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硕士学位论文

(专业学位论文)

基于物理光学法的天线—罩系统计算与分析

CALCULATION AND ANALYSIS OF ANTENNA-


SHROUD SYSTEM BASED ON PHYSICALOPTICS

徐瑜婕

哈尔滨工业大学

2022 年 6 月
国内图书分类号:TN820.1 学校代码:10213
国际图书分类号:621.3 密级:公开

硕士学位论文

基于物理光学法的天线—罩系统计算与分析

硕 士 研 究 生: 徐瑜婕

导 师: 宋立众教授

申 请 学 位: 专业学位

学 科: 电子信息

所 在 单 位: 信息科学与工程学院

答 辩 日 期: 2022 年 6 月

授予学位单位: 哈尔滨工业大学
Classified Index: TN820.1
U.D.C: 621.3

Dissertation for the Master Degree in Engineering

Calculation and analysis of antenna-shroud system


based on physical optics

Candidate: Xu Yujie
Supervisor: Prof. Song Lizhong
Academic Degree Applied for: Professional Degrees

Speciality: Electronic Information


Affiliation: School of Information Science and
Engineering
Date of Defence: June, 2022
Degree-Conferring-Institution: Harbin Institute of Technology
哈尔滨工业大学专业硕士学位论文

摘 要

天线罩是为了保护天线不受外界复杂的环境影响而设计的壳体结构,将内部
天线系统和外界环境进行了物理间隔,提供了一个相对稳定的工作环境,已经成为
天线系统不可缺少的保护机制。但是天线罩工作在天线的近场区域,天线罩和天线
之间会发生耦合,从而影响天线的性能,改变天线的参数;所以研究分析天线-罩
系统的电性能已经引起广泛关注。其中物理光学法以计算效率高和计算结果精确
等优点在计算电磁学中引起了高度的重视,物理光学法是在几何光学法的基础上
提出来的一种高频算法,本文使用物理光学法中的口径积分-表面积分法,在天线
和天线罩理论的基础上计算分析天线-罩系统的电性能。
首先以等效传输线理论和电磁波极化分解理论为基础对电磁波入射到介质板
上的传输和反射情况进行了详细的分析,可以用等效传输线理论得到的简洁矩阵
形式计算出多层介质板情况下的传输系数和反射系数。
推导了口径积分-表面积分公式,在相关信息已知的情况下可以计算口面的辐
射近场和辐射远场。
传统的物理光学法只考虑入射波透过天线罩的一次透射波,忽略天线罩内多
次反射波的影响,本文在此基础之上提出改进,考虑罩内反射波的影响,分别计算
反射瓣和直射瓣,最后相加得到加罩天线系统的辐射总波瓣。
最后详细分析了矩形微带贴片天线阵列-罩、阿基米德螺旋天线阵列-罩和对称
振子天线阵列-罩三种系统的电性能;利用加空气罩微带天线阵列的远区方向图改
变天线罩剖分的尺寸验证算法正确性和收敛性,对螺旋天线阵列的天线罩介电常
数进行改变观察其对透波率的影响;改变对称振子天线阵列的相位进行电扫描,观
察透波率和瞄准误差随扫描角的变化趋势。分析的结果说明了天线罩和天线相关
结构参数的变化分别对加罩天线阵列的远区方向图的影响。

关键词:物理光学法;天线罩;等效传输线理论;天线阵列;口面积分

I
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Abstract

The radome is a shell structure designed to protect the antenna from the complex
external environment. It physically separates the internal antenna system from the
external environment and provides a relatively stable working environment, which has
become an indispensable protection mechanism for the antenna system. . However, the
radome works in the near-field area of the antenna, and coupling occurs between the
radome and the antenna, which affects the performance of the antenna and changes the
parameters of the antenna. Therefore, the study and analysis of the electrical performance
of the radome-dome system has attracted extensive attention. Among them, the physical
optics method has attracted great attention in computational electromagnetics due to the
advantages of high computational efficiency and accurate calculation results. The
physical optics method is a high-frequency algorithm proposed on the basis of the
geometrical optics method. This paper uses the physical optics method. The aperture
integral-surface integral method in the paper calculates and analyzes the electrical
performance of the radome system on the basis of the related theory of the antenna and
the radome.
Firstly, based on the equivalent transmission line theory and the electromagnetic
wave polarization decomposition theory, the transmission and reflection of
electromagnetic waves incident on the dielectric plate are analyzed in detail. transmission
and reflection coefficients.
The aperture integral-surface integral formula is deduced, and the radiated near field
and radiated far field of the aperture can be calculated when the relevant information is
known.
The traditional physical optics method only considers the primary transmitted wave
of the incident wave passing through the radome, ignoring the influence of the multiple
reflected waves in the radome. Based on this, this paper proposes an improvement,
considering the influence of the reflected wave in the radome, and calculates the reflection
lobes separately. and the direct lobe, and finally add up to get the total radiated lobe of
the shielded antenna system.
Finally, the electrical properties of three systems: rectangular microstrip patch
antenna array-hood, Archimedean spiral antenna array-hood and symmetrical oscillator
antenna array-hood are analyzed in detail. The effect on the transmittance of the radome
dielectric constant is changed by changing the size verification algorithm of the radome

II
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split by changing the remote direction pattern of the air shroud microstrip antenna array,
and the dielectric constant of the radome of the spiral antenna array is changed to observe
its influence on the transmittance. Change the phase of the symmetric oscillator antenna
array for electrical scanning, and observe the trend of transmittance and aiming error with
scanning angle. The results of the analysis illustrate the influence of changes in the hood
and antenna-related structural parameters on the far-area pattern of the shrouded antenna
array, respectively.

Keywords: physical optics,radome,equivalent transmission line theory,antenna array,


port area fraction

III
目 录

第 1 章 绪论............................................................................................... 1
1.1 课题背景及研究的目的和意义 ...................................................... 1
1.2 国内外研究概况............................................................................... 3
1.2.1 天线-罩系统分析的国外概况 ................................................... 3
1.2.2 天线-罩系统分析的国内概况 ................................................... 4
1.2.3 物理光学法发展概况 ................................................................. 5
1.3 本文的主要研究内容....................................................................... 6
第 2 章 天线罩分析理论基础 .................................................................. 8
2.1 引言 ................................................................................................... 8
2.2 天线罩基础 ....................................................................................... 8
2.2.1 天线罩分类 ................................................................................. 8
2.2.2 天线罩电性能 ............................................................................. 9
2.3 平面波对介质分界平面的入射 .................................................... 10
2.3.1 反射定律和折射定律 ............................................................... 10
2.3.2 电磁波极化分解理论 ............................................................... 12
2.3.3 两种极化波的反射和透射 ....................................................... 12
2.4 平面波在单层介质板中的反射与透射 ........................................ 15
2.5 平面波在多层介质板中的反射与透射 ........................................ 19
2.6 本章小结 ......................................................................................... 22
第 3 章 物理光学法分析计算天线-罩系统 ........................................... 23
3.1 引言 ................................................................................................. 23
3.2 物理光学法介绍............................................................................. 23
3.3 口径积分-表面积分公式 ............................................................... 24
3.4 物理光学法计算过程..................................................................... 27
3.5 本章小结 ......................................................................................... 32
第 4 章 计算实例 .................................................................................... 33
4.1 引言 ................................................................................................. 33
4.2 微带天线阵列................................................................................. 33
4.3 螺旋天线阵列................................................................................. 38
4.4 对称振子天线阵列......................................................................... 43
4.5 本章小结 ......................................................................................... 51
结论........................................................................................................... 52
参考文献................................................................................................... 53
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第1章 绪 论

1.1 课题背景及研究的目的和意义

天线是用来接收或发射电磁波的精密部件,任何设施中天线都需要保持精准
的状态,每个天线的外观尺寸材质都会对天线的辐射特性产生一些影响;如果将天
线长期暴露在外界环境中,天线的性能就会变差,从而使天线的寿命缩短,可靠性
降低以及精度变差[1]。所以为了保护天线和维护天线的性能,天线罩这一结构就被
设计出来;天线罩(radome)又称雷达天线罩,由雷达(radar)和罩(dome)两个
词组合而成,是为了保护天线不受外界复杂的环境影响而设计的壳体结构[2]1。天
线罩从不同的角度可以划分成不同的类别,常见的天线罩有机头雷达罩、机背卫通
天线罩、机翼电子战天线罩、车载雷达天线罩、空空导引头天线罩等[3]。

图 1-1 某飞机的机头雷达罩
天线罩对天线系统的正常使用有着非常重要的作用;它为天线提供了全天候
安全的环境,对天线和外界自然环境进行了物理间隔,给内部设备营造一个良好稳
定的工作环境,一定程度上降低了天线自身需要承受的载荷[4],使得天线能够在各
种天气下高精度高性能的工作,降低了天线的维护维修成本,提高了天线的平均无
故障时间(MTBF);在相对恶劣的环境下,一般来说天线的 MTBF 是 500 小时,
使用天线罩后 MTBF 增加到 2400 小时,很大程度上延长了天线的使用时间,天线
的使用寿命一般可达 20 年,使用天线罩后,天线的负载的风力趋于 0,可以大大
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简化天线的结构,使天线的激励功率降低为原来的三分之一到五分之一,在很大程
度上节约了资源[5]2;同时天线罩还给天线系统提供了电磁窗口。
天线罩的基本作用表现在(1)保护天线系统免受风雨、冰雪、沙尘和辐射等
自然天气环境的影响,降低天线老化、磨损和腐蚀;延长天线的使用寿命;
(2)对
于机载雷达,飞行器飞行时需要面临高压的环境,天线罩则可以承受一定的压力负
荷,保持气动特性[6];
(3)海上天线等需要承受阻力、大风等恶劣环境的系统,天
线罩可以解决一些负荷带给天线的影响;
(4)导弹等高速飞行器飞行过程中会和空
气发生摩擦使温度升高,天线罩可以保护内部天线系统在气温相对稳定的环境下
工作[7];(5)对于一些军用天线罩和其他特殊的天线罩,还需要起到隐身的作用。
目前天线在许多领域发挥着重要的作用,例如在军事方面,机载雷达罩可以保护飞
机、舰船等设备不受天气影响在高空和海域正常稳定的工作,大部分民用基站也使
用了多种类型的天线罩来保护基站设备[8]。这些问题说明,很多情况下天线都需要
天线罩,没有天线罩性能再好的天线也没有办法发挥作用;天线罩已经成为整个天
线系统不能缺少的设备,在航空、航天、导弹、雷达、运输、导航等系统中得到了
广泛的应用。
没有天线罩的保护,在高原,沿海,空中,沙漠等天气环境严峻地区的天线都
面临着大风、沙尘、盐雾的侵蚀,面临大风沙尘天气时,天线就不得不倒伏,使得
监测和警戒等工作不得不中断;没有天线罩的保护,沿海地区的地面雷达天线和船
载雷达会长期暴露在盐雾环境中从而遭受腐蚀,天线的机械型面精度被破坏,先进
相控阵组件的元件老化速度加快,器件被破坏,天线性能因此下降[5]3。
天线罩的作用不只体现在保护机制上,对特别的内部设备天线罩也会解决特
殊问题;比如具有低副瓣的天线会对天线配套器件的要求更加严格,在这种天线上
加载天线罩就可以保护天线的高精度型面,保持天线的低副瓣特性不受影响;在具
有跟踪监测的雷达系统中,光照等会使天线、天线座和馈线之间的温度差别较大,
并且雨雪、冰雹等会使天线的口径位置发生变化,引起主瓣波束位指向发生偏移,
使用天线罩后可以消除这种偏移量;而且在天气及其恶劣不适宜人类居住但又必
须放置雷达天线的一些地区,可以使用天线罩来搭建无人值守的观测阵地,人们就
可以在其他地方操控雷达天线。
但是天线罩工作在天线的近场区域,天线的辐射场入射到天线罩上,天线罩就
会产生相应的等效电磁流,等效电磁流又会产生辐射场从而影响天线的辐射,所以
天线罩和天线之间发生耦合,对天线的电磁性能产生影响,改变天线的性能指标[9],
主要有以下几点(1)天线罩会吸收和反射天线的能量,从而降低天线的增益;
(2)
会引起天线的方向图产生畸变影响主瓣和旁瓣(3)天线罩反射和绕射不均匀,产
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生瞄准误差。
天线在技术设计上也存在着诸多的矛盾[10]1,机载天线罩在外形上要保持载体
的气动性能,流线型的外形和电性能就是一对矛盾;长细比(天线罩的长度与根部
直径之比)大有利于气动性能,而不利于电性能。对于大型机载旋罩,既要有足够
的强度、足够的刚度,还要对天线的辐射性能影响小。大型地面雷达天线罩尺寸大,
需要分解为若干单元,然后把这些单元安装成球壳。如果仅仅从结构上考虑,连接
部位强度越强越好,然而单纯的高强度连接对于电性能的影响非常大。可以看出,
天线罩的结构特性、制作材料和电性能之间既相互联系又相互制约,需要兼顾考虑,
全面分析从而找出一个可行的实施方案。天线罩涉及的方面较广,但是主要问题还
是优先满足天线罩的电性能;在电性能设计和分析之间,分析又占领了主导地位。
综上,天线罩已经成为整个天线系统不能缺少的保护机制,并且天线罩为了兼
顾各个方面的要求,必然不是在理想状态下保护天线,天线-罩系统与单独天线的
性能之间有一定的差距,所以目前将天线罩和天线看作一个系统进行综合分析已
经受到了广泛的关注。

