반도체용 세라믹 히터의 산업 및 기술 동향 (2017.12)

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특집 반도체용 세라믹스

반도체용 세라믹 히터의 산업 및 기술 동향

안덕원, 박명하
글_
㈜미코, 기술연구소

1. 반도체 산업 및 시장 전망 시장의 핵심 기업으로 자리매김하였으나 다양한 적용분


야에 사용되는 로직기반의 고부가가치 반도체 칩 제조는
최근 4차 산업혁명에 따른 반도체 칩의 수요는 기존 컴 미국과 대만업체에 비해 다소 고전하고 있는 것이 현실
퓨터에서 IT로, 그리고 사물인터넷(IoT), 클라우드 컴퓨 이다.
팅, 빅데이터, 가상현실, 자율주행차 등의 진화하는 산업 반도체 칩의 제조는 크게 전자회로를 웨이퍼 위에 인쇄
을 배경으로 지속적인 성장을 하고 있다. 시장조사 자료 하는 전공정, 조립 및 검사를 하는 후공정, 그리고 제조
에 따르면, 2015년 전체 반도체 시장이 5.7% 성장한 것 공정의 주기적 오류 검사와 관련된 측정 및 분석 공정으
에 비교해 IoT 관련 반도체 부문은 36.2%로 빠르게 성장 로 대별할 수 있다. 특히, 전공정은 웨이퍼 위에 회로도
하고 있는 것으로 나타났으며, 전기자동차, u-헬스, 로 를 그리는 과정으로 웨이퍼 가공 공정이라고도 부르며,
봇 등이 향후 부상할 것으로 전망되는 미래 주력산업에서 노광, 식각, 연마 그리고 증착 등을 반복하여 웨이퍼 위
도 결국 반도체가 핵심 구성품이 될 것으로 예상된다. 에 소자와 배선을 배열하여 제작하는 공정을 말한다. 반
반도체 시장은 2000년대는 치킨게임이라 불릴 정도의 도체 칩 제조업체들은 매출액의 약 20% 정도를 반도체
급격한 시장 재편 과정을 겪으며 대규모 M&A와 전략적 장비 구입에 쓰고 있다고 알려져 있다. 반도체 장비 산업
제휴를 기반으로 대형 제조사들이 특정 부분의 영역을 장 은 반도체 산업이 발전함에 따라 중요성이 더욱 높아지고
악한 시장이 구축되었다. 이 과정에서 국내 반도체 칩 제 있으며, 예전에 칩 제조업체가 주도하였던 많은 기술 개
조사들은 선도적 공정기술을 기반으로 메모리 칩의 제조 발들을 이제는 장비 업체가 주도하게 되는 상황으로 점차
분야에서 타의 추종을 불허할 정도의 기술 선점을 통해 변하고 있다.

Table 1. 반도체 증착 장비 (CVD) 시장 규모 추이와 전망*


 (단위 : 백만 달러)
2013 2014 2015F 2016F 2017F 2018F 2013-2018년 연평균 성장률(%)
CVD 2,843 3,529 3,699 3,375 3,670 3,882 6.4
PECVD 1,153 1,459 1,523 1,387 1,523 1,613 6.9
LPCVD 310 426 414 367 399 419 6.2
ALD 606 788 903 903 990 1,047 11.6
APCVD 131 111 73 40 44 47 (18.6)
Tube CVD 644 744 787 678 714 757 3.3

 * Gartner, 신한금융투자 추정

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반도체용 세라믹 히터의 산업 및 기술 동향

Fig. 1. 세계 반도체 시장 비중 및 IoT 반도체 시장전망 (출처: Gartner)

