EFOP-3.4.

3-16-2016-00014

Nagy László

XRD laboratóriumi gyakorlat

Jelen tananyag a Szegedi Tudományegyetemen

készült az Európai Unió támogatásával.

Projekt azonosító: EFOP-3.4.3-16-2016-00014

1
Szegedi Tudományegyetem
Cím: 6720 Szeged, Dugonics tér 13.
www.u-szeged.hu
www.szechenyi2020.hu
 EFOP-3.4.3-16-2016-00014

Javasolt feldolgozási idő: 60 perc

Elméleti összefoglaló
Röntgendiffrakciós (XRD) módszer
A röntgensugarak elektromágneses hullámok, jellemző energiájuk 100 eV- 100 keV. A
diffrakciós vizsgálatokhoz csak a rövid hullámhossztartományba eső sugárzást használják (ún.
„kemény” sugárzás, hard X-ray), amely hullámhossza a 100 pm-es (0.1nm = 1 Å)
tartományba esik csakúgy, mint a legtöbb kristályos anyag rácsállandója, így megfelelő a
kristályokon való elhajlási (diffrakciós) jelenségek előidézésére.
Monokromatikus röntgensugárzást a Cu-atomok ionizációja segítségével állítanak elő:
nagyenergiájú elektronok kilökik a belső héjról az elektront, és egy külső pályán lévő
nagyobb energiájú elektron elfoglalja annak helyét. Ez 2p→1s átmenet, melyet Kα-nak
neveznek, kvantált (λ = 1,54 Å). A röntgensugarak az atomok elektronjairól szóródnak a tér
minden irányába és köztük interferencia léphet fel, ha az atomok szabályos elrendeződésűek.
A diffraktogramokon a röntgensugarak intenzitását ábrázoljuk az ún. 2Θ szög függvényében,
ahol a Θ a kristálysíkok és a beesési sugár által bezárt szög.

A röntgendiffrakció alapjai; interferencia, rácssíkok és a Bragg-egyenlet

A röntgensugarak a kristályokon áthaladva valószínűleg diffrakciót szenvednek, mivel a
hullámhosszuk összemérhető a rácssíkok közötti távolsággal. A diffrakció, azaz az
elektromágneses hullámok elhajlásának jelensége itt a következő módon értelmezhető:
A röntgensugarak elsősorban az atomok elektronjaival lépnek kölcsönhatásba. A sugárzásból
több-kevesebb foton ütközik az elektronokkal, és eltérülnek az eredeti irányuktól csakúgy,
mint ahogy billiárdgolyók lökik szét egymást. Az eredmény az, hogy az atom elektronfelhője
mintegy másodlagos sugárforrásként viselkedik, a tér minden irányába sugározza a
röntgenfotonokat. Ezt a jelenséget nevezzük röntgenszórásnak. Ha a röntgensugarak nem
veszítenek energiájukból, a folyamat ún. Thompson v. rugalmas szórás (elastic scattering). Az
is lehetséges, hogy a sugarak rugalmatlanul szóródnak (Compton v. inelastic scattering),
ekkor energiájuk egy részét az elektron fel is veszi. A kristályokon létrejövő diffrakciós kép
legkorábbi elemzésében a kristály rácssíkjait tükröknek tekintették, a kristályt pedig
egymástól ’d’ távolságra lévő, visszaverő síkok együtteseként fogták fel. (1. ábra).

2
Szegedi Tudományegyetem
Cím: 6720 Szeged, Dugonics tér 13.
www.u-szeged.hu
www.szechenyi2020.hu
 EFOP-3.4.3-16-2016-00014

1. ábra

A szomszédos rétegek közötti távolságok a (hkl) reflexiókhoz tartozó 2Θ szögekből, a Bragg-

egyenlet felhasználásával határozható meg.

A fenti Bragg-egyenletben λ a sugárzás hullámhosszát, d a rétegtávolságot, Θ a kristálysíkok

és a beeséséi sugár által bezárt szöget jelöli. Az n=1 esetben ún. elsődleges reflexiót kapunk,
általában ez a legnagyobb intenzitású. Az n=2,3,… egész számoknak megfelelő reflexiók a 2,
3 stb. hullámhossznyi útkülönbségeknek felelnek meg.
A polikristályos minták krisztallitjainak átlagos részecskeátmérője (D) kiszámítható a
Scherrer-egyenlettel:

ahol β a mintára meghatározott vonalszélesség (βS, a csúcs félértékszélessége) és a

makrokristályos anyagra meghatározott vonalszélesség, β0 különbségével (βS – β0)
számítható, λ a hullámhossz, k a részecskealakra jellemző állandó és Θ a beesési szög.

XRD felhasználása
 Kristályossági fok meghatározás
 Részecskeméret meghatározására
 Kvalitatív analízisre
 Réteges szerkezetű anyagok rétegtávolságának meghatározására

Műszerleírás
MiniFlex II Röntgendiffraktométer
A MiniFlex II rendszer egy asztali
porröntgen diffraktométer, mely kompakt
méretét egy fejlett alapteljesítménnyel
ötvözi. Valós idejű szögkorrekciós
rendszerének és a széles területet lefedő
szcintillációs számlálónak, a számláló
monokromátornak és egyéb
sajátságoknak köszönhetően jelentősen
megnövekedett a rendszer
teljesítőképessége.

