CHAZ ve SRE/MAKNA

YETENEK ANALZLER
Prof. Dr. A. Sermet ANAGN
Eskiehir Osmangazi niversitesi
Endstri Mhendislii Blm
1

Cihaz Yetenek Analizi (Gage R&R)

2Toplam =

2R&R

2Sre kts

2Toplam = 2Tekrar + 2retilebilirlik

+ 2Sre kts

Cihaz Yetenek Analizi ?

(Gage R&R)
Bir lmn:
Tekrarlanabilirlik (=Repeatability)
retilebilirlik (=Reproducibility)
zelliklerini belirlemek iin kullanlr.

Cihaz R&R Tekrarlanabilirlik

(Repeatability)
Ayn parann, ayn lm
arac/sistemi ile tekrarl lmlerinin
sonular arasndaki deikenlii
belirler.

Cihaz R&R retilebilirlik

(Reproducibility)
Farkl operatrler tarafndan, ayn
lm arac/sistemi ile ayn parann
lm sonucu elde edilen deerlerin
deikenliini belirler.
5

Cihaz Yetenek Analizi

retilebilirlik (Reproducibility)
Farkl artlarda yaplan lmn
deikenliidir:
Farkl operatrler
Farkl ayarlar
Farkl evre artlar

Cihaz Yetenek Analizi

Tekrarlanabilirlik:

Ri
i 1

Tekrar

1
; k operatr sayisi, d 2 icin k 1
d2

retilebilirlik:
ret

X enb X enk

d2

d 2 icin k
7

RNEK: 5 para 3 operatr

tarafndan 2er defa llyor
Operatr 1

Operatr 2

Operatr 3

Para

lm

Ort

lm

Ort

lm

Ort

0,20; 0,10

0,15

0,10

0,10; 0,10

0,10

0,00

0,15; 0,15

0,15

0,00

0,20; 0,30

0,25

0,10

0,15; 0,25

0,20

0,10

0,25; 0,25

0,25

0,00

0,15; 0,10

0,12

0,05

0,20; 0,10

0,15

0,10

0,20; 0,15

0,18

0,05

0,30; 0,30

0,30

0,00

0,25; 0,30

0,28

0,05

0,20; 0,25

0,22

0,05

0,20; 0,15

0,18

0,05

0,15; 0,05

0,10

0,10

0,15; 0,05

0,10

0,10

Genel
Ort

0,200

R Ort

0,166

0,060

0,180

0,070

0,040

Hesaplamalar
Tekrar

(R1 R 2 R 3 )
1

0.050

3

1.128

ret

1
0.200 0.166
0.020
1.693

lcm (0.050) 2 (0.020) 2 0.054

9

Deerlendirme
Cihaz yetenek analizi sonucunda;
< %10 lm sistemi yeterli
%10-%30 lm sistemi kabul
edilebilir (uygulamann zellii, cihaz
maliyeti, tamir maliyeti vb ynyle)
> %30 lm sistemi yeterli deil
(nedenler belirlenmeli ve
dzeltici/nleyici nlemler alnmal)
10

SRE YETENEK ANALZ

Srecin performansndan sz etmek
gerektiinde birbirinden ayr, fakat ok
nemli iki noktann dikkate alnmas
gerekir :
1)Srecin spesifikasyonlara uygun
olarak retim yapma yetenei,
2)Srecin
istatistiksel
kontrol
altnda
bulunma
durumunu
koruyabilme
yetenei.