2. 반도체 증착 장비 산업 및 시장 전망 업체의 의존도가 상당히 높은 구조를 갖고 있으며, 실제


국내 반도체 장비 산업의 수준은 식각과 세정 및 증착 공
2017년 웨이퍼 가공 장비는 21.7% 증가한 398억 달러, 정에 한하여 세계적 수준에 약 60~80%의 기술력을 갖고
팹설비, 웨이퍼 제조, 마스크/레티클과 같은 기타 전공정 있다고 알려져 있다.
장비 분야는 25.6% 증가한 23억 달러로 전망된다. 어셈 증착 장비는 세계 시장 기준으로 2013년 약 28억 달러
블리 및 패키징 장비분야는 12.8% 증가하여 34억 달러, 에서 2017년 36억 달러 까지 연평균 6.6%의 성장률로 성
테스트 장비는 6.4% 증가하여 39억 달러로 예상했다. 한 장할 것으로 전망하고 있으며, 세부 분야별로는 APCVD
국은 2018년에도 134억 달러의 매출로 지역 중 1위를 유 (Atomospheric Pressure CVD) 장비가 4천7백만 달러,
지할 것으로 보이며, 한국, 중국, 대만이 톱3를 차지할 것 LPCVD(Low Pressure CVD) 장비가 4억 달러, PECVD
으로 전망된다. 중국의 경우, 2017년은 5.9%의 성장률을 (Plasma Enhanced CVD) 장비가 15억 달러, ALD장비
보였지만, 2018년 장비 매출은 61.4% 증가해 110억 달러 가 9억 달러 정도의 분포를 보일 것으로 예측하고 있다.
가 되어 2위 지역으로 올라서며, 지역 중 최고의 성장률 반도체 장비 산업 부분은 반도체 전체 산업에서 중요
을 보일 것으로 예측한다. 대만은 109억 달러로, 2017년 도가 높아지고 있으며, 특히 증착 장비는 국내에서 관련
에 비해 다소 매출이 부진할 것으로 전망된다. 산업의 파급효과가 높은 분야이다. 이들 증착 장비 가격
국내 반도체 산업은 세계적인 경쟁력을 가진 메모리 소 에서 히터가 차지하는 비중은 10%수준으로 알려져 있으
자 업체가 국내에 존재함에도 불구하고 장비 분야는 외국 며, 장비 공급과는 별개로 개별 소자 업체의 사용량은

Fig. 2. 반도체 종류별 시장 전망 (출처: WSTS, IBK투자증권, 2016)

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특집 안덕원, 박명하

Fig. 3. 세계 반도체 장비 시장 전망 (출처: SEMI, www.semi.org, July, 2017)

각 사 및 각각의 공정 조건 의존하지만, 일반적으로 세 로 인하여 반도체 제조 공정 시 여러 가지 문제가 발생하


라믹 히터의 경우 2년 정도의 수명을 가지는 것으로 알 기 때문에 이를 극복할 수 있는 차세대 반도체 공정 기술
려져 있다. 개발이 필요하다.
차세대 반도체 공정 기술방향은 최근 3차원 구조로 진
3. 차세대 반도체 공정 기술 화하고 있다. 하지만 공정미세화는 여전히 계속 진행되고
미세공정은 아직도 기업간의 주요 경쟁요소로 작용하고
반도체의 증착 장비는 공정의 발전 및 변화와 밀접한 있다. 공정미세화를 위한 패터닝 기술은 DPT(Double
관계를 가지며, 이를 구현하기 위해 존재한다. 현재 반도 Patterning Technology)와 QPT(Quadruple
체 공정은 고집적화 및 고속 동작을 위하여 미세 패턴화 Patterning Technology)외에도 EUV가 연계되고 있으
되어가고 있으며, 이와 함께 수율 향상을 위한 장비의 대 며, DSA(Directed Self Assembly)와 Nano Imprint 역
구경화로 발전하고 있다.이러한 공정 미세화 및 대구경화 시 포토공정을 보완할 것으로 판단된다. 비록 미세공정이
다변화되고 있지만 3차원 구조 역시 확대될 것으로 판단
된다. 특히 3차원 구조는 NAND와 시스템 반도체에서 본
격화될 전망이다. 특히 올해부터는 3D NAND가 48단에
서 64단으로 전환될 것으로 전망된다. 또한 시스템 반도
체 부문에서는 3D FinFET 공정 확대로 10 나노 공정 이
후 7 나노 공정경쟁이 예상된다.