3
Szegedi Tudományegyetem
Cím: 6720 Szeged, Dugonics tér 13.
www.u-szeged.hu
www.szechenyi2020.hu
 EFOP-3.4.3-16-2016-00014

Felhasználható különböző polikristályos anyagok, mint porminták és fém lemezek kvalitatív

és kvantitatív analízisére, és kiindulási anyagok és termékek minőségi meghatározására.
A monokromátor számláló a röntgensugárzást (fluoreszcens röntgensugárzás stb) és a
karakterisztikus röntgensugárzást (CuKα) használja az analízisre. Ezen alkalmazáskor nagy
jel/zaj arányú adatot kapunk.

Felépítése
 Standard felépítés:
 Röntgensugárzás generátor (röntgen energia forrása)
 Röntgen cső
 Goniométer ( 2 Θszög mérési egysége)
 Detektor (SC számláló)
 Mérési számláló kontrollerje
 Standard mintatartó Cu cső
 Sugárzásvédő doboz
 Számítógép
 Standard szoftver

4
Szegedi Tudományegyetem
Cím: 6720 Szeged, Dugonics tér 13.
www.u-szeged.hu
www.szechenyi2020.hu
 EFOP-3.4.3-16-2016-00014

Műszer elindítása
A műszert csak a gyakorlatvezető indíthatja el és állíthatja le!

Mintaelőkészítés
Mintatartó tisztítása (először csapvízzel, majd alkohol, vagy aceton segítségével átmossuk a
mintatartót, majd törlőpapírral szárazra töröljük)
A mintát dörzsmozsárban elporítjuk (ha a minta morfológiája ezt megkívánja)
A mintatartó közepén található redőzött mélyedésbe helyezzük a pormintát (ha kevés
mennyiség áll rendelkezésünkre, akkor a mintát a mélyedés közepén kell elhelyezni; ha a
minta nem tapad kellőképpen a mintatartó felületére, akkor érdemes előtte a mintatartóra egy
nagyon vékony réteg szilikon zsírt felvinni, csak ilyenkor számolni kell azzal, hogy a minta
már egyéb mérésekre nem használható fel).
Ez után egy üveglap segítségével a mintatartó mélyedésének közepére simítjuk a mintát úgy,
hogy annak felszíne homogén legyen és az üveglap síkjában helyezkedjék el (a magasabb
vagy alacsonyabb minta elhelyezés, a mérési eredményeket befolyásolhatja)

Elvégzendő mérések
Mérje meg a különböző hőmérsékleten kezelt ezüstözött titanát nanocsövek
diffraktogrammját 5-85 2Thetea fok között 4°/perces sebességgel 0,02°-ként.

Jegyzőkönyv
A jegyzőkönyvben szerepelnie kell:
1. A gyakorlat céljának
2. A gyakorlat során alkalmazott mérési paramétereknek
3. A mért diffraktogrammokat egy ábrán
4. Azonosítsa a reflexiókat
5. A megfelelő reflexiókból számítsa ki az ezüst nanorészecskék méretét és ábrázolja a
hőmérséklet függvényében.
6. Gyakorlat összefoglalása, értékelése

Ellenőrző kérdések
1; Mi a röntgensugárzás és miért lehet alkalmazni kristályos anyagok vizsgálatára?
2; Hogyan állítunk elő röntgensugárzást?
3; Írja fel a Bragg-egyenletet és mire lehet
alkalmazni.
4; Írja fel a Scherrer-egyenletet és mire
lehet alkalmazni.
5; Mire lehet alkalmazni a röntgen
diffraktometriát?
6; Hogyan épül fel egy standard röntgen
diffraktométer?

5
Szegedi Tudományegyetem
Cím: 6720 Szeged, Dugonics tér 13.
www.u-szeged.hu
www.szechenyi2020.hu
 EFOP-3.4.3-16-2016-00014

7; Hogyan kell a mintát előkészíteni a méréshez?

8; Milyen paramétereket kell beállítani a mérésekhez?
9; Számítsa ki a rétegek közötti távolságot és az átlagos részecskeméretet ha 2Θ=10°, n=1,
α=1,54Å, k=0,9, β=2.
10; Számítsa ki a rétegek közötti távolságot és az átlagos részecskeméretet ha 2Θ=15°, n=1,
α=1,54Å, k=1,0, β=1,5°.

Segédanyag a jegyzőkönyvhöz
Mellékelt XLS táblázatban.

Források
http://enfo.agt.bme.hu/drupal/keptar/810
https://fi.wikipedia.org/wiki/R%C3%B6ntgendiffraktio

6
Szegedi Tudományegyetem
Cím: 6720 Szeged, Dugonics tér 13.
www.u-szeged.hu
www.szechenyi2020.hu