可靠度預估與可靠度試驗之環境因子分析-以短距無線傳輸產品為例

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可靠度預估與可靠度試驗之環境因子分析
-以短距無線傳輸產品為例
陳銘芷 洪弘祈 林坤佑
朝陽科技大學，工業工程與管理系

摘 要
近年來無線通訊蓬勃發展，其中藍芽無線是無線通訊中重要的產品之一，無疑地藍
芽無線未來數年都將是資訊產業的重要產品之一。台灣是資訊產業的重鎮，針對無線通
訊產品的研發與製造，均佔有一席之地。產品要在市場上佔有行銷優勢除了應兼具美觀
及操作方便外，可靠度良窳亦是決勝關鍵。可靠度較佳之產品不僅具較佳競爭力，更有
助於建立該品牌在消費者心目中良好的形象。因此能於產品研發期間快速有效進行可靠
度預估及試驗，絕對是市場競爭決勝之關鍵點。
因此本研究針對短距無線傳輸產品之藍芽模組(Blue Tooth Module : BTM)進行可靠
度預估，在產品設計研發階段即分別以美軍軍規標準（MIL-HDBK-217F）及美國商業
標準（Bellcore）
，探討藍芽模組以產品設計中各零組件之壽命參數預估產品壽命水準，
在兩種不同規範與標準之差異性。以往業者透過不同的可靠度試驗(逐次抽樣試驗與固
定時間加速壽命試驗) 執行可靠度預估，往往需經過非常冗長之試驗時間，或經固定時
間試驗卻無失效資料而無法真正有效估計出產品之平均壽命。本研究將經由實驗設計
技術採用較少樣本進行試驗下，協助業者找出影響產品之平均壽命之環境條件。針對
可靠度試驗有顯著影響的環境條件，可以找出最佳效益的試驗條件範圍，以便縮短壽
命試驗的時間時，仍能夠提供正確之可靠度預估模式。

關鍵詞：加速壽命試驗，可靠度試驗，實驗設計。

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一、緒論
短距無線藍芽(Blue Tooth)技術已經嵌入許多消費裝置中，小從筆記型電腦，手機，
大至汽車都可看到蹤影。藍芽在作業系統也獲得廣泛支援。在 2002 年第三季中，微軟
宣布在 Windows XP 支援藍芽，之前則已有 Pocket PC、Windows CE .Net、Apple (Mac OS
X)、Palm 與多數手機 OS 的加入支援。藍芽入侵消費市場的首要管道會來自手機、筆記
型電腦與 PDA。2003 年出貨的藍芽裝置數量介於 1 億台至 1.25 億台之間，到 2005 年前，
市場出貨量每年增加 75%。手機市場使用了 80%以上的藍芽晶片。在 2003 年，大約有
20%的手機在出貨時有安裝藍芽晶片，市場預計在 2007 年前，此數字將上升 50%。PC
專用藍芽與筆記型電腦藍芽卡片是 2004 年以後必備裝置，這是由於消費者希望透過無
線進行行動裝置同步化之故。藍芽的崛起也會引發行動 email 的需求。
然而當越來越多廠商投入藍芽產品研發製造時，除了研發多功能及於市場上長時效
性的產品外，產品的可靠度逐漸成為不可或缺的一環。畢竟一項消費性電子產品除了兼
具美觀及操作方便外，可靠度良窳亦是各家廠商決勝關鍵之一。可靠度較佳之產品不僅
提高長時間之競爭力，更有助於建立該品牌在消費者心目中良好的形象。過去台灣業界
幾乎沒有設置可靠度部門，一些較有規模之廠商亦僅於品保或品管部門下設置可靠度單
位，至於可靠度測試工作則只是依循國外廠商要求或規定執行，沒有一套國內自行訂定
之標準步驟以執行新研發產品之可靠度預估、可靠度試驗等重要工作項目。因此如果政
府政策及產業發展趨勢要向價值鏈前端之研發設計能力邁進，如何協助業者訂定一套可
靠度預估與測試標準步驟，於研發階段製產品上市前以經濟且最短時間內完成可靠度試
驗，實為學界能提供廠商迫切需求之技術服務。
可靠度預估與可靠度試驗的方法有很多種，在第三小節將以美軍軍規之零件計數
法、Bellcore 分析法針對藍芽模組以設計零件壽命分配作可靠度預估。然後於第四小節
將呈現廠商執行可靠度試驗與預估之現況及結果，分別以逐次抽樣試驗與固定時間加速
壽命試驗等結果作可靠度預估，並將此兩種可靠度預估方法（零件壽命預估及實驗結果
預估）列表比較。第五小節提出以實驗設計方法，希望經由較少之實驗時間及樣本，找
出最佳成本效益的可靠度試驗條件。