4. 히터 기술 발달의 추세

증착 장비의 핵심 요소는 히터, 플라즈마, 프리커서 등


과 같은 기술이 요구된다. 특히 반도체용 Heater의 경우
Fig. 4. 차세대 반도체 공정 기술방향 는 증착 공정에서 원하는 막질을 얻기 위한 증학 장비의

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반도체용 세라믹 히터의 산업 및 기술 동향

Fig. 5. 증착 공정 챔버 및 히터 모식도

핵심부품 요소로 자리잡고 있다. 증착 공정은 통상 진공 더욱 가혹해진 증착공정으로 인하여, 웨이퍼 가열과 냉
조건을 유지한채 반응기에 RF(Radio Frequency) 파워 각이 반복되며, 특히 고온의 증착 공정에서의 온도에 의
를 인가하여 히터 위에 안착된 웨이퍼에 열을 전달하고 한 웨이퍼 휨(warpage) 현상과 같은 문제점이 나타나고
플라즈마 상태를 유지한 상태에서 제조공정에 사용되는 있다.
화학 Gas를 유입하여 원하는 막질을 얻는 공정으로 진행 이러한 문제점을 해결하기 위해, 현재는 열전달 및 온
된다. 도 균일화 기능이 보강되며 공정 중 휨 방지가 가능한 정
반도체 증착 공정은 300℃이상의 비교적 고온에서 이 전척 기능이 구현된 히터가 일부 적용되고 기능이 개선된
루어진다. 이때 웨이퍼에 400℃ 이상의 열을 가해주는 제품을 개발 중에 있다.
장치로 사용되는 부품이 매립형 히터이다. 이러한 발열
체 매립형 히터는 주로 메탈 재료가 주를 이루었으나 증 5. 히터 제조 기술
착 공정의 온도가 올라감에 따라 웨이퍼와 메탈의 열팽창
률 차이로 인해 웨이퍼의 미끄러짐 문제가 발생한다. 이 AlN 히터는 히터 설계 기술, AlN 원재료 조성, 성형,
러한 문제를 해결하기 위하여 열팽창 계수가 실리콘 웨이 성형체 가공, 소결, 소결체 가공, 타 세라믹 간 접합 기술,
퍼와 유사하고 내플라즈마성을 갖는 AlN 세라믹 소재를 다른 형상을 가진 세라믹 간 접합 기술, 고온에서 부식되
이용한 히터가 적용되었으며, 현재는 500℃이상의 고온 지 않는 금속 간 접합 기술 그리고 열악한 환경에서 사용
공정에서는 AlN 히터가 주를 이루고 있다. 하지만 최근 되는 제품의 신뢰성 평가 기술 등으로 이루어 진다.

Fig. 6. 반도체용 Heater 종류 및 기술 Trend

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Fig. 7. 반도체용 AlN Heater 제조기술 및 공정 Flow