1.2 国内外研究概况

1.2.1 天线-罩系统分析的国外概况

二十世纪六十年代以前,由于各项技术的发展都存在局限性,没有行之有效的
计算和分析方法,只能对天线罩的电性能进行近似估算;利用多次反射求和推导出
了电磁波在多层介质中的传输模型,但这一方法只能对特定结构的天线罩使用,还
没有统一的计算公式。
随后,C. W Gwinn 和 P. G. Bolds 进一步研究了这一问题改进了求解方法,提
出了等效传输线理论,简化了天线罩电磁性能的计算过程,提高了公式的精确性和
通用性[11]。
上世纪六十年代,G. Tricoles 首先提出了以几何光学法为基础的射线跟踪方法,
并计算出了带正切卵形天线罩的天线系统的辐射方向图[12]。随后,Kilconye[13]和
Tavis[14]分别提出了二维射线跟踪法(Two-Dimensional Ray Tracing)和三维射线跟踪
法(Three-Dimensional Ray Tracing)来计算辐射方向图;射线跟踪法将天线辐射的波
用射线来代替,误差较大,但是概念易懂,操作也比较简单,所以在天线-罩系统
的分析中发挥着重要的作用。
当天线罩的曲率半径比较大时,几何光学法则不再适用于计算天线罩的电性

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能;于是在几何光学法的基础上, D. T. Paris 在 1970 年提出了口径积分-表面积分


(AI-SI)法,较为准确的计算分析了角锥喇叭天线-罩系统的辐射远场,但是天线在
罩内的反射瓣没有被考虑[15]7-8;而且利用口径积分计算天线近场的计算量很大,对
于当时的计算水平来说难度较大,所以口径积分-表面积分在当时并没有引起广泛
重视;1971 年 D. C. Wu 进一步提出了平面谱积分-表面积分(PWS-SI)法,这种
方法针对口径积分-表面积分计算量大的缺点进行了改进,采用了谱域积分,使得
近场计算的效率大大提高,但是该方法要求天线具有圆对称口径[16]。这两种方法
统称为物理光学(PO)法。
上世纪八十年代至九十年代末,有限元法(FEM)、矩量法(MOM)被引入电
磁学的计算中,这两种方法需要建立精确的目标模型,进行微小的剖分详细分析,
然后采用微积分方程并且考虑边界条件和耦合效应[17]102,对计算的速度和内存要
求非常高,所以这些低频方法都只适合分析电尺寸小的目标。
到了二十一世纪,随着计算电磁学的快速发展,一些混合方法和商用软件都可
以被应用来求解天线-罩系统的电性能问题。M.A. Abdel Moneum 提出了物理光学
法和矩量法混合的方法计算口径天线的带罩辐射方向图,用矩量法求解天线罩曲
率较大的区域,用物理光学法求解天线罩曲率较小的区域[18];这种混合算法解决
了单一使用高频算法或者低频算法时难以解决的问题。一些基于低频算法的电磁
仿真软件也大量涌现,例如 FEKO、HFSS、CST,这些软件可以求解复杂的电磁场
问题,并且计算精度很高。

1.2.2 天线-罩系统分析的国内概况

我国对于天线罩的相关研究工作起步较晚,但在解放初期我国就先后仿制了
苏联歼击机机头天线罩。1963 年起,我国正式开始研究制作天线罩,首先设计了
一种充气式天线罩,这种天线罩可用于雷达扫频。上世纪九十年代起各学者们在天
线罩的研究方面就取得了多项重大突破;1986 年,南京电子技术研究所的杜耀惟、
张开信以等效传输线理论为基础推导出了多层介质平板的反射系数和透射系数的
通用公式。随后,杜耀惟编写了《天线罩电信设计方法》[17]2,这本书详细介绍了
天线罩的电性能计算方法,对之后更深入研究天线罩的工作有着重要意义。1995
年,张开信以三维射线跟踪技术为理论基础,计算出了“闪烁瓣”的具体公式。2001
年 6 月,戎华、郭东明等人发表了用平面波谱法求解天线罩瞄准误差,计算了已知
频率天线的辐射场和瞄准误差,最大误差值在 11 毫弧度左右[19]。2005 年,张强等
人对电大尺寸的天线罩使用 MOM 和 PO 混合算法对电大尺寸的天线罩建立了较

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为精确的目标模型,得到的理论结果比较符合实测结果[20]。2006 年,朱守正等提
出了使用射线跟踪技术分析电大尺寸天线罩的寻迹算法,对采用几何光学法分析
电大尺寸多层介质天线罩有重要意义[21]。2007 年,赵维江提出了积分方程和物理
光学混合的方法,在考虑天线与天线罩之间耦合作用的情况下,计算出了带罩对称
振子天线阵列系统的辐射方向图[22]。2014 年,王威、万国宾等人给出了天线罩的
曲率与计算误差的关系,当曲率半径大于五个波长时能达到满意的精度,当曲率小
于两个波长时会出现严重误差[23]。2015 年,北京理工大学的孙旭敏等人采用有限
元-边界积分-多层快速多极子(FE-BI-MLFMA)算法,基于区域分解合元极,计算了
大型波导缝隙天线阵-扁平椭球天线罩系统的主极化和交叉极化方向图。

1.2.3 物理光学法发展概况

物理光学法是一种基础的高频算法,在计算电磁学中发挥着重要的作用。1912
年, Macdonald 首次提出物理光学法,物理光学法的计算原理是切平面处的辐射
场可以看做是入射波和反射波的矢量叠加,可以根据等效原理求解等效电流和等
效磁流,空间中观察点的辐射场就可以看作是电磁流源的辐射来计算求得,物理光
学法有着很多方面的优势,因此引起众多研究者的关注。1975 年 William B. G. 研
究了多边形的平面散射问题,从数学角度为物理光学法计算平面图形散射提供了
理论依据,使物理光学法剖分尺寸时不用考虑波长的因素,推动了物理光学法计算
平面多边形的散射问题的发展[24];1994 年,J. Perez 等人提出使用物理光学法时可
以将 Non_Uniform Rational B-Spline(NURBS)建模技术引入来描述散射体的三维
信息,这个方法的优点是可以减少剖分面元的数量,提高计算速度[25];2004 年 Amir
Boag 使用局部插值方案实现多级孔径分解,计算出来透镜天线的辐射,进一步改
进了物理光学法[25][26],[27];2005 年,Robert J. Burkholder 等人提出了一种基于相位
梯度的自适应采样计算方法,通过自适应的改变采样密度只选择积分过程中对计
算结果影响比较大的点进行积分,而摒弃了影响较小的积分点,降低了需要积分的
面元数量,使物理光学法的计算更加高效[28];2014 年 A. Densmore 和 Y. Rahmat-
Samii 将计算代码移植到 OpenCL 上运行相应的处理循环,在重复计算的问题上将
物理光学法的计算速度提高了一百倍[29];2015 年,Yu Mao Wu 等人提出使用数值
最陡下降方法计算物理光学法分析凸形散射体时的积分,这种计算方法使得计算
时间不会随着频率的变化而变化[30];2016 年, Jiao liu 和 L. X. Guo 等人提出一种基
于参数域分解的新型建模方法,定位问题被简化为数值或解析解,所提出的建模方
法和定位算法没有涉及近似值。采用快速定位算法的稳态相位法来计算物理光学

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法中的积分问题,很大程度上提高了计算速度,同时使用非线性方程来求解参数所
以不涉及相关的频率问题,因此计算时间与计算目标的频率和尺寸大小没有关系
[31]

1.3 本文的主要研究内容

本文以实际应用为出发点,根据实际需要,分析并计算宽带天线-罩系统的电
性能问题,与 CST、HFSS、FEKO 等电磁仿真软件使用低频方法不同,为了更高
效准确的得到系统的辐射方向图,以物理光学法为基础结合相关理论,分析了天线
与天线罩之间的相互作用,推导出物理光学法计算天线-罩系统辐射性能的具体公
式和过程,对整个过程使用 MATLAB 进行编程仿真;最后分析计算了微带天线阵
列-天线罩系统、螺旋天线阵列-天线罩系统和维瓦尔第天线阵列-天线罩系统三个
实例的电性能并给出远场辐射方向图,对辐射方向图的透波率和瞄准误差等参数
进行分析,对比有罩天线和无罩天线的远场方向图。论文总共分为四章,具体的结
构安排如下:
第一章,绪论;首先阐述了天线罩对天线系统的作用和影响,这也是本课题的
研究意义,介绍了国内外不同时期计算电磁学的相关发展概况,并且调研了物理光
学法的研究现状,最后给出了本文的结构安排。
第二章,天线罩分析理论基础;介绍了天线罩的有关理论包括天线罩的分类和
电性能参数,分析了电磁波在介质之间的传输和反射情况,然后将电磁波分解为平
行极化波和垂直极化波,根据两种极化波的特点分别推导出它们的反射系数和透
射系数;然后根据实际要求,用多次反射求和的方法计算了电磁波入射到单层层介
质板上时的反射系数和透射系数,以等效传输线理论为基础,求解当电磁波入射到
多层介质板上时的传输情况;最后选取天线罩为单层介质板、A 夹层结构、C 夹层
结构时平行极化波和垂直极化波的传输系数随相关参数的变化。
第三章,物理光学法分析天线-罩系统;对物理光学法涉及的理论和原理进行
了系统的介绍和概括,通过麦克斯韦方程组逐步推导了口径积分-表面积分公式,
然后对天线罩进行建模剖分,详细的分析和计算了天线的辐射场入射到天线罩上
发生透射和反射,透射波形成直射瓣,反射波发生二次透射形成反射瓣的过程;给
出了计算天线-罩系统远场方向图的具体流程。
第四章,计算实例;分别选取天线系统为矩形微带贴片天线阵列、阿基米德螺
旋天线阵列和对称振子天线阵列,利用第二章和第三章讲述的基础理论和方法,计
算出三个天线-罩系统的直射瓣、反射瓣和总波瓣的方向图,从不同方面进行分析,

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首先使用加罩微带天线阵列系统验证了算法的正确性和收敛性,然后分别令天线
罩的介电常数取不同值时分析加罩螺旋天线阵列的远区方向图变化,最后分别改
变对称振子天线阵列的相位和幅度实现电扫描,观察不同扫描角时天线罩电性能
参数的变化。
最后是结论,对全文进行总结,分析本文研究的不足之处,并且指出需要进一
步解决的问题和方向。

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第 2 章 天线罩分析理论基础

2.1 引言

在计算天线-罩系统的过程中,电磁波在天线罩内传输是分析的关键问题之一,
不同结构的天线罩对电磁波的影响又是不同的,天线罩对天线的影响可以用天线
罩的电性能参数来表征。所以本章首先介绍了天线罩的相关理论基础和天线罩的
电性能参数,然后以电磁波极化分解理论和等效传输线理论为基础分别分析了电
磁波入射到介质平面、单层介质板和多层介质板上的反射系数和透射系数,最后计
算了不同结构的天线罩的典型电性能参数。

2.2 天线罩基础

2.2.1 天线罩分类

目前由于天线系统的复杂多变,天线罩也根据相应的需求发展出不同的结构。
(1)按照天线罩壁的结构形式不同,分为单层结构天线罩、A 夹层天线罩、
B 夹层天线罩、C 夹层天线罩和多夹层天线罩等,还有一些天线罩内部使用金属材
料[32]或者超材料[33]。

图 2-1 天线罩罩壁结构图
单层结构的天线罩可以分为薄壁结构和半波长壁厚结构;薄壁天线罩是天线
罩的厚度远小于介质波长的一种天线罩,而半波长壁厚结构的天线罩厚度等于介
质波长一半的整数倍。A 夹层天线罩由三层芯层组成,两个外表层是高密度介质
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层,内表层是低密度介质层;B 夹层天线罩也由三层芯层组成,但是两个外表层是
低密度介质层,内表层是高密度介质层;C 夹层天线罩的结构相当于两个 A 夹层
天线罩;多夹层天线罩是以上四种天线罩结构的任意组合。
(2)根据带宽,分为窄带天线罩、宽带天线罩和超宽带天线罩等。
(3)根据使用场合的不同。分为飞行器天线罩、地面车船罩和固定地面罩等。
(4)根据外形结构的不同,天线罩可以分为正切卵形、冯卡曼形、幂形和锥
形等;大部分天线罩由曲面旋转成立体结构,天线罩的母线一般为
𝑥 𝑣 𝑦 𝑣
𝑓(𝑥, 𝑦) = 1 − (𝑎) − (𝑏 ) (2-1)

上式中,x 和 y 分别表示平面坐标系 XOY 中的坐标分量,𝑎和𝑏分别表示天线罩底


面的直径和天线罩的高度, 𝑣表示天线罩的选择因子,决定了天线罩的形状。如图
2-2 所示为天线罩底面半径为 2,高度为 6 时不同选择因子的天线罩外形,v 由小
变大天线罩外形由凹变凸,当 v 趋于无穷大时,天线罩变为长方体。

图 2-2 天线罩外形图
天线罩除了上述各种逐步发展出来的形式,还有一些特别的研究技术,比如根
据环境需求,天线罩的外表面有时需要涂覆防雨蚀涂层、抗静电涂层和贴防紫外线
辐射薄膜等[34]。

2.2.2 天线罩电性能

如 1.1 节所述,天线罩会影响天线的辐射性能,改变天线的性能参数,所以发
展出了天线罩电性能评价参数来描述对天线的影响,根据内部设备的不同,天线罩
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对自身电性能的要求也不同;常见的电性能评价参数有透波率、瞄准误差、插入相
位移和相位不一致性等。
(1)透波率,也叫功率传输系数,定义为天线加罩后的最大功率𝑃1 和天线无
罩时的最大功率𝑃2 之比,透波率的表达式为
𝑃
𝑇 = 𝑃1 (2-2)
2

