Professional Documents
Culture Documents
CH 6
CH 6
فصل ششم
ترانزیستور های اثر میدانی
Field effect transistor (FET)
هادی اولیا:مدرس
hadi.owlia@gmail.com
مقدمه 2
S P-type D
G
I
Oxide
S p-type D
Vp
V
اشباع سرعت حامل ها 4
نمایش توزیع حامل در کانال MOSFET 5
خازن MOSایده آل 6
در اتصال فلز-اکسید-نیمه هادی بصورت یک خازن MOSایده آل هیچ جابجایی باری میان نیمه هادی و فلز
صورت نمی پذیرد.
SiO2شکاف انرژی زیادی نسبت به نیمه هادی ها دارد و لذا در وسط شکل اسالید بعدی هیچ ECو EV
مشخص نمی کنیم .در طرف اکسید حامل ها تجمع پیدا می کنند .پس از اتصال سه ماده به یکدیگر حامل
هایی که تمایل داشتند از نیمه هادی به فلز بروند در پشت اکسید تجمع می کنند که این تجمع وابسته به
ولتاژ اعمالی است.
بسته به نوع ولتاژ اعمالی و مقدار آن سه حالت رخ می دهد:
الف) انباشتگی ( :)Accumulationپس از اتصال ولتاژ منفی به فلز حامل های اکثریت نوع ( pکه همان حفره
ها هستند) جذب فلز می شوند و پشت اکسید تجمع می کنند.
ب) تخلیه ( :)Depletionبا اعمال ولتاژ مثبت ،حفره ها از مرز اکسید-نیمه هادی دفع می شوند و ناحیه تخلیه
تشکیل می شود.
ج) وارونگی ( :)Inversionبا افزایش ولتاژ مثبت ،حامل های اقلیت (که همان الکترون ها هستند) جذب فلز
می شوند و پشت اکسید تجمع می کنند.
حالت انباشتگی در MOSFET 7
حالت تخلیه در MOSFET 8
حالت وارونگی در MOSFET 9
رابطه ولتاژ-ظرفیت در یک خازن MOS 10
ولتاژ باند-صاف 11
ولتاژ آستانه 12
و در آن