11

 Sre yetenei (process capability), srecin

aynlnn gstergesidir.
Sre yetenei, belirli bir kalite karakteristii
iin deikenlik lsdr.
Deikenlik zaman iinde iki farkl ekilde
ele alnabilir.
1)Belirli bir anda var olan
deikenlik,
2)Zaman iindeki deikenlik.
12

 Sre yetenek analizi (process capability

analysis) sre yeteneini lmeye ynelik
almalara verilen addr.
Kullanlan Yntemler:
Histogram yntemi
Olaslk iaretlemesi (Normal, Q-Q)
Kontrol grafii yaklam
Sre Yetenek Katsays
13

Histogram Yntemi
Verilerin histogram izilir.
ASS ile SS histogram zerine iaretlenir.
Srecin deerlendirilmesi yaplr.
Spesifikasyonu 25040 kg olan tel retim srecindeki
kopma mukavemetine ilikin veriler aada verilmitir
(Burnak, rnek 8-1, s. 195).
Snflar

130-150

150170

170190

190210

210230

230250

250270

270290

290310

Frekans

12

30

22

11

14

ASS

f i Di
i

fi
i

22.420
224,20 kg
100

SS

f i ( Di X ) 2
i

n 1

120.236
34,85 kg
99
15

Deerlendirme
Doal Tolerans Snrlar (Ort3Sapma):
DTS = 224,20+3 (34,85) = 328,75
ADTS = 224,20-3 (34,85) = 119,65
Spesifikasyon aral (210 290) kg iken,
sre (119,65 328,75) aralnda almaktadr.

16

Olaslk aretlemesi
-Normal Olaslk Grafii Veriler artan dzende sralanr.
Her bir srada (i) yer alan veriye (Xi) kar gelen
birikimli olaslk (Pi),
i 0.5
Pi
n

forml ile belirlenir.

Sral (Xi, Pi) ikilileri zel olarak hazrlanm
normal olaslk kadna iaretlenir ve ikililer bir
doru ile birletirilir.
17

Burnak, rnek-8.3, s. 203

Xi

Pi

12,15

0,01667

12,16

0,05000

12,21

0,08333

Probability Plot of C1
Normal
99

Mean
StDev
N
AD
P-Value

95
90

12,47
0,1619
30
0,674
0,071

12,25

0,11667

12,26

0,15000

12,30

0,18333

12,30

0,21667

..

..

..

..

Percent

80
70
60
50
40
30
20
10
5

12,0

12,1

12,2

12,3

12,4 12,5
C1

12,6

12,7

12,8

12,9

18

Parametre Tahmini -
Probability Plot of C1
Normal
99

Mean
StDev
N
AD
P-Value

95
90

12,47
0,1619
30
0,674
0,071

70
60
50
40
30

50

20
10
5

12,0

12,466

Percent

80

12,1

12,2

12,3

12,4 12,5
C1

12,6

12,7

12,8

12,9

19

Parametre Tahmini -
Probability Plot of C1
Normal
99

95
90

84,13

12,47
0,1619
30
0,674
0,071

70
60
50
40

50

30
20

12,0

12,1

12,2

12,3

12,4 12,5
C1

12,6279

10

12,466

Percent

80

Mean
StDev
N
AD
P-Value

12,6

12,7

12,8

12,9

20

Deerlendirme
Doal Tolerans Snrlar (Ort3Sapma):
DTS = 12,466+3 (0,1619) = 12,9517
ADTS = 12,466-3 (0,1619) = 11,9803
Spesifikasyon aral (ASL SL) iken,
sre (12,9517 11,9803) aralnda almaktadr.

21

Olaslk aretlemesi
Q-Q Grafii
Veriler artan dzende sralanr.
Her bir srada (i) yer alan veri (X i) iin birikimli olaslklar
(Pi) hesaplanr ve kar gelen (z i) deerleri belirlenir.
Verilerin ortalamas ile standart sapmas hesaplanr ve veriler;
qi

Xi X
s

forml ile standartlatrlr.

(qi, zi) sral ikilileri, eksenleri eit olarak leklendirilmi
grafik kad zerine iaretlenir.
aretlenen noktalar 45 lik bir doru ile birletirilir.

22

Burnak, rnek-8.4, s. 207

(Yzey Dzgnszl; X-Ort =17,69, s = 2,64)
Sra

Xi

Pi

qi

zi

13,4

(10,5)/16=0,031

(13,4-17,69)/2,64=1,624

(0,031)=1,86

14,4

0,094

-1,245

-1,32

15,0

0,156

-1,018

-1,10

15,2

0,219

-0,942

-0,78

15,5

0,281

-0,829

-0,58

17,1

0,344

-0,223

-0,40

17,3

0,406

-0,147

-0,24

..