二、 文獻探討
可靠度的觀念最早起始於二次大戰期間，德國在研製 V-1 火箭階段時，已有系統強
度決定於其中最弱環節的觀念，而個別元件良窳會直接影響到整個系統的表現，所以在
當時被視為相當重要的課題。自從 1952 年美國電子設備可靠度顧問團（Advisory Group
on the Reliability of Electronic Equipment, AGREE）提出報告之後，以對電子裝備進行研
究所得到的結論為基礎，並依據此結論將可靠度定義為：產品於既定的時間內，在特定
的使用環境條件下，執行特定的功能，成功完成工作目標的機率。
Bellcore 可靠度預估為美國小貝爾電信公司（the Bellcore Client Companies, BCCs）
在選購設備時，一個重要的考慮因素。而可靠度就是指設備隨著時間而功能失效的頻
率，是一種定量的衡量方法，且對於保養、維修成本及設備的持續服務，可靠度均有關
鍵影響。Bellcore 分析法的目的就是要將零組件與系統等硬體設備的可靠度預估方法予

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以文件化，但此處所指的零件，並不包括由軟體程式所造成的失效。
對於採購的電子設備，Bellcore 公司建議設備供應商運用以下三種方法：
方法一、方法二與方法三來提供電子產品的預估可靠度。而對於此三方法的優先次序，
Bellcore 公司要求設備供應商必須優先提供方法一（零件計數法）的所有零組件預估可
靠度，而方法二及方法三由採購者決定。
方法一：零件計數法；假設組件失效率可用個別零件的失效率累加計算之。
組件穩定期失效率（Steady-State Failure Rate）可以下式表示：
m

λ =π E ∑( Nλ ) (1)
SS i SSi
i =1

公式中 m ＝組件共有 m 個不同型式的零件

Ni ＝第i零件型式在組件中的數量
λSSi＝第i個零件的穩定期失效率
πE ＝組件環境因子
方法二：合併零件計數法與實驗室數據，以統計方法所求之零組件失效率。
方法三：依據實際運轉所得數據，以統計方法預估運轉中產品的可靠度。
在可靠度預估的實務運用方面，許英明［3］收集電信局台北衛星通信中心的三座
發射機系統的故障記錄，經整理統計後估算出系統平均故障率，藉此以提醒購買者對平
均壽命值的重視。陸強華［4］以局用電子數位交換機(Digital Switching System)的零組
件可靠度預估為例，分別運用美軍軍規標準及美國商業標準兩種預估方法，發展出符合
工業界實務應用的經驗式可靠度預估程序，並詳述其實施步驟，以提供業界參考。
一般而言，當產品之平均壽命很長時，常採用加速老化試驗方法。基本上，加速壽
命試驗是在物理與時間上，加速產品的劣化肇因，以較短的時間試驗，並據以推定產品
在正常使用狀態的壽命或失效率。加速壽命試驗考慮的三個要素為「環境應力」 、
「試驗
樣本數」及「試驗時間」。加速壽命試驗下的失效模式，必須與正常操作環境下之壽命
試驗相同，其試驗結果才有意義。加速壽命試驗中，最重要的則是如何掌握其加速因子
（Accelerated Factor） ，於絕對溫度 Ta 下進行加速壽命
。在阿氏(Arrhenius)模式下［1］
試驗以計算正常絕對溫度 Tn 操作之平均壽命時，加速因子 A 為
1 1
( E / K )( − )
A=e Tn Ta
（2）

其中 E : 活化能(Activation Energy)，是分子於化學或物理作用中需具備的能量，單
位為 eV (Electron-Volts)，K 為 Boltzmann 常數 (= 8.623 × 10 −5 eV / ° K ) 。
郭建成［5］結合蒙地卡羅模擬與實驗計劃法，以探討產品之可靠度參數估計時所
實際面臨影響條件—現場資料收集不完整、測試樣本數、左右設限時間等，對可靠度分
析上的影響。研究期望於實際試驗前先行分析影響條件與參數估計準確度之相關性，供
分析人員或決策者進行可靠度分析時採用，選出較優之分析方案。於實驗計劃法中應用
模擬試驗取代真實試驗，並當作參數估計所需的先驗試驗之數據，可直接篩選出最佳試
驗方案，以降低真實試驗之成本與時程，並提供後續研究者一可靠度參數估計測試最佳
流程。

