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第十二章 电子系统设计B
第十二章 电子系统设计B
第 12 章( B )
电子系统设计实践
KX
康芯科技
KX
康芯科技
步骤一
在实验开发板上调试测频专用芯
片
例 12-1 的原理 KX
康芯科技
FPGA
¡®1¡¯ SS1
Q2 £¨EEND£©
END
D Q D Q D Q
Q3 PL
C C C
MUX21
¡®0¡¯
2Ñ¡1¶à·ѡÔñÆ÷ 等精度测频率专用芯片
£¨START£©
BENA
¡®1¡¯
SPUL BZH
£¨BCLK£©
BCLK
64-8¶à·ѡÔñÆ÷
£¨SPUL£© 32
BENA BZQ
CLR
£¨CL£© ENA 32λ±ê׼ƵÂʼÆÊýÆ÷
D Q
8
£¨DATA£©
£¨TCLK£© DATA
C
TF
SS1µÄÂß¼¹¦ÄÜΪ£º
£¨CLR£© TCLK
32 µ±Q2=¡®1¡¯£¬Q3=¡®0¡¯
ENA TSQ
ÔòPUL=¡®1¡¯£¬·ñÔò
CLR PUL=¡®0¡¯
带括号的信号为端口信号 32λ´ý²âƵÂʼÆÊýÆ÷ SEL µ±Q2=¡®1¡¯£¬Q3=¡®1¡¯
ÔòEEND=¡®1¡¯£¬·ñÔò
3
£¨SEL£©
EEND=¡®0¡¯
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等精度测频专用芯片
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专用芯片各引脚功能说明
1 、 BCLK : 标准频率输入信号, 50MHz 。
2 、 TCLK : 待测频率输入信号, 0.1Hz – 50MHz 。
3 、 CLR : 全局清 0 和初始化输入,高电平有效,由单片机读取。
4 、 CL : 预置门控制输入,时间可选在 0.1s 到 10s 间,高电平有效,
由单片机读取
5 、 SPUL : 高电平测频率,低电平测脉宽,由单片机读取
6 、 START : 高电平时表示进入计数周期,由单片机读取。
7 、 EEND : 由低电平变为高电平,表示脉宽计数结束,由单片机读取。
8 、 DATA : 计数数据输出, 8 位,由单片机读取。
9 、 SEL : 计数数据读出控制, 3 位,由单片机输出控制。
实验板上引脚锁定对照表(选择模式 5 )
芯片引脚名 实验控制选择 引脚名 引脚号 GWDVP-B 接口 引脚号
4 、 CL : 键8 PIO7 19 PIO1/P0.1 9
PIO23-PIO20 39 、 38 、 37 、 36 PIO8/9/10/11/ 20 、 21 、 2
2 、 23
P2.7/2.6/2.5/2.4
数码 2 、数码 1 显
D8 定义为 EEND 示 DATA 输出
D7 定义为 START
健 8 定义为 CL
健 4 定义为 SPUL
健 3 定义为 SEL2
健 2 定义为 SEL1
健 1 定义为 SEL0
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时钟选择
CLOCK0 输入 50MHz 频率
作为标准频率信号 BZQ
CLOCK5 输入 1024Hz 频率
作为待测频率信号 TSQ
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步骤二
根据测频专用芯片的引脚接口功
能
设计单片机程序和编程
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GWDVP-B 板上单片机与
FPGA 的引脚连接图
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单片机程序设计与仿真(在 GWDVP-B 板
上)
WAVE 单片机仿真器界面
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打开编程器界面
选择编程芯片
调用下载文件
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将调试好的程序编程于
AT89C51 单片机中
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修改引脚以利于在 GWDVP-B 板上的 FPGA 运行
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下载线
GW48 系统
标准下载口
GWDVP-B 上
1K30 的配置口
以原实验系统上的标
GWDVP-B 电源 功能指示: 1 准频率源作为测量信号
测得频率: 64 .00024Hz
复位健
测频健
测占空比健
从实验开发系统上拔下来的目标板
测脉宽健
测 93C46 健 GWDVP-B 板
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信号进入 PIO16 地线
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步骤三
测定 GWDVP-B 的功
能
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测 64Hz 频率
接地线
接 64Hz 标准频率
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测得频率: 64.00024Hz
功能指示: 1
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功能指示: 2
测得占空比: 50.0%
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测得脉宽: 7812.48 微秒
功能指示: 3
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测 1Hz 频率
接 1Hz 频率
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测得频率: 1.000004Hz
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测得脉宽: 499997.7 微
秒
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测 0.5Hz 频率
接 0.5Hz 频率
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测得频率: 0.500002Hz
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测得频率: 11.99844MHz
接 12MHz 频率
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测 50MHz 频率
接 50MHz 频率
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测得频率: 50.00038MHz
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步骤四
独立测
试
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为 EPC 型 OTP
ROM 编程
开始编程
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从 GW48 主系统上
工作电源 拔下的适配板
待测频率输入
地线
测得频率: 1499807Hz
功能 1
低压电源和 EPROM
等在适配板下
50MHz 标准频率源
信号输入端接上高速
运放和高速比较器
或高速整形电路,
整个系统即设计完成
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