Professional Documents
Culture Documents
WDM 1
WDM 1
Studia stacjonarne:
- 12 godz. wykładów
- 12 godz. ćwiczeń rachunkowych
Razem 24 godz., 2 punkty ECTS
LITERATURA
Podstawowa
1. A. Chwaleba, M. Poniński, A. Siedlecki, Metrologia elektryczna, wyd. 11 lub wcześniejsze,
WNT, Warszawa 2015.
2. Międzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych terminów metrologii. GUM 2015.
3. Wyrażanie niepewności pomiaru. Przewodnik. GUM 1999.
4. J.R. Taylor, Wstęp do analizy błędu pomiarowego. PWN 2011.
Uzupełniająca
1. Prawo o miarach. Dz.U. 2019 poz. 541.
2. Niepewność pomiarów w teorii i praktyce. GUM 2011.
3. Z. Kotulski, WW. Szczepański, Rachunek błędów dla inżynierów. WNT 2018.
PODSTAWOWE POJĘCIA METROLOGII
Basic Concepts of Metrology
METROLOGIA I JEJ ZADANIA
Metrologia — nauka o pomiarach i ich
zastosowaniach,
(z greckiego metron — mierzyć
| logos — nauka).
„Blue
METROLOGIA — rys historyczny
Historycznie najstarsze były pomiary długości i odległości, objętości ciał
płynnych i sypkich, masy oraz czasu.
Wymiary przedmiotów mierzono początkowo porównując je z elementami ciała
człowieka, stąd wykształciły się takie jednostki długości, jak:
- cal (szerokość dużego palca),
- piędź (odcinek miedzy czubkami kciuka i małego palca),
- stopa,
- łokieć itp.
Odległości, czyli większe długości, mierzono takimi jednostkami, jak:
- krok,
- bruzda (odległość, po zaoraniu której należy pozwolić wołom odpocząć:
100 stóp w Grecji i 120 stóp w Rzymie),
- stadion (jednostka grecka - dystans, który można przebiec z maksymalną prędkością).
Stopa — dawna jednostka miary nawiązująca do przeciętnej długości stopy ludzkiej.
W różnych krajach miała inną długość. Zmieniała się także na przestrzeni wieków.
Metrologia
DL
techniczna prawna
naukowa
laboratoryjna
przemysłowa
Międzynarodowe Biuro Miar i Wag
Państwa, które przyjęły system metryczny Państwa, które przyjęły Konwencję Metryczną
International Vocabulary
BAN PRZEWODNIK of Metrology —
Basic and General
NORMALIZACYJNY
POLSKI KOMITET ICS 01.040.17; 17.020
Vocabulaire international
de metrologie — Concepts
Międzynarodowy słownik metrologii
fondamentaux et gćnćraux
Pojęcia podstawowe i ogólne oraz terminy et termes associćs (VIM)
z nimi związane (VIM)
Niniejszy dokument jest polską
wersją Przewodnika
PKN-ISO/EC Guide 99:2010.
Został on przetłumaczony przez
Polski Komitet Normalizacyjny
i ma ten sam status,
Przewodnik ISO/IEC Guide 99:2007 ma status Przewodnika PKN co wersje oficjalne.
value of a quantity)
/N
wartość wielkość
PRZETWORNIK POMIAROWY
(ang. measuring transducer)
urządzenie pomiarowe przetwarzające,
zgodnie z określonym prawem,
wielkość wejściową na wielkość wyjściową.
SYSTEM POMIAROWY
System pomiarowy - zespół środków materialnych, organizacyjnych i
programów przetwarzania informacji zgromadzonych w celu:
pozyskiwania,
AAAA
transmisji,
przetwarzania,
prezentacji,
archiwizacji danych pomiarowych oraz ich wyników.
przetwornik"|
+. Ę
od kilku do kilkunastu LI
kilometrów | Komgrubier
Kamera lub aparat na ostatniej bramce szą 5 lub k
= rejestruje pojazd przejeżdżający pod nią. Na podstawie czasu, DErCWniA
który upłynął między przejazdem pod pierwszą i ostatnią bramką obliczana
jest średnia prędkość. Jeśli jest wyższa od dozwolonej, kierowca dostanie mandat.
DOKŁADNOŚĆ POMIARÓW
— stopień zgodności wyników pomiarów z wartością rzeczywistą
wielkości mierzonej, osiągany poprzez stosowanie przyrządów
pomiarowych o wymaganych i potwierdzonych charakterystykach
metrologicznych, zgodnie z ustalonymi metodami i procedurami
pomiarowymi.
Dokładność i precyzja
to nie są te same pojęcia
DOKŁADNOŚĆ
YWartość
zmierzona
EMEPAE1d
JSOIIEMĄ
PRECYZJA
Precyzja i dokładność na przykładzie strzelania do tarczy
e ©
Nieprecyzyjnie ale dokładnie Precyzyjnie i dokładnie
Pomiar
Stała Wartość Od
częstotliwość
Avcs 9 192 631 770 Hz 1967
ezowa
stała
6,626 070 15 : 1073 J:s 2019
Plancka
ładunek
1,602 176 634 - 10719 2019
elementarny
stała
1,380 649 : 10723 JIK 2019
Boltzmanna
stała
6,022 140 76. 1033 mol"! 2019
Avogadra
skuteczność
Kd 683 Im/W 1979
świetlna
wzajemna zależność jednostek Sl
Jednostki pochodne SI: (cz. 1)
Odpowiednik
Nazwa Symbol
Wielkość fizyczna Odpowiednik w jednostkach
jednostki jednostki
podstawowych
kąt płaski radian rad m:m"!
m2: m2
kąt bryłowy steradian ST
g !
częstotliwość herc Hz
siła niuton N m:kg:s*
ciśnienie, naprężenie paskal Pa m "'kg:s *
moc, strumień
wat m*:kg:s*
promieniowania
ładunek elektryczny kulomb s'A
napięcie elektryczne, siła W/A
wolt m*:kg:s*:A''
elektromotoryczna JIC
C/V m: kg .g4.Ą2
pojemność elektryczna farad
słO
rezystancja om V/A m*:kg:'s*:A'*
Jednostki pochodne SI: (cz. 2)
Odpowiednik
Nazwa Symbol
Wielkość fizyczna Odpowiednik w jednostkach
jednostki jednostki
podstawowych
1/0
przewodność elektryczna simens S m: kg .g3.Ą2
AV
V:s
strumień magnetyczny weber Wb m*:kg:s*:'A''
J/JA
Wb/m?
indukcja magnetyczna tesla (V-s)/m? kg:s*:'A'"'
N/(A-m)
Wb/A
Indukcyjność henr (V:s)/A m*:kg's*:A*
Q:s
temperatura st. Celsjusza
strumień świetlny lumen cd:sr
natężenie oświetlenia luks lm/m*
aktywność ciała promieniotw. bekerel
dawka pochłonięta grej Jikg
równoważnik dawki pochłoniętej siwert Jikg
aktywność katalityczna katal
1. metr, oznaczenie m
Jednostka podstawowa długości w układach: SI, MKS, MKSA, MTS.
