cells, wh ich are n ot
perm itted in equ ipm ent solel y protected by encapsu lation.
7.8.2 Prevention of gassing

Electroch em ical system s th at can rel ease g as during n orm al operati on are not perm itted. I f for
levels of protecti on “m a” an d “m b” th e rel ease of gas in th e event of a fau l t can n ot be
preclu ded, th e gassi ng shal l be m in im ised by a con trol device in accordance with 7. 8. 8. With
secon dary cel ls, the control device sh al l be effecti ve n ot on l y du rin g charg i ng , bu t also durin g
disch arg in g. Th is also applies for ch arg in g ou tsi de the hazardou s area.
I n particu l ar,
a) ven ted cel ls sh all not be used,
b) sealed val ve reg u lated cells shal l n ot be u sed,
c) sealed g as-tig ht cells th at, wi th i n th e ran ge of the am bient tem perature of th e electric
equ ipm ent, do not release g as u nder an y operati ng or fau lt con ditions m ay be used
wi thout a con trol device i n accordance wi th 7. 8. 8.
Gas-ti g ht cells that do n ot fu lfi l th e requ irem ents of 7. 8. 2 c) shal l have a control device in
accordance wi th 7. 8. 8.
7.8.3 Protection ag ainst inadmissible temperatures and damag e to the cells or

batteries
The m axim um service tem perature of th e cel ls or batteri es u nder worst case load (see 7. 8. 5)
shal l n ot exceed either th e tem peratu re specifi ed by th e m anufacturer of th e cel ls or batteries,
or 80 °C if not specifi ed by the m an ufactu rer and th e m axim u m chargi ng and discharg in g
cu rren t sh al l n ot exceed th e safe val u e speci fied by th e m anufacturer by one of the fol lowin g
m eans:
a) shal l be provided wi th on e or m ore con trol devices as descri bed i n 7. 8. 8 to preven t
un acceptable overh eatin g or g assin g insi de th e com pou n d,
b) shall be provi ded with a seri es resistor to lim it curren t to the cel l rati n g and a bl ockin g
diode to precl ude reverse ch arg in g.
I n ei th er case, th e requ irem ents in 7. 8. 4 th rou gh 7. 8. 7 appl y as appl icabl e.
7.8.4 Reverse current

For l evels of protection “m a” an d “m b” wh ere th ere is an oth er voltag e source i n th e sam e
encl osure, th e encapsul ated cel l or battery an d its associated circu i ts shal l be protected
ag ai nst charg i ng by circu its oth er th an th ose specifical l y desig n ed for ch arg in g. For exam ple,
by separatin g th e cel l or battery an d its associated circu its from all oth er vol tag e sou rce(s)
inside the encl osure, u si ng th e distances specified in Tabl e 1 for th e h i g h est vol tag e capable
of causi ng th e reverse curren t. Altern ati vel y, th e cell or battery on l y m ay be separated, from
th e oth er vol tag e source(s) u si n g th e distances specified i n Table 1 , bu t with on e blockin g
diode for l evel of protecti on “m b”, or two bl ockin g d iodes for level of protecti on “m a”, fi tted as
shown in Fi gu re 3, an d so arran g ed as to reduce th e risk of a si ng le fau lt causi n g both di odes
to be sh ort-circu ited.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 23 –
 I EC 201 7
+Ve –Ve
IEC
NOTE Fi g u re sh ows arran g em en t for Level of Protecti on “m a”.
Figure 3 – Fitting of blocking diodes
7.8.5 Current limitation

The m axim um surface tem peratu re sh all be determ in ed u sin g the h ig h est disch arge cu rren t
perm itted by th e m axim um load specifi ed by the equ ipm en t m anufactu rer, or by th e protecti ve
device, see 7. 9, for exam ple 1 , 7 tim es th e rati n g of the fuse, or at sh ort circu it if nei th er a l oad
nor a protecti ve device is specified.
A resistor, a curren t l i m iting device or a fuse accordin g to I EC 601 27 or I EC 60691 or

AN SI /U L 248 series m ay be used to ensure th e m axim um disch arg e curren t specified by th e
m anufacturer of th e cells or battery is n ot exceeded. I f replaceabl e fuses are used th e
equ i pm ent sh al l be m arked to sh ow th eir rati n g an d fu nction.
NOTE I t i s n ot a req ui rem ent of thi s stand ard that con form i ty to th e m an ufactu rer` s speci fi cati on of th e resi stor,
curren t l i m i ti ng d evi ce or fuse needs to be veri fi ed.
7.8.6 Protection ag ainst the polarity inversion and deep discharg e of the cells
For level of protection “m a” and “m b” when m ore than 3 cel ls are used in series, the cel l
voltag e sh al l be m oni tored. During disch arg in g, if the vol tag e falls below th e lim it valu e for th e
cell vol tag e specified by th e m anufacturer of th e cells or battery, th e con trol device shall
discon nect the cel ls or battery. For l evel of protection “m c”, if m ore th an three cel ls are
con n ected in series, precau tions sh al l be taken to prevent reverse polarity charg i ng of the
cell .
NOTE 1 I f several cel l s are conn ected i n seri es, cel l s can ch an g e pol ari ty du ri n g di scharg e du e to the vari ou s
capaci ti es of th e cel l s i n a battery. Th ese " reversed pol e“ cel l s can en ter an i n adm i ssi bl e g assi ng ran g e.
Where a deep disch arg e protection circu i t i s u sed to preven t reverse pol arity ch argi n g of cells
duri n g disch arg e, the m i n im u m cut-off vol tag e shal l be that specified by th e cel l or battery
m anu factu rer. After discon n ecting th e l oad, the curren t sh all be no m ore than th e disch arg e
capacity at the 1 000 h rate.
NOTE 2 Such protecti on i s often u sed to preven t cel l s g oi n g i n to a state of “d eep di sch arg e”. I f an attem pt i s
m ade to m on i tor too m an y cel l s con nected i n seri es, the protecti on wi l l som eti m es n ot fun cti on rel i abl y du e to
tol erances i n i n di vi dual cel l vol tag es an d th e protecti on ci rcu i t. Gen eral l y, m on i tori ng of m ore than si x cel l s (i n
seri es) by on e protecti on u ni t i s n ot effecti ve.
7.8.7 Charg ing of cells or batteries

7.8.7.1 Level of protection “ma” and “mb”
The ch arg i n g circu its sh all be fu l l y specifi ed as part of the equ i pm ent. The charg i ng system
shall be such th at either:
a) wi th on e fau lt con diti on of the ch arg in g system , th e ch arg in g voltag e and curren t sh al l not
exceed th e lim its specifi ed by the m anufacturer;
or
b) if, durin g charg i ng , i t is possi ble for th e l im it valu es specified by th e m anufacturer of th e
cells or battery for th e cell vol tag e or the ch arg i ng cu rrent to be exceeded, a separate
protecti ve device i n accordance with 7. 9 sh al l be provi ded to m in im ize th e possibil i ty of a
release of gas an d also exceeding th e m anufacturer’s m axim um rated cell tem perature
durin g ch arg i ng .
– 24 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
7.8.7.2 Level of protection “mc”
The ch arg in g system shall be su ch that in n orm al operati on the ch arg e voltag e an d curren t do
not exceed the l im its specified by th e m an u factu rer based on th e specifi ed tem peratu re ran g e
of the equ ipm ent. I f cel ls and batteri es, wh ich are an i ntegral part of the electrical equ i pm ent
are to be ch arg ed in th e hazardou s area, th e ch arg er sh all be fu l l y speci fied as part of th e
equ i pm ent desi g n. I f cel ls or batteries, wh ich are an i ntegral part of the electrical equipm en t
or can be separated from the equi pm en t are ch arg ed ou tside of th e h azardous area, the
charg ing shall be wi th in the l im its specified by th e m anufacturer of th e equi pm ent.
7.8.8 Requirements for control safety devices for cells or batteries

Where requ ired, th e control devices sh al l form safety rel ated parts of a con trol system . I t shal l
be the responsi bi l ity of the m anufacturer to provi de the i nform ati on n ecessary to m ain tai n th e
integrity of th e system .
NOTE Safety rel ated parts m eeti ng the requ i rem en ts of PL c of I SO 1 3849-1 “Safety of m achi n ery – Safety
rel ated parts of con trol system s – Part 1 : Gen eral pri n ci pl es for d esi g n ” wi l l sati sfy thi s subcl ause.
7.9 Protective devices

7.9.1 General
I f rel yi n g on a protecti ve device to l im it m axim u m surface tem perature wh en th e “m ”
equ i pm ent is subj ected to a si n g le fau lt for level of protection “m b” or two fau l ts for level of
protection “m a”, the protecti ve device sh al l be provided eith er external to the equ ipm ent or
directl y in teg rated in to th e equ ipm en t. Protecti ve devices for level of protecti on “m a” sh all be
non resettabl e. Therm al protecti ve devices for l evel of protection “m b” m ay be resettabl e.
The protecti ve device sh all be capable of i n terru ptin g th e m axim um fault curren t of the circu i t
i n which it is i nstall ed. The rated voltag e of th e protective device sh all at least correspon d to
th e workin g voltage of th e circu it in wh ich it is i nstall ed.
Where th e “m ” equ ipm en t con tains a cel l or battery an d a control device is provided to preven t
excessi ve overheati n g (see 7. 8. 5) , th is control device can also be considered as a protecti ve
device, providi n g i t also protects al l other com ponen ts i nsi de th e sam e com pou nd from
exceedin g the m axim um su rface tem perature.
NOTE 1 Th e use of protecti ve devi ces i s to protect ag ai n st faul ts and u nforeseen overl oads, wh i ch overheat
and/or perm anentl y dam ag e or com prom i se the operati onal l i fe of the equ i pm en t. Wh ere resettabl e devi ces are
used, th e i n stru cti ons i n cl ude i n form ati on to g u i d e th e u ser i n th e d esi rabi l i ty of re-setti n g th e devi ces. Th ese
i nstructi ons are con si deri n g extern al operati onal con di ti on s un der wh i ch they m i g ht be reset an d al so an y
subsequ ent m oni tori n g that m i g ht be desi rabl e.
NOTE 2 Both, sel f-resetti n g and m an ual l y resettabl e devi ces are con si dered to be resettabl e devi ces for th e
purpose of th i s standard.
For level of protecti on “m a”, if the non resettable protective device com pli es wi th th e
I EC 601 27 series or I EC 60691 or AN SI /U L 248 series, onl y on e device is n ecessary. Th is
appl ies to 7. 9. 2 an d 7. 9. 3.
NOTE 3 I t i s n ot a req ui rem ent of th i s stan d ard th at conform i ty to th e m anu factu rer` s speci fi cati on of th e n on
resettabl e protecti ve devi ce n eeds to be veri fi ed.
NOTE 4 AN SI /U L 248-1 contai ns th e appl i cabl e g eneral safety requi rem ents for l ow-vol tag e fu ses, i ncl udi n g th e
req ui rem ents to establ i sh breaki n g capaci ty or i nterru pti n g rati n g . The oth er parts of th e AN SI /UL 248 seri es
provi de add i ti on al speci fi c safety requ i rem en ts based on th e i ntend ed appl i cati on of th e fu se, such as AN SI /U L
248-1 4 for su ppl em en tal l ow-vol tag e fuses.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 25 –
 I EC 201 7
7.9.2 Electrical protective devices
7.9.2.1 General
Protecti ve devices sh al l have a vol tag e ratin g not less than th at of th e circu it in wh ich th ey are
installed and sh al l h ave a breakin g capaci ty n ot l ess than the fau lt current of th e circui t.
Un less oth erwise specified, a fuse shal l be assum ed to be capable of passin g 1 , 7 tim es
th e rated curren t conti nu ousl y. Th e tim e-cu rrent characteristic of the fuse, as stated by th e
m anufacturer of th e fu se, sh all ensure th at the m axim um su rface tem perature is n ot
exceeded. For el ectrical protective devices two devices n orm al l y i n series are requ ired for
level of protection “m a” an d one device is required for l evel of protecti on “m b”. I f for level of
protecti on “m a”, th e two devices are n ot in seri es, the acti vati on of eith er device sh al l de-
en erg i ze th e circui try rel yin g on the protecti on . The two devices for level of protecti on “m a”
shall be the sam e type of protecti ve device (wh i le not necessaril y the sam e m anufacturer and
part n um ber) , so as to provide dupl icated protecti on .
An electrical protecti ve device is not requ ired for l evel of protecti on “m c”.
NOTE I n th e case of el ectri cal suppl y networks wh ere the rated vol tag e does n ot exceed 250 V, th e prospecti ve
short-ci rcui t fau l t cu rren t i s usu al l y 1 500 A.
7.9.2.2 Protective devices that are connected to the “m” equipment

I f the protective device is extern al to th e “m ” equ i pm en t it sh all be seen as equi pm en t
requ ired for the safety of the “m ” equ ipm ent, in accordance with 7. 9. 2. Thi s specific condition
of use sh al l appear on the certificate an d th e equ ipm en t shal l be m arked in accordance wi th
th e “specific con di tions of use” m arkin g requ irem ents of I EC 60079-0.
The use of an external protecti ve device and its conn ecti on to “m ” equ i pm ent requ ires th e
device to be com pati ble wi th “m a”, “m b”, or “m c” as appropriate.
NOTE Fai l u re to u se su ch a devi ce i n th e i nten ded m an n er wi l l l ead to l oss of l evel of protecti on . Wh ere an
extern al protecti ve d evi ce i s used to con trol the correct appl i cati on of vol tag e, cu rren t an d power to equ i pm ent wi th
l evel of protecti on “m a”, the perform ance of th e extern al protecti ve devi ce or protecti ve ci rcui t i s safe wi th on e
coun tabl e fau l t. The perm i tted l evel s of vol tag e, cu rrent an d power are determ i n ed by th e th erm al ch aracteri sti cs of
th e “m ” eq u i pm ent.
7.9.3 Thermal protective devices

Therm al protecti ve devices sh all be used to protect th e com poun d from dam ag e caused by
local heati n g, for exam ple, by fau lty com pon ents, or from exceedin g th e m axim um su rface
tem perature.
Non-resettable devices h ave n o provisi on for bein g reset an d open a circu it perm an en tl y after
bei n g exposed to a tem perature hi g her th an th eir operati n g tem perature for a g i ven m axim um
peri od. Adequ ate th erm al cou pl in g sh all be achieved between th e m on itored com pon en t an d
th e th erm al protective device. Th e swi tch in g capabil ity of th e device sh al l be defin ed an d shal l
be not l ess th an th e m axim um possi bl e load of the circu it.
I f resettabl e therm al protective devices are used, two devices norm all y i n series are requ ired
for l evel of protection “m b” an d on e device is requ ired for level of protecti on “m c”. I f for level
of protection “m b” th e two resettable therm al protecti ve devices are not i n series, th e
acti vati on of eith er device shall de-en ergi ze the circui try rel yi n g on th e protecti on. The two
devices for level of protecti on “m b” shal l be th e sam e type of therm al protecti ve device (wh il e
not necessaril y the sam e m anufacturer an d part n u m ber) , so as to provi de du pl icated
protecti on .
Resettabl e therm al protecti ve devices with switch i ng con tacts sh all not be operated at m ore
th an 2/3 of th eir rated curren t specified by th e m an ufacturer of th e device.
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Resettabl e th erm al protecti ve devices with swi tch ing con tacts shal l ei th er com pl y wi th
IEC 60730-2-9, or sh all be tested accordin g to 8. 2. 7. 1 .
Resettabl e therm al protecti ve devices wi thou t swi tchi n g contacts sh all either com pl y with
IEC 60738-1 , or shal l be tested accordin g to 8. 2. 7. 2.
NOTE 1 Often for fu ncti onal reason s, addi ti onal resettabl e devi ces oth er th an the th erm al protecti ve devi ces
add ressed by th i s cl ause are u sed. Th ese devi ces typi cal l y operate at tem peratu res l ower than th e operati n g
tem peratu re of th e th erm al protecti ve d evi ce.
NOTE 2 I t i s not a requi rem ent of thi s standard th at conform i ty to th e m an ufacturer` s speci fi cati on of th e
resettabl e th erm al protecti ve d evi ce needs to be veri fi ed.
7.9.4 Bui lt-i n protective devi ces

Protective devices i nteg ral wi th the “m ” equipm en t sh al l be of th e encl osed type such that no
com pou n d can enter duri ng th e encapsul ati on process.
The su itabi l ity of th e protecti ve device for encapsu lation sh all be confirm ed eith er by:
a) a docu m en tati on from th e m an ufacturer of th e device;
or
b) testin g of sam ples accordin g 8. 2. 8.
NOTE Devi ces i n g l ass, pl asti c, ceram i c or oth erwi se seal ed are reg arded as encl osed types.
8 Type tests
8.1 Tests on th e compou nd

8.1 .1 Water absorption test
When requ ired by 5. 3. 1 the test sh al l be carried ou t on sam ples of th e com pou n d(s) used in
“m ” equ ipm ent. Three dry sam pl es of th e com pou n d(s) sh all be tested. The sam pl es shal l be
circul ar wi th a diam eter of 50 m m ± 1 m m and a th ickness of 3 m m ± 0, 2 m m . The sam ples
shal l be weig h ed then im m ersed for at least 24 h in water, at a tem perature of 23 °C +02 K.
They sh al l th en be taken ou t of th e water, wiped dry an d wei gh ed ag ain with i n 1 m in u te. The
increase i n m ass shal l n ot exceed 1 %.
I t is n ot requ ired to use distil l ed water for this test.

8.1 .2 Dielectri c strength test
The sam pl e shal l be circul ar wi th a diam eter of 50 m m ± 1 m m and a th ickness of
3 m m ± 0, 2 m m . The sam ple shal l be sym m etrical l y pl aced between el ectrodes 30 m m ± 1 m m
in diam eter, wi th in a tem perature controlled oven , set to ach ieve th e m axim um service
tem perature of th e com pou n d.
A vol tag e of 4 kV r. m . s. +50 % an d with frequ ency between 48 H z an d 62 H z shall be appli ed

for n ot l ess th an 5 m in. N o flash over or breakdown sh al l occur duri n g th e test.
8.2 Tests on th e apparatu s

8.2.1 Test sequ en ce
The test sequ ence an d n um ber of sam ples are g i ven in An n ex B.
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 I EC 201 7
8.2.2 M aximu m temperatu re
A sam pl e of “m ” equ ipm ent sh all be subj ected to a type test to ensure th at:
a) th e tem peratu re lim its specifi ed in 6. 1 are not exceeded in norm al operati on;
b) for level of protecti on “ma” and “m b” th e m axim um surface tem perature i s not exceeded
un der fau lt con diti ons as defin ed i n 7. 2. 1 .
For “m ” equi pm en t with out an external l oad, th e test shal l be carried ou t in accordance with
th e tem perature m easu rem ents of I EC 60079-0 taking i nto accou nt th e su ppl y con diti ons
g i ven i n 4. 4.
For “m ” equ ipm en t wi th an extern al l oad, the test sh all be carri ed out for level of protecti on
“m a” and “m b” by adj u sti ng th e cu rrent to th e hi g hest val ue, wh ich does not cause th e
protecti ve device to operate, an d for level of protecti on “m c” at the specifi ed l oad param eters
in norm al operati on and i n th e case of reg u l ar expected occu rrences.
For level of protection “m a” equ ipm ent, desi gn ed for EPL “Da” th e m axim um surface
tem peratu re sh al l be determ in ed with the equ ipm ent m ou nted i n accordance with the
m anufacturer` s instructi ons, an d su rrou nded on all avai labl e surfaces by dust with a l ayer
th ickness of at l east 200 m m . The final tem perature sh al l be considered to have been reach ed
wh en th e rate of rise of tem perature does n ot exceed 1 K/24 h.
NOTE Testi ng , si m ul ati on an d anal ysi s i s som eti m es used i n ord er to ach i eve th e req ui red tem perature l i m i tati on s
un der m al fu ncti on con di ti ons for eq u i pm en t wi th ch aracteri sti cs such as non-l i n ear extern al l oads, i n pu t power
con trol , or d i ffi cul t to defi ne fai l u re m odes
8.2.3 Thermal endu rance test

8.2.3.1 Thermal endu ran ce to h eat
8.2.3.1 .1 Level of protecti on “ma” and “mb”
The test sh all be carried ou t i n accordance wi th I EC 60079-0. The tem perature to be used as
th e reference service tem perature for th e test sh all be ei th er:
a) th e m axim u m surface tem perature of th e test sam ple u n der n orm al operati on plu s 20 K;
or
b) th e m axim um tem peratu re at th e com pon ent surface in th e com poun d u n der n orm al
operation, see 6. 2. 2.
8.2.3.1 .2 Level of protection “ mc”
The test sh al l be carri ed ou t i n accordance with I EC 60079-0.
The tem perature to be used as th e reference service tem peratu re for the test sh al l be th e
m axim um surface tem perature un der n orm al operati on, see 6. 2. 1 .
8.2.3.2 Thermal endu rance to cold

The test sh al l be carri ed ou t i n accordance wi th I EC 60079-0.

