Professional Documents
Culture Documents
PTVL Tem DC
PTVL Tem DC
Trùng tia (radiolarian) là các amip protozoa (có đường kính 0,1-0,2 mm) sản xuất ra
các khung xương khoáng phức tạp
1
CÁC PHƯƠNG PHÁP PHÂN TÍCH VẬT LIỆU
(Materials Characterization)
TEM
2
Phương pháp kính hiển vi
Nguyên tắc tạo ảnh trong TEM tương tự trong
SEM và gần giống OM
4
TEM
một ống CNT đơn tường ứng dụng trong điện cực pin Lithium trong công bố
của nhóm Seung Woo Lee (Hàn Quốc) trên tạp chí Nature Nanotechnology (2010) 5
TEM
(a) (d)
(b)
6
Fe3O4/ZnS
core-shell
nanocomposite
ZnS
ZnO
(c) HRTEM
image of a (d) HRTEM image of
single ZnS ZnS/ZnO nanoparticle
nanoparticle. showing the interface
between shell and core
https://dx.doi.org/10.1007%2Fs11671-008-9205-6 8
TEM
9
10
TEM
Trong thực tế, cấu trúc mạng vật liệu graphene có thể giải thích cho các
tính năng lạ thường của nó: Cấu trúc 2 chiều của vật liệu này bền vững và
hiệu quả, thậm chí mang khả năng tự sửa chữa.
Làm sao “quan sát” được cấu trúc của graphene???
Các cấu trúc có thể quan sát trong thời gian thực (real time)
và cho phép quan sát sự dịch chuyển của các sai hỏng mạng
trong mạng tinh thể graphene (HRTEM)
11
Schematic of the processing steps involved in the exfoliation of graphene
500 μm
DOI: 10.1016/j.compscitech.2019.107895 12
(A – 0 s, B – 141 s, C – 321s), các ảnh D, E, F là ảnh mô phỏng 13
ứ đ d l i ừ ả h TEM) Hì h ả h ừ S i
Vì sao phải dùng kính hiển vi điện tử
Không thể phân biệt các chi tiết có kích thước nhỏ hơn
½ bước sóng tới
Bước sóng
Dòng Electron 50pm
14
Độ phân giải của kính hiển vi điện tử
15
Lịch sử phát triển
16 16
Lịch sử phát triển
Năm 1927, H. Busch (CHLB Đức) phát hiện ra rằng một chùm điện tử
có thể tạo được từ trường xoay tròn đối xứng nhờ sử dụng các thấu
kính hội tụ.
Hiện tượng này được ứng dụng để tạo ảnh lần đầu tiên vào năm 1932
bởi E. Ruska và M. Knoll (Giải thưởng Nobel Vật lý vào năm 1986)
17
18
Lịch sử phát triển
19
TEM
20
Cấu tạo của TEM
21
Nguyên tắc hoạt động
22
Sơ đồ nguyên lý của TEM vs SEM
23
Cấu tạo của TEM
24
Nguồn tạo electron (Electron Gun)
25
Nguồn điện tử phát xạ nhiệt
Điện tử phát ra từ một catod được đốt
nóng ở T0 cao
Năng lượng nhiệt do đốt nóng sẽ
cung cấp cho điện tử động năng để
thoát ra khỏi liên kết với kim loại
Tuổi thọ không cao, độ rọi của chùm
điện tử kém nhưng ưu điểm là rẻ tiền
26
Súng phát e dùng dây W
27
Súng phát e dùng LaB6
28
Nguồn điện tử phát xạ trường (FEG)
Điện tử phát ra từ catod nhờ một điện thế lớn đặt vào
Nguồn phát điện tử dạng này có tuổi thọ cao, độ rọi chùm tia điện tử lớn.
Tuy nhiên, FEG rất đắt tiền và đòi hỏi môi trường chân không siêu cao
29
So sánh các loại nguồn phát electron
30
Nguồn tạo electron
Thấu kính điện từ
Hệ thống chân không
Giá mẫu
Màn hình huỳnh quang
31
Thấu kính điện từ
Khi có dòng điện chạy qua cuộn dây đơn sẽ
tạo ra từ trường mạnh ở tâm của cuộn dây.