Bezwzględna Względna
Rok niedokładność niedokładność
mol, oznaczenie mol, jest to jednostka SI ilości substancji. Jeden mol zawiera
dokładnie 6,02214076 : 1023 obiektów elementarnych. Liczba ta odpowiada
ustalonej wartości liczbowej — liczbie Avogadra. Gdy wyrażona jest w jednostce
mol! jest nazywana stałą Avogadra, N,. Mol, symbol n, jest miarą ilości
substancji czyli jest miarą liczby obiektów elementarnych danego rodzaju.
Obiektem elementarnym może być atom, cząsteczka, jon, elektron, każda inna
cząstka lub określona grupa cząstek.
7. kandela, oznaczenie cd
Względna
Wzorzec
niedokładność
1 metr 1:10710
1 kilogram 2:10?
1 sekunda 1-105
1 amper 1:10
1 kelwin 1-103
1 mol 2:107
1 kandela 2:10
Kąt płaski: radian - kąt płaski zawarty między promieniami koła,
wycinający z jego okręgu łuk o długości równej promieniowi tego
koła.
Kąt bryłowy: steradian - kąt bryłowy o wierzchołku w środku kuli
wycinający z jej powierzchni część równą powierzchni kwadratu o
boku równym promieniowi tej kuli.
a=
1 rad
>
102 (SK (e
AYETKO LU zetta
N
LUĘ mili m
trylion LU eksa
LU
il mikro i
biliard 105 peta
QQ
Mer TŁ tera Us nano n
-H
galiiElie ix giga (Ua piko je
O
alii(eję ix mega 10-55 femto f
2
tysiąc iS kilo (ak atto 5)
<<
sto LUZ hekto rz zepto 74
C
dziesięć UL CE) LUK jokto vj
ko
G
j
Zapisi wzorów ob ablc=abc"_
matematycznych: c
Pisanie nazw i oznaczeń jednostek Sl
Przykład:
— jednostka kelwin - oznaczenie K;
— jednostka amper - oznaczenie A.
Nm lub Nm
PRZYKŁAD:
PRZYKŁAD:
PRZYKŁAD:
5 kg ale nie 9
pięć kilogramów ale nie pięćkilogramów
Jednostki długości:
Jednostki powierzchni:
inny skrót: sq mi
Jednostki spoza układu SI
Brytyjski system miar
Jednostki objętości:
Stopień Newtona
PN] = [C] : 0,33
Stopień Fahrenheita
[F] = [5C] * 7 + 32
Stopień Rankine”a
[R] = [*C] - ak 491,67
Stopień Róaumura
[R6]
= ['C] * Ę
ODA (0 4
Stopień Rómera
o _ o . 21
[Ró] = [C] 29 * 7,5
Stopień Delisle'a
[0] = (188 - ['C]) : >
METODY POMIAROWE
Metody
pomiarowe
z
podstawieniowa
ZETOWa
kompensacyjna |
komparacyjna |
Metody pomiarowe
>= —
U |
Pomiar kilku wielkości X,,X>,...X,
P dana Ace Obliczenie wielkości pośredniej
OMiar JEGNEJ WIEIKOŚCI, zgodnie ze wzorem funkcyjnym:
np. pomiar napięcia
woltomierzem, y =f(X, X, -.. Xn)
prądu amperomierzem, Na przykład pomiar rezystancji
temperatury termometrem woltomierzem i amperomierzem,
Z. pomiar mocy itp.
Metody pomiarowe — bezpośrednie, pośrednie, złożone
krotność wielkość
wzorca imerzona
My =D, hy równowaga IMp
m, = m, > F,=Fy |
F, "m, £ F,=mge
M,=M,
m eh=m,esh
IM = IMy
Pomiary złożone (tzw. uwikłane), to takie, w których:
- m wyników y,
- | n wartości x;
bezpośrednio lub pośrednio mierzonych wielkości
są związane zespołem m równań.
Bezpośrednio mierzy się różnicę obu wartości, a wynik pomiaru określa się następująco:
X =X,y+ AX
gdzie: X, - wartość wzorcowa,
AX - zmierzona bezpośrednio różnica, z uwzględnieniem jej znaku.
L KZĘściową
kompensącja
PR,
Metody zerowe
całkowita —— c=0
0
kompensacja k- zmienne
_—L_
=f) Hp HH, = CONSI
Ie — ZMAEMNE CEEĄ
Mip Hy BD
E F"X 111,
My - ily = O 70 s
m, - km, =0
Tip = Thy U
INMp=KH
Metoda kompensacyjna (wiele wzorców) p
Metoda komparacyjna (jeden wzorzec)
Metoda przez przestawienie
0 = const
in, - Zmienne
My = Hy,
F> = CcIć
gdzie c — współczynnik
zależny od kształtu cewek.
FI
FZTATUTTNTTTETTTRETTATTETZA
Siłę F, równoważy się siłą ciążenia F, wywołaną przez odważniki umieszczone na drugim ramieniu
wagi. Stan równowagi obu sił określa równanie: clż = mg, gdzie: m — masa odważników, g —
Kalibratory prądu:
- są to wzorce użytkowe będące elektronicznymi sterowanymi źródłami
prądu stałego lub zmiennego. Budowane Są jako wzorce kilkuzakresowe i
zapewniają nastawy prądu z określona dokładnością.
Definicja natężenia prądu 1A
obowiązująca do maja 2019 roku
KEJTHLEY
+1.0000 nA SINE
Offset :+0.0000 nA Cmpl:010.00 U
6221 OC AND AC CURRENT SOURCE |
je (ou. sm) C= j
Sacz (ez rea )
+1.0000 nA
Offset:+0.0000 nA Cm
anoda : „, katoda
BA Hg rtęć
Wzorzec napięcia
nasycone ogniwo Westona
Dane charakterystyczne:
Wartość uwierzytelniona SEM w temperaturze znamionowej
+207C wynosi od 1,018540 V do 1,018730 V.
- duża bezwładność cieplna, stała czasowa ok. kilka godzin;
- jednakowa temperatura ramion;
- bardzo mała obciążalność, ok. 1 UA;
- rezystancja wewnętrzna ogniwa nasyconego ok. 1 kQ;
- klasa dokładności: 0,0002; 0,0005; 0,001; 0,002; 0,005; 0,01
lub odpowiednio: 2 ppm; 5 ppm; 10 ppm; 20 ppm; 50 ppm; 100 ppm.
Błąd podstawowy ogniwa wzorcowego to wartość dopuszczalnej
rocznej zmiany SEM ogniwa wyrażonej w % wartości nominalnej.