After each test th e sam ple sh all be su bj ected to a visu al i nspecti on. N o visi bl e dam ag e to th e
com pou n d th at cou ld im pair th e type of protecti on sh al l be eviden t, for exam ple cracks in th e
com pou n d, exposure of encapsu l ated parts, fai lu re of adh esion, in adm issibl e shrinkag e,
discol oration , swel lin g , decom posi ti on or soften i ng . A discoloration on th e surface of th e
com pou n d is perm issibl e (for exam pl e oxidation in th e case of epoxy resi n) .
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 I EC 201 7
I n additi on , an y electrical protecti ve device on wh ich safety depen ds, oth er than therm al
fuses, shal l be verifi ed as rem ain i ng fu ncti on al .
8.2.4 Dielectric strength test

The test sh all be carried ou t on th e foll owin g arran gem en ts of circu its as applicable:
a) between gal van icall y isolated circui ts;
b) between each circu it an d all earth ed parts;
c) between each circu it an d the surface of th e com pou n d or the non-m etal l ic enclosure th at,
if necessary, can be clad with a con ductive foi l.
For arran g em ent a) , th e voltag e U to be used shal l be th e sum of th e rated vol tag es of th e
two circu its bei n g tested an d for arran gem en ts b) an d c) , th e voltag e U to be used shal l be th e
rated voltag e of th e circu it bein g tested.
For arrang em en t b) , ci rcu its that con tai n tran si en t suppression com pon ents con nected
between th e circu it an d th e earth ed parts, a speci al test sam pl e with ou t th ese com ponents
shall be perm itted for th e type test.
Di el ectric stren g th sh all be verified by test:

• either as g i ven in a relevan t i ndustrial stan dard for th e i ndi vi du al i tem s of electrical
equ i pm ent or,
• at the test vol tag e accordin g to 1 ) or 2) bel ow, and increased steadi l y with in a peri od of
not l ess th an 1 0 s u n ti l i t reach es th e prescribed valu e, an d it sh al l th en be m ai ntained for
at least 60 s wi thou t dielectric breakdown occurring .
1 ) For equ ipm en t wh ere th e voltage U does n ot exceed 90 V peak, the test voltag e sh al l be
500 V r. m . s. ( +50 %) at 48 H z to 62 H z. Al tern ati vely, th e test vol tag e shal l be 700 V d. c.
( +50 %) .
2) For equ ipm en t wh ere th e voltag e U exceeds 90 V peak, the test vol tag e shal l be 2 U +
1 000 V r. m . s. ( +50 %) , wi th a m in im um of 1 500 V r. m . s. at 48 H z to 62 H z. Alternativel y,
th e test vol tag e shall be 2 U + 1 400 V d. c. ( +50 %) wi th a m in im u m of 2 1 00 V d. c.
The test voltage sh al l be increased steadil y wi th in a peri od of not less th an 1 0 s u nti l it

reach es th e prescri bed valu e, an d it sh al l th en be m aintai ned for at least 60 s.
NOTE 1 I n th e case of eq u i pm ent that, for el ectro-m ag n eti c com pati bi l i ty reasons, con tai n com ponents con n ected
to the encl osu re for the suppressi on of i nterferen ce pu l ses an d whi ch coul d be d am ag ed d uri ng the tests, a parti al
di scharg e test i s som etim es u sed as an al tern ati ve.
NOT 2 I f the ci rcu i t u n d er test i s not accessi bl e from the exteri or i t i s possi bl e to prepare a speci fi c test sam pl e
wi th addi ti on al con n ecti ons

8.2.5 Cable pull test

The test sh all be carried ou t on one sam ple, previ ousl y u nstressed and at 21 °C ± 2 °C.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 29 –
 I EC 201 7
A furth er test sam ple sh all be su bj ected to the cable pu ll test after con diti on ing accordi ng to
8. 2. 3. 1 at the m axim u m tem perature at th e cable en try poin t.
The tensi l e force (in N ewton) appli ed sh al l ei th er be 20 tim es th e valu e i n m ill im etres of the
diam eter of th e cable or 5 tim es th e m ass (i n kil ogram s) of th e “m ” equ i pm ent, wh ichever is
th e lower valu e. Th is valu e can be reduced to 25 % of the requi red valu e in the case of
perm anent install ations. The m inim u m tensi le force sh al l be 1 N an d the m in im um durati on
shal l be 1 h . Th e force sh all be appli ed in the least favourabl e directi on .

After testi n g, th e sam pl e shal l be su bj ected to a vi sual i nspection. Visible displ acem ent of th e
cable, wh ich affects th e type of protection, sh all n ot be evident. N o dam ag e to th e com poun d
or cabl e th at cou ld im pai r th e type of protection shal l be evi den t, for exam ple, cracks i n th e
com pou n d, exposure of the encapsu l ated com pon en ts or fail ure of adh esion.
8.2.6 Pressure test for Group I and Group II electrical equipment

For level of protecti on “m a” with an y in di vidu al free spaces between 1 cm 3 and 1 0 cm 3 an d
l evel of protecti on “m b” with an y i n di vi du al free spaces between 1 0 cm 3 an d 1 00 cm 3 , two test
sam pl es sh all be prepared with a pressure con n ecti on . Where th ere is m ore th an on e free
space of a si ze requ irin g testin g, the pressu re test sh al l be carried out si m u ltan eousl y i n al l
th ose free spaces.
The pressure test shal l be carri ed out on sam ples that have alread y been su bm itted to the
th erm al en du rance tests (see 8. 2. 3) .
The test sh al l be carri ed ou t wi th a pressure as sh own in Table 6 appl ied for at least 1 0 s.
Table 6 – Test pressure

Minimum ambient temperature Test pressure
°C kPa
≥ –20 (a) 1 000
≥ –30 1 370
≥ –40 1 450
≥ –50 1 530
≥ –60 1 620
a) Thi s covers eq ui pm ent d esi g ned for the stan d ard am bi ent tem peratu re ran g e
speci fi ed i n I EC 60079-0.
As an altern ative for ‘m b’ equi pm en t if th e com pon en t with a free space u p to 1 00 cm 3 , prior to
encapsu l ati on, passes th e Leakag e test on seal ed devices specifi ed i n I EC 60079-1 5 (wi th out
th e con diti oni n g, voltag e, or diel ectric wi thstan d testi n g) it can be en capsu l ated with ou t
requ iri ng th e pressu re test.

After testi n g , the sam ples sh al l be visual l y i nspected. N o com pou n d dam age (such as cracks
i n th e com pou n d, exposu re of the encapsul ated com pon ents or fai lure of adh esi on) that cou ld
im pair th e type of protection sh al l be evi den t. For constructions th at are perm itted to have n o
th ickness of com pou n d between a free space and a n on-m etal l ic encl osure wall , th ere sh al l
also be n o dam ag e to th e n on -m etal l ic enclosure wal l(s)
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 I EC 201 7
8.2.7 Test for resettable thermal protective device
8.2.7.1 Resettable thermal protective devices with switching contacts
8.2.7.1 .1 Test procedure
The fu nction of the protective device sh al l be veri fied. This test shal l be perform ed after the
th erm al en du rance test. The device sh al l be capable switch ing its rated cu rrent ≥ 5 000 tim es.
8.2.7.1 .2 Acceptance criteria

ran g e specifi ed in its datash eet.
8.2.7.2 Resettable thermal protective devices without switching contacts

8.2.7.2.1 Test procedure
The fu ncti on of the protecti ve device sh al l be veri fied. This test shal l be perform ed after the
th erm al en durance test. The device sh all be capabl e of acti ng (direct or i ndirect lim iti ng th e
tem perature rise) ≥ 500 ti m es.
8.2.7.2.2 Acceptance criteria

ran g e specified in its datash eet.
8.2.8 Sealing test for built-in protective devices

The test is to be perform ed on fi ve sam ples. With the test sam pl es at an in itial tem perature of
(25 ± 2) °C, th ey are su dden l y im m ersed in water at a tem peratu re of (50 ± 2) °C to a depth of
not less th an 25 m m for at least 1 m in . The devices are consi dered to be satisfactory if n o
bu bbles em erge from th e sam ples durin g th is test. Alternativel y, a test can be appl ied wh ere
five sam pl es are exam ined after th e encapsu lati on to ensure th at the com pou n d h as not
en tered the in terior.
9 Routine verifications and tests

9.1 Visual inspections
Each pi ece of “m ” equi pm ent sh al l be su bj ected to a visual inspection. N o dam ag e shal l be
evident, such as cracks i n th e com pou n d, exposure of the encapsu l ated parts, flaki n g,
inadm issi bl e sh ri nkag e, swel li ng , decom positi on, fai lure of adh esion (separation of an y
adh ered parts) or soften i ng .
9.2 Dielectric strength test

For circui ts, wh ich are accessible from the exteri or th e di electric streng th test sh all be used to
test th e isol ati on of circu its from each oth er an d from their en vironm en t. The test sh al l be
carried ou t on th ese circu its i n accordance wi th 8. 2. 4. Alternati vel y, the test m eth od g i ven in
Ann ex C m ay be used for th e test between each circu it an d th e surface of th e com poun d or
th e n on-m etal l ic enclosure.
The test voltage sh al l be applied for at l east 1 s.
Alternativel y, 1 , 2 tim es th e test voltag e m ay be applied and m ai ntain ed for at least 1 00 m s.

I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 31 –
 I EC 201 7
In som e cases, the actu al test period m ay n eed to be sig n ificantl y lon g er th an 1 00 m s as a
sam ple wi th a large distri bu ted capaci tance takes som e additi onal tim e to reach the requ ired
test voltage.
Contrary to th e above, th e di el ectric stren gth test for cells or batteri es sh al l be carri ed ou t in
accordance wi th th e rou ti ne di el ectric test requ irem ents of I EC 60079-7.
I n th e case of equ ipm en t that em pl oys circu its th at con tai n transi ent su ppression com pon en ts
con n ected between th e circui t an d th e earth ed parts, th e equ ipm ent need not be subj ected to
rou tin e di el ectric streng th tests, if i n ten ded for u se on l y with a g alvan ical l y isol ated circu it,
an d sh all be m arked “X” to in dicate th is specific condi tion of use i n accordance with th e
“specific con ditions of use” m arkin g requi rem en ts of I EC 60079-0.
For l evel of protection “m c”, where th ere is a routine dielectric streng th test in the relevan t
industri al stan dard for the in di vi du al item s of the el ectrical equ ipm en t, th is test sh al l be
perm i tted to be used to satisfy the routi ne di el ectric test requ irem ent for l evel of protecti on
“m c”.
1 0 Marking
I n addition to the requ irem ents of I EC 60079-0, th e m arkin g sh all incl u de:
a) th e rated voltag e,
b) th e rated cu rrent,
c) th e prospecti ve sh ort-circu it cu rrent of th e external el ectric su ppl y source if l ess th an
1 500 A, for exam pl e “Permitted su pply short-ci rcu i t cu rrent: 500 A”.
d) option all y, th e perm itted prospecti ve sh ort-circu i t curren t of th e extern al el ectrical su ppl y if
th e equ i pm ent is desig n ed for a sh ort-ci rcu i t cu rrent of 1 500 A or m ore, for exampl e
“Permi tted su ppl y sh ort-ci rcu i t cu rren t: 3 500 A”.
e) for l evel s of protecti on “mb” an d “mc” for EPL Db an d EPL Dc, tested wi thou t a du st l ayer, th e
maxi mu m su rface temperatu re i n d eg rees Cel si u s and th e u ni t of measu rem ent °C preceded
wi th th e l etter “T”, (e. g . T 90 °C). For l evel of protecti on “ma” for EPL Da, an d where
appropri ate for l evel of protecti on “mb” an d “mc” for EPL Db and EPL Dc tested wi th du st
l ayer, the m axi mu m su rface temperatu re TL sh al l be shown as a temperatu re val u e i n deg rees
Cel si u s and the u ni t of measu rement °C, with th e l ayer depth L i ndi cated as a su bscri pt i n m m,
(e. g . T200 320 °C). I n the case of Level s of Protecti on “mb” and “mc” for EPL Db or Dc, tested
wi th a du st l ayer, The m axi mu m su rface temperatu re wi thou t the d u st l ayer i s not requ i red to
be marked. Alternati vel y th e m arking in dicated in c) , d) and e) above can be i ncluded in
th e i nstructions an d the equ i pm en t sh al l be m arked “X” to in dicate th is specific con dition of
use in accordance wi th th e “specific con di ti ons of use” m arkin g requ irem ents of
I EC 60079-0.
– 32 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Annex A
(informative)
Basic requirements for compounds for “m” equipment
Fig u re A. 1 sh ows basic requ irem ents for com pou n ds for "m " equ ipm ent.
No
compound known ?
Yes

re-design
No

Yes

fulfilled
Yes
Yes
For Group I only No
No
Yes

Yes
No

Yes
No

IEC
Figure A.1 − Basic requirements for compounds for “m” equipment

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 I EC 201 7
Annex B
(informative)
Allocation of test samples
Tabl e B. 1 sh ows al locati on of test sam ples.
Table B.1 − Allocation of test samples

Standard tests Ad ditional tests
Sample 1 Sample 2 Sample 3 Sample 4
Determ i n ati on of l i m i ti n g
tem peratu re
i n accordance wi th 6. 3
Cabl e pu l l test i n Therm al endu ran ce test
accord an ce wi th 8. 2. 5 based on th e servi ce
tem peratu re d eterm i n ed
at the poi nt wh ere th e
cabl e en ters the
com poun d i n accord an ce
wi th 8. 2. 3. 1
Therm al endu ran ce to h eat Therm al en du ran ce to h eat
Therm al endu ran ce to col d Th erm al en du rance to col d
Resettabl e th erm al Resettabl e th erm al Cabl e pu l l test i n
protecti ve devi ce test i n protecti ve devi ce test i n accord ance wi th 8. 2. 5
accord ance wi th 8. 2. 7 accord an ce wi th 8. 2. 7
Di el ectri c stren g th test Di el ectri c stren g th test
Pressu re test Pressure test
(i f requi red) (i f requ i red)
Mech ani cal tests Mech ani cal tests
i n accordance wi th i n accordance wi th
I EC 60079-0 (i f requ i red) I EC 60079-0 (i f requi red)
The tests are carri ed out i n th e ord er th ey appear i n each col u m n .
– 34 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Annex C
(normative)
Dielectric strength test between circuits and environment

C.1 General
Su bl au se 8. 2. 4. 1 c) descri bes a di electric stren gth test between circu its (for exam pl e, extern al
con n ecti ons) an d the n on-m etal l ic surface of th e equ i pm ent (eith er a n on -m etall ic encl osure
or th e su rface of the com pou nd) .
For l arg e batches of equ ipm en t, wh ere it is im practical to perform this as a routi n e test i n
accordance with 9. 2, th is m ay be con ducted as a batch test in accordance with C. 2, provi ded
th at:
a) The m ateri al datasheet for the encl osure m ateri al or the com poun d specifi es a breakdown
voltag e at least 1 . 5 tim es th e test voltage specified in 8. 2. 4. 1 (takin g accou n t of the
enclosure m aterial or com poun d th ickness) . Where both th e com pou nd an d the enclosure
m aterial are needed to con tribu te to th e di electric streng th, th e l ower valu e of breakdown
voltag e sh al l be applied to th e total distance throu gh both com pou n d and enclosure;
b) The dielectric streng th test voltag e of the type test is 1 , 5 tim es th e test voltag e specifi ed in
8. 2. 4. 1 ;
c) The ph ysical test arrang em ent is as descri bed i n 8. 2. 4. 1 c) ;
d) The acceptance criteri a is as 8. 2. 4. 2;
e) The batch test requ irem ent is incl u ded i n the m an ufacturer’s docum en tati on.
C.2 Batch test procedure