天线罩的介质材料会吸收和反射天线的能量,造成辐射能量的损耗,降低天线
的辐射距离,所以透波率是需要首先分析的重要电性能参数。
(2)瞄准误差,是指加罩前后天线的远场方向图中主瓣波束位指向的偏移量,
天线在无罩时的主瓣峰值的方向为𝜃1 ,带罩天线的主瓣峰值的方向为𝜃2 ,则瞄准误
差表示为
𝐵𝑆𝐸 = 𝜃2 − 𝜃1 (2-3)
瞄准误差是衡量天线罩对天线主瓣峰值改变大小的参数,对于一些要求追踪
目标的系统如导弹系统等,瞄准误差会导致导弹脱离目标。
(3)插入相位移,该电性能参数描述的是天线罩对电磁波相位的影响程度;
指远区观察点在加载天线罩后接收到的电场相位𝜑1 和没有加载天线罩时接收到的
电场相位𝜑2 之差,表示为
IPD=𝜑1 − 𝜑2 (2-4)

2.3 平面波对介质分界平面的入射

天线罩一般为曲面结构,分析难度较大。所以为了便于计算天线-罩系统电性
能,通常需要假设近似:
(1)天线辐射的电磁波有较强的方向性,这时天线近场区的电磁波可近似视
为平面波[36];
(2)天线罩的曲率远大于天线的波长也就是天线罩的几何尺寸大于天线的几
何尺寸时[36],在天线的近场区域可以将天线罩的局部区域等效为一个平板;
当满足上述两个条件时,可以将电磁波入射到天线罩局部区域等效为平面波
入射到介质平面上;然后通过平面波对平面介质的反射定律和透射定律来分析相
关问题。

2.3.1 反射定律和折射定律

在一平面坐标系中,𝑧 < 0的区域内充满了介质 1,介质 1 的介电常数和磁导


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率分别为𝜇1 和𝜀1 ,𝑧 > 0的区域内充满了介质 2,介质 2 的介电常数和磁导率分别为


𝜇2 和𝜀2 ;平面波从介质 1 入射到分界面 xOz 上,由此产生了入射波、反射波和透射波,
三者传播方向的单位矢量分别为𝒆𝒊 、𝒆𝒓 和𝒆𝒕 ,它们可以表示为
𝒆𝒊 = 𝑒𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 + 𝑒𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 (2-5)
𝒆𝒓 = 𝑒𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑟 − 𝑒𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑟 (2-6)
𝒆𝒕 = 𝑒𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 + 𝑒𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 (2-7)
上式中,𝜃𝑖 表示入射波传播的单位矢量和分界平面的法向单位矢量之间的夹角,
称为入射角;𝜃𝑟 表示反射波传播的单位矢量和分界平面的法向单位矢量之间的夹
角,称为反射角;𝜃𝑡 表示透射波传播的单位矢量和分界平面的法向单位矢量之间的
夹角,称为透射角[37]。
入射波的电磁场可以表示为
𝑬𝒊 = 𝐸𝑖𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1𝑒𝑖 ⋅𝑟 = 𝐸𝑖𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1(𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 +𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 ) (2-8)
1
𝑯𝒊 = 𝜂 𝑒𝑖 × 𝐸𝑖𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1 (𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 +𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 ) (2-9)
1

上式中,𝑘1 表示入射波矢量的幅度大小。
反射波的电磁场可以表示为
𝑬𝒓 = 𝐸𝑟𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1 𝑒𝑟 ⋅𝑟 = 𝐸𝑟𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1(𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑟 −𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑟 ) (2-10)
1
𝑯𝒓 = 𝜂 𝑒𝑟 × 𝐸𝑟𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1(𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑟 −𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑟 ) (2-11)
1

上式中,𝑘1 表示反射波射波矢量的幅度大小。
透射波的电磁场可以表示为
𝑬𝒕 = 𝐸𝑡𝑚 𝑒 −𝑗𝑘2𝑒𝑡⋅𝑟 = 𝐸𝑡𝑚 𝑒 −𝑗𝑘2 (𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 +𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 ) (2-12)
1
𝑯𝒕 = 𝜂 𝑒𝑡 × 𝐸𝑡𝑚 𝑒 −𝑗𝑘2(𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 +𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 ) (2-13)
1

上式中,𝑘2 表示透射波矢量的幅度大小。
在分界面上,根据电磁场的连续性,有
𝑒𝑧 × 𝐸𝑖𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 + 𝑒𝑧 × 𝐸𝑟𝑚 𝑒 −𝑗𝑘1𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑟
= 𝑒𝑧 × 𝐸𝑡𝑚 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-14)
化简可以得到
𝑘1 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 = 𝑘1 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑟 = 𝑘2 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-15)
由公式(2-14),可得
𝜃𝑖 = 𝜃𝑟 (2-16)
这也是电磁场的反射定律又叫斯耐尔反射定律,表明入射角和反射角是相等
的。
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由公式(2-15)可得
𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 𝑘 𝑛
= 𝑘1 = 𝑛1 (2-17)
𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 2 2

这也是电磁场的透射定律又叫斯耐尔透射定律。

2.3.2 电磁波极化分解理论

本文分析的天线辐射的电磁波满足条件(1),可以将入射到天线罩上的电磁波
视为平面波,平面波又叫做横电磁波(TEM)[17]210,是电场方向和磁场方向相互垂
直,且都垂直于传播方向的电磁波。当平面波以任意角度入射到介质平面上时,反
射角和透射角也都不能确定,不利于后续的分析计算,利用电磁波极化分解理论将
平面波分解为两个线极化波可以简化问题。
如图 2-3 所示,任意一个传播方向为𝐾𝑖 的电磁波入射到法线方向为𝑛的介质平
面上时,入射面被定义为入射波的传输方向和法线方向共同确定的平面,电场方向
和磁场方向均与传播方向垂直;根据方向关系可以将入射波分解为垂直极化波和
平行极化波两个线极化波,垂直极化波是电场方向和入射平面垂直的入射波,平行
极化波则是电场方向和入射平面水平的入射波。对于以任意入射角度入射到介质
平面上的电磁波都可以分解为这两个极化分量,而且电磁波的反射系数和透射系
数与入射波的极化有关,所以需要独立分析。

n n

介质板 介质板

d d

E|| H⊥
θi θr θi θr
H|| E⊥

Ki Kr Ki Kr

图 2-3 平面波极化分解图

2.3.3 两种极化波的反射和透射

由平面波的定义,本文中天线辐射的电磁波电场方向𝐸和磁场方向𝐻处在等相
位面上,两者的坡印廷矢量就是电磁波的传播方向𝐾𝑖 ,即电场方向𝐸、磁场方向𝐻
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和传播方向𝐾𝑖 三者符合右手螺旋法则。
设电磁波由介质 1 入射到介质 2,介质 1 的介电常数和磁导率是𝜇1 和𝜀1 ,介质
2 的介电常数和磁导率是𝜇2 和𝜀2 ;入射角为𝜃𝑖 ,入射方向为𝑘𝑖 ;现以入射点为坐标
原点,入射平面为 X 轴,入射平面的法线方向为 Z 轴建立坐标系;根据定义可知
垂直极化波的电场只有𝐸𝑦 分量,磁场只有𝐻𝑥 分量和𝐻𝑧 分量。

x
ekr Hr

ekt
Er Et

Ht
θr θt
ε1 ,μ1 θi y ε2 ,μ2 z

Ei eki
Hi

图 2-4 垂直极化波对介质平面的斜入射
介质 1 中任意一点的入射场为
𝐸1y = 𝐸𝑖𝑦 + 𝐸𝑟𝑦
= 𝐸𝑖𝑚 (𝑒 −𝑗𝑘1 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 + 𝛤⊥ 𝑒 −𝑗𝑘1 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 )𝑒 −𝑗𝑘1𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (2-18)
𝐻1y = 𝐻𝑖𝑥 + 𝐻𝑟𝑥
𝐸𝑖𝑚
= 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 (−𝑒 −𝑗𝑘1𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 + 𝛤⊥ 𝑒 −𝑗𝑘1 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 )𝑒 −𝑗𝑘1 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (2-19)
𝜂1

𝐻1z = 𝐻𝑖𝑧 + 𝐻𝑟𝑧


𝐸𝑖𝑚
= 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (𝑒 −𝑗𝑘1𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 + 𝛤⊥ 𝑒 −𝑗𝑘1𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 )𝑒 −𝑗𝑘1 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (2-20)
𝜂1

上式中,𝛤⊥ 是垂直极化波的反射系数,𝜂1 = √𝜇1 /𝜀1 ,是介质 1 的本征阻抗。

介质 2 中任意一点的透射场为

𝐸2y = 𝐸𝑡𝑦 = 𝜏⊥ 𝐸𝑖𝑚 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-21)

𝜏⊥ 𝐸𝑖𝑚
𝐻1y = 𝐻𝑡𝑥 = − 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-22)
𝜂2

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𝜏⊥ 𝐸𝑖𝑚
𝐻2z = 𝐻𝑡𝑧 = 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-23)
𝜂2

上式中,𝜏⊥ 是垂直极化波的透射系数,𝜂2 = √𝜇2 /𝜀2 ,是介质 2 的本征阻抗。

最后根据边界条件和分界面上的相位匹配条件,求解得到垂直极化波的反射系
数𝛤⊥ 和透射系数𝜏⊥ 为
𝜂 𝑐𝑜𝑠 𝜃 −𝜂 𝑐𝑜𝑠 𝜃
𝛤⊥ = 𝜂2 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +𝜂1 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 (2-24)
2 𝑖 1 𝑡

2𝜂2 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖
𝜏⊥ = 𝜂 (2-25)
2 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +𝜂1 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡

对于常见的非磁性媒质,𝜇1 ≈ 𝜇2 ≈ 𝜇0 ,那么根据反射定律和折射定律
𝜂1 𝜀
= √𝜀2 (2-26)
𝜂2 1

𝜀
𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 = √𝜀1 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (2-27)
2

上式中,𝜃𝑡 表示透射角。
垂直极化波的反射系数𝛤⊥ 和透射系数𝜏⊥ 就可以化简为
𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 −√𝜀2 /𝜀1 −𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖
𝛤⊥ = (2-28)
𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +√𝜀2 /𝜀1 −𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖

2 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖
𝜏⊥ = (2-29)
𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +√𝜀2 /𝜀1 −𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖

以相同的场景和条件同理求解平行极化波的反射系数和透射系数;根据定义
可知平行极化波的磁场只有𝐻𝑦 分量,电场只有𝐸𝑥 分量和𝐸𝑧 分量。

x
ekr
Hr
ekt
Et
Er
Ht

θr θt
ε1 ,μ1 θi y ε2 ,μ2 z

eki
Ei
Hi

图 2-5 平行极化波对介质平面的斜入射
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介质 1 中任意一点的入射场为
𝐸1x = 𝐸𝑖𝑥 + 𝐸𝑟𝑥

= 𝐸𝑖𝑚 𝑐𝑜𝑠𝜃𝑖 (𝑒 −𝑗𝑘1𝑧𝑐𝑜𝑠𝜃𝑖 − 𝛤// 𝑒 𝑗𝑘1𝑧𝑐𝑜𝑠𝜃𝑖 )𝑒 −𝑗𝑘1 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (2-30)

𝐸1z = 𝐸𝑖𝑥 + 𝐸𝑟𝑥

= 𝐸𝑖𝑚 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (−𝑒 −𝑗𝑘1𝑧𝑐𝑜𝑠𝜃𝑖 − 𝛤// 𝑒 𝑗𝑘1 𝑧𝑐𝑜𝑠𝜃𝑖 )𝑒 −𝑗𝑘1 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (2-31)

𝐻1y = 𝐸𝑖𝑦 + 𝐸𝑟𝑦


𝐸𝑖𝑚
= (𝑒 −𝑗𝑘1 𝑧𝑐𝑜𝑠𝜃𝑖 + 𝛤// 𝑒 𝑗𝑘1 𝑧𝑐𝑜𝑠𝜃𝑖 )𝑒 −𝑗𝑘1 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑖 (2-32)
𝜂1

上式中,𝛤// 是平行极化波的反射系数。

介质 2 中任意一点的透射场为

𝐸2x = 𝐸𝑡𝑥 = 𝜏// 𝐸𝑖𝑚 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-33)

𝐸2𝑧 = 𝐸𝑡𝑧 = −𝜏// 𝐸𝑖𝑚 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-34)

𝜏// 𝐸𝑖𝑚
𝐻2y = 𝐻𝑡𝑦 = 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑧 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑥 𝑠𝑖𝑛 𝜃𝑡 (2-35)
𝜂2

上式中,𝜏// 是平行极化波的反射系数。

最后根据边界条件和分界面上的相位匹配条件,求解得到平行极化波的反射

系数𝛤// 和透射系数𝜏// 为

𝜂 𝑐𝑜𝑠 𝜃 −𝜂 𝑐𝑜𝑠 𝜃
𝛤// = 𝜂1 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +𝜂2 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡 (2-36)
1 𝑖 2 𝑡

2𝜂2 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖
𝜏// = 𝜂 (2-37)
1 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +𝜂2 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑡

对于常见的非磁性媒质,垂直极化波的反射系𝛤⊥ 和透射系数𝜏⊥ 就可以化简为


(𝜀2 /𝜀1 ) 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 −√𝜀2 /𝜀1 −𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖
𝛤// = (2-38)
(𝜀2 /𝜀1 ) 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +√𝜀2 /𝜀1 −𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖

2𝜀2 /𝜀1 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖


𝜏// = (2-39)
(𝜀2 /𝜀1 ) 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 +√𝜀2 /𝜀1 −𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖

2.4 平面波在单层介质板中的反射与透射

当电磁波入射到单层介质板组成的天线罩上时,电磁波会在介质板中发生多
次反射和透射,入射波入射到介质前分界面处发生第一次反射,反射波以反射角等
15
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于入射角的反方向传播,穿过介质前表面的透射波继续在介质内传播,当传播到介
质的后分界面时,再次产生反射波,此反射波在介质中反方向传播,传到前介质分界
面时,部分再反射到介质中,部分穿过前介质面以与第一次反射波的相同方向传播,
会发生无数次前面的过程[38]。所以总的透射系数和反射系数需要计算多次反射和
透射之后的反射场和透射场。
如图 2-6 所示,电磁波从自由空间入射到介电常数为𝜀,厚度为𝑑𝑏 的介质板上,
在分界面Ⅰ上发生反射和透射得到一次反射波和一次透射波,然后一次透射波在
分界面Ⅱ上发生反射和透射得到一次反射波和一次透射波,同时,分界面Ⅰ和Ⅱ上
得到的反射波又会发生反射和透射;这样进行无数次反射和透射之后可以得到总
的反射波和透射波,继而求解出单层介质板的反射系数和透射系数。
Ⅰ Ⅱ
入射波 Ei2

Ei2

反射波 Er1
透射波 Ei3

a b c
ε1 = 1 ε2 = ε ε3 = 1

图 2-6 单层介质板传输示意图
首先分析反射场,第一次反射波的电场为
𝐸0𝑟 = 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2𝑙 (2-40)
第二次反射波的电场为
𝐸1𝑟 = 𝑇12 (𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 )𝑇21 (2-41)
第三次反射波的电场为
𝐸2𝑟 = 𝑇12 (𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 )𝑅12 (𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 )𝑇21
= 𝐸1𝑟 (𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2𝑙 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2𝑙 ) (2-42)
第𝑛次反射波的电场为

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𝑟 𝑟
𝐸𝑛−1 = 𝐸𝑛−2 (𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 ) (2-43)
所以总的反射波为
𝑛−1
𝑅 = ∑∞ 𝑟 ∞ 𝑟
𝑛=0 𝐸𝑛 = 𝑅12 + ∑𝑛=1 𝐸𝑛 (𝑒
−2𝑗𝑘2 𝑙
𝑅12 2 ) (2-44)

𝑛 → ∞时,有
𝑇12 (𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙 )𝑇21
𝑅 = 𝑅12 + (2-45)
1−𝑒 −2𝑗𝑘2 𝑙 𝑅21 2

然后分析透射场,第一次透射波的电场为
𝐸0𝑡 = 𝑇12 𝑒 −𝑗𝑘2𝑙 𝑇21 (2-46)
第二次透射波的电场为
𝐸1𝑡 = 𝑇12 𝑒 −𝑗𝑘2𝑙 (𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2𝑙 𝑅12 𝑒 −𝑗𝑘2𝑙 )𝑇21 = 𝐸0𝑡 (𝑅21 2 𝑒 −2𝑗𝑘2𝑙 ) (2-47)
第𝑛次透射波的电场为
𝑛−1
𝑡
𝐸𝑛−1 = 𝐸0𝑡 (𝑅12 2 𝑒 −2𝑗𝑘2𝑙 ) (2-48)

所以总的透射波为
𝑛−1
𝑇 = ∑∞ 𝑟 𝑡 ∞
𝑛=0 𝑇𝑛 = 𝐸0 ∑𝑛=1(𝑒
−2𝑗𝑘2 𝑙
𝑅21 2 ) (2-49)

𝑛 → ∞时,有
𝑇 𝑇 𝑒 −𝑗𝑘2 𝑙
12 21
𝑇 = 1−𝑒 −2𝑗𝑘2 𝑙 𝑅 2 (2-50)
21

2𝜋 𝜀
2
上述式子中,𝑘2 𝑙 = √𝜀 − 𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖 𝑑𝑏 ,表示电磁波在介质板中的相位延迟,
𝜆 1

𝑇12 和𝑅12 表示分界面Ⅰ的透射系数和反射系数,𝑇21 和𝑅21 表示分界面Ⅱ的透射系数


和反射系数。
通过分析电磁波入射到一层介质平板上多次反射和透射的过程,得到了电磁
波的透射波和反射波;在分析具体的天线-罩系统时,可以根据上述分析分别得到
垂直极化波的反射波和透射波,还有平行极化波的反射波和透射波,用于后续分析。
以中心频率为 10GHz 的电磁波入射到厚度为 1.6mm 的单层介质板上为例,在
入射角为 0°~90°时,垂直和平行极化波的透射系数如图所示,其中介质 1 的介
电常数为 2+0.025j,介质 1 的介电常数为 6+0.025j;由曲线可知,透射系数随着入
射角的增加而减小,垂直极化波的透射率曲线整体在水平极化波的透射率曲线下
方,所以在分析天线罩的电性能时,多数情况下只需要考虑垂直极化波是否满足透
波要求,并且介质介电常数的实部越大,介质的透射率越大。

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图 2-7 透射率随入射角变化示意图
在入射角为 0°~90°时,垂直和平行极化波的反射系数如图所示,其中介质
1 的介电常数为 4-0.075j,介质 1 的介电常数为 2-0.075j;由曲线可知,垂直极化波
的反射系数随着入射角的增加而减小,平行极化波的反射系数随着入射角的增加
先减小至 0 后增大。

图 2-8 反射率随入射角变化示意图

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2.5 平面波在多层介质板中的反射与透射

天线罩通常由多层介质结构组成,电磁波在每层介质板上都会发生多次反射
和透射,传输情况就会变的较为复杂;传统的求解方法是逐步推导各层介质板的传
输系数 ,然后矢量叠加多次透射、反射之后的电磁场分量,这一方法较为繁琐没
有通用的简便公式,而且随着介质板层数的增加,计算量和推导过程也会变得十分
庞大和复杂。所以在长期的计算检验之后,等效平板理论已经逐步发展为计算电磁
学的理论基础;但是在使用等效平板理论解决天线罩问题时也存在这两点局限性,
第一,该理论只适用于分析平面波入射到介质平板上的情况,第二,天线罩的曲率
需要远大于电磁波波长[39]73-74。
与传统的求解方法不同,等效传输线理论的思想是把每一层介质板都等效为
一段传输线,计算其传输矩阵,介质板两边的电磁场可以通过传输矩阵联系起来
[40]
,不同的介质板叠加在一起相当于介质板的传输矩阵级联;这样,等效传输线法
就可以用矩阵相乘的形式简洁方便的表示出多层介质板的传输特性。
图 2-9 是多层介质板传输示意图,其中,𝜀0 和𝜇0 分别表示真空的介电常数和磁
导率,𝜀𝑖 和𝜇𝑖 表示第𝑖层介质的相对介电常数和相对磁导率,𝑑𝑖 表示第𝑖层介质板的
厚度,𝜃0 表示电磁波入射到天线罩表面的入射角。

图 2-9 等效传输线理论示意图
通过等效传输线法的理论可知𝑛层介质板的天线罩可以等效为𝑛个传输线级联,
总的传输矩阵可以表示为
𝐴 𝐵 𝐴 𝐵1 𝐴2 𝐵2 𝐴 𝐵𝑛
[ ]=[ 1 ][ ]...[ 𝑛 ] (2-51)
𝐶 𝐷 𝐶1 𝐷1 𝐶2 𝐷2 𝐶𝑛 𝐷𝑛

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𝐴𝑖 𝐵𝑖
其中,[ ]是第𝑖层介质板的传输矩阵,电磁波从自由空间入射到介质板,再
𝐶𝑖 𝐷𝑖
由介质板入射到自由空间的过程就可以由这个传输矩阵表示出来,它的具体表达
式为

𝐴𝑖 𝐵𝑖 𝑐ℎ𝑗𝛾𝑖 𝑑𝑖 𝑍𝑖 𝑠ℎ𝑗𝛾𝑖 𝑑𝑖
[ ]=[ ] (2-52)
𝐶𝑖 𝐷𝑖 𝑠ℎ𝑗𝛾 𝑑 /𝑍 𝑐ℎ𝑗𝛾𝑖 𝑑𝑖
𝑖 𝑖 𝑖

2𝜋 𝑒 𝑧 −𝑒 −𝑧 𝑒 𝑧 +𝑒 −𝑧
上式中,𝛾𝑖 = √𝜀𝑖 𝜇𝑖 − 𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖 ,𝑠ℎ𝑧 = ,𝑐ℎ𝑧 = 𝑍𝑖 为第𝑖层介质对
𝜆0 2 2

自由空间归一化特征阻抗,𝜃𝑖 为电磁波从第𝑖-1 层介质到第𝑖层介质的入射角,𝜃𝑖 与


𝑠𝑖𝑛(𝜃𝑖−1 ) 𝜀 𝑖 𝜇𝑖
𝜃𝑖−1 满足斯涅尔定理即 = √𝜀 。
𝑠𝑖𝑛(𝜃𝑖 ) 𝑖−1 𝜇𝑖−1

由于垂直极化波和平行极化波的特性不同,它们入射到介质板上时介质的特
征阻抗也不同。
平行极化波对应的介质等效特征阻抗为
// 𝜇
𝑍𝑖 = 𝑍0 𝜀 𝑖 √𝜀𝑖 𝜇𝑖 − 𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖 (2-53)
𝑖

垂直极化波对应的介质等效特征阻抗为
𝑍0 𝜇𝑖
𝑍𝑖⊥ = (2-54)
√𝜀𝑖 𝜇𝑖 −𝑠𝑖𝑛2 𝜃𝑖

𝑍
上式中,𝑍0 是自由空间的特征阻抗,垂直极化的情况下为𝑍0⊥ = 𝑐𝑜𝑠0𝜃 ,平行极
𝑖

//
化的情况下为𝑍0 = 𝑍0 𝑐𝑜𝑠 𝜃𝑖 。

通过以上几个式子进一步计算化简就可以得到多层天线罩的反射系数和透射
系数为
2
𝑇 = (𝐴+𝐵/𝑍 )+(𝑍
(2-55)
0 0 𝐶+𝐷)

(𝐴+𝐵/𝑍 )−(𝑍 𝐶+𝐷)


𝑅 = (𝐴+𝐵/𝑍0 )+(𝑍0𝐶+𝐷) (2-56)
0 0

通过上节的分析可知,单层介质板天线罩适合于入射角比较小的雷达系统,并
且天线罩大多采用多层介质板结构,所以有必要对多层介质板结构的天线罩进行
分析;下面利用上述等效传输线理论,分析 A 夹层结构天线罩和 C 夹层结构天线
罩对垂直极化波的透波情况。
以某 A 夹层天线罩和 C 夹层天线罩为例,如表 2-1 和表 2-2 所示为两种天线
罩的结构参数,分别讨论分析了不同情况下各种参数对垂直极化波透射率的影响。

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表 2-1 A 夹层结构天线罩相关参数
结构 材料 介电常数 损耗角正切 厚度(mm)
蒙皮 氰酸酯基复合 3.3 0.005 1.2
夹层 纸蜂窝 1.1 0.0075 3
蒙皮 氰酸酯基复合 3.3 0.005 1.2
表 2-2 C 夹层结构天线罩相关参数
结构 材料 介电常数 损耗角正切 厚度(mm)
蒙皮 氰酸酯基复合 3.3 0.005 1.2
夹层 纸蜂窝 1.1 0.0075 3
蒙皮 氰酸酯基复合 3.3 0.005 1.2
夹层 纸蜂窝 1.1 0.0075 3
蒙皮 氰酸酯基复合 3.3 0.005 1.2
图 2-10 表示的是 A 夹层天线罩的情况下,垂直极化波的透射率在不同入射角
下随工作频率的变化;可以看出在 0~20GHz 的频率下,透射率随着工作频率成正
弦变化,同一频率的电磁波入射到 A 夹层天线罩上入射角较小时的透波率比入射
角大时的透波率高,并且 A 夹层天线罩的透波率都在 55%以上,对于单层介质板
的天线罩有很大提高。

图 2-10 透射率随电磁波频率变化示意图
图 2-11 仿真了入射波的工作频率分别在 8GHz、9GHz 和 10GHz 时 C 夹层结
构天线罩的透波率随夹层厚度的变化情况;仿真情况表明,当入射波的工作频率较
低时,C 夹层天线罩的透射率达到要求时可以选择的夹层厚度范围很大,当入射波
21
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的工作频率较高时,C 夹层天线罩的透射率达到要求时只有少数夹层厚度可以满
足要求,并且当夹层厚度为 0.5mm 左右时,C 夹层天线罩的透波率较高;通过和
图 2-10 对比也可以看出 C 夹层天线罩的透波率比 A 夹层天线罩的透波率低。

图 2-11 透射率随夹层厚度变化示意图

2.6 本章小结

本章主要对天线罩相关的基础理论进行了介绍,方便后续的计算;首先阐述了
天线罩根据不同标准进行的分类情况,并且介绍了天线罩重要的电性能参数及其
定义;然后阐述了反射定律和折射定律,给出平面波入射到介质分界平面上的具体
情况,根据电磁波极化分解原理,平面波可以分解为垂直极化波和平行极化波两种
线极化波,因为这两种波的传输特性不同所以分别推导了这两种极化波入射到介
质平面上的反射系数和透射系数,进而得到了平面波的反射系数和透射系数;最后
两节对于天线罩分别为单层介质板和多层介质板的情况进行分析,分别使用多次
反射求和和等效传输线理论求解出电磁波的传输情况,改变电磁波入射角、中心频
率、介质板介电常数和介质板厚度等结构参数观察对两种极化波的传输情况的影
响。