Wzorzec napięcia
nienasycone ogniwo Westona
Dane charakterystyczne
Ogniwa nienasycone
- niewrażliwość na wstrząsy i wibracje
- zastosowanie w urządzeniach przenośnych
- budowane w czterech klasach dokładności: 0,002; 0,005; 0,01; 0,02;
- mała rezystancja wewnętrzna, ok. 600 Q;
- duży prąd pobierany, ok. 100 UA;
- uwierzytelniona wartość SEM w temperaturze 20?C
jest w zakresie od 1,01882 V do 1,01902 V
Wzorzec napięcia
Dioda Zenera
Charakterystyka prądowo—napięciowa
—>—
diody Zenera dla napięcia U = -17,1 V. Symbol diody Zenera
Wzorzec napięcia z diodą Zenera
Dryft temperaturowy —
1,5 ppm / K
Szumy — 6 UV p-p
(0,1 — 10 Hz)
Stabilność 15 ppm / 1000h
Wzorzec napięcia Fluke /32B
732B DC STANDARD
DA | sę | ET
AC PWR IN CAL CHARGE LOW BAT
1.018V CHASSIS
aaai
CZ |
i
1.018V COM
Wzorzec napięcia Fluke /352B
Parametry dokładności
wyjście 10 V
30—dniowa dokładność: + 0,3 ppm
1-roczna dokładność: + 2,0 ppm
wyjście 1,018 V
30—dniowa dokładność: + 0,8 ppm
1-roczna dokładność: nie dotyczy
Temperatura pracy 15'C + 35'C, włączony; -51?C = 717C, wyłączony (z wyłączoną wewnętrzną baterią)
Wilgotność względna <95% przy temp. do 30”C, <75% przy temp. do 35”C
Wysokość terenu <3049 m (10,000 ft) włączony, <12,195m (40,000 ft) wyłączony
Odporność na wibracje Per MIL-T-28800; Type III, Class 5, Style E
Normy bezpieczeństwa Designed to IEC 348, 2nd edition; 1978 and ANSI/ISA-S82; and UL1244, 2nd edition
1980, CSA C22.2 No 231, and IEC 1010
Wymiar
732B DC Standard: 13.4 cm H x 9.8 cm W x 40.6 cm D (5.28 in H x 3.86 in W x 15.98 in D)
732B-7001 External Battery and Charger: 13.4 cm H x 9.8 cm W x 40.6 cm D (5.28 in H x 3.86 in W x 15.98 in D)
Masa
732B DC Standard: 5.91 kg (13 Ibs.)
732B-7001 External Battery and Charger: 5.45 kg (12 lbs.)
p RA
p
Ee
KI 39V110A
-40 =20 c ż0 6
CURRENT (N MICFOAWPERES
J —
| nadprzewodnik sl n s2
|
LF
Nadprzewodnictwo występuje w temperaturze ciekłego helu
(4,2 K, czyli -269?C). Do budowy etalonu pierwotnego
(podstawowego wzorca) napięcia stałego zastosowano
przemiennoprądowy zewnętrzny efekt Josephsona, który
występuje podczas działania na złącze pola
elektromagnetycznego o wielkiej częstotliwości.
Wzorzec napięcia Josephsona
9,5946537 GHz
Po
leć
4,2K U,
7 _ nh
" 2e
Charakterystyka prądowo—napięciowa
gdzie: złącza Josephsona
e — ładunek elektronu
h — stała Plancka = 6,626 069 3(11):10-5 J:s = 4,135 667 443 (35):107>eV:s
n — krotność częstotliwości f
Zakres: do 1000 V,
podzielony na kilka podzakresów: np. 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 1000 V, na
każdym napięcie może być zmieniane wielodekadowo.
Niepewności nastawianych napięć są bardzo zróżnicowane (rzędu 10% 10%)
i podawane są w zależności od zakresu oraz nastawionej na nim wartości.
Rozdzielczość w zależności od zakresu wynosi od 0,1 uV do 1 mV.
Obciążalność prądowa wynosi od 20 mA do 500 mA.
Na przykład krajowy kalibrator LUMEL typ SQ12 pozwala na nastawienie
napięcia stałego w zakresie 0+10 V w czterech podzakresach:
0+10 mV, 0+100 mV, 0-1 V, 0+10 V, w stopniach co 0,0001 napięcia
podzakresu. Maksymalny prąd na wszystkich podzakresach wynosi 100 mA.
Niepewność bezwzględna nastawienia napięcia wynosi:
(2:10 napięcia nastawionego + 5:10 napięcia podzakresu + 5 uV).
Kalibratory uniwersalne wytwarzają napięcie przemienne w pasmie od 40 Hz
do 1 MHz, a kalibratory w pasmie rozszerzonym w pasmie od 10 Hz do
kilkudziesięciu megaherców.
Wzorce rezystancji
b) Oporniki wzorcowe
Ad. a) Wzorzec rezystancji oparty na kwantowym
zjawisku Halla i Klitzinga
B= 12,6T
|= 10uA
0 = (1+3)-103
5 10 15 T
31 sierpnia 2016 r. ukazała się Decyzja Prezesa Głównego Urzędu Miar w sprawie
uznania wzorca jednostki miary rezystancji za państwowy wzorzec jednostki miary
rezystancji. Wzorzec ten stanowi system pomiarowy wzorca pierwotnego opartego na
kwantowym zjawisku Halla, odtwarzający wartość rezystancji wynoszącą 12906,4035 Q
oraz 6435,20175 O.
Pracuje w temperaturze poniżej 0,5 K, w polu magnetycznym o indukcji od 4 Tdo8T.
Niepewność względna rezystancji wynosi 107?
Aktualnie w Polsce jest 20 wzorców państwowych, z czego 18 przechowywanych jest
w GUM.
rezystancja 10 MQ
stabilność: £10 pom
U
I=—
R
Wzorzec rezystancji
parametr 2.
napięcie
współczynnik
rezystywność temperaturowy termoelektryczne
stop metali względem miedzi
Manganin
(84% miedzi, 0,43 uQ0:m 3:10?/K 1UV/K
12% manganu, 4% niklu)
Konstantan
(55% miedzi, 45% niklu) 0,49 HO-m
.
2:1 05/K
40-5
42 V/K
Nikrothal
(67—80% niklu, 1,30 uQ:m 1:10*/K 2uV/K
20—33% chromu)
Evanohm
(75% niklu, 20% chromu,
1,20 uQ'm 4:10*/K pomijalnie małe
2,5% aluminium,
2,5% miedzi)
Wzorzec rezystancji
ke
Wzorzec rezystancji
rezystory dekadowe
-2-BRC
R
która wynika z pasożytniczych indukcyjności L i pojemności C..
Graniczna wartość tej stałej powinna się mieścić w przedziale
od 1 ns do 100 us.
Wzorzec rezystancji
©
A A 5 4 j nawinięcie płaskie
4 4 Ń ś Ń 4 Ń 4 (duża indukcyjność i duża pojemność)
£ £ f f łatwe wykonanie
ZA z | KE N nawinięcie bifilarne
LI !) | (mała indukcyjność i duża pojemność)
NZ” NWĘŻ NUŻ trudniejsze wykonanie
nawinięcie Chaperona
(mała indukcyjność i mała pojemność)
trudne wykonanie
Wzorzec indukcyjności wykorzystujący cewkę bez rdzenia
—— ——.1077[H]
L — indukcyjność cewki
n — liczba zwojów
I — długość cewki
r — promień cewki
Wzorzec indukcyjności
indukcyjność wzajemna
0 d) pulsacja drgań
1 | własnych wynosi
UR 1
O uf Pu 0y = Żnf,=
RD
—
NIKA
lila
"a
—
7777
RARE
AAA
//
I
MILI
REKE
) własnej
UQO
) schemat zastępczy
—
) wzajemnej
ON
) wykres wektorowy
o
Państwowy wzorzec indukcyjności
p In 2l 107
_" 4m2c2
!/
|
|
Ą
/ |
/
U
R R 1 Up IR,
907% UoC oR,C U |.