또한, AlN 히터의 제조 공정은 AlN 분말에 전기적 저 높이기 위해, 플라즈마 RF 파워도 증가되어야 하는 현
항 특성을 제어할 수 있는 불순물을 첨가한 후 설계된 치 실이다.
수의 성형체 및 소결체를 제조하고 발열체 및 접지를 위 이러한 장비의 기능적 요구를 충족하기 위하여, 차세대
한 전극의 매립은 성형체 혹은 소결체 상에서 이루어진 히터를 개발하는 것이 필수불가결한 일이다. 차세대 히터
다. 특히 전극 매립 방식에 따라 프린팅형, 플레이트형, 개발 기술은 열전달 및 온도 균일화 기능이 우수하며, 고
코일형 등이 있으며, 특히 접지 전극과 발열체 전극 사이 온 증착 공정에서의 고온 비저항 및 웨이퍼 휨(Warpage)
에는 고온에서도 전기 저항이 일정 수준이상 유지되어야 현상을 방지하기 위한 정전척 기능이 구현되며, 더욱 가
하는 부분으로 전기적 절연이 유지되면서 열전도도가 유 혹해진 공정 환경에서 내플라즈마성이 우수한 특성 등을
사하여 구조적 스트레스가 발생하지 않는 조성의 AlN 소 갖추어야 한다.
재가 요구된다. 이러한 전극들이 매립된 다단의 세라믹-
금속 구조를 구현하기 위해 열간 가압 소성로의 적용이 6.1 온도 균일도 향상 히터 개발
일반적이며, 이 후 성형이 완성된 AlN 프레이트를 지지 최근의 다층 박막 공정은 600℃ 이상의 고온 공정을 이
하는 샤프트를 접합하고 고온에서 부식되지 않는 이종 금 용하여 박막의 생산성을 높이고 있고, 웨이퍼의 온도 균
속 접합 방식을 이용하여 AIN 히터를 제작한다. 일도 제어를 통한 웨이퍼의 수율이 증가하는 상황에 있
다. 하지만, 현재 사용되는 AlN 히터는 실온에서부터
6. 차세대 히터의 기술 개발 방향 600℃ 이하 온도 범위에서 온도 균일성이 유지되는 히터
라도 600℃ 이상의 온도 범위가 되면 급격하게 온도차이
최근 산화물, 비산화물 증착공정(CVD,ALD)은 기술 가 커지는 문제점이 나타나고 있다.
난이도가 높아지고 있으며, 공정 조건 또한 더욱 가혹해 이러한 AlN 히터의 문제점은 히터의 중심부와 외곽부
지는 상황이다. 특히 3D V-NAND는 단층 박막 공정에 의 온도 균일도 차이로 인하여 웨이퍼 불량을 발생시킨
서 3차원 다층 박막 증착 변화로 인해, 공정 증착 시간 다. 불량의 원인은 AlN 소재로 구성된 플레이트와 샤프
이 기존대비 2~6배가량 증가했다. 또한, 증착 속도를 트로 형성된 히터의 설계 구조로 인해서 발생된다. AlN

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Fig. 8. 차세대 히터 고객 요구 사양

히터는 저항 발열체가 매설된 AlN 플레이트의 중심 부위 요하다.


에 AlN 샤프트가 지지하는 구조로 되어 있으며, 이로 인 이와 더불어, 현재 장비 제조사는 생산되는 AlN 히터
하여 중심에서 AlN 샤프트로의 열전달에 의한 열손실이 제품마다의 온도 재현성에 대한 관리가 더욱 엄격하게 요
발생하여 히터의 중심부위와 외곽부의 온도 편차가 발생 구되는 상황이다. 하지만, 실제로 생산되는 히터 각각의
된다. 온도 재현성 관리는 일정하게 되지 않는 것이 현재 기술
이러한 문제점을 개선하기 위하여 2-Zone 및 멀티존 수준이다. 온도 재현성 문제 원인은 AlN 소재 발열체의
히터에 대한 개발이 진행되고 있다. 특히, 2-Zone 히터 반응 및 변질로 인한 것으로 추정된다. 이를 해결하기 위
제어방식은 히터 중심부 발열체와 외곽부 발열체의 온도 해서는 AlN 소재 내에 매설된 발열체를 소결 공정에서
를 별도로 조절하는 방식이다. 이 방식을 이용하여 AlN 금속 부재와의 반응을 억제하거나, 또는 반응의 정도를
히터의 중심부와 외곽부의 온도 균일도를 유지한다. 균일하게 제어하는 연구가 필요하다.
2-Zone 및 멀티존 히터 개발을 위해서는 다음과 같은
요소 기술이 필요하다. 첫째, 샤프트의 AlN 소재는 고온 6.2 고온·고저항 정전척 히터 개발
에서 중심부의 열손실 차단을 목적으로 열전도도가 낮은 증착 공정의 초고온 환경 변화로 인해서, AlN 히터에
AlN 소재에 대한 개발이 필요하다. 둘째, 히터 플레이트 서는 누설 전류 억제를 위한, 고온 비저항이 높은 소재가
중심부 온도를 기준으로 하여, 외곽부 온도를 별도로 조 요구되고 있다. 특히, 고주파 전극 AlN 히터는 상온과 중
절하는 방식인 온도 제어 설계 기술이 필요하다. 셋째, 히 온 영역에서 고주파 플라즈마 상태가 안정적으로 형성 되
터 플레이트의 온도가 고온으로 올라가면 이에 전원을 공 다가 600℃ 이상의 고온 영역으로 변경되면, 고주파 플
급하는 단자부 또한 고온에서도 물리적인 접촉이 안정적 라즈마 상태가 불안정한 상태로 나타난다. 이러한 불안정
으로 이뤄질 수 있는 단자부 연결 방식에 대한 개발이 필 한 고주파 상태에 대한 원인은 AlN 소재 내부의 저항 발

