视觉引导划片机轨迹优化算法研究 魏哲

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第 37 卷 第 12 期 Vo

l.37No.12
2019 年 12 月 MACHINERY & ELECTRONICS Dec.2019

视觉引导划片机轨迹优化算法研究
魏 哲1 ,张 阳1 ,张明明2 ,孟繁滨2
1.沈阳建筑大学机械工程学院,辽宁 沈阳 110168;
( 2.沈阳和研科技有限公司,辽宁 沈阳 110122)

摘 要:针对砂轮划片机重复划片会 降 低 芯 片 的 加 工 精 度,甚 至 损 坏 芯 片 的 问 题,基 于 Ha


lcon 软 件 平
台提出一种提高划片精度的轨迹识别与规划方法。该方法结合了双线性插值和亚像 素 边 缘 检 测 算 法,实 现
了轨迹的识别,进一步规划下次划片轨迹,并且提高划片精度。以被砂轮划片机划 片 芯 片 为 实 验 背 景,完 成
了对划片轨迹的识别与规划。实验结 果 表 明,所 提 出 的 算 法 与 传 统 的 Canny 算 法 比 较,可 以 有 效 提 高 轨 迹
识别的精度,进而提高划片的精度。
关键词:
Hacon;边缘检测;双线性插值;亚像素

中图分类号:TP23;
TP391 文献标识码:A 文章编号:
1001 2257(
2019)
12 0038 04

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Shenyang110168,
Chna;

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一旦误差累计超出 可 允 许 范 围,就 会 出 现 崩 边 或 者
0 引言 损坏芯片。 因 此,为 了 降 低 芯 片 损 坏 率,对 划 片 的
切割工艺是芯 片 制 造 的 基 本 工 序,划 片 机 作 为 精度提出解决办法。
工艺的载体,在使用 划 片 机 切 割 IC 芯 片 时,由 于 砂 图像插值 在 人 脸 识 别、军 事 雷 达 图 像 处 理、医
轮划片机的末端执 行 器 每 一 次 划 片 存 在 误 差,使 得 学图像分析和 HDTV 等 领 域 有 着 广 泛 的 应 用 [1 3]。
实际的切割轨迹与 芯 片 上 原 有 的 切 割 道 存 在 误 差, 图像插值 算 法 分 为 线 性 图 像 插 值 算 法 和 非 线 性 图

收稿日期:
2019 09 12
基金项目:辽宁省教育厅科研专项(
LJZ2016018)
作者简介:魏 哲 1994- ),男,辽宁兴城人,硕士研究生,研 究 方 向 为 机 器 视 觉 与 运 动 控 制;张
( 阳 1981- ),男,辽 宁 沈 阳 人,副 教

授,博士,研究方向为先进智能机电系统、机器人视觉伺服与移动机器人;张明明 1982- ),男,辽宁沈阳人,高级工程 师,研 究

方向为划片机自动控制技术。

· 38 ·
魏 哲等:视觉引导划片机轨迹优化算法研究 机电一体化技术
像插值算法。其中,线 性 插 值 算 法 包 括 最 近 邻 点 插 则图像的二次泰勒展开式为
值、双线性 插 值 和 立 体 卷 积 插 值 [4 11]。 常 用 的 亚 像 f(
x,y)= g(x0 ,
y0)+
素方法 有 拟 合 法、插 值 法、灰 度 矩 法 和 一 些 组 合 gx (x0 ,
y0)
法 [12 16]。赵敏等 [17]采 用 概 率 统 计 的 方 法 提 高 图 像
((
x -x0)(
y -y0)) (
gy (x0 ,
y0)

检测的分辨率;娄训志等 [
研究基于 小 波 的 图 像 亚
18]
1 ((
x -x0)( y -y0))·
像素检测 方 法。 以 上 的 研 究 都 可 以 为 像 素 插 值 与 2
亚像素的边缘识别提供借鉴。 烄gxx (
x0 ,
y0)gxy (
x0 ,
y0)烌 (x -x0)
在此,提出一种 融 合 了 像 素 插 值 算 法 与 亚 像 素

gxy (
x0 ,
y0)gyy (
x0 ,
y0) ((
烎 y -y0
) )
(5)

边缘检测算法的方 法,能 够 更 准 确 地 检 测 轨 迹 边 缘 对于二维图像 f( x,y),如果线条边缘中心点处


位置,与原 有 的 轨 迹 比 较,进 而 规 划 下 一 次 划 片 的 的一阶导数为 0,就可以认为边缘方向 n 珗(
x,y)上的
轨迹。实验 验 证 了 所 提 的 方 法 能 够 精 准 识 别 轨 迹 一阶方 向 导 数 为 0,且 二 阶 方 向 导 数 取 极 大 值 的 点
边缘,提高砂轮划片机的划片精度。 就是边缘中心点。
设边 缘 法 线 n珗(
x,y)用 ( ny )表 示,其 中
nx ,
1 图像插值算法
‖( ny )‖ =1。因 此,若 已 知 边 缘 法 线 方 向,式
nx ,
1 线性插值原理
1. (
5)就沿着边缘法线方向用( nx ,
ny )表示为
使用最邻近插 值 方 法,找 到 要 插 值 的 像 素 点 的
f((
tnx +x0),(
tny +y0))= g(x0 ,
y0)+
灰度值是在其周围 4 个已知的相邻像素点中距离最
nxgx (
t x0 ,
y0)+t
nygy (
x0 ,
y0)+
近像素点的灰度值。插值核函数为
12 2 ( , ) 2
tnxgxx x0 y0 +tnxnygxy (
x0 ,
y0)+
1 0 ≤|u|<0. 5 或 u =0.5
h1(
u)= {
0 0.5 <|u| 或 u =-0.5