Schematy zastępcze i wykresy wektorowe kondensatorów: a) idealnego (bez strat),
b) rzeczywistego jako równoległe połączenie kondensatora idealnego i rezystora;
c) rzeczywistego jako szeregowe połączenie kondensatora idealnego i rezystora.
Wzorce pojemności
długości
kąta płaskiego
N 0
masy
gęstości
ONO
oporu elektrycznego
współczynnika załamania światła
Państwowe wzorce jednostek miar
Przechowywane i utrzymywane w Głównym Urzędzie Miar
9. pojemności elektrycznej
10. światłości
11. temperatury w zakresie od -189,3442'C do +961,78C
12. czasu i częstotliwości
13. strumienia świetlnego
14. indukcyjności
15. napięcia elektrycznego stałego
Państwowe wzorce jednostek miar
Przechowywane i utrzymywane poza siedzibą
Głównego Urzędu Miar
1. temperatury w zakresie
od 13,6033 K do 273,16 K
(Instytut Niskich Temperatur i Badań
Strukturalnych PAN, Wrocław)
|
« wzorzec subiektywny (uczucie komfortu cieplnego)
Miara
|
przytządem pomiarowym
Pomiar jest to zespół czynności poznawczych, których celem jest dostarczenie danych do ilościowego
opisu przedmiotów lub zjawisk, polegający na porównaniu, drogą doświadczenia fizycznego z określoną
dokładnością, wielkości mierzonej z pewną jej wartością obraną za jednostkę.
(a) (b)
3 .103v
A p
( D przełącznik
zakresu
symbol klasy
dokładności
wynik pomiaru:
- impedancja zespol. .
- moduł impedancji
- WFS
- pojemn. i ind. szereg.
częstotliwość i
krok zmiany
wejście
do | pay
zmiana zab 3
R Re age a
SETUP | SETUP |
narzędzie pomiarowe służące do porównania wartości wielkości mierzonej z wzorcem miary (miarą jednostkową)
i zobrazowania/rejestracji wyniku pomiaru; stanowi element pośredni pomiędzy światem fizycznym a człowiekiem.
Może być uważany za rodzaj przetwornika przetwarzającego wielkość mierzoną X na wielkość wyjściową
., a.
Y=f(X)
Rzeczywista charakterystyka przetwarzania
zasiłanie
X Y
| Przyrząd pomiarowy |————
wielkość mierzona wskazanie przyrządu
„wielkości wpływające
i zakłócające |
Z 1 Z 2 Z » ,
Wejście Wartość
prawdziwa
Moduł analogowy
* wzmocnienie
« tłumienie
* filtrowanie (eliminacja szumów, zakłóceń)
| * zwiększenie rezystancji wejściowej
I « porównywanie, detekcja, linearyzacja
Analogowe przetwa- I
rzanie sygnału | || juqgęsq9979777
one
Tr zm
- 4433
l ="
- =”
I
Przetwarzanie
anałogowo-cyfrowe
I « konwersja sygnału analogowego
na sygnał cyfrowy
l
"SH Ra,
Fotka
l
+ nusnnno"=
=="puu
u ==—=uznnuu
Cyfrowe przetwa-
rzanie sygnału
Moduł procesora DSP
* operacje matematyczne na sygnale cyfrowym
p ———
Wyjście « wyznaczanie parametrów sygnału
cyfrowe
« sterowanie, zobrazowanie
Urządzenie
"wyjście
(wynik pomiaru)
1
Obserwator
Współczesny cyfrowy
przyrząd pomiarowy
Przyrząd pomiarowy — podstawowe parametry
Zakres pomiarowy — określony jest przez graniczne wartości wielkości wejściowej, minimalną Xin i maksymalną Xx,
które mogą być
—_ wyznaczone z założoną dokładnością przyrządu; w większości Xmin = 0, wówczas Kim jest nazywana
wielkością
zakresową przyrządu pomiarowego.
Zakres częstotliwości — przedział częstotliwości sygnału pomiarowego, dla którego błędy wskazań przyrządu nie przekracza
ją dopuszczalnych
wartości granicznych.
Czułość ($) - określona przez stosunek zmiany wielkości wyjściowej do wywołującej ją zmiany wielkości wejściowej
podł
- dX
Zdolność rozdzielcza (R) - minimalna wartość lub różnica wartości mierzonej wywołująca rozróżnialną zmianę wskazań przyrządu.
Dokładność — określa stopień zbliżenia wskazania przyrządu do rzeczywistej wartości wielkości mierzonej, charakteryzowana
przez podanie
przedziału niepewności wskazania, nazywanego błędem granicznym przyrządu.
narzędzie pomiarowe służące do przekształcenia wielkości mierzonej X (na ogół trudno mierzonej lub
niemożliwej do zmierzenia bezpośrednio) w wielkość fizyczną Y łatwiej mierzalną zwaną sygnałem
pomiarowym; często stanowi element składowy przyrządu.
(X) H(Y)
— X 0
Idealny czujnik |
« nie powinien wpływać na stan obiektu, zjawiska
* powinien pobierać minimalną ilość energii z obiektu, zjawiska
* powinien reagować tylko na wielkość mierzoną
Sygnał pomiarowy — sygnał przenoszący informację o wartości wielkości
mierzonej lub informację innego rodzaju niezbędną
do realizacji pomiaru.
x(t) =sin(o,t)
s...
ansenoszozzora
«zez
„easeanoanonssai
„ea„ęcanennewzenno"n=
a.d.assese
„...dzewezecy<ę
odywawezysewyw
+dyzasekiezĘ:
.
*
.
.
«
.
.
*
.
.
RORAEEZEGN-
*
.
.
«
LJ
*
*
ri .
«
*
3
3
$
3
>
2
Ł
ĘĘ
Ę
ż
Ę
i
i
f
>
owocowe
omawia
eee wornewweeawerewer
O „O
LD
R Cu R;
R R;
E 1- E
* Ry + Re, tRs+Ry Ry + Rz + Ry, + OŃCu + KsŚcu
Multimetry
Przyrządy łączące wiele funkcji: amperomierza, woltomierza prądu stałego i zmiennego, omomierza i inne
WAŁA!
z
DIR
fonii 4% A
|| ŻENI 34401
cgntąwaw .