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第3章 物理光学法分析计算天线-罩系统

3.1 引言

分析计算天线-罩系统的问题一直备受关注,也不断涌现出了很多低频算法、
高频算法和混合算法等。本章研究的是物理光学法,物理光学法是在几何光学法的
基础上提出的一种高频计算方法,几何光学法在计算电小尺寸的天线时效率很高
比较成熟,但是随着技术的不断发展,电大尺寸的天线出现并被广泛应用,几何光
学法便不再适用,此时物理光学法被提出,物理光学法的计算精度较高,并且适合
实际仿真,随着计算水平的提高被广泛普及。
本章从物理光学法出发,对计算带罩天线系统的远场方向图的过程进行了分
析,并且计算了物理光学法分析过程中使用到的电磁波入射到天线罩上时入射波
和天线罩的信息。

3.2 物理光学法介绍

物理光学法是基于惠更斯原理的电磁计算方法,在惠更斯原理中,包围源的闭
合面上每个点可看作是二次波源向闭合面外辐射电磁场的点源,这些二次波源在
物理学中被称作为惠更斯元[39]76-79。物理光学法研究的基本思路是:通过天线的辐
射近场来计算天线罩内外表面的等效电磁流,然后以天线罩表面的等效电磁流作
为惠更斯源计算辐射远场。物理光学法的核心是利用口面积分的方法计算天线的
辐射近场和辐射远场[10]17。

图 3-1 惠更斯原理示意图
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物理光学法包括口径积分-表面积分法和平面波谱-表面积分法。在这两种方法
中平面波谱-表面积分法使用的局限性较大,只能计算特定天线口径的情况;而口
径积分-表面积分法口径积分法具有统一的积分公式,可以求解任意口径类型的天
线,不需要单独分析计算。
应用物理光学法计算天线-罩系统时,也需要作如下假设:
(1)天线的电尺寸远大于波长;
(2)只考虑天线的前向散射,忽略天线的后向散射;
(3)物体表面上只有直接被入射波入射的区域会产生感应电磁流,没有直接
被照射的区域不会产生感应电流[42]。
假设有一虚拟的闭合曲面 S,曲面内包围着源,源产生的辐射场表示为(𝑬, 𝑯),
现在我们只关心这个闭合曲面 S 外面的辐射场,那么可以在闭合曲面内用另一个
场(𝑬′, 𝑯′)来代替源产生的场(𝑬, 𝑯),新引进的场在闭合曲面 S 内的面电流和面磁流
表示为
𝑱𝒔 = 𝒏 × (𝑯 − 𝑯′ ) (3-1)
𝑴𝒔 = (𝑬 − 𝑬′) × 𝒏 (3-2)
上式中,n 表示闭合曲面 S 的外法向单位矢量;根据边界条件,面电流和面磁
流会在闭合曲面 S 的外表面产生新的辐射场。现在引入一个新的问题,就是我们
只考虑外边的场,这个新的问题和原来的问题具有相同的源和相同的切向场。当一
个空间内的源和其表面上的切向场分量已知时,空间内的场也就被唯一确定下来,
由此可知新引入的问题中和原来的问题的场是相同的。称引进的面电流和面磁流
为等效电流和等效磁流,新的问题为等效问题[43]。

3.3 口径积分-表面积分公式

20 世纪 70 年代,Demetrius T. Paris 提出了口径积分-表面积分的方法,并且计


算出了带有五层介质天线罩的喇叭天线系统的整体电性能[15]10-15;下面结合矢量基
本公式,通过麦克斯韦方程组推导出来 Stratton-Chu 方程然后进行近似简化得到口
径积分-表面积分的公式。
由麦克斯韦方程组得
𝛻⋅𝑩=0 (3-3)
𝛻 × (𝛻 × 𝑨) = 0 (3-4)
所以可以引入磁矢位𝐴,𝐵用磁矢位表示
𝑩=𝛻×𝑨 (3-5)

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那么𝑬也可以用磁矢位表示
𝜕𝑩 𝜕 𝜕𝑨
𝛻×𝑬=− = − 𝛻 × 𝑨 = −𝛻 ×
𝜕𝑡 𝜕𝑡 𝜕𝑡
𝜕𝑨
𝛻 × (𝑬 + 𝜕𝑡 ) = 0 (3-6)

又因为𝛻 × 𝛻𝛹 = 0,𝑬可以表示成
𝜕𝑨
𝑬 = − 𝜕𝑡 − 𝛻𝛹 (3-7)

将𝑬和𝑩代入微分形式的麦克斯韦方程组中,得
1 𝜕𝑫 𝜕 𝜕𝑨
𝛻 ×𝜇𝛻×𝑨 = 𝑱+ = 𝑱 + 𝜕𝑡 (−𝜀 𝜕𝑡 − 𝜀𝛻𝛹) (3-8)
𝜕𝑡

𝜕2 𝑨 𝜕𝛹
𝛻 × 𝛻 × 𝑨 = 𝛻𝛻 ⋅ 𝑨 − 𝛻 2 𝑨 = 𝜇𝑱 − 𝜇𝜀 𝜕𝑡 2 − 𝜇𝜀𝛻 (3-9)
𝜕𝑡

根据洛伦兹规范𝛻 ⋅ 𝑨 = −𝑗𝜔𝜇𝜀𝛹,通过亥姆霍兹方程得到磁矢位𝐴为
𝜇 𝑒 −𝑗𝑘|𝒓−𝒓′|
𝑨 = 4𝜋 ∫𝑣 𝑱 |𝒓−𝒓′|
𝑑𝑣′ (3-10)

由对偶原理引入电矢位𝑭
𝑫 = −𝛻 × 𝑭 (3-11)
与上述同理求得电矢位𝑭为
𝜀 𝑒 −𝑗𝑘|𝒓−𝒓′|
𝑭 = 4𝜋 ∫𝑣 𝑴 |𝒓−𝒓′|
𝑑𝑣′ (3-12)

天线辐射场由电流和磁流两种辐射源的场矢量叠加得到,两者辐射场表示为
𝛻×𝛻×𝑨 𝛻×𝑭
𝑬= − (3-13)
𝑗𝜔𝜀𝜇 𝜀

𝛻×𝑨 𝛻×𝛻×𝑭
𝑯= − (3-14)
𝜇 𝑗𝜔𝜇𝜀

𝒓−𝒓′
令ρ = |𝒓 − 𝒓′|,𝝆
̂ = |𝒓−𝒓′|是单位矢量,则有

𝑒 −𝑗𝑘|𝒓−𝒓′| 1 𝑒 −𝑗𝑘ρ
𝛻 |𝒓−𝒓′|
= − (𝑗𝑘 + ρ) 𝜌̂ (3-15)
ρ

1 1 1
̂
𝛻 |𝒓−𝒓′| = 𝛻 ρ = − ρ2 𝝆 (3-16)

根据上式可分别求得𝛻 × 𝑭,𝛻 × 𝑨,𝛻 × 𝛻 × 𝑭,𝛻 × 𝛻 × 𝑨,代入式可得最终


的口径积分公式
1 1 1 𝑗3𝑘 3 𝑒 −𝑗𝑘𝜌
𝑬 = 𝑗4𝜋𝜔𝜀 ∫𝛺 [−𝑱 ρ (𝑗𝑘 + 𝜌) + (𝑱 ⋅ 𝝆 ̂ (𝑘 2 −
̂)𝝆 − 𝜌2) + 𝑘 2 𝑱] 𝑑𝛺
ρ 𝜌

1 1 𝑒 −𝑗𝑘𝜌
− ̂ (𝑗𝑘 + )
∫ 𝑴×𝝆 𝑑𝛺 (3-17)
4𝜋 𝛺 𝜌 𝜌
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1 1 1 𝑗3𝑘 3 𝑒 −𝑗𝑘𝜌
𝑯 = 𝑗4𝜋𝜔𝜇 ∫𝛺 [−𝑴 𝜌 (𝑗𝑘 + 𝜌) + (𝑴 ⋅ 𝝆 ̂ (𝑘 2 −
̂)𝝆 − 𝜌2 ) + 𝑘 2 𝑴] 𝑑𝛺+
𝜌 𝜌

1 1 𝑒 −𝑗𝑘𝜌
̂ (𝑗𝑘 + )
∫ 𝑱×𝝆 𝑑𝛺 (3-18)
4𝜋 𝛺 𝜌 𝜌

上式中, 𝛺为口径场,𝒓′是口径场上源点的位置矢量,𝒓是观察点的位置矢量。
当观察点距离足够远时,即𝑘𝜌 >> 1时,由上述式子化简可以得到远场电场的
表面积分公式
−𝑗𝑘 𝑒 −𝑗𝑘𝑟 𝜇
𝑬= ̂ × 𝑯𝒔 )] 𝑒 −𝑗𝒌⋅𝒓′ 𝑑𝛺
̂ × 𝑬𝒔 ) − √ 𝒓̂ × (𝒏
𝒓̂ × ∫𝑠 [(𝒏 (3-19)
4𝜋 𝑟 𝜀

上式中,k 的大小为2𝜋/𝜆,方向为观察点和源点的单位位置矢量,𝑟̂ 为远区观


察点的单位位置矢量。
对于上式中的积分计算,可以选择直接离散积分、高斯积分和 Gordon 积分等;
(1)直接离散积分
目标体被剖分成多个微小的面元,面元会被入射波照射产生等效电磁流;辐射
远场可以表示为
𝑒 −𝑗𝑘𝑟 𝒊
𝑬𝒔 = −𝑗𝑘𝑍 |𝑬𝒊 | ∫𝑠 𝑱 𝑒 −𝑗𝑘𝒌 ⋅r′ 𝑑𝑠′ (3-20)
4𝜋𝑟

上式中,𝒓′表示源点的位置矢量,𝑬𝒊 表示天线罩的入射场,𝑱表示天线罩上的等
效电流,使用直接离散可以将积分公式转化为求和的形式,表示为
𝑒 −𝑗𝑘𝑟 𝒊 ′
𝑬𝒔 = −𝑗𝑘𝑍 |𝑬𝒊 | ∑𝑁
𝑛−1 𝐽𝑛 𝑒
−𝑗𝑘𝒌 ⋅𝒓𝒏
𝐴𝑛 (3-21)
4𝜋𝑟

上式中,𝑱𝒏 表示第 n 个面元上的等效电磁流,𝐴𝑛 表示第 n 个面元的面积,𝒓′𝒏


表示第 n 个面元的重心的位置矢量。
(2)高斯积分
对于由 Stratton-chu 积分公式推导出来的远区辐射场计算公式
𝑗𝑘𝜂0 𝐻0 𝑒𝑥𝑝(−𝑗𝑘0 𝑟)
𝑬𝒔 = − ⋅
2𝜋𝑟

∬𝑠[𝒌𝒔 × (𝒏 × 𝑯𝒊𝒏𝒄 )] × 𝒌𝒔 𝑒 −𝑗𝑘0 (𝑘𝑖 −𝑘𝑠 )⋅𝒓′ 𝑑𝑠′ (3-22)

𝑗𝑘𝐻0 𝑒𝑥𝑝(−𝑗𝑘0 𝑟) 𝒊
𝑯𝒔 = 2𝜋𝑟
∬𝑠[𝒌𝒔 × (𝒏 × 𝑯𝒊𝒏𝒄 )] 𝑒 −𝑗𝑘0 (𝒌 −𝒌𝒔)⋅𝒓′ 𝑑𝑠′ (3-23)

使用高斯积分法求解上述积分公式时,可以得到
𝑗𝑘𝜂0 𝐻0 𝑒𝑥𝑝(−𝑗𝑘0 𝑟)
𝑬𝒔 = − ∑𝑁
𝑛−1 𝜔𝑖 [𝒌𝒔 × (𝒏 × 𝑯𝒊𝒏𝒄 )]
2𝜋𝑟

𝒊
× 𝒌𝒔 𝑒 −𝑗𝑘0(𝒌 −𝒌𝒔)⋅𝒓′ 𝐴𝑛 (3-24)

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(3)Gordon 积分
使用 Gordon 积分时,面元的两个矢量 [𝒌𝒔 × (𝒏 × 𝑯𝒊𝒏𝒄 )] × 𝒌𝒔 和[𝒌𝒔 × (𝒏 ×
𝑯𝒊𝒏𝒄 )]都可以不用积分,所以远区辐射场的积分公式可以表示为
𝑗𝑘𝜂0 𝐻0 𝑒𝑥𝑝(−𝑗𝑘0 𝑟)
𝑬𝒔 = − [𝒌𝒔 × (𝒏 × 𝑯𝒊𝒏𝒄 )] ×
2𝜋𝑟

𝒊
𝒌𝒔 ∬𝑠𝑒 −𝑗𝑘0(𝒌 −𝑘𝑠 )⋅𝒓′ 𝑑𝑠′ (3-25)

𝑗𝑘𝐻0 𝑒𝑥𝑝(−𝑗𝑘0 𝑟) 𝒊
𝑯𝒔 = [𝒌𝒔 × (𝒏 × 𝑯𝒊𝒏𝒄 )] ∬𝑠𝑒 −𝑗𝑘0 (𝒌 −𝒌𝒔)⋅𝒓′ 𝑑𝑠′ (3-26)
2𝜋𝑟

对于上式中的二重积分,可以将其转化成定积分然后简化计算公式。
对比各个方法的优缺点并且考虑精度和效率的要求,本文采用直接离散积分
进行运算。

3.4 物理光学法计算过程

传统的物理光学法忽略了天线的反射波的影响,远场方向图只考虑透射波[2]25;
本文对物理光学法进行改进,计算反射瓣和透射瓣,进行矢量叠加得到总波瓣;按
照平面波的反射和透射相关理论,辐射场会在天线罩内发生无数次反射和透射,但
是二次反射之后形成的闪烁瓣对总波瓣的影响较小,所以本文只考虑一次反射瓣
的影响,如图 3-2 所示为直射瓣和反射瓣的示意图。