1)

12 2 ( , )
tnygyy x0 y0 (
6)
双线 性 插 值 方 法 用 于 获 得 要 插 值 的 像 素 的 灰 2
度值,根据未知像素 点 与 已 知 像 素 点 的 距 离 权 重 来 对于线条边缘,令 f((
tnx +x0),(
tny +y0))


计算要内插值像素点的灰度值。插值核函数为
=0 ,可得
1-|u| 0 ≤|u|≤1
h2(
u)=
0 { 1 <|u|

2)
t =- 2
nxgx +nygy

nxgxx +2nxnygxy +ny
gyy

7)
三次 卷 积 插 值 法 在 计 算 要 插 值 的 像 素 点 的 灰
因 此,图 像 灰 度 的 极 大 或 极 小 点 为 ( px ,
py )
度值时,要考虑 4 个 已 知 相 邻 像 素 点 的 距 离 对 插 值

= (t ),
nx +x0 t( )
ny +y0 ) 。
像素的灰度值的 影 响。 另 外,考 虑 到 相 邻 像 素 点 之
1 ,1 1 1
间的灰度值的变化 率 的 影 响,立 体 卷 积 方 法 将 内 插 若(
tnx ,
tny )∈ -
2 2 [ 2 2] [
× - , ,即 一 ]
像素周围 的 大 范 围 内 的 像 素 的 所 有 灰 度 值 全 部 三 阶导数为0的点就在像素点内,(nx ,
ny )方向的二阶
次处理。插值核函数为 方向 导 数 大 于 指 定 的 阈 值,则 该 点 ( py )为 线 条
px ,
3 2
烄|u| -2|u| +1 0≤|u|<1 边缘中心点 [19]。
( ) 3 2
h3 u = 烅-|u| -5|u| -8|u|+4 1≤|u|<2
烆0 2≤|u|
2 轨迹边缘的识别
(3) 在轨迹边缘识别中,通常使用常规的 Canny 边
2 亚像素边缘检测
1. 缘提取算法,该算法 无 法 满 足 工 作 精 度 非 常 高 的 设
对于二维图像中任意像素点的相邻像素点 (
x0 , 备。因此,本文在原有 的 Canny 边 缘 粗 提 取 的 基 础
y0)可以表示成二次泰勒多项式形式。如果图像与下 上,使用双线性插值 法 和 亚 像 素 来 提 高 轨 迹 的 识 别
列高斯核卷积后得到偏导数 gx ,
gy ,
gxx ,
gxy ,
gyy 。 精度,从而进一步提高了设备的划片精度。
烄hx,δ(
x,y)= h′δ(
x)hδ(
y) 双线性插值由 2 个一阶插值算法组成,然后,分
hy,δ(
x,y)= hδ(x)′δ(
h y) 别在水平方向和垂 直 方 向 上 执 行 一 阶 线 性 插 值,并
hxx,δ(
x,y)= h
″δ(
x)hδ(y) (
4) 且将最终 获 得 的 值 用 作 要 在 该 点 待 插 像 素 点 的 灰
hxy,δ(
x,y)= h
′δ(
x)h′δ(
y) 度值。双线性插值的 核 函 数 公 式 如 式 (
2)所 示。 核
烆hyy,δ(
x,y)= hδ(
x)″δ(
h y) 函数的函数图如图 1 所示。
· 39 ·
2019(
12)

图 1 双线性插值算法的核函数
双线性插值 的 示 意 如 图 2 所 示。(
i,j)、(
i,j+
1)、(
i+1,
j)、( j+1)是原图像中相邻的 4 个
i+1,
像素点,它 们 的 灰 度 值 分 别 用 f(
i,j)、
f(i,
j +1)、
图 3 改进的算法流程
f(
i+1,j)、
f( j+1)表示。接下来要求解出位
i+1,
于这 4 个像素点中间的某点( j+t)处 的 像 素
i+s, 3 实验与结果
值。由像素点(
i,j)、(
i,j+1)的值求解出(
i,j+t)的
实验的硬件平台为 I
nte
lCo
r 3 2350M 运 行
ei
值,由像素点(
i+1,
j)、( j+1)的值求解出(
i+1, i+
内存 6GB 的 计 算 机,采 用 德 国 MVTe
c 的 Ha
lcon
j+t)的值。同样方法,由像素点(
1, i,
j+t)、(
i+1,
作为机器 视 觉 处 理 软 件,在 砂 轮 划 片 切 割 芯 片 时,
j+t)的值求解出 像 素 点 ( j+t)的 值。 如 式
i+s,
8)和式(
( 9)所示。 对划片轨 迹 边 缘 识 别。 实 验 原 图 像 选 取 的 是 没 有
划片的芯片 和 被 划 片 的 芯 片,如 图 4a 所 示。 图 4b
是传统的 Canny 边缘算 法 检 测 轨 迹 边 缘 的 结 果,可
以看出边缘非 常 粗 糙。 图 4c 是 采 用 亚 像 素 边 缘 识
别算法检测出的轨 迹 边 缘。 相 比 于 Canny 算 法,亚
像素检测 的 边 缘 精 度 要 提 高 很 多。 但 是 边 缘 出 现
“锯齿状”像 素,为 了 避 免 出 现 这 种 问 题,先 使 用 双
线性插值再使用亚 像 素 边 缘 检 测,如 图 4d 所 示,检

