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Defect in Ceramic Materials
Defect in Ceramic Materials
Impurity or dopant A point • Dopant: 의도적으로 재료 특성 ( 구조적 , 기계적 , 전기적 등 ) 을 변경하기 위해 첨가된
defects in a crystal of M 불순물 ( 굉장히 소량이어야 점결함 유도 ) 로 AM 또는 Ai 상태로 존재
- Si 에 Al 도핑 시 , AlSi 점결함 생성
Extrinsic defect
- (Compound) NaCl 에서 종종 KNa 점결함 발생
• 고체의 전기적 거동은 일반적으로 이러한 유효 전하를 띄는 결함의 농도 및 결함과 유효 전하의 결합력에 의해
의존적임
4) Balanced populations of point defects
a. Schottky defects ( 그림 a)
b. Frenkel defects ( 그림 b)
Xx x + e ‘ + V x
.
e ‘ can undergo transitions within the optical spectra F-center
An F center or Farbe center is a type of crystallographic defect in which an anionic vacancy in a crystal lattice is occupied by one or more unpaired electrons.
Electrons in such a vacancy in a crystal lattice tend to absorb light in the visible spectrum such that a material that is usually transparent becomes colored.
The greater the number of F centers, the more intense the color of the compound. F centers are a type of color center.
=?
V/m
단위 ?
Electrons, holes, and defects ionization
• (1) Electron 과 hole 이 이온에 강하게 결합되거나 , (2) 격자 자리에 국부적으로 trapped 되면 ,
전체는 하나의 이온결함으로 간주
• Vacancy 및 interstitial 결함의 전하는 전이금속의 원자가에 따라 변화할 수 있음
• 원자가 변화에 대한 이온화 반응식 :
결함의 유효
(i) 이온화 에너지
(ii)
Electrons, holes, and defects ionization
( 단위가 ?)
고유전자반응식
• 산화와 환원 반응은 쉽게 역으로 진행되는 동일한 과정에 있기 때문에 , 각각의 반응들은 독립적이지
않음
Electrons, holes, and defects ionization
• MgO 내 산화 / 환원 경우 ,
고유전자반응식
산화 반응 환원 반응
산화 반응 산화 반응
Schottky 반응식
Extend of nonstoichiometry
- ex., Ni1-xO 의 경우 5 x 10-4, Co1-xO 의 경우 0.01, Mn1-xO 의 경우 0.1, Fe1-xO 의 경우 0.15 정도까지 허용됨
MgO 산화
반응 경우
TiO2-x 환원
???
반응
Band gap
• 금속 : Valance band 과 conduction band 의 겹칩 ; 심지어 0 K 에서도 에너지 띠는
부분적으로 채워져 있음
• 반도체와 절연체 : valance band 와 conduction band 는 Eg 에 의해 분리되어 있으며 , Eg
값에 의해 반도체와 절연체를 결정함
- 반도체는 열적 / 광학적으로 전자를 여기 시킴 (Eg 를 뛰어넘음 )
- Si, GaAs( 갈륨비소 ) 경우 1~1.5 eV 의 Eg 값을 지님
- 3 eV 이상일 경우 절연체로 간주함
Electronic disorder
Concentration of intrinsic electrons and holes
• Schottky defect 의 예시
Fermi-Dirac f
에너지 준위 E 가
전자로 점유되는 확률
me*: 전자 유효 질량
mh*: 홀 유효 질량
Effective valance band density of state
• E – Ef >> kT 일 때 ,
• ne = nh 일 경우 ( 고유반도체 전하 중성 조건 ), 무시할만큼 작음
• 만약 고유 반도체라면 ne = nh 가 되며 ,
예 : MgO 와 NaCl 에서 고유이온결함과 전자결함 농도 비교하기
• 전자 / 홀의 농도는 ,
MgO 밀도 3.58
g/cm3
2.5 x 10-12 x
MgO 분자량 40.31 g/mole
• 2.2~2.4 eV Schottky 에너지와 7.3 eV 의 Eg 를 지닌 NaCl 에 대하여 계산하면 , 융점 근처 800 도에서 고유이온결함 농도는 10-6 분율이고 ,
전자결함농도는 10-19 분율 → MgO 보다 NaCl 에서 이온결함이 지배적이며 , 이러한 이유로 NaCl 은 오랫동안 이온결합 고체 모델로 사용됨
Donor and acceptor
• 많은 세라믹스가 큰 밴드갭과 고농도의 불순물 때문에 , 전자전도성을 위해 실제로 외인성 첨가제를 도입함
- 반도체 경우 , 도핑에 따라 , 전자 또는 홀이 발생되며 n 형 또는 p 형 반도체가 됨
- 세라믹에서도 vacancy 나 interstitial 이 전기적으로 활성화되어 있으며 , 이들의 농도는 전도에 중요함
donor acceptor
donor
acceptor
Electronic vs. ionic compensation of solutes
이온보상
전자보상
산소 압력
Brouwer diagram
( 고유전자결함 )
∆ = -1/6 • (3) 은 중간 압력 범위
• (4) 는 영역 고려에서 제외됨 (Schottky 농도 > 고유전자
= log 2 농도 )
= log 2 2. 환원 영역 (1 번 ) 에 대하여 ,
- (1) 식에 넣고 대입 및 정리 , 즉
=
- 여기서 , n 과 [] 는 같은 기울기이며 , 그 차이는 log 2:
p=
- p 와 [] 는 반대의 기울기를 가짐 :
3. 산화 영역 (2 번 ) 에 대하여 ,
- (2) 식에 넣고 대입 및 정리 , 즉 활용하여 ,
p=
다음의 식 도출→
=
- 여기서 , p 와 는 같은 기울기 , 그 차이는 log 2:
- n 과 [] 는 반대의 기울기를 가짐 : n =
Brouwer diagram
대칭
∆ = -1/4
∆ = -1/6
Brouwer diagram
Frenkel defect 를 가지는 산화물에서 , (a) 전자결함이 지배하는 경우와 (b)
고유이온결함 (Frenkel defect) 이 지배하는 경우에 대한 Brouwer diagram
Defect association and precipitation
Dimer 생성 에너지
무시할 만큼 작음