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林柏翰［2］以田口實驗設計取代加速度試驗的方法，進行步槍槍管壽命之改善，
步槍槍管壽命屬於磨耗型產品，若連續發射即屬加速試驗。經由田口參數設計（Parameter
Design）之方式可以求得槍管之最佳設計組合，並可估算此最佳組合下槍管之平均壽命
函數，做為日後維護保養之依據。
綜合以上文獻所述，過去並沒有針對藍芽模組提出適當的可靠度預估與試驗之研
究。為使藍芽產業持續蓬勃發展，並研發製造出更具競爭力的產品，本研究分別從可靠
度預估的準確性和可靠度試驗的效益兩方面切入，以提供生產藍芽模組產品的業者於產
品設計研發及製造階段時，能以最省時省力的方式估算出藍芽模組的平均失效間隔時
間，並透過實驗設計方法所規劃出可靠度試驗之執行方式，能以最佳效益之試驗，達到
客戶或消費者所要求之可靠度水準。
於是本研究之目的包括：
1. 於可靠度預估中，以美軍軍規標準（MIL-HDBK-217F）及美國商業標準（Bellcore）
為主要預估方法，來瞭解藍芽模組產品在不同規範與標準下，其預估壽命水準之
差異性。
2. 經由可靠度試驗(逐次抽樣試驗)，及固定時間加速壽命以驗證前項可靠度預估之
準確性。
3. 利用加速壽命試驗，透過實驗設計方法，協助業者找出最佳效益的可靠度試驗條
件，於縮短壽命試驗的時間同時，仍能夠提供正確之可靠度預估模式。

三、藍芽模組之可靠度預估
可靠度預估的目的主要是為瞭解產品於設計階段當時之可靠度水準，並能對不同
的設計提出快速的替代方案，供決策者參考，以掌握產品的特性。在設計階段可能沒有
實體產品以供可靠度試驗，因此如何能以最省時、省力的方式取得產品可靠度預估相當
重要。
3.1 以 MIL-HDBK-217F 美軍軍規標準實施可靠度預估
目前業界最常用的預估標準為美軍軍規 MIL-HDBK-217F，原先其目的是對美國國
防電子設備系統建立與維護一套持續的可靠度預估方法。此方法可獲得固有可靠度的推
定值，亦即成熟設計的可靠度值。其主要提供國防用電子設備和系統在需要做可靠度預
估時的一個共通基準，並可做為比較與評估不同設計間可靠度的擇優決策，及做為提升
設計過程中產品可靠度的一種工具。
當採用美軍軍規標準 MIL-HDBK-217F 為預估標準進行探討時，其實施程序如圖
1 所示，圖中各程序説明如下
<1> 分析產品相關資訊:
首先對產品的使用環境、功用、特性需有清楚認知。
<2> 文件準備：
a.) 材料用量清單表（Bill of Material；BOM）：
材料用量清單可表示一個產品各層次之結構，由此表可以知道製成一種產品其
所需要的材料與數量。內容包括零件料號、零件名稱、零件數量與計量單位等。

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b.) 零件規格書：
零件規格書為製造該零件之必備文件，說明零件的品稱、規格與其應用，
製造零件各部分所需的材料規格、尺寸、完成品的電容特性、外觀尺寸、包裝
要求與零件需符合的品質規範。
<3> 分析 BOM 表、蒐集參數
取得產品之 BOM 表後，先分析 BOM 表中有哪些零件，並蒐集需要哪些參數。

開始

<1>分析產品相關資訊

<2>文件準備
（BOM 表，零件規格書）

<3>分析 BOM 表

蒐集品質因子 蒐集環境因子 區分零件類別

πQ πE λG

<4>決定各元件計算公式

<5>依公式計算各元件失效率

<6>求得系統失效率與 MTBF

結束

圖 1 MIL-HDBK-217F 實施程序

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<4> 決定各元件計算公式
首先從 MIL 手冊找出本研究所需用之元件公式，並根據 BOM 表中之零件，
逐一挑出所需要計算之公式。
<5> 依公式計算各元件失效率
依據材料用量清單，將同一類型零件，依據零件形式、零件編號或數值、單
位用量依序填入零件可靠度預估工作表，方便計算各元件之可靠度預估方程式，
求取其失效率。
<6> 求得系統失效率與 MTBF
依方程式(3)將各元件失效率加總後可算出系統總失效率，再由系統總失效率
倒數求得 MTBF 值。
n