The batch test sh al l be m ade accordin g to th e fol lowi n g criteria, based on th e sam pl in g data
in I SO 2859-1 :
a) For a production batch u p to 1 00, 8 sam ples sh all be tested at 1 , 5 tim es the test voltag e
requ ired by 8. 2. 4. 1 , with no fai lures;
b) For a producti on batch from 1 01 to 1 000, 32 sam ples sh al l be tested at 1 , 5 tim es the test
voltag e requ ired by 8. 2. 4. 1 , wi th n o fai lu res;
c) For a production batch from 1 001 to 1 0 000, 80 sam pl es shal l be tested at 1 , 5 tim es the
test voltage requ ired by 8. 2. 4. 1 , with n o fai l ures;
d) Batches above 1 0 000 sh all be di vi ded in to sm al ler batch es.
I f there are an y non-com pliant test resul ts, all rem ain in g sam ples i n th e batch sh all be routi ne
tested (1 00 %) at th e test vol tag e requ ired by 8. 2. 4. 1 .
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 35 –
 I EC 201 7
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atmospheres
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enclosures "p"
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IEC 60079-6, Explosive atmospheres – Part 6: Equipment protection by oil immersion “o”
IEC 60079-1 0-1 , Explosive atmospheres – Part 10-1: Classification of areas – Explosive gas
atmospheres
IEC 60079-1 0-2, Explosive atmospheres – Part 10-2: Classification of areas – Combustible
dust atmospheres
IEC 60079-1 4, Explosive atmospheres – Part 14: Electrical installations design, selection and
erection
IEC 60079-28, Explosive atmospheres – Part 28: Protection of equipment and transmission
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IEC 60086-1 , Primary batteries – Part 1: General
I EC 60622, Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes –
Sealed nickel-cadmium prismatic rechargeable single cells
I EC 60664-1 , Insulation coordination for equipment within low-voltage systems – Part 1:
Principles, requirements and tests
IEC 60747-5-5 , Semiconductor devices – Discrete devices – Part 5-5: Optoelectronic devices
– Photocouplers
Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes
IEC 61 951 -1 ,
– Portable sealed rechargeable single cells – Part 1: Nickel-cadmium
IEC 61 951 -2,Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes
– Portable sealed rechargeable single cells – Part 2: Nickel-metal hydride
ISO 1 3849-1 , Safety of machinery – Safety-related parts of control systems – Part 1: General
principles for design
_____________
– 36 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
SOMMAI RE
AVAN T-PROPOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1 Dom ai n e d’appl ication . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
2 Références norm ati ves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
3 Term es et défi n itions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
4 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
4. 1 N iveau de protection (EPL pour equ ipm en t protecti on level – n i veau de
protection du m atériel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
4. 2 Exig ences supplém entaires pour les n i veaux de protecti on "m a" et "m b" . . . . . . . . . . . . . . 44
4. 3 Exig ences supplém entaires pour le n iveau de protection "m a" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
4. 4 Tensi on assign ée et couran t de court-circu it présu m é . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5 Exig ences pour les com posés. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5. 2 Spécificati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5. 3 Propri étés du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5. 3. 1 Absorption d’eau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5. 3. 2 Ri g i di té diél ectriqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
6 Tem pératu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
6. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
6. 2 Déterm i nation des tem pératures l im ites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
6. 2. 1 Tem pérature m axim ale de surface . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
6. 2. 2 Tem pérature du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
6. 3 Lim itation de tem pérature . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
7 Exig ences de construction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
7. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
7. 2 Déterm i nation des défauts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
7. 2. 1 Exam en des défau ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
7. 2. 2 Com posants consi dérés com m e n e pou vant pas être défai ll an ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
7. 2. 3 Com posants d’isolation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
7. 2. 4 Distances de séparati on infailli bles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
7. 3 Espace l i bre dans l ’encapsu l age . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
7. 3. 1 Matériel "m " du G rou pe I I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
7. 3. 2 Matériel "m " du G rou pe I et du G rou pe I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
7. 4 Épaisseur du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
7. 4. 1 Matériel "m " . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
7. 4. 2 Enrou lem ents pour m ach i nes él ectriques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
7. 4. 3 Cartes de circu its im prim és rig ides m u lticouch es avec conn exions
traversan tes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
7. 5 Contacts de com m utati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 5. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 5. 2 Ni veau de protection "m a" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 5. 3 Ni veau de protection "m b" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 5. 4 Ni veau de protection "m c" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 6 Con nexions externes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 6. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 6. 2 Exig ences suppl ém entaires pou r le m atéri el "m a" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
7. 7 Protecti on des parties acti ves n u es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
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 I EC 201 7
7. 8 Pi les et accum ul ateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 8. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 8. 2 Préven tion des dég agem en ts g azeux . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 8. 3 Protecti on con tre l es tem pératures excessives et con tre l a détériorati on
des pil es et accum u lateu rs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 8. 4 Couran t in verse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
7. 8. 5 Lim itation de cou ran t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
7. 8. 6 Protecti on con tre l ’in versi on de pol arité et les déch arg es sévères des
piles et accum ul ateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
7. 8. 7 Ch arg e des pi l es et accu m u lateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
7. 8. 8 Exig ences pour l es dispositifs de con trôl e de sécu rité des pi l es ou
accum u lateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
7. 9 Dispositifs de protection . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
7. 9. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
7. 9. 2 Dispositifs de protection électriqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
7. 9. 3 Dispositifs de protection therm iqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
7. 9. 4 Dispositifs de protection i ncorporés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
8 Essais de type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
8. 1 Essais sur le com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
8. 1 . 1 Essai d’absorption d’eau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
8. 1 . 2 Essai de rig i dité di électri qu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 2 Essais du m atériel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 2. 1 Séqu ence d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 2. 2 Tem pérature m axim ale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 2. 3 Essai d’en durance th erm iqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
8. 2. 4 Essai de rig i dité di électriqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
8. 2. 5 Essai de tracti on de câbl e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
8. 2. 6 Essai de pressi on pou r l e m atéri el électriqu e du Grou pe I et du G rou pe
I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
8. 2. 7 Essais des dispositifs de protection th erm ique réarm abl es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
8. 2. 8 Essai d’étanchéité pour l es dispositifs de protecti on incorporés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
9 Vérifications et essais i n divi duels de séri e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
9. 1 I nspecti ons visu elles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
9. 2 Essai de rig idité di électri qu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
1 0 Marqu ag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
Ann exe A (i nform ati ve) Exig ences de base pou r les com posés pour m atéri el "m " . . . . . . . . . . . . . . . 68
Ann exe B (i nform ati ve) Al locati on des éch antil lons d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
Ann exe C (n orm ati ve) Essai de rig i dité di électriqu e en tre les circui ts et
l'en vironn em en t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
C. 1 Général ités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
C. 2 Procédure d'essai par lots . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
Bibl i ographi e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
Fig u re 1 – Règ les dim en sion n el l es pou r les épaisseurs dans l e com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
Fig u re 2 – Distances m i n im al es pour les cartes de circu its im prim és m ulticou ch es . . . . . . . . . . . . . . . 55
Fig u re 3 – M ise en pl ace de diodes de blocag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
Fig u re A. 1 − Exig ences de base pour l es com posés pour m atériel "m " . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
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 I EC 201 7
Tabl eau 1 – Distances dans le com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
m atériel "m " du G rou pe I I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
m atériel "m " du G rou pe I et du Grou pe I I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
Tabl eau 4 – Épaisseur du com posé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
Tabl eau 5 – Distances m inim al es pour cartes de circu its im prim és m u lticou ch es . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Tabl eau 6 – Essai de pressi on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
Tabl eau B. 1 − Allocati on des éch anti llons d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
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 I EC 201 7
COMMI SSI ON ÉLECTROTECHNI QUE I N TERNATI ONALE
______________
AVANT-PROPOS
1 ) La Com m i ssi on El ectrotech n i q ue I nternati on al e (I EC) est un e org an i sati on m on di al e de n orm al i sati on com po-
sée de l 'en sem bl e d es com i tés él ectrotech ni q u es n ati onau x (Com i tés n ati on au x d e l ’I EC) . L’ I EC a pour obj et d e
favori ser l a coopérati on i ntern ati on al e pou r tou tes l es q u esti ons de n orm al i sati on dan s l es dom ai nes de l ' él ec-
tri ci té et de l 'él ectroni q u e. À cet effet, l ’I EC – entre au tres acti vi tés – pu bl i e d es N orm es i ntern ati onal es, des
Spéci fi cati ons techn i qu es, des Rapports techn i q ues, des Spéci fi cati on s accessi bl es au publ i c (PAS) et des
G ui d es (ci -après dén om m és "Publ i cati on (s) de l ’I EC") . Leur él aborati on est confi ée à des com i tés d'étu des, au x
travau x desq u el s tou t Com i té n ati onal i ntéressé par l e su j et trai té peu t parti ci per. Les org ani sati on s i ntern ati o-
n al es, g ou vern em en tal es et n on g ou vern em en tal es, en l i ai son avec l ’I EC, parti ci pen t ég al em ent au x travau x.
L’I EC col l abore étroi tem ent avec l 'Org an i sati on I n tern ati on al e de N orm al i sati on (I SO) , sel on des condi ti on s
fi xées par accord entre l es d eu x org an i sati ons.
2) Les d éci si ons ou accords offi ci el s d e l ’I EC concern an t l es q u esti ons techn i qu es représenten t, d ans l a m esure
du possi bl e, u n accord i ntern ati on al su r l es su j ets étu d i és, étant don n é que l es Com i tés nati on au x d e l ’I EC i n té-
ressés son t représen tés d ans chaqu e com i té d’étud es.
3) Les Pu bl i cati on s de l ’I EC se présentent sous l a form e de recom m an dati on s i n ternati on al es et sont ag réées
com m e tel l es par l es Com i tés n ati on au x de l ’I EC. Tou s l es efforts rai son n abl es sont en trepri s afi n qu e l ’I EC
s'assure de l 'exacti tu de d u con tenu tech n i qu e de ses pu bl i cati ons; l ’I EC n e peu t pas être tenu e respon sabl e de
l 'éven tu el l e m au vai se uti l i sati on ou i n terprétati on qu i en est fai te par u n qu el con qu e u ti l i sateur fi n al .
4) Dan s l e but d' en courag er l ' un i form i té i n ternati on al e, l es Com i tés n ati on au x de l ’I EC s'eng ag en t, dan s toute l a
m esure possi bl e, à appl i quer d e façon tran sparen te l es Pu bl i cati on s d e l ’I EC dans l eu rs pu bl i cati ons n ati on al es
et rég i on al es. Tou tes di verg en ces en tre toutes Pu bl i cati ons de l ’I EC et tou tes pu bl i cati on s nati on al es ou rég i o-
nal es correspon dan tes doi ven t être i n di q u ées en term es cl ai rs dans ces dern i ères.
5) L’I EC el l e-m êm e ne fou rni t aucun e attestati on de conform i té. Des org an i sm es de certi fi cati on i n dépen d an ts
fourn i ssen t d es servi ces d'éval u ati on d e conform i té et, dans certai n s secteurs, accèden t au x m arqu es d e con -
form i té de l ’I EC. L’I EC n ' est respon sabl e d'aucun des servi ces effectués par l es org ani sm es de certi fi cati on i n -
dépen d an ts.
6) Tou s l es uti l i sateu rs d oi vent s' assu rer qu 'i l s sont en possessi on d e l a d ern i ère édi ti on de cette publ i cati on .
7) Au cu ne respon sabi l i té ne doi t être i m pu tée à l ’I EC, à ses adm i n i strateu rs, em pl oyés, au xi l i ai res ou m anda-
tai res, y com pri s ses experts parti cu l i ers et l es m em bres de ses com i tés d'étu des et d es Com i tés nati onau x d e
l ’I EC, pou r tout préj udi ce cau sé en cas de dom m ag es corporel s et m atéri el s, ou de tout au tre dom m ag e de
qu el qu e n atu re que ce soi t, di recte ou i n di recte, ou pou r su pporter l es coûts (y com pri s l es frai s de j usti ce) et
l es dépen ses d écoul ant de l a pu bl i cati on ou d e l ' uti l i sati on d e cette P ubl i cati on de l ’I EC ou de tou te au tre Pu -
bl i cati on de l ’I E C, ou au crédi t qu i l u i est accord é.
8) L'atten ti on est atti rée su r l es références norm ati ves ci tées d an s cette pu bl i cati on. L'u ti l i sati on de publ i cati on s
référencées est obl i g atoi re pou r un e appl i cati on correcte de l a présente publ i cati on .
9) L’attenti on est atti rée su r l e fai t q u e certai n s d es él ém ents de l a présen te Pu bl i cati on de l ’I EC peu vent fai re
l ’obj et de d roi ts de brevet. L’I E C n e sau rai t être ten u e pou r responsabl e d e n e pas avoi r i denti fi é d e tel s droi ts
de brevets et de ne pas avoi r si g nal é l eu r exi sten ce.
DÉG AGEMENT DE RESPONSABILITÉ

Cette version consolidée n’est pas une Norme IEC officielle, elle a été préparée par
commodité pou r l’utilisateu r. Seules les versions courantes de cette norme et de
son(ses) amendement(s) doivent être considérées comme les documents officiels.
Cette version consolidée de l’IEC 60079-1 8 porte le numéro d'édition 4.1 . Elle comprend
la quatrième édition (201 4-1 2) [documents 31 /1 1 52/FDIS et 31 /1 1 68/RVD] et son
amendement 1 (201 7-08) [documents 31 /1 323/FDIS et 31 /1 336/RVD] . Le contenu tech-
niqu e est identique à celui de l'édition de base et à son amendement.
Cette version Finale ne montre pas les modifications apportées au contenu techniqu e
par l’amendement 1 . Une version Redline montrant toutes les modifications est dispo-
nible dans cette publication.
– 40 –
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
La N orm e in tern ati on al e I EC 60079-1 8 a été établ i e par le com ité d'étu des 31 de l'I EC: M até-
riel pour atm osphères explosi ves.
Cette qu atrièm e éditi on constitu e u n e révisi on techn ique.
Cette N orm e I nternation ale doit être u ti l isée conj oin tem ent avec l’I EC 60079-0, Atmosphères
explosives – Partie 0: Matériel – Exigences générales.
Cette édi ti on i ncl ut les m odificati ons tech n iqu es m aj eu res su ivan tes par rapport à l’édition
précéden te:
Type
Explication de l'importance des modifications Arti cle Modifications Exten sion Modifications
mineures et techniqu es
rédactionn elles majeu res
Défi n i ti on s suppri m ées et d épl acées vers l ’ I EC 60079-0 3 X
Ti tre m odi fi é/aj ou té pour cl ari fi er l es exi g ences q ui sont 4 X
suppl ém en tai res pou r "m a" n i veau de protecti on un i -
quem en t
Aj ou t de l a cond u cti vi té therm i que 5. 2 X
Aj ou t d'u n e n ote spéci fi an t q ue l a véri fi cati on d e l a con - 5. 3. 2 X
form i té du com posé à l a spéci fi cati on d u constructeu r
n ’est pas u n e exi g en ce de l a présen te N orm e
Aj ou t d'u n e cl ari fi cati on 6. 2. 2 X
Aj ou t d'u n e cl ari fi cati on 7. 1 X
Aj ou t d'opti on s et d'u ne cl ari fi cati on pou r l a déterm i n a- 7. 2 X
ti on d es défauts
Aj ou t d'i n form ati on s suppl ém en tai res à l a Fi g u re 1 7. 4. 1 X
La phrase "Les vern i s et revêtem en ts sim i l ai res ne sont 7. 4. 2 X
pas consi dérés com m e des i sol ati ons sol i des. " a été
aj ou tée à cette parti e et su ppri m ée de l a défi ni ti on 3. 8
Aj ou t de norm es suppl ém entai res pou r l es cartes de 7. 4. 3. 1 X
ci rcui ts i m pri m és ri g i des m ul ti couches avec con nexi on s
traversantes
Protecti on contre l es tem pératu res excessi ves et con tre 7. 8. 3 C1
l a détéri orati on des pi l es et accu m u l ateu rs
Aj ou t de possi bi l i tés suppl ém entai res et cl ari fi ées pour 7. 9. 2 X
l es di sposi ti fs de protecti on él ectri qu e
l es di sposi ti fs de protecti on th erm i que
Suppressi on de l a l i m i tati on à 2/3 de l a ten si on 7. 9. 3 X
Déterm i nati on de l a tem pératu re m axi m al e pou r "Da" 8. 2. 2 C2
Stabi l i sati on d e l a tem pératu re 8. 2. 2 C3
Endu rance therm i que à l a ch al eu r 8. 2. 3. 1 X
Déterm i nati on de l a tem pératu re com m e tem pératu re de 8. 2. 3. 1 . 1 X
servi ce de référence et i n di cati on d’ au tres possi bi l i tés
d’essai s
Aj ou t d'au tres possi bi l i tés pou r l a procéd ure d'essai d e 8. 2. 4. 1 X
Aj ou t d'au tres m éth odes d'essai pour l ’ essai de pressi on 8. 2. 6 X
exi g é d u m atéri el él ectri qu e des g rou pes I et I I
Essai d’étanch éi té pou r l es di sposi ti fs de protecti on 8. 2. 8 X
i n corporés
Aj ou t d'au tres possi bi l i tés pou r l a procéd ure d'essai d e 9. 2 X
Marq u ag e 10 X
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 41 –
 I EC 201 7
Explication d es types de modifications majeu res:
A) Défini tions
1. Modifications mineures et rédactionnelles: • Cl ari fi cati on
• Di m i nu ti on des exi g en ces tech ni qu es
• Modi fi cati on tech n i qu e m i neure
• Correcti ons rédacti on nel l es
Ces m odi fi cati ons porten t su r l es exi g ences et sont d e n ature rédacti on n el l e ou techn i qu e m i neure. El l es com -
prenn ent des m odi fi cati on s d e form ul ati on d esti nées à cl ari fi er l es exi g en ces tech n i qu es san s apporter de m odi -
fi cati on tech n i qu e n i rédui re l e ni veau actu el d e l 'exi g ence.
2. Exten sion: • Aj out d'opti ons tech ni q u es
Ces m odi fi cati on s aj ou ten t d e nou vel l es exi g en ces tech ni qu es ou m odi fi ent l es exi g ences exi stan tes d e façon à
fou rn i r de n ou vel l es opti on s, m ai s san s aug m enter l es exi g ences rel ati ves au m atéri el qu i étai t total em en t con-
form e à l a précéd ente n orm e. Ces m odi fi cati ons n e sont don c pas à pren d re en com pte dan s l e cas d e produ i ts
con form es à l a précéden te éd i ti on .
3. Modifications techniqu es majeu res: • aj ou t d'exi g en ces techn i qu es
• aug m entati on d es exi g en ces tech ni qu es
Ces m odi fi cati on s son t apportées au x exi g en ces tech ni qu es (aj ou t, au g m en tati on d u n i veau ou suppressi on ) de
tel l e façon q u'u n produ i t conform e à l a précéd en te édi ti on n 'a pas tou j ou rs l a capaci té d e sati sfai re au x exi -
g ences i n di qu ées dan s l a dern i ère édi ti on. Ces m odi fi cati on s sont à pren dre en com pte dan s l e cas de produi ts
con form es à l a précéden te édi ti on. L'él ém en t B) ci -dessous fourn i t des i nform ati ons suppl ém en tai res sur ces
m odi fi cati on s.
N ote Ces m odi fi cati on s refl èten t l es conn ai ssan ces tech n ol og i qu es actu el l es. Cependan t, i l con vi ent qu e ces
m odi fi cati on s n'ai ent pas d'i n fl uence su r l e m atéri el d éj à su r l e m arch é.
B) Informations sur l'origine des "Modification s techniques majeures"

C1 Arti cl e 7. 8. 3 Modi fi cati on des exi g en ces et aj out d' exi g en ces su ppl ém entai res pou r l es pi l es et accum u l a-
teu rs
C2 La fl exi bi l i té i n di q uée d ans l ’I EC 60079-0 est rem pl acée par u n e exi g ence m i n. Pou r l e ni veau d e protecti on
du m atéri el "m a", conçu pour l ' EPL (eq ui pm ent protecti on l evel – n i veau d e protecti on du m atéri el ) " Da", l a tem -
pératu re m axi m al e de su rface doi t être déterm i n ée avec l e m atéri el m on té con form ém en t au x i n stru cti on s du
con stru cteu r et entou ré sur tou te l a surface di spon i bl e par un e couch e d e poussi ère d 'u n e épai sseu r d'au m oi ns
200 m m
C3 L’éch au ffem en t q u i se prod ui t au cou rs de l ’essai peut être u n processus très l ent. I l doi t être con si d éré q u e
l a tem pérature fi n al e a été attei n te q u an d l a vi tesse d’ éch auffem en t ne dépasse pas 1 K/24 h.
Cette pu bl ication a été rédig ée selon l es Directives I SO/I EC, Parti e 2.
Un e l iste de toutes les parties de la série I EC 60079, pu bl i ées sous l e ti tre g énéral Atmos-
phères explosives, peut être consu l tée sur le site web de l'I EC.
Le com ité a déci dé qu e l e con ten u de l a pu bl icati on de base et de son am endem ent n e sera
pas m odifié avant la date de stabil i té i n diqu ée sur l e si te web d e l ’I EC sous
"http://webstore. iec. ch " dans les don nées rel ati ves à l a pu blicati on recherchée. A cette date,
la pu bl ication sera
• recon dui te,
• supprim ée,
• rem pl acée par u n e édition révisée, ou
• am endée.
– 42 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
1 Domaine d’application
La présen te partie de l ’I EC 60079 défi n it les exi g ences spécifiqu es à la constructi on , aux es-
sais et au m arqu age des m atériels él ectri ques, des parties de m atériels él ectri ques et des
com posan ts Ex protégés par encapsul age de type "m " et destin és à u ne util isation dans les
atm osph ères expl osives gazeu ses ou les atm osph ères expl osi ves poussiéreuses.
La présente parti e n e s’appl iqu e qu ’aux m atéri el s él ectriques protég és par encapsu lag e, aux
parties de m atéri el électriqu e protég ées par encapsu lage et au x com posants Ex protégés par
encapsu l age (ci-après touj ou rs dén om m és m atériel "m ") pour lesqu els l a tensi on assi g née
n ’excède pas 1 1 kV.
L’u til isati on du m atéri el électriqu e en atm osphère pou van t con ten ir sim u ltaném ent du gaz
explosif et des poussi ères com bu stibles peu t n écessiter des m esures de protecti on suppl é-
m entaires.
La présente Norm e n e s’appliqu e pas au x poussi ères d’explosifs qu i n ’exi gen t pas d’oxyg èn e
de l’air pou r l eu r com bustion n i aux su bstances pyroph oriqu es.
La présen te N orm e n e tien t pas com pte des risqu es, quels qu'ils soi en t, résu ltan t d’u ne ém i s-
si on de g az i nflam m able ou toxi qu e proven ant de l a poussi ère.
La présente N orm e com plète et m odifie les exig ences g én érales de l ’ I EC 60079-0. Si u ne
exig ence de l a présen te N orm e est en confl i t avec u ne exig en ce de l ’ I EC 60079-0, l'exig ence
de la présente N orm e a préséance.
2 Références normatives
Les docum ents su ivan ts sont ci tés en référence de m an ière n orm ative, en in tég rali té ou en
partie, dans le présen t docu m en t et son t in dispensabl es pou r son applicati on . Pour l es réfé-
rences datées, seu l e l’édition citée s’appl iqu e. Pou r les références n on datées, la dern i ère
édi tion du docum en t de référence s’appl iqu e (y com pris les éventu els am endem en ts) .
I EC 60079-0, Atmosphères explosives – Partie 0: Matériel – Exigences générales

