Statystyczna kontrola procesu karty kontrolne Shewharta.

Kade przedsibiorstwo produkcyjne, dy do tego, aby produkty ktre wytwarza byy jak najlepszej jakoci. W dzisiejszych czasach, to wanie jako pozwala utrzyma si na rynku, gdzie konkurencja jest bardzo dua. Poniewa, jako oznacza zarwno wydajno, niezawodno, trwao, kompatybilno, czyli og waciwoci obiektu wicych si z jego zdolnoci do zaspokojenia potrzeb stwierdzonych lub oczekiwanych, na potrzeby niniejszego referatu, zainteresowaniem zostanie objta jedynie jako wykonania, czyli zgodno wyrobu z wymaganiami projektu. Poniewa zmienne wystpujce w procesie sterowania jakoci s zmiennymi losowymi, rola metod statystycznych odgrywa w niej dominujc rol. Podstawowe znaczenie maj metody i narzdzia nalece do tzw. wielkiej sidemki SPC (magnificent seven od Statistical Process Control) w skad ktrej wchodz: 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. diagram przebiegu procesu karta kontrolna arkusz kontrolny diagram Ishikawy diagram Pareto histogram punktowy diagram korelacji (process flow diagram) (control chart)
(checksheet) (cause and defect diagram, Fishbone diagram) (Pareto diagram) (histogram) (scatter plot)

Podstawow rol w dziaaniach sterowania jakoci odgrywaj karty kontrolne. S to podstawowe i najwczeniejsze historycznie narzdzie SPC. Nale do metod biecych kontroli jakoci, a jednoczenie przy waciwym stosowaniu maj bardzo due znaczenie przy poprawie jakoci produkcji. Praktyczne zastosowanie kart kontrolnych nastpio w 1924 roku w Bell Laboratories. Pomys kart zawdziczamy Walterowi Shewhartowi, od ktrego nazwiska nazywa si je czsto kartami kontrolnymi Shewharta (KKS). Wykorzystuj one prawa rachunku prawdopodobiestwa i statystyki matematycznej pozwalaj wychwyci ewentualne rozregulowanie proces. Jeli s takie sygnay, wwczas podejmuje si decyzj o ewentualnym przerwaniu produkcji i przeprowadzenia jego regulacji. Projektowanie KKS opiera si na zaoeniu, ze kady proces jest poddawany dziaaniu dwch rodzajw czynnikw zakcajcych: naturalnych s to czynniki nierozerwalnie zwizane z procesem. Jest ich zazwyczaj wiele, ale aden nie odgrywa dominujcej roli, nieprzypadkowa zwizana jest z przyczynami ktre mona wyjani np. zmczenie robotnikw. Jest ona szczeglnie niepodana, poniewa jest oznak nieprawidowego przebiegu procesu i znacznie obnia jako.

Gwnym elementem kadej karty kontrolnej jest diagram przegldowy, sucy do monitorowania procesu. Na osi poziomej, oznaczonej symbolem t, odkada si numer kolejnej prbki pobranej do badania. Na osi pionowej odkada si natomiast wartoci obserwowanej charakterystyki. Charakterystyka ta jest zmienn losow. Istotnym elementem jest linia centralna (center line). Jest to najczciej taka warto charakterystyki, wok ktrej powinny losowo oscylowa kolejne wartoci parametru. Linia ta wyznaczana jest na podstawie tzw. prby pilotaowej, bd wyznaczona z gry przez normy dotyczce danego procesu.

W zalenoci od potrzeb badania stosuje si dwustronny, bd jednostronny schemat kontrolny. W takiej sytuacji na diagramie wykrela si granice kontrolne (control limits). Graficzn prezentacj konstrukcji kart kontrolnych przedstawiono na rysunku 1.1. Rys. 1.1 Idea karty kontrolnej.

GGO

DGO DLK

rdo: Opracowanie wasne

Decyzje podejmowane przy uyciu karty kontrolnej oparte s na podstawie weryfikacji hipotez statystycznych przy danym . Naley podkreli, ze w miar jak rosn wymagania jakociowe w stosunku do procesw i wyrobw rozszerza si rwnie zakres stosowania nowoczesnych kart kontrolnych, okrelanych czsto kartami kontrolnymi z moliwoci akceptacji procesu, a wic z okrelon explicite wartoci . W zalenoci od rodzaju produkcji, oraz wymaga dotyczcych jakoci stosuje si rne karty kontrolne lub inne bardziej zaawansowane techniki. Karty kontrolne mona podzieli ze wzgldu na rodzaj badanej cechy jak rwnie liczb kontrolowanych parametrw. W zalenoci od rodzaju kontrolowanej cechy karty kontrolne dzieli si na: 1) karty kontrolne dla cech ocenianych liczbowo 2) karty kontrolne dla cech ocenianych alternatywnie Karty dla cech ocenianych alternatywnie, stosuje si przy cechach jakociowych, ale moliwe jest wykorzystanie ich rwnie przy kontroli cech mierzalnych, zwaszcza gdy sam proces przeprowadzenia pomiaru jest dugi bd kosztowny. Niemniej jednak stosujc skal alternatywn traci si duo informacji, ktre ogranicza mog poszukiwanie zakce procesu. W zalenoci od liczby kontrolowanych parametrw karty dzieli si na: 1) jednotorowe 2) dwutorowe 3) wielotorowe Dla kart jednotorowych konstruuje si jeden wykres dla obserwowanego parametru, a dla kart dwu i wielotorowych prowadzi si ich odpowiednio wicej. Wikszo kart zakada i rozkad cechy jest rozkadem normalnym.