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Fig. 9. 2-Zone 히터 제어방식

열체와 고주파 전극에 전류가 흘러 누설 전류로 인한 고 가능하다. 하지만 600℃ 이상의 고온 영역에서 AlN는 비
주파 전압의 이상 현상을 야기시키는 것으로 추정된다. 저항이 1016 Ω·㎝에서 105 Ω·㎝ 이하로 현저히 저하하
이러한 문제점을 해결하기 위해서는 AlN 소재의 고온 비 기 때문에, 600℃ 이상의 고온 온도범위에서 정전력의
저항을 확보하는 것이 필수이다. 기능을 사용하기 어렵다.
최근 장비 고객사는 정전척 AlN 히터에 대한 수요가 증 따라서, 고온 영역에서 AlN 히터의 정전력을 구현하기
가하는 상황이다. 그 이유는 다층박막 증착 공정에서 웨 위해서는 고온 비저항을 108~1013 Ω·㎝ 범위에서 제어
이퍼의 가열과 냉각이 반복적으로 실행됨에 따라, 웨이퍼 하는 것이 주요한 기술이다. 하지만, 현재 사용되는 AlN
휨(Warpage) 현상이라는 불량이 나타나며, 이에 고온 소재는 공정온도가 600℃ 이상이 되면 소재의 비저항이
영역에서 정전척 기능이 구비된 AlN 히터에 대한 개발이 급격히 감소되는 특성이 존재한다.
필요한 실정이다. 최근 AlN의 전기적 특성의 연구 결과에 의하면, AlN
특히, 고온 영역의 정전척 AlN 히터는 웨이퍼를 고정 소재의 고온 비저항의 특성은 입자 내에 존재하는 점결함
하기 위하여 존슨-라벡힘에 의한 정전력이 주로 이용되 에 크게 의존하는 것으로 확인되고 있다. 특히 AlN 소재
고 있다. 존스-라벡힘을 이용하여 정전력을 구현하기 위 의 가장 일반적인 점결함은 공공(Vacancy)으로 산소가
해서는 비저항이 108~1013 Ω·㎝의 범위에서만 사용이 질소자리에 치환됨에 따라 발생하게 되고, 이로 인하여
비저항 특성에 영향을 미치게 된다. 따라서 AlN 소재의
고온 비저항을 향상 시키기 위해서는 AlN 입자 자체의
산소 함량을 제어하는 것이 매우 중요하며, 이와 동시에
입계의 2차상의 양과 형상을 제어함으로써 추가적인
AlN 소재의 전기적 특성 향상을 기대할 수 있다. 다만,
이러한 AlN 소재의 결함과 입계 2차상 제어에 따른 전기
적 특성 관한 연구가 아직까지 미진한 실정으로 향후 지
속적인 연구가 필요하다.