λ eq
= ∑ N i ( π Q ×λ G ) i
i =1
（3）

公式中 λeq＝產品之總失效率
πQ＝第i項電子零件之品質修正係數
λG＝第i項電子零件之一般性（Generic）失效率
Ni＝與第i項電子零件相同之零件數量
n＝產品中所用電子零件之類別數

經查詢美國軍規手冊 MIL-HDBK-217F 相關表單，得到以下資料與結果。

表 1 藍芽模組各零件類別之失效率—美軍軍規之零件計數法

編號 零件類別 零件基本失 品質修 數量 零件失效率λp

效率λG 正係數 (Failure/ 109
9 hours)
(Failure/ 10 πQ
hours)
1 4 Layer PCB 1800 1.0 1 1800
2 Flash Memory 71 2.0 1 142
3 Bluecore01 USB 490 2.0 1 980
4 RF Bandpass Filter 130 1.0 1 130
5 SPDT RF Switch DC-3GHz 8100 1.0 1 8100
6 LNA MMIC 10 2.0 1 20
7 Surface Mount Crystal 20 1.0 1 20
8 Ceramic Capacitor 130 3.0 21 8190
9 Thick Film Resistor 70 3.0 5 1050
10 Thin Film Inductor 0.47 1.0 6 2.82
11 Chip Ferrite Bead 0.47 1.0 1 0.47

系統總失效率 (Failures/109 hours)

20435.29
平均壽命(hours) 48935

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根據方程式（3）求得藍芽模組之總失效率為每 109小時有 20,435.29 個不良，因此
以美國軍規MIL-HDBK-217F法預估藍芽模組之平均壽命為 48,935 小時。
3.2 Bellcore 預估方法
本研究以文獻中所提 Bellcore 方法一實施可靠度預估。實施程序如圖 2 所示：

開始

<1>分析產品相關資訊

<2>文件準備
（BOM 表，零件規格書）

<3>分析 BOM

蒐集電性應力 蒐集品質因子 蒐集環境因子 區分零件類別 蒐集溫度因子

πS πQ πE λG πT

<4>決定各元件計算公式

<5>依公式計算各元件失效

<6>求得系統失效率與 MTBF

結束

圖2 Bellcore 實施程序

圖中各程序説明如下(與圖 1 相同部分不再贅述)

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<4> 決定各元件計算公式
首先從 Bellcore 附錄 A 找出本研究所需用之元件公式，並根據 BOM 表中之零
件，逐一挑出所需要計算之公式。
<6> 求得失效率與 MTBF
依方程式(1)將各元件失效率加總後再乘以系統環境因子可算出系統失效率，再
由系統總失效率倒數求得 MTBF 值。

經查 Bellcore 附錄 A 相關表單，得到表 2 資料與結果。

表 2 藍芽模組各零件類別之失效率-Bellcore 法
編號 零件類別 零件基 環境 品質 學 電性應 數量 零件失效率
本失效 係數 修正 習 力係數 λp (Failure/
率λG πE 係數 係 π2 S 109 hours)
(Failure/ πQ 數
109 πL
hours)
1 4 Layer PCB 860 5 1.0 1.0 1.0 1 4300

2 FLASH MEMORY 190 5 1.0 1.0 1.0 1 950

3 Bluecore01 USB 190 5 1.0 1.0 1.0 1 950

4 RF Bandpass Filter 190 5 1.0 1.0 1.0 1 950

5 SPDT RF Switch 190 5 1.0 1.0 1.0 1 950

DC-3GHz
6 LNA MMIC 190 5 1.0 1.0 1.0 1 950

7 Surface Mount 150 5 1.0 1.0 1.0 1 750

Crystal
8 Ceramic Capacitor 30 5 1.0 1.0 1.0 21 3150

9 Thick Film Resistor 30 5 1.0 1.0 1.0 5 750

10 Thin Film Inductor 100 5 1.0 1.0 1.0 6 3000

11 Chip Ferrite Bead 100 5 1.0 1.0 1.0 1 500

系統總失效率 (Failures/106 hours)