Sau khi điện tử được gia tốc với thế gia tốc 50-
200kV sẽ được hội tụ bằng thấu kính điện thành
chùm tia mảnh 0.1-5µm rồi được chiếu lên mẫu
32
Sơ đồ chùm tia e trong TEM
Vật kính
34
Vacuum Systems for Electron Microscopy
35
Vacuum Systems for Electron Microscopy
1. Làm cho chùm tia kết hợp – Quãng đường tự do trung
bình của điện tử ở áp suất khí quyển (1 atmosphere) chỉ có
1 cm. Nhưng khi ở áp suất 10-6 Torr, chúng có thể đi được
tới vài mét (khoảng 6.5 m) và hạn chế sự tán xạ điện tử.
2. Môi trường cách ly – Không cho tương tác giữa chùm tia
điện tử với các phân tử khí dư. Hạn chế sự phóng điện, đặc
biệt là giữa anode và cathode, và ở vùng diện tích xung
quanh bộ nguồn phát xạ trường.
3. Làm tăng thời gian sử dụng (phát xạ) của nguồn súng điện
tử - hạn chế sự ôxy hóa, ngăn chặn sự bốc cháy của sợi đốt
súng điện tử (filament).
4. Làm suy giảm tương tác giữa các phân tử khí dư, chùm
tia điện tử và mẫu mà làm cho nhiễm bẩn cột kính.
36
Nguồn tạo electron
Thấu kính điện từ
Hệ thống chân không
Giá mẫu
Màn hình huỳnh quang
37
Giá mẫu
38
Nguồn tạo electron
Thấu kính điện từ
Hệ thống chân không
Giá mẫu
Màn hình huỳnh quang
39
Màn hình huỳnh quang
40
Nguyên lý tạo ảnh TEM
41
Nguyên lý tạo ảnh TEM
42
Nguyên lý tạo ảnh TEM
43
TEM vs OM
Với kính hiển vi trường sáng, ta nhìn thấy mẫu như một
ảnh đen trắng nhờ sự khác biệt về độ triền quang của
các phần khác nhau của đối tượng cần quan sát.
Điểm khác cơ bản của ảnh TEM so với ảnh quang học là độ tương
phản khác so với ảnh trong kính hiển vi quang học và các loại kính
hiển vi khác. Nếu như ảnh trong kính hiển vi quang học có độ tương
phản chủ yếu đem lại do hiệu ứng hấp thụ ánh sáng thì độ tương phản
của ảnh TEM lại chủ yếu xuất phát từ khả năng tán xạ điện tử.
44
Tương phản do phân tán (tán xạ)
Khi chùm electron đi qua các điểm khác
nhau của mẫu, một phần điện tử bị tán xạ và
đổi hướng so với ban đầu rồi bị loại bởi khe
vật mở (lỗ thông quang) nằm dưới mẫu.
Những điện tử còn lại là những điện tử
truyền qua đập vào màn hình huỳnh quang
tạo nên ảnh của mẫu.
Phần mẫu nơi tán xạ xảy ra dễ dàng, số
electron truyền qua ít → hiện trên ảnh bằng
mảng tối.
Phần mẫu nơi tán xạ xảy ra khó, số electron
truyền qua nhiều → hiện trên ảnh bằng
mảng sáng.
Nhờ cơ chế trên mà mẫu hiện lên thành ảnh
đen trắng
Mẫu
46
Tương phản do phân tán (tán xạ)
Khe mở
vật
48
Tương phản do phân tán (tán xạ)
Khe mở
vật
Phần mẫu chứa chủ yếu nguyên tử của các nguyên tố nặng (Z lớn) tán
xạ electron mạnh hơn phần chứa các nguyên tử nhẹ (Z nhỏ)
→ hiện trên ảnh bằng màu tối hơn
49
Tương phản do phân tán (tán xạ)
Cơ chế tạo ảnh là cơ chế mass-thickness
Dòng Phần mẫu chứa nguyên
điện tử tố nặng (Z lớn)
50
Tương phản do phân tán (tán xạ)
Cơ chế tạo ảnh là cơ chế mass-thickness
51
52
Tương phản do nhiễu xạ
Tương phản tán xạ không xảy ra với lớp chất rắn có cùng độ dày
như đơn tinh thể
https://www.globalsino.com/EM/page3355.html 53
Tương phản do nhiễu xạ
Với những phần nhiễu xạ mạnh
của mẫu, số e- truyền qua giảm vì
các tín điện tử đổi hướng nên ko a1, a2, b1, c1, and d1 the
rays in diffracted beams
qua được lỗ thông quang.