Rys. 1.1. Badanie zgodnoci rozkadu z rozkadem normalnym Typy najczciej stosowanych kart kontrolnych Shewharta przedstawia rysunek 1.2.
Rys. 1.2 Typy najczciej stosowanych kart kontrolnych Shewarta KARTY KONTROLNE SHEWARTA Przy ocenie liczbowej Przy ocenie alternatywnej Karta p Karta np Karta c Karta u

Karta X Karta X Xmax-Xmin (R) Karta X R Karta X S

rdo: Opracowanie wasne Konstrukcja linii kontrolnych przy tworzeniu kart wystpuje w dwch przypadkach. Mianowicie, gdy znamy parametry projektowe wyrobu (rednia, odchylenie, a take GLC i DLK) tzw. wartoci normatywne , oraz gdy parametrw tych nie znamy i naley je oszacowa. Najczciej szacuje si redni, odchylenie lub rozstp. Estymatory wykorzystywane do wspomnianych parametrw s nastpujce: 1) xi =
2) = 1 n xij n j =1

xij - j-ta obserwacja w i-tej prbie

dn(n) tzw. wspczynnik Hartleya (warto stablicowana)

(1.1) (1.2)

R d 2 ( n)

 3) =

S c 4 ( n)

, S =

1 k 4(n 1) S i , c4 (n) = 4n 3 dla n>25 (wsp. korygujcy) k i =1

(1.3)

Zaleno 2) moe by stosowana w przypadku gdy liczebno prbki n12 (dla n>12 rozstp nie jest dobrym estymatorem zmiennoci) oraz gdy zmienno w prbce jest mniejsza od zmiennoci redniej midzy prbami. Przy konstruowaniu linii kontrolnych dla poszczeglnych, jak wspomniano wczeniej, istniej dwa przypadki. Przy prezentacji poszczeglnych kart, zostan uwzgldnione obydwie metody. Pierwsza z nich, gdy znane s wartoci normatywne, czyli parametry rozkadu normalnego tj. oraz , oraz drugi, gdy tych wartoci nie s znane, a zostan oszacowane na za pomoc estymatorw (1.1)-(1.3). Dla wszystkich kart przyjto obszar zmiennoci +/- 3.
Wyznaczenie linii kontrolnych dla Karty X

1) dla znanych wartoci normatywnych GLK = m + 3

n
3

LC = m

DLK = m 3

2) dla nieznanych wartoci normatywnych (szacowanie 1.1 oraz 1.2)

GLK = x + DLK = x d 2 ( n) n R = x + A2 (n) R R = x A2 (n) R LC = x

3
d 2 ( n) n

3) dla nieznanych wartoci normatywnych (szacowanie 1.1 oraz 1.3)

GLK = x + 3 DLK = x + 3 S c 4 ( n) n S c 4 ( n) n = x + A3 (n) S = x An (n) S
LC = x

c 4 ( n) =

4(n 1) 4n 3

Pooenie linii kontrolnych na karcie X obliczane jest na podstawie miar rozproszenia (odchylenia lub rozstpu). Dlatego jeli nie mona zaoy niezmiennoci rozproszenia w czasie, konieczne jest prowadzenie dodatkowo karty kontrolnej S lub karty kontrolnej R.
Wyznaczenie linii kontrolnych dla karty S

1) dla znanych wartoci normatywnych

2 GLK = c 4 (n) + 3 1 c 4 (n) = B6 (n)
2 DLK = c 4 (n) 3 1 c 4 (n) = B5 (n)

LC = c 4 (n)

B5 (n) = c 4 (n) 3 1 c 4 (n)

B6 = c 4 ( n ) + 3 1 c 4 ( n )

2) dla nieznanych wartoci normatywnych (szacowanie 1.3) GLK = S + 3 DLK = S 3 B4 (n) = 1 + S 2 1 c 4 ( n) = S B4 ( n) c 4 ( n) S 2 1 c 4 (n) = S B3 (n) c 4 ( n) B3 (n) = 1 3 2 1 c 4 ( n) c 4 ( n) LC = S

3 2 1 c 4 ( n) c 4 ( n)