17200
平均壽命( hours) 58140

根據方程式（1），可求得藍芽模組之總失效率為每 109小時有 17,200 個不良，以

Bellcore法預估藍芽模組之平均壽命為 58,140 小時。將兩種方法得到的二個預估平均壽
命值整理如表 3，由表 3 中得知：
1. 兩者所預估之平均壽命皆達到合作廠商客戶的要求 17,280 小時。

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2. 美國軍規 MIL-HDBK-217F 法預估的平均壽命較短，也驗證一般文獻中所
MIL-HDBK-217F 法較 Bellcore 法嚴謹。

表 3 兩種可靠度預估之平均壽命比較

MIL-HDBK-217F 法 Bellcore 法

平均壽命 48,935 小時 58,140 小時

四、藍芽模組之可靠度試驗

目前廠商實施逐次抽樣試驗，及固定時間加速壽命試驗兩種，分別於 4.1 節與
4.2 節中詳述。

4.1 逐次抽樣試驗

逐次抽樣試驗為合作廠商所熟悉之試驗方法，實施程序如下所示：
1. 蒐集短距無線傳輸產品相關參數資料，包含α=0.1（生產者的冒險率）、β=0.05（使
用者的冒險率） 、θ1（消費者可接受之最小的平均壽命值=保固期 3 年）
、θ0（生產者
預期達到的平均壽命值=消費者可接受之最小的平均壽命值之 3 倍為 9 年）與鑑定
比（d = θ0／θ1一般用於可靠度鑑定試驗，為區分產品好壞之能力，在藍芽模組中d=3）
等參數。
2. 隨機抽取 n 個短距無線傳輸產品樣本，將樣本置於電腦測試平台進行可靠度試驗。
3. 分別以累積試驗時間與故障數，作為 X 軸與 Y 軸，計算允收及拒收準則、試驗計
劃 曲線之斜率與截距。依據前述的五個操作特性曲線主要參數來訂定準則常數。
可由方程式(4)和(5)取得 A 和 B 兩個準則常數
(d + 1) (1 − β )
A= （4）
2α d
β
B= （5）
1−α
將上述所取得的準則常數（A、B）代入下列方程式（6-8），以求得“判定準則線”
之斜率（b）及截距（a、c）。計算過程如下：
ln B
a= （6）
ln(θ 0 / θ1 )
1 1
−
θ1 θ 0
b= （7）
ln(θ 0 / θ1 )
ln A
c= （8）
ln(θ 0 / θ1 )
分別代入藍芽模組之 d、α、β 值，由方程式(4)和(5)取得 A 和 B 值。

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(d + 1)(1 − β ) (3 + 1)(1 − 0.05) 3.8
A= = = = 6.33
2αd 2 × 0 .1 × 3 0. 6
0.05 β
B=
= 0.056 =
1 − α 1 − 0.1
將上述所取得的準則常數（A、B）代入方程式（6-8） ，以求得“判定準則線”之斜率
（b）及截距（a、c）。計算過程如下：

ln B ln 0.056 − 2.88
a= = = = −2.62 .
ln (θ 0 θ1 ) ln (51840 / 17280) 1 .1

(1 θ 0 )(1 θ1 ) (1 / 17280)(1 / 51840) [(5.78) − (1.93)] × 10 −5

b= = = = 3.5 × 10 −5
ln(θ 0 θ1 ) ln(51840 / 17280) 1.1

ln A ln(6.33) 1.85
c= = = = 1.68
ln(θ 0 θ1 ) ln(51840 / 17280) 1.1

將取得之截距和斜率分別於逐次檢定圖上劃出兩條平行線（即判定準則線） 。由
於逐次抽樣試驗中經常造成試驗時間無法預估或控制，且成本常有過高的現象。因
此，於試驗計劃中需訂定試驗停止時間（Tmax）及試驗停止失效數（rmax），以終止試
驗。以方程式(9)中尋找使方程式成立之r值為試驗停止失效數（rmax）。