NiWSma kat [| 4
e 77=
ł | VA $ odź A” s :
AD
fatioRef
Ę
+
| N
Ę
Ę
|
i
AC or DG Voltage
Z -
4
Rodzaj prądu
Oznaczenie Opis
Prąd stały,
| ele
Prąd przemienny „
Prąd stały i przemienny
Położenie nominalne
Oznaczenie Opis
Położenie pionowe
Położenie poziome
dBJZ [II Ej
m =
GE17
—| ENTIZEĄSM
PTMEEJEM |.
na
-i| |atojAaA k Auzań]
dk
JAZYDZM JE
PPOTĄ
=
taaa
M$
ANEZIOMLSZIĄ AMISZIOMISZIJ |
ANI
a[JeLM a a
l
.
MOĄTAM
T
..
AMIEMOJE dy
pr
ANI
EMOSEGO(T
s
A
A
l
MAJ40ZM Z
LEMIEMMOJOT | -33
E.
EMosacog]
A
X
pe
=
kj
ZTUEAMOT
byeppsńj
Tunnaniariin
TUE
OG9MOJEILUOd ns990Jd EJN ANAIS
Właściwości statyczne
przetworników i przyrządów pomiarowych
Y=FX)
charakteryzująca dany przetwornik, nazywa się charakterystyką
statyczną przetwornika.
Właściwości statyczne
przetworników i przyrządów pomiarowych
dY
sS=—
dX
Czułość przetworników liniowych jest stała w całym zakresie pomiarowym,
a przetworników nieliniowych zmienia się od punktu do punktu
charakterystyki statycznej.
Właściwości dynamiczne
przetworników i przyrządów pomiarowych
Magnetoelektryczny |
ilorazowy Termorozszerzalnościowy FT
A.
wd
Elektromagnetyczny Ogniwo termoelektryczne
o grzaniu bezpośrednim
Elektromagnetyczny Ogniwo termoelektryczne Na
izolowany o grzaniu pośrednim
Miernik A (a)
Elektrodynamiczny magnetoelektryczny z
ogniwem Ne
PT
termoelektrycznym
Elektrodynamiczny —K
izolowany EHO O O Prostownik
= | 2
Ferrodynamiczny Miernik
magnetoelektryczny
prostowniczy
Indukcyjny „"— „m 7 2 8
lampą elektronową
o
Miernik
Indukcyjny magnetoelektryczny z
ilorazowy fotonówką lub ogniwem
fotoelektrycznym
Hr
Elektrolityczny
Miernik magnetoelektryczny
a) b)
rdzeń
trerromagnetyczny
zaciski
amperomierza
cewka
Miernik elektrodynamiczny
Budowa:
1 — cewka nieruchoma,
2 — cewka ruchoma,
l, , l, — prądy zasilające,
F — siła oddziaływania,
H — natężenie pola magnetycznego,
R — korektor zera.
Właściwości użytkowe mierników
analogowych
zakres pomiarowy,
dokładność wskazań (klasa dokładności),
pobór mocy,
przeciążalność,
właściwości dynamiczne,
wielkości wpływające, takie jak: temperatura, wilgotność, obce pola
magnetyczne, a dla mierników prądu zmiennego wpływ częstotliwości i
kształtu krzywej na wskazania.
Pomiary napięcia i prądu
laRa = (I — BL
|
źmaA |
T* 5LmA llmA 00M iw ZW
a)
<
O
o
Omomierz szeregowy
n_pll 1
x AMI b
R, — rezystancja rezystora
E — napięcie zasilające
| — prąd podczas pomiaru
l, — prąd przy zwarciu zacisków
A+
w
O
a Rz(R„R; — R'„R>)
7 R» R(Ry + R', + R>)
Układ pomiarowy mostka Thomsona
Przetwornik pomiarowy - urządzenie, w którym jest realizowany proces przetwarzania
sygnału pomiarowego.
Proces przetwarzania - proces zamiany jednego sygnału na inny mu równoważny,
w celu dogodnego wykorzystania informacji zawartej w sygnale.
Występujące w praktyce procesy przetwarzania dzielimy na:
- przetwarzanie rodzaju sygnału,
- przetwarzanie wartości sygnału, chemiczna
- przetwarzanie formy sygnału. energia wyjściowa
energia magnetyczna +
modyfikująca promieniowania
elektryczna | mechaniczna
ciepna | N hallotron cieplna
|.
mechaniczna 1 elektryczna
promieniowania | magnetyczna
/ chemiczna
promieniowania
energia mechaniczna
wejściowa
cieplna
elektryczna
magnetyczna
chemiczna
y
| POWER A x-v
o .
TV TIME / DIV. AT'NORM.
I
m= _ = ms 15:21 59 5 0
LEVEL
5 w
TR
INTENS. Pm TRiG.
TRIG. INP.
% Fl-
HOLD
100 vp max.
Focus (4 Dc _
e
mPOS. I VOLTS/ DIV. VOLTS/ DIV. Y- 515 "
"©.
mę I
VERT. INP.
1WN 30 pF
YOJE ©: -
$ "TAN" 2 5 w VERT. INP.
1WAIIJ0pF
©; ©
| 'poaa
KAFACTTJEE SG X-MAG. CAL. COMPONENT CH VII DUAL ADD
7 ©
0.2 V
20 MHz Oscilloscope 0 2
v GD
HM203-6 x 10 t : TRIG.
OD VII -CHOP
„
Schemat blokowy oscyloskopu analogowego
jednokanałowego
tor odchylania Y
WZSJCR A Wi
kkk,
AUTO ©| © NORM
| Wew.
układ generator
© o0—] synchronizacji podstawy
zew. i wyzwalania czasu
wejście |
EXT
o. tor odchylania X
wejście X "rrr e ne!
Schemat blokowy oscyloskopu analogowego
dwukanałowego
| kanał U1
© Y1
wejście Y1 o
kanał U2 "e
e + Y2 multiwibrator
astabilny
wejście Y2
sterowanie CHOP ——— fw
przełącznikiem |_————
elektronicznym ——
ALT
f/2
Y1 układ generator
——---- | synchronizacji podstawy
O i wyzwalania czasu
y2 y
Lampa oscyloskopowa
Ww A, A, A; Y
| | |
X z. w 2
US NY
Oznaczenia:
K — katoda, G — grzejnik katody, W — siatka (cylinder Wehnelta),
A;,, Av, Ag — anody, Y — płytki odchylania pionowego, A, — elektroda ekranująca,
X — płytki odchylania poziomego, P — powłoka grafitowa, E — ekran,
O — osłona szklana.
Lampa oscyloskopowa
Lampa oscyloskopowa
c _h
U U
Generator podstawy czasu
T
4 >
T - minimalny okres powtarzania, tw - czas oczekiwania na wyzwolenie
4 uy(t)
B=>=oOSZ
Roza ZoC a Br
Sposób powstawania
oscylogramu na
ekranie oscyloskopu:
a) w trybie automatycznym
(AUTO)
b) w trybie normalnym
(NORM)
Poziom
wyzwalania
Impulsy
synchronizujące
Tor odchylania X
Tor odchylania X zapewnia:
— wybór trybu zobrazowania oscyloskopu Y-T lub X-Y,
— wybór trybu pracy generatora podstawy czasu,
— regulację częstotliwości generatora podstawy czasu w szerokim
zakresie — regulowany skokowo i płynnie współczynnik czasu D-
— wybór źródła wyzwalania oscyloskopu,
— regulowany przesuw sygnału w poziomie,
— regulowany czas podtrzymania oczekiwania na wyzwolenie.
