Sprawozdanie

Badany element — bramka NAND w układzie UCY 7400 wykonanym w technologii TTL.

Tab. 1. Tabelka prawdy dla bramki NAND.

1. Pomiar charakterystyki przejściowej U0(UI).

1.1. Schemat pomiarowy:

Rys. 1. Układ do pomiaru charakterystyk przejściowej U0(UI) i wejściowej II(UI).

1.2. Tabela pomiarów:

UI [V] 0,2 0,25 0,5 0,75 1 1,25 1,5 1,75 2 2,25 2,5 2,75 3 3,25 3,5 3,75 4 4,25 4,5 4,75 5

U0 [V] 3,99 3,99 3,78 3,33 3,02 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053 0,053
Tab. 2. U0 = f(UI).

1.3. Charakterystyka przejściowa:

Rys. 2. Charakterystyka przejściowa U0 = f(UI).

2. Pomiar charakterystyki wejściowej II(UI).

2.1. Schemat pomiarowy taki sam, jak w 1.1. (Rys. 1.)

2.2. Tabela pomiarów:

UI [V] 0,2 0,25 0,5 0,75 1 1,25 1,5 1,75 2 2,25 2,5 2,75 3 3,25 3,5 3,75 4 4,25 4,5 4,75 5

II [mA] -0,842 -0,838 -0,781 -0,731 -0,682 -0,518 -0,102 0,0015 0,0085 0,0085 0,009 0,0095 0,0095 0,0095 0,01 0,0105 0,011 0,0115 0,012 0,0125 0,013

Tab. 3. II = f(UI).
2.3. Charakterystyka wejściowa:

Rys. 3. Charakterystyka wejściowa II = f(UI).

3. Pomiar charakterystyk wyjściowych.

3.1. Schematy pomiarowe:

Rys. 4. Układy do pomiaru charakterystyk wyjściowych i prądu zasilania: a) w stanie niskim, b) w stanie wysokim.

3.2. Tabele pomiarów:

II [mA] 0,04 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16

U0 [V] 0,0533 0,067 0,079 0,09 0,099 0,108 0,117 0,125 0,133 0,14 0,148 0,155 0,162 0,169 0,176 0,183 0,189

II [mA] 0 -0,05 -0,1 -0,2 -0,3 -0,4 -0,45

U0 [V] 0,53 0,52 0,515 0,5 0,48 0,46 0,45

Tab. 4. i 5. U0 = f(II), kolejno dla stanu niskiego i wysokiego.
3.3. Charakterystyki:

Rys. 5. Charakterystyki U0 = f(II) dla stanu: a) niskiego i b) wysokiego.

4. Uwagi i wnioski.

4.1. Uwagi:

• Tabele i wykresy zostały sporządzone w programie Excel, rysunki schematów w programie GoodNotes.
• Ostatni wykres ma “falowanie” dla prądu II z przedziału <-0,1;0> mA.
• Wartości zostały zmierzone z dokładnością do 2–4 cyfr po przecinku, konsekwentnie dla danej serii
pomiarów i zgodnie z ustawionymi zakresami mierników.

4.2. Wnioski:

• Ww. “falowanie” może mieć związek ze zbyt małą dokładnością przyrządów pomiarowych jak dla tak
wybranych punktów pomiarowych (odległość między nimi na wykresie jest mniejsza niż między pozostałymi).
• Charakterystyki przejściowa, wyjściowa i wejściowa pokrywają się z teorią.
• Na charakterystyce przejściowej można dostrzec stan niski i wysoki.
• Na charakterystyce wejściowej można zauważyć, że w stanie wysokim prąd wpływa do bramki, a w stanie
niskim wypływa z niej.
• Na charakterystykach wyjściowych można zauważyć, że:

a) dla stanu niskiego wzrost prądu II powoduje wzrost napięcia U0;

b) dla stanu wysokiego wzrost prądu II (co do wartości bezwzględnej) podowuje spadek napięcia U0.