→ Ảnh phần đó sẽ tối
Tương phản trên ảnh là hệ
quả của hiện tượng nhiễu xạ
54
i) (B) and (C) show dark contrast, formed in the
regions of the specimen which diffract all
electrons out of the image plane and/or out of the
objective aperture;
55
Tương phản do nhiễu xạ
56
Tương phản do nhiễu xạ
Increasing
thickness Một số tinh thể có màu tối
do chúng có định hướng
phù hợp cho sự nhiễu xạ.
Ảnh chụp HRTEM lớp phân cách Si/SiO2, lớp Si đơn tinh thể cho hình ảnh các cột nguyên tử,
còn lớp SiO2 là vô định hình không có cấu trúc trật tự
58
Cơ chế tạo ảnh HRTEM vs TEM
TEM thông thường: tương phản chủ yếu là tương phản biên độ
Tương phản biên độ (Amplitude contrast): Đem lại do hiệu ứng tương
phản do tán xạ và nhiễu xạ
(do độ dày, do thành phần hóa học và định hướng tinh thể ) của mẫu vật.
Tương phản pha (Phase contrast): Có nguồn gốc từ việc các điện tử bị
tán xạ dưới các góc khác nhau
Ảnh tạo ra nhờ sự giao thoa giữa chùm tia thẳng góc và
chùm tia tán xạ
59
HRTEM vs TEM
Ảnh có độ phóng đại lớn cho hình ảnh các chi tiết rất nhỏ,
nhưng độ phân giải chưa chắc cao
Magn Magn
x 490k x 490k
Phân biệt ảnh TEM có độ phóng đại lớn (a) và ảnh TEM có độ phân giải cao (b).
Hai ảnh cùng độ phóng đại nhưng (a) không đạt được độ phân giải cao.
60
Các phép phân tích trong TEM
1. Nhiễu xạ điện tử - SAED
TEM images and SAED patterns of as prepared ZnO (a & b) and Ag-ZnO (c, d) nanostructures
a) 1 phút
b) 7 phút
62
Ưu điểm của TEM
Tạo ra ảnh hình thái cấu trúc vật rắn với độ tương
phản, độ phân giải tốt (d nhỏ) & ảnh thật tới cấp độ
nguyên tử
Hình ảnh cấu trúc vi mô bên trong vật rắn
TEM kèm với các phương pháp phân tích khác với độ
chính xác và độ phân giải cao (đặc tính, cấu trúc hóa
học, cấu trúc điện từ của mẫu rắn…)
Cho phép thực hiện các nghiên cứu hữu ích trong
nghiên cứu vật liệu
63
Khuyết điểm của TEM
Đắt tiền do đòi hỏi của nhiều hệ thống chính xác cao: chân không, cao
áp, thấu kính điện từ, nguồn phát...
64
So sánh giữa TEM vs SEM
65
So sánh giữa TEM vs SEM
66
So sánh giữa TEM vs SEM
Bản chất điện tử Sơ cấp (truyền qua) Thứ cấp (tán xạ ngược)
Năng lượng điện tử 100-400kV 50-100kV
Độ phân giải ~0.2nm ~2-5nm
Điều kiện về chân không Rất cao Cao
69
Chuẩn bị mẫu
Mẫu phải mỏng (<150nm)
Chịu được tác động của e- có NL cao
Chịu được môi trường chân không mạnh
70
70
Giá đặt
Chuẩn mẫu
bị mẫu
Xử lý mẫu –phương pháp ướt
72
Xử lý mẫu –phương pháp khô
73
Tạo mẫu mỏng
74