Wyznaczenie linii kontrolnych dla karty R

1) dla znanych wartoci normatywnych GLK = d 2 (n) + 3d 3 (n)

LC = d 2 (n)

DLK = d 2 (n) 3d 3 (n)

2) dla nieznanych wartoci normatywnych

GLK = R + 3d 3 (n) DLK = R 3d 3 (n) D4 ( n) = 1 + 3 d 3 ( n) d 2 ( n) R = D4 ( n) R d 2 (n) R = D3 (n) R d 2 ( n) D3 (n) = 1 3 d 3 ( n) d 2 ( n)

LC = R

Rys. 1.2 Przykad karty kontrolnej ujawniajcej stabilno procesu

rdo: www.statsoft.pl

Rys. 1.3. Przykad karty kontrolnej ujawniajcej niestabilno procesu

rdo: www.statsoft.pl

Kolejnym rodzajem kart, s karty oparte na ocenie alternatywnej. Podobnie jak we wczeniejszych kartach, rozwaane s dwa przypadki w wyznaczaniu linii kontrolnych procesu: dla znanych wartoci normatywnych, oraz dla ich nieznanych parametrw. Podstawowe typy kart kontrolnych dla zmiennych binarnych s nastpujce:
Karta kontrolna p

Polega na okreleniu frakcji wadliwych elementw procesu. Dla poszczeglnych przypadkw linie kontrolne wyznacza si: 1) przy znanej wadliwoci procesu (p)
GLK = p + 3 p (1 p ) n p (1 p ) n p (1 p ) n p (1 p ) , gdzie n

LC = p

DLK = p 3

2) przy nieznanej wadliwoci procesu

GLK = p + 3

LC = p

DLK = p 3

p=

p
i =1

pi - frakcja w i-tej prbie

Karta kontrolna np.

Jest modyfikacj karty kontrolnej p, polegajc na tym, i zamiast rozpatrywania frakcji elementw wadliwych, okrela si ich liczb. Dla poszczeglnych przypadkw linie kontrolne s nastpujce: 1) przy znanej wadliwoci procesu
GLK = np + 3 np (1 p )

LC = np

DLK = np 3 np (1 p )

2) przy nieznanej wadliwoci procesu

GLK = np + 3 np (1 p )

LC = np

DLK = np 3 np (1 p )

Karta kontrolna c

Okrela liczb wad w jednostce wyrobu. Jeeli Z jest zmienn losow przyjmujc wartoci okrelajce liczb wad w produkcie, to jej rozkad jest zgodny z rozkadem Poissona z parametrem . Niekiedy karta ta jest wykorzystywana do badania liczby wadliwych produktw w prbie. Linie kontrolne wyznaczane s: 1) przy znanej redniej liczbie wadliwych elementw GLK = c + 3 c GLK = c + 3 c
LC = c LC = c

DLK = c 3 c DLK = c 3 c

2) przy nieznanej wadliwoci procesu

Karta kontrolna u

Pozwala na kontrol brakw w zestawie produktw. redni liczb wad w zestawie oblicza si nastpujco: u= c , gdzie n

n- liczba wszystkich produktw c- liczba wszystkich wad Linie kontrolne okrela si nastpujco:
GLK = u + 3 u n LC = u DLK = u 3 u n

W przypadku gdy liczebno prby jest rna linie kontrolne wyznacza si nastpujco:
GLK = u + 3 u ni LC = u DLK = u 3 u ni

Wykorzystanie kart kontrolnych pozwala na wykrycie niestabilnoci produkcji wyrobu w trakcie jego wytwarzania. Pozwala to nie tylko na zmniejszenie kosztw gwarancji, lecz take na zwikszenie niezawodnoci produktu, a co za ty, idzie zadowolenia klienta i zdobycia przewagi na rynku. Oprcz zaprezentowanych podstawowych kart, istniej jeszcze inne, nieco bardziej skomplikowane. Powstaway one wraz z rozwojem statystyki matematycznej, jak rwnie byy odpowiedzi na coraz to bardziej zoone procesy produkcyjne. Do tych kart mona zaliczy midzy innymi wielowymiarowe karty T2 Hotellinga.
Bibliografia:

1) Hamrol A., Mantura W., Zarzdzanie jakoci teoria i praktyka, Wydawnictwo Naukowe PWN, 2002 Warszawa 2) Iwasiewicz A., Zarzdzanie jakoci, Wydawnictwo Naukowe PWN, 1999 Warszawa 3) Koczak G., Wykorzystanie kart kontrolnych w sterowaniu jakoci w toku produkcji, AEiKA, 2000 Katowice

Statystyczna kontrola procesu karty kontrolne Shewharta

Ewelina Kowalska Koo Naukowe Metod Ilociowych Przy Katedrze Statystyki Wydzia Zarzdzania Uniwersytet Gdaski