— HORI j EEEE =,
aj 4 8 a 4 |
TIME BASE
s v+ s
M INU
s
CH18 4 2 [4
»— VOLT/DIV | VOLT/DIV —<— wm
my
Tor odch ylaniaX
figury Lissajous
Tor odchylania Y
"R WU
m—B— VOLTJDNV
elem
VOLTJOIV —6— w
m$
Tor odchylania Y
Tor Y zapewnia:
— regulację wzmocnienia napięciowego w szerokim zakresie —
regulowany skokowo i płynnie współczynnik napięcia Dy,
— stabilną impedancję wejściową,
— ograniczenie pasma sygnału,
— regulowany przesuw sygnału w pionie,
— możliwość inwersji sygnału w kanale,
— wybór sprzężenia wejścia.
H1 23
Praca normalna i automatyczna
generatora podstawy czasu
©.
=
T,p.cz.
Oznaczenia:
u„(t) — przebieg czasowy sygnału badanego
Un .cz
(t) — sygnałz generatora podstawy czasu
t,— moment obserwacji oscylogramu
Tp.cz. — okres powtarzania impulsów podstawy czasu
VUV A vi m
wy U
ma fad
1
v* >
0
1
wo
1
1
1
A"
u, p.cz. _(t)
/ w
lo
Oznaczenia:
u„(t) — przebieg czasowy sygnału badanego
u.(t) — ciąg impulsów wyzwalających
U
p.cz.
(t) — sygnał z generatora podstawy czasu
t o — moment obserwacji oscylogramu
Proces tworzenia stabilnego oscylogramu (tryb AUTO lub NORM) przy wyborze kanału Y jako źródła sygnału
wyzwalającego oraz zadaniu odpowiedniej wartości poziomu wyzwalania (wyzwalanie zboczem narastającym)
———M
——-J-—M—-
---J
=—==<
-—_-_J-—--J-——
=—Ad=====—=
"TT
|
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
J
I
I
I
I
I
I
l
„ek
I
l
l
Pomiary oscyloskopowe
TAT
|
I
I
I
I
I
I
I
I
I
===E
J---—J=—==<—=—=
l
|
I
I
I
I
I
I
I
I
I
TTTT| TLE
l
I
L
I
|___J_--1_-2J---1J---J] TTTT
C=
T| TT
JJ)
|
N
I
J==J===-
I
I
I
I
I
0,5Up,
U min
u, (X) = 8 + 43
6,H0Y | (6DyY
u,(Y) = 8 + 43
Struktura oscyloskopu analogowego
tie
waystorni
dsc
TIKIE/LIY A-PUŻ 5pot Moves
generator dy tą dy
ACT055
Ą , zot
podstawy czasu 2) 2)
NN | 1 p p dz a |
duriną flyback
triqąst time PASE
L
/ (-plates
|
synchronizacja 3] =—| A/ mj
ac. do. lz zy m
CH| switch cathode alode5 A-plAtes BN
SIGNAL INFUT a
I Y-amiplifier cathode NN
ray tube |
ay”
wzmacniacz slegtron GCEEEK
IVVV
m fĄ JĄ Ż 2
i śni Feat
*GLTEYDW v-POŚ
Funkcje Regulacja częstotliwości
Regulacja generatora podstawy czasu
wyzwalania
jasności i ostrości
(trigger)
-
zy
„
LE J
1-MAG COMPONENT
m ©
Oscilloscope | yy A TESTER
kę A 7
8 9 10 1 12. 13 14
|- Ekran 8— Zasilanie
2— Blok kanału Y; (przy pracy X-Y — kanał Y) 9— Regulacja jasności i ostrości
3-— Wejście Y; 10 — Przełącznik rodzaju
4 — Blok kanału Y> (przy pracy X-Y — kanał X) pracy 11 — Źródła wyzwalania
5— Wejście Y> 12 — Rodzaj wyzwalania
6— Wejście wyzwalania zewnętrznego 13 — Blok kanału wyzwalania
7— Kalibrator napięcia 14 — Blok kanału podstawy czasu
Oscyloskop analogowy Escort typ EAS-200S
kL.d
A jod UN
9. 100
a) AU= = 0,0225V
kl.d * Uy1 z 1,5 * 15V
100 100
A, = arz Am F arz 4%
Ax Ax Ax
6, = - 100% = -100% z — 100%
Arz Xm X
gdzie:
X123..n — Wartości kolejnych pomiarów danej wielkości
n — liczba pomiarów.
Błędy przypadkowe
X, — wartość
| prawdziwa
W |
x, — wyniki n pomiarów
(oznaczone symbolem X)
Ma charakter losowy.
1. Niedokładność odczytu:
. ' niedokładna ocena części działki miernika,
. niezbyt staranne wyznaczenie optimum ostrości
obrazu (w pomiarach optycznych),
2. Fluktuacja warunków pomiaru:
. temperatura,
. ciśnienie,
«wilgotność,
.' napięcie w sieci elektrycznej.
3. Obecność źródeł zakłócających.
4. Nieokreśloność mierzonej wielkości.
o. Niedoskonałość zmysłów obserwatora.
Błąd przypadkowy (ang. random error)
błąd gruby
Ń=
X, — wartość
| prawdziwa
'
x, — wyniki n pomiarów
(oznaczone symbolem X)
. błędy podstawowe,
« błędy dodatkowe,
« błędy metody.
Błąd systematyczny (ang. systematic error)
A syst 7 x — Apraw
Xx. — wartość
| prawdziwa
-+— pr
x, — wyniki pomiarów
(oznaczone symbolem % )
Oddziaływania systematyczne:
-A
złożonym ze źródła napięcia i obciążenia:
<
O
O
O
Ra RE
Rz Rz a) obwód pierwotny
b) obwód pomiarowy po włączeniu
E. E; amperomierza
LF a"
U Z
1 1
_Ro+Rz+tRa RotRz _ _ Ra
ÓJ
10 Ry + Rz
Ry +R, +Ra
E„Ra
pi=—A =
(Ro + RZ)(Ro + Rz + RQ)
Błąd paralaksy
/
Podzielnia. Podziałka. LE-1 60 60
lustro(minimalizuje
tzw. błąd paralaksy
In Ji LI
przy, odczycie)
przyrząd ka JI
OO OaGREY CZY 4A
w ekranie (14
położenie pracy
(poziome=patrzysz na niego z góry) db
ik. :
magnetycznym próba
izolacji 2kV
klasa aa bdtdal
13 TT W procentach końcowej wartości zakresu)
— (£) - R | ; 55 | 5 |] 1969 r.
przemien ego .+———— zzz
1. ANALOGOWEGO:
Jest wyrażana za pomocą:
- klasy dokładności przyrządu;
- błędu podstawowego (względnego);
- bezwzględnego błędu podstawowego przyrządu.
2. CYFROWEGO:
Jest wyrażana za pomocą:
- błędu granicznego (nie podaje się klasy dokładności).