图 2 双线性图像插值示意 测出的轨迹边缘的 精 度 会 更 高,有 更 好 的 定 位 轨 迹


j+t)- ( j+1) 的位置。
烄f(
i,j+t)= f(
i,j)× +
j- (
j+1)
(j+t)-j
f(i,
j+1)× (
j+1)-j


j+t)- (j+1)
f(
i+1,j+t)= f(i+1, j)× +
j- j+1)


j+t)-j
f(i+1,j+1)× (
烆 j+1)-1

8)

i+s)- (i+1)
f(
i+s,
j+t)= f(
i,j+t)× +
i- i+1)


i+s)-i
f(
i+1,
j+t)× ( (
9)
i+1)-i
通过上述公式 和 示 意 图 可 以 看 出,双 线 性 插 值
考虑到了待插值像素 点 周 围 4 个 像 素 点 的 影 响,而
且还利用待插值像素点与 4 个已知像素点的距离作
为权重,来 求 待 插 值 像 素 点 的 灰 度 值,避 免 出 现 像
最近邻插 值 算 法 中 的 “锯 齿 状 ”像 素。 同 时 与 立 体
卷积插值算 法 比 较,计 算 复 杂 度 低,提 高 图 像 的 处
理速度。改进后的算法流程如图 3 所示。 图 4 实验图像
· 40 ·
魏 哲等:视觉引导划片机轨迹优化算法研究 机电一体化技术
在完成高精度 的 轨 迹 边 缘 识 别 之 后,计 算 出 理 v
ita
lied[
z J].
IEEE Tr
ans
act
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oce
ssng,

想的轨迹位 置 与 实 际 的 轨 迹 位 置。 如 图 5a 中 的 虚 2004,
13(
5):
710 719.

5] Lehmann T M,Gnne
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Spi
tzr K.Addendum:
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线所示,是理想划片轨迹;图5b 是实际划片轨迹,实
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ing[
J].
线所示;实际轨 迹 与 理 想 轨 迹 的 误 差 如 图 5c 所 示。
IEEE Tr
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lImag
ing,
2001,
20(
7):
通过视觉测量的方 法 测 量 误 差 值,将 误 差 值 反 馈 给
660 665.
上位机,经 过 上 位 机 处 理 之 后,再 将 误 差 指 令 发 给

6] Nayak R,
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末端执行 器。 这 样 才 不 会 使 下 一 次 划 片 产 生 同 样
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或者更大的误差,以免损坏芯片。
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2015:
1 6.

7] ZhouD W,
ShenX L,
Dong W M.
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i 2012,
6(6):
627 634.

8] Hou H S,
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ssng,1979,
i 26(
6):
508 517.

9] Ke
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ssng,
i 1981,
29(
6):
1153 1160.

10] Sh
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ion[
J].
IEEE
Tr
ans
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oce
ssng,2006,15 (
i 7):
图 5 实验结果
1857 1870.

4 结束语 11] 庞志勇,谭洪舟,陈弟虎 .一种改进的低成本 自 适 应 双



三次插值算法及 VLS
I实现[
J].自动化学报,
2013,
39
提出了一 种 将 双 线 性 插 值 和 亚 像 素 边 缘 检 测

4):
407 417.
结合的算法,实 现 了 对 轨 迹 边 缘 高 精 度 检 测,然 后 [
12] Hue
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通过理想轨迹与实 际 轨 迹 对 比 形 成 误 差,将 误 差 反 i
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馈给末端执行器,从 而 避 免 下 一 次 划 片 出 现 同 样 或 pu
ting Ma
chi
ney,
r 1971,
18(
1):
113 125.
者更大的误差,提 高 芯 片 加 工 精 度。 并 且 通 过 对 划 13] 李艳,彭嘉雄 .基于 D2 样条插值和 LOG 算子的亚像

片的芯片实验处理 后,证 明 了 融 合 双 线 性 插 值 和 亚 J].华 中 理 工 大 学 学 报,2000,28(
素边缘检测 [ 3):
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souky M I,
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Ef
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23(
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4] B
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· 41 ·

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