直射瓣


天线罩

反射瓣 ⑦

图 3-2 直射瓣和反射瓣示意图
使用物理光学法分析天线-罩系统的具体过程是首先求解天线的近场也就是天
线罩的入射场,然后将天线罩剖分,得到面元和入射波的相关信息,计算入射波的
反射系数和透射系数得到一次透射波和一次反射波,对于一次透射波根据等效原

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理得到天线罩外表面的等效电磁流,然后做积分运算得到直射瓣,对于一次反射波
根据等效原理得到天线罩内表面的等效电磁流,然后做积分运算得到天线罩的二
次入射场,对二次入射场进行同样的分析得到一次反射瓣,求得总波瓣。如图 3-3
所示是物理光学法分析的流程图。

加罩天线系统

天线罩剖分成多个三 计算内部天线的近场
角形面元 作为天线罩的入射场

计算面元的面积,重
计算入射波传播方向
心坐标,重心的法向
的单位矢量和入射角
单位矢量

入射波分解为平行和
垂直极化波,计算透
射系数和反射系数

计算透射场和反射场

透射场等效为天线罩 反射场等效为天线罩
外表面等效电磁流 内表面等效电磁流

口径积分得到二次入
表面积分得到直射瓣
射场

对二次入射场做相同
的运算得到反射瓣

加罩天线系统总波瓣

图 3-3 物理光学法计算流程图
(1)计算天线罩的一次入射场
天线罩的一次入射场,即天线的辐射近场,不同类型的天线有不同的求解方法。
对于喇叭天线、反射面天线等口径天线,可以根据口径积分公式计算出天线口径产
生的辐射场;如果已知天线的激励电场𝐸和天线口径的外法向单位矢量𝑛,就可以
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根据等效原理求得口径面上的等效磁流
𝑴= 𝑬×𝒏 (3-27)
将等效磁流代入式(3-17)和(3-18),得到入射场[44]为
1 1 𝑒 −𝑗𝑘𝜌
̂ (𝑗𝑘 + )
𝑬𝒊 = − 4𝜋 ∫𝑠 𝑴 × 𝝆 𝑑𝑠 (3-28)
𝜌 𝜌

1 1 1 𝑒 −𝑗𝑘𝜌
𝑯𝒊 = ∫ [−𝑴 (𝑗𝑘 + )] 𝑑𝑠
𝑗4𝜋𝜔𝜇 𝑠 𝜌 𝜌 𝜌
3𝑗𝑘 3 𝑒 −𝑗𝑘𝜌
̂ (−𝑘 2 +
̂)𝝆
+ ∫𝑠 [(𝑴 ⋅ 𝝆 + 𝜌2) + 𝑘 2 𝑴] 𝑑𝑠 (3-29)
𝜌 𝜌

上式中,𝑠表示天线的口径,这时𝜌表示天线口径上的源点到天线罩上观察点的
距离,𝝆
̂为单位矢量。
电磁波的传播方向即坡印廷矢量,则入射波的单位矢量为
1
𝑅𝑒(𝑬𝒊 ×𝑯∗𝒊 )
̂𝒊 =
𝒌 2
1 (3-30)
| 𝑅𝑒(𝑬𝒊 ×𝑯∗𝒊 )|
2

上式中,𝑯∗𝒊 表示入射场磁场的共轭。
对于非口径天线,如果已知天线的近场辐射公式,就能直接得到天线罩的入射
场,但是大多数天线都只知道远场辐射公式,没有直接可用的近场辐射公式,可借
助 HFSS、CST 和 FEKO 等仿真软件计算得到天线的近场辐射图用于后续的计算。
(2)将天线罩进行网格剖分
根据前面的理论分析,需要将天线罩划分为多个面元,每个面元受到的天线的
辐射场看作是相等的,所以每个面元上的等效电磁流也是相等的,再把每个面元看
作二次辐射元。
本文采用三角剖分把天线罩剖分成多个微小的三角形面元,由于天线罩使得
罩内等效磁流是非均匀分布的,所以根据采样准则剖分尺寸不能超过四分之一波
长,本文使用 MATLAB 中的三角剖分函数对天线罩进行剖分,函数也可以得到剖
分数量,便于后续积分等运算。
理论上来说,天线罩剖分的数量越多,天线罩剖分的尺寸越小,计算结果就
越精确,但是同时对计算内存和计算速度的要求也就越高,所以需要兼顾效率和
精确度的需求,根据要求选择合适的剖分尺寸。
如图 3-4 所示,设三角形面元三个顶点的坐标矢量分别为𝒂𝟏 ,𝒂𝟐 和𝒂𝟑 ,可得
三角形面元重心的坐标矢量为(𝒂𝟏 + 𝒂𝟐 + 𝒂𝟑 )/3,在每个面元上的入射场看作是不
变的,后续可以将面元的重心作为场点代表整个面元做积分运算求解辐射场,三角
形面元的面积表示为
1 → →
𝑑𝐴 = |𝑎1 𝑎2 × 𝑎1 𝑎3 | (3-31)
2
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a1

r0

a3 a2
图 3-4 天线罩剖分面元
假设天线罩的标准方程为𝐹(𝑥, 𝑦, 𝑧) = 0,那么天线罩曲面梯度的单位矢量也就
是天线罩的外法向单位矢量为
𝑛̂ = 𝑔𝑟𝑎𝑑𝐹/|𝑔𝑟𝑎𝑑𝐹| (3-32)
入射到天线罩上的电磁波的入射角为

𝜃𝑖 = 𝑎𝑟𝑐 𝑐𝑜𝑠(𝑘̂𝑖 ⋅ 𝑛̂) (3-33)

(3)求解反射波和透射波
根据第二章平面波的反射和透射相关理论,入射波可以分解为垂直极化波和
平行极化波,分别计算两种情况下的反射系数和透射系数。
入射波的垂直极化波的电场方向垂直于入射平面,即垂直极化波的电场方向
垂直于入射波传播的单位矢量和天线罩内表面法向单位向量两者构成的平面,入
射波的垂直极化波单位矢量为
̂ ×𝑛̂
𝑘
𝑣⃐𝑖 = |𝑘̂𝑖 ×𝑛̂| (3-34)
𝑖

同理,因为入射波的平行极化波的电场方向平行于入射平面,所以入射波的平
行极化波单位矢量为
𝑘̂ ×𝑣 ⃐
ℎ̂𝑖 = |𝑘̂𝑖 ×𝑣⃐𝑖 | (3-35)
𝑖 𝑖

可以得到透过天线罩的电场和磁场分别为

𝑬𝒕 = 𝑇𝑣 (𝑬𝒊 ⋅ 𝑣⃐𝑖 )𝑣⃐𝑖 + 𝑇ℎ (𝑬𝒊 ⋅ ℎ̂𝑖 )ℎ̂𝑖 (3-36)

𝑯𝒕 = 𝑇𝑣 (𝑯𝒊 ⋅ 𝑣⃐𝑖 )𝑣⃐𝑖 + 𝑇ℎ (𝑯𝒊 ⋅ ℎ̂𝑖 )ℎ̂𝑖 (3-37)

上式中,𝑇𝑣 是垂直极化波的透射系数,𝑇ℎ 是平行极化波的透射系数。


反射波传播方向的单位矢量为

𝑘̂𝑟 = 𝑘̂𝑖 − 2(𝑘̂𝑖 ⋅ 𝑛̂)𝑛̂ (3-38)

因为反射波的电场方向就是入射波的电场方向,所以反射波的垂直极化波单
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位矢量为
𝑣⃐𝑟 = 𝑣⃐𝑖 (3-39)
反射波的平行极化波单位矢量为
ℎ̂𝑟 = 𝑣̂𝑟 × 𝑘̂𝑟 (3-40)
可以得到反射波的电场和磁场分别为

𝑬𝒓 = 𝑅𝑣 (𝑬𝒊 ⋅ 𝑣⃐𝑟 )𝑣⃐𝑟 + 𝑅ℎ (𝑬𝒊 ⋅ ℎ̂𝑟 )ℎ̂𝑟 (3-41)

𝑯𝒓 = 𝑅𝑣 (𝑯𝒊 ⋅ 𝑣⃐𝑖 )𝑣⃐𝑟 + 𝑅𝑣 (𝑯𝒊 ⋅ ℎ̂𝑟 )ℎ̂𝑟 (3-42)

(4)计算直射瓣
根据前面的介绍,直射瓣就是只考虑一次透射波的电场和磁场产生的辐射场,
忽略内部的辐射情况只考虑外表面上的电磁场的切向向量的影响,根据等效原理
𝑴𝒐𝒖𝒕 = 𝑬𝒕 × 𝑛̂ (3-43)
𝑱𝒐𝒖𝒕 = 𝑛̂ × 𝑯𝒕 (3-44)
上式中,𝑴𝒐𝒖𝒕 和𝑱𝒐𝒖𝒕 分别是天线罩外表面的等效磁流和等效电流,𝑛̂是天线罩
外法向单位矢量,将天线罩看作辐射元,将𝑴𝒐𝒖𝒕 和𝑱𝒐𝒖𝒕 代入式(3-19),可以得到加
罩天线远区辐射场的直射瓣。
(5)计算反射瓣
反射瓣主要对反射波做一系列计算,本文只考虑第一次反射波的影响,首先对
反射波进行等效,根据等效原理
𝑴𝒊𝒏 = 𝑬𝒓 × −𝑛̂ (3-45)
𝑱𝒊𝒏 = −𝑛̂ × 𝑯𝒓 (3-46)
上式中,𝑴𝒊𝒏 和𝑱𝒊𝒏 分别式天线罩内表面的等效磁流和电流,将𝑴𝒊𝒏 和𝑱𝒊𝒏 代入式
(3-17)和(3-18),就得到了天线罩的二次入射场𝑬𝟐𝒊 和𝑯𝟐𝒊 ,这时观察点和源点都
是天线罩上面元的重心,每个面元上的二次入射波都等于其他面元辐射的矢量叠
加。
在得到二次入射场后,进行上述同样的分析过程就可以得到反射瓣,下面进行
简单介绍。
二次入射场传播方向的单位矢量为
1
2 𝑅𝑒(𝑬𝒊 𝟐 ×𝑯𝟐∗
𝒊 )
𝑘̂𝑖 = 2
1 𝟐 (3-47)
| 𝑅𝑒(𝑬𝒊 ×𝑯𝟐∗ 𝒊 )|
2

二次入射波垂直极化单位矢量和平行极化单位矢量分别为
̂ 𝑖 2 ×𝑛̂
𝑘
𝑣̂𝑖 2 = ̂ 𝑖 2 ×𝑛̂|
(3-48)
|𝑘

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2 ̂ 𝑖 2 ×𝑣̂𝑖 2
𝑘
ℎ̂𝑖 = ̂ 𝑖 2 ×𝑣̂𝑖 2 |
(3-49)
|𝑘

可以得到第二次透过天线罩的电场和磁场分别为

𝑬𝒕 𝟐 = 𝑇𝑣 (𝑬𝟐𝒊 ⋅ 𝑣̂𝑖2 )𝑣̂𝑖2 + 𝑇ℎ (𝑬𝟐𝒊 ⋅ ℎ̂𝑖2 )ℎ̂𝑖2 (3-50)

𝑯𝒕 𝟐 = 𝑇𝑣 (𝑯𝟐𝒊 ⋅ 𝑣̂𝑖2 )𝑣̂𝑖2 + 𝑇ℎ (𝑯𝟐𝒊 ⋅ ℎ̂𝑖2 )ℎ̂𝑖2 (3-51)

那么第二次透射波在天线罩外表面上的等效磁流和等效电流为
𝑴𝟐𝒐𝒖𝒕 = 𝑬𝟐𝒕 × 𝑛̂ (3-52)
𝑱𝟐𝒐𝒖𝒕 = 𝑛̂ × 𝑯𝟐𝒕 (3-53)
上式中,𝑴𝟐𝒐𝒖𝒕 和𝑱𝟐𝒐𝒖𝒕 分别式天线罩外表面第二次透射波的等效磁流和等效电流,
将𝑴𝟐𝒐𝒖𝒕 和 代入式(3-19),就可以得到加罩天线远区辐射场的反射瓣。
综上,将反射瓣和直射瓣矢量叠加就得到了天线-罩系统的总波瓣。

3.5 本章小结

本章主要介绍了使用物理光学法计算天线-罩系统辐射方向图的过程,根据前
几章的理论基础,解决实际的计算问题;利用麦克斯韦方程组推导了口径积分-表
面积分公式用来计算场点的辐射场,对比各种积分方法采用直接离散积分计算,将
天线罩剖分成多个三角面元便于直接离散积分,利用口径积分-表面积分公式计算
天线-罩系统的总波瓣;用于后续计算阵列天线的远区方向图。

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第 4 章 计算实例

4.1 引言

基于前几章分析的相关理论和方法,本章根据实际情况分别计算了加罩微带
天线阵列、加罩螺旋天线阵列和加罩对称振子天线阵列三个实例的远区方向图;由
于天线阵列的辐射特性受天线罩影响比较大,所以精确的分析加罩天线阵列的电
性能有着重要意义。本章重点计算了加罩天线阵列直射瓣、反射瓣和总波瓣,以三
种不同的天线阵列作为模型分析了天线和天线罩之间的相互作用,给出分析结果。

4.2 微带天线阵列

微带天线是在一块厚度远小于工作波长的介质基片的一面敷以辐射贴片,一
面全部敷以金属薄层做接地板形成的天线,有微带线馈电、同轴线馈电、耦合馈电
和缝隙馈电等多种馈电方式[45];微带天线的辐射贴片可以根据要求设计成不同的
形状,主要是以三角形、矩形、圆形等规则的形状为主,随着技术的发展,不规则
形状的辐射贴片的微带天线被设计出来[46]。微带天线具有质量轻、体积小和易于
集成等优点,已经被广泛应用在各个领域。微带天线包括微带贴片天线、微带缝隙
天线以及其他形式的平面天线,最常见的是矩形微带贴片天线,本文主要介绍矩形
微带贴片的相关内容。
矩形微带贴片天线是在背敷金属化层的介质基片上表面,用沉积方式形成矩
形导体薄层而构成的辐射单元;矩形微带贴片天线通常利用微带线馈电或同轴线
馈电,贴片和下导体也就是接地板之间激起高频电磁场,再通过矩形贴片周围和接
地板之间的空隙向外辐射电磁场。
贴片辐射器