I EC 60079-7, Atmosphères explosives – Partie 7: Protection de l’équipement par sécurité
augmentée "e"
I EC 60079-1 1 , Atmosphères explosives – Partie 11: Protection de l’équipement par sécurité
intrinsèque "i"
I EC 60079-1 5, Atmosphères explosives – Partie 15: Protection du matériel par mode de pro-
tection "n"
I EC 60079-26, Atmosphères explosives – Partie 26: Matériel d’un niveau de protection du
matériel (EPL) Ga
I EC 60079-31 ,Atmosphères explosives – Partie 31: Protection contre l’inflammation de pous-
sières par enveloppe "t" relative au matériel
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 43 –
 I EC 201 7
IEC 601 27 (tou tes les parties) , Coupe-circuit miniatures
IEC 60243-1 , Rigidité diélectrique des matériaux isolants – Méthodes d’essai – Partie 1: Es-
sais aux fréquences industrielles
I EC 60691 , Protecteurs thermiques – Prescriptions et guide d’application
IEC 60730-2-9, Dispositifs de commande électrique automatiques à usage domestique et
analogue – Partie 2-9: Règles particulières pour les dispositifs de commande thermosensibles
IEC 60738-1 , Thermistances – Coefficient de température positif à chauffage direct – Partie 1:
Spécification générique
Protection contre les chocs électriques – Aspects communs aux installations et
I EC 61 1 40,
aux matériels
Sécurité des transformateurs, alimentations, bobines d’inductance et produits
I EC 61 558-1 ,
analogues – Partie 1: Exigences générales et essais
I EC 61 558-2-6, Sécurité des transformateurs, bobines d'inductance, blocs d'alimentation et
produits analogues pour des tensions d'alimentation jusqu'à 1 100 V − Partie 2-6: Règles par-
ticulières et essais pour les transformateurs de sécurité et les blocs d'alimentation incorporant
des transformateurs de sécurité
I EC 62326-4-1 ,Cartes imprimées – Partie 4: Cartes imprimées multicouches rigides avec
connexions intercouches – Spécification intermédiaire – Section 1: Spécification particulière
d’agrément: Niveaux de performances A, B et C
AN SI /U L 248 (toutes parties) , Standard for low-voltage fuses
AN SI /U L 746B, Standard for polymeric materials – Long-term property evaluations
3 Termes et définitions
Pour les besoi ns du présen t docum en t, l es term es et défi n iti ons donn és dans l ’ I EC 60079-0 et
les défin i tions su ivan tes s’appl iqu en t.
NOTE Des d éfi ni ti ons su ppl ém entai res appl i cabl es au x atm osph ères expl osi ves sont d on nées d an s l ’I EC 60050-
426.
3.1
encapsu l ag e "m"
m ode de protecti on dan s lequ el l es parti es d e m atériel qu i sont capabl es d’enfl am m er une
atm osph ère expl osi ve par étincel le ou éch auffem ent sont com pl ètem ent enferm ées dans un
com posé ou dans u n e au tre en veloppe n on m étal l iqu e autorisée avec adh érence, de tel le
sorte que l’i nflam m ati on d’u n e couch e de poussière ou d’u ne atm osphère explosi ve dans des
con ditions de foncti on n em ent ou d’instal lati on n e peu t se produ ire
– 44 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
3.2
plage de températu res du composé
plag e de tem pératures dans laqu elle les propri étés du com posé, l ors du foncti on n em ent ou du
stockage, sont conform es au x exigences de l ’I EC 60079-1 8
3.3
surface libre
su rface du com posé exposée au x atm osph ères explosi ves et/ou couches de poussières
3.4
contact de commutation
con tact m écan i que destiné à établ ir ou à cou per un circu it électri qu e
3.5
adhérence
ag rég at perm an ent d'un com posé à la surface d’un e paroi et qu i est étan che à l ’h um idité, au
gaz et à la poussière
3.6
défaut pris en compte
défau t qu i survi en t dans les parti es de m atéri el él ectri qu e conform es aux exig ences de cons-
tru ction
3.7
séparation infaillible
séparati on en tre l es parti es électriqu em ent con ductrices qu i est considérée com m e non su-
jette aux courts-circu i ts
3.8
isolement solide
m atériau d’isol em en t qu i est extrudé ou m ou l é, m ais n on cou lé
Note 1 à l ' arti cl e: Les i sol ateurs fabri qu és à parti r de d eu x ou de pl usi eurs pi èces en m atéri au i sol ant qui son t
sol i dem en t fi xés en sem bl e, peu vent être con si d érés com m e sol i d es.
4 Généralités
4.1 Niveau de protection (EPL pour equipment protection level – niveau de protection
du matériel)
Le m atériel él ectri qu e avec encapsul age "m " doi t être soit de:
a) n i veau de protection "m a" (EPL "M a, G a, Da") ,
b) n i veau de protection "m b" (EPL "M b, G b, Db") , ou
c) n i veau de protection "m c" (EPL "Gc, Dc") .
Les exi g ences de l a présen te N orm e s’appl iqu en t à tou s les n iveau x de protection pour
l’encapsu l ag e "m ", sau f spécification contraire.
4.2 Exig ences supplémentaires pou r les niveaux de protection "ma" et "mb"
Les com posants sans protecti on su pplém en taire doivent être uti lisés à con di ti on qu ’i ls n e
pu issent pas en dom m ager m écan i qu em en t ou th erm iquem ent l ’encapsu lage en cas de tou te
con dition de défau t spécifiée dans la présente Norm e.
En varian te, l orsqu ’un défau t d’un com posant intern e peu t entraîn er un e défai l lance de
l’encapsu l ag e "m " par su ite d’u n éch auffem ent, l es exi gences de 7. 9 doi ven t s’appliqu er.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 45 –
 I EC 201 7
4.3 Exig ences supplémentaires pou r le niveau de protection "ma"
La tension de service en tout point du circu it ne doit pas dépasser 1 kV.
4.4 Tension assignée et courant de cou rt-circuit présu mé

La tension assi g née et l e couran t de court-circu it présum é doiven t être spécifiés de façon à
ce qu e la tem pérature l i m ite ne soi t pas dépassée pou r l e n i veau de protecti on approprié
"m a", "m b" ou "m c".
5 Exigences pour les composés

5.1 Généralités
La docum en tation doi t spécifi er l e ou l es com posés uti l isés et l a ou l es m éthodes de m esure,
y com pris l es m esures vi san t à em pêch er l a form ati on de vides.
Au m inim um , les propri étés du ou des com posés don t dépend l’encapsu lage "m " d oivent être
effectives.
NOTE La sél ecti on correcte des com posés perm et l ’expan si on des com posants l ors du fon cti on n em ent et d ans
l ’éventu al i té de d éfau ts au tori sés.
5.2 Spécification
La spécificati on pou r le com posé doit com prendre ce qui sui t:
a) l e nom et l ’adresse du constructeur du com posé,
b) l a référence exacte et com plète du com posé et l e cas échéant le pou rcentage des ch arg es
et au tres additifs, les rapports de m élan ge et la désig n ati on du type,
c) l e cas échéant, tout traitem ent de su rface du ou des com posés, par exem pl e vern issage,
d) l e cas éch éan t, tou te exi gence de prétrai tem en t du com posant dans le but d’obten ir u ne
m eill eu re adhérence du com posé sur le com posan t, par exem ple n ettoyag e, gravu re,
e) l a ri g idité di électri qu e conform ém ent à l ’ I EC 60243-1 , à l a tem pératu re m axim ale de ser-
vice du com posé déterm i née selon 8. 2. 2 a) , si la valeur de cette tem pérature est dispo-
n ible; si ell e n 'est pas dispon i bl e, l es exig ences de 5. 3. 2 doivent être appl iquées,
f) plag e de tem pératures du ou des com posés (y com pris la COT (con tin u ou s operati n g tem -
perature – tem pérature de foncti onn em en t conti nu ) m axim al e et l a COT m in im ale) ,
g) dans le cas d’u n m atériel "m " pour l equ el l e com posé constitu e u ne parti e de l ’en vel oppe
externe, l a val eu r de l’i n dice de tem pératu re I T tel que défi ni par l ’ I EC 60079-0. Com m e
variante à l’i n dice de tem pérature I T, l ’in dice relati f th erm ique (I RT – m écan iqu e) peu t être
déterm in é conform ém ent à AN SI /U L 746B,
h) l a coul eur du com posé u ti lisé pou r l es éch an till on s d’essai , si l a spécificati on du com posé
est influ encée par u n ch ang em en t de cou leur,
i) l a con ducti vité therm ique si la m éth ode d’essai de rem placem en t de 6. 2. 2 est u tilisée.
présen te N orm e.
5.3 Propriétés du composé

5.3.1 Absorption d’ eau
Le com posé doi t être soit soum is à essai sel on 8. 1 . 1 soi t, si cet essai n 'est pas réal isé, le
num éro de certificat du m atériel doit com prendre le suffixe "X" conform ém ent aux exig ences
de m arquag e de l ’I EC 60079-0 et les con diti ons spécifiqu es d'u tilisati on én um érées su r l e
certificat doi vent détai l ler l es précau tions n écessai res.
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 I EC 201 7
5.3.2 Rig idité di électri que
Si l a valeur de l a ri g idi té diél ectri que conform ém ent à l ’I EC 60243-1 à l a tem pérature m axi-
m ale de service conform e à 8. 2. 2 a) du com posé n ’est pas dispon ible auprès du constructeur
du m atéri el, un essai doit être réal isé selon 8. 1 . 2.
présen te N orm e.
6 Températures
6.1 Généralités
La tem pérature de servi ce du com posé, déterm i née conform ém ent à l’ I EC 60079-0, n e doit
pas dépasser la val eur m axim ale de la COT du com posé. La tem pérature m axim ale de sur-
face doi t être déterm in ée conform ém ent à l ’I EC 60079-0 dans des con ditions de foncti onn e-
m ent n orm al et dans des con diti ons de défau t tell es qu e défin i es en 7. 2. 1 . Le m atériel "m "
doit être protég é de tell e façon qu e l ’encapsu l ag e "m " ne soit pas altéré dans ces condi tions
de défau t.
6.2 Déterm ination d es températu res lim ites

6.2.1 Températu re m axi mal e de su rface
La tem pérature m axim al e de surface doit être déterm in ée en util isan t l a m éth ode d’essai do n-
née en 8. 2. 2 conform ém en t aux condi ti ons d’alim en tati on spécifiées en 4. 4.
NOTE Cette tem pératu re est u ti l i sée pou r déterm i ner l a cl asse de tem pératu re pour l es atm osph ères expl osi ves
g azeu ses ou l a tem pératu re m axi m al e de su rface, expri m ée en deg rés Cel si us, du m atéri el desti n é au x atm os-
ph ères expl osi ves poussi éreuses, ou l es deu x.
6.2.2 Températu re du com posé

Le com posant le pl us ch au d doit être déterm i né. La tem pératu re m axim al e dans le com posé,
à proxim ité du com posant l e pl us chau d, doit être déterm i née en u ti lisant l a m éth ode d’essai
don née en 8. 2. 2 pou r l e fonction nem ent n orm al .
En varian te, la tem pérature du com posan t l e plu s chau d en fonction n em en t n orm al peu t être
déterm in ée soi t par calcu l, soi t à partir de l a spéci ficati on du constructeu r, soit en sou m ettant
à l'essai le com posant dans l es con diti ons d'applicati on prévu es, avant en capsu lag e du com -
posant si la con du ctivité therm i qu e du com posé est supéri eure à cell e de l'air.
NOTE La con ducti vi té th erm i que d e l ’ai r est l e pl us souven t défi n i e com m e étant de 0, 25 W/m *K (con di ti on s n or-
m al es) .
6.3 Limitation d e températu re

Lorsqu e l e m atériel peut être défectu eux selon 7. 2. 1 , ou en cas de possi ble éch au ffem en t, par
exem ple à l a su ite de l ’application d’u n e tension dom m ag eable selon 7. 2. 1 ou su ite à u ne
charg e dom m ageabl e, ces param ètres doiven t être pris en com pte pour déterm i ner les tem pé-
ratures l im ites.
Lorsqu e pou r des raison s de sécu rité, i l fau t qu'u n dispositif de protecti on l im ite l es tem péra-
tures, ce doi t être u n di sposi tif él ectriqu e ou th erm iqu e extern e au m atéri el ou directem en t
intégré au m atériel, tel qu e défin i en 7. 9.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 47 –
 I EC 201 7
7 Exigences de construction
7.1 Généralités
Lorsqu e l e com posé fai t parti e de l'en veloppe extern e, il doit satisfaire au x exig ences de
l’I EC 60079-0 appl icables aux en veloppes n on m étall i ques et aux parti es d'en veloppes n on
m étal l i ques.
Si l a surface du com posé est totalem ent ou partiell em en t entourée par u n e en veloppe et qu e
l'en veloppe fait partie de la protection, l'en veloppe ou l es parties de l 'en vel oppe doi ven t sati s-
faire aux exig ences de l’ I EC 60079-0 appl icables aux en veloppes.
Il peu t être exig é qu e l 'u ti lisateur appli qu e des m esu res de protection su pplém en taires dans
l'i nstallation afi n de satisfaire au x exig ences de la présente N orm e. Par exem pl e, u ne protec-
ti on m écan i qu e supplém en taire peu t être exi g ée pour protég er le m atéri el con tre un ch oc d i-
rect. Dans de tels cas, l e n um éro de certificat du m atériel doit com pren dre l e su ffixe "X" co n-
form ém ent aux exi gences de m arqu ag e de l ’ I EC 60079-0 et l es condition s spécifi qu es d'u ti l i-
sati on én um érées sur l e certificat doi vent détai l ler l es précau tions n écessai res.
Des m esu res appropriées doi ven t être prises pou r ten ir com pte de l’expansi on des com po-
san ts pen dan t u n foncti onn em en t n orm al et en cas d’appariti on de défaut selon 7. 2.
Les exi gences de 7. 2 à 7. 9 son t différen tes sel on qu e le com posé adhère ou non à l'en ve-
loppe. La spécification d'un e adh érence vise à em pêcher l'in trodu cti on d’atm osph ères expl o-
si ves et d'h um idité aux interfaces des surfaces de séparation (par exem pl e en veloppe-
com posé, com posé-parti es n on entièrem ent recou vertes par le com posé, tell es que cartes de
circui ts im prim és, bornes de con nexi on, etc. ) . Lorsqu e l’ adh érence est n écessaire pou r assu-
rer le m ode de protecti on , ell e doit être in tacte après l a fi n de tous l es essais requ is. Le choix
du ou des com posés à u ti l iser pou r un e appl ication spécifi qu e dépen d du rôl e attribu é à
chaque com posé. Si u n com posé est soum is à l ’essai u n e fois pour u n e appl ication donn ée,
cela n e le qu al ifie pas pou r tou tes les appl ications.
NOTE Des essai s d’adh érence son t à l ’étu de.
7.2 Détermination des défauts

7.2.1 Examen des défauts
Lorsqu'il est soum is à l'essai conform ém ent à l’ I EC 60079-0, l'encapsu lag e "m " doi t être m ai n-
ten u dans le cas de
a) l a charg e l a plu s défavorabl e et
b) j usqu'à deux défauts i nternes pris en com pte pour le n i veau de protection "m a", et jus-
qu 'à u n défaut in tern e pris en com pte pour le n i veau de protecti on "m b", en ten ant
com pte de 7. 2. 2, 7. 2. 3 et 7. 2. 4.
Au cu n défaut n ’est pris en com pte pour l e n i veau de protection "m c".
NOTE Des défauts sont, par exem pl e, un cou rt-ci rcu i t d ans un com posant, l a défai l l an ce d’un com posant ou u n
défaut entre l es pi stes su r u n e carte d e ci rcu i ts i m pri m és, m ai s pas au débu t d’ un e pi ste.
La défai ll ance de certai n s com posants peut provoqu er des condi ti ons instabl es, par exem ple
la variation d’un e résistance de faible à élevée. Dans ces cas, l a condi tion l a pl us défavorabl e
doi t être reten u e.
Si u n défau t entraîn e u l térieurem en t u n ou pl usi eu rs au tres défauts, par exem pl e à la su ite de