≥ θ1
2
x α
(1− ), 2 r （9）
xβ
2
,2r θ 0

2 2
x (1−α ), 2 r
與 xβ , 2 r 可由卡方表中尋找其對應於（1－α）與β之卡方機率值，直到此比值

大於或等於θ1／θ0為止。經由卡方表中尋找至rmax = 8 其對應於（1－α）與β之卡方機率
值大於 0.33 (=θ1／θ0)。
試驗終止時間（Tmax）是利用上述參數，代入方程式(10)求得。

θ χ (51840) χ
2 2
0 (1−α ), 2 r 0.9 ,16 (51840)(9.31) （10）
T = = = = 241315
max 2 2 2
4. 繪製逐次抽樣檢定圖。
5. 進行試驗，若無失效發生，則查驗逐次抽樣圖是否已達允收標準。如資料點未進入
允收區域則繼續抽樣測試。反之若資料點進入允收區，則判定為允收。
6. 如有失效發生，則依檢定表查驗。若位於再繼續試驗的區域中，則繼續進行試驗；
若進入拒收區域，則判定為拒收，並記錄之。
7. 最後停止試驗，並將判定為允收或拒收之資料進行平均壽命估計。

當完成上述所有的準備動作後，即進行試驗，由於藍芽模組為短距離無線通訊產
品，其試驗過程中所需使用的相關測試設備如表 4 所示。隨機抽取 20 片短距無線傳輸
產品，確認外觀及電性正常後，即進行試驗，並經由圖面上的結果來判斷允收／拒收。

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此試驗為靜態試驗，亦即只提供電源(3.3V)給模組並無程式讓模組處於動作中。試驗之
環境溫度為 40℃，在阿氏(Arrhenius)模式下，當活化能設為 1 時［1］，可由方程式(2)
計算得加速因子 A = 6.4。經過 25 天試驗，沒有不良品發現，試驗總時間為

20×25×24×6.4=76800 小時

超過 75,000 小時落於逐次抽樣記劃圖允收區，故停止試驗。由於在實際試驗的過程
中，並沒有樣本不良，經由下列方程式(11)求得加速後單邊平均壽命下限值 33,391 小時。

2T 2 × 76800
MTBF = = = 33391 (11)
χ
2
4 .6
α ,2

rmax

拒收 c+bt
累積故障數

Tmax

繼續
試驗

a+bt 允收

累積時間
圖 3 逐次抽樣檢定圖

表 4 試驗設備明細

設備項目 設備名稱 數量（個） 備註

PC 工作平台 個人電腦 1 包含測試用軟體

排線 JST & USB Cable 3
標準樣品 Blue Tooth Dangle 1

4.2 固定時間加速壽命試驗

目前廠商所實施之固定時間加速壽命可靠度試驗為動態試驗，亦即提供程式讓藍芽
模組於試驗中隨時處於儲存、讀取資料動作中。實施步驟如下所示：
1. 實驗時環境應力為溫度，且藍芽模組失效時間符合指數分佈, 故採用阿氏(Arrhenius)
模式作為加速壽命試驗之分析模式。

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2. 取 n 個短距無線傳輸產品於 Ta 溫度下進行為期 D 天固定時間的加速壽命試驗, 總試
驗時間為 T = n × D × 24 小時。取 5 個短距無線傳輸產品於 40℃溫度下(同上一小節
之加速因子 A = 6.4)，進行為期 30 天固定時間的加速壽命試驗, 總試驗時間為 T = 5
×30 × 24 = 3,600 小時。
3.在 95% 信心水準下, 如果不良個數為 r 個, 經查固定時間試驗 GEM (Generalized
Exponential Model)表，可得試驗比（M）。試驗時間結束時不良個數為 0 個, 依查
表得試驗比（M）= 2.9957。
4. 最後即可計算出此產品在正常操作溫度之平均壽命為 T×M×A=23040×2.9957×6.4 =
69,021 小時。

表 5 中列出廠商進行兩種可靠度試驗之平均壽命。

表 5. 兩種可靠度試驗之平均壽命比較

逐次抽樣 固定時間加
試驗 速壽命試驗
樣本數 20 個 5個
試驗時間 25 天 30 天
試驗型態 靜態 動態

試驗溫度 40 ℃ 40 ℃

平均壽命 >33,391 小時 69,021 小時

五、以實驗設計找出最佳試驗條件
由第四節之實驗結果可知，目前可靠度實驗完全依照國外廠商所指示進行，不但所
需的試驗時間冗長，當試驗結束卻無失效發生時，只能產生可靠度下限而無法得知真正
之產品平均壽命，如表 5 中平均壽命下限值與固定時間加速壽命估計值相距甚遠。
因此針對可能影響試驗條件的因子作實驗設計，找出使產品更快發生失效之重要環
境因子。在不同的試驗溫度、溼度與電壓下，利用實驗設計法找出可靠度試驗時間最少
之試驗條件。三種可能影響試驗時間之環境因子如下表 6。