馈线

基片 地板

图 4-1 微带天线示意图
- 33 -
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辐射缝隙

λ/2
h
w

λ/2
Δt ≈ h

(a)俯视图 (b)侧视图
图 4-2 微带天线辐射场
如图 4-1 所示,是矩形微带贴片天线的结构示意图,介质基片的厚度为 h,矩
形贴片的长为 L,宽为 W,h<<𝜆0 ,𝜆0 为自由空间的波长。使用等效传输线模型法
来分析微带天线,矩形微带贴片天线可以近似看成一段微带线,微带线的长为半个
介质内的波长,宽为 W,其终端呈现开路状态,所以会形成电压波腹,另一终端
同样也会形成电压波腹;此时贴片与接地板间的电场分布如图 4-2 所示。该电场
的表达式为
𝜋𝑥
𝐸𝑧 = 𝐸0 𝑐𝑜𝑠 ( 𝑏 ) (4-1)

因为天线的辐射场由贴片周围和接地板之间的空隙形成,根据等效原理缝隙
辐射的电场可以等效为面磁流的辐射,等效面磁流
̂×𝑬
𝑴𝒔 = −𝒏 (4-2)
上两式中,𝑬 = 𝑧⃗𝐸𝑥 ,𝒏
̂ 是口径面也就是缝隙表面的外法线方向的单位矢量。垂
直于微带线两终端的电场都可以分解为相对于接地板的水平分量和垂直分量,水
平分量的磁流同向,所以辐射场同向相加,呈最大值,并且随偏离此方向的角度的
增大辐射场会减小,形成边射方向图。垂直分量都由反对称的两部分构成,它们在
各个地方的辐射都互相抵消了;在其它平面上这些磁流的辐射不会完全相互抵消,
但是都比水平分量的辐射场强度低。因此,矩形微带贴片天线相当于距离为半个介
质波长的两个相互平行的缝隙天线构成的辐射系统[47],它的辐射可以等效为两个
缝隙组成的等辐同向二元阵[49]。
下面对矩形微带贴片天线阵列进行研究,模型如图 4-3 所示;选取矩形微带贴
片天线的中心频率为 2GHz,阵元数目为 4,阵元间距为 0.5𝜆0 ,令四个矩形微带贴
片天线的馈线方向取𝑙̂ = [0,1,0]𝑇 ,阵列天线沿 x 轴放置位于 xoy 平面内,阵列的中
心位于原点,天线罩为均匀的单层介质板,天线罩的曲面方程为椭圆抛物面𝑥 2 +
𝑦 2 + 𝑧 − 0.32 = 0,球罩的底面半径为 0.3m,厚度为 0.1𝜆0

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图 4-3 1*4 微带天线阵列示意图


为了验证算法的正确性,取天线罩的介电常数𝜀𝑟 = 1也就是空气罩,由于空气
是无耗介质不会吸收和反射天线的能量,所以理论上阵列天线的加空气罩总波瓣
只包括直射瓣并且和无罩时的方向图重合。
首先将天线罩剖分为 740 个面元,这时三角形面元的最大尺寸为 0.0988m=
1.2345𝜆0 ,如图 4-4 所示;微带天线不是口面天线也没有近场计算公式,但是微带
天线可以等效为两个相隔二分之一介质板波长的同相缝隙天线,每条缝隙天线又
可以用等辐同相的磁流来代替,所以可以将磁基本振子的辐射场矢量叠加得到微
带天线的辐射场,如图 4-5 所示仿真了天线罩面元上的入射场信息,每个剖分面元
上的入射场信息都等效为三角形面元重心处的入射场。

图 4-4 天线罩剖分示意图

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图 4-5 天线罩入射场相关信息
加载空气天线罩和无罩时的归一化远场方向图如图 4-6 所示,此时两者的主瓣
区域吻合的较好,但是加载空气天线罩的方向图仍然存在波动;而且加载空气罩时
的副瓣电平相较于无罩时存在抬高情况,与两者的副瓣相差较大;此时算法存在着
比较大的误差。

图 4-6 剖分面元数量为 740 个时远区方向图


当天线罩的最大剖分尺寸降低为 0.0485m=0.6061𝜆0 时,天线罩被剖分为 3080
个三角形面元;此时加载空气天线罩和无罩时归一化远场方向图的主瓣匹配度变
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的更高,副瓣收敛效果变好降低到-6dB 以下,但是仍然比不加罩时的副瓣电平高。

图 4-7 剖分面元数量为 3080 个时远区方向图


继续降低天线罩的剖分尺寸,将天线罩剖分为 15930 个面元时,三角形面元的
最大尺寸为 0.0214m=0.2377𝜆0 ;此时加载空气天线罩和无罩时归一化远场方向图
整体吻合度较好,物理光学法计算的主瓣已经完全收敛于无罩阵列天线的主瓣区
域,副瓣区域效果也变好,但是和仿真软件计算的方向图之间仍然存在着一些微小
误差。

图 4-8 剖分面元数量为 15930 个时远区方向图

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4.3 螺旋天线阵列

螺旋天线是由一根金属线绕制成螺旋形并且进行合适馈电的一种天线[49];螺
线天线一般采用同轴线馈电,同轴线的外导体和金属接地板相接,同轴线的内导体
和螺旋线相接。如果将螺旋线的一圈展开,那么螺旋天线的几何关系就可以分析出
来,如图 4-9 所示,螺旋天线的相关几何参数有:
D=螺旋线直径
L=一圈的长度=√𝐶 2 + 𝑆 2
C=螺旋线周长=𝜋𝐷
N=圈数
S=螺旋线相邻圈之间的间距=𝐶 𝑡𝑎𝑛 𝛼
𝑆
𝐿𝑤 =螺旋线的总长度=NL
𝛼=螺旋角=𝑡𝑎𝑛−1 𝐶
h=高度=轴长=NS
d=螺旋线导线的直径
S

接地板

C= πD
L
α

(a)螺旋线几何示意图 (b)几何参数的等量关系
图 4-9 螺旋天线示意图
螺旋线的直径和波长之间的关系决定了螺旋天线的工作模式。当𝐷/𝜆 < 0.18时,
天线的最大辐射方向和螺旋线所在的平面垂直,这种辐射模式为法向模式,这时的
螺旋天线称为法向模螺旋天线;当𝐷/𝜆 = (0.25~0.45)时,即当螺旋线一圈的周长
近似等于一个波长时,天线的最大辐射方向是螺旋线的轴线方向,这时的螺旋天线
称为轴向模螺旋天线;当𝐷/𝜆 => 0.5时,天线的最大辐射方向就会偏离螺旋线而分
为两个方向,这时的螺旋天线称为圆锥模螺旋天线。
螺旋天线可以是平面结构,也可以是立体结构[50];在螺旋天线的结构类型中,
平面阿基米德螺旋天线是一种辐射特性不会被工作频率影响的超宽带天线,因为
其具有结构简单、体积小、宽频带等优点受到了广泛关注和高度重视[51]。
平面阿基米德螺旋天线的曲线方程表示为
𝑟 = 𝑟0 + 𝑎(𝜑 − 𝜑0 ) (4-3)
上式中,𝑟表示螺旋线上的点到坐标原点的距离大小,𝜑表示方位角,𝜑0 表示

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起始角,𝑟0 表示螺旋线的起始点到坐标原点的距离大小,𝑎表示螺旋天线的增长率。
如果在螺旋线两臂上对天线进行平衡馈电,螺旋线两条臂上相邻点的电流几
乎是同相的,在周长约等于波长的螺旋线上的电流为行波电流,行波电流辐射的是
圆极化波,导致阿基米德螺旋天线在其所在平面的法线方向上的辐射最强。这个区
域叫做平面阿基米德螺旋天线的主要辐射区,并且主要辐射区会随着频率沿着螺
旋线移动。在这并不会导致天线的方向图有很大的变化,天线具有宽频带的特性。
分别令𝜑0 = 0和𝜑0 = 𝜋,就可以得到两条对称的平面阿基米德螺旋天线。当平
面阿基米德螺旋天线的几何结构满足自相似条件(螺旋线构成得臂宽等于两臂之
间得距离)时,就可以满足阻抗匹配实现非频变;当平面阿基米德螺旋天线得几何
结构不满足自相似条件时,可以选择合适的𝑟0 、𝑎以及螺旋线的长度,通过在天线
的适当位置附加吸收材料实现平面阿基米德螺旋天线的宽频带特性[52]。
平面阿基米德螺旋天线的几何参数包括外圈直径 D,螺旋线增长率 a,螺旋臂
宽 W 等[53]。
1.螺旋线外圈直径的选择;外圈直径 D 的选择通常受天线工作频率的影响,
由于天线的主要辐射区沿着辐射的方向会减弱螺旋线上的电流大小,但是电流在
主要辐射区不能被完全辐射完,那么剩余没有消耗完的电流则会继续沿着螺旋线
传输,到达螺旋线的末端后会由于截断效应产生一个方向相反的电流,这样就在一
定程度上破坏了螺旋线上行波电流的辐射,从而使天线性能变坏。
2.螺旋线增长率 a 的选择;螺旋线的增长率a会随着螺旋圈数的增加而减小。
当螺旋线的外圈直径 D 一定时,螺旋线的增长率a越小,螺旋圈数越多,主辐射
区的螺旋线就越多,辐射能力越强,方向图将变得更加平滑,并且电流的传输路径
会变长,消耗的电流变多,反射回来的电流最终变少。当 a 小到一定程度时,螺旋
线变多会增加天线的传输损耗,使天线的增益降低。但是当 a 选取的过大时,螺旋
线圈数变少,在主辐射区辐射出去的能量变少,剩余更多没有辐射出去的能量回流
造成反射,从而破坏螺旋线上行波电流的辐射。所以螺旋线的增长率要充分考虑适
当选取。
3.螺旋臂宽 W 的选择;根据阻抗的计算公式可知,螺旋臂宽 W 和其天线的输
入阻抗成反比,当螺旋线的增长率 a 一定的情况下,如果螺旋线的臂宽增加,平面
阿基米德螺旋天线两臂之间的距离将减小,所以一定程度的增加螺旋线的臂宽可
以有效降低天线输入阻抗。
上一节使用微带天线阵列验证了算法的正确性,当天线罩为空气罩时阵列天
线的远场方向图可以和阵列天线无罩时的远场方向图很好的吻合;但是天线罩的
介质材料一般为有耗介质会吸收天线的能量,使得天线的性能恶化,并且电磁波入
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射到天线罩上会发生反射产生反射波,反射波会反过来影响天线的辐射场并且产
生反射瓣。天线罩介质板的介电常数不同时,对整个天线-罩系统电性能影响的程
度也不同,下面探究天线罩介质板取不同介电常数时对系统远区方向图的影响。
研究的模型为 1*3 的平面阿基米德螺旋天线阵列,天线的中心频率𝑓0 =4GHz,
螺旋线的外圈直径为 4mm,内圈直径为 0.1mm,匝数为 2,天线沿 y 轴放置位于
xoy 平面内,天线阵列的中心位于原点,天线罩的曲面方程表示为𝑥 2 + 𝑦 2 + 𝑧 2 −
0.22 = 0,为均匀的单层介质板的半球罩,天线罩的厚度为 0.1𝜆0 。

图 4-10 1*3 螺旋天线阵列示意图


经过计算,当对天线罩的剖分数量为 12560 时,面元的最大尺寸为 0.0423=
0.2342𝜆0 满足采样定理;如图 4-11 所示,将天线罩剖分为多个三角形面元,单位为
m。

图 4-11 天线罩剖分示意图
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图 4-12 天线罩入射场相关信息
现在分别取天线罩介质板的介电常数为 1 、2-0.025j、6-0.025j 和 2-0.25j,计
算得到加罩阵列天线系统的总波瓣、直射瓣、反射瓣和无罩远区方向图如图 4-13
所示。通过方向图可以看出,当天线罩为空气罩时的方向图和无罩时的方向图拟合
的较好;控制介电常数的实部不变改变介电常数的虚部,发现虚部越大,反射瓣电
平越高,而使介电常数的虚部不变但实部不同时,反射瓣电平的变化不明显。

(a)介电常数为 1 时的远区方向图
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图 4-13(a)为天线罩的介电常数为 1,也就是天线罩为空气罩时的远区方向
图和无罩远区方向图的对比情况,发现当天线罩的剖分尺寸满足采样定理时物理
光学法得到的方向图准确度很高,所以下面探讨此剖分尺寸下介电常数对远区方
向图的影响。