la su rch arg e d'u n com posan t, le défau t in itial et le ou les défau ts ul térieurs doiven t être co n-
si dérés com m e constituant u n seu l défau t.
– 48 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
7. 2. 2 Composants consi d érés comm e n e pou vant pas être d éfai ll ants
Pou r les n i veaux de protection "m a" et "m b", l es com posan ts su i vants d oi ven t être considérés
com m e ne pou van t pas être défai l lan ts s'i ls sont encapsu lés conform ém ent aux exi g ences de
la présen te N orm e, s’ils son t appropriés pour l a tem pérature de service et s’i ls ne sont pas
charg és à pl us de 2/3 de leur tensi on assi gn ée, courant assi gn é et pu issance assig n ée cor-
respon dant au x caractéristi ques assi g n ées du disposi tif, aux con ditions de m on tag e et à l a
plag e de tem pératu res spécifiées:
– résistances,
– bobi nes spiral ées à un e seu le couch e,
– con densateurs pl asti qu es m u lticouch es,
– con densateu rs au papi er,
– con densateurs céram iqu es,
– sem i-conducteurs,
– dispositifs à sem i-con ducteurs u til isés com m e dispositif de protection sel on 7. 9,
– résistances uti l isées com m e dispositif de protection selon 7. 9, si ell es son t conform es aux
résistances de lim itation de courant de l’ I EC 60079-1 1 pour l e n iveau de protecti on « i a»
ou « i b» .
Pour les niveaux de protecti on "m a" et "m b", les enrou lem en ts conform es à l’ I EC 60079-7, y
com pris ceux dont le diam ètre de fi l est inférieur à 0, 25 m m , doi vent être considérés com m e
ne pou van t pas être défai l lants s’ils sont encapsu l és conform ém ent aux exi gences de l a pré-
sen te N orm e.
7. 2. 3 Composants d ’ i sol ati on
Pour l a séparation de différents circu its, l es com posan ts su i vants doi ven t être consi dérés
fou rni r l'isol ation et n e son t pas consi dérés com m e pou van t être défai llants pour ce qu i co n-
cern e l'isol ation :
• Com posants à isol ati on g alvan iqu e (par exem ple cou pleu rs optoélectroni qu es et relais) ,
– si la tension d'isol em ent assig n ée est conform e à 2 U + 1 000 V eff. +50 % ou
1 500 V eff. l a val eur la plus élevée étant retenu e ( U est la som m e des tensi ons effi-
caces assi g nées des deu x circu its) , ou
– pou r u ne tensi on d'isol em ent assi g née pour ce qu i concerne l' isolati on de plus de 60 V
(som m e des tensions efficaces assi gn ées des deux circu its) , cou pleurs optoél ectro-
n iqu es et rel ais assurant un e dou ble isolation ou un e isolati on renforcée entre les ci r-
cu its conform ém ent à l ’I EC 61 1 40 ou
– conform es à l’I EC 60079-1 1 pou r l e n i veau de protecti on « ia» ou « ib» .
• Transform ateurs,
– conform es à l’I EC 61 558-2-6, ou
– assurant un e dou bl e isol ati on ou u ne isol ation renforcée en tre les circu its conform é-
m ent à l ’I EC 61 558-1 , ou
– conform es à l’I EC 60079-1 1 pour l e n i veau de protection « ia» ou « ib» .
NOTE 1 La véri fi cati on d e l a con form i té au x norm es ci tées ci -dessu s sel on l a spéci fi cati on du con structeu r, en ce
qu i concern e l a séparati on, n ’est pas un e exi g en ce de l a présen te N orm e.
NOTE 2 Les com posants à i sol ati on g al vani qu e assu rant u n e dou bl e i sol ati on ou u ne i sol ati on ren forcée confor-
m ém ent à u ne n orm e de produi t son t consi d érés com m e sati sfai sant au x exi g en ces de l ’I EC 61 1 40 ou de
l’I EC 60747-5-5 dans l e cas d es cou pl eu rs optoél ectron i qu es.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 49 –
 I EC 201 7
7. 2. 4 Di stances d e séparati on i n fail l ibl es
7. 2. 4.1 G én éral ités
Il n'est pas nécessaire de considérer la possi bi li té d'u n défaut, tel qu e cela est décrit en 7. 2. 1
dans le cas d’u n claqu ag e de tension , si l a distan ce entre l es parti es n ues sous tension:
– du m êm e circu it, ou
– d'un circu i t et de parties m étal li ques à la terre, ou
– de deux circu its séparés (l a som m e des tensi on s de service doi t être prise en tant qu e
tension pou r le Tableau 1 ; si u n e des tensi ons de service est i nféri eu re de 20 % par rap-
port à l'au tre, el le ne doit pas être prise en com pte) ,
satisfait au x exig ences de 7. 2. 4. 2 et, s'i l y a l ieu , de 7. 2. 4. 3.
7. 2. 4.2 Di stances d an s l e composé
Les distances dans l e com posé doiven t être considérées i nfai lli bl es par rapport au cou rt-
circui t pour l e n i veau de protection "m a" et l e n i veau de protection "m b" si ell es son t con-
form es aux val eu rs du Tableau 1 , à con dition qu e les distances dans l e com posé soient fixées
ou m aintenu es m écan i qu em ent avant l’encapsu lage.
NOTE Quan d un e envel oppe n on m étal l i qu e d ’u n e adh érence appropri ée et d’ un e épai sseu r m i ni m al e spéci fi qu e
don n ée adm et u ne épai sseu r n ul l e du com posé sel on l a l ettre c de l a Lég en de d u Tabl eau 4 et de l a Fi g ure 1 , l es
di stan ces de séparati on d es parti es sous ten si on correspon d an tes son t touj ou rs consi d érées i nfai l l i bl es par rapport
au cou rt-ci rcui t.
Les distances qu i son t com prises en tre les distances m i n im ales donn ées pour l e ni veau de
protecti on "m c" et les di stances i nfai l libl es don n ées pou r l es n i veaux de protection "m a" et
"m b" ne son t pas considérées com m e infailli bles et elles doi vent être évalu ées en tant qu e
"défau t pris en com pte". Les distances i nféri eures à cel l es donn ées pou r l e n i veau de protec-
ti on "m c" son t considérées com m e des courts-circu its si el les dégradent le m ode de protec-
ti on "m ".
Pour l e ni veau de protection "m c", les valeurs du Tabl eau 1 consti tu en t des exi g ences de
constructi on et elles peu ven t être obten ues par im m obil isation m écan i qu e avant
l’encapsu lag e.
– 50 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Tableau 1 – Distances dans le composé
a Distance minimale
Tension U eff. ou en courant continu (voir ) mm
V
"m a" "m b" "m c"
≤ 32 0, 5 0, 5 0, 2
≤ 63 0, 5 0, 5 0, 3
≤ 400 1 1 0, 6
≤ 500 1 ,5 1 ,5 0, 8
≤ 630 2 2 0, 9
≤ 1 000 2, 5 2, 5 1 ,7
≤ 1 600 - 4 4
≤ 3 200 - 7 7
≤ 6 300 - 12 12
≤ 1 0 000 - 20 20
a Les tensi on s i n di q uées provi enn ent de l ’ I EC 60664-1 et son t basées sur l a rati on al i sati on
des tensi on s d'al i m entati on i n d i quées au Tabl eau 3b de l ’I EC 60664-1 . Lors d e l a déterm i na-
ti on de l a d i stan ce exi g ée, l a tensi on d e servi ce peut être 1 , 1 foi s su péri eu re à l a ten si on du
tabl eau .
NOTE Le facteu r d e 1 , 1 adm et qu e, à de n om breu x end roi ts d’u n ci rcu i t, l a tensi on de servi ce
est ég al e à l a ten si on assi g n ée et q u’i l y a u n certai n n om bre de ten si ons assi g nées d’ u sag e
courant dont peut ten i r com pte l e facteur de 1 , 1 .
7.2.4.3 Distances d’isolement dans le matériau

La distance d’isolem ent dans le m atériau , dont l e m ode de protection "m " dépen d, doit être au
m inim um de 0, 1 m m et doit satisfaire à l ’essai de rig idité diélectri qu e de 8. 2. 4.
7.3 Espace libre dans l’encapsulag e

7.3.1 Matériel "m" du Groupe III
La som m e des espaces li bres n ’est pas lim itée, m ais l e vol um e des espaces l ibres in di vi duels
est lim ité à 1 00 cm 3 . L'épaisseur du com posé en touran t de tels espaces l ibres doit être con-
form e aux exig ences du Tabl eau 2.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 51 –
 I EC 201 7
Tableau 2 – Épaisseur minimale du composé adjacent
à un espace libre pour le matériel "m" du Groupe III
Niveau de Épaisseu r minimale du com- Espace libre
3 Espace
3 libre 3
protection posé entre l’espace libre et: ≤ 1 cm > 1 cm ≤ 1 00 cm
a
En vel oppe n on m étal l i q u e ou 3 m m (en vel oppe + 3 m m (en vel oppe + com posé)
"m a" m étal l i que avec adh éren ce com posé) a
a
En vel oppe n on m étal l i q u e ou 1 m m (en vel oppe + 3 m m (envel oppe + com posé)
"m b" m étal l i que avec adh éren ce com posé)
“m c” En vel oppe n on m étal l i q u e ou 1 m m (en vel oppe + 1 m m (en vel oppe + com posé)
m étal l i que avec adh éren ce com posé)
Envel oppe n on m étal l i q u e ou 1 mm 1 mm
m étal l i que san s adh éren ce
a Épai sseu r de paroi de l ' en vel oppe ≥1 mm.
L’épai sseu r des m atéri au x i n di qu ée dans ce tabl eau n ’i m pl i q u e pas l a conform i té au x au tres essai s m éca-
ni qu es exi g és par l ’I EC 60079-0.
NOTE I l est adm i s qu ’u ne en vel oppe m étal l i qu e avec adh érence n ’ai t pas d’ épai sseur d e com posé par
rapport à u n espace l i bre à con di ti on qu’i l n ’ y ai t pas de parti es sou s tensi on d an s cet espace l i bre.
7.3.2 Matériel "m" du Groupe I et du Groupe II

La som m e des espaces l ibres ne doit pas dépasser:
• 1 00 cm 3 pour les ni veaux de protecti on "m b" et "m c";
• 1 0 cm 3 pour le n iveau de protecti on "m a".
L’épaisseur m in im ale du com posé entouran t de tels espaces l ibres doit être conform e
au Tableau 3.
– 52 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Tableau 3 – Épaisseur minimale du composé adjacent à un espace libre pour le
matériel "m" du Groupe I et du Groupe II
Niveau de Épaisseu r minimale du Espace libre Espace libre Espace libre
protection composé en tre l'espace ≤ 1 cm 3 > 1 cm 3 ≤ 1 0 cm 3 > 1 0 cm 3 ≤ 1 00 cm 3
libre et:
Espace l i bre ou su rface 3 mm 3 mm N on adm i ssi bl e
sel on 8. 2. 6)
a
Envel oppe n on m étal l i q u e 3 m m (envel
a oppe + 3 m m (en vel oppe + com posé) N on adm i ssi bl e
"m a" ou m étal l i qu e avec adhé- com posé)
ren ce (essai d e pressi on
sel on 8. 2. 6)
En vel oppe n on m étal l i q ue 3 mm 3 mm N on adm i ssi bl e
ou m étal l i qu e sans adh é- (essai de pressi on
sel on 8. 2. 6)
a
En vel oppe n on m étal l i q ue 1 m m (envel oppe + 3 m m (en vel oppe + com posé) 3 m m (envel a oppe +
"m b" ren ce (essai d e pressi on
sel on 8. 2. 6)
ou m étal l i qu e sans adh é- (essai d e pressi on
l i bre
"m c" Envel oppe n on m étal l i q ue 1 m m (en vel oppe + 1 m m (en vel oppe + com posé) 3 m m (envel oppe +
ren ce Voi r n ote

ou m étal l i qu e sans adh é-
ren ce
a Épai sseu r d e paroi de l 'en vel oppe ≥1 mm.
L’épai sseu r des m atéri au x i n d i qu ée dan s ce tabl eau n ’i m pl i qu e pas l a con form i té au x au tres essai s m écani ques exi g és
par l ’I EC 60079-0.
NOTE I l est adm i s qu ’un e en vel oppe m étal l i qu e avec adhéren ce n’ai t pas d’épai sseu r de com posé par rapport à u n
espace l i bre à con di ti on qu’i l n ’ y ai t pas de parti es sou s ten si on dans cet espace l i bre.
7.4 Épaisseur du composé

7.4.1 Matériel "m"
L’épaisseu r m in im ale du com posé entourant l es com posan ts électriques et le circu it doi t être
conform e au Tabl eau 4 et à l a Fig ure 1 .
Si u n isol ant sol i de conform e à 7. 2. 4. 3 est uti lisé dans un e en veloppe ayant des parois m étal-
liqu es com m e l e décrit la Fig ure 1 , le com posé doi t adh érer à l a paroi .
NOTE 1 La Fi g u re 1 n e représente pas n écessai rem ent u n e constru cti on réel l e m ai s el l e est desti n ée à ai d er à
com pren d re l e Tabl eau 4 en m on trant u n ci rcu i t encapsu l é com prenan t u n e su rface l i bre, un e en vel oppe m étal -
l i qu e, un e en vel oppe pl asti qu e avec d i fféren tes épai sseu rs de paroi .
Qu an d u n e en veloppe n on m étall i que d’u n e adh érence appropri ée et d’u ne épaisseur m in i-

m ale spécifiqu e don née adm et u ne épaisseu r de com posé n u l le conform ém ent à l a lettre c de
la Lég ende du Tabl eau 4 et de la Fi g ure 1 , l es di stances de séparation des parti es sous ten-
sion correspon dan tes sont qu an d m êm e consi dérées infai l li bl es par rapport au court-circu i t.
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 I EC 201 7
NOTE 2 Les di stances de séparati on (l i g n es de fu i te et di stances d’i sol em en t) associ ées au x parti es sou s ten si on
don t i l est tol éré q u ’el l es ai en t u ne épai sseu r d e com posé n ul l e et qu i sont qu and m êm e consi dérées être i nfai l -
li bl es par rapport au cou rt-ci rcu i t son t éval u ées sel on l es exi g ences de sécuri té appl i cabl es des n orm es i ndus-
tri el l es correspondantes.
f a

e
Optional solid
laminate with no
conductors

Solid insulation
b according 7.2.4.2
Metallic wall IEC
Lég ende
An g l ai s Fran çai s
Free su rface of the com pou n d Su rface l i bre du com posé
Non cu rrent carryi n g part Parti e n on sous ten si on
Opti on al sol i d i n sul ati on or board l am i n ate wi th I sol ant sol i d e facul tati f ou carte à i sol ati on strati -
no con ductors fi ée sans con du cteu r
Pl asti c wal l wi th thi ckn ess t <1 mm Paroi en m ati ère pl asti q u e d ’épai sseur t <1 mm
Sol i d i n su l ati on accordi n g 7. 2. 4. 2 I sol ant sol i d e con form e à 7. 2. 4. 2
Metal l i c wal l Paroi m étal l i qu e
Pl asti c wal l wi th thi ckness t ≥1 mm Paroi en m ati ère pl asti q u e d ’épai sseur t ≥1 mm
Lég ende
a di stance par rapport à u ne surface l i bre
b di stance par rapport à u ne en vel oppe m étal l i q ue
c di stan ce par rapport à u n e envel oppe n on m étal l i qu e ayan t u ne épai sseu r de paroi t≥ 1 mm
d di stance par rapport à u ne en vel oppe n on m étal l i que ayant u n e épai sseu r de paroi t< 1 mm
e di stance par rapport à u ne parti e n on sou s tensi on dan s l e com posé

f di stance entre un e parti e n on sous ten si on et un e su rface l i bre
Fig u re 1 – Règ l es dimensionn elles pou r les épai sseu rs dans l e composé
Dans tous les cas, l e com posé doit être sou m is à l ’essai de rig idité di él ectri qu e de 8. 2. 4.
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 I EC 201 7
Tableau 4 – Épaisseur du composé
Niveau de pro- Niveau de protection "mb" ou "mc"
tection "ma"
2
Su rface l i bre ≤ 2 cm a ≥ 3 mm a ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 1 m m
2
Surface l i bre > 2 cm a ≥ 3 mm a ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 3 m m
Envel oppe n on m étal li q u e
avec adh éren ce d ≥ 3 mm d ≥ di stan ce sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 1 m m
(épai sseu r de paroi t < 1 m m )
Envel oppe n on m étal li q u e a a
avec adh éren ce c ≥ (3 m m – t) c ≥ (di stan ce sel on l e Tabl eau 1 – t)
(épai sseu r de paroi t ≥ 1 m m )
En vel oppe n on m étal l i q ue
c = d ≥ 3 mm c = d ≥ di stan ce sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à
san s adh érence 1 mm
En vel oppe m étal l i q u e b ≥ 3 mm b ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i nféri eu re à 1 m m
Parti e n on sous ten si on e ≥ 3 mm e ≥ di stance sel on l e Tabl eau 1 m ai s pas i n féri eu re à 1 m m
Parti e n on sous ten si on –
Surface l i bre f+ e ≥ a f+ e ≥ a
a Dans l e cas d’ un e en vel oppe n on m étal l i qu e avec ad héren ce et d’épai sseu r de paroi ≥ 1 m m , si l ’appl i cati on d e
l a form u l e perm et c = 0, l e com posan t peu t être pl acé con tre l a paroi .
7.4.2 Enroulements pour machines électriqu es

Dans l e cas des m ach in es électri qu es avec enrou lem en ts dans des gorg es, le m atériau is o-
lan t dans la g org e doit avoir:
a) pour le n i veau de protecti on "m a" un i qu em en t, un e épaisseur m i nim ale de 0, 1 m m et il
doit être éten du sur au m oins 5 m m au-delà de l a g org e;
b) pou r l es n i veaux de protecti on "m a" et "m b", l ’extrém ité de l a g org e et l a tête de bobi ne
doi vent être protégées par l ’épaisseu r m in im ale du com posé selon 7. 4. 1 . U n essai de ri g i-
dité diélectrique selon 8. 2. 4 doit être effectué avec succès avec u ne tensi on d'essai U =
2 U + 1 000 V eff. +50 % avec u n m in im um de 1 500 V en cou rant altern atif. de 48 H z
à 62 H z.
Les vern is et revêtem en ts sim i laires n e sont pas consi dérés com m e des isol an ts solides.
7.4.3 Cartes de circuits imprimés rigides multicou ches avec connexions traversantes
7.4.3.1 Généralités
Les cartes de circu its im prim és m ulticouch es qu i satisfont au x exi g ences de l ’I EC 62326-4-1 ,
n i veau de perform ance C, ou aux n orm es I PC-A-600 et I PC-601 2 ou AN SI /U L 796, foncti on-
nan t à des tensions de service inféri eu res ou ég ales à 500 V, doi vent être considérées en-
capsu l ées si ell es satisfont à 7. 4. 3. 2.
NOTE La véri fi cati on de l a conform i té de l a carte de ci rcui ts i m pri m és à l a spéci fi cati on d e perform an ce du cons-
tructeu r n ’ est pas u ne exi g ence de l a présente N orm e.
7.4.3.2 Distances minimales

L'épaisseur d’isolem en t constitu ée par l es stratifiés cu i vrés et l es film s adh ésifs doi t satisfaire
aux exig ences de 7. 2. 4. 3.
NOTE L'épai sseur d’ i sol em en t correspond à l a com bi nai son du strati fi é et du fi l m adhési f en l 'absence de sépara-
ti on par d u cu i vre.
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 I EC 201 7
La distance m in im al e entre les con ducteurs de circu its im prim és et le bord de la carte de ci r-
cu its im prim és m ulticou ches ou de tou t trou traversan t de la carte doit être au m oi ns égale à
la distance b du Tableau 5. Si les bords ou trous traversants sont protég és par u n m atériau
m étal l i que ou isol an t s'éten dan t sur l a surface de l a carte à au m oins 1 m m desdits bords ou
trous traversants, la distance entre l es con ducteu rs de l a carte de circu its im prim és et le m a-
téri au isolant ou m étal li qu e peu t être rédu ite à la distance c d u Tableau 5. Le revêtem en t m é-
tal liqu e doi t avoir un e épaisseu r d'au m oins 35 µ m (se reporter égal em en t à la Figu re 2 et au
Tableau 5) .
Tableau 5 – Distances minim ales pou r cartes de circu its imprimés m ulti cou ch es
Di stan ce Ni veau de protecti on "m a" Ni veau d e protecti on "mb" Ni veau de protecti on "m c"
a 3 mm 0, 5 m m 0, 25 m m
b 3 mm 3 mm 1 mm
c 3 mm 1 mm 0, 5 m m
d 0, 1 m m , voi r 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , voi r 7. 2. 4. 3 0, 1 m m , voi r 7. 2. 4. 3
e Sel on l e Tabl eau 1 Sel on l e Tabl eau 1 Sel on l e Tabl eau 1
où
a est l a di stan ce entre l a parti e sou s tensi on et l a su rface extern e par l a couche de ferm etu re;
b est l a di stan ce en tre l a parti e sous ten si on et l a surface extern e l e l on g de l a couche de ferm etu re;
c est l a l on g ueu r d e l a parti e m étal l i que ou d e l 'i sol em ent sur l a su rface de l a carte à parti r d u bord ou du trou;
d est l 'épai sseu r du fi l m adh ési f ou du cœu r où l a séparati on est nécessai re;
e est l a di stan ce en tre deu x ci rcu i ts à l 'i ntéri eu r d u m ul ti couche où l a séparati on est n écessai re.
Lég ende
cœu r et cou ch e d e ferm etu re
fi l m adhési f
cui vre
1 Contact traversan t de term i nai son
2 Contact traversan t pou r con n ecter l es con d ucteu rs i m pri m és su r des cou ch es di fféren tes
Fig u re 2 – Distances minimal es pou r les cartes de ci rcuits imprimés m ulti cou ch es
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7.5 Contacts de commutation
Les con tacts de com m u tation doi ven t être m un is d’u n e en veloppe su pplém entaire.
NOTE I n trodu i re l e com posé dan s l ' en vel oppe des con tacts de com m u tati on au cou rs du processu s
d’encapsu l ag e peut pertu rber l e foncti on nem en t d u di sposi ti f.
7.5.2 Niveau de protection "ma"