表 6 實驗設計控制變數表

控制變數 正常水準及範圍 精準度及設定誤差

溫度(A) 25 ~ 90℃ 0.5 ℃

溼度(B) 10 ~ 98% 1%

電壓(C) 3.0 ~ 3.6V 0.1V

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利用二水準完全實驗設計(23 ) 加中心點複製兩次試驗，篩選出具有顯著作用之因子，
其因子配置、實驗順序與實驗結果如表 7 所示，每個實驗處理均採 5 個短距無線傳輸產
品進行動態試驗。經實驗設計中表 8 之ANOVA分析結果，可知溫度與溼度均為顯著因
子（線性作用與二次曲線作用均顯著） ，且其交互作用因子(AB)亦顯著，代表溼度對產
品壽命的作用受到溫度水準設定之干擾。，電壓則不為顯著因子。所以在相同平均壽命
下，當溫度與試驗濕度愈高時，平均壽命所需試驗時間即可大幅縮短。

表 7 二水準完全實驗因子配置、實驗順序與實驗結果

因子 1 因子 2 因子 3 試驗時間
處理
A: 溫度 B: 濕度 C: 電壓 (小時)

1 90 98 3.6 250
2 25 10 3.6 1680
3 25 98 3.0 350
4 90 10 3.0 1680
5 90 98 3.0 250
6 25 10 3.0 1680
7 25 98 3.6 350
8 90 10 3.6 1680
9 60 55 3.3 1680
10 60 55 3.3 1680

表 8 ANOVA 分析

Sum of
Source DF Mean Square F Value Prob > F
Squares
A 1598.5 1 1598.5 Infinite 0
B 3773806 1 3773806 Infinite 0
C 0 1 0 0 1.0
AB 4901.6 1 4901.6 Infinite 0
AC 0 1 0 0 1.0
BC 0 1 0 0 1.0
ABC 0 1 0 0 1.0
A2+B2 800196.3 1 800196.3 Infinite
Pure Error 0 1 0
Cor Total 4580560 9

六、 結論與建議

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綜合前面所述，本研究不僅可提供短距無線傳輸產品的製造商一個可靠度預估與試
驗的流程，更瞭解產品可靠度之重要性。且以此研究為基礎，當在生產各類產品時，皆
可遵行此可靠度流程。在試驗環境因子方面，經實驗設計 ANOVA 分析，溫度、溼度皆
為顯著因子。在相同平均壽命下，試驗溼度、溫度愈高，試驗所需時間即可大幅縮短。
然而溫度與濕度在可靠度試驗之最佳設定值仍有待進一步分析，因此後續研究可使用反
應曲面技術繼續進行相關之可靠度試驗，以設計出一套廠商能遵循且有效省時的可靠度
試驗最佳化設定及可靠度估計流程。
同時試驗中顯示溫度顯然是影響產品品質的重要因素。因此找出溫度上限值並告知
消費者，是未來一個重要的課題，以避免消費者在高溫環境中，使用短距無線傳輸產品
而造成無謂的損失

參考文獻
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誌謝
本研究由國科會計畫 NSC 94-2213-E324-020 補助，特此誌謝。

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The Reliability Prediction and Environmental Factor

analysis of Reliability Test -Case Study of the Short-Distance

Wireless Communication Module

M. Chen H. C. Horng K. Y. Lin
Department of Industrial Engineering and Management

Chaoyang University of Technology

Abstract
This research will focus on reliability prediction of the short-distance wireless
communication module. In the past, the industry often achieves the reliability prediction
through the sequential sampling tests and the accelerated life tests with type I censoring. Both
tests either take very long testing time or cannot provide accurate prediction for lack of failure
data limited by the type I censoring. This research will implement the reliability tests with
fewer samples to screen out the significant environmental factors through the design of
experiments. It helps to find out the optimal environment factors to decrease the testing time
and to obtain the accurate reliability prediction.

Keywords: Accelerated Life Test, Reliability Test, Design of Experiment

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