Klasa dokładności przyrządu analogowego:
- jest wyznaczana na podstawie jego błędu podstawowego wyrażanego w
procentach, obliczanego jako stosunek maksymalnej wartości bezwzględnego
błędu pomiaru i wartości nominalnej zakresu pomiarowego.
Wynik pomiaru:
U = (32,16 — 6,81) V
Błąd graniczny (przyrządu cyfrowego) - przykład 2
Innym woltomierzem cyfrowym zmierzono napięcie stałe
na zakresie 100 V. Przyrząd wskazał tym razem U = 32,155 V.
Formuła na błąd graniczny, zgodnie z instrukcją przyrządu ma postać:
Wynik pomiaru:
U = (32,155 + 6,8689) V
Zapis wyniku pomiaru powinien umożliwiać ocenę dokładności z jaką
została określona wartość wielkości mierzonej. W tym celu podaje się
jednocześnie z wynikiem pomiaru x, wartość błędu Ax,
X, = X £ AX
gdzie x, jest poprawną wartością wielkości x.
Zaleca się obliczania błędu zgodnie z następującymi zasadami:
. wartość liczbową błędu należy zaokrąglać i zapisywać liczbą o jednym
miejscu znaczącym, np.: 2; 0,02;
«zapis błędu pomiaru w postaci dwóch cyfr znaczących jest zalecany
w pomiarach dokładnych oraz wówczas, gdy wskutek zaokrąglenia
do jednej cyfry znaczącej wartość błędu zwiększyłaby się więcej niż
o 10%.
Wynik pomiaru oblicza się z jednym miejscem dziesiętnym więcej niż to,
na którym zaokrąglono błąd, po czym zaokrągla go się (zgodnie z regułą
zaokrąglania liczb) tak, aby ostatnia cyfra wyniku odpowiadała miejscem
wartości liczbowej błędu, np.: (1211) cm, (19,45-0,13) mA.
35) V
Przedstawianie błędów pomiarowych
i zaokrąglanie wyników
Xp = X 4 AX
10 — 2 cyfry znaczące
0,1 — 1 cyfra znacząca
0,76 — 2 cyfry znaczące
0,0530 — 3 cyfry znaczące
Przedstawianie błędów pomiarowych
i zaokrąglanie wyników
Przy zaokrąglaniu wyniku pomiaru stosowane są powszechnie
przyjęte zasady zaokrągleń: liczbę kończącą się cyframi (0-4
zaokrąglamy w dół, a 6-9 w górę.
Oszacowane błędy najczęściej zaokrąglamy w górę, ponieważ nie
powinno się nie doszacowywać błędów.
Zaokrąglanie zaczynamy od
niepewności DO JEDNEGO LUB
DWÓCH MIEJSC ZNACZĄCYCH
Patrzymy na cyfrę:
Patrzymy na cyfrę
Jeżeli jest nieparzysta zaokrąglamy w górę:
123,38 — 0,13
Jeżeli jest parzysta zaokrąglamy w dół:
123,345 zatem pozostanie 123,34 + 0,13
F 0,17501)Q
R = (123,36 + 0,18) Q
Dlaczego musimy zaokrąglać błędy i wyniki końcowe?
Przykład:
Pewien eksperymentator wykonał kilkaset pomiarów grubości
włosa i uzyskał wynik:
rozmiar atomu
rozmiar jądra atomu rozmiar kwarka
Nieprawidłowo: 36,35-0,04
2,51 -0,4 kg
3,71:107% £0,023:10-*m
12,3456/ £0,22643 kBq
5,60,031734 V
Do obliczania wielkości
pośrednich i niepewności
używamy liczb niezaokrąglonych
Prawidłowo zaokrąglone:
wartość wielkości fizycznej i jej niepewność mają
taką samą liczbę miejsc dziesiętnych
Wyniki pomiarów w serii rozkładają się
wokół wartości średniej
h Histogram
USEGGECEGSEZAOEEZASGZ
Warto rednia:
U)
©
U)
I
I
I
I
DN
I
=|S
I
I
>
s
||
I
ró I
I N l
=
I
Il
w
I
A 6
>
I 1 J2 15 X
Z X+6
O =
1 — X)?
n-1
Rozkład pomiarów w serii wokół wartości średniej X jest rozkładem Gaussa
b) (X=6,XF6)
1 _QG-X*
P(X) -—-e 2o* p = 0,683
O OV 2T
X-G X X+ 6
Prawdopodobieństwem, z jakim w zadanym przedziale znajdzie się dowolny pomiar z serii, nazywa
się poziomem ufności, a przedział — przedziałem ufności.
W przedziale [X-o0, X+o] mieści się 68,26% wyników z serii.
W przedziale [X-20, X+20] mieści się 95,46% wyników z serii.
W przedziale [X-30, X+30] mieści się 99,74% wyników z serii.
f4
YE (X -X)2
t=1
n(n — 1)
sa =4
092 Obz Oce 00c 08L O9L Ol OćL 00L 08 09 Ob Oz 0
| lntada lk. 4 441. 444044 i lili lniaialaiai i ny |
m m
i
i
|
i
i
i
i
i
f 1000
mb
mo m
A
=
=
-
--- Fp000
m mój m
m wj m
m
--- 15000
m wa mÓ wa
m wa mĄ
- -- 19000
m wa dj
'
'
'
4
2000
m ja
'
'
'
'
'
'
'
'
'
ż,
-8000
m mm a ma mm ja ma wa dp
- - - 600'0
m o
mm jo mm ma ja wa
m
m
ź
mj
100
m
m maj
i
UJ
UJ
UJ
1
1
i
1
1
1
1
1
1
i
1
1
i
i
1
i
i
i
i
i
mj m
mj m
adna"
ada"
--- FLLO'0
m
m
m
=
'
aa
Z...
'
'
'
'
'
'
'
'
'
+
jaa
! ' -ZL0'0
|+|--u--
LLLEEE
-
ę+--a--
|+|--a=-
| 4
| 4
0340] M QZDHĄ UYJAUBMOSOJAM AwNS EMISUBIQOPOdOPMEJd PEŁĄZOY
L pepdŃZzId
[omoso| [aeuusliuz pEłĄZOJ
Rozkład zmiennej losowej
Przykład 2
p(S)
HIo
0.16
n|Ą
0.14
0.12
Hio
0.10
|
0.08
0.06
T
0.04
ul
0.02:
2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
S
Rozkład zmiennej losowej
Przykład 3
deska Galtona
m m 2
f.o(a) — 1 exp (z — nu)
PNPLI 20”
Wykres funkcji Gaussa
fuo(%) = —— exp
04 2T
0.8
DF
Reguła trzech sigm
Reguła trzech sigm dla danego rozkładu normalnego N(u,o) oznacza J Że w
przedziale [u—30, u+30] znajduje się 99,7% wszystkich obserwacji.
yo
e0
cO
34.1 34.1%
LO
00
Dystrybuanta
Dystrybuanta — prawdopodobieństwo tego, że zmienna X ma wartości
mniejsze bądź równe x i w kategoriach funkcji gęstości wyrażana jest
(dla rozkładu normalnego) wzorem:
T o
1 -(z-n)*
P(X<x)=-.|—e v» da
0 2T
—OQO
Przykład
Rzucamy kością do gry jeden raz.