(b)相对介电常数为 2-0.025j 时的远区方向图

(c)相对介电常数为 2-0.25j 时的远区方向图

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(d)相对介电常数为 6-0.025j 时的远区方向图


图 4-13 不同介电常数时的远区方向图
当天线罩介质板的介电常数为 1 时,即天线罩为空气罩,求得的加罩后增益
为 6.9450dBi,透波率为 100%;当天线罩介质板的介电常数为 2-0.025j 时,此时天
线 罩 为 低损耗介质。此时系统的增益为 6.2983dBi ,增益比不加罩时降低了
0.6681dBi,透波率为 90.41%;当天线罩介质板的介电常数为 2-0.25j 时,此时天线
罩相较而言为高损耗介质。此时系统的增益为 5.1065dBi,增益比不加罩时降低了
1.8579dBi,透波率为 73.32%;另外为了探究天线罩介电常数的实部对透波率的影
响,计算了当天线罩介质板的介电常数为 6-0.025j 时的远区方向图,此时系统的增
益为 6.4031dBi,增益比不加罩时降低了 0.5633dBi,透波率为 91.91%。
当天线罩介质板取不同的介电常数时,对应了不同的天线增益和透波率。当介
电常数的虚部比较小时,天线罩相对来说是低损耗介质,天线增益比不加罩时降低
的少,当介电常数的虚部比较大时,天线罩相对来说是高损耗介质,天线增益比不
加罩时降低的多;介电常数的实部对天线增益影响比较小,而且实部大时天线罩的
透波率比实部小时天线罩的透波率高。

4.4 对称振子天线阵列

对称振子天线由两根完全相同的导线构成,两根导线中间为两个馈电点,如图
所示为对称振子天线的结构示意图。当以高频电动势激励对称振子天线时,对称振
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子天线的两端将会产生高频电流,该高频电流辐射电磁场[54]。因为对称振子天线
的长度和波长可以相比拟,并且天线上电流的幅度和相位不是处处相等的,所以对
称振子天线产生的辐射场与电基本振子产生的辐射场不同;但是在分析对称振子
天线的辐射场时可以将对称振子天线分解为无数个电流元,那么对称振子天线的
辐射场就可以视作无数个沿导线分布的电流元辐射场的矢量叠加。如果需要求解
对称振子天线的辐射场首先需要明确天线上的电流分布。
z

p
R1
θ1 R2
h
R3
θ2
x
~ θ3

h
2a

图 4-14 对称振子天线模型

~ ~
h

(a)开路传输线上的电流分布 (b)对称振子天线上的电流分布
图 4-15 电流分布
对称振子天线的结构可看做是一段开路传输线张开而成;因此可以近似使用
传输线理论对称振子天线上的电流分布进行分析。将天线等效为一段分别向上、向
下展开 180°的终端开路的均匀传输线,传输线的长为 h,如图 4-15 所示;那么对
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称振子天线上的电流分布与这段均匀传输线上的一致。将对称振子天线的中心放
置在坐标轴原点,天线的轴线和 z 轴重合,对于𝑎 << 𝜆的对称振子天线,忽略由
辐射改变的电流分布,那么天线上的电流可以近似为正弦分布,表示为
𝐼(𝑧) = 𝐼𝑚 𝑠𝑖𝑛[𝑘(ℎ − |𝑧|)] (4-4)
上式中,𝐼𝑚 表示电流驻波的波腹处的电流幅度大小。
对称振子天线上端导线 z 处的电流元𝐼𝑧1 𝑑𝑧1 = 𝐼(𝑧)𝑑𝑧在远区观察点 p 处辐射的
电场为
𝜂0 𝐼(𝑧)𝑑𝑧
𝑑𝑬1 = (𝑑𝐸𝜃1 )𝑎𝜃1 = 𝑗 𝑠𝑖𝑛 𝜃1 𝑒 −𝑗𝑘𝑅1 𝒂𝜃1 (4-5)
2𝜆𝑅1

对称振子天线下端导线|z|处的电流元𝐼𝑧2 𝑑𝑧2 = 𝐼(𝑧)𝑑𝑧在远区观察点 p 处辐射的


电场为
𝜂0 𝐼(𝑧)𝑑𝑧
𝑑𝑬2 = (𝑑𝐸𝜃2 )𝒂𝜃2 = 𝑗 𝑠𝑖𝑛 𝜃2 𝑒 −𝑗𝑘𝑅2 𝒂𝜃2 (4-6)
2𝜆𝑅2

对于远区观察点,每个源点到观察点的射线都可以看作是平行的,从而有𝜃1 =

𝜃2 = 𝜃3 ,𝒂𝜃1 ≈ 𝒂𝜃2 ≈ 𝒂𝜃3 ,1/𝑅1 ≈ 1/𝑅2 ≈ 1/𝑅3 ;电场𝑑𝑬1 和𝑑𝑬2 的单位方向矢量

都为𝒂𝜃 ,则两者的矢量和变为代数和,于是有
𝑑𝐸𝜃 = 𝑑𝐸𝜃1 + 𝑑𝐸𝜃2 =
𝜂0 𝐼(𝑧)𝑑𝑧
𝑗 𝑠𝑖𝑛 𝜃 𝑒 −𝑗𝑘𝑅 (𝑒 𝑗𝑘|𝑧| 𝑐𝑜𝑠 𝜃 + 𝑒 −𝑗𝑘|𝑧| 𝑐𝑜𝑠 𝜃 ) =
2𝜆𝑅
𝜂0 𝐼𝑚 𝑠𝑖𝑛[𝑘(ℎ−|𝑧|)]𝑑𝑧
𝑗 𝑠𝑖𝑛 𝜃 𝑒 −𝑗𝑘𝑅 2 𝑐𝑜𝑠(𝑘|𝑧| 𝑐𝑜𝑠 𝜃) (4-7)
2𝜆𝑅

可以得到对称振子天线的辐射电场为
ℎ 60𝐼𝑚 𝑐𝑜𝑠(𝑘ℎ 𝑐𝑜𝑠 𝜃)−𝑐𝑜𝑠(𝑘ℎ)
𝐸𝜃 = ∫0 𝑑𝐸𝜃 = 𝑗 𝑒 −𝑗𝑘𝑅 (4-8)
𝑅 𝑠𝑖𝑛 𝜃

而对称振子天线的辐射磁场表示为
𝐸𝜃
𝐻𝜑 = (4-9)
𝜂0

下面分析对称振子天线阵列-天线罩系统,模型如图 4-16 所示;对称振子天线


阵列放置在 xoy 平面,天线的轴线指向 z 轴,阵元数目为 2*3,阵元之间的间距为
0.5𝜆0 ,天线的工作频率为𝑓0 =10GHz,天线的长度为0.6𝜆0 ,直径为 2a=0.002𝜆0 ,
𝑥2 𝑦2 𝑧2
天线罩选择 A 夹层结构的椭圆半球罩,曲面方程为0.032 + 0.032 + 0.062 = 1,天线罩

的结构参数取 2.1 节中介绍的 A 夹层结构天线罩的结构参数,天线罩的厚度为


0.02𝜆0 。

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图 4-16 对称振子天线阵列示意图
经过计算,当对天线罩的剖分数量为 9590 时,面元的最大尺寸为 0.0105=
0.2414𝜆0 满足采样定理;如图 4-17 所示,将天线罩剖分为多个三角形面元,单位为
m;图 4-18 表示的是每个三角形面元上入射场的相关信息。

图 4-17 对称振子天线阵列示意图

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图 4-18 天线罩剖分示意图

图 4-19 剖分面元数量为 9590 个时远区方向图


将天线罩按照采样定理剖分后,发现远区方向图的副瓣仍然存在抬高现象,和
不加罩时的远区方向图有较大误差,所以继续降低剖分的尺寸,当对天线罩的剖分
数量为 12560 时,面元的最大尺寸为 0.0083= 0.1942𝜆0 时阵列天线的加空气罩远区
方向图收敛于不加罩远区方向图;这说明对于不同的阵列天线,天线罩剖分尺寸的
标准要做出相应的改变。
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图 4-20 剖分面元数量为 12560 个时远区方向图


本章对前两个阵列天线的分析基于每个阵元激励的幅度和相位都相等时的情
况,分析结果比较单一;可以通过改变激励的相位使阵元激励的相位呈等差变化来
实现对阵列天线的电扫描,不同的扫描角对应的瞄准误差、透波率还有反射瓣增益
都不相同。
由于阵列天线的副瓣相对于单个天线的副瓣有所抬高,所以在对阵列天线-天
线罩系统进行电扫描之前,需要对阵元的电流幅度进行加权;常用的加权方式有道
尔夫切比雪夫加权和泰勒加权,本文采用泰勒加权,设置第一副瓣的电平为-30dB,
求解得到的阵元激励电流如表所示。
表 4-1 泰勒加权后电流分布

y/x 1 2 3
1 0.980 0.940 0.776
2 0.330 0.171 1.0000
当扫描角度为 0°也就是不扫描时,加罩阵列天线系统的远场归一化方向图如
图 4-21 所示,反射瓣电场的电平为-42.2671dB,透波率为 79.23%;使用泰勒加权
后不加罩阵列天线的副瓣电场的电平都在-30dB 以下,反射瓣电场的电平为-
40.3621dB,透波率为 80.48%。

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图 4-21 没有泰勒加权时的远区方向图

图 4-22 泰勒加权后的远区方向图
图 4-23 为扫描角为 15°时加罩阵列天线的无罩远区方向图、直射瓣、反射瓣
和总波瓣,此时阵列天线阵元之间的相位之间为 15°等差变化;并且整个阵列天
线的主瓣波束指向整体偏移了 15°。

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图 4-23 扫描角为 15°时的远区方向图


加权后对该阵列天线在 0~45°角度内进行扫描,可以得到透波率随扫描角度
变化的曲线,如图 4-24 所示,可以看到透波率在扫描角度内是上下波动的,但是
整体随着扫描角度的增加而下降。

85

80
透波率(%)

75

70

-5 0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
扫描角(°)

图 4-24 透波率随扫描角度变化的折线图

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1.0

0.5

瞄准误差(°)

0.0

-0.5

-1.0

-5 0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
扫描角(°)

图 4-25 瞄准误差随扫描角度变化的折线图
图 4-25 为加罩阵列天线瞄准误差的变化曲线,可以看出当扫描角度增大时,
瞄准误差的整体趋势是逐渐变大。透波率反映了加罩阵列天线的直射瓣与反射瓣
的相关情况,当透射率下降时,表示直射瓣电场电平降低,反射瓣电平增加,反射
瓣和直射瓣之间的互耦变强从而使主瓣变弱而副瓣变强,继而使瞄准误差增大。

4.5 本章小结

本章围绕三种常见的天线阵列,使用物理光学法计算它们的加罩远区方向图
然后从算法收敛性、天线和天线罩角度进行分析讨论。首先是对矩形微带贴片天线
阵列的仿真计算,天线罩的介电常数取 1,目的是与不加罩阵列天线的方向图对比
来验证本文算法的正确性;然后仿真了平面阿基米德螺旋天线阵列加罩后的总波
瓣、直射瓣和反射瓣,天线罩的介电常数分别取不同值时计算加罩天线系统的透波
率,并且发现当阵列天线的副瓣电平小于-20dB 后,需要继续降低天线罩的剖分尺
寸,使剖分尺寸小于 0.2𝜆0 ;最后是探究天线的幅度和相位变化对系统电性能的影
响,使用泰勒加权降低阵列天线的副瓣电平,然后令阵列天线阵元的相位等差变化
实现电扫描观察远区方向图的变化。

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结 论

天线罩目前已经成为雷达系统重要的保护机制,但是天线的辐射场入射到天
线罩上会发生畸变从而影响天线的性能,所以分析天线-罩系统的电性能引起了广
泛的关注。常用的电性能计算方法分为高频方法和低频方法;高频方法包括物理光
学法和几何光学法等,低频方法包括矩量法和有限元法等。随着各种天线罩形式的
出现和罩内设备越来越高,低频方法已不再适用于分析电大尺寸天线。本文使用基
于物理光学法的口径积分-表面积分公式计算分析天线阵列-罩系统的电性能。研究
的基本内容包括以下几点:
(1)等效传输线理论
等效传输线理论是计算天线-罩系统电性能的理论基础,当天线罩为多层介质
平板结构时,可以使用简洁的矩阵形式快速计算出反射系数和透射系数。
(2)物理光学法分析天线-罩系统的过程
对传统的物理光学法进行改进,考虑了反射波对带罩方向图的影响,首先计算
了天线罩的入射场,对于入射场计算透射场和反射场,透射场根据等效原理等效为
天线罩外表面的电磁流,做表面积分得到直射瓣,反射场根据等效原理等效为天线
罩内表面的电磁流,做口径积分得到天线罩的二次入射场,然后做与第一次入射场
相同的计算,最终得到总波瓣
(3)计算具体天线-罩系统的电性能
对于加罩矩形微带贴片阵列,对天线罩进行不同尺寸的剖分来验证算法的正
确性并且讨论剖分尺寸对收敛性的影响,发现当剖分尺寸对方向图副瓣的影响比
较大,剖分尺寸过小会造成副瓣电平抬高,当剖分尺寸小于四分之一波长后,物理
光学法得到的远区方向图准确性较高;对于加罩平面阿基米德螺旋天线阵列,讨论
了天线罩介电常数对整个系统电性能的影响,取介电常数为 1 、2-0.025j、6-0.025j
和 2-0.25j,介电常数的虚部较小时为低耗介质,透波率相对较高,介电常数的虚部
较大时为高耗介质,透波率相对较低;对于加罩对称振子天线阵列,使用泰勒加权
将阵列天线的副瓣降低到-30dB 以下后,改变阵列天线阵元的相位实现电扫描,当
扫描角为 0~45°时,发现透波率随扫描角的增大整体减小,瞄准误差随扫描角的
增大整体增大。
以上就是本文的一些研究成果,但由于个人能力有限,还有很多工作需要进一
步研究:
(1)本文只计算了加罩天线阵列的瞄准误差和透波率等电性能参数,分析了
天线罩和天线的相关结构参数对电性能的影响,但是没有提出优化方法。
(2)目前对天线罩的剖分方法大多采用三角剖分;当剖分数量过多时,计算
精度高,但是内存占用大计算速度过慢,当剖分数量过少时,计算速度快但是误差
太大计算精度不高。如果可以采用更好的剖分方法,使得剖分数量少的情况下计算
精度也很高。
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