6.3 우수한 내플라즈마 히터 개발


최근 고객사는 증착 공정에 있어서 높은 생산성과 함께
Fig. 10. 정전척 AlN 히터 모식도 고품질화를 요구하는 상황이다. 이에 장비 제조사는 증착

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반도체용 세라믹 히터의 산업 및 기술 동향

Fig. 11. AlN 소재 전기전도 메카니즘

공정 속도를 높이기 위해, 플라즈마 RF 출력을 증가하여 은 반도체 웨이퍼에 부착될 가능성이 크고, 이로 인하여
사용하고 있으며, 생산 시간을 단축하기 위해 고온 조건 반도체 소자의 제조 수율을 저하시키는 품질 문제를 야기
하에서 NF3 부식성 가스를 사용하여 플라즈마 클리닝 공 시킨다.
정을 진행하고 있는 상황이다. 현재 고온 증착 공정을 위한, 플라즈마 내식성이 우수
특히, 플라즈마 클리닝 공정은 불소를 포함한 고온 플 히터 개발이 진행되고 있으며, 특히 불소계 플라즈마 가
라즈마 가스 분위기에 노출된다. 이로 인하여, AlN 히터 스에 대한 내식성이 우수한 이트리아를 포함한 산화물 계
는 불소 라디칼 및 이온과 반응해서 AlN 소재 표면에 불 열과 다양한 불화물 계열의 내식성 소재 개발과 내식성
화 알루미늄의 반응층이 형성된다. 이 불화 알루미늄 반 표면층을 형성하기 위한, 다양한 표면처리에 대한 연구가
응층은 450℃ 정도에서 승화하기 시작하여, 반복적인 증 활발히 진행되고 있는 상황이다. 특히 내플라즈마 특성이
착 또는 클리닝 공정 처리에 의해 승화 반응이 지속적으 우수한 이트리아 및 불화물 계열의 소재는 모두 불소 플
로 진행된다. 결국 표면에 노출되어 있는 AlN 소재는 재 라즈마에 대한 내구성이 높고, 고온에서도 승화하기 어렵
차 불소 라디칼 및 이온과 반응하여 불화 알루미늄이 재 기 때문에, 플라즈마 내식성이 우수한 소재로 알려져 있
형성되고, 이 형성된 불화 알루미늄이 승화하는 것으로 다. 하지만 이트리아 및 불화물 계열의 소재를 단독히터
인하여 AlN 소재의 부식 범위가 확대된다. 소재로 적용하기에는 많은 문제점들이 있으며, 그 중 가
이러한 부식된 AlN 히터 표면은 점차 두께가 얇아지기 장 큰 문제점은 열전도율 및 강도가 낮고, 열팽창 계수가
때문에 히터 강도의 저하 및 균열 등과 같은 현상으로 이 크기 때문에 가열 냉각에 의해 발생하는 열응력으로 인한
어진다. 더불어, 승화한 불화 알루미늄은 챔버 내에서 비 균열 현상이다. 이를 극복하기 위하여, 플라즈마 가스가
교적 저온 영역인 챔버 내벽면 등에서 석출, 부착되어 파 노출되는 히터 표면에 내식층 표면형성을 통한, AlN 히
티클 형태의 오염원으로 작용 된다. 결국, 이러한 파티클 터 개발에 대한 연구가 진행되고 있다. 내식층을 형성하
는 방법에는 용사 및 에어로졸 코팅에 의한 코팅막 내식
층을 형성하는 방법, 화학적 기상 성장법, 전기 화학 기
상 성장법에 의한 내식층을 형성하는 방법 등이 있다.
하지만, 아직까지 AlN 히터에 내식층을 형성하기에는
많은 문제점들이 존재한다.특히, 코팅 방식을 통하여
10um 이하의 얇은 내식층을 형성 시킬 경우, 얇은 내식
층으로 인하여 부식 방지 효과에 한계가 있다. 특히 내식
Fig. 12. PECVD 증착 공정에서의 AlN 히터 부식현상 모식도 층 두께 제한에 의한 히터의 수명을 효과적으로 연장하기