..

..

..

..

..

..

..
23

Q-Q Grafii - Verilerin Dalm?

24

Sre Yetenek Katsays

Sre yeteneinin saysal bir deerle ifade
edilmesi daha uygun olmaktadr.
Sre yetenek katsays (process capability
ratio - PCR;Cp) olarak adlandrlan bu
deer, st ve alt spesifikasyon limitleri,
srasyla, SL ve ASL, srecin standart
sapmas da olmak zere,
25

SL ASL
PCR Cp
6
olarak tanmlanr.
Tek ynl spesifikasyon deerleri iin;

SL
Cp

ASL
Cpa
3
26

Uzun dnem sre yetenek indeksi

SL ASL
Cpk enk
;

Cpm

SL ASL
2 ( T ) 2
6

27

nerilen Sre Yetenek Katsays Deerleri

ift Ynl
Spesifikasyon

Tek Ynl
Spesifikasyon

Mevcut sreler

1,33

1,25

Yeni sreler

1,50

1,45

Gvenlik,
Mukavemet, Kritik
parametre (mevcut
sreler)

1,50

1,45

Gvenlik,
Mukavemet, Kritik
parametre (yeni
sreler)

1,67

1,60
28

 Herhangi bir srece ilikin Cpk deerinin

1'den kk kmas durumunda srecin
yetersiz olduu kabul edilir.
Eer 1,0 ile 1,33 arasnda karsa sre
yeterli fakat izlenmeye devam edilmelidir.

29

Cp Spesifikasyon likisi

30

Sre Yetenei ?
Yksek Cpk
Spec
Spec
(Upper)
(Upper)

Spec
Spec
(Lower)
(Lower)

Merkezlenmi
Sre

Spec
Spec
(Upper)
(Upper)

Spec
Spec
(Lower)
(Lower)

In Spec

Out of Spec

In Spec

Out of Spec
Out of
Spec

Out of Spec

Out of
Spec

Spec
Spec
(Upper)
(Upper)

Spec
Spec
(Lower)
(Lower)

Spec
Spec
(Upper)
(Upper)

Spec
Spec
(Lower)
(Lower)

Sre Sapmas

Dk Cpk

In Spec

In Spec
Out of Spec
Out of
Spec

Out of
Spec

31

Cp Cpk likisi
m: Spesifikasyon aralnn orta noktas
: Sre ortalamas
olmak zere,

Cpk Cp (1 k )

|m|
k
( USS ASS) / 2

ilikisi sz konusudur.
0 k 1 olduundan, Cpk Cp dir.
32

Cp ve Cpk iin gven aralklar

21 / 2
2 / 2
Cp
Cp Cp
n 1
n 1

C pk

C pk
1
z / 2

9n 2n 2

33

Hangi sre
Sre 1: = 145; = 15

(uzun dnem)???
-

Sre 2: = 130; = 10

34

Sre yeteneinde iyileme!

Sre 1: = 130; = 10 10

Sre 2: = 145; =

35

 Sre yetenek katsays ile srecin,

spesifikasyon
deerleri
tarafndan
belirlenen alann ne kadarlk bir ksmn
kulland hesaplanabilir.
Szkonusu kullanm alan, yzde olarak,
1
P(
)100
Cp

eitliiyle hesaplanr.
36

Makine Yetenek Analizi

retimin balangcnda, pepee ilenen
(retilen) en az 50 birimlik rnek ile
gerekletirilir.
Sre yetenek katsaysna benzer bir
hesaplama tarz sz konusudur.

37

Makine Yetenek Analizinde; Cp ve Cpk

yerine Cm ve Cmk sembolleri kullanlr ve

SL ASL
Cm
6
SL X
Cmk(st)

X ASL
Cmk(alt)
3

eklinde hesaplanr.
38

39

40