F(x,)=p
Pa = 0,25 — F(X0.25) = 0,25
12 3
*
1 2 9
Kwantyle rzędu —10 10 10 to inaczej decyle
2 99
Kwantyle rzędu 0 109% 100 to inaczej percentyle
168, 170, 170, 171, 173, 174, 174, 175, 176, 177, 178, 179, 180, 181, 182, 183, 184, 185 187, 187
X0,5
| fOo)dx =05
Podstawowe parametry rozkładów (wartość
oczekiwana, wariancja, odchylenie standardowe)
u=E[X] = ] SIO
— OO
Podstawowe parametry rozkładów (wartość
oczekiwana, wariancja, odchylenie standardowe)
X1 FXot...
ły LXi
LU=x=
n " n
Przykład
55
57
53
52
271
271
54 +55+57+53+52
= 54,2
12
l
5 5
Podstawowe parametry rozkładów (wartość
oczekiwana, wariancja, odchylenie standardowe)
Wariancja
1 n
2 92
A = 20 ©) £
i=1
55 0,8 0,64
57 2,8 7,84
53 -1,2 1,44
52 -2,2 4,84
271 0 14,8
o -——.148= 3,7
Podstawowe parametry rozkładów (wartość
oczekiwana, wariancja, odchylenie standardowe)
Odchylenie standardowe
1 n
g = 1 0-3 i
l=1
55 0,8 0,64
57 2,8 7,84
53 -1,2 1,44
52 -2,2 4,84
271 0 14,8
o? = —- 14,8 = 3,7 > 9=192
Podstawowe parametry rozkładów (wartość
oczekiwana, wariancja, odchylenie standardowe)
Odchylenie standardowe średniej
O
0z —
/n £
57 2,8 1,84
53 -1,2 1,44
52 -2,2 4,84
271 0 14,8
Przy przedstawianiu wyniku pomiaru niezbędnym jest
podanie jego dokładności (określa ona „jakość”
wykonanego pomiaru i jego wiarygodność).
Bez tego niemożliwe jest porównywanie wyników
między sobą,
jak również z wartościami odniesienia i wzorcowymi.
Dlatego niezbędnym stało się opracowanie:
— powszechnie akceptowalnej metody określenia „jakości” wykonanego
pomiaru;
— stosowanej do wszystkich pomiarów i do wszystkich typów wielkości
wejściowych.
Niepewność pomiaru (ang. uncertainty)
parametr związany z wynikiem pomiaru, charakteryzujący rozrzut
wartości, które można w uzasadniony sposób przypisać wielkości
mierzonej.
Dł==
+ wyniki pomiarów
Rzeczywista wartość
mierzonej wielkości — x,
Niepewność wyniku pomiaru
ma wiele składowych,
które można zgrupować w dwie kategorie,
zgodnie ze sposobem obliczania ich
wartości liczbowych.
9
Ś
2 X,
i=1
u)= S,=|-—
nl
Y(r-x)
P(x)|
0,653
4
X-33; k-3; X
+ rx) | P=0,95
|| P=0,68 >|
punkt przegięcia
Ś
P=0,9973
|X
—20 | +20
Najbardziej interesuje nas niepewność wyniku
czyli wartości średniej
U4 =U(X) =
n(n — 1)
Co nam mówi odchylenie standardowe?
ło
€0
z0
TO
00
U=k:u(x)
U — niepewność rozszerzona (ang. expanded uncertainty);
k— współczynnik rozszerzenia (ang. coverage factor), zwykle 2 sk<3
Ocena niepewności pomiaru typu A w pomiarach pośrednich
y=f(x,,X,,...X,)
X, X>,...,Xq — Wielkości wejściowe nieskorelowane, każde określone
w pomiarach bezpośrednich. Znamy: X,,X,,...x, oraz niepewności
standardowe średnich: u(x,),u(X,),...u(x„)
GW)
y= f(X,,X,,...,X5 >)
3
Schemat przenoszenia wielkości wejściowych
2. Niepewność y nazywa się złożoną niepewnością
standardową (ang. combined standard uncertainty)
u.(y)
U=k:u.(y)
Dobór współczynnika k jest czasami trudny np. wtedy, gdy każda z wielkości
wejściowych ma różną krotność wykonywanych pomiarów.
Szacowanie niepewności metodą typu B
Ug(X)
Ax
= NE
3
jo kld:Uv_ 15-50V
A = (,75V
7 100 100
AGU 0,75V
= "fa = 73 7 043V
ug (U)
Niepewność typu B. Przykład
y= f(x,,X,,...,x, )
A Ax A,
u B (X)= 5 uB(2)=—6 Uglj=""
Wyrażanie niepewności pomiaru
Wyrażanie niepewności pomiaru. Przewodnik, Główny Urząd Miar 1999
Niepewność złożona -
Obliczenie niepewności wyniku otrzymanego z pomiaru metodami
pośrednimi
n 2
Y Of (X41,X>, X3, 1.., Xi ) uGx)
u(x) =+ dx;
i=1
Niepewność rozszerzona
U =k,:u(x)
współczynnik rozszerzenia k,
10
LO T O (N
A euusnuz
Metoda najmniejszych kwadratów
0
5 = 2(a +b —2) + 2(2a+b—4)-2+2(3a +b 5)-3+ 2(4a +b —7)-4=
= 2(30a + 10b — 53)
30a + 10b = 53
10a + 4b = 18
21b44b= 18 172
3 z 3
2,_1 3 Zatem szukaną prostą jest:
y = 1,6x
+ 0,5
3 = 3/3
b=0,5
Metoda najmniejszych kwadratów
4.5
Metoda najmniejszych kwadratów
— obliczanie współczynników metodą algebraiczną
r=l r= 0.8
r= 0.2
PAMIĘTAJ !
Do obliczania wielkości pośrednich i niepewności używaj wielkości niezaokrąglonych
Cyfra znacząca
Liczba przybliżona 5000 może mieć 1, 2 lub 3 cyfry znaczące. Nie znając historii
jej uproszczenia nie można tego jednoznacznie stwierdzić.
200
dB
------- SEp pah NA NA
PPaaa. SE m
Bd a -
id :
10
o | i | i 10 4
| ; i | ;
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
c) d)
1000 Po DOD pi! o DO POPop r: 10 I ENIE NENESETEE
400 : NNENENETESESE : 1:
2 dA PE
200 10 opo po
o 1 a al 10 4 - 1: Sz | m]
10 10 10 10 10
—_ [dB] = 201 o
U 7U0
gdzie log jest oznaczeniem logarytmu dziesiętnego.
źródło: GUM
Przez jakie czynności wykonywana jest prawna
kontrola metrologiczna?
źródło: GUM
Jakie przyrządy pomiarowe objęte są
prawną kontrolą metrologiczną?
źródło: GUM
Jakie podmioty wykonują
prawną kontrolę metrologiczną?
źródło: GUM
Akty prawne w metrologii