Cette en vel oppe supplém entaire doit satisfaire aux exi gences appl icables au x dispositifs he r-
m étiqu em ent scel l és tell es qu e défin ies dans l’I EC 60079-1 5, avan t encapsu lag e.
NOTE Les détéri orati ons occasi onn ées à l 'en vel oppe h erm éti qu em en t scel l ée en rai son des contrai ntes, l ors du
rem pl i ssag e, peu ven t dég rader l e m ode de protecti on d u di sposi ti f.
Les caractéristiqu es assign ées des con tacts de com m u tation doi ven t être i nférieu res ou
ég al es à 60 V et 6 A. L’en vel oppe su ppl ém en taire doit être constituée d 'u n m atéri au i norg a-
n iqu e si l e couran t com m uté dépasse 2/3 du couran t assig n é spécifié par le constructeur du
com posan t.
7.5.3 Niveau de protection "mb"

L'en veloppe su ppl ém en taire doi t être consti tu ée d’un m atéri au i norg an iqu e si le cou ran t
com m uté dépasse 2/3 du cou rant assi g né spécifi é par le constru cteu r du com posan t ou si l e
cou rant dépasse 6 A.
7.5.4 Niveau de protection "mc"

Cette en vel oppe supplém entaire doit être consti tu ée d’u n m atéri au i n org an ique si l e courant
com m u té dépasse 6 A.
7.6 Connexions externes

Dans le cas où les com posés son t u til isés pour fi xer u n câbl e de façon perm anente, le câbl e
doi t être protégé con ven ablem en t contre les dégradati ons provoqu ées par la flexi on et l'essai
de tracti on doit être réali sé selon 8. 2. 5.
Cet essai ne doi t pas être réalisé su r des com posan ts Ex ou l orsqu e l ’ en veloppe du dispositif
protég é « m » ne sert pas d’en vel oppe extern e.
7.6.2 Exig ences supplémentaires pour le matériel "ma"

Le m atéri el « m a» Ex doit soi t être al im enté par u n circui t sel on l e n i veau de protection « ia»
conform e à l ’I EC 60079-1 1 soi t avoir u n e conn exion qu i satisfai t à l ’un e des exig ences su i-
van tes:
• pour l 'EPL G a, l es exi gen ces de l ’I EC 60079-26;
• pour l 'EPL Da, le ni veau de protection "ta" de l ’I EC 60079-31 .
7.7 Protection des parties actives nues
En foncti on de l’EPL requ is, les parties acti ves n ues q u i dépassent de l a su rface du com posé
doi vent être protégées par un au tre m ode de protection com m e cela est i n diqu é dans
l ’I EC 60079-0 pour l'EPL requ is.
NOTE Dan s ce cas, l e m atéri el est m arqu é avec pl usi eurs m odes d e protecti on conform ém ent à l ’ I EC 60079-0.
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7.8 Piles et accumulateurs
Lors de l’évalu ati on des dispositifs de con trôle des accu m u lateurs par rapport au dég agem en t
poten tiel de g az, la total i té de l a pl ag e de tem pératures de foncti onn em en t, la résistance i n-
tern e et l a tension m axim ale pou van t être dél ivrée doivent être prises en com pte. I l doit être
supposé qu e les accum u lateurs peu ven t se déséqu i l ibrer, m ais i l n ’est pas nécessaire de
pren dre en com pte leurs élém en ts de résistance ou de tension n égl i g eabl e.
Le Paragraph e 7. 8 s’appl i qu e à tou s les ni veaux de protection , sauf excl usion spécifi qu e.
Pour l e n i veau de protection "m a", les pi les et accum ul ateurs doi ven t de plu s satisfaire au x
exig ences pour pi les et accum u lateurs de l’ I EC 60079-1 1 , l'assou plissem ent adm is dans
l’I EC 60079-1 1 perm ettant la con n exion de pi les m ontées en paral lèl e n ’étant tou tefois pas
au torisé dans l e m atériel protég é u n iqu em ent par encapsu l age.
7.8.2 Prévention des dégagements g azeux

Les systèm es él ectrochi m iqu es pou van t dég ag er du g az pen d an t le fonctionn em en t norm al n e
son t pas autorisés. Si pour l es n i veaux de protection "m a" et "m b", i l n'est pas possi ble d'em -
pêch er l e dég ag em en t du gaz en cas de défau t, i l doit être rédu it au m axi m um au m oyen d'u n
dispositif de contrôle sel on 7. 8. 8. Dans l e cas d'élém en ts d'accu m u lateurs, l e disposi tif de
con trôl e doi t être efficace n on seu lem ent pen dan t l a charg e, m ais ég alem en t pen dant l a dé-
charg e. Cel a s'appl iqu e égalem en t à la ch arg e à l'extérieur de l a zon e dan g ereuse.
En particul i er,
a) des batteries ou vertes n e doiven t pas être u ti lisées,
b) des batteries étanch es à "sou pape de régu l ation " ne doi ven t pas être u ti lisées,
c) des batteries étan ch es au g az qu i n e dégag en t pas de gaz en con ditions de fonction n e-
m ent ou de défaut dans l a pl ag e des tem pératures am bi an tes du m atéri el électriqu e peu-
ven t être u ti lisées sans disposi tif de contrôle, sel on 7. 8. 8.
Les batteri es étanches au g az n e satisfaisan t pas aux exig ences de 7. 8. 2 c) doiven t avoir u n
dispositif de con trôl e selon 7. 8. 8.
7.8.3 Protection contre les températures excessives et contre la détérioration des

piles et accumulateurs
La tem pératu re m axim ale de service des pil es et accum u lateu rs dans l e cas de ch arg e l e plu s
défavorable (voir 7. 8. 5) n e doit pas dépasser la tem pérature spécifi ée par l e constructeu r des
piles ou des accum ul ateurs, n i 80 °C si n on spécifiée par le constructeu r, et le couran t de
charg e et de déch arge n e doi t pas dépasser la val eu r de sécuri té spécifi ée par l e constructeu r
grâce à l'un des m oyens su i vants:
a) les piles ou accum u lateu rs doi ven t être pourvus d'un ou de plu si eu rs disposi tifs de con-
trôl e décrits en 7. 8. 8 afi n de préven ir tou t éch au ffem ent ou dég ag em ent de g az in accep-
table dans l e com posé,
b) les pi l es ou accu m u lateu rs doivent être pourvus d'u n e résistance en séri e pour l im iter l e
courant aux caractéristi ques assig n ées des pi les et d'un e di ode de blocag e pou r exclu re
un e ch arg e in versée.
Dans les deux cas, l es exig ences de 7. 8. 4 à 7. 8. 7 s'appli qu en t selon le cas.
7.8.4 Courant inverse

Pour l es ni veaux de protecti on "m a" et "m b" et quan d il y existe u ne autre source de tension
dans la m êm e en veloppe, l a pile ou l’accum ul ateu r encapsul é(e) et ses circu its associ és doi-
ven t être protég és contre l a ch arg e par des circu its autres qu e ceux spécifi quem en t con çus
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pour l a charg e. Par exem ple, en séparant la pile ou l ’accum ul ateur et ses circui ts associ és de
toute au tre source de ten si on à l ’i ntérieur de l ’en veloppe, en u ti lisant l es di stances spécifi ées
au Tableau 1 pour l a ten sion l a pl us élevée capable de provoqu er un couran t in verse. En va-
ri an te, la pil e ou l ’accum u lateur peu t être séparé(e) d’u ne autre source de tension en u ti l isant
seu lem en t les distances spécifiées dans le Tabl eau 1 , m ais avec u n e di ode de blocag e pour
le n iveau de protection "m b", ou deux di odes de blocag e pou r l e n i veau de protection "m a",
placées com m e le m on tre l a Fig ure 3, et disposées de sorte à rédui re le risqu e d'u n défaut
en traînan t seu l le court-circui t des deux diodes.
+Ve –Ve
IEC
NOTE La fi g u re d écri t u ne con fi g u rati on pou r l e n i veau de protecti on "m a".
Figure 3 – Mise en place de diodes de blocage
7.8.5 Limitation de courant

La tem pérature m axim al e de surface doit être déterm i née au m oyen du courant de déch arg e
le pl us él evé autorisé sous la charg e m axim al e spécifiée par le constructeu r du m atéri el ou
par l e dispositif de protecti on, voir 7. 9, par exem ple 1 , 7 fois les caractéristiques assi g n ées du
fusi ble ou en court-circu it si ne son t spécifiés n i ch arg e n i disposi tif de protecti on.
Le courant m axim al de déch arg e spécifi é par l e constructeu r des pi les ou de l’accum u lateu r
peu t être l im ité par u n e résistance, par u n dispositif de lim itation de cou ran t ou par u n fusi bl e,
conform ém ent à l ’I EC 601 27, à l’I EC 60691 ou à l a séri e AN SI /U L 248. Si des fusibl es rem -
plaçables sont u ti l isés, l e m atériel doit être m arqu é afi n d'in di qu er l eu rs caractéristiques ass i-
g n ées, ai nsi que leur fon cti on.
NOTE La véri fi cati on de l a conform i té de l a rési stan ce, d u di sposi ti f de l i m i tati on d e cou ran t ou d'u n fu si bl e à l a
spéci fi cati on d u constructeu r n’ est pas u n e exi g en ce de l a présen te N orm e.
7.8.6 Protection contre l’inversion de polarité et les décharges sévères des piles et
accumulateurs
Pou r les n iveaux de protection "m a" et "m b", en cas d'u til isati on de pl us de 3 él ém ents en
série, l a tension de l'élém ent doi t être su rveil l ée. Lors de la décharg e, si l a tension descen d
en dessou s de l a valeur lim ite de la tension de l’él ém en t spécifi ée par l e constructeur des
pil es ou de l’accum ul ateur, le dispositif de con trôl e doit décon necter la pile ou l ’accum u lateur.
Pou r le niveau de protection "m c", si plus de trois élém en ts son t con nectés en série, des pré-
cau tions doiven t être prises pour préveni r un e ch arge par in version de pol arité de l ’élém en t.
NOTE 1 Si pl u si eu rs él ém ents sont rel i és en séri e, i l est possi bl e que l es él ém en ts chang ent de pol ari té pen dan t
l a déch arg e par su i te d es di fférentes capaci tés des él ém en ts d'u n accum u l ateu r. Ces él ém ents "à pôl e i n versé"
peu ven t provoq uer u n dég ag em en t g azeu x i nacceptabl e.
Lorsqu'un circu i t de protecti on con tre les décharges sévères est u ti l isé pour em pêch er u n e
charg e par i n versi on de polarité d es élém ents, la tensi on d'arrêt m i nim ale doit être cel l e qu i
est spécifi ée par le con structeur de la pi l e ou de l’accu m ul ateur. Après déconn exi on de la
charg e, l e courant ne doi t pas être su périeur à la capacité de déch arg e do nn ée pour 1 000 h
de fonction n em ent.
NOTE 2 Cette protecti on est souven t uti l i sée pou r em pêch er l es pi l es et accu m ul ateurs de passer à u n état de
"déch arg e sévère". Si l ' on ten te de su rvei l l er trop d’él ém en ts rel i és en séri e, l e foncti on n em ent de l a protecti on
n'est pl u s en ti èrem ent fi abl e d u fai t des tol érances des ten si on s des él ém en ts i ndi vi du el s et du ci rcu i t d e protec-
ti on. G énéral em en t, l a su rvei l l ance d e pl u s d e si x él ém en ts (rel i és en séri e) par u ne seul e un i té de protecti on n' est
pas effi cace.
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7.8.7 Charg e des piles et accumulateurs
7.8.7.1 Niveaux de protection "ma" et "mb"
Les circu its de ch arg e doi vent être enti èrem ent spécifiés en tan t qu e parti e du m atériel. Le
systèm e de charg e doi t avoir l es caractéristi qu es su i vantes:
a) dans le cas d'u ne con dition de défau t du systèm e de ch arge, l a tensi on et le cou rant de
charg e n e doi vent pas dépasser les lim ites spécifiées par le constructeur;
ou
b) si, l ors de l a charg e, l es valeu rs l im ites spécifi ées par le constructeu r de l a pi le ou de
l ’accum u lateu r pou r la tensi on d'él ém en t ou le courant de ch arg e risqu ent d’être dépas-
sées, u n dispositif de protection séparé selon 7. 9 doit être prévu afi n de rédu ire au m axi-
m um l’éventu al ité d’u n dég ag em ent gazeu x et éviter ég al em ent de dépasser au cours de
l a charg e l a tem pérature m axim ale assig née de l ’él ém ent spécifiée par le constructeu r.
7.8.7.2 Niveau de protection "mc"
Le systèm e de ch arg e doit être tel qu ’en foncti onn em en t n orm al , l a tensi on et le cou rant de
charg e ne dépassent pas les l im ites spécifiées par le constructeu r sur la base de l a plage de
tem pératures spécifi ée du m atéri el. Si les pi les et accum u lateurs qui fon t partie intég ran te du
m atériel électri qu e son t à charg er dans l a zon e dan g ereuse, le ch arg eur doit être spécifié en
total i té com m e faisan t parti e de l a concepti on du m atériel . Si l es pi les et accum u lateurs qu i
font partie i ntégrante du m atériel él ectri qu e ou qu i peu ven t être séparés du m atériel sont
charg és en deh ors de l a zon e dan g ereu se, l a ch arge doit être dans l es lim ites spécifiées par
le constructeu r du m atériel.
7.8.8 Exig ences pour les dispositifs de contrôle de sécu rité des piles ou
accumulateu rs
Qu an d i ls son t requ is, les dispositifs de contrôle doivent constitu er l es parti es rel ati ves à l a
sécurité d’u n systèm e de contrôle. Le constructeu r doit fourn ir tou tes l es inform ations n éces-
saires pou r m ain ten ir l’i ntégri té du systèm e.
NOTE Les parti es rel ati ves à l a sécu ri té respectan t l es exi g en ces du PL c d e l ’I SO 1 3849-1 "Sécu ri té des m a-
ch i nes – Parti es des systèm es de com m an de rel ati ves à l a sécuri té – Parti e 1 : Pri n ci pes g én érau x d e concepti on",
son t conform es au présen t parag raphe.
7.9 Dispositifs de protection

S’il est fait appel à un disposi tif de protection pou r l im iter la tem pérature m axim al e de surface
lorsqu e l e m atéri el "m " est soum is à u n seul défaut pou r l e n iveau de protecti on "m b" ou à
deux défauts pour le n i veau de protecti on "m a", l e dispositif de protecti on doit être prévu soit
à l'extéri eu r du m atériel, soit in tég ré à cel u i -ci . Les dispositifs de protection pou r le ni veau de
protecti on "m a" doi ven t être n on réarm abl es. Les dispositifs de protecti on therm i qu e pou r le
n i veau de protecti on "m b" peu vent être réarm ables.
Le dispositif de protecti on doit être capabl e d’in terrom pre le cou rant m axim al de défau t du
circu it dans l equel i l est i nstal lé. La tension assi g née du dispositif de protecti on doit au m oins
correspondre à la tension de service du circu i t dans lequ el il est instal l é.
Qu an d le m atériel "m " contien t u n e pi le ou u n accum ul ateur et qu ’u n dispositif de con trôl e est
présent afin d’éviter u ne su rch auffe excessi ve (voir 7. 8. 5) , ce dispositif de con trôl e peu t aussi
être consi déré com m e u n dispositif de protection, pour autan t qu ’i l protèg e aussi tou s les
au tres com posan ts à l’i n téri eu r du m êm e com posé con tre le dépassem en t de la tem pérature
m axim ale de surface.
NOTE 1 Le but d es di sposi ti fs de protecti on est l a protecti on con tre l es défau ts et l es su rcharg es i m prévu es qu i
provoqu en t u n e su rch au ffe et/ou des dég radati on s perm anen tes ou com prom ettent l a durée de vi e opérati on n el l e
du m atéri el . Qu and des di sposi ti fs réarm abl es son t u ti l i sés, l es i nstructi ons com pren n en t des i n form ati ons desti -
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nées à g ui d er l ’u ti l i sateu r dan s son souh ai t de réarm er l es di sposi ti fs. Ces i n structi on s pren n en t en com pte l es
con di ti ons extern es de foncti on nem en t d ans l esqu el l es ces di sposi ti fs peuven t être réarm és et aussi toute su rvei l -
l an ce ul téri eu re q u i est sou hai tabl e.
NOTE 2 Qu ’i l s soi en t réarm abl es autom ati quem ent ou m an u el l em ent, l es di sposi ti fs son t con si dérés dan s l e
cadre de l a présente N orm e, com m e étant des di sposi ti fs réarm abl es.
Pour l e n i veau de protection "m a", si l e dispositif de protecti on n on réarm able est conform e à
la série I EC 601 27 ou à l ’I EC 60691 ou à l a séri e AN SI /U L 248-1 , u n seu l dispositif est né-
cessaire. Cela s'appli qu e aux spécificati ons de 7. 9. 2 et 7. 9. 3.
NOTE 3 La véri fi cati on de l a conform i té du di sposi ti f de protecti on non réarm abl e à l a spéci fi cati on du constru c-
teu r n ’est pas u ne exi g en ce de l a présente N orm e.
NOTE 4 L’AN SI /U L 248-1 com prend l es exi g en ces g én éral es de sécu ri té appl i cabl es au x fu si bl es basse tensi on,
y com pri s l es exi g ences pou r établ i r l es val eu rs assi g nées de pou voi r d e ru ptu re ou de cou pu re. Les autres parti es
de l a séri e AN SI /UL 248 fourn i ssen t d’ au tres exi g en ces d e sécuri té spéci fi qu es basées su r l ’appl i cati on prévue du
fusi bl e, com m e l ’ANSI /U L 248-1 4 pour l es fusi bl es basse tensi on suppl ém en tai res.
7. 9. 2 Di sposi tifs d e protection él ectriq u e
7. 9. 2.1 G én éralités
La tension assi g née des dispositifs de protecti on ne doi t pas être inférieure à cel l e du circu i t
dans lequel ils sont i nstallés et leur pou voir de coupure n e doit pas être in féri eu r au cou ran t
de défau t du circui t.
Sau f spécification contraire, u n fusibl e doit être supposé pou voir su pporter en perm an ence
1 , 7 fois le courant assig né. La caractéristiqu e couran t-tem ps du fusi ble in diqu ée par l e con s-
tructeur du fusible doit assurer qu e la tem pérature m axim ale de surface n 'est pas dépassée.
Pou r les dispositifs de protecti on électri qu e, deux dispositifs n orm al em ent reliés en série sont
exig és pou r le ni veau de protecti on "m a" et u n seu l dispositif est exi g é pour le n iveau de pro-
tection "m b". Pou r le n iveau de protection "m a", si les deux dispositifs ne son t pas reliés en
série, l'acti vation d'un des deux disposi tifs doit m ettre hors tensi on l'en sem ble des circu its
cou verts par l a protecti on. Les deux dispositifs pour l e n i veau de pro tection "m a" doi vent être
du m êm e type (m ais pas n écessairem ent fabri qu és par le m êm e constructeur n i porteurs du
m êm e n um éro de pièce) , afin de fou rn ir u n e dou bl e protecti on .
Aucu n dispositif de protecti on électri qu e n ’est n écessaire pour l e n i veau de protecti on "m c".
NOTE Dan s l e cas d e réseau x d'al i m entati on él ectri qu e où l a ten si on assi g n ée ne dépasse pas 250 V, l e courant
de cou rt-ci rcui t présum é est g énéral em ent d e 1 500 A.
7. 9. 2.2 Di sposi tifs d e protection q u i sont conn ectés à u n m atéri el "m "
Si le dispositif de protecti on est extern e au m atéri el "m ", i l doi t être consi déré com m e un m a-
téri el n écessaire à l a sécuri té du m atériel "m " sel on 7. 9. 2. Cette condi tion particu l ière
d’u til isati on doit fig urer sur le certificat et l e m atéri el doit être m arqu é con form ém ent aux exi-
gences de m arqu ag e de l ’I EC 60079-0, pou r i ndi quer cette con diti on particu lière d’util isation.
L’u tilisati on d’u n dispositif de protecti on extern e et sa con n exion à u n m atériel "m " requ i ert
qu e le dispositif soi t com patibl e avec "m a", "m b" ou "m c", sel on le cas appli cabl e.
NOTE Ne pas uti l i ser un tel d i sposi ti f com m e i l convi ent peu t condui re à l a perte d u n i veau de protecti on. Quan d
un di sposi ti f de protecti on externe est uti l i sé pou r m ai n teni r l ’ appl i cati on correcte d e l a tensi on, du cou ran t ou d e l a
pu i ssance au m atéri el d u n i veau d e protecti on "m a", l ’apti tu de à l a foncti on du d i sposi ti f d e protecti on extern e ou
du ci rcui t de protecti on reste d e sécuri té avec u n d éfaut pri s en com pte. Les ni veau x perm i s de ten si on, d e couran t
et de pu i ssan ce sont d éterm i n és par l es caractéri sti qu es therm i ques du m atéri el "m ".
7. 9. 3 Di sposi ti fs d e protecti on th ermi q u e
Les dispositifs de protecti on th erm iqu e doivent être uti l isés pour protég er l e com posé con tre
toute détéri orati on provenan t d’un éch auffem ent l ocal , par exem ple de com posan ts défec-
tu eux ou con tre tout dépassem en t de la tem pérature m axim ale de su rface.
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Les dispositifs de protecti on th erm ique n on réarm abl es n e peu ven t pas être réarm és et ils
provoqu ent l’ou verture perm an en te d’u n circu it lorsqu 'ils on t été exposés à un e tem pératu re
supéri eure à l eur tem pérature de fonction nem en t pen dan t u ne du rée m axim al e don n ée. U n
con tact therm ique approprié doi t être réal isé entre l e com posant su rvei l lé et l e dispositif de
protection therm i qu e. La capacité de com m u tation du disposi tif doi t être défin i e et el le ne doit
pas être i nféri eure à la charg e m axim ale possible du circu it.
Si des dispositifs de protection th erm iqu e réarm ables son t u ti lisés, deux dispositifs n orm al e-
m ent rel iés en série son t exi gés pour le n i veau de protecti on "m b" et un dispositif est exi g é
pour le n iveau de protecti on "m c". Pour le ni veau de protection "m b", si l es deux disposi tifs de
protection therm iqu e réarm abl es ne sont pas reliés en séri e, l'acti vati on d'un des deu x d ispo-
sitifs doit m ettre hors ten si on l'ensem ble des circu its cou verts par la protecti on. Les deux di s-
posi tifs pour le n iveau de protecti on "m b" doi ven t être du m êm e type (m ais pas n écessaire-
m ent fabriqu és par le m êm e constructeur n i porteurs du m êm e n um éro de pi èce) , afin de
fournir un e double protection.
Les dispositifs de protecti on therm i qu e réarm abl es ayan t des contacts de com m utati on n e
doivent pas fonction ner à pl us de 2/3 de leur couran t assi g né spécifi é par le constructeur du
dispositif.
Les dispositifs de protection therm iqu e réarm ables ayan t des contacts de com m utati on doi-
ven t être conform es à l ’ I EC 60730-2-9, ou bien i l s doi ven t être soum is à essai selon 8. 2. 7. 1 .
Les disposi tifs de protection th erm iqu e réarm abl es sans contact de com m utati on doi ven t être
conform es à l’I EC 60738-1 , ou bien i ls doi vent être soum is à essai sel on 8. 2. 7. 2.
NOTE 1 Sou ven t pour des rai sons fon cti on nel l es, des di sposi ti fs réarm abl es su ppl ém entai res autres que l es
di sposi ti fs de protecti on therm i qu e don t trai te cet arti cl e son t u ti l i sés. Ces di sposi ti fs fon cti on n en t g én éral em en t à
des tem pératures i n féri eu res à l a tem pératu re de foncti on n em en t du di sposi ti f d e protecti on therm i qu e.
NOTE 2 La véri fi cati on de l a con form i té du di sposi ti f de protecti on th erm i qu e réarm abl e à l a spéci fi cati on d u
constru cteu r n’ est pas un e exi g en ce de l a présen te N orm e.
7.9.4 Dispositifs de protection incorporés