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특집 안덕원, 박명하

어렵다. 또한 내식층을 두껍게 할 경우 AlN 소재와의 열 6. 임흥주, “CVD/ALD 기술의 소개 및 시장 동향”, ㈜IPS
팽창계수 차이로 인하여 균열 및 크랙이 발생될 수 있다. 7. “반도체 공정변화”, 메리츠종금증권, (2013)
8. “반도체 산업”, NH투자증권 (2015).
고온 영역에서 불소계 부식성 가스의 플라즈마에 따라서 9. ‌이성민, 김도경, “반도체 산업용 AlN 소재 개발,” 세라미
고온영역에서 불소계 부식성 가스의 플라즈마 노출 시, 스트 12[1] 18-25 (2009).
부식을 방지하고 파티클 발생을 방지할 수 있는 히터 개 10. 이성민,
‌ 오윤석, 김대민, “엔진니어링 세라믹 소재의 내
플라즈마성 및 식각기구,” 세라미스트 15[5] 47-55
발을 위한 추가적인 연구가 필요 상황이다.
(2012).
11. S.
‌ A. Jang and G.M. Choi, “Electrical Conduction in
7. 결론 Aluminum Nitride,” J. Am. Ceram. Soc. 76[4] 957-60
(1993).
12. J.
‌ Iwasawa, R. Nishimizu, M. Tokita, M. Kiyohara
반도체 증착 공정에 사용되는 핵심 부품인 세라믹 히터 and K. Uematsu, “Plasma-Resistant Dense Yttrium
는 고출력의 플라즈마 분위기와 부식성 가스 노출이라는 Oxide Film Prepared by Aerosol Deposition Process,”
가혹한 환경에서 사용되고 있기 때문에 고온과 높은 인가 J. Am. Ceram. Soc. 90[8] 2327-32 (2007).
13. D.M.
‌ Kim, S. Y. Yoon, K. B. Kim, H. S. Kim, Y. S.
전압 조건에서의 우수한 전기 절연성, 내식성 등 요구되 Oh, and S. M. Lee, “Plasma Resistance of Yttria
는 모든 특성을 충족하는 소재와 제조 공정이 개발되어야 Deposition by EB-PVD Method(in Korea),” J. Kor.
할 것이다. 또한, 소자의 진화에 따라 웨이퍼에 요구되는 Ceram. Soc. 45[11] 707-12 (2008)
특성이 다양해지고 있으며 이를 해결하기 위해서는 기존
의 방식에 더하여 새로운 요구 조건을 충족시키는 기능을
구현하는 방향으로 각 부품들과 제품이 설계되어야 할 것
이다. 무엇보다 중요한 점은 모든 요구 조건들이 충족되  안덕원
더라도 이를 세라믹으로 구현해야 하는 기술적 난제를 해
 2001~2003 인하대학교 물리학과 학사
결해야 할 것으로 판단된다.
 2003~2006 인하대학교 고체물리학과 석사
현재 세라믹 히터의 국내 기술 수준은 해외 시장을 선  2006~현재 ㈜미코 기술연구소 차석 연구원

도하고 있는 일본의 소재 부품 기술에 비해 초기단계로


인식된다고 볼 수 있다. 따라서 반도체 소자의 진화와 이
에 따른 공정 환경 변화에 맞춰 시장에서의 기술적 우위
를 선점하려면 반도체 세라믹 부품에 대한 많은 노력과
관심이 필요하다.

 박명하
참고문헌
1. ‌“세계반도체 장비산업 현황 및 산업발전을 위한 제언”, 한  1991~1999 경성대학교 전기전자공학과 학사
 1999~2001 경성대학교 전기공학 석사
국산업기술평가관리원 (2015)
 2002~현재 ‌㈜미코 부품개발본부 본부장/
2. “반도체 장비”, 한국과학기술정보연구원 이사
3. ‌“반도체산업의 수급구조 변화와 발전과제”, 한국무역보
험공사 (2014).
4. ‌이종희, “한국 반도체산업 발전과정과 장비산업 경쟁력
분석”, 경기대학교 (2012)
5. “중소기업기술로드맵”, 중소기업청 (2013).

14 ||세라미스트

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