Les dispositifs de protecti on i ncorporés dans l e m atériel "m " doi ven t être de type enrobé, afi n
d'em pêch er l'in trodu ction de com posé pen dan t l e processus d'encapsu lag e.
L'adéqu ati on du dispositi f de protection pour encapsu lage doit être confirm ée par:
a) un e docu m entation du constructeu r du dispositif;
ou
b) des essais d'éch an till ons selon 8. 2. 8.
NOTE Les di sposi ti fs en verre, en pl asti q u e, en céram i q ue ou scel l és d’u n e au tre m an i ère sont con si dérés
com m e en robés.
8 Essais de type
8.1 Essais sur le composé
8.1 .1 Essai d’absorption d’eau
Si cela est exi g é par 5. 3. 1 , l'essai doit être effectu é sur des éch an til lons du ou des com posés
uti l isés avec le m atériel "m ". Trois éch an ti ll ons secs du ou des com posés doi vent être soum is
à l’essai . Les éch anti l lon s doi ven t être des disqu es d’u n di am ètre de 50 m m ± 1 m m et d’u n e
épaisseu r de 3 m m ± 0, 2 m m . Les éch an til l ons doi vent être pesés, pu is pl on g és pendant au
+2
m oins 24 h dans de l'eau à u ne tem pérature de 23 °C 0 K. Ensu ite, ils doiven t être sortis de
l'eau , essu yés, pu is repesés en l'espace de 1 m i nu te. L'au gm en tati on de m asse n e doi t pas
dépasser 1 %.
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I l n’est pas nécessai re d’util iser de l ’eau disti llée pou r cet essai.
8.1 .2 Essai de rigidité diélectrique

L'éch anti l lon doit être u n disqu e d ’u n diam ètre de 50 m m ± 1 m m et d’un e épaisseur de
3 m m ± 0, 2 m m . L’éch an ti ll on doit être pl acé sym étri qu em en t en tre des électrodes de di a-
m ètre 30 m m ± 1 m m , dans u ne ch am bre à atm osph ère contrôl ée rég lée pour attei n dre la
tem pératu re m axim al e de service du com posé.
Un e tensi on de 4 kV eff. +50 %et de fréqu ence entre 48 H z et 62 H z doit être appli qu ée pen-
dan t au m oi ns 5 m in. Aucun arc ou claqu ag e n e doit surven ir pen dan t l’essai.
8.2 Essais du matériel

8.2.1 Séquence d’essai
La séqu ence d’essai et l e n om bre d’éch an til lons son t don n és dans l’ An nexe B.
8.2.2 Température maximale

Un éch an ti ll on du m atéri el "m " doi t être sou m is à u n essai de type pour s’assurer qu e:
a) l es l im ites de tem pératu re spécifiées en 6. 1 n e son t pas dépassées en foncti onn em en t
norm al;
b) pour l es niveau x de protecti on "m a" et "m b", la tem pérature m axim ale de surface n ’est pas
dépassée dans des con di ti ons de défau t com m e défi n i en 7. 2. 1 .
Dans l e cas du m atéri el "m " sans ch arge extern e, l'essai doit être effectu é sel on les m esu-
rag es de tem pérature de l’ I EC 60079-0 en tenant com pte des con ditions d'al im en tati on in d i-
qu ées en 4. 4.
Pour l e m atéri el "m " avec un e ch arge extern e, l’essai doi t être réal isé pou r les n i veaux de
protecti on "m a" et "m b" en aj u stan t le couran t à l a val eu r l a plus élevée qu i n e provoqu e pas
l e fonction n em ent du dispositif de protection , et pour le n iveau de protection "m c" aux para-
m ètres de ch arg e spécifiés en foncti on nem en t norm al et dans le cas des occurrences rég u l i è-
rem ent prévisibles.
Pour l e m atéri el de n i veau de protection "m a", conçu pou r l 'EPL "Da", l a tem pératu re m axi-
m ale de surface doit être déterm in ée avec l e m atériel m onté conform ém en t aux i nstructions
du constructeur et en touré sur tou te la surface dispon i ble par u ne cou ch e de poussi ère d'u n e
épaisseur d'au m oins 200 m m . La tem pérature fi nale doi t être consi dérée avoir été attei nte
qu and la vitesse d’éch au ffem ent n e dépasse pas 1 K/24 h .
NOTE Des essai s, des si m ul ati on s ou des an al yses son t parfoi s uti l i sés afi n d’obteni r l es l i m i tes exi g ées de tem -
pératu re dans l es con di ti on s de dysfoncti onn em ent pou r l e m atéri el ayant des caractéri sti qu es tel l es qu e d es
charg es externes n on l i n éai res, un e com m ande d e pu i ssan ce d’en trée ou d es m odes de défai l l an ce di ffi ci l es à
défi n i r.
8.2.3 Essai d’endu rance th ermiqu e

8.2.3.1 Endurance thermique à la chaleur
8.2.3.1 .1 Niveaux de protection "ma" et "mb"
L’essai doit être effectu é conform ém ent à l’ I EC 60079-0. La tem pérature à uti l iser com m e
tem pérature de service de référence pour l'essai doit être:
a) la tem pératu re m axim ale de surface de l'éch an til l on d'essai en foncti onn em en t n orm al
plu s 20 K;
ou
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b) l a tem pérature m axim ale à la surface du com posan t dans l e com posé en foncti onn em en t
norm al, voir 6. 2. 2.
8.2.3.1 .2 Niveau de protection "mc"
L’essai doi t être effectu é conform ém ent à l ’ I EC 60079-0.
La tem pératu re à uti l iser com m e tem pérature de service de référence pou r l 'essai doi t être l a
tem pérature m axim al e de surface en fonction nem ent n orm al, voir 6. 2. 1 .
8.2.3.2 Endurance thermique au froid

L’essai doit être effectu é conform ém ent à l’ I EC 60079-0.
8.2.3.3 Critères d’acceptation

Après chaqu e essai , l'échan til l on doit être soum is à un e i nspection visu el le. Aucu n e détériora-
tion du com posé susceptible de dégrader l e m ode de protecti on , tel le que fissures dans l e
com posé, expositi on de com posan ts encapsu lés, défau t d'adh érence, rétrein t in acceptable,
décoloration , bou rsouflure, décom position ou ram oll issem ent, n e doit être visibl e. U ne décol o-
rati on de la surface du com posé est tolérée (par exem ple, oxydation dans l e cas de l a rési n e
époxy) .
De plus, l e m ai nti en de l a fonction nal i té de tou t disposi tif de protection électri que don t la s é-
curité dépend, autre que l es fusibles th erm iques, doi t être vérifié.
8.2.4 Essai de rigidité diélectrique

L'essai doit être effectué su r u ne des disposi tions su i vantes des circu its selon le cas:
a) en tre l es circu its isol és g al van iqu em ent;
b) en tre chaqu e circui t et toutes les parties m ises à l a terre;
c) en tre ch aque circu it et la surface du com posé ou de l’en vel oppe non m étall iqu e, pou vant
si n écessaire être revêtu e d’u n e feu i lle con ductrice.
Dans l e cas de la disposition a) , la tension U à u ti l iser doi t être l a som m e des tensions assi-
gn ées des deu x circu i ts en essai , et, pour les disposi tions b) et c) , il doit s’ag ir de l a tensi on
assig n ée du ci rcu i t en essai.
Dans le cas de l a dispositi on b) , les circu its qui con tien nen t des com posants supprim ant les
transitoires con n ectés entre l e circu it et les parti es m ises à la terre, un éch anti l lon d'essai
spéci al sans ces com posan ts doit être au torisé pour l ’essai de type.
La rig i dité diélectriqu e doit être vérifiée par un essai:

• soit com m e in diqu é dans un e n orm e i n dustriel le applicabl e pour les articles in dividu els de
m atériel él ectri qu e, ou
• à la tensi on d'essai sel on le poi nt 1 ) ou 2) ci -dessous, et augm en tée prog ressi vem ent
dans u n tem ps non i nféri eur à 1 0 s ju squ 'à ce qu 'ell e atteig n e la valeu r requ ise à l aqu el l e
ell e doit être m ain ten ue pen dan t au m oins 60 s sans claqu ag e diélectriqu e.
1 ) Pou r l e m atériel don t la tension U n e dépasse pas 90 V crête, la tension d'essai doi t être
de 500 V eff. ( +50 %) de 48 H z à 62 H z. En vari ante, la tensi on d’essai doit être de 700 V
en courant contin u ( +50 %) .
2) Pour l e m atéri el dont l a tension U dépasse 90 V crête, la tensi on d’essai doit être
2 U + 1 000 V eff. ( +50 %) , avec un m in im um de 1 500 V eff. de 48 H z à 62 H z. En vari ante,
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l a tension d’essai doit être 2 U + 1 400 V en couran t con tinu ( +50 %) avec u n m inim um de
2 1 00 V en cou rant con ti nu .
La tension d'essai doi t être au gm en tée progressi vem ent d ans un tem ps n on i nféri eur à 1 0 s
jusqu 'à ce qu'elle attei g ne l a val eur requ ise à l aqu elle elle doi t être m ai nten u e pendant au
m oins 60 s.
NOTE 1 Dans l e cas d’u n m atéri el q ui , pou r des rai son s de com pati bi l i té él ectrom ag n éti qu e, conti ent des com po-
san ts rel i és à l 'en vel oppe pou r l a su ppressi on d’i n terféren ces et qu i ri squ e d'être en d om m ag é pen d an t l es essai s,
un essai d e déch arg e parti el l e est parfoi s effectu é en rem pl acem en t.
NOTE 2 Si l e ci rcu i t en essai n ’est pas accessi bl e de l ' extéri eu r, i l est possi bl e de préparer u n éch anti l l on d’ essai
spéci fi qu e avec des con nexi on s su ppl ém en tai res.

L'essai doit être répu té avoir réussi s'i l ne se produ it n i cl aqu age n i arc électriqu e pen dant
son exécuti on.
NOTE Général em ent, l e cou ran t qu i ci rcu l e au cou rs de l ' essai n e d épasse pas 5 m A eff.
8.2.5 Essai de traction de câble

L’essai doit être réalisé sur u n éch anti ll on n on préalablem ent sol l icité et à 21 °C ± 2 °C.
Un au tre éch antil lon d’essai doi t être soum is à l ’essai de traction de câble après u n cond i-
ti onn em en t selon 8. 2. 3. 1 et à la tem pérature m axi m ale au poin t d’en trée du câble.
La force de traction appl iqu ée (exprim ée en N ewton) doi t être soit 20 fois l a val eur (exprim ée
en m il l im ètres) du di am ètre du câble, soit 5 fois la m asse (exprim ée en kg) du m atéri el "m ", la
valeur l a plus basse prévalant. Cette valeu r peut être rédu i te à 25 % de l a valeur exig ée dans
le cas d’u ne i nstallati on perm an en te. La force de tracti on m in im ale doi t être de 1 N et la durée
m inim al e doit être de 1 h. La force doit être appl iquée dans l a direction l a pl us défavorable.

Après l 'essai, l'éch anti llon doit être sou m is à u ne i nspection visu el le. Aucun déplacem ent vi-
si ble du câbl e affectant le m ode de protection n e doit être visi bl e. Aucu ne dég radation du
com posé ou du câbl e su sceptibl e de rédu ire le m ode de protecti on, tel le que fissures du com -
posé, exposition des com posants encapsu l és ou défau t d'adh érence, n e doit être visi ble.
8.2.6 Essai de pression pour le matériel électrique du Groupe I et du Groupe II

Pou r l e n i veau de protecti on "m a" ayan t des espaces l ibres in di vidu els com pris entre 1 cm 3 et
1 0 cm 3 et pou r l e ni veau de protection "m b" ayan t des espaces l i bres indi vi du els entre 1 0 cm 3
et 1 00 cm 3 , deu x éch an ti ll ons d’essai doi ven t être préparés avec u n orifice de m ise sous
pressi on. Lorsqu 'il y a pl us d'u n espace libre d ’u ne tai lle exi geant l’essai, l 'essai de pressi on
doi t être effectu é sim u ltaném en t dans tous ces espaces l i bres.
L’essai de pression doi t être réal isé su r des éch antil lons qu i ont déj à été sou m is à des essais
d’en durance th erm iqu e (voir 8. 2. 3) .
L’essai doit être effectu é avec u n e pressi on tell e qu e don n ée au Tabl eau 6 et appl iqu ée pen-
dan t au m oins 1 0 s.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 65 –
 I EC 201 7
Tableau 6 – Essai de pression
Température ambiante minimale Pression d’essai
°C kPa
≥ –20 (a) 1 000
≥ -30 1 370
≥ -40 1 450
≥ -50 1 530
≥ -60 1 620
a) Ceci couvre l e m atéri el con çu pou r l a pl ag e de tem pératures am bi an tes n orm al i sées spéci fi ée dan s
l ’I EC 60079-0.
En variante, pour l e m atériel "m b", si le com posan t avec un espace l ibre j usqu ’à 1 00 cm 3 ,
avan t encapsu lag e, satisfait à l'essai d'étanchéi té sur les disposi tifs scell és, com m e cel a est
spécifié dans l ’I EC 60079-1 5 (sans essai de con diti onn em en t, de tensi on ou de rig idité di él ec-
tri que) , l e com posant peut être encapsu l é sans exi ger u n essai de pression.

Après les essais, les éch an ti llons doi vent être sou m is à un e i nspection visu ell e. Aucu n e dété-
rioration du com posé (tel l e que fissures dans le com posé, expositi on de com posan ts encap-
su lés ou défaut d’adhérence) suscepti bl e de dégrader le m ode de protection ne doi t être vi-
si bl e. Dans le cas de con stru ctions pou r lesqu el les i l est adm is qu ’il n’ y ai t pas d’épaisseu r de
com posé en tre u n espace l ibre et u n e paroi d’en veloppe non m étall iqu e, i l n e doit pas n on
plus y avoir de détéri oration de la ou des parois de l ’en vel oppe n on m étal l ique.
8.2.7 Essais des dispositifs de protection th ermique réarmables

8.2.7.1 Dispositifs de protection thermique réarmables avec contacts de
commutation
8.2.7.1 .1 Procédu re d’essai
La fonction des dispositi fs de protecti on doit être vérifi ée. Cet essai doi t être réal isé après
l’essai d’en durance therm iqu e. Le disposi tif doit être capabl e de com m uter son cou ran t ass i-
gn é ≥ 5 000 fois.
8.2.7.1 .2 Critères d’ acceptation

L’essai doi t être consi déré com m e réussi dans l e cas où l e dispositif de protection ag it correc-
tem en t après l ’essai dan s l a pl ag e spécifi ée dans sa fich e tech n iqu e.
8.2.7.2 Dispositifs de protection thermiqu e réarmables sans contacts de

commutation
8.2.7.2.1 Procédure d’ essai
La foncti on des dispositifs de protection doi t être vérifiée. Cet essai doit être réalisé après
l ’essai d’en du rance th erm iqu e. Le dispositif doit être capabl e d’ag ir (en l im itan t directem en t
ou in directem ent la m on tée en tem pérature) ≥ 500 fois.
8.2.7.2.2 Critères d’acceptation
L’essai doit être consi déré com m e réussi dans le cas où l e dispositif de protection ag it correc-
tem en t après l’essai dan s l a plag e spécifi ée dans sa fich e tech n iqu e.
8.2.8 Essai d’étanchéité pour les dispositifs de protection incorporés

L'essai est à effectuer sur ci nq éch an ti l lons. Les échan ti l lons d’essai étant à l a tem pérature
i ni tial e de (25 ± 2) °C, i ls sont bru squ em en t im m ergés dans de l’eau à (50 ± 2) °C à u n e pro-
fon deur d'au m oi ns 25 m m pen dan t au m oins 1 m in . Si aucu n e bu ll e n ’est ém ise par les
– 66 –
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
éch anti l lons pen dan t cet essai, i ls son t consi dérés com m e satisfaisants. En vari ante, u n essai
peu t être effectu é en exam inant ci n q éch antil l ons après l'encapsu l ag e afi n de s'assurer qu e l e
com posé n'est pas entré à l'i ntéri eur.
9 Vérifications et essais individuels de série

9.1 Inspections visuelles
Ch aqu e m atéri el "m " doit être soum is à un e i nspecti on visuell e. Au cu n e dégradation telle qu e
fissures dans le com posé, exposition des parti es encapsu l ées, écai ll age, rétrei nt i n acce p-
table, bou rsouflure, décom positi on, défau t d'adhérence (détach em en t de parties adh érentes)
ou ram ol lissem en t, ne doit être visi bl e.
9.2 Essai de rigidité diélectrique

Pour les circu its qu i son t accessibl es de l’extéri eur, l’essai de ri g i di té diélectriqu e doit être
uti l isé pour vérifi er par essai l’isolati on des circu its l’u n de l’autre et de l eur en vironn em en t.
L’essai doit être réalisé sur ces circuits sel on 8. 2. 4. En vari an te, la m éth ode d'essai donn ée
en An n exe C peut être u til isée pour l'essai en tre chaqu e circu it et la su rface du com posé ou
de l'en veloppe non m étal liqu e.
La tension d'essai doit être appli qu ée pen dan t au m oins 1 s.
En varian te, 1 , 2 fois l a tensi on d’essai peu t être appl i quée et m ai n ten ue pendant au m oins
1 00 m s.
Dans certains cas, i l peut être n écessaire qu e la période d'essai réell e soit n ettem ent pl us
lon g ue qu e 1 00 m s, parce qu ’u n éch anti ll on ayan t un e capacité distribu ée élevée requi ert u n e
du rée su pplém entaire pour attei n dre l a tension d'essai exig ée.
L'essai doi t être répu té avoir réussi s'i l ne se produ it n i cl aqu ag e n i arc électriqu e pen dant
son exécution.
NOTE Général em ent, l e couran t qu i ci rcul e au cou rs de l ' essai n e dépasse pas 5 m A eff. .
Contrairem ent à ce qui est m en tion n é ci -dessus, l 'essai de rig idité di él ectri que des pi les et
des accum ul ateurs doi t être effectué conform ém en t au x exi g ences de l ’essai de ri g idi té di é-
lectri qu e i n di vi duel de série de l ’I EC 60079-7.
Dans le cas où le m atéri el qu i u til ise des circui ts qu i con tien nen t des com posants supprim an t
les transitoi res conn ectés en tre le circu it et les parti es m ises à l a terre, il n ’est pas n écessaire
de sou m ettre ces m atéri els à des essais de rig i dité di él ectri qu e i n dividu el s de séri e s’i ls son t
destin és à être u til isés un i qu em en t avec u n circu it isolé g al vani qu em ent et i ls doiven t être
m arqu és "X" conform ém en t au x exi gences de m arqu age de l ’I EC 60079-0, pour i n di qu er cette
con diti on particul i ère d’u ti lisation.
Pour le n iveau de protecti on "m c" qu i com pren d u n essai de ri g idi té di électri qu e i n di viduel de
série dans l a norm e i ndu stri el le applicable pour l es articl es in dividu els du m atériel électriqu e,
l'u ti l isati on de cet essai doi t être au torisée pour satisfaire à l'exig ence d'essai de ri gi dité dié-
lectriqu e i n dividuel de séri e pour le n i veau de protecti on "m c".
1 0 Marquage
En plus des exi g ences de l ’I EC 60079-0, le m arquag e doit i nclu re:
a) la tension assig n ée,
b) l e cou rant assi g né,
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 67 –
 I EC 201 7
c) l e courant de court-circu i t présum é de la source d’al im en tation électriqu e externe si i nfé-
ri eur à 1 500 A, par exem ple "Cou rant de court-circui t d’alim en tati on au torisé: 500 A".
d) de façon opti onn el le, le courant de cou rt-circu it présum é au torisé de l’al im entation él ec-
tri que extern e, si le m atéri el est conçu pour u n cou ran t de cou rt-circui t de 1 500 A ou pl us,
par exem ple "Courant de court-circu it d’al im entati on au torisé: 3 500 A".
e) pour les n iveaux de protection « m b» et « m c» pour l’EPL Db et l ’EPL Dc soum is à essai
sans couch e de poussière, la tem pérature m axim ale de su rface exprim ée en deg rés Cel-
si us et l ’u n i té de m esu re °C précédée de l a l ettre « T» (par exem pl e, T 90 °C) . Pou r l e n i-
veau de protecti on « m a» pour l ’EPL Da et le cas éch éan t, pou r les n i veau x de protecti on
« m b» et « m c» pou r l ’EPL Db et l ’EPL Dc soum is à essai avec u ne couch e de poussi ère, l a
tem pérature m axim ale de surface TL doit être i n diqu ée sous form e de val eur de tem péra-
ture en degrés Celsi us et de l ’u ni té de m esure °C, la profon deu r de cou che L étant i ndi-
qu ée sous form e d’i n dice i nférieur en m m (par exem pl e T200 320 °C) . Dan s l e cas des N i-
veau x de protecti on « m b» et « m c» pour l’EPL Db ou Dc soum is à essai avec un e couch e
de poussière, il n ’est pas exig é de m arqu er l a tem pérature m axim ale de surface sans
couch e de poussière. En vari an te, l e m arqu ag e i n diqu é en c) , d) et e) ci -dessus peu t être
incl us dans l es i nstru ctions et le m atéri el doit être m arqu é "X" pou r indi quer cette con d i-
tion particu l ière d'util isati on conform ém ent aux exi gences de m arquag e correspon dantes
de l ’I EC 60079-0.
– 68 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Annexe A
(informati ve)
Exigences de base pour les composés pour matériel "m"
La Fig ure A. 1 dém ontre les exig ences de base pour les com posés pour m atéri el "m ".
NOTE Cette Ann exe n e fourn i t qu’u n aperçu g én éral . Lors du dével oppem ent du prog ram m e d’ essai pou r un
m atéri el spéci fi qu e, i l est nécessai re d’ accord er u n e atten ti on parti cu l i ère au texte détai l l é des exi g en ces appli -
cabl es.
No
compound known ?
Yes

re-design
No

Yes

fulfilled
Yes
Yes
For Group I only No
No
Yes

Yes
No

Yes
No

IEC
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 69 –
 I EC 201 7
Légende
Anglais Français
Tem peratu re ran g e of th e com pou nd known ? Pl ag e d e tem pératu res du com posé con nu e?
Yes Oui
No N on
Com pou n d i nsi d e an en cl osu re i n type of Com posé dan s un e en vel oppe du m ode de protec-
protecti on "p", " d", "e", "t" ti on "p", "d", "e", "t"
Sel ect other m ateri al or re-desi g n Choi si r un au tre m atéri el ou reconcevoi r
TI -val u e to I EC 60079-0 or equ i val en t val ue Val eu r I T sel on l ’I EC 60079-0 ou val eur équ i val ente
kn own conn u e
El ectrostati c to I EC 60079-0 fu l fi l l ed Exi g en ces él ectrostati q ues de l ’ I EC 60079-0 sati s-
fai tes
Mech ani cal tests to I EC 60079-0 fu l fi l l ed Essai s m écan i qu es sel on l ’I EC 60079-0 sati sfai -
sants
For G rou p I on l y stabi l i ty ag ai n st chem i cal Pou r G rou pe I seu l em en t, stabi l i té en vers l es m até-
m ateri al s to I EC 60079-0 ful fi l l ed ri au x ch i m i qu es sel on l ’I EC 60079-0 sati sfai san te
Protecti on ag ai n st l i g h t requi red? Protecti on contre l a l um i ère exi g ée?
Resi stance to l i g h t test to I EC 60079-0 fu l fi l l ed Essai de rési stance à l a l um i ère sel on l ’I E C 60079-0
sati sfai t
Are there bare parts l eadi n g ou t of th e com - Les parti es nu es cond u i sen t-el l es h ors d u com po-
pou nd sé?
Protected by other type of protecti on Protég é par u n au tre m ode de protecti on
Provi de testi ng stati on wi th test sam pl e as Fourni r l aboratoi re d’ essai avec échanti l l on com m e
speci fi ed spéci fi é
Tests Essai s
Figure A.1 − Exig ences de base pou r les composés pou r matériel "m"
– 70 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Annexe B
(informative)
Allocation des échantillons d’essai
Le Tabl eau B. 1 dém ontre l 'all ocation des échan ti ll ons d'essai.
NOTE Cette An n exe ne fou rni t qu ’u n aperçu g én éral . Lors du dével oppem ent d u prog ram m e d’ essai pour u n m até-
ri el spéci fi qu e, i l est n écessai re d’accorder u n e atten ti on parti cul i ère au texte détai l l é des exi g ences appl i cabl es.
Tableau B.1 − Allocation des échantillons d’ essai

Essais normaux Essais complémentaires
Échantillon 1 Échantillon 2 Échantillon 3 Échantillon 4
Déterm i nati on des tem péra-
tu res l i m i tes sel on 6. 3
Essai de tracti on de câbl e Essai d’en d urance th er-
sel on 8. 2. 5 m i que basé sur l a tem pé-
ratu re d e servi ce d éterm i -
née au poi n t où l e câbl e
en tre dans l e com posé
sel on 8. 2. 3. 1
En du rance th erm i qu e à l a Endu ran ce therm i que à l a
ch al eu r sel on 8. 2. 3. 1 chal eu r sel on 8. 2. 3. 1
En du rance th erm i qu e au Endu ran ce therm i que au
froi d sel on 8. 2. 3. 2 froi d sel on 8. 2. 3. 2
Essai du di sposi ti f d e pro- Essai du di sposi ti f d e pro- Essai de tracti on de câbl e
tecti on therm i que réarm abl e tecti on th erm i qu e réarm abl e sel on 8. 2. 5
sel on 8. 2. 7 sel on 8. 2. 7
Essai de ri g i di té di él ectri q u e Essai de ri g i di té di él ectri q ue
sel on 8. 2. 4 sel on 8. 2. 4
Essai de pressi on Essai de pressi on
sel on 8. 2. 6 (si req ui s) sel on 8. 2. 6(si req ui s)
Essai s m écani ques Essai s m écan i qu es
conform ém en t à con form ém ent à
l ’I EC 60079-0 (si requi s) l ’I EC 60079-0 (si requi s)
Les essai s son t effectu és d ans l ’ordre i ndi qu é dan s chaq ue col on ne.
I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV – 71 –
 I EC 201 7
Annexe C
(normative)
Essai de rigidité diélectrique entre les circuits et l'environnement
C.1 Généralités
Le Parag raphe 8. 2. 4. 1 c) décrit un essai de ri gi dité diél ectri que entre les circu its (par
exem ple, con nexi ons extern es) et l a su rface non m étal l ique du m atériel (en vel oppe n on m é-
tal l iqu e ou su rface du com posé) .
Pour l es gran ds lots de m atériels, l orsqu 'il est im possi ble en prati q ue de réal iser cet essai
com m e un essai indi vi du el de série conform ém en t à 9. 2, i l peu t être effectu é com m e un essai
par lots conform ém ent à C. 2, à con diti on qu e:
a) La fiche tech n iqu e du m atériau pou r le m atéri au d'en vel oppe ou le com posé spécifie u n e
tension de cl aqu ag e ég ale à au m oi ns 1 , 5 fois la tensi on d'essai spécifi ée en 8. 2. 4. 1 (en
pren an t en com pte l'épai sseu r du m atéri au d'en veloppe ou du com posé) . Lorsqu'à l a fois
l e com posé et le m atériau de l'en veloppe son t nécessaires pour contri buer à l a ri g idi té
diél ectri que, la valeur l a plu s basse de l a tensi on de cl aqu age doit être appli qu ée à l a di s-
tance total e à travers le com posé et l 'en veloppe;
b) La tensi on d'essai de ri g i dité di électriqu e de l'essai de type soit égal e à 1 , 5 fois l a tensi on
d'essai spécifi ée en 8. 2. 4. 1 ;
c) La config urati on d'essai ph ysi que soi t tel l e que décrite en 8. 2. 4. 1 c) ;
d) Les critères d'acceptation soien t tels qu'en 8. 2. 4. 2;
e) L'exig ence d'essai par l ots soi t i ncl use dans la docum entation du fabrican t.
C.2 Procédure d'essai par lots

L'essai par lots doit être réalisé conform ém ent aux critères su ivan ts, d'après les don nées
d'éch anti l lon nag e fig uran t dans l'I SO 2859-1 :
a) Pour u n lot de production com pren an t j usqu’à 1 00 él ém ents, 8 éch anti ll ons doi ven t être
soum is à essai à u ne valeur ég ale à 1 , 5 fois l a tensi on d'essai exi gée par 8. 2. 4. 1 , sans
présenter de défaill ance;
b) Pour u n l ot de producti on com pren ant en tre 1 01 et 1 000 él ém ents, 32 échan ti l l ons do i-
ven t être soum is à essai à un e valeur ég al e à 1 , 5 fois l a tensi on d'essai exig ée par
8. 2. 4. 1 , sans présenter de défail l ance;
c) Pour un l ot de producti on com pren an t entre 1 001 et 1 0 000 él ém en ts, 80 éch anti l l ons
doi vent être soum is à essai à u n e val eu r égal e à 1 , 5 fois la tension d'essai exi gée par
8. 2. 4. 1 , sans présenter de défail lance;
d) Les lots com pren an t plus de 1 0 000 él ém en ts doi ven t être divisés en lots pl us petits.
S'i l y a des résu l tats d'essais n on conform es, tou s les éch anti llons restants dans l e l ot doi ven t
être sou m is à des essais i n divi duels de séri e (1 00 %) à la tensi on d'essai exi gée par 8. 2. 4. 1 .
– 72 – I EC 60079-1 8:201 4+AM D1 :201 7 CSV
 I EC 201 7
Bibliograph ie
I EC 60050-426, Vocabulaire Electrotechnique International – Partie 426: Matériel pour at-
mosphères explosives
I EC 60079-1 , Atmosphères explosives – Partie 1: Protection du matériel par enveloppes anti-
déflagrantes "d"
I EC 60079-2, Atmosphères explosives – Partie 2: Protection du matériel par enveloppe à sur-
pression interne "p"
I EC 60079-5, Atmosphères explosives – Partie 5: Protection du matériel par remplissage pul-
vérulent "q"
I EC 60079-6, Atmosphères explosives – Partie 6: Protection du matériel par immersion dans
l’huile "o"
IEC 60079-1 0-1 , Atmosphères explosives – Partie 10-1: Classement des emplacements –
Atmosphères explosives gazeuses
IEC 60079-1 0-2, Atmosphères explosives – Partie 10-2: Classement des emplacements –
Atmosphères explosives poussiéreuses
IEC 60079-1 4, Atmosphères explosives – Partie 14: Conception, sélection et construction des
installations électriques
IEC 60079-28, Atmosphères explosives – Partie 28: Protection du matériel et des systèmes
de transmission utilisant le rayonnement optique
IEC 60086-1 , Piles électriques – Partie 1: Généralités
IEC 60622, Accumulateurs alcalins et autres accumulateurs à électrolyte non acide –
Éléments individuels parallélépipédiques rechargeables étanches au nickel-cadmium
I EC 60664-1 ,Coordination de l’isolement des matériels dans les systèmes (réseaux) à basse
tension – Partie 1: Principes, exigences et essais
I EC 60747-5-5, Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 5-5: Dispositifs
optoélectroniques – Photocoupleurs
Accumulateurs alcalins et autres accumulateurs à électrolyte non acide – Ac-
IEC 61 951 -1 ,
cumulateurs individuels portables étanches – Partie 1: Nickel-cadmium
IEC 61 951 -2, Accumulateurs alcalins et autres accumulateurs à électrolyte non acide – Ac-
cumulateurs individuels portables étanches – Partie 2: Nickel-métal hydrure
ISO 1 3849-1 , Sécurité des machines – Parties des systèmes de commande relatives à la sé-
curité – Partie 1: Principes généraux de conception
_____________
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
3, rue de Varembé
PO Box 1 31
CH-1 21 1 Geneva 20
Switzerland
Tel: + 41 22 91 9 02 1 1
Fax: + 41 22 91 9 03 00
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CON SOLI D ATED

E xpl o si ve atm osph eres –

Part 1 8: E q u i pm en t pro tecti on b y en capsu l ati on “ m ”

Atm osph ères expl osi ves –

Parti e 1 8: Protecti on d u m atéri el par en capsu l ag e " m "

La recherche avancée permet de trouver des publications IEC

65 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais

CON SOLI D ATED

E xpl osi ve atm osph eres –

Part 1 8: E q u i pm en t pro tecti o n b y en capsu l ati o n “ m ”

Atm o sph ères expl osi ves –

Parti e 1 8: Protecti o n d u m atéri el par en capsu l ag e " m "

ICS 29.260.20 ISBN 978-2-8322-4770-9

Warn i n g ! M ake su re th at yo u o btai n ed th i s pu bl i c a ti o n fro m an au th ori zed d i stri bu tor.

® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission

E xpl o si ve atm osph eres –

Part 1 8: E q u i pm en t pro tecti on b y en capsu l ati on “ m ”

Atm osph ères expl osi ves –

Parti e 1 8: Protecti on d u m atéri el par en capsu l ag e " m "

Tabl e 1 – Distances throug h the com pou n d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5

This fou rth edi ti on constitutes a tech n ical revision.

B) Information about the background of ‘ Major technical changes’

This publicati on has been drafted i n accordance wi th th e I SO/I EC Directives, Part 2.

I EC 60079-0, Explosive atmospheres – Part 0: Equipment – General requirements

3 Terms and definitions

4.3 Additional requ irements for level of protection “ma”

5 Requirements for compounds

As a m in im um , those properti es of th e com poun d(s) on wh ich encapsul ation “m ” depen ds

5.3 Properties of the compound

5.3.2 Dielectric strength

6.2 Determin ation of th e limiting temperatu res

6.2.2 Temperatu re of th e compound

6.3 Temperatu re limitation

NOTE Tests for ad h esi on are u n der consi derati on .

7. 2 Determ in ation of fau l ts

7. 2. 1 Fau lt examin ation

When tested i n accordance with I EC 60079-0, encapsu lation “m ” shal l be m ai ntain ed in th e

7. 2. 2 Compon ents con si d ered as not su bj ect to fai l

7. 2 . 3 I so l ati n g com pon en t s

7. 2. 4 I n fal l i b l e sep arati o n d i s tan ces

I t is n ot necessary to consi der th e possibi lity of a fau lt occurring as described i n 7. 2. 1 i n

7. 2. 4. 2 Di stan ces t h rou g h th e com pou n d

Tabl e 1 – Di st an ces t h rou g h th e com pou n d

7. 2. 4. 3 Di stan ces t h rou g h s ol i d i n su l ati o n

7. 3 Free spac e i n th e en cap su l at i on

Free space or free su rface 3 mm 3 mm

N on -m etal l i c or m etal encl osure 1 mm 3 mm

7.3.2 Grou p I and G roup II “m” equ ipment

Free space or free 3 mm 3 mm N ot perm i tted

“m c ” N on -m etal l i c or m etal 1 m m (en cl osure + 1 m m (encl osu re + 3 m m (en cl osure +

7.4 Thickness of th e compound

t Free surface of the compound t

Non current carrying part

Plastic wall with Plastic wall with

Metallic wall IEC

b di stan ce to m etal en cl osu re

c di stan ce to n on m etal l i c en cl osure wi th wal l th i ckn